JPWO2018003011A1 - 分析装置 - Google Patents
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Abstract
Description
(1)試料に対するLC/MS測定を行って得られるデータに基づきクロマトグラム(トータルイオンクロマトグラム)を作成し、該クロマトグラム上で不純物由来のピークを検出する。一般的には、既知である目的化合物由来のピーク(通常、このピークが信号強度が最大のメインピークである)の信号強度(ピーク高さ)に対し所定割合以上の信号強度を有するピークを不純物ピークとして検出する。
(2)検出された不純物ピークのピークトップの位置(保持時間)付近において得られたマススペクトルを確認し、該マススペクトルに現れるピークの位置から不純物の質量電荷比を求める。この質量電荷比から、或いは質量電荷比と保持時間とから不純物が何であるのかを推定可能な場合もある。
また、ガスクロマトグラフと質量分析装置とを組み合わせたガスクロマトグラフ質量分析装置でも、キャリアガスに含まれる不純物などのために同様の問題がある。
a)分析の際に現れるバックグラウンド信号のパラメータ値を記憶しておくバックグラウンド情報記憶部と、
b)前記分析条件の一つとして一若しくは複数のパラメータ値又はパラメータ値範囲が設定されたとき、そのパラメータ値又はパラメータ値範囲から前記バックグラウンド情報記憶部に記憶されているパラメータ値を除外した一若しくは複数のパラメータ値又はパラメータ値範囲を分析対象とした分析メソッドを作成する分析メソッド作成部と、
を備えることを特徴としている。
前記バックグラウンド情報記憶部は分析の際に現れるバックグラウンド信号の質量電荷比値を記憶しておき、
、前記分析メソッド作成部は、前記分析条件の一つである繰り返し分析対象の一若しくは複数の質量電荷比又は質量電荷比範囲が設定されたとき、その質量電荷比又は質量電荷比範囲から前記バックグラウンド情報記憶部に記憶されている質量電荷比を除外した質量電荷比又は質量電荷比範囲を繰り返し分析対象とした分析メソッドを作成する構成とすることができる。
a)分析対象から除外するパラメータ値又はパラメータ値範囲を設定する除外情報設定部と、
b)試料に対する分析を行うことで得られたスペクトル上で前記除外情報設定部により設定されたパラメータ値を除き、それ以外のパラメータ値で信号強度値が所定の閾値を超えたか否かを判定し、信号強度値が該閾値を超えたパラメータ値を求める強度値判定部と、
を備えることを特徴としている。
前記除外情報設定部は分析対象から除外する質量電荷比又は質量電荷比範囲を設定し、
前記強度値判定部は、試料に対する分析を行うことで得られたマススペクトル上で前記除外情報設定部により設定された質量電荷比又は質量電荷比範囲を除き、それ以外の質量電荷比で信号強度値が所定の閾値を超えたか否かを判定し、信号強度値が該閾値を超えた質量電荷比を求める構成とすることができる。
したがって、上述したように除外情報設定部でバックグラウンド信号の質量電荷比を設定しておくことによって、強度値判定部ではバックグラウンド信号以外の有意な成分、つまりは目的化合物や不純物などに由来するイオンの質量電荷比を求めることができる。
この構成によれば、試料中の目的化合物や不純物由来のピークが観測される抽出イオンクロマトグラムを自動的に作成することができ、例えばそれらクロマトグラム上のピークの面積値等から不純物を定量することも可能となる。
即ち、本発明に係る第2の態様の分析装置において、上記強度値判定部は、試料に対する分析の実行中に略リアルタイムで得られたマススペクトルに基づいて信号強度値が前記閾値を超えた質量電荷比を求め、該質量電荷比が得られたときに該質量電荷比をターゲットとするSIM測定又はプロダクトイオンスキャン測定若しくはMRM測定を実行するように各部を制御する分析制御部、をさらに備える構成としてもよい。
本発明に係る第1実施例であるLC−MSについて、添付図面を参照して説明する。図1は第1実施例のLC−MSの要部の構成図である。
測定部1は、液体クロマトグラフ(LC部)11と質量分析計(MS部)12とを含む。液体クロマトグラフ11は、移動相容器111から移動相を吸引して送給する送液ポンプ112と、移動相中に試料を注入するインジェクタ113と、試料中の各成分を分離するカラム114と、を含む。一方、質量分析計12は質量分析器として四重極マスフィルタを有する四重極型質量分析計である。
なお、制御・処理部4の各機能は、パーソナルコンピュータに予めインストールされた専用の制御・処理ソフトウエアを該コンピュータ上で実行することにより達成されるものとすることができる。
図3は本実施例のLC−MSにおける不純物検出の制御・処理のフローチャート、図2は本実施例のLC−MSにおけるスキャン測定の説明図、図4はブランク分析で得られるマススペクトルの一例を示す図、図5(a)はバックグラウンド信号を除去していないトータルイオンクロマトグラム(TIC)の一例を示す図、図5(b)はバックグラウンド信号を除去したTICの一例を示す図である。
ここで、様々な条件とは、使用する移動相の種類や移動相に添加する各種の試薬の種類や濃度、さらには移動相の流速、使用するカラムの種類などを含むようにするとよい。これは、様々な分析条件とバックグラウンド信号の質量電荷比とを対応付けた一種のデータベースであり、こうしたデータベースを利用することによって、目的試料の分析毎にブランク測定を行わなくても十分にバックグラウンド信号を除去したTICを得ることができる。
次に、本発明に係る第2実施例であるLC−MSについて、添付図面を参照して説明する。
