JPWO2019038902A1 - レーザ照射装置 - Google Patents
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Abstract
Description
その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。
基板ステージを貫通する基板支持用のプッシャピン及び当該基板ステージの周辺に配置された基板支持用のプッシャブレードを上下動させるモータが、基板ステージの下面に接続されている。
先ず、本実施の形態に係るレーザ照射装置の全体構成について説明する。図1は、本実施の形態に係るレーザ照射装置を模式的に示す側面図である。図2は、本実施の形態に係るレーザ照射装置を模式的に示す平面図である。なお、図1及び図2では、レーザ照射装置を簡略化して示している。ここで、以下の説明では、説明を明確にするために、XYZ直交座標系を用いて説明する。このとき、Z軸方向が鉛直方向となり、XY平面が水平面となる。
本実施の形態のレーザ照射装置の搬送ステージは、実施の形態1のレーザ照射装置1の搬送ステージ5と略等しい構成とされているが、プッシャブレード14の配置が異なる。なお、本実施の形態のレーザ照射装置の搬送ステージは、実施の形態1のレーザ照射装置1の搬送ステージ5と略等しい構成とされているため、重複する説明は省略し、等しい部材には等しい符号を用いて説明する。
本実施の形態のレーザ照射装置の搬送ステージは、実施の形態1のレーザ照射装置1の搬送ステージ5と略等しい構成とされているが、プッシャブレードの形状が異なる。なお、本実施の形態のレーザ照射装置の搬送ステージは、実施の形態1のレーザ照射装置1の搬送ステージ5と略等しい構成とされているため、重複する説明は省略し、等しい部材には等しい符号を用いて説明する。
2 チャンバ、2a 側壁、2b 搬送口、2c シャッタ、2d 天井、2e 開口部、2f 底面
3 レーザ照射部、7 レーザ光源、8 ミラー、9 プロジェクションレンズ
4 ベース部
5 搬送ステージ
6 基板搬送機構、6a フォーク、6b ロボットハンド
10 ステージ、16 X軸レール、17 Y軸レール
11 ベースフランジ
12 基板ステージ、12a 貫通孔、12b 溝部
13 プッシャピン、13a 第1のプッシャピン、13b 第2のプッシャピン
13c 樹脂部
13d 基部
13e 被嵌合部
13f 嵌合部
14 プッシャブレード
15 駆動ユニット
18 モータ
19 第1の駆動伝達部、22 直動駆動ユニット、23 伝達アーム、24 回転軸、27 連結部材、28 ラック、30 第1のピニオン、31 第2のピニオン、32 第3のピニオン
20 第2の駆動伝達部
20a 第1のプッシャピンへの駆動伝達部、20c 支持部、20d ラック
20b 第2のプッシャピンへの駆動伝達部、20e 支持部、20f ラック
21 第3の駆動伝達部、21a プッシャアーム、21b ラック
26 第1の固定部材
29 第2の固定部材
33、35、37 案内機構
34、36、38 連結部材
51 搬送ステージ
61 搬送ステージ
62 プッシャブレード
63 基板ステージ、63a 溝部
100 搬送ステージ
101 駆動ユニット
102 モータ
103 リンク機構
B ボルト
L1 レーザ光
R 処理室
S 基板
Claims (13)
- 基板にレーザ光を照射するためのレーザ照射部と、
ベース部と、
前記基板を搬送するための搬送ステージと、
を備え、
前記搬送ステージは、
前記ベース部上で移動可能なステージと、
前記ステージ上に固定されたベースフランジと、
前記ベースフランジの上端部に固定され、前記基板を載せるための基板ステージと、
前記基板ステージを貫通し、上下動可能な基板支持用のプッシャピンと、
を有する、レーザ照射装置。 - 前記ベースフランジの上端部と前記基板ステージとは、ボルトによって連結されている、請求項1に記載のレーザ照射装置。
- 前記搬送ステージは、
前記基板ステージの外側に配置され、上下動可能なプッシャアームと、
前記プッシャアームに連結され、前記基板ステージの周辺に配置された基板支持用の複数のプッシャブレードと、
を有する、請求項1又は2に記載のレーザ照射装置。 - 前記基板ステージの上面には、前記複数のプッシャブレードのそれぞれに対応した溝部が形成されている、請求項3に記載のレーザ照射装置。
- 前記基板の平面形状は四角形であり、
前記プッシャブレードは、前記基板の第1の辺又は当該第1の辺と向かい合う第2の辺に交差するように配置されている、請求項3又は4に記載のレーザ照射装置。 - 前記プッシャブレードは、前記第1の辺又は前記第2の辺に対して直交するように配置されている、請求項5に記載のレーザ照射装置。
- 前記プッシャブレードは、前記第1の辺又は前記第2の辺に対して40°〜50°の角度で配置されている、請求項5に記載のレーザ照射装置。
- 前記プッシャピンは、基部と前記基部に対して前記プッシャピンの先端の側に配置された樹脂部とを有し、
