JP2688548B2 - 液晶パネル駆動用半導体装置 - Google Patents
液晶パネル駆動用半導体装置Info
- Publication number
- JP2688548B2 JP2688548B2 JP3230286A JP23028691A JP2688548B2 JP 2688548 B2 JP2688548 B2 JP 2688548B2 JP 3230286 A JP3230286 A JP 3230286A JP 23028691 A JP23028691 A JP 23028691A JP 2688548 B2 JP2688548 B2 JP 2688548B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- crystal panel
- burn
- semiconductor device
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/2872—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
- G01R31/2879—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to electrical aspects, e.g. to voltage or current supply or stimuli or to electrical loads
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S345/00—Computer graphics processing and selective visual display systems
- Y10S345/904—Display with fail/safe testing feature
Description
体装置に関し、特にバ−ンインと呼ばれる高温通電によ
るバイアス試験を行うことが必要な液晶パネル駆動用半
導体装置に関するものである。
性を保証するためには、固有欠陥のある装置や製造上の
ばらつきから時間とストレスに依存する故障を起こす不
良品を排除すべく、通常バ−ンインと呼ばれる高温状態
で通電加速試験を行うことが必要不可欠である。近時に
おける多ピン、高機能、大規模化する半導体集積回路の
開発に伴って、例えば、スタティク・バ−ンイン、ダイ
ナミック・バ−ンイン、モニタ・バ−ンインなど各種の
加速試験(バ−ンイン)方式が導入され、実施されてい
る。
には、半導体集積回路を収納するソケット、これらのソ
ケットを実装する基板、この基板上で半導体集積回路を
高温にするためのオ−ブン等が必要となるが、液晶パネ
ル駆動用半導体装置においては、これらのバ−ンインに
必要な機能をもつ自己バ−ンイン回路を内蔵したものが
知られている。
回路を内蔵した液晶パネル駆動用半導体装置をバ−ンイ
ン用に電源を接続して構成したシステムを示す。
置20は、自己バ−ンイン回路を内蔵しており、液晶パネ
ル駆動出力部21と、通常の動作時及びバ−ンイン時に必
要な電源を供給するための端子22、23と、図示しない液
晶パネルに液晶パネル駆動出力を出力するための端子24
とを備えている。
用電源31、32、33、34が夫々接続されており、端子23に
は、ロジック用電源35が接続されている。液晶駆動用電
源31、32、33、34及びロジック用電源35は、夫々異なる
電圧V0 、V1 、V4 、V5、VL の電源であり、これ
らの電圧V0 、V1 、V4 、V5 、VL が液晶パネル駆
動出力部21に供給されることにより、バ−ンインが行わ
れる。
導体装置では、バ−ンインの際には、外部より5つの異
なる電源を与えている。
晶パネル駆動用半導体装置においては、バ−ンインを行
う場合には、量産におけるスル−プットの向上等のた
め、なるべく簡便な方法でバ−ンインし得ることが望ま
しい。
ル駆動用半導体装置では、多種類の電源を用意、接続等
する必要があり、量産時のスル−プットやバ−ンインの
コストを悪くしてしまうという問題点があった。
れたものであり、量産時におけるスル−プットやコスト
を改善することができる液晶パネル駆動用半導体装置を
提供することを課題とする。
用半導体装置は上述の課題を達成すべく、液晶パネルを
駆動する出力を発生する駆動出力手段と、外部からバ−
ンインに必要な第1の電圧の電源を与えるための端子
と、該端子に接続されており該端子を介して与えられる
第1の電圧を変化させることにより第1の電圧とは異な
るバ−ンインに必要な第2の電圧を生成する内部電源手
段と、駆動出力手段を自己バ−ンイン可能に制御する制
御手段とを備えたことを特徴とする。
から与えられる第1の電圧の電源を変化させることによ
り第1の電圧とは異なるバ−ンインに必要な第2の電圧
を生成する内部電源手段を備えている。このため、バ−
ンインの際には、端子に外部からバ−ンインに必要な第
1の電圧の電源を与えさえすれば、内部電源手段が、か
かる第1の電圧を高めるか又は低めるかしてバ−ンイン
に必要な各種電圧を得ることができ、即ち単一の外部電
源を用いることにより、バ−ンインを行うことができ
る。このように、本発明によれば、バ−ンインの際に従
来例の如く複数の外部電源を用意、接続等する必要はな
くなり、簡便にバ−ンインを行うことができる。
のような作用がより明らかにされ、更に本発明の他の作
用が明らかにされよう。
明する。
駆動用半導体装置の構成を概略的に示すブロック図であ
る。
した液晶パネル駆動用半導体装置10は、駆動出力手段の
一例を構成する液晶パネル駆動出力部11と、通常の動作
時に電源を供給するための端子12と、通常の動作時及び
バ−ンイン時に電源を供給するための端子13と、図示し
ない液晶パネルに液晶パネル駆動出力を出力するための
端子14とを備えている。
内部電源手段の一例を構成する降圧電源15及び昇圧電源
16、制御手段の一例を構成するコントロ−ル部17、並び
にコントロ−ル信号入力用の端子18を備えている。
13からの電圧VL の供給を受けると、この電圧VL を低
めることにより液晶パネル駆動出力部11の必要とする電
圧VL より低い液晶駆動用の電圧を該液晶パネル駆動出
力部11に供給する様に構成されている。他方、昇圧電源
16は、ロジック電源としての端子13からの電圧VL の供
給を受けると、この値を高めることにより液晶パネル駆
動出力部11の必要とする電圧VL より高い液晶駆動用の
電圧を該液晶パネル駆動出力部11に供給するように構成
されている。また、コントロ−ル部17は、端子18を介し
て外部からコントロ−ル信号を受け、降圧電源15及び昇
圧電源16と協働して液晶パネル駆動出力部11に対して所
定のバ−ンインを実行させる。
例の液晶パネル駆動用半導体装置10のバ−ンインの際に
は、例えば、5V(電圧VL )のロジック電源さえ外部
から与えてやれば、この電圧と異なるバ−ンインに必要
な種々の電圧は降圧電源15及び昇圧電源16により液晶パ
ネル駆動用半導体装置10内部に生成することができ、こ
のように降圧電源15及び昇圧電源16により駆動可能な状
態とされた液晶パネル駆動出力部11に対して所定のバ−
ンインを行なうことができる。
ク用電源のみ、即ち単一の電源を外部から与えるだけ
で、降圧電源15及び昇圧電源16により、かかる電圧値を
変化させてバ−ンイン時に装置を動作させるのに必要な
電圧を得るようにしたので、従来例の如く、複数の電源
を用意、接続等する必要はなくなり、簡便にバ−ンイン
を行うことができ極めて有利である。
ば、外部から与えられる第1の電圧の電源を変化させる
ことにより第1の電圧とは異なるバ−ンインに必要な第
2の電圧を生成する内部電源手段を備えているので、バ
−ンインの際には、外部からバ−ンインに必要な第1の
電圧の電源を与えさえすれば、内部電源手段が、かかる
第1の電圧を高めるか又は低めるかしてバ−ンインに必
要な各種電圧を得ることができる。
により、簡便にバ−ンインを行うことができる極めて便
利な液晶パネル駆動用半導体装置を実現できる。
用半導体装置のブロック図である。
ブロック図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 液晶パネルを駆動する出力を発生する駆
動出力手段と、外部からバ−ンインに必要な第1の電圧
の電源を与えるための端子と、該端子に接続されており
該端子を介して与えられる前記第1の電圧を変化させる
ことにより前記第1の電圧とは異なる前記バ−ンインに
必要な第2の電圧を生成する内部電源手段と、前記駆動
出力手段を自己バ−ンイン可能に制御する制御手段とを
備えたことを特徴とする液晶パネル駆動用半導体装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3230286A JP2688548B2 (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 液晶パネル駆動用半導体装置 |
US07/944,119 US5365250A (en) | 1991-09-10 | 1992-09-10 | Semiconductor device for driving liquid crystal panel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3230286A JP2688548B2 (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 液晶パネル駆動用半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0567659A JPH0567659A (ja) | 1993-03-19 |
JP2688548B2 true JP2688548B2 (ja) | 1997-12-10 |
Family
ID=16905436
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3230286A Expired - Lifetime JP2688548B2 (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 液晶パネル駆動用半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5365250A (ja) |
JP (1) | JP2688548B2 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR0140041B1 (ko) * | 1993-02-09 | 1998-06-15 | 쯔지 하루오 | 표시 장치용 전압 발생 회로, 공통 전극 구동 회로, 신호선 구동 회로 및 계조 전압 발생 회로 |
TW270198B (ja) | 1994-06-21 | 1996-02-11 | Hitachi Seisakusyo Kk | |
JP3301874B2 (ja) * | 1994-12-19 | 2002-07-15 | 松下電器産業株式会社 | 半導体装置及びその検査方法 |
JP3568644B2 (ja) * | 1995-09-01 | 2004-09-22 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置およびその駆動方法 |
JP3647523B2 (ja) * | 1995-10-14 | 2005-05-11 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | マトリクス型液晶表示装置 |
KR100634827B1 (ko) * | 1999-09-07 | 2006-10-17 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치의 감마전압 보상 장치 및 방법 |
KR100997699B1 (ko) * | 2002-03-05 | 2010-12-02 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 트랜지스터 |
KR20070082230A (ko) * | 2006-02-15 | 2007-08-21 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치용 테스트 장치 및 그 방법 |
TWI345093B (en) * | 2006-11-10 | 2011-07-11 | Chimei Innolux Corp | Method of manufacturing liquid crystal display |
KR101712340B1 (ko) | 2009-10-30 | 2017-03-06 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 구동 회로, 구동 회로를 포함하는 표시 장치, 및 표시 장치를 포함하는 전자 기기 |
JP5933897B2 (ja) | 2011-03-18 | 2016-06-15 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
CN109215548B (zh) * | 2018-11-08 | 2020-09-08 | 惠科股份有限公司 | 显示面板老化处理的电路和显示面板 |
CN109473053B (zh) * | 2018-11-08 | 2020-09-04 | 惠科股份有限公司 | 显示面板老化处理的电路和显示面板 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4177519A (en) * | 1975-07-28 | 1979-12-04 | Sharp Kabushiki Kaisha | Electronic control assembly mounted on a flexible carrier and manufacture thereof |
JPS63168508U (ja) * | 1987-04-22 | 1988-11-02 | ||
US4918385A (en) * | 1987-05-18 | 1990-04-17 | Hewlett-Packard Company | Method and process for testing the reliability of integrated circuit (IC) chips and novel IC circuitry for accomplishing same |
JPH0799452B2 (ja) * | 1989-04-25 | 1995-10-25 | シチズン時計株式会社 | 表示駆動回路 |
US4956605A (en) * | 1989-07-18 | 1990-09-11 | International Business Machines Corporation | Tab mounted chip burn-in apparatus |
US5063304A (en) * | 1990-04-27 | 1991-11-05 | Texas Instruments Incorporated | Integrated circuit with improved on-chip power supply control |
-
1991
- 1991-09-10 JP JP3230286A patent/JP2688548B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-09-10 US US07/944,119 patent/US5365250A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5365250A (en) | 1994-11-15 |
JPH0567659A (ja) | 1993-03-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2688548B2 (ja) | 液晶パネル駆動用半導体装置 | |
CN109410807B (zh) | 驱动电路和显示面板 | |
KR100532447B1 (ko) | 높은 테스트 전류 주입이 가능한 집적 회로 소자의 병렬테스트 장치 및 방법 | |
KR100304444B1 (ko) | Ram에 저장된 데이터를 갱신하여 액정 디스플레이를 제어하기 위한 방법 및 장치 | |
KR19990044221A (ko) | 액정 디스플레이를 제어하는데 적합한 마이크로컨트롤러 칩을 검사하는 방법 | |
JP4051562B2 (ja) | フラットパネルディスプレイ用点灯エージング試験システム | |
JP2000322899A (ja) | 半導体装置、そのテスト装置及びそのテスト方法 | |
KR20020043149A (ko) | 반도체 제조 검사장치 및 반도체장치 | |
JP2648001B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
JPS60120269A (ja) | 半導体テスト装置 | |
JPH0519012A (ja) | バーンインテスト装置 | |
JP3092362B2 (ja) | 集積回路の自動試験装置 | |
KR100528021B1 (ko) | 액정표시장치의 소스 드라이브 집적회로의 소스 신호 출력 제어 회로 | |
JP3106486B2 (ja) | 半導体集積回路の測定装置 | |
KR100252303B1 (ko) | 반도체칩 슬레이브 검사장치 | |
JPH03279882A (ja) | 半導体集積回路 | |
JPH11183569A (ja) | Ic試験装置 | |
JPH05142295A (ja) | バーン・イン試験方法及び同試験のためのパターン発生回路 | |
JPS60170946A (ja) | 半導体集積回路 | |
JP3132578B2 (ja) | 多出力集積回路装置 | |
TW202139311A (zh) | 晶圓製程良率分析之大量取樣測試的改良方法 | |
JPH11258316A (ja) | 半導体集積回路検査装置およびそれを用いた試験方法 | |
KR20010019178A (ko) | 전압 레벨 테스트 장치 | |
JPH03175419A (ja) | 液晶駆動回路 | |
JPH053232A (ja) | 半導体装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070822 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080822 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080822 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090822 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090822 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100822 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110822 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110822 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120822 Year of fee payment: 15 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120822 Year of fee payment: 15 |