JPWO2017209079A1 - 観察装置および観察方法 - Google Patents
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Abstract
Description
[先行技術文献]
[特許文献]
[特許文献1]特開2005−62155号公報
Claims (40)
- 観察対象に光を照射する光源と、
前記観察対象から得られる光に含まれるχ(3)由来の光に基づいて画像を生成する処理部と
を備える観察装置。 - 前記観察対象から得られる前記光に含まれる前記χ(3)由来の光およびχ(1)由来の光のうち、前記χ(1)由来の光を制限して、前記χ(3)由来の光を検出する検出部を更に備え、
前記処理部は、前記検出部が検出した前記χ(3)由来の光に基づいて画像を生成する、
請求項1に記載の観察装置。 - 観察対象に光を照射する光源と、
前記観察対象から得られる光に含まれるχ(3)由来の光およびχ(1)由来の光のうち、前記χ(1)由来の光を制限して、前記χ(3)由来の光を検出する検出部と
を備える観察装置。 - 前記検出部は、前記χ(1)由来の光の強度を小さくすることにより、前記χ(1)由来の光を制限する、
請求項2または3に記載の観察装置。 - 前記検出部は、
前記観察対象から得られる前記光の光路上に配置され、前記光を分岐する少なくとも1つの光分岐部と、
前記光分岐部で分岐された光の光路長差を調整可能な少なくとも2つのミラーと
を有し、
前記少なくとも2つのミラーで反射された光が合波したときの干渉を利用して、前記χ(1)由来の光を制限する、
請求項2から4の何れか一項に記載の観察装置。 - 前記光分岐部は、光を2つに分岐する、請求項5に記載の観察装置。
- 前記光分岐部は、ビームスプリッターである、請求項5または6に記載の観察装置。
- 前記少なくとも2つのミラーで反射された前記光は、前記光分岐部で合波される、請求項5から7の何れか一項に記載の観察装置。
- 前記検出部は、前記少なくとも2つのミラーを用いて前記光路長差を調整することで、前記干渉により前記χ(1)由来の光を弱め合わせ、前記χ(1)由来の光を制限する、
請求項5から8の何れか一項に記載の観察装置。 - 前記検出部は、
前記観察対象から得られる前記光のdc成分とac成分とを検出し演算することで、前記χ(1)由来の光を制限するロックイン検出部を更に有する、
請求項5から8の何れか一項に記載の観察装置。 - 前記少なくとも2つのミラーのうち少なくとも1つは、予め定められた方向に沿って移動可能である、
請求項5から10の何れか一項に記載の観察装置。 - 前記光路長差は、時間換算した場合に、位相緩和時間T2の2倍である2T2よりも長い、請求項5から11の何れか一項に記載の観察装置。
- 前記χ(3)由来の光は、レイリー散乱光、レーリーウィング散乱光、ブリルアン散乱光、ラマン散乱光、蛍光の少なくとも1つを含む、請求項1から12の何れか一項に記載の観察装置。
- 前記観察対象から得られる前記光の光路上に配置され、前記χ(1)由来の光を透過し、且つ、前記χ(3)由来の光のうち、レイリー散乱光を透過して、前記レイリー散乱光以外の光を制限するバンドパスフィルタを更に備える、請求項2から13の何れか一項に記載の観察装置。
- 前記光源から照射される前記光は、CWレーザー光である、請求項1から14の何れか一項に記載の観察装置。
- 落射型の共焦点光学系を有する、請求項1から15の何れか一項に記載の観察装置。
- 請求項1から16の何れか一項に記載の観察装置を用いて前記観察対象を観察する、観察方法。
- 光源から光を照射された観察対象から得られる光に含まれるχ(3)由来の光に基づいて画像を生成する段階を含む、観察方法。
- 前記観察対象から得られる前記光に含まれる前記χ(3)由来の光およびχ(1)由来の光のうち、前記χ(1)由来の光を制限して、前記χ(3)由来の光を検出する段階を含む、請求項18に記載の観察方法。
- 光源から光を照射された観察対象から得られる光に含まれるχ(3)由来の光およびχ(1)由来の光のうち、前記χ(1)由来の光を制限して、前記χ(3)由来の光を検出する段階を含む観察方法。
- 前記検出する段階は、
光分岐部を用いて前記観察対象から得られる前記光を分岐する段階と、
分岐された光の光路長差を少なくとも2つのミラーにより調整する段階と、
前記少なくとも2つのミラーで反射された光を前記光分岐部で合波したときの干渉を利用して、前記χ(3)由来の光および前記χ(1)由来の光のうち、前記χ(1)由来の光を制限する段階と
を含む、請求項19または20に記載の観察方法。 - 前記検出する段階は、前記少なくとも2つのミラーを用いて前記光路長差を調整することで、前記干渉により前記χ(1)由来の光を弱め合わせ、前記χ(1)由来の光を制限する段階を含む、請求項21に記載の観察方法。
- 前記検出する段階は、
前記少なくとも2つのミラーのうち少なくとも1つを予め定められた方向で振動させる段階と、
前記観察対象から得られる前記光をロックイン検出し、前記光のdc成分とac成分とを検出し演算することで、前記χ(1)由来の光を制限する段階と
