JPS63135854A - 質量分析装置 - Google Patents
質量分析装置Info
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- JPS63135854A JPS63135854A JP61281787A JP28178786A JPS63135854A JP S63135854 A JPS63135854 A JP S63135854A JP 61281787 A JP61281787 A JP 61281787A JP 28178786 A JP28178786 A JP 28178786A JP S63135854 A JPS63135854 A JP S63135854A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、質量分析計から得られるフラグメントピーク
を再構成する機能を有し、再構成した値を、Ｄ／Ａを介
してインテグレータへ送出し、ＧＣ−ＭＳ分析と、ＧＣ
分析を併せ行い、効率の良い分析を可能とする方式に関
する。
を再構成する機能を有し、再構成した値を、Ｄ／Ａを介
してインテグレータへ送出し、ＧＣ−ＭＳ分析と、ＧＣ
分析を併せ行い、効率の良い分析を可能とする方式に関
する。
従来の方式では、ビームモニタを分析計のイオン通路に
設置し、スペクトルに分れる前の全イオンの一部を受け
て、ガスクロマトグラムを得る方法があるが、ＧＣのキ
ャリヤーガスとして使われるヘリウムがバックグラウン
ドとして入る。また、この量は、イオン化室内の内圧に
よっても変動する。したがって、該方式で得られるガス
クロマトグラムでは、より正確なりロマトが得にくいと
いう欠点があった。
設置し、スペクトルに分れる前の全イオンの一部を受け
て、ガスクロマトグラムを得る方法があるが、ＧＣのキ
ャリヤーガスとして使われるヘリウムがバックグラウン
ドとして入る。また、この量は、イオン化室内の内圧に
よっても変動する。したがって、該方式で得られるガス
クロマトグラムでは、より正確なりロマトが得にくいと
いう欠点があった。
上記従来技術は、ＧＣのキャリヤーガスとして使用する
ヘリウムの影響および、ＧＣ本体で使用されるカラムの
影響に対しての配慮がなされておらず、試料本来のガス
クロマトグラムを得る点に関し、問題があった。
ヘリウムの影響および、ＧＣ本体で使用されるカラムの
影響に対しての配慮がなされておらず、試料本来のガス
クロマトグラムを得る点に関し、問題があった。
本発明の目的は、上記の欠点を除き、試料そのものに依
存するガスクロマトグラムを得ることにある。
存するガスクロマトグラムを得ることにある。
上記目的は、繰り返し掃引して得られたマス・フラグメ
ントピークの中から、指定されたヘリウームイオンピー
ク、カラムバックイオンピークをデータ処理装置内で処
理、再構成した後、再びＤ／Ａを介してインテグレータ
等の外部分析装置へ選出し、該装置にてガスクロマトグ
ラムを得るということにより、達成される。
ントピークの中から、指定されたヘリウームイオンピー
ク、カラムバックイオンピークをデータ処理装置内で処
理、再構成した後、再びＤ／Ａを介してインテグレータ
等の外部分析装置へ選出し、該装置にてガスクロマトグ
ラムを得るということにより、達成される。
［作用］
繰り返し掃引ごとに得られる、マスフラグメントピーク
は、それぞれ質量数とピーク強度を組とするデータに変
換されて、データ処理装置内の記憶メモリに退避される
。そして、あらかじめ判明しているヘリウムピークや、
カラムバックグランドピーク等のバックグランドピーク
をデータ処理装置へ記憶させておき、バックグランド処
理プログラムを起動することにより、収集データの再構
成を実施する。再構成されたデータは、試料本来のクロ
マトを示すこととなり、この信号を外部インテグレータ
へ導き処理することにより、正確なりロマト処理を行う
ことになる。
は、それぞれ質量数とピーク強度を組とするデータに変
換されて、データ処理装置内の記憶メモリに退避される
。そして、あらかじめ判明しているヘリウムピークや、
カラムバックグランドピーク等のバックグランドピーク
をデータ処理装置へ記憶させておき、バックグランド処
理プログラムを起動することにより、収集データの再構
成を実施する。再構成されたデータは、試料本来のクロ
マトを示すこととなり、この信号を外部インテグレータ
へ導き処理することにより、正確なりロマト処理を行う
ことになる。
以下、本発明の一実施例を第１図、および第２図により
説明する。第１図は１本発明における全体構成図であり
、ガスクロ分析器１に導入された試料は、イオン源７で
イオン化され、磁場２により質量分散された結果、マス
フラグメントピークとして、イオン検出器８で捕捉され
、それぞれのピークはデータ処理袋！！４にてピーク判
定後、質量数と強度の一組のデータとしてメモリに記憶
される。他方、データとしてメモリに記憶される。
説明する。第１図は１本発明における全体構成図であり
、ガスクロ分析器１に導入された試料は、イオン源７で
イオン化され、磁場２により質量分散された結果、マス
フラグメントピークとして、イオン検出器８で捕捉され
、それぞれのピークはデータ処理袋！！４にてピーク判
