KR0183112B1 - 집적회로의 동작 세팅을 위한 조정회로 및 그에 따른 제어방법 - Google Patents
집적회로의 동작 세팅을 위한 조정회로 및 그에 따른 제어방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR0183112B1 KR0183112B1 KR1019940029461A KR19940029461A KR0183112B1 KR 0183112 B1 KR0183112 B1 KR 0183112B1 KR 1019940029461 A KR1019940029461 A KR 1019940029461A KR 19940029461 A KR19940029461 A KR 19940029461A KR 0183112 B1 KR0183112 B1 KR 0183112B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- virtual
- compensation data
- switching signal
- data
- integrated circuit
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims abstract description 40
- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract description 20
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 17
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 5
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000013461 design Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000005236 sound signal Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31701—Arrangements for setting the Unit Under Test [UUT] in a test mode
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31704—Design for test; Design verification
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
Description
Claims (22)
- 특정한 기능을 갖는 전자적 소자를 포함하는 집적회로의 출력 전압이 미리 설정된 전압레벨이 되도록 세팅하기 위해 상기 집적회로와 연결된 전류 제어원을 제어하는 회로에 있어서: 각각의 패드에 인가되는 전압에 의해 선택적으로 퓨징되는 제1, 2퓨즈를 가지며, 실제의 동작시에 상기 제1, 2퓨즈의 퓨징에 의해 출력되는 전압을 통해 상기 출력전압을 가감하기 위한 가감 스위칭신호를 제공하는 가감 스위칭신호 발생부와; 각각의 패드에 인가되는 전압에 의해 선택적으로 퓨징되는 다수의 퓨즈를 가지며, 실제의 동작시에 상기 출력전압의 레벨과 상기 미리 설정된 전압레벨간의 차의 절대값에 대응되는 디지탈 데이타를 보상 데이타로서 제공하는 보상 데이타 발생부와; 상기 가감 스위칭신호 발생부 및 상기 보상 데이타 발생부내의 상기 퓨즈들이 퓨징되기 이전에, 상기 집적회로의 출력 전압을 시험적으로 미리 설정된 전압레벨에 일치시키기 위해, 상기 가감 스위칭신호 및 상기 보상 데이타와 실질적으로 동일한 가상 가감 스위칭신호 및 가상 보상 데이타를 인가되는 조정 데이타에 응답하여 발생시키는 가상 데이타 발생부와; 상기 보상 데이타 및 상기 가상 보상 데이타 중 하나에 응답하여 대응되는 아나로그 신호를 가산 및 감산 전류원의 게인신호로서 출력하는 변환부와; 상기 가산 및 감산 전류원 사이에 연결되며, 상기 가상 스위칭신호 또는 가감 스위칭신호 중 하나의 스위칭신호에 응답하여 상기 가산 및 감산 전류원을 통해 도출되는 출력신호 중 어느 하나를 상기 집적회로의 전류 제어원의 제어신호로서 공급하는 스위칭부를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 가감 스위칭신호 발생부는; 상기 제1, 2퓨즈의 일단이 전원전압에 연결되고, 상기 제1, 2푸즈의 타단이 전압 강하용 저항에 각기 연결되며, 상기 제1, 2퓨즈의 타단과 상기 저항간에는 병렬로 상기 패드가 각기 연결되어진 구성을 가지는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 보상 데이타 발생부의 상기 디지탈 데이타는 4비트로 이루어짐을 특징으로 하는 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 가상 데이타 발생부는 상기 인가되는 조정 데이타가 6비트인 경우에 상기 가상 가감 스위칭신호는 2비트로, 상기 가상 보상 데이타는 4비트로서 발생하는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 가상 데이타 발생부는 상기 가상 가감 스위칭신호 및 상기 가상 보상 데이타를 생성하기 위해 6개의 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 변환부는 4비트 디지탈 데이타에 대응되는 아나로그 전류를 출력하는 디지탈 대 아나로그 변환기임을 특징으로 하는 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 가산 및 감산 전류원은 동일한 게인신호의 입력에 대응하여 동일한 출력을 제공하는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 스위칭부는 전기적인 스파크에 자유로운 모스타입 트랜지스터임을 특징으로 하는 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 퓨즈들은 반도체 퓨즈임을 특징으로 하는 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 집적회로는 전압제어 발진기의 동작을 수행하는 소자임을 특징으로 하는 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 집적회로는 특정한 입력 신호를 필터링하는 기능을 가지는 소자임을 특징으로 하는 회로.