を含む、請求項21に記載の観察方法。 - 前記検出する段階は、前記光路長差を、時間換算した場合に、位相緩和時間T2の2倍である2T2よりも長く設定する段階を更に含む、請求項21から23の何れか一項に記載の観察方法。
- 前記χ(3)由来の光は、レイリー散乱光、レーリーウィング散乱光、ブリルアン散乱光、ラマン散乱光、蛍光の少なくとも1つを含む、請求項18から24の何れか一項に記載の観察方法。
- 前記観察対象から得られる前記光の光路上にバンドパスフィルタを配置して、前記χ(1)由来の光を透過し、且つ、前記χ(3)由来の光のうち、レイリー散乱光を透過して、前記レイリー散乱光以外の光を制限する段階を更に含む、請求項19から25の何れか一項に記載の観察方法。
- 前記光源から照射される光としてCWレーザー光を前記観察対象に照射する段階を更に含む、請求項18から26の何れか一項に記載の観察方法。
- 落射型の共焦点光学系を用いる、請求項18から27の何れか一項に記載の観察方法。
- 観察対象に励起光を照射する光源と、
前記観察対象から得られる光の光路上に配置され、前記光を分岐する少なくとも1つの光分岐部と、
前記光分岐部で分岐された光の光路長差を調整可能な少なくとも2つのミラーと、
前記少なくとも2つのミラーで反射した光を検出する検出器と
を備え、
前記光分岐部で分岐された光は、前記少なくとも2つのミラーで反射した後に合波され、
前記検出器は、合波された光を検出する、
観察装置。 - 前記少なくとも2つのミラーは、前記光分岐部で分岐された前記光を前記光分岐部が位置する方向に反射する、
請求項29に記載の観察装置。 - 前記光分岐部で分岐された前記光は、前記少なくとも2つのミラーで反射した後、前記光分岐部で合波される、
請求項29または30に記載の観察装置。 - 前記少なくとも2つのミラーのうち少なくとも1つは、予め定められた方向に沿って移動可能である、
請求項29から31の何れか一項に記載の観察装置。 - 前記光分岐部は、ビームスプリッターである、請求項29から32のいずれか一項に記載の観察装置。
- 前記光分岐部は、光を2つに分岐する、請求項29から33のいずれか一項に記載の観察装置。
- 前記観察対象から得られる前記光をロックイン検出し、前記光のdc成分とac成分とを検出し演算するロックイン検出部を更に備える、
請求項29から34の何れか一項に記載の観察装置。 - 前記光路上で、前記光のうち、レイリー散乱光を透過して、前記レイリー散乱光以外の光を制限するバンドパスフィルタを更に備える、
請求項29から35の何れか一項に記載の観察装置。 - 前記バンドパスフィルタは、前記観察対象と前記光分岐部との間の光路上に配置される、
請求項36に記載の観察装置。 - 前記バンドパスフィルタは、前記光分岐部と前記検出器との間の光路上に配置される、
請求項36に記載の観察装置。 - 前記光源から照射される光は、CWレーザー光である、
請求項29から38の何れか一項に記載の観察装置。 - 落射型の共焦点光学系を有する、
請求項29から39の何れか一項に記載の観察装置。
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TWI773721B (zh) * | 2017-01-20 | 2022-08-11 | 日商東京威力科創股份有限公司 | 異物檢測裝置、異物檢測方法及記憶媒體 |
JP7371345B2 (ja) * | 2019-04-08 | 2023-10-31 | 株式会社ニコン | 顕微鏡、及び、顕微鏡の測定方法 |
CN109991190B (zh) * | 2019-04-19 | 2020-08-11 | 北京理工大学 | 横向相减差动共焦透镜折射率测量方法 |
CN109991191B (zh) * | 2019-04-19 | 2020-12-11 | 北京理工大学 | 双边错位差动共焦透镜折射率测量方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4919234A (ja) * | 1972-06-16 | 1974-02-20 | ||
JP2000206036A (ja) * | 1999-01-11 | 2000-07-28 | Jasco Corp | フ―リエ変換型赤外円偏光二色性装置 |
US6134009A (en) * | 1997-11-07 | 2000-10-17 | Lucid, Inc. | Imaging system using polarization effects to enhance image quality |
US6134002A (en) * | 1999-01-14 | 2000-10-17 | Duke University | Apparatus and method for the rapid spectral resolution of confocal images |
JP2007524075A (ja) * | 2003-06-19 | 2007-08-23 | マサチユセツツ・インスチチユート・オブ・テクノロジイ | 位相測定用システムと方法 |
JP2012202812A (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-22 | Jasco Corp | 円二色性測定装置及び円二色性測定方法 |
JP2015137969A (ja) * | 2014-01-23 | 2015-07-30 | 株式会社東京精密 | ステージの位置制御装置及び方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4919234B1 (ja) * | 1969-02-08 | 1974-05-16 | ||
JPS5513210B2 (ja) | 1974-02-18 | 1980-04-07 | ||
US7365858B2 (en) | 2001-12-18 | 2008-04-29 | Massachusetts Institute Of Technology | Systems and methods for phase measurements |
JP2005062155A (ja) | 2003-07-25 | 2005-03-10 | Olympus Corp | コヒーレントラマン散乱顕微鏡 |
US8184286B2 (en) * | 2006-12-18 | 2012-05-22 | Shimadzu Corporation | Atomic absorption spectrophotometer |
JP4919234B2 (ja) | 2008-08-07 | 2012-04-18 | ヤフー株式会社 | 建物データの名寄せ方法 |
US11049985B2 (en) * | 2009-08-18 | 2021-06-29 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Photo detection device using resonance and related method |
US9372143B2 (en) * | 2013-05-15 | 2016-06-21 | Captl Llc | Scanning image flow cytometer |
JP6282095B2 (ja) * | 2013-11-27 | 2018-02-21 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム。 |
US10036698B2 (en) * | 2015-06-19 | 2018-07-31 | Captl Llc | Time-sequential cytometry |
DE102015117384B4 (de) * | 2015-10-14 | 2023-01-05 | Analytik Jena Gmbh | Verfahren zur spektralen Analyse von Proben mittels Graphitrohr |
US10552965B1 (en) * | 2018-11-24 | 2020-02-04 | Shimadzu Corporation | Atomic absorption spectrophotometer |
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4919234A (ja) * | 1972-06-16 | 1974-02-20 | ||
US6134009A (en) * | 1997-11-07 | 2000-10-17 | Lucid, Inc. | Imaging system using polarization effects to enhance image quality |
JP2000206036A (ja) * | 1999-01-11 | 2000-07-28 | Jasco Corp | フ―リエ変換型赤外円偏光二色性装置 |
US6134002A (en) * | 1999-01-14 | 2000-10-17 | Duke University | Apparatus and method for the rapid spectral resolution of confocal images |
JP2007524075A (ja) * | 2003-06-19 | 2007-08-23 | マサチユセツツ・インスチチユート・オブ・テクノロジイ | 位相測定用システムと方法 |
JP2012202812A (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-22 | Jasco Corp | 円二色性測定装置及び円二色性測定方法 |
JP2015137969A (ja) * | 2014-01-23 | 2015-07-30 | 株式会社東京精密 | ステージの位置制御装置及び方法 |
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