KR940006603B1 - 포탄 근접신관의 카스텀 회로(Custom IC) 측정장치 - Google Patents

포탄 근접신관의 카스텀 회로(Custom IC) 측정장치 Download PDF

Info

Publication number
KR940006603B1
KR940006603B1 KR1019890006644A KR890006644A KR940006603B1 KR 940006603 B1 KR940006603 B1 KR 940006603B1 KR 1019890006644 A KR1019890006644 A KR 1019890006644A KR 890006644 A KR890006644 A KR 890006644A KR 940006603 B1 KR940006603 B1 KR 940006603B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
circuit
amplifier
terminal
output
multiplexer
Prior art date
Application number
KR1019890006644A
Other languages
English (en)
Other versions
KR900018687A (ko
Inventor
유완동
Original Assignee
대우전자 주식회사
김용원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 대우전자 주식회사, 김용원 filed Critical 대우전자 주식회사
Priority to KR1019890006644A priority Critical patent/KR940006603B1/ko
Publication of KR900018687A publication Critical patent/KR900018687A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR940006603B1 publication Critical patent/KR940006603B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Fuses (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

포탄 근접신관의 카스텀 회로(Custom IC)측정장치
제1도는 본 발명의 회로도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1,10,11,15,21 : 래치버퍼(Latch Buffer)회로
2 : D/A(Digital/Analog)변환기 3 : 신호발생기
4 : 스텝모터(Step motor)구동회로 5 : 잡음 발생기
6 : 전원부 7 : 카스텀 회로(Custom IC)
8,9,13 : 피크(Peak)검출기 12 : 멀티플렉서
14 : 컴퓨터 16 : 분활회로
17 : 표시장치 18 : 조작부
19 : 쉬미트 트리거 회로
20,23 : 3-스테이트 버퍼(3-State Buffer)회로
22 : A/D(Analog/Digital)변환기 24:딥(Dip)스위치
25 : 프린터 인터페이스회로 26 : 프린터 장치
OP1-OP10: 증폭기 Q1-Q6: 트랜지스터
RL1-RL6: 릴레이 SW1-SW6: 릴레이 스위치
SW7: 수동 및 자동 스위치 SW8: 프린터 가동스위치
SW9: 리세트(Reset) 스위치
본 발명은 포탄 근접 신관에 사용되는 카스텀 회로를 여러가지의 조건을 부여하고 각 조건에 해당하는 측정값을 기준 설정 범위와 비교하여 양질의 카스텀 회로만을 선별할 수 있는 포탄 근접 신관의 카스텀 회로측정 장치에 관한 것이다.
포탄 근접 신관에 사용되는 카스텀 회로란 포탄을 발사 후 적정 상공에서 포탄을 폭파시킬 수 있는 장치로서 특히 근접 신관의 발진장치에서 출력되는 도플러 신호를 증폭하는 기능과 이의 신호로서 점화 신호로 이어지는 트리거 펄스 출력 장치등으로 특수 제작된 집적회로(IC)인 것이다.
만일 포탄 발사후에 카스텀 회로가 제기능을 수행하지 못할 경우에는 폭파되어야 할 시점에서 트리거 펄스가 출력되지 못하여 추진 장약을 폭발시킬 수 없게 되는등 매우 중요한 기능을 갖는 회로인 것이다.