- 전압제어발진 기능을 가지는 집적회로의 출력 전압이 미리 설정된 전압레벨이 되도록 조정하기 위해 상기 집적회로와 연결된 전류 제어원을 제어하는 회로에 있어서 : 각각의 패드에 인가되는 전압에 의해 선택적으로 퓨징되는 제1, 2퓨즈를 가지며, 실제의 동작시에 상기 제1, 2퓨즈의 퓨징에 의해 출력되는 전압을 통해 상기 출력전압을 가감하기 위한 가감 스위칭신호를 제공하는 가감 스위칭신호 발생수단과; 각각의 패드에 인가되는 전압에 의해 선택적으로 퓨징되는 다수의 퓨즈를 가지며, 실제의 동작시에 상기 출력전압의 레벨과 상기 미리 설정된 전압레벨간의 차의 절대값에 대응되는 디지탈 데이타를 보상 데이타로서 제공하는 보상 데이타 발생수단과; 상기 가감 스위칭신호 발생수단 및 상기 보상 데이타 발생수단내의 상기 퓨즈들을 퓨징하기 이전에, 상기 집적회로의 출력 전압을 시험적으로 미리 설정된 전압레벨에 일치시키기 위해, 상기 가감 스위칭신호 및 상기 보상 데이타와 실질적으로 동일한 가상 가감 스위칭신호 및 가상 보상 데이타를 인가되는 조정 데이타에 응답하여 발생시키는 가상 데이타 발생수단과; 상기 보상 데이타 및 가상 보상 데이타 중 하나에 응답하여 대응되는 아나로그 신호를 가산 및 감산 전류원의 게인신호로서 출력하는 변환수단과; 상기 가산 및 감산 전류원사이에 연결되며, 상기 가상 및 가감 스위칭신호중 하나에 응답하여 상기 가산 및 감산 전류원을 통해 도출되는 출력신호 중 어느 하나를 상기 집적회로의 전류 제어원의 제어신호로서 공급하는 패싱수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제12항에 있어서, 상기 가감 스위칭신호 발생수단은; 상기 제1 ,2퓨즈의 일단이 전원전압에 연결되고, 상기 제1, 2퓨즈의 타단이 전압 강하용 저항에 각기 연결되며, 상기 제1, 2퓨즈의 타단과 상기 저항간에는 병렬로 상기 패드가 각기 연결되어진 구성을 가지는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제13항에 있어서, 상기 보상 데이타 발생수단의 상기 디지탈 데이타는 4비트로 이루어짐을 특징으로 하는 회로.
- 제14항에 있어서, 상기 가상 데이타 발생수단은 상기 인가되는 조정 데이타가 6비트인 경우에 상기 가상 가감 스위칭신호는 2비트로, 상기 가상 보상 데이타는 4비트로서 발생하는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제15항에 있어서, 상기 가상 데이타 발생수단은 상기 가상 가감 스위칭신호 및 상기 가상 보상 데이타를 생성하기 위해 6개의 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제16항에 있어서, 상기 변환수단은 4비트의 디지탈 데이타에 대응되는 아나로그 전류를 출력하는 디지탈 대 아나로그 변환기임을 특징으로 하는 회로.
- 제17항에 있어서, 상기 가산 및 감산 전류원은 동일한 게인신호의 입력에 대응하여 동일한 출력을 제공하는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제18항에 있어서, 상기 스위칭 수단은 전기적인 스파크에 자유로운 모스타입 트랜지스터임을 특징으로 하는 회로.
- 제19항에 있어서, 상기 퓨즈들은 반도체 퓨즈임을 특징으로 하는 회로.
- 특정한 기능을 갖는 집적회로를 제조시 미리 설정된 동작조건하에서 상기 집적회로의 출력 전압을 설계된 전압레벨과 일치되게 세팅하기 위해 하나의 팩케지 내에서 상기 집적회로와 연결된 전류 제어원의 게인을 영구 조정하는 방법에 있어서 : 실제의 동작시에 상기 출력전압을 가감하기 위한 가감 스위칭신호를 발생시키기 위해, 각각의 패드에 인가되는 전압에 의해 선택적으로 퓨징되어지는 제1, 2퓨즈를 상기 팩케지 내에 가감 스위칭신호 발생부로서 준비하는 단계와; 살제의 동작시에 상기 출력전압의 레벨과 상기 설계된 전압레벨간의 차의 절대값에 대응되는 디지탈 데이타를 보상 데이타로서 제공하기 위해, 각각의 패드에 인가되는 전압에 의해 선택적으로 퓨징되어지는 다수의 퓨즈를 상기 팩케지 내에 보상 데이타 발생부로서 준비하는 단계와; 상기 가감 스위칭신호 및 상기 보상 데이타와 실질적으로 동일한 가상 가감 스위칭신호 및 가상 보상 데이타를 발생시키는 가상 데이타 발생부를 상기 팩케지 내에 준비하는 단계와; 상기 보상 데이타 및 상기 가상 보상 데이타 중 하나에 대응되어 발생되는 아나로그 신호를 가산 및 감산 전류원의 게인신호로서 출력하는 변환부를 상기 팩케지 내에 준비하는 단계와; 상기 가상 스위칭신호 및 가감 스위칭신호 중 하나에 응답하여 상기 가산 및 감산 전류원을 통해 도출되는 출력신호 중 어느 하나를 상기 집적회로의 전류 제어원의 게인신호로서 공급하는 스위칭부를 상기 팩케지 내에 준비하는 단계와; 상기 퓨즈들을 퓨징하기 이전에 상기 집적회로의 출력전압의 레벨을 상기 설계된 전압레벨과 비교하여 조정 데이타를 발생시키는 단계와; 상기 조정 데이타에 응답되어 발생된 상기 가상 가감 스위칭신호 및 가상 보상 데이타에 의해 상기 집적회로의 출력전압의 레벨이 상기 설계된 전압레벨로 되었을 때, 상기 가상 가감 스위칭신호 및 가상 보상 데이타에 상응하는 상기 가감 스위칭신호 및 상기 보상 데이타를 영구적으로 발생시키기 위해 상기 퓨즈들 중에서 해당되는 퓨즈들을 전기적으로 퓨징하는 단계를 가짐을 특징으로 하는 방법.
- 필터링 집적회로를 제조시 미리 설정된 동작조건하에서 상기 집적회로의 출력 전압을 설계된 전압레벨과 일치되게 세팅하기 위해 하나의 팩케지내에서 상기 집적회로와 연결된 전류 제어원의 게인을 자동조정하는 방법에 있어서 : 실제의 동작시에 상기 출력전압을 가감하기 위한 가감 스위칭신호 및 상기 출력전압의 레벨과 상기 설계된 전압레벨간의 차의 절대값에 대응되는 디지탈 데이타를 보상 데이타로서 제공하는 퓨징 멤버를 준비하고, 상기 가감 스위칭신호 및 상기 보상 데이타와 실질적으로 동일한 가상 가감 스위칭신호 및 가상 보상 데이타를 발생시키는 수단을 준비하는 단계와; 상기 보상 데이타 및 상기 가상 보상 데이타 중 하나에 대응되어 발생되는 아나로그 신호를 가산 및 감산 전류원의 게인신호로서 출력하는 변환수단을 준비하는 단계와; 상기 가상 및 가감 스위칭신호 중 하나에 응답하여 상기 가산 및 감산 전류원을 통해 도출되는 출력신호 중 어느 하나를 상기 집적회로의 전류 제어원의 게인 신호로서 공급하는 선택수단을 준비하는 단계와; 상기 퓨징 멤버를 퓨징하기 이전에 상기 집적회로의 출력전압의 레벨을 상기 설계된 전압레벨과 비교하여 조정 데이타를 발생시키는 단계와; 상기 조정 데이타에 응답되어 발생된 상기 가상 가감 스위칭신호 및 가상 보상 데이타에 의해 상기 집적회로의 출력전압의 레벨이 상기 설계된 전압레벨로 되었을 때, 상기 퓨징 멤버 중에서 해당되는 퓨즈를 전기적으로 퓨징하는 단계를 가짐을 특징으로 하는 조정방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940029461A KR0183112B1 (ko) | 1994-11-10 | 1994-11-10 | 집적회로의 동작 세팅을 위한 조정회로 및 그에 따른 제어방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940029461A KR0183112B1 (ko) | 1994-11-10 | 1994-11-10 | 집적회로의 동작 세팅을 위한 조정회로 및 그에 따른 제어방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960018604A KR960018604A (ko) | 1996-06-17 |
KR0183112B1 true KR0183112B1 (ko) | 1999-04-15 |
Family
ID=19397582
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940029461A KR0183112B1 (ko) | 1994-11-10 | 1994-11-10 | 집적회로의 동작 세팅을 위한 조정회로 및 그에 따른 제어방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR0183112B1 (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100453885B1 (ko) * | 1997-08-06 | 2005-01-17 | 삼성전자주식회사 | 칩 테스트를 위한 전압강하회로 |
KR100636753B1 (ko) * | 1998-04-30 | 2006-10-20 | 마이크로나스 게엠베하 | 집적 회로의 파라미터화 방법 및 그 집적 회로 |
-
1994
