CN101750417B - 检测装置 - Google Patents
检测装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101750417B CN101750417B CN2008103062019A CN200810306201A CN101750417B CN 101750417 B CN101750417 B CN 101750417B CN 2008103062019 A CN2008103062019 A CN 2008103062019A CN 200810306201 A CN200810306201 A CN 200810306201A CN 101750417 B CN101750417 B CN 101750417B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- hole
- adjustment plate
- fixed
- plate
- adjusting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F16—ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
- F16M—FRAMES, CASINGS OR BEDS OF ENGINES, MACHINES OR APPARATUS, NOT SPECIFIC TO ENGINES, MACHINES OR APPARATUS PROVIDED FOR ELSEWHERE; STANDS; SUPPORTS
- F16M11/00—Stands or trestles as supports for apparatus or articles placed thereon ; Stands for scientific apparatus such as gravitational force meters
- F16M11/02—Heads
- F16M11/04—Means for attachment of apparatus; Means allowing adjustment of the apparatus relatively to the stand
- F16M11/06—Means for attachment of apparatus; Means allowing adjustment of the apparatus relatively to the stand allowing pivoting
- F16M11/10—Means for attachment of apparatus; Means allowing adjustment of the apparatus relatively to the stand allowing pivoting around a horizontal axis
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F16—ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
- F16M—FRAMES, CASINGS OR BEDS OF ENGINES, MACHINES OR APPARATUS, NOT SPECIFIC TO ENGINES, MACHINES OR APPARATUS PROVIDED FOR ELSEWHERE; STANDS; SUPPORTS
- F16M13/00—Other supports for positioning apparatus or articles; Means for steadying hand-held apparatus or articles
- F16M13/02—Other supports for positioning apparatus or articles; Means for steadying hand-held apparatus or articles for supporting on, or attaching to, an object, e.g. tree, gate, window-frame, cycle
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/48—Upholstered article making
- Y10T29/481—Method
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/53—Means to assemble or disassemble
- Y10T29/5313—Means to assemble electrical device
- Y10T29/53174—Means to fasten electrical component to wiring board, base, or substrate
- Y10T29/53178—Chip component
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Abstract
一种检测装置包括检测设备、底座、固定座、第一调整装置及第二调整装置。底座用于固定电子产品,固定座用于调整检测设备相对底座的垂直距离和水平距离。第一调整装置固定于固定座上,包括固定板、第一调整板、第二调整板、第一螺栓及第二螺栓。固定板固定于固定座上,第一调整板以不同的角度位置安装于固定板。第二调整板安装于第一调整板,包括调节孔。定位块位于第二调整板的一个侧边,第二螺栓穿过调节孔以调整第二调整板与定位块的位置关系,从而调整第二调整板相对第一调整板旋转的角度。第二调整装置固定于第二调整板。检测设备安装于所述第二调整装置。本发明之检测装置,可以对电子产品进行全方位的取像,定位准确,保证了检测质量。
Description
技术领域
本发明涉及一种检测装置,尤指一种电子产品的检测装置。
背景技术
电子产品,比如手机,在制造过程中均需要进行检测,以检测电子产品的外观是否有瑕疵。通常,应用检测设备对待检测物进行取像后,交由计算机自动分析或显示于显示器由人工判定。然,现有的检测设备被固定,只能移动不能转动,不能对待检测物进行全方位的取像,从而影响检测质量。
发明内容
有鉴于此,需提供一种能准确定位检测设备的按键组合。
一种检测装置,包括检测设备、底座、固定座、第一调整装置及第二调整装置。
所述底座用于固定所述电子产品,所述固定座用于调整所述检测设备相对所述底座的垂直距离和水平距离,所述固定座包括定位部、水平板和滑块。所述水平板滑动地安装于所述定位部并能相对所述底座垂直移动,所述滑块滑动地安装于所述水平板上并能在所述水平板上水平移动。所述第一调整装置固定于所述滑块上,所述第一调整装置包括固定板、第一调整板、第二调整板、第一螺栓及第二螺栓。所述固定板固定于所述滑块上,所述固定板包括多个螺丝孔及一个安装孔,所述螺丝孔共同围成一个圆,所述圆与所述安装孔同心。所述第一调整板包括定位块、第一通孔及多个定位孔,所述定位孔分布于所述第一通孔的两侧。所述第一调整板通过所述定位孔对准不同位置处的所述螺丝孔以不同的角度位置安装于所述固定板。所述第二调整板包括第二通孔及调节孔,所述第一螺栓分别穿过所述第二通孔、所述第一通孔并锁固于所述安装孔,从而使第二调整板安装于所述第一调整板。所述定位块位于所述第二调整板的一个侧边,所述第二螺栓穿过所述调节孔并通过旋转所述第二螺栓以调整所述第二调整板与所述定位块的位置关系,从而调整所述第二调整板相对所述第一调整板旋转的角度。第二调整装置固定于所述第二调整板并能与所述第二调整板一起转动。所述检测设备安装于所述第二调整装置并相对所述底座既能移动又能转动。因检测设备相对底座既能移动又能转动,使检测设备定位准确,从而可以对电子产品进行全方位的取像,保证了电子产品检测的质量。
附图说明
图1为本发明的检测装置的立体分解图。
图2为图1中固定座、第一调整装置、第二调整装置及检测设备的另一角度立体分解图。
图3为本发明的检测装置的立体组装图。
图4为本发明的检测装置和电子产品的立体组装图。
具体实施方式
图1为本发明的检测装置100的立体分解图。本发明的检测装置100用于检测电子产品200(请参照图4),其包括底座10、固定座20、第一调整装置30、第二调整装置40及检测设备50。
在本实施方式中,检测设备50为相机模块。
底座10用于固定电子产品。
固定座20用于固定连接第一调整装置30并能调整第一调整装置30和底座10之间的垂直距离和水平距离,以调整检测设备50相对底座10的垂直距离和水平距离。固定座20包括定位部22、水平板24、滑块26及导轨28。水平板24滑动地安装于定位部22并能相对底座10垂直移动,其上设有水平仪240。所述水平仪240用于调整水平板24的水平度,即调整固定座20的水平度。导轨28固定于水平板24,滑块26滑动地安装于导轨28上并能在导轨28上水平移动。
在本实施方式中,定位部22为一对固定杆。所述固定杆固定于地面或底座10上,通过水平板24和所述固定杆,可以调整第一调整装置30、第二调整装置40及检测设备50相对底座10的垂直距离。
第一调整装置30固定于滑块26上,从而第一调整装置30相对底座10既能水平移动又能垂直移动。第一调整装置30包括固定板32、第一调整板34及第二调整板36,固定板32安装于滑块26上。第一调整板34安装于固定板32并能相对固定板32转动。第二调整板36安装于第一调整板34并能相对第一调整板34转动。
第二调整装置40固定于第一调整装置30的第二调整板36并能与第二调整板36一起转动,从而第二调整装置40相对底座10既能水平移动又能垂直移动,同时还能转动。第二调整装置40包括一对固定块42及调整块44。
检测设备50滑移地安装于第二调整装置40,从而检测设备50相对底座10既能移动又能转动。
请同时参照图2和图3,固定板32上设有多个螺丝孔320和安装孔322。所述螺丝孔320共同围成一个圆,所述圆与安装孔322同心。每相邻两螺丝孔320相对安装孔322的夹角为15度。固定板32还包括安装板324,所述安装板324固定于滑块26上,从而固定板32可以在导轨28上滑动。在本实施方式中,安装孔322为螺纹孔。
第一调整板34转动地安装于固定板32,其包括定位块340、第一通孔342及多个定位孔344,定位块340位于第二调整板36的一个侧边。所述定位孔344分别与固定板32的螺丝孔320对应,并分布于第一通孔342的两侧。两个第二螺栓60分别穿过第一通孔342两侧的定位孔344锁固于其中两个螺丝孔320中,通过第二螺栓60锁固于不同的螺丝孔320中以调整第一调整板34和固定板32的相对位置,从而达到第一调整板34相对固定板32旋转的目的。也就是说,通过定位孔344对准不同位置处的螺丝孔320将第一调整板34连接于固定板32,以使得第一调整板34以不同的角度位置安装于固定板32。因每相邻两螺丝孔320相对安装孔322的夹角为15度,即第一调整板34相对固定板32旋转的最小角度为15度。换而言之,第一调整板34用于粗调检测设备50相对底座10旋转的角度。
第二调整板36转动地安装于第一调整板34,其包括多个固持孔360、第二通孔362及调节孔364。固持孔360和调节孔364均为螺纹孔。一第一螺栓70依次穿过第二通孔362、第一通孔342并锁固于安装孔322中,从而将第二调整板36、第一调整板34及固定板32组装为一体。一第二螺栓60穿过并锁固于调节孔364中并通过旋转第二螺栓60来调整第二调整板36与定位块340的位置关系从而调整第二调整板36和第一调整板34之间的相对位置,即调整第二调整板36相对第一调整板34旋转的角度。因相邻螺纹之间的距离很小,从而第二调整板36相对第一调整板34可以旋转很小的角度,换而言之,第二调整板36用于微调检测设备50相对底座10旋转的角度。
固定块42固定于第二调整板36,其包括多个第三通孔420,所述通孔420与所述固持孔360一一对应。
调整块44包括多个第四通孔440和一对导槽442。多个螺栓80分别穿过所述第四通孔440、所述第三通孔420锁固于所述固持孔360中,从而固定块42和调整块44被固定于第二调整板36。检测设备50通过一对第二螺栓60安装于所述导槽442中,并相对第二调整装置40移动。
安装时,固定座20的水平板24、滑块26及导轨28通过所述固定杆安装于底座10的上方,第一调整装置30固定于固定座20的滑块26上,第二调整装置40固定于第一调整装置30的第二调整板36,检测设备50安装于第二调整装置40,从而底座10、固定座20、第一调整装置30、第二调整装置40、检测设备50便组装为检测装置100。
请同时参照图4,使用时,可以通过调整固定座20的水平板24与底座10之间的垂直距离来调整检测设备50与底座10之间的垂直距离;可以通过在导轨28上滑动第一调整装置30来调整检测设备50与底座10之间的水平距离;可以通过改变第一调整板34和固定板32之间的相对位置及第二调整板36和第一调整板34之间的相对位置来调整检测设备50相对底座10旋转的角度。
因检测设备50相对底座10既能移动又能转动,使检测设备50定位准确,从而可以对电子产品进行全方位的取像,保证了电子产品检测的质量。
Claims (2)
1.一种检测装置,用于检测电子产品,其特征在于,所述检测装置包括:
检测设备;
底座,用于固定所述电子产品;
固定座,用于调整所述检测设备相对所述底座的垂直距离和水平距离,所述固定座包括定位部、水平板和滑块,所述水平板滑动地安装于所述定位部并能相对所述底座垂直移动,所述滑块滑动地安装于所述水平板上并能在所述水平板上水平移动;
第一调整装置固定于所述滑块上,所述第一调整装置包括固定板、第一调整板、第二调整板、第一螺栓及第二螺栓,所述固定板固定于所述滑块上,所述固定板包括多个螺丝孔及一个安装孔,所述螺丝孔共同围成一个圆,所述圆与所述安装孔同心,所述第一调整板包括定位块、第一通孔及多个定位孔,所述定位孔分布于所述第一通孔的两侧,所述第一调整板通过所述定位孔对准不同位置处的所述螺丝孔以不同的角度位置安装于所述固定板,所述第二调整板包括第二通孔及调节孔,所述第一螺栓分别穿过所述第二通孔、所述第一通孔并锁固于所述安装孔,从而使第二调整板安装于所述第一调整板,所述定位块位于所述第二调整板的一个侧边,所述第二螺栓穿过所述调节孔并通过旋转所述第二螺栓以调整所述第二调整板与所述定位块的位置关系,从而调整所述第二调整板相对所述第一调整板旋转的角度;及
第二调整装置固定于所述第二调整板并能与所述第二调整板一起转动;
其中,所述检测设备安装于所述第二调整装置并相对所述底座既能移动又能转动。
2.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述固定座还包括导轨,所述导轨固定于所述水平板上,所述滑块能在所述导轨上滑动。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2008103062019A CN101750417B (zh) | 2008-12-12 | 2008-12-12 | 检测装置 |
US12/506,409 US8523157B2 (en) | 2008-12-12 | 2009-07-21 | Inspection device with rotatable adjustment members |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2008103062019A CN101750417B (zh) | 2008-12-12 | 2008-12-12 | 检测装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101750417A CN101750417A (zh) | 2010-06-23 |
CN101750417B true CN101750417B (zh) | 2012-03-14 |
Family
ID=42239369
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2008103062019A Expired - Fee Related CN101750417B (zh) | 2008-12-12 | 2008-12-12 | 检测装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8523157B2 (zh) |
CN (1) | CN101750417B (zh) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102253044B (zh) * | 2010-12-21 | 2013-06-05 | 吴江市博众精工科技有限公司 | 一种量测机 |
CN102183530A (zh) * | 2011-05-02 | 2011-09-14 | 苏州工业园区高登威科技有限公司 | 可调节ccd光学检验装置 |
TW201245738A (en) * | 2011-05-12 | 2012-11-16 | Askey Computer Corp | Inspection apparatus using touch probe for signal transmission |
CN103308315B (zh) * | 2012-03-12 | 2016-03-23 | 上海华依科技发展股份有限公司 | 一种通用型机动车发动机进排气压力测试用进排气封堵机构 |
CN102692325B (zh) * | 2012-05-30 | 2014-12-10 | 浙江吉利汽车研究院有限公司杭州分公司 | 多维可调试验安装架 |
CN102706910B (zh) * | 2012-05-30 | 2014-07-16 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 多维调整平台 |
CN105135171A (zh) * | 2015-06-06 | 2015-12-09 | 衡阳市嘉励运动器材有限公司 | 一种一字线激光器固定座 |
CN105203553B (zh) * | 2015-09-30 | 2017-09-12 | 江苏比微曼智能科技有限公司 | 缺陷检测机 |
CN112276510B (zh) * | 2020-10-13 | 2022-04-15 | 安徽江淮汽车集团股份有限公司 | 发动机正时系统装配工装 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0198497A2 (en) * | 1985-04-18 | 1986-10-22 | Sunstar Engineering Inc. | Device for inspecting a thin film coating material |
CN1104329A (zh) * | 1993-06-25 | 1995-06-28 | 松下电器产业株式会社 | 电子元件的外观检查装置及外观检查方法 |
CN101226262A (zh) * | 2007-01-19 | 2008-07-23 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 检测治具 |
CN201145670Y (zh) * | 2007-09-25 | 2008-11-05 | 比亚迪股份有限公司 | 手机壳喷涂外观检测设备 |
Family Cites Families (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5119190A (en) * | 1963-03-11 | 1992-06-02 | Lemelson Jerome H | Controlling systems and methods for scanning and inspecting images |
US5283641A (en) * | 1954-12-24 | 1994-02-01 | Lemelson Jerome H | Apparatus and methods for automated analysis |
US5128753A (en) * | 1954-12-24 | 1992-07-07 | Lemelson Jerome H | Method and apparatus for scaning objects and generating image information |
US4249810A (en) * | 1978-02-27 | 1981-02-10 | Magnaflux Corporation | Pipeline inspection apparatus |
JPH0736001B2 (ja) * | 1990-10-31 | 1995-04-19 | 東洋ガラス株式会社 | びんの欠陥検査方法 |
DE4111145C2 (de) * | 1991-04-06 | 1995-09-14 | Schott Glaswerke | Verfahren zum Prüfen medizinischer Ampullen |
US5185667A (en) * | 1991-05-13 | 1993-02-09 | Telerobotics International, Inc. | Omniview motionless camera orientation system |
US6168009B1 (en) * | 1995-12-28 | 2001-01-02 | Fuji Machine Mfg. Co. Ltd. | Apparatus for positioning electronic component holder head and apparatus for transferring electronic component |
US6172363B1 (en) * | 1996-03-05 | 2001-01-09 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for inspecting integrated circuit pattern |
JP3969808B2 (ja) * | 1997-10-29 | 2007-09-05 | 富士機械製造株式会社 | 電気部品供給方法および装置ならびに電気部品装着装置 |
JPH11214887A (ja) * | 1998-01-27 | 1999-08-06 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 電気部品装着機支持装置 |
US6262803B1 (en) * | 1998-09-10 | 2001-07-17 | Acuity Imaging, Llc | System and method for three-dimensional inspection using patterned light projection |
US6477266B1 (en) * | 1998-12-11 | 2002-11-05 | Lucent Technologies Inc. | Vision comparison inspection system graphical user interface |
US6512385B1 (en) * | 1999-07-26 | 2003-01-28 | Paul Pfaff | Method for testing a device under test including the interference of two beams |
KR100478885B1 (ko) * | 2000-05-23 | 2005-03-28 | 일렉트로 사이언티픽 인더스트리즈, 아이엔씨 | 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치 |
JP2002050898A (ja) * | 2000-08-04 | 2002-02-15 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 配線板支持装置の自動段取替え装置、配線板保持装置の自動段取替え装置および配線板支持装置のセット方法 |
US6739036B2 (en) * | 2000-09-13 | 2004-05-25 | Fuji Machine Mfg., Co., Ltd. | Electric-component mounting system |
EP1357781A4 (en) * | 2001-01-10 | 2008-02-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | "COMPONENT TERMINATION DEVICE, SERVICE DEVICE AND SERVICE PROCESS" |
JP4346827B2 (ja) * | 2001-03-06 | 2009-10-21 | パナソニック株式会社 | 電子部品実装方法 |
JP2002298132A (ja) * | 2001-04-02 | 2002-10-11 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 撮像システム,撮像システム制御プログラムおよび電気部品装着システム |
JP4616514B2 (ja) * | 2001-06-07 | 2011-01-19 | 富士機械製造株式会社 | 電気部品装着システムおよびそれにおける位置誤差検出方法 |
US7085693B2 (en) * | 2001-06-19 | 2006-08-01 | International Business Machines Corporation | Manipulation of electronic media using off-line media |
US6674531B2 (en) * | 2001-08-17 | 2004-01-06 | Maehner Bernward | Method and apparatus for testing objects |
US6788406B2 (en) * | 2001-11-02 | 2004-09-07 | Delaware Capital Formation, Inc. | Device and methods of inspecting soldered connections |
KR100606964B1 (ko) * | 2001-12-29 | 2006-08-01 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 기판 휨 조절용 지그 |
DE60319462T2 (de) * | 2002-06-11 | 2009-03-12 | Asml Netherlands B.V. | Lithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung eines Artikels |
US7470071B2 (en) * | 2002-12-06 | 2008-12-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Pan head apparatus and cable accommodating unit |
US7539340B2 (en) * | 2003-04-25 | 2009-05-26 | Topcon Corporation | Apparatus and method for three-dimensional coordinate measurement |
US7570300B2 (en) * | 2003-04-29 | 2009-08-04 | General Electric Company | Camera positioning device |
US7420587B2 (en) * | 2003-07-03 | 2008-09-02 | Rufus Davis | Apparatus and method for inspecting sewer lines using small mobile vehicles |
JPWO2005071930A1 (ja) * | 2004-01-23 | 2007-09-06 | 日本ノーベル株式会社 | 機器の検査装置及びこれを用いた機器の検査システム、携帯電話の保持装置 |
US7524119B2 (en) * | 2005-02-03 | 2009-04-28 | Paul Sandhu | Apparatus and method for viewing radiographs |
US7237465B2 (en) * | 2005-02-24 | 2007-07-03 | Chien Kai Huang | Operation mechanism for pressing board of electric paper cutters |
US7661181B1 (en) * | 2005-03-17 | 2010-02-16 | Easy Furniture Assembly, LLC | Method and apparatus for assembling furniture components |
US8137050B2 (en) * | 2005-09-29 | 2012-03-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Pickup device and pickup method |
-
2008
- 2008-12-12 CN CN2008103062019A patent/CN101750417B/zh not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-07-21 US US12/506,409 patent/US8523157B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0198497A2 (en) * | 1985-04-18 | 1986-10-22 | Sunstar Engineering Inc. | Device for inspecting a thin film coating material |
CN1104329A (zh) * | 1993-06-25 | 1995-06-28 | 松下电器产业株式会社 | 电子元件的外观检查装置及外观检查方法 |
CN101226262A (zh) * | 2007-01-19 | 2008-07-23 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 检测治具 |
CN201145670Y (zh) * | 2007-09-25 | 2008-11-05 | 比亚迪股份有限公司 | 手机壳喷涂外观检测设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8523157B2 (en) | 2013-09-03 |
CN101750417A (zh) | 2010-06-23 |
US20100148029A1 (en) | 2010-06-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101750417B (zh) | 检测装置 | |
JP2013236378A (ja) | アンテナ支持部材 | |
CN102168998B (zh) | 传感器支架 | |
US8878733B2 (en) | Antenna holding device for electromagnetic measurements | |
CN102540049B (zh) | 电路板测试装置及电路板测试方法 | |
CN109140153A (zh) | 一种液晶面板光学检测相机微调装置 | |
CN104296791B (zh) | 印刷电路板测试探头夹持装置 | |
CN207439389U (zh) | 一种用于孔系的同轴度检测的装置 | |
CN105589062A (zh) | 一种光电探测设备动态目标跟踪精度测试装置 | |
JP2006321614A (ja) | エレベータの位置検出装置及びその取り付け方法 | |
CN101290329A (zh) | 探针单元以及检查装置 | |
CN104676211A (zh) | 一种分层调整式自动调平装置 | |
CN105021612B (zh) | 电路板双面检测设备 | |
CN218865752U (zh) | 一种视觉检测平台 | |
CN104677403A (zh) | 一种检测定位精度的传感器支架 | |
CN208476226U (zh) | 轴类零件外径检测仪 | |
CN203858207U (zh) | 电路板检测设备及其距离调节机构 | |
TWI380012B (en) | Testing device | |
CN116511791A (zh) | 一种轴流风机外壳焊接装置 | |
CN205014947U (zh) | 检测装置 | |
CN116148505A (zh) | Pcb板线路自动检测装置 | |
CN204647937U (zh) | 一种液晶玻璃检测用光源调整装置 | |
CN221215969U (zh) | 一种用于电子元器件外观检测的位置矫正装置 | |
CN209214544U (zh) | 一种光学组件及体积测量装置 | |
CN112212786A (zh) | 一种电路板检测装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20120314 Termination date: 20141212 |
|
EXPY | Termination of patent right or utility model |