KR0119246Y1 - 에스,오,피용 테스트소켓 - Google Patents

Abstract

본 고안은 갈고리형태의 리드를 갖는 에스,오,피(SOP:Small Outline Package)를 테스트할 때 사용되는 SOP용 테스트소켓에 관한 것으로써, 좀더 구체적으로는 리드의 변형에 따른 불량판정이 발생되는 것을 미연에 방지할 수 있도록 소켓의 구조를 개선한 것이다.

이를위해, 본 고안은 본체(1)내에 복수개의 하부단자(3)를 격벽(5)으로 구획되게 고정하도록 된 것에 있어서, 상기 격벽(5)의 폭(B)을 하부단자(3)의 폭(b)보다 크게 형성하고 격벽(5)의 높이(T)는 소자(2)의 히드(2a)저면이 접속되는 하부단자(3)의 높이(t)보다 높게 형성하여서 된 것이다.

Description

에스,오,피(SOP)용 테스트소켓

제1도는 종래의 SOP용 테스트소켓의 단자를 나타낸 정면도

제2도는 제1도에서 상부단자를 생략한 상태의 평면도

제3도는 소자의 리드를 단자사이에 접속시키는 상태를 설명하기 위한 개략도로써, (a)는 상부단자가 상호 벌어진 상태도, (b)는 리드가 상,하부단자사이에 접속된 상태도.

제4도는 본 고안을 나타낸 평면도

제5도는 제4도의 A-A선 단면도

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1:본체2:소자

2a:리드3:하부단자

4:상부단자5:격벽

본 고안은 갈고리형태의 리드를 갖는 에스,오,피(SOP:Small Outline Package)를 테스트할 때 사용하는 SOP용 테스트소켓에 관한 것으로써, 좀더 구체적으로는 리드의 변형에 따라 양품의 소자가 불량으로 판정되는 것을 미연에 방지할 수 있도롯 소켓의 구조를 개선한 것이다.

첨부도면 제1도는 종래의 SOP용 테스크소켓의 단자를 나타낸 정면도이고 제2도는 제1도에서 상부단자를 생략한 상태의 평면도로써, 합성수지재의 본체(1)내에 소자(2)의 리드(2a)저면이 접속되는 하부단자(3)가 일정간격으로 고정되어 상기 하부단자보다 약간 돌출된 격벽(5)에 의해 구획되어 있고 상기 하부단자(3)의 상부로는 누름편(도시는 생략함)의 누름동작에 따라 상부 외측으로 벌어지는 상부단자(4)가 위치되어 있다.

따라서 제3도의 (a)와 같이 누름편을 눌러 상부단자(4)를 하부단자(3)로부터 분리시킨 다음 상기 상,하부단자사이에 소자(2)의 리드(2a)에 위치되도록 한 후 누름편에서 외력을 제거하면 상부 외측으로 벌어졌던 상부단자(4)가 탄성력에 의해 최초의 상태로 복원되면서 (a)와 같이 리드(2a)의 상면과 접속되므로 전기적으로 상,하부단자(3)(4)와 소자(2)의 리드(2a)가 통전되므로 별도의 테스터를 이용하여 소자의 성능검사를 실시할 수 있게 된다.

그러나 종래의 이러한 구조의 소켓은 제2도에서 도시한 바와 같이 하부단자(3)와 격벽(5)의 사이가 넓어 소자(2)의 테스트시 소켓에 장착되는 리드(2a)가 하부단자(3)사이에서 유동되어 단자사이에 정확히 접속되지 못하게 되므로 양품의 소자를 불량으로 판정하는 경우가 빈번히 발생되었다.

특히, 제2도의 실선과 같이 위치되어야 할 리드(2a)가 변형되어 일점쇄선과 같이 위치될 경우에는 리드(2a)가 격벽(5)의 상면에 얹혀지게 되므로 전기적으로 절연이 되어 소자의 특성을 판단하기 못하고 불량으로 판정하게 되는 문제점이 있었다.

본 고안은 종래의 이와같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로써, 그 구조를 개선하여 테스트할 소자를 소켓내에 장착하면 소자가 본체내에서 유동되지 않도록 함과 동시에 리드가 하부단자사이에 자동으로 접속되도록 하는데 그 목적이 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 형태에 따르면, 본체내에 복수개의 하부단자를 격벽으로 구획되게 고정하도록 된 것에 있어서, 상기 격벽의 폭을 하부단자의 폭보다 크게 형성하고 격벽의 높이는 소자의 리드저면이 접속되는 하부단자의 높이보다 높게 형성하여서 된 에스,오,피(SOP)용 테스크소켓이 제공된다.

이하, 본 고안을 일 실시예로 도시한 첨부된 도면 제4도 및 제5도를 참고로 하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.

첨부도면 제4도는 본 고안을 나타낸 평면도이고 제5도는 제4도의 A-A선 단면도로써, 본 고안의 구성중 종래의 소켓구성과 동일한 부분은 그 설명을 생략하고 동일 부호를 부여하기로 한다.

본 고안은 하부단자(3)와 격벽(5)의 높이차가 발생되지 않음으로 인해 소자(2)의 장착시 소자가 유동되는 것을 방지하기 위해 격벽(5)의 폭(B)을 하부단자의 폭(b)보다 크게 형성하도록 되어 있다.

또한, 리드(2a)가 하부단자(3)와 접속되지 않는 것을 방지하기 위해 격벽의 높이(T,를 소자(2)의 리드(2a)저면이 접속되는 하부단자(3)의 높이(t)보다 높게 형성하도록 되어 있다.

이와같이 구성된 본 고안의 작용, 효과를 설명하면 다음과 같다.

먼저 누름편을 누르면 상부단자(4)가 하부단자(3)로부터 분리되어 외측으로 벌어지게 되므로 상기 상,하부단자사이에 소자(2)의 리드(2a)에 위치되도록 한 다음 누름편에서 외력을 제거하면 상부 외측으로 벌어졌던 상부단자(4)가 외측으로 벌어지면서 갖고 있던 탄성력에 의해 최초의 상태로 복원되면서 리드(2a)의 상면과 접속된다.

이와같이 전기적으로 상,하부단자(3)(4)와 소자(2)의 리드(2a)가 통전되면 별도의 테스터를 이용하여 소자의 성능검사를 실시하게 된다.

상기한 바와 같이, 상,하부단자(4)(3)사이에 검사하고자 하는 소자(2)의 리드(2a)를 접속시킬 때 상기 하부단자(3)사이에 위치되는 격벽(5)의 높이(T)가 하부단자의 높이(t)보다 높음은 물론 그 폭(B) 또한 하부단자(3)의 폭(b)보다 넓기 때문에 소자의 리드(2a)가 하부단자(3)와 정확히 접속되므로 리드와 단자의 접속불량에 따른 테스트불량을 미연에 방지하게 되는 것이다.

이상에서와 같이 본 고안은 하부단자사이에 위치되는 격벽의 높이를 하부단자보다 높게 형성됨과 동시에 넓게 형성하는 간단한 구조 변경에 의해 SOP의 테스트시 리드의 접속불량을 미연에 방지하게 되므로 양품의 소자가 불량으로 분류되는 오류가 발생되지 않는 효과를 얻게 된다.

Claims (1)

1. 본체(1)내에 복수개의 하부단자(3)를 격벽(5)으로 구획되게 고정하도록 된 것에 있어서, 상기 격벽(5)의 폭(B)을 하부단자의 폭(b)보다 크게 형성하고 격벽(5)의 높이(T)는 소자(2)의 리드(2a)저면이 접속되는 하부단자(3)의 높이(t)보다 높게 형성하여서 된 에스,오,피(SOP) 테스트소켓.