따라서 본 발명은 전술한 바와 같은 기능을 가진 카스텀 회로를 측정하여 양질의 제품만을 선별할 수 있도록 한 것으로 특히 원 칩 컴퓨터(One Chip Computer)을 사용하여 측정에 필요한 프로그램을 설정하고 주변 회로를 상호 연결한 측정 장치를 구성함으로서 카스텀 회로가 정상적인 동작을 할 수 있는 여러가지 조건을 부여하고 여러가지 항목 즉 카스텀 회로에 필요한 전원을 인가했을때 각 출력 단자의 전압을 측정하는 전압 측정 항목 그리고 전원이 인가될때의 카스텀 회로에 전달되는 입력 전류 측정 항목, 또한 특정 신호를 증폭하는 증폭기 최대 이득 측정 항목과 카스텀 회로에 필요한 조건이 갖추어지면 다이리스터(SCR)에서 트리거 펄스가 출력되는데, 이때의 트리거 펄스의 전압을 측정하는 항목, 특정 단자에 일정 전압과 주파수를 인가시 스텝 모터를 구동하여 저항값을 변화시켜 전압을 절반으로 만든 상태의 저항 값 즉 입력 임피던스 측정 항목, 카스텀 회로에 직류 전압을 인가했을 경우 교류분의 감쇄율 즉 리플 감쇄율 측정 항목등 여러 항목을 측정하고 표시 장치에 나타난 데이타와 기준 설정치를 비교하여 적정 범위내에 존재하면 양질의 카스텀 회로임을 판단함으로서 짧은 시간에 많은 량의 카스텀 회로를 정밀하게 측정하여 양질의 제품만을 선별할 수 있는 장치를 제공하는데 본 발명의 목적이 있는 것이다.
이하 첨부된 도면에 의해 상세히 설명하면 다음과 같다.
모든 장치를 제어하기 위한 프로그램이 부여되어 있는 컴퓨터(14)에 각 래치버퍼회로(1)(10)(11)(15)와 3-스테이트 버퍼회로(20)(23) 및 분활회로(16)를 거쳐 표시장치(17)와 데이타 교환이 가능하도록 연결하고, 래치버퍼회로(10)에는 릴레이(RL1-RL4)를 구동시켜 필요한 측정 조건을 갖도록 하는 트랜지스터(Q1-Q4)와 가변저항(VR)을 조절할 수 있는 스텝모터 구동회로(4) 신호 발생기(3)를 각각 접속하며 다른 래치버퍼회로(1)는 D/A변환기(2)에 연결하되, 이의 출력을 릴레이 스위치(SW1)를 통하여 카스텀 회로(7)에 인가하는 한편, 또 다른 래치버퍼회로(11)에는 트랜지스터(Q6)와 멀티플렉서(12) 및 A/D변환기(22)에 접속되도록 하며 카스덤 회로(7)의 a단자에는 멀티플렉서(12)와 릴레이 스위치(SW5)를 그리고 b단자는 증폭기(OP4)(OP7)를 접속하되 상기 증폭기(OP4)의 출력을 피크 검출기(8)를 거쳐 A/D 변환기 (22)에 인가하고 증폭기(OP5)의 출력단은 멀티플렉서(12)에 접속함과 동시에 d단자에는 증폭기(OP3)와 릴레이 스위치(SW4)(SW6)를 e단자에는 증폭기(OP6)를 거쳐 멀티플렉서(12)에 연결하며, f단자측에는 피크검출기(9)와 증폭기(OP5)를 통하여 멀티플렉서(12)에 접속하고, g, h, i단자에는 릴레이 스위치(SW2)(SW1)(SW3)를 각각 연결하여 신호 발생기(3)와 잡음 발생기(5)를 상호 접속하되 릴레이 스위치(SW4)의 접점에 따라 잡음발생기(5)의 출력을 카스텀 회로(7)에 인가되도록 하며 릴레이 스위치(SW5)에는 증폭기(OP10)와 피크 검출기(13)를 거쳐 A/D 변환기(22)에 연결하게 하는 한편, 멀티플렉서(12)의 선택적 신혼를 A/D 변환기(22)로 입력하고 이의 출력 데이타를 래치버퍼회로(21)와 3-스테이트 버퍼회로(20)를 통하여 컴퓨터(14)와 프린터 인터페이스 회로(23)의 데이타 버스에 인가되도록 한 것이다.
상기와 같은 구성에 의해서 각 측정 항목별로 살펴보기로 한다.
먼저 각 항목을 측정하기 위하여 조작부(18)의 자동 및 수동 스위치(SW7) 선택에 따라 동작되나 본 발명에서는 편의상 자동으로 측정하는 경우에 대해서 설명하기로 한다.
즉 자동 스위치(SW7)을 온(on)상태로 접속하면 컴퓨터(14)의 프로그램에 따라 모든 래치버퍼회로(1)(10)(11)(15)와 3-스테이트 버퍼회로(20)(23)에 이네이블 신호를 인가하여 순차적으로 각 항목별로 측정할 수 있는 상태가 된다.
이러한 여건에서 카스텀 회로(7)의 전원단자 즉 d단자에 35V 인가후 각 단자에서 출력되는 전압 측정 항목을 시험하기 위하여 래치버퍼회로(11)로 부터 신호가 출력되어 트랜지스터(Q6)의 베이스에 인가하여 상기 트랜지스터(Q6)가 도통되고 따라서 릴레이(RL6)가 구동함으로서 릴레이 스위치(SW6)를 온(on)상태로 접속시키게 된다.
이때 전원부(6)에서 출력되는 35V의 전압이 증폭기(OP9)에 연결된 저항(R1)과 릴레이 스위치(SW6)를 거쳐 카스텀 회로(7)의 d단자에 입력되어져 각 단자(a, b, e, f)에서 전압이 출력된다.