定後、質量数と強度の一組のデータとしてメモリに記憶
される。他方、データとしてメモリに記憶される。
他方、データ処理装置４は、分析計制御装置３に対し、
繰り返し信号を送出し、繰り返し掃引を行なわしめる。
繰り返し信号を送出し、繰り返し掃引を行なわしめる。
上記構成において、測定開始前に、測定者は。
あらかじめ、バックグランドとして除去したいピークの
質量数をデータ処理装置に入力しておく。
質量数をデータ処理装置に入力しておく。
また、ノイズピークの除去のため、積算するピークの強
度制限を加えることも出来る。こ九らマス・スペクトル
の再構成のためのパラメータは、同様にデータ処理装置
へ記憶される。
度制限を加えることも出来る。こ九らマス・スペクトル
の再構成のためのパラメータは、同様にデータ処理装置
へ記憶される。
以上の結果、繰り返し掃引毎に得られるマス・フラグメ
ントピークに対し、再構成のために設定されたパラメー
タに従い、バックグランド処理がなされる。処理された
後のフラグメントピークは積算後、データ処理装置のデ
ジタル・アナログ変換器８より掃引に周期してインチグ
レータロへ送出される。
ントピークに対し、再構成のために設定されたパラメー
タに従い、バックグランド処理がなされる。処理された
後のフラグメントピークは積算後、データ処理装置のデ
ジタル・アナログ変換器８より掃引に周期してインチグ
レータロへ送出される。
本発明によれば、ＧＣ分析器に使用されるキャリヤーガ
スであるヘリウムピークの影９．ＧＣのカラムに依存す
るカラムバックピークの影響を除去することができるの
で、試料本来のガスクロマトグラムを得ることができる
と共に、質量分析をしながら同時にＧＣ分析もできると
いう効率の向上がなされるという効果がある。
スであるヘリウムピークの影９．ＧＣのカラムに依存す
るカラムバックピークの影響を除去することができるの
で、試料本来のガスクロマトグラムを得ることができる
と共に、質量分析をしながら同時にＧＣ分析もできると
いう効率の向上がなされるという効果がある。
第１図は本発明における全体構成図、第２図（イ）およ
び（ロ）は再構成処理プログラムの概念フローチャート
および処理内容の概略図である。
び（ロ）は再構成処理プログラムの概念フローチャート
および処理内容の概略図である。
Claims (1)
- １、ＧＣ直結形質量分析計において、ＧＣ分離後の試料
に対し、繰り返し掃引する手段を有し、繰り返し掃引に
より得られたフラグメントピークに対し、諸々の制限を
加え再構成したフラグメントピークを積算する機能と、
その積算値を、Ｄ／Ａを介して外部へ送出し、インテグ
レータへ導入することにより、ＧＣ−ＭＳ分析と、ＧＣ
分析を併せ行うことを特徴とした質量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61281787A JPS63135854A (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 | 質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61281787A JPS63135854A (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 | 質量分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63135854A true JPS63135854A (ja) | 1988-06-08 |
Family
ID=17643967
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61281787A Pending JPS63135854A (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 | 質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63135854A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018003011A1 (ja) * | 2016-06-28 | 2018-01-04 | 株式会社島津製作所 | 分析装置 |
-
1986
- 1986-11-28 JP JP61281787A patent/JPS63135854A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018003011A1 (ja) * | 2016-06-28 | 2018-01-04 | 株式会社島津製作所 | 分析装置 |
| CN109416342A (zh) * | 2016-06-28 | 2019-03-01 | 株式会社岛津制作所 | 分析装置 |
| US10935528B2 (en) | 2016-06-28 | 2021-03-02 | Shimadzu Corporation | Analysis device |
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