図6は第2実施例のLC−MSの要部の構成図であり、図1に示した第1実施例のLC−MSと同じ構成要素には同じ符号を付している。測定部1、ADC2、分析制御部3は第1実施例のLC−MSと同じである。制御・処理部4は、第1実施例のLC−MSと同様のデータ記憶部41、バックグラウンド情報抽出部42、バックグラウンド情報記憶部43のほか、有意ピーク検出部401、自動SIM測定制御部402、EIC作成部403、分析メソッド作成部404などの機能ブロックを含む。
図8は本実施例のLC−MSにおける不純物検出の制御・処理のフローチャート、図7は本実施例のLC−MSにおける有意ピーク検出動作の説明図である。
さらにまた、マススペクトル以外のスペクトル、具体的には、吸光スペクトルや蛍光スペクトル等を取得可能な各種の分光分析装置においても、バックグラウンド信号が特定の波長や波長範囲に現れる場合には本発明を適用可能であることは明らかである。
11…液体クロマトグラフ(LC)
111…移動相容器
112…送液ポンプ
113…インジェクタ
114…カラム
12…質量分析計(MS)
2…アナログデジタル変換器(ADC)
3…分析制御部
4…制御・処理部
41…データ記憶部
42…バックグラウンド情報抽出部
43…バックグラウンド情報記憶部
44…分析メソッド作成部
45…分析メソッド記憶部
46…不純物検出部
401…有意ピーク検出部
402…自動SIM測定制御部
403…EIC作成部
404…分析メソッド作成部
5…入力部
6…表示部
分析条件を含む分析メソッドに従って分析を実行することにより、所定の質量電荷比値の範囲に亘るスペクトルを取得することが可能な質量分析装置を含み、クロマトグラフにより時間的に分離された成分を該質量分析装置により検出する分析装置において、
a)分析の際に現れるバックグラウンド信号の質量電荷比値を記憶しておくバックグラウンド情報記憶部と、
b)前記分析条件の一つとして一若しくは複数の質量電荷比値又は質量電荷比値範囲が設定されたとき、その質量電荷比値又は質量電荷比値範囲から前記バックグラウンド情報記憶部に記憶されている質量電荷比値を除外した一若しくは複数の質量電荷比値又は質量電荷比値範囲を分析対象とした分析メソッドを作成する分析メソッド作成部と、
c)前記分析メソッドに従って目的試料に対する分析を行うことで得られた結果に基づいてトータルイオンクロマトグラムを作成するクロマトグラム取得部と、
d)前記トータルイオンクロマトグラム上での信号強度が、該クロマトグラム上のメインピークの信号強度に対して所定割合の閾値以上であるピークを検出するピーク検出部と、
を備えることを特徴としている。
a)分析対象から除外する質量電荷比値又は質量電荷比値範囲を設定する除外情報設定部と、
b)目的試料に対する分析を行うことで得られたスペクトル上で、前記除外情報設定部により設定された質量電荷比値又は質量電荷比値範囲を除き、それ以外の質量電荷比値で信号強度値が所定の閾値を超えるピークがあるか否かを判定し、信号強度値が該閾値を超えるピークの質量電荷比値を求める強度値判定部と、
c)前記目的試料に対する分析を行うことで得られたデータを用いて、前記強度値判定部により得られた質量電荷比値における抽出イオンクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成部と、
を備え、前記抽出イオンクロマトグラム上でピークを検出することを特徴としている。
Claims (10)
- 分析条件を含む分析メソッドに従って分析を実行することにより、所定のパラメータについての所定の値の範囲に亘るスペクトルを取得することが可能な分析装置において、
a)分析の際に現れるバックグラウンド信号のパラメータ値を記憶しておくバックグラウンド情報記憶部と、
b)前記分析条件の一つとして一若しくは複数のパラメータ値又はパラメータ値範囲が設定されたとき、そのパラメータ値又はパラメータ値範囲から前記バックグラウンド情報記憶部に記憶されているパラメータ値を除外した一若しくは複数のパラメータ値又はパラメータ値範囲を分析対象とした分析メソッドを作成する分析メソッド作成部と、
を備えることを特徴とする分析装置。 - 請求項1に記載の分析装置であって、
ブランク分析を行うことで得られた結果に基づきバックグラウンド信号のパラメータ値を抽出して前記バックグラウンド情報記憶部に記憶するバックグラウンド情報取得部、をさらに備えることを特徴とする分析装置。 - 請求項1に記載の分析装置であって、
前記バックグラウンド情報記憶部は、種々の条件の下でのバックグラウンド信号のパラメータ値を記憶したデータベースであることを特徴とする分析装置。 - 請求項1に記載の分析装置であって、クロマトグラフにより時間的に分離された成分を質量分析装置により検出するクロマトグラフ質量分析装置において、
前記バックグラウンド情報記憶部は分析の際に現れるバックグラウンド信号の質量電荷比値を記憶しておき、
、前記分析メソッド作成部は、前記分析条件の一つである繰り返し分析対象の一若しくは複数の質量電荷比又は質量電荷比範囲が設定されたとき、その質量電荷比又は質量電荷比範囲から前記バックグラウンド情報記憶部に記憶されている質量電荷比を除外した質量電荷比又は質量電荷比範囲を繰り返し分析対象とした分析メソッドを作成することを特徴とする分析装置。 - 請求項4に記載の分析装置であって、
前記分析メソッドに従って分析を行うことで得られた結果に基づいてトータルイオンクロマトグラムを作成するクロマトグラム取得部をさらに備えることを特徴とする分析装置。 - 分析条件を含む分析メソッドに従って分析を実行することにより、所定のパラメータについての所定の値の範囲に亘るスペクトルを取得することが可能な分析装置において、
a)分析対象から除外するパラメータ値又はパラメータ値範囲を設定する除外情報設定部と、
b)試料に対する分析を行うことで得られたスペクトル上で前記除外情報設定部により設定されたパラメータ値を除き、それ以外のパラメータ値で信号強度値が所定の閾値を超えたか否かを判定し、信号強度値が該閾値を超えたパラメータ値を求める強度値判定部と、
を備えることを特徴とする分析装置。 - 請求項6に記載の分析装置であって、クロマトグラフにより時間的に分離された成分を質量分析装置により検出するクロマトグラフ質量分析装置において、
前記除外情報設定部は分析対象から除外する質量電荷比又は質量電荷比範囲を設定し、
前記強度値判定部は、試料に対する分析を行うことで得られたマススペクトル上で前記除外情報設定部により設定された質量電荷比又は質量電荷比範囲を除き、それ以外の質量電荷比で信号強度値が所定の閾値を超えたか否かを判定し、信号強度値が該閾値を超えた質量電荷比を求めることを特徴とする分析装置。 - 請求項7に記載の分析装置であって、
試料に対する分析を行うことで得られたデータを用いて前記強度値判定部により得られた質量電荷比における抽出イオンクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成部、をさらに備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。 - 請求項7に記載の分析装置であり、分析条件を含む分析メソッドに従って分析を実行する分析装置であって、
前記強度値判定部により得られた質量電荷比を繰り返し分析対象とした分析メソッドを作成する分析メソッド作成部、をさらに備えることを特徴とする分析装置。 - 請求項7に記載の分析装置であって、
前記強度値判定部は、試料に対する分析の実行中に略リアルタイムで得られたマススペクトルに基づいて信号強度値が前記閾値を超えた質量電荷比を求め、
該質量電荷比が得られたときに該質量電荷比をターゲットとするSIM測定又はMRM測定を実行するように各部を制御する分析制御部、をさらに備えることを特徴とする分析装置。
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Family Cites Families (19)
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JP3317221B2 (ja) * | 1997-11-28 | 2002-08-26 | 株式会社島津製作所 | プロセスガス監視装置 |
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JP4470505B2 (ja) * | 2004-02-04 | 2010-06-02 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
US9859105B2 (en) * | 2006-02-14 | 2018-01-02 | Excellims Corporation | Multiple ion gate method and apparatus |
US8304719B2 (en) * | 2009-02-22 | 2012-11-06 | Xin Wang | Precise and thorough background subtraction |
JP2012145382A (ja) * | 2011-01-07 | 2012-08-02 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ分析装置 |
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JP5757270B2 (ja) | 2012-04-26 | 2015-07-29 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
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JP6221800B2 (ja) | 2014-02-12 | 2017-11-01 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析装置用データ処理装置 |
US9490115B2 (en) * | 2014-12-18 | 2016-11-08 | Thermo Finnigan Llc | Varying frequency during a quadrupole scan for improved resolution and mass range |
US9869662B2 (en) * | 2014-06-19 | 2018-01-16 | Shimadzu Corporation | Chromatograph/mass spectrometer data processing device |
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US9960027B2 (en) * | 2016-05-25 | 2018-05-01 | Thermo Finnigan Llc | Analyzing a complex sample by MS/MS using isotopically-labeled standards |
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