- 1994-11-10 KR KR1019940029461A patent/KR0183112B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100453885B1 (ko) * | 1997-08-06 | 2005-01-17 | 삼성전자주식회사 | 칩 테스트를 위한 전압강하회로 |
KR100636753B1 (ko) * | 1998-04-30 | 2006-10-20 | 마이크로나스 게엠베하 | 집적 회로의 파라미터화 방법 및 그 집적 회로 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR960018604A (ko) | 1996-06-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4810948A (en) | Constant-voltage regulated power supply circuit | |
JP3814019B2 (ja) | 半導体ic用のヒュージング回路 | |
JP2688548B2 (ja) | 液晶パネル駆動用半導体装置 | |
KR0183112B1 (ko) | 집적회로의 동작 세팅을 위한 조정회로 및 그에 따른 제어방법 | |
US4385275A (en) | Method and apparatus for testing an integrated circuit | |
KR100199310B1 (ko) | Fm주파수 변조기의 주파수 조정 회로 | |
KR20010023515A (ko) | 집적 회로 테스터용 부하 회로 | |
US4797578A (en) | Arrangement for adjusting an impedance network in an integrated semiconductor circuit | |
JPH06130131A (ja) | 混成集積回路装置 | |
EP0353027B1 (en) | Programmable time advance | |
KR920700419A (ko) | 제어장치 | |
JPS63135882A (ja) | 電子デバイス駆動回路 | |
US6236547B1 (en) | Zener zapping device and zener zapping method | |
JPH02291714A (ja) | 集積回路 | |
KR0174723B1 (ko) | 퓨징회로 | |
JP2552753Y2 (ja) | 回路基板検査装置のガーディング回路 | |
JPH10197615A (ja) | 磁気抵抗素子回路の基準電圧調整方法 | |
JPH05209937A (ja) | テスト回路 | |
JPS5916845Y2 (ja) | 直流電源用電源電圧瞬時降下発生装置 | |
KR940006603B1 (ko) | 포탄 근접신관의 카스텀 회로(Custom IC) 측정장치 | |
JPH11312020A (ja) | レギュレータ回路及びそれの出力電圧の調整方法 | |
SU892576A1 (ru) | Генераторна установка | |
JPH03136349A (ja) | 集積回路の製造方法 | |
SU754335A1 (ru) | Устройство для контроля динамических параметров полупроводниковых стабилизаторовнапряжения 1 | |
JP3215558B2 (ja) | アクチュエータ装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 19941110 |
|
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 19951104 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 19941110 Comment text: Patent Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 19980721 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 19981120 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 19981215 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 19981215 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20011129 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20021129 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20031128 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20041129 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20051129 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20061129 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20071129 Year of fee payment: 10 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20071129 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20091110 |