KR100460047B1 - 반도체패키지의 본딩검사방법 - Google Patents
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Abstract
Description
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- 반도체패키지의 본딩위치를 검사하는 방법에 있어서,와이어본딩 위치 상에서의 기준 본딩위치에서 상기 와이어본딩의 검사대상 본딩위치까지의 거리를 상대 비교하여 현재 진행중인 본딩위치가 기준 본딩위치에 대하여 올바른가를 판단하는 것을 특징으로 반도체패키지의 본딩검사방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 기준본딩위치는 상기 와이어본딩의 최초 본딩위치이고, 상기 검사대상 본딩위치는 현재 본딩위치인 것을 특징으로 하는 반도체패키지의 본딩검사방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 기준본딩위치는 상기 와이어본딩의 이전 본딩위치이고, 상기 검사대상 본딩위치는 현재 본딩위치인 것을 특징으로 하는 반도체패키지의 본딩검사방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 기준본딩위치는 상기 와이어본딩의 이전 본딩위치이고, 상기 검사대상 본딩위치는 현재 본딩위치인 것을 특징으로 하는 반도체패키지의 본딩검사방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 거리는 퍼스널 컴퓨터를 이용하여 측정하는 것을 특징으로 하는 반도체패키지의 본딩검사방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 거리는 네트워크를 이용하여 측정하는 것을 특징으로 하는 반도체패키지의 본딩검사방법.
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KR10-2001-0058530A KR100460047B1 (ko) | 2001-09-21 | 2001-09-21 | 반도체패키지의 본딩검사방법 |
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2001
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