前記樹脂部は、前記基部に対して着脱可能である、請求項1乃至7のいずれか1項に記載のレーザ照射装置。 - 前記搬送ステージは、前記基板ステージの下面に接続されたモータを有し、
前記プッシャピンは、前記モータの駆動力によって上下動可能である、請求項1乃至8のいずれか1項に記載のレーザ照射装置。 - 前記基板に非晶質の半導体が形成されており、
前記レーザ照射部による前記基板へのレーザ光の照射により多結晶の半導体が形成される、請求項1乃至9のいずれか1項に記載のレーザ照射装置。 - 前記ステージは、XYステージである、請求項1乃至10のいずれか1項に記載のレーザ照射装置。
- 前記ベースフランジは、上下方向に延在する回転軸を中心に前記基板ステージを回転させる回転駆動装置である、請求項1乃至11のいずれか1項に記載のレーザ照射装置。
- 基板にレーザ光を照射するためのレーザ照射部と、
ベース部と、
前記基板を搬送するための搬送ステージと、
を備え、
前記搬送ステージは、
前記ベース部上で移動可能なステージと、
前記ステージ上に固定されたベースフランジと、
前記ベースフランジの上端部に固定され、前記基板を載せるための基板ステージと、
前記基板ステージを貫通する基板支持用のプッシャピンと、
前記基板ステージの周辺に配置された基板支持用のプッシャブレードと、
前記基板ステージの下面に接続されたモータと、
を有し、
前記ベースフランジは、上下方向に延在する回転軸を中心に前記基板ステージを回転させる回転駆動装置であり、
前記プッシャピン及び前記プッシャブレードは、前記モータの駆動力によって上下動可能である、レーザ照射装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2017/030472 WO2019038902A1 (ja) | 2017-08-25 | 2017-08-25 | レーザ照射装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2019038902A1 true JPWO2019038902A1 (ja) | 2020-11-05 |
JP6955013B2 JP6955013B2 (ja) | 2021-10-27 |
Family
ID=65438488
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019537518A Active JP6955013B2 (ja) | 2017-08-25 | 2017-08-25 | レーザ照射装置及び基板搬送装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11684999B2 (ja) |
JP (1) | JP6955013B2 (ja) |
CN (1) | CN111033715A (ja) |
SG (1) | SG11202000305YA (ja) |
WO (1) | WO2019038902A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN111430279B (zh) * | 2020-04-30 | 2023-09-01 | 瑞安市荣海机电有限公司 | 一种准分子激光退火设备用基板支撑装置 |
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-
2017
- 2017-08-25 CN CN201780094234.9A patent/CN111033715A/zh active Pending
- 2017-08-25 WO PCT/JP2017/030472 patent/WO2019038902A1/ja active Application Filing
- 2017-08-25 US US16/632,344 patent/US11684999B2/en active Active
- 2017-08-25 SG SG11202000305YA patent/SG11202000305YA/en unknown
- 2017-08-25 JP JP2019537518A patent/JP6955013B2/ja active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20200180071A1 (en) | 2020-06-11 |
US11684999B2 (en) | 2023-06-27 |
CN111033715A (zh) | 2020-04-17 |
SG11202000305YA (en) | 2020-02-27 |
WO2019038902A1 (ja) | 2019-02-28 |
JP6955013B2 (ja) | 2021-10-27 |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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