먼저 a단자에서 출력되는 전압은 직접 멀티플렉서(12)에 인가되고 나머지 b, e, f의 전압은 증폭기(OP7)(OP6)(OP5)로 입력되어 적절하게 감쇄시킨 후 멀티플렉서(12)에 인가하게 된다.
상기 멀티플렉서(12)는 래치버퍼회로(11)의 지시를 받아 카스텀 회로(6)의 여러 단자에서 출력되는 전압을 순차적으로 A/D변환기(22)에 전달하여 카스텀 회로(7)에서 출력되는 전압 즉 아날로그 신호를 컴퓨터(14)에서 판독할 수 있는 디지탈 신호로 변환하여 래치버퍼회로(21)와 3-스테이트 버퍼회로(20)를 거쳐 컴퓨터(14)의 데이타 버스(DATABUS)로 전송된다.
따라서 컴퓨터(14)는 상기 데이타를 판독하여 각 단자에서 출력되는 전압값을 외부로 디스플레이 하기 위하여 분활회로(26)에서 단계별로 신호를 분리하고 이를 표시장치(17)에 인가함으로서 카스텀 회로(7)의 전원단(d)에 35V가 입력될때 각 단자(a, d, e, f)에서 출력되는 전압이 순차적으로 표시장치(17)에 수치로 디스플레이 되며, 이때 표시된 각 단자의 출력전압값이 설정된 기준 범위내에 존재하게 되면 정상적인 동작을하는 것으로 판단하여 양질의 카스텀 회로(7)임을 판단하게 된다.
다음은 카스텀 회로(7)의 전원단자(d)에 35V가 인가될때의 입력전류 측정 항목에 관한 것으로서, 전원부(6)에서 출력되는 35V의 전압이 저항(R1)을 거치게 되면 전류로 변환되어 증폭기(OP9)로 재차 입력되므로 이의 전류를 일정 비율로 증폭하여 멀티플렉서(12)로 보내어지게 된다.
따라서 래치버퍼회로(11)의 명령에 따라 A/D 변환기(22)로 전달하여 아날로그양인 전류를 디지탈 신호로 변환하여 래치버퍼회로(21)와 3-스테이트 버퍼회로(20)를 통하여 컴퓨터(14)에 전송하게 됨으로서 표시장치(17)에 카스텀 회로(7)에 인가되는 입력 전류값이 디스플레이 되는 것이다.
이때 측정된 전류값이 12-l4㎃내에 있게 되면 카스텀 회로(7)가 안정된 동작을 할 수 있는 전류가 공급되는 것으로 판단하게 된다.
다음은 카스텀 회로(7)에 내장되어 있는 증폭기의 최대 이득 측정 항목으로서 a단자에 20㎷와 1㎑의 주파수를 인가함과 동시에 i단자에 CV를 인가하고 릴레이 스위치(SW1)와 오프(off)되었을때의 f단자에서 출력되는 전압을 측정하는 항목인 것이다.
즉 래치버퍼회로(10)의 명령에 따라 신호 발생기(3)에서 20㎷와 1㎑의 주파수를 발생하게 되며, 이의 전압으로 트랜지스터(Q5)가 동작하게 되어 릴레이(RL5)를 구동함으로서 릴레이 스위치(SW5)가 접속되므로 카스텀 회로(7)의 a단자에 20㎷와 1㎑의 주파수가 인가된다.
이때 래치버퍼회로(10)에서 트랜지스터(Q3)에 신호를 보내어 릴레이 스위치(SW3)가 접지로 연결되게 하여 i단자에 CV가 인가되도록 하면 f단자에서 최대 이득값이 전압으로 출력되어 피크 검출기(9)에서 최대, 최소의 피크 전압을 검출한 후에 이의 값을 멀티플렉서(12)에 전달하여 전술한 바와 동일하게 변환기(22)에서 디지탈 신호로 전환되어 컴퓨터(14)에 전송함으로서 표시장치(17)에 증폭기의 최대 이득값
Figure kpo00001
이 나타나게 된다.
이때 표시된 증폭기의 최대 이득값이 7-l5(㏈) 범위내에 존재하게 되면 카스텀 회로(7)에 내장된 증폭장치는 안정된 동작을 하고 있는 것으로 간주하여 양질의 제품인 것을 판단하게 되는 것이다.
다음은 다이리스터(SCR)에서 출력되는 점화신호인 트리거 펄스의 전압측정 항목은 상기 증폭기 최대 이득 항목 조건에서 릴레이 스위치(SW1)(SW2)를 D/A변환기(2)와 증폭기(OP1)에 각각 접속하게 되면 g단자에서 트리거 펄스가 출력될 때의 전압을 측정하는 것이다.
즉 증폭기 최대 이득 항목 측정 조건에서 래치버퍼회로(10)로 부터 트랜지스터(Q1)(Q2)에 신호를 인가하여 릴레이 스위치(SW1)(SW2)가 D/A변환기(2)와 증폭기(OP1)에 각각 접속되도록 하면 D/A변환기(2)에서 출력되는 전압을 가변하여 트리거될때 g단자는 하이(high)출력에서 로우(Low)신호로 반전된다.
이때의 신호가 증폭기(OP1)를 거쳐 컴퓨터(10)로 전송되어 다이리스터(SCR)가 트리거될때의 전압이 표시장치(17)에 디스플레이 되며 이러한 전압값이 0.2-0.9V의 기준 설정 범위내에 있게 되면 양질의 카스텀회로(7)임을 판별할 수 있는 것이다.
다음은 카스텀 회로(7)의 입력 임피던스 측정 항목으로서 a단자에 40㎷와 1㎑ 인가시 스텝모터를 구동하여 a단자에 인가되는 전압이 20㎷로 측정될 때의 가변저항(VR1)(VR2)값을 측정하는 것이다.
이 과정을 래치버퍼회로(10)의 명령을 받아 신호 발생기(3)로 부터 40㎷와 1㎑의 주파수를 카스텀회로(7) a단자에 인가할 경우 래치버퍼회로(10)에서 스텝모터 구동회로(4)를 동작시켜 가변저항(VR1)(VR2)을 조절하게 된다.
즉 40㎷의 전압이 가변저항(VR)에 의해 서서히 감소되는데 이때의 전압은 증폭기(OP10)에 입력되어 증폭된 후 피크 검출기(13)에서 20㎷의 전압을 검출하여 A/D변환기(22)에 인가하는 한편 이때의 가변저항(VR2)값을 증폭기(OP8)에서 비교하여 멀티플렉서(12)로 보내어지고 이의 출력과 피크 검출기(13)의 출력이 함께 A/D변환기(22)에 입력되어져 컴퓨터(14)가 읽을 수 있는 디지탈 신호로 변환된 후 데이타 버스에 전송됨으로서 이의 신호를 판독하여 표시장치(17)에 카스텀 회로(7)의 a단자에 20㎷가 인가될 때의 가변저항(VR1)값, 즉 입력 임피던스 값이 표시된다.
따라서 입력 임피던스 측정 데이타 값이 50-60㏀ 범위내에 존재하게 되면 양질의 카스텀 회로(7)임을 선별할 수 있는 것이다.
다음 측정 항목은 리플 감쇄율 측정에 관한 것으로서 카스텀 회로(7)의 전원단에 40V의 전원과 500㎷의 교류 성분을 인가할 경우 b단자에서 출력되는 교류 성분을 측정하는 것이다.
즉 전원부(6)에서 d단자에 40V 전원을 인가하고 래치버퍼회로(10)에서 트랜지스터(Q4)에 신호를 출력하여 도통 상태로 만들게 됨에 따라 잡음 발생기(5)에 500㎷의 교류 성분의 잡음을 릴레이 스위치(SW4)를 통하여 d단자에 인가되도록 하면 b단자에서 교류 성분의 전압이 출력된다.
따라서 이러한 교류전압은 증폭기(OP4)에서 적정하게 증폭되어 피크검출기(8)에서 최대, 최저 전압을 검출한 뒤 멀티플렉서(12)에 전송되며, 이의 출력이 A/D변환기(22)로 보내어 피크 전압을 디지탈 신호로 변환하여 래치버퍼회로(21)와 3-스테이트 버퍼회로(20)를 통하여 컴퓨터(4) 데이타 버스에 전달됨으로서 이를 연산하여 표시장치(7)에 교류 전압이 출력된다.
따라서 이때의 전압 즉 리플감쇄울
Figure kpo00002
이 기준 설정 범위내에 존재하게 되면 잡음에 크케 영향을 받지 않는 것으로 판단하여 양질의 카스텀 회로(7)임을 판단하게 되는 것이다.
상기 전술한 측정 항목 이외에도 카스텀 회로(7)의 전원단에 35V와 a단자에 200㎷ 및 1㎑의 주파수를 인가한 상태에서 릴레이 스위치(SW3)를 동작시켜 i단에 2V를 입력시 f단에서 출력되는 이득 즉 카스텀회로(7)에 내장된 증폭장치의 이득 감쇄 측정항목, 그리고 35V 인가시 릴레이 스위치(SW1)(SW2)를 접지에 연결했을 때의 g단자에서 출력되는 충전 전류 측정 항목, 또한 모든 조건을 부여한 뒤 릴레이 스위치(SW2)를 증폭기(OP2)에 접속했을때 d단자와 g단자의 양단 전압 측정을 하는 누설 전류 측정 항목등이 있다.
따라서 전술한 모든 항목의 측정 데이타 값이 기준 설정 범위내에 존재하게 되면 포탄 근접 신관의 중요한 기능을 갖는 카스텀 회로(7)는 안정된 동작을 할 수 있으므로 측정 결과에 따라 양질의 카스텀 회로(7)만을 선별할 수 있는 것이다.
한편 조작부(18)의 프린터 가동 스위치(SW8)를 온 상태로 접속하면 모든 측정 항목의 데이타 값을 컴퓨터(14)와 프린터 인터페이스 회로(25)에 의해 프린터 장치(26)를 동작시켜 측정값의 기록 및 저장이 가능하도록 되어 있으며 측정이 완료된 카스텀 회로(7)의 교환이 가능하도록 패키지(Package)에 삽입하여 측정하도록 구성되어 있어 적은 시간에 많은 량의 카스텀 회로(7)를 측정할 수 있도록 되어 있다.
이상에서 상술한 바와 같이 본 발명은 포탄 근접 신관에 사용되는 카스텀 회로(7)를 측정하기 위하여 원 칩 컴퓨터(14)에 필요한 프로그램을 저장하고 측정에 알맞는 조건을 부여할 수 있는 주변 회로를 연결 구성하여 각 항목별로 자동 및 수동으로 측정할 수 있으며, 많은 수량의 카스텀 회로(7)를 신속하고 정확하게 측정하여 양질의 제품만을 선별하도록 함은 물론 프린터 인터페이스회로(25)에 의해 프린터장치(26)를 구동시켜 측정 데이타를 기록하여 영구 보존할 수 있는 장치인 것이다.

Claims (1)

  1. 모든 장치를 제어하기 위한 프로그램이 부여되어 있는 컴퓨터(14)에 각 래치버퍼회로(1)(10)(11)(15)와 3-스테이트 버퍼회로(20)(23) 및 분활회로(16)를 거쳐 표시장치(17)와 데이타 교환이 가능하도록 연결하고, 래치버퍼회로(10)에는 릴레이(RL1∼RL4)를 구동시켜 필요한 측정 조건을 갖도록 하는 트랜지스터(Q1-Q4)와 가변저항(VR)을 조절할 수 있는 스텝모터 구동회로(14) 신호 발생기(3)를 각각 접속하여 다른래치버퍼회로(1)는 D/A 변환기(2)에 연결하되 이의 출력을 릴레이 스위치(SW1)를 통하여 카스텀 회로(7)에 인가하는 한편 또 다른 래치버퍼회로(11)에는 트랜지스터(Q6)와 멀티플렉서(12) 및 A/D 변환기(22)에 접속되도록 하며, 카스텀 회로(7)의 a단자에는 멀티플렉서(12)와 릴레이 스위치(SW5)를 그리고 b단자는 증폭기(OP4)(OP7)를 접속하되, 상기 증폭기(OP4)의 출력을 피크 검출기(8)를 거쳐 A/D변환기(22)에 인가하고 증폭기(OP7)의 출력단은 멀티플렉서(12)에 접속함과 동시에 d단자에는 증폭기(OP6)와 릴레이 스위치(SW4)(SW6)를 e단자에는 증폭기(OP6)를 거쳐 멀티플렉서(12)에 연결하며, f단자측에는 피크 검출기(9)와 증폭기(OP5)를 통하여 멀티플렉서(12)에 접속하고, 9, h, i단에는 릴레이 스위치(SW2)(SW1)(SW3)를 각각 연결하여 신호 발생기(3)와 잡음 발생기(5)를 상호 접속하되 릴레이 스위치(SW4)의 접점에 따라 잡음 발생기(5)의 출력을 카스텀 회로(7)에 인가하도록 하며 릴레이 스위치(SW6)에는 증폭기(OP10)와 피크검출기(13)를 거쳐 A/D변환기(22)에 연결되게 하는 한편 멀티플렉서(12)의 선택적 신호를 A/D변환기(22)로 입력하고 이의 출력 데이타를 래치버퍼회로(21)와 3-스테이트 버퍼회로(20)를 통하여 컴퓨터(14)와 통상의 프린터 인터페이스회로(25)의 데이타 버스에 인가되도록 한 것을 특징으로 하는 포탄 근접 신관의 카스텀회로(Custom IC) 측정장치.
KR1019890006644A 1989-05-18 1989-05-18 포탄 근접신관의 카스텀 회로(Custom IC) 측정장치 KR940006603B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019890006644A KR940006603B1 (ko) 1989-05-18 1989-05-18 포탄 근접신관의 카스텀 회로(Custom IC) 측정장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019890006644A KR940006603B1 (ko) 1989-05-18 1989-05-18 포탄 근접신관의 카스텀 회로(Custom IC) 측정장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR900018687A KR900018687A (ko) 1990-12-22
KR940006603B1 true KR940006603B1 (ko) 1994-07-23

Family

ID=19286280

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019890006644A KR940006603B1 (ko) 1989-05-18 1989-05-18 포탄 근접신관의 카스텀 회로(Custom IC) 측정장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR940006603B1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR900018687A (ko) 1990-12-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5467024A (en) Integrated circuit test with programmable source for both AC and DC modes of operation
US5521493A (en) Semiconductor test system including a novel driver/load circuit
JPH1054851A (ja) 電源出力電流測定装置
KR20010089599A (ko) 데이터 버스로 제어되는 패턴 발생기를 가진 집적 회로테스터
US6188225B1 (en) Circuit and method for checking the contacting of a switch or pushbutton
KR100530176B1 (ko) 집적 회로 테스터용 부하 회로
KR940006603B1 (ko) 포탄 근접신관의 카스텀 회로(Custom IC) 측정장치
USH1793H (en) Thermal transient test system
JP2002107406A (ja) 半導体試験装置
JPS5882346A (ja) 電子テスト装置内に於けるピンエレクトロニクスインタ−フエ−ス回路の自動補正
KR940006602B1 (ko) 포탄 근접 신관의 하이브리드 회로(hybrid IC) 측정장치
KR940011630B1 (ko) 포탄 근접 신관의 카스텀회로(custom ic)측정장치
JP3049880B2 (ja) Ic試験器の負荷コンデンサ接続回路
JP2002168914A (ja) 安定化電源装置
JPH06222108A (ja) 半導体試験装置
JP3331103B2 (ja) Icテスタの電流測定装置
JPH10104308A (ja) Ic試験装置
JPS63113374A (ja) 集積回路測定装置
KR940006601B1 (ko) 포탄 근접 신관의 하이브리드회로(hybrid IC) 측정장치
JP3690583B2 (ja) 測定装置
JPH0524222Y2 (ko)
JPS6329277A (ja) 論理集積回路の試験装置
JP3025923B2 (ja) 半導体集積回路装置
JPH05149996A (ja) 半導体装置の熱抵抗測定方法
JPH0442784Y2 (ko)

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20010629

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee