JP2000206036A - フ―リエ変換型赤外円偏光二色性装置 - Google Patents
フ―リエ変換型赤外円偏光二色性装置Info
- Publication number
- JP2000206036A JP2000206036A JP418699A JP418699A JP2000206036A JP 2000206036 A JP2000206036 A JP 2000206036A JP 418699 A JP418699 A JP 418699A JP 418699 A JP418699 A JP 418699A JP 2000206036 A JP2000206036 A JP 2000206036A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- interferon
- light
- fourier transform
- fourier
- circular dichroism
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＡＣインターフェロンを取得しながらフーリ
エ変換を行い、赤外円偏光二色性を測定することができ
るフーリエ変換型赤外円偏光二色性装置を提供すること 【構成】 検出器６から出力される受信信号をプリアン
プ７で増幅し、バンドパスフィルタ８，ロックインアン
プ９を通過することによりＡＣインターフェロンを抽出
し、ローパスフィルタ１０を介してコンピュータ２０に
与える。プリアンプの出力は、レベル追随型コンパレー
タ２１にも並列的に与えられ、そこにおいて受信信号中
のＤＣインターフェロンを監視し、ピークになるとトリ
ガが出力され、それがコンピュータに与えられる。この
トリガ発生時が干渉計２の光路差ゼロの位置であるの
で、それに基づいてコンピュータはＡＣインターフェロ
ンをフーリエ変換し、円二色性を求める。
エ変換を行い、赤外円偏光二色性を測定することができ
るフーリエ変換型赤外円偏光二色性装置を提供すること 【構成】 検出器６から出力される受信信号をプリアン
プ７で増幅し、バンドパスフィルタ８，ロックインアン
プ９を通過することによりＡＣインターフェロンを抽出
し、ローパスフィルタ１０を介してコンピュータ２０に
与える。プリアンプの出力は、レベル追随型コンパレー
タ２１にも並列的に与えられ、そこにおいて受信信号中
のＤＣインターフェロンを監視し、ピークになるとトリ
ガが出力され、それがコンピュータに与えられる。この
トリガ発生時が干渉計２の光路差ゼロの位置であるの
で、それに基づいてコンピュータはＡＣインターフェロ
ンをフーリエ変換し、円二色性を求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、フーリエ変換型赤
外円偏光二色性装置に関するもので、特に信号処理系の
改良に関する。
外円偏光二色性装置に関するもので、特に信号処理系の
改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】よく知られているように、赤外円偏光二
色性法は、紫外・可視領域に吸収を持たない光学活性物
質の分子構造を測定する方法として有用な一手段であ
る。さらに、信号強度が弱いことから、フーリエ分光法
を用いるようにしている。
色性法は、紫外・可視領域に吸収を持たない光学活性物
質の分子構造を測定する方法として有用な一手段であ
る。さらに、信号強度が弱いことから、フーリエ分光法
を用いるようにしている。
【０００３】そして、係る従来の測定装置の構造の一例
を示すと、図１のようになっている。すなわち、光源１
から出射した赤外光を、マイケルソン干渉計２を通過さ
せ、得られた干渉光の光路上に偏光子３，ＰＥＭ４，セ
ル５並びに検出器６を配置している。これにより、干渉
光は、偏光子３を透過させることにより、直線偏光とな
り、その直線偏光が、ＰＥＭ４により左右に回転される
ことにより左回り，右回りの円偏光を交互に発生させ
る。そして、係る円偏光をセル５内の試料に照射させ、
その透過光を検出器６で受光する。検出器６は、受光し
た光強度に応じた電気信号に変換し出力するようになっ
ている。なお、ＰＥＭ４における変調周波数は、ＰＥＭ
コントローラ１３により制御されている。
を示すと、図１のようになっている。すなわち、光源１
から出射した赤外光を、マイケルソン干渉計２を通過さ
せ、得られた干渉光の光路上に偏光子３，ＰＥＭ４，セ
ル５並びに検出器６を配置している。これにより、干渉
光は、偏光子３を透過させることにより、直線偏光とな
り、その直線偏光が、ＰＥＭ４により左右に回転される
ことにより左回り，右回りの円偏光を交互に発生させ
る。そして、係る円偏光をセル５内の試料に照射させ、
その透過光を検出器６で受光する。検出器６は、受光し
た光強度に応じた電気信号に変換し出力するようになっ
ている。なお、ＰＥＭ４における変調周波数は、ＰＥＭ
コントローラ１３により制御されている。
【０００４】すると、ＣＤ特性を有する物質は、右円偏
光と左円偏光の吸光度が異なるので、ＰＥＭ４で所定周
波数（例えば、２０ｋＨｚ）で右円偏光と左円偏光とを
交互に切り替えると、検出器６の検出出力もその周期で
変化する一種の交流信号となる。
光と左円偏光の吸光度が異なるので、ＰＥＭ４で所定周
波数（例えば、２０ｋＨｚ）で右円偏光と左円偏光とを
交互に切り替えると、検出器６の検出出力もその周期で
変化する一種の交流信号となる。
【０００５】そこで、係る検出器６の出力を、プリアン
プ７で増幅後、バンドパスフィルタ８，ロックインアン
プ９，ローパスフィルタ１０を経てコンピュータ１２に
入力するようにしている。すなわち、マイケルソン干渉
計２側でも、可動鏡を所定速度で移動させることから、
光の強度が所定周波数（例えば、０．１〜２ｋＨｚ程
度）で変調されており、ＰＥＭ４における変調周波数と
異なる。
プ７で増幅後、バンドパスフィルタ８，ロックインアン
プ９，ローパスフィルタ１０を経てコンピュータ１２に
入力するようにしている。すなわち、マイケルソン干渉
計２側でも、可動鏡を所定速度で移動させることから、
光の強度が所定周波数（例えば、０．１〜２ｋＨｚ程
度）で変調されており、ＰＥＭ４における変調周波数と
異なる。
【０００６】従って、バンドパスフィルタ８では、所定
の周波数帯域（ＰＥＭ４の変調周波数を含む帯域）の信
号のみ通過させ、ロックインアンプ９では、ＰＥＭ４の
変調周波数に合わせて、２０ｋＨｚの周波数成分を増幅
する。これにより、その強度変化として、マイケルソン
干渉計２の強度変調周波数（０．１〜２ｋＨｚ程度）を
もつＡＣインターフェログラムが得られる。
の周波数帯域（ＰＥＭ４の変調周波数を含む帯域）の信
号のみ通過させ、ロックインアンプ９では、ＰＥＭ４の
変調周波数に合わせて、２０ｋＨｚの周波数成分を増幅
する。これにより、その強度変化として、マイケルソン
干渉計２の強度変調周波数（０．１〜２ｋＨｚ程度）を
もつＡＣインターフェログラムが得られる。
【０００７】よって、係るロックインアンプ９の出力を
ローパスフィルタ１０を介してコンピュータ１２に入力
することにより、そのコンピュータ１２にて係るインタ
ーフェログラムをフーリエ変換する。さらに、ロックイ
ンアンプ９とローパスフィルタ１０の間には、切り替え
スイッチ１１が設けられ、上記ロックインアンプ９の出
力と、プリアンプ７の出力の２つを択一的に選択し、ロ
ーパスフィルタ１０に導くようになっている。
ローパスフィルタ１０を介してコンピュータ１２に入力
することにより、そのコンピュータ１２にて係るインタ
ーフェログラムをフーリエ変換する。さらに、ロックイ
ンアンプ９とローパスフィルタ１０の間には、切り替え
スイッチ１１が設けられ、上記ロックインアンプ９の出
力と、プリアンプ７の出力の２つを択一的に選択し、ロ
ーパスフィルタ１０に導くようになっている。
【０００８】これにより、切り替えスイッチ１１が、プ
リアンプ７側に接続されている場合には、赤外吸収スペ
クトル強度つまり、ＤＣ成分がコンピュータ１２に与え
られる。そこで、コンピュータ１２では、上記求めたフ
ーリエ変換とスペクトル強度の比を求めることにより、
ＣＤを算出するようになっている。
リアンプ７側に接続されている場合には、赤外吸収スペ
クトル強度つまり、ＤＣ成分がコンピュータ１２に与え
られる。そこで、コンピュータ１２では、上記求めたフ
ーリエ変換とスペクトル強度の比を求めることにより、
ＣＤを算出するようになっている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の装置では、以下に示す問題を有している。すな
わち、上記した装置を用いて実際に測定をするには、ま
ず、切り替えスイッチ１１をｂ接点にしてプリアンプ７
の出力を直接ローパスフィルタ１０に与え、赤外吸収ス
ペクトルを求める。次いで、切り替えスイッチ１１をａ
接点にしてマイケルソン干渉計２の可動鏡を移動しなが
ら受光した検出器６の出力を、ロックインアンプ９，ロ
ーパスフィルタ１０を通過することにより得られるＡＣ
インターフェログラム（図２参照）に基づいてフーリエ
変換をするが、このフーリエ変換をするには、マイケル
ソン干渉計２の光路差がゼロになる位置を特定する必要
がある。
た従来の装置では、以下に示す問題を有している。すな
わち、上記した装置を用いて実際に測定をするには、ま
ず、切り替えスイッチ１１をｂ接点にしてプリアンプ７
の出力を直接ローパスフィルタ１０に与え、赤外吸収ス
ペクトルを求める。次いで、切り替えスイッチ１１をａ
接点にしてマイケルソン干渉計２の可動鏡を移動しなが
ら受光した検出器６の出力を、ロックインアンプ９，ロ
ーパスフィルタ１０を通過することにより得られるＡＣ
インターフェログラム（図２参照）に基づいてフーリエ
変換をするが、このフーリエ変換をするには、マイケル
ソン干渉計２の光路差がゼロになる位置を特定する必要
がある。
【００１０】この光路差ゼロの位置は、図２に示すよう
にＡＣインターフェログラムの出力は小さいので、ＡＣ
インターフェログラムの出力をリアルタイムで見ながら
特定することはできない。その結果、従来は一旦すべて
のＡＣインターフェログラムを取り込んだ後、その形状
から中心位置を特定し、それに基づいてフーリエ変換を
するようにしている。従って、リアルタイムでの処理が
できず、処理が遅れるばかりでなく、取り込み中のスペ
クトルの様子もモニタできない。
にＡＣインターフェログラムの出力は小さいので、ＡＣ
インターフェログラムの出力をリアルタイムで見ながら
特定することはできない。その結果、従来は一旦すべて
のＡＣインターフェログラムを取り込んだ後、その形状
から中心位置を特定し、それに基づいてフーリエ変換を
するようにしている。従って、リアルタイムでの処理が
できず、処理が遅れるばかりでなく、取り込み中のスペ
クトルの様子もモニタできない。
【００１１】本発明は、上記した背景に鑑みてなされた
もので、その目的とするところは、上記した問題を解決
し、ＡＣインターフェロンを取得している最中に光路差
ゼロの位置を検出でき、リアルタイムでフーリエ変換を
行い、赤外円偏光二色性を測定することができ、取り込
み中のスペクトルの様子をモニタすることができるフー
リエ変換型赤外円偏光二色性装置を提供することにあ
る。
もので、その目的とするところは、上記した問題を解決
し、ＡＣインターフェロンを取得している最中に光路差
ゼロの位置を検出でき、リアルタイムでフーリエ変換を
行い、赤外円偏光二色性を測定することができ、取り込
み中のスペクトルの様子をモニタすることができるフー
リエ変換型赤外円偏光二色性装置を提供することにあ
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、本発明に係るフーリエ変換型赤外円偏光二色性
装置では、赤外光を出射する光源と、その光源から出射
する赤外光を干渉させる干渉計と、その干渉計から出力
される干渉光を直線偏光にする偏光手（実施の形態で
は、「偏光子３」に対応）と、その直線偏光を所定の変
調周波数で左右の円偏光に変換するとともに、試料に照
射する手段（実施の形態では、「ＰＥＭ４」に対応）
と、前記試料を透過した光を受光する検出手段（実施の
形態では、「検出器６」に対応）と、その検出手段から
出力される受信信号に基づいて信号処理して円二色性を
求める信号処理手段とを備えたフーリエ変換型赤外円偏
光二色性装置であって、前記信号処理手段は、前記受信
信号からＡＣインターフェロンを抽出する抽出手段（実
施の形態では、「プリアンプ７，バンドパスフィルタ
８，ロックインアンプ９」等により構成されている）
と、その抽出手段で抽出されたＡＣインターフェロンに
基づいてフーリエ変換をするとともに、円二色性を算出
する演算手段（実施の形態では、「コンピュータ１２」
に対応）と、前記抽出手段でＡＣインターフェロンを抽
出するのと同時に前記受信信号中のＤＣインターフェロ
ンを監視する監視手段とを備える。そして、その監視中
のＤＣインターフェロンに基づいて前記干渉計の光路差
ゼロの位置を特定し、前記ＡＣインターフェロンを抽出
しながら前記演算手段にてフーリエ変換を実行可能に構
成した（請求項１）。
ために、本発明に係るフーリエ変換型赤外円偏光二色性
装置では、赤外光を出射する光源と、その光源から出射
する赤外光を干渉させる干渉計と、その干渉計から出力
される干渉光を直線偏光にする偏光手（実施の形態で
は、「偏光子３」に対応）と、その直線偏光を所定の変
調周波数で左右の円偏光に変換するとともに、試料に照
射する手段（実施の形態では、「ＰＥＭ４」に対応）
と、前記試料を透過した光を受光する検出手段（実施の
形態では、「検出器６」に対応）と、その検出手段から
出力される受信信号に基づいて信号処理して円二色性を
求める信号処理手段とを備えたフーリエ変換型赤外円偏
光二色性装置であって、前記信号処理手段は、前記受信
信号からＡＣインターフェロンを抽出する抽出手段（実
施の形態では、「プリアンプ７，バンドパスフィルタ
８，ロックインアンプ９」等により構成されている）
と、その抽出手段で抽出されたＡＣインターフェロンに
基づいてフーリエ変換をするとともに、円二色性を算出
する演算手段（実施の形態では、「コンピュータ１２」
に対応）と、前記抽出手段でＡＣインターフェロンを抽
出するのと同時に前記受信信号中のＤＣインターフェロ
ンを監視する監視手段とを備える。そして、その監視中
のＤＣインターフェロンに基づいて前記干渉計の光路差
ゼロの位置を特定し、前記ＡＣインターフェロンを抽出
しながら前記演算手段にてフーリエ変換を実行可能に構
成した（請求項１）。
【００１３】干渉計の光路差ゼロの位置ではどの波数も
同位相で干渉しているために最大強度を示す。従って、
ＤＣインターフェログラムのレベルは、最大となる。よ
って、係るＤＣインターフェログラムを監視（モニタ）
しながらＡＣインターフェログラムを取り込むと、取り
込んだＡＣインターフェログラムの光路差ゼロの位置を
認識できる。よって、リアルタイムでフーリエ変換を行
うことができ、円二色性を算出できる。
同位相で干渉しているために最大強度を示す。従って、
ＤＣインターフェログラムのレベルは、最大となる。よ
って、係るＤＣインターフェログラムを監視（モニタ）
しながらＡＣインターフェログラムを取り込むと、取り
込んだＡＣインターフェログラムの光路差ゼロの位置を
認識できる。よって、リアルタイムでフーリエ変換を行
うことができ、円二色性を算出できる。
【００１４】そして、好ましくは前記監視手段は、レベ
ル追随型コンパレータであり、そのレベル追随型コンパ
レータからトリガが出力された際に前記光路差ゼロの位
置と特定するように構成することである（請求項２）。
係る構成にすると、ＤＣインターフェロンのレベルが小
さくなっても、基準値が自動的に設定され、安定してト
リガ信号が得られる。なお、監視手段はこのようにレベ
ル追随型コンパレータにすることなく、例えばＤＣイン
ターフェロンを直接コンピュータに与え、ソフト処理に
よりそのピーク値を求めるなど、各種の方式をとること
ができる。
ル追随型コンパレータであり、そのレベル追随型コンパ
レータからトリガが出力された際に前記光路差ゼロの位
置と特定するように構成することである（請求項２）。
係る構成にすると、ＤＣインターフェロンのレベルが小
さくなっても、基準値が自動的に設定され、安定してト
リガ信号が得られる。なお、監視手段はこのようにレベ
ル追随型コンパレータにすることなく、例えばＤＣイン
ターフェロンを直接コンピュータに与え、ソフト処理に
よりそのピーク値を求めるなど、各種の方式をとること
ができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】図３は、本発明に係るフーリエ変
換型赤外円偏光二色性装置の好適な一実施の形態を示し
ている。同図に示すように、基本的な構成は従来のもの
と同様であり、対応する部材は同一符号を示している。
換型赤外円偏光二色性装置の好適な一実施の形態を示し
ている。同図に示すように、基本的な構成は従来のもの
と同様であり、対応する部材は同一符号を示している。
【００１６】つまり、光学系としては、光源１から出射
された赤外光が、マイケルソン干渉計２にて干渉され、
その干渉光が偏光子３を透過することにより直線偏光と
なる。そして、その直線偏光がＰＥＭ４にて、所定の変
調周波数ωｍ（本例では、３７ｋＨｚ）で左右の円偏光
に変調されてセル５内の試料に照射され、そのセル５の
透過光（セル５内の試料で所定の光成分が吸収された
光）が、検出器６に受光されるようになっている。
された赤外光が、マイケルソン干渉計２にて干渉され、
その干渉光が偏光子３を透過することにより直線偏光と
なる。そして、その直線偏光がＰＥＭ４にて、所定の変
調周波数ωｍ（本例では、３７ｋＨｚ）で左右の円偏光
に変調されてセル５内の試料に照射され、そのセル５の
透過光（セル５内の試料で所定の光成分が吸収された
光）が、検出器６に受光されるようになっている。
【００１７】また、前記光学系で受光した光（光強度）
は、検出器６で電気信号に変換され、その検出器６に接
続された信号処理系で所定の演算処理が行われ、円二色
性が求められる。この信号処理系は、入力側にプリアン
プ７を備え、検出器６の出力をそのプリアンプ７で増幅
する。そして、その増幅した信号をバンドパスフィルタ
８（通過周波数帯域：２５〜５０ｋＨｚ）の出力をロッ
クインアンプ９に与え、そこにおいて所定周波数の信号
を分離検出し、図４（ｂ）に示すように、ＡＣインター
フェロンを取得する。
は、検出器６で電気信号に変換され、その検出器６に接
続された信号処理系で所定の演算処理が行われ、円二色
性が求められる。この信号処理系は、入力側にプリアン
プ７を備え、検出器６の出力をそのプリアンプ７で増幅
する。そして、その増幅した信号をバンドパスフィルタ
８（通過周波数帯域：２５〜５０ｋＨｚ）の出力をロッ
クインアンプ９に与え、そこにおいて所定周波数の信号
を分離検出し、図４（ｂ）に示すように、ＡＣインター
フェロンを取得する。
【００１８】さらに、ロックインアンプ９の出力を、ロ
ーパスフィルタ８（通過帯域、５ｈＨｚ以下）を介して
コンピュータ２０に与えるようになる。さらにまた、本
例では、ローパスフィルタ１０とコンピュータ２０の間
に切り替えスイッチ１１を設け、ローパスフィルタ１０
の出力（ＡＣインターフェロン）を取得する経路と、プ
リアンプ７の出力を直接取得する経路とを択一的に選択
できるようにしている。上記した各構成は、基本的に従
来のものと同様である。
ーパスフィルタ８（通過帯域、５ｈＨｚ以下）を介して
コンピュータ２０に与えるようになる。さらにまた、本
例では、ローパスフィルタ１０とコンピュータ２０の間
に切り替えスイッチ１１を設け、ローパスフィルタ１０
の出力（ＡＣインターフェロン）を取得する経路と、プ
リアンプ７の出力を直接取得する経路とを択一的に選択
できるようにしている。上記した各構成は、基本的に従
来のものと同様である。
【００１９】ここで本発明では、プリアンプ７の出力を
レベル追随型コンパレータ２１にも与え、そのレベル追
随型コンパレータ２１の出力をコンピュータ２０に与え
るようにしている。そして、このレベル追随型コンパレ
ータ２１を通る経路は、常時接続されている（切り替え
スイッチ１１と別経路）。このレベル追随型コンパレー
タ２１は、入力値の変動に応じて基準値も変化し、入力
値がピークのときにとリガを出力するようになってい
る。
レベル追随型コンパレータ２１にも与え、そのレベル追
随型コンパレータ２１の出力をコンピュータ２０に与え
るようにしている。そして、このレベル追随型コンパレ
ータ２１を通る経路は、常時接続されている（切り替え
スイッチ１１と別経路）。このレベル追随型コンパレー
タ２１は、入力値の変動に応じて基準値も変化し、入力
値がピークのときにとリガを出力するようになってい
る。
【００２０】このように構成すると、コンピュータ２０
はＡＣインターフェログラムの取得と同時にレベル追随
型コンパレータ２１の出力も取得し、その追随型コンパ
レータ２１からトリガを受け取ったときに光路差ゼロ位
置であると判断し、ＡＣインターフェログラムのフーリ
エ変換を行う。そして、そのようにして求めたフーリエ
変換の演算結果を、あらかじめ求めた赤外吸収スペクト
ル強度で割ることによりＣＤ値を求めるようになる。な
お、このように光路差ゼロをリアルタイムで検出するこ
とを除いたＣＤ値を求める演算処理（光路差ゼロ位置を
基準にフーリエ変換を求め、赤外吸収スペクトル強度を
用いてＣＤ値を算出すること）は、基本的に従来と同様
である。ここで、演算処理の原理を簡単に説明すると、
マイケルソン干渉計２から出力される赤外光は、干渉計
の光路差Ｘの関数として、下記のように示される。
はＡＣインターフェログラムの取得と同時にレベル追随
型コンパレータ２１の出力も取得し、その追随型コンパ
レータ２１からトリガを受け取ったときに光路差ゼロ位
置であると判断し、ＡＣインターフェログラムのフーリ
エ変換を行う。そして、そのようにして求めたフーリエ
変換の演算結果を、あらかじめ求めた赤外吸収スペクト
ル強度で割ることによりＣＤ値を求めるようになる。な
お、このように光路差ゼロをリアルタイムで検出するこ
とを除いたＣＤ値を求める演算処理（光路差ゼロ位置を
基準にフーリエ変換を求め、赤外吸収スペクトル強度を
用いてＣＤ値を算出すること）は、基本的に従来と同様
である。ここで、演算処理の原理を簡単に説明すると、
マイケルソン干渉計２から出力される赤外光は、干渉計
の光路差Ｘの関数として、下記のように示される。
【００２１】
【数１】 干渉計の可動鏡の移動速度をｖｃｍ／ｓｅｃとすると、
Ｘ＝２ｖｔであるので、波数νの光は、４πνｖのフー
リエ周波数で強度変調される。
Ｘ＝２ｖｔであるので、波数νの光は、４πνｖのフー
リエ周波数で強度変調される。
【００２２】よって、光学活性試料を通過した後の光
は、次式で与えられる。 Ｉ（Ｘ）＝（ＤＣ）＋（ＡＣ） 但し
は、次式で与えられる。 Ｉ（Ｘ）＝（ＤＣ）＋（ＡＣ） 但し
【数２】 偏光変調されていない光路差Ｘに依存する（ＤＣ）の第
２項は、通常の吸収スペクトル測定のインターフェログ
ラムである。また、偏光変調された（ＡＣ）の第２項
（ｓｉｎωｍｆｃｏｓ２πＸν）に依存する信号は、フ
ーリエ周波数４πνｖ，および円偏光変調周波数ωｍで
２重に変調されている。この信号を周波数ωｍに同期し
たロックインアンプで同期整流することにより、次式が
得られる。
２項は、通常の吸収スペクトル測定のインターフェログ
ラムである。また、偏光変調された（ＡＣ）の第２項
（ｓｉｎωｍｆｃｏｓ２πＸν）に依存する信号は、フ
ーリエ周波数４πνｖ，および円偏光変調周波数ωｍで
２重に変調されている。この信号を周波数ωｍに同期し
たロックインアンプで同期整流することにより、次式が
得られる。
【００２３】
【数３】 ここで、Ｇ１およびＧ２は、信号処理系のゲインであ
り、２重変調された信号から上記した式（３）のインタ
ーフェログラムＩＡＣ（Ｘ）をロックインアンプにより
分離検出するためには、干渉計の可動鏡の駆動速度ｖｃ
ｍ／ｓｅｃは、 ４πνｖ＜＜ωｍ になるように調整する。
り、２重変調された信号から上記した式（３）のインタ
ーフェログラムＩＡＣ（Ｘ）をロックインアンプにより
分離検出するためには、干渉計の可動鏡の駆動速度ｖｃ
ｍ／ｓｅｃは、 ４πνｖ＜＜ωｍ になるように調整する。
【００２４】そして、ＩＤＣ（Ｘ）およびＩＡＣ（Ｘ）
のインターフェログラム（図４参照）をフーリエ変換
し、その比をとるとＣＤ強度を得ることができる。
のインターフェログラム（図４参照）をフーリエ変換
し、その比をとるとＣＤ強度を得ることができる。
【００２５】このとき、ＡＣ分のインターフェログラム
は、光路差ゼロの位置で最大強度が出てこないが、ＤＣ
分については、光路差ゼロの位置ではどの波数も同位相
で干渉しているために最大強度を示す。従って、ＤＣイ
ンターフェログラムをモニタしながらＡＣを取り込む
と、取り込んだＡＣインターフェログラムの光路差ゼロ
の位置を認識できる。
は、光路差ゼロの位置で最大強度が出てこないが、ＤＣ
分については、光路差ゼロの位置ではどの波数も同位相
で干渉しているために最大強度を示す。従って、ＤＣイ
ンターフェログラムをモニタしながらＡＣを取り込む
と、取り込んだＡＣインターフェログラムの光路差ゼロ
の位置を認識できる。
【００２６】
【発明の効果】以上のように、本発明に係るフーリエ変
換型赤外円偏光二色性装置では、ＤＣインターフェログ
ラムを監視しながらＡＣインターフェログラムを取得す
ることができるので、そのＤＣインターフェログラムの
ピークから干渉計の光路差ゼロの位置を特定できる。よ
って、ＡＣインターフェロンを取得している最中に光路
差ゼロの位置を検出でき、リアルタイムでフーリエ変換
を行い、赤外円偏光二色性を測定することができる。従
って、取り込み中のスペクトルの様子をモニタすること
ができる。
換型赤外円偏光二色性装置では、ＤＣインターフェログ
ラムを監視しながらＡＣインターフェログラムを取得す
ることができるので、そのＤＣインターフェログラムの
ピークから干渉計の光路差ゼロの位置を特定できる。よ
って、ＡＣインターフェロンを取得している最中に光路
差ゼロの位置を検出でき、リアルタイムでフーリエ変換
を行い、赤外円偏光二色性を測定することができる。従
って、取り込み中のスペクトルの様子をモニタすること
ができる。
【図１】従来例を示す図である。
【図２】従来の測定原理を説明する図である。
【図３】本発明に係るフーリエ変換型赤外円偏光二色性
装置の好適な位置実施の形態を示すブロック図である。
装置の好適な位置実施の形態を示すブロック図である。
【図４】作用を説明する図である。
１ 光源 ２ マイケルソン干渉計 ３ 偏光子 ４ ＰＥＭ ５ セル ６ 検出器 ７ プリアンプ ８ バンドパスフィルタ ９ ロックインアンプ １０ ローパスフィルタ １１ 切り替えスイッチ １３ ＰＥＭコントローラ ２０ コンピュータ ２１ レベル追随型コンパレータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 柏原 晴一 東京都八王子市石川町2967番地の５ 日本 分光株式会社内 Ｆターム(参考） 2G020 AA03 BA04 CA12 CB05 CB14 CB42 CC22 CC24 CD13 CD15 CD16 CD22 CD35 2G059 AA02 BB01 BB04 EE01 EE05 EE10 HH01 JJ19 KK01 MM05 MM09
Claims (2)
- 【請求項１】 赤外光を出射する光源と、その光源から
出射する赤外光を干渉させる干渉計と、その干渉計から
出力される干渉光を直線偏光にする偏光手段と、その直
線偏光を所定の変調周波数で左右の円偏光に変換すると
ともに、試料に照射する手段と、前記試料を透過した光
を受光する検出手段と、その検出手段から出力される受
信信号に基づいて信号処理して円二色性を求める信号処
理手段とを備えたフーリエ変換型赤外円偏光二色性装置
であって、 前記信号処理手段は、前記受信信号からＡＣインターフ
ェロンを抽出する抽出手段と、その抽出手段で抽出され
たＡＣインターフェロンに基づいてフーリエ変換をする
とともに、円二色性を算出する演算手段と、前記抽出手
段でＡＣインターフェロンを抽出するのと同時に前記受
信信号中のＤＣインターフェロンを監視する監視手段と
を備え、 その監視中のＤＣインターフェロンに基づいて前記干渉
計の光路差ゼロの位置を特定し、前記ＡＣインターフェ
ロンを抽出しながら前記演算手段にてフーリエ変換を実
行可能としたことを特徴とするフーリエ変換型赤外円偏
光二色性装置。 - 【請求項２】 前記監視手段は、レベル追随型コンパレ
ータであり、 そのレベル追随型コンパレータからトリガが出力された
際に前記光路差ゼロの位置と特定するようにしたことを
特徴とする請求項１に記載のフーリエ変換型赤外円偏光
二色性装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00418699A JP4117714B2 (ja) | 1999-01-11 | 1999-01-11 | フーリエ変換型赤外円偏光二色性装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00418699A JP4117714B2 (ja) | 1999-01-11 | 1999-01-11 | フーリエ変換型赤外円偏光二色性装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000206036A true JP2000206036A (ja) | 2000-07-28 |
| JP2000206036A5 JP2000206036A5 (ja) | 2006-01-12 |
| JP4117714B2 JP4117714B2 (ja) | 2008-07-16 |
Family
ID=11577687
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP00418699A Expired - Fee Related JP4117714B2 (ja) | 1999-01-11 | 1999-01-11 | フーリエ変換型赤外円偏光二色性装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4117714B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1376099A1 (en) * | 2002-06-20 | 2004-01-02 | Jasco Corporation | Infrared circular dichroism measuring apparatus and method |
| JP2007524845A (ja) * | 2003-10-14 | 2007-08-30 | バイオ トゥールズ インク | フーリエ変換赤外振動円二色性分光法を使用したキラル分子の反応モニタリング |
| WO2017209079A1 (ja) * | 2016-05-30 | 2017-12-07 | 株式会社ニコン | 観察装置および観察方法 |
| CN109253974A (zh) * | 2018-10-25 | 2019-01-22 | 中国工程物理研究院流体物理研究所 | 一种新型单兵便携式化学毒剂被动遥测成像仪 |
| CN111257266A (zh) * | 2020-03-27 | 2020-06-09 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种傅里叶变换红外光谱处理装置及方法 |
| CN111398215A (zh) * | 2020-04-23 | 2020-07-10 | 山东大学 | 一种便携式中红外高灵敏度多组分气体测量分析系统及其工作方法 |
| CN113574362A (zh) * | 2019-03-15 | 2021-10-29 | 日本分光株式会社 | 圆二色性测定装置以及圆二色性测定方法 |
-
1999
- 1999-01-11 JP JP00418699A patent/JP4117714B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7002692B2 (en) | 2002-06-20 | 2006-02-21 | Jasco Corporation | Infrared circular dichroism measuring apparatus and infrared circular dichroism measuring method |
| EP1376099A1 (en) * | 2002-06-20 | 2004-01-02 | Jasco Corporation | Infrared circular dichroism measuring apparatus and method |
| JP2007524845A (ja) * | 2003-10-14 | 2007-08-30 | バイオ トゥールズ インク | フーリエ変換赤外振動円二色性分光法を使用したキラル分子の反応モニタリング |
| WO2017209079A1 (ja) * | 2016-05-30 | 2017-12-07 | 株式会社ニコン | 観察装置および観察方法 |
| JPWO2017209079A1 (ja) * | 2016-05-30 | 2019-03-28 | 株式会社ニコン | 観察装置および観察方法 |
| US10914676B2 (en) | 2016-05-30 | 2021-02-09 | Nikon Corporation | Observation apparatus and observation method |
| TWI739842B (zh) * | 2016-05-30 | 2021-09-21 | 日商尼康股份有限公司 | 觀察裝置及觀察方法 |
| CN109253974A (zh) * | 2018-10-25 | 2019-01-22 | 中国工程物理研究院流体物理研究所 | 一种新型单兵便携式化学毒剂被动遥测成像仪 |
| CN113574362A (zh) * | 2019-03-15 | 2021-10-29 | 日本分光株式会社 | 圆二色性测定装置以及圆二色性测定方法 |
| US11879833B2 (en) * | 2019-03-15 | 2024-01-23 | Jasco Corporation | Circular dichroism measurement device and circular dichroism measurement method |
| US20220155218A1 (en) * | 2019-03-15 | 2022-05-19 | Jasco Corporation | Circular dichroism measurement device and circular dichroism measurement method |
| CN111257266A (zh) * | 2020-03-27 | 2020-06-09 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种傅里叶变换红外光谱处理装置及方法 |
| CN111398215B (zh) * | 2020-04-23 | 2021-04-16 | 山东大学 | 便携式中红外高灵敏度多组分气体测量分析系统 |
| CN111398215A (zh) * | 2020-04-23 | 2020-07-10 | 山东大学 | 一种便携式中红外高灵敏度多组分气体测量分析系统及其工作方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4117714B2 (ja) | 2008-07-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| WO2018035833A1 (zh) | 分布式光纤传感系统及其振动检测定位方法 | |
| US4176951A (en) | Rotating birefringent ellipsometer and its application to photoelasticimetry | |
| JP3782481B2 (ja) | 変調分光偏光解析装置 | |
| CN206497027U (zh) | 基于光开关的单光谱仪偏振频域光学相干层析成像系统 | |
| JPS6140926B2 (ja) | ||
| JP3500216B2 (ja) | 電圧測定装置 | |
| JP4117714B2 (ja) | フーリエ変換型赤外円偏光二色性装置 | |
| CN111060711A (zh) | 一种基于斯托克斯矢量的光学转速测量系统及测量方法 | |
| CN110207822A (zh) | 高灵敏度光学时延估计系统、方法及介质 | |
| CN110987373A (zh) | 干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法及测量装置 | |
| Reisinger et al. | Photoluminescence of infrared‐sensing materials using an FTIR spectrometer | |
| CN210071661U (zh) | 一种激光气体分析仪 | |
| JP2000206036A5 (ja) | ||
| JP2004020539A (ja) | 赤外円二色性測定装置および赤外円二色性測定方法 | |
| WO2016197364A1 (zh) | 实时计算相移信号方法及系统、等离子体诊断方法及系统 | |
| CN115962841A (zh) | 基于弱测量的噪声谱探测方法及系统 | |
| JP4195841B2 (ja) | 赤外円偏光二色性分光光度計 | |
| JP3414122B2 (ja) | 近赤外分光器 | |
| JP2015187587A (ja) | 偏光変調フーリエ変換赤外分光装置、フーリエ変換赤外分光装置用偏光変調測定ユニット及び偏光変調フーリエ変換赤外分光測定方法 | |
| JP3341928B2 (ja) | 二色性分散計 | |
| JP2001074637A (ja) | 動的光散乱式粒径分布測定システム | |
| CN113777050B (zh) | 基于二分光谱探测模块的弱测量方法及其系统 | |
| KR102380250B1 (ko) | 반사도 및 입사 광량의 측정 장치 | |
| TW202127010A (zh) | 吸收光譜偏移偵測方法 | |
| JP2005283552A (ja) | 複屈折測定装置および複屈折測定方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051111 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051111 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070727 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080416 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080416 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110502 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120502 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130502 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130502 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140502 Year of fee payment: 6 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |