JPH09292282A - 近赤外分光器 - Google Patents

近赤外分光器

Info

Publication number
JPH09292282A
JPH09292282A JP10557396A JP10557396A JPH09292282A JP H09292282 A JPH09292282 A JP H09292282A JP 10557396 A JP10557396 A JP 10557396A JP 10557396 A JP10557396 A JP 10557396A JP H09292282 A JPH09292282 A JP H09292282A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
interferogram
light
fourier transform
measurement
reference beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10557396A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3414122B2 (ja
Inventor
Hisao Katakura
久雄 片倉
Katsuhisa Tsuda
勝久 津田
Kuniharu Onimura
邦治 鬼村
Masahito Amamiya
正仁 雨宮
Tomoaki Nanko
智昭 南光
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP10557396A priority Critical patent/JP3414122B2/ja
Publication of JPH09292282A publication Critical patent/JPH09292282A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3414122B2 publication Critical patent/JP3414122B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 サンプリングトリガ信号を生成する光学的部
品の構成が簡易で、かつ光学部品の調整が容易な赤外分
光器を提供すること。 【解決手段】 同一光源から放射される近赤外光を、移
動鏡の変位により干渉させて測定光と参照光を出力する
フーリエ変換型近赤外分光器40と、この測定光が被測
定対象50を透過して生じる測定光インターフェログラ
ムと、参照光インターフェログラムとを同期して記憶す
る信号波形記憶部60と、基準参照光インターフェログ
ラムに対して、今回の測定周期における前記同期信号波
形記憶部に記憶された当該参照光インターフェログラム
の位相が最も一致する位相差を演算する位相マッチング
演算部80と、この位相マッチング演算部で演算された
位相差を基準に同期加算して、前記測定光インターフェ
ログラムと参照光インターフェログラムの平均を求める
インターフェログラム平均部90とを具備し、この平均
された測定光インターフェログラムと参照光インターフ
ェログラムに対するフーリエ変換をそれぞれ演算して吸
収スペクトルを演算している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、重化学工業プロセ
スの成分濃度や物理的特性をオンライン測定するのに用
いて好適な近赤外分光分析計に掛り、特に分光器の構造
を簡素化する改良に関する。
【0002】
【従来の技術】フーリエ変換型近赤外分光器は、例えば
横河技報第39巻(1995)第117頁に記載されている。図
4は従来のフーリエ変換型近赤外分光器の構成図で、例
えば分光研究第27巻(1978)第405頁に記載されたもの
である。図において、光源10からは赤外線が可動鏡1
2に向かって放射される。可動鏡12と固定鏡14は、
互いに90度をなす位置に固定されており、ビームスプ
リッター16がこれらの対角線の位置に取り付けられ
る。赤外線はビームスプリッター16を透過して可動鏡
12で反射してビームスプリッター16に戻る経路と、
ビームスプリッター16で反射されて固定鏡14で反射
してビームスプリッター16に戻る経路とがあり、赤外
線検出器18に向かう両光が干渉する。この干渉光の強
弱は赤外線検出器18により検出される。
【0003】可動鏡12を光軸X方向に変位させるため
に、E型の磁石20とボイスコイル22が設けられてい
る。周波数監視定速度サーボ系26は、Geホトダイオ
ード36の受光信号よりHeNeレーザー光の干渉光を
入力し、可動鏡12が一定振幅・一定周波数で移動する
ように制御信号を出力する。ボイスコイル駆動アンプ2
4は、周波数監視定速度サーボ系26からの制御信号に
従い、ボイスコイル22に駆動電流を供給する。
【0004】小干渉計30は、可動鏡12の変位を検出
する検出器で、可動鏡33、固定鏡34並びにビームス
プリッター35を有している。そして、可動鏡12のボ
イスコイル側にHeNeレーザー光31と白色光32の
光源が設置され、ビームスプリッター35に向かってそ
れぞれ放射され、干渉光が生じる。Geホトダイオード
36は、HeNeレーザー光の干渉光を受光する。Si
ホトダイオード37は、白色光の干渉光を受光する。
【0005】図5は、インターフェログラムと呼ばれる
干渉光の波形図で、(A)は赤外光インターフェログラ
ム、(B)はレーザー光インターフェログラム、(C)
は白色光インターフェログラム、(D)はサンプリング
トリガ信号である。赤外光インターフェログラムは、中
央の部分ではビームスプリッター16から二つの鏡まで
の距離が等しくなるため、全ての波長で位相が一致して
干渉光の強度が最大値をとる。他方、中央から離れた位
置xでは様々な波長の位相が相違して打ち消しあい、干
渉光の強度がゼロに近い信号となる。
【0006】白色光インターフェログラムは、干渉計の
ゼロ点位置x0を決定するために用いられるもので、サ
ンプリングトリガ信号の生成に使用される。このサンプ
リングトリガ信号を開始信号として、赤外光インターフ
ェログラムを取り込むと、位相の揃った波形が得られ
る。赤外光インターフェログラムを積算平均してノイズ
成分を低減する場合、位相を揃えることは必要的要素で
ある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述のような
構成によれば、サンプリングトリガ信号を生成するため
に、白色光32の光源、Siホトダイオード37並びに
付加回路が必要になり、光学的部品の構成が複雑になる
という課題があった。また小干渉計30では、単一のビ
ームスプリッター35を用いてHeNeレーザー光31
と白色光32の干渉光を得ているが、このような構成に
よれば光軸を正確に調整するのが大変で、組立に時間が
掛かると共に、プロセス現場のように塵芥や振動の発生
する恐れのある環境での信頼性が低下するという課題が
あった。本発明はこのような課題を解決したもので、サ
ンプリングトリガ信号を生成する光学的部品の構成が簡
易で、かつ光学部品の調整が容易な赤外分光器を提供す
ることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明は、同一光源から放射される近赤外光を、移動鏡の変
位により干渉させて測定光と参照光を出力するフーリエ
変換型近赤外分光器40と、この測定光が被測定対象5
0を透過して生じる測定光インターフェログラムと、こ
の参照光が当該被測定対象を迂回して当該測定光とほぼ
同一経路を伝播して生じる参照光インターフェログラム
とを同期して記憶する信号波形記憶部60と、基準とな
る参照光インターフェログラムを予め記憶する基準波形
記憶部70と、この基準波形記憶部に記憶された基準参
照光インターフェログラムに対して、今回の測定周期に
おける前記同期信号波形記憶部に記憶された当該参照光
インターフェログラムの位相が最も一致する位相差を演
算する位相マッチング演算部80と、この位相マッチン
グ演算部で演算された位相差を基準に同期加算して、前
記測定光インターフェログラムと参照光インターフェロ
グラムの平均を求めるインターフェログラム平均部90
と、このインターフェログラム平均部で平均された信号
についてフーリエ変換の対象となる区間を抽出する手段
100と、このフーリエ変換対象区間抽出手段で抽出さ
れた区間についてフーリエ変換を演算し、前記測定光イ
ンターフェログラムと参照光インターフェログラムに対
するスペクトルから吸収スペクトルを演算する手段11
0とを具備することを特徴としている。
【0009】本発明の構成によれば、フーリエ変換型近
赤外分光器40から測定光と参照光とが放射されてい
る。ここでは、参照光から従来のサンプリングトリガ信
号と同様の情報を抽出するため、基準参照光インターフ
ェログラムを予め記憶しておき、位相マッチング演算部
により各測定周期で得られる参照光インターフェログラ
ムを同期させて、インターフェログラム平均部90で平
均化する。このとき、同期信号波形記憶部に記憶された
測定光インターフェログラムは、参照光インターフェロ
グラムと同期しているから、測定光インターフェログラ
ムは位相マッチング演算部で同期させて、インターフェ
ログラム平均部90で平均化されることになる。そし
て、フーリエ変換の対象となる区間を抽出して、吸収ス
ペクトル演算手段110により、測定光インターフェロ
グラムと参照光インターフェログラムに対するスペクト
ルから吸収スペクトルを演算する。
【0010】
【発明の実施の形態】以下図面を用いて、本発明を説明
する。図1は本発明の一実施例を示す構成ブロック図で
ある。図において、フーリエ変換型近赤外分光器40
は、波長帯域が0.9〜2.5μmの同一光源から放射される
近赤外光を、移動鏡の変位により干渉させて測定光と参
照光を出力するもので、光学系の構成は図4に示すよう
なマイケルソン干渉計等が用いられる。被測定対象50
は、近赤外分光分析により性状値を測定する対象物で、
例えば大豆や小麦のタンパク質分や脂肪分が該当する。
【0011】フーリエ変換型近赤外分光器40の測定光
は、光ファイバ等の導光経路を介して被測定対象50を
透過し、更にフォトダイオードPDにより光電変換さ
れ、AD変換器により所定桁数のディジタル信号に変換
される。参照光は、被測定対象50を迂回する点を除い
て測定光とほぼ同一経路を伝播し、測定光が伝播により
環境から受ける影響を補償するために用いるものであ
る。参照光の伝播経路は、光ファイバ等の導光経路を介
してフォトダイオードPDに照射され、フォトダイオー
ドPDにより光電変換され、AD変換器により所定桁数
のディジタル信号に変換される。
【0012】信号波形記憶部60は、AD変換された測
定光インターフェログラムと参照光インターフェログラ
ムとを同期して記憶するものである。この記憶するデー
タ数は、フーリエ変換に当たり参照光インターフェログ
ラムの最大値発生部位が有意な情報として含まれるよう
に様に余裕をもって定める。フーリエ変換にあたり高速
フーリエ変換(FFT)を用い、FFTのデータ数を1
024個とすると、信号波形記憶部60の記憶するデー
タ数Nは、例えば2倍の2048個に選定するとよい。
【0013】基準波形記憶部70は、基準となる参照光
インターフェログラムを予め記憶するものである。通
常、新たな被測定対象50に対して、初期化にあたり信
号波形記憶部60に記憶された参照光インターフェログ
ラムを用いる。この基準参照光インターフェログラムに
あっては、図2(A)に示すように最大値が中央となる
ように定めるとよい。
【0014】位相マッチング演算部80は、基準波形記
憶部70に記憶された基準参照光インターフェログラム
に対して、今回の測定周期における同期信号波形記憶部
60に記憶された参照光インターフェログラムの位相が
最も一致する位相差Δxを演算する。この演算にあたっ
ては、相互相関関数が最大値となる位相差を求めてもよ
く、また実質的に有効な情報を有する最大値付近の数波
分についてデータの差の二乗和が最小となる位相差とし
てもよい。これは、基準波形記憶部70が参照光インタ
ーフェログラムの記憶を開始するタイミングが、各測定
周期毎に多少変動するので、これを補償して同期をとる
ためである。ここで、測定周期は、フーリエ変換型近赤
外分光器40における移動鏡の一回の走査を基準に定め
られる。
【0015】インターフェログラム平均部90は、位相
マッチング演算部80で演算された位相差を基準に、今
回の測定周期における同期信号波形記憶部60に記憶さ
れた測定光インターフェログラムと参照光インターフェ
ログラムを同期加算する。これにより、測定光インター
フェログラムと参照光インターフェログラムが平均化さ
れて、ノイズの影響が低減される。尚、フーリエ変換対
象区間抽出部100は、インターフェログラム平均部9
0で平均された測定光インターフェログラムと参照光イ
ンターフェログラムについてフーリエ変換の対象となる
区間を抽出する。FFTの場合には、ハニング窓のよう
な重み付けをした時間窓が用いられるので、最大値を与
える部位がほぼ解析対象データの中央になるように選定
する。
【0016】吸収スペクトル演算部110は、フーリエ
変換対象区間抽出部100で抽出された区間についてフ
ーリエ変換を演算し、測定光インターフェログラムと参
照光インターフェログラムに対する周波数スペクトルを
求める。次に、両方の周波数スペクトルから吸収スペク
トルを演算する。この演算過程は、図3を用いて後で説
明する。
【0017】このように構成された装置の動作につい
て、次に説明をする。図2はインターフェログラムの波
形図で、(A)は基準参照光インターフェログラム、
(B)は今回の測定周期における同期信号波形記憶部6
0に記憶された参照光インターフェログラムである。基
準参照光インターフェログラムは、最大値を示す波のピ
ーク値が丁度中央にくるように選定するとよい。最大値
から離れるほど、インターフェログラムに含まれる情報
は少なくなるから、対称性も考慮して定める。尚、AD
変換のサンプリング時間も、このインターフェログラム
に含まれる波の一波長について、5〜20点程度サンプ
リングが行われるように選定するとよい。
【0018】位相マッチング演算部80により、基準波
形記憶部70に記憶された基準参照光インターフェログ
ラムに対して、今回の測定周期における同期信号波形記
憶部60に記憶された参照光インターフェログラムの位
相差Δxを演算する。そして、インターフェログラム平
均部90により同期加算を行う。フーリエ変換に用いる
のは、最大値を示す波を中心とする領域N/2分であ
る。
【0019】図3は吸収スペクトル演算部110の動作
を説明するスペクトル図で、(A)は参照光スペクトル
と測定光スペクトル。(B)は吸収スペクトルである。
FFTにより、参照光インターフェログラムから参照光
スペクトルが得られ、測定光インターフェログラムから
測定光スペクトルが得られる。そして、参照光スペクト
ルと測定光スペクトルの偏差から、被測定対象50に関
する吸収スペクトルが得られる。この吸収スペクトルか
ら、ケモメトリクス等を用いて性状値が求められる(例
えば、横河技報第38巻(1994)第33頁参照)。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
基準参照光インターフェログラムを予め記憶しておき、
位相マッチング演算部により各測定周期で得られる参照
光インターフェログラムを同期させて、インターフェロ
グラム平均部90で平均化させているので、従来必要と
されていたサンプリングトリガ信号用の光学系が不要と
なり、近赤外分光器の光学系の構成が簡単になるという
効果がある。また、インターフェログラムの段階で同期
加算をして平均化をしてフーリエ変換しているので、フ
ーリエ変換した後のスペクトルを加算して平均化する場
合に比較して、演算時間が短くてすみ、リアルタイム分
析のように演算処理の迅速性が要請させる用途に適する
という効果もある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す構成ブロック図であ
る。
【図2】インターフェログラムの波形図である。
【図3】吸収スペクトル演算部110の動作を説明する
スペクトル図である。
【図4】従来のフーリエ変換型近赤外分光器の構成図で
ある。
【図5】インターフェログラムと呼ばれる干渉光の波形
図である。
【符号の説明】
40 フーリエ変換型近赤外分光器 50 被測定対象(サンプル) 60 同期信号波形記憶部 70 基準波形記憶部 80 位相マッチング演算部 90 インターフェログラム平均部 100 フーリエ変換対象区間抽出部 110 吸収スペクトル演算部
フロントページの続き (72)発明者 雨宮 正仁 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内 (72)発明者 南光 智昭 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】同一光源から放射される近赤外光を、移動
    鏡の変位により干渉させて測定光と参照光を出力するフ
    ーリエ変換型近赤外分光器(40)と、 この測定光が被測定対象(50)を透過して生じる測定
    光インターフェログラムと、この参照光が当該被測定対
    象を迂回して当該測定光とほぼ同一経路を伝播して生じ
    る参照光インターフェログラムとを同期して記憶する信
    号波形記憶部(60)と、 基準となる参照光インターフェログラムを予め記憶する
    基準波形記憶部(70)と、 この基準波形記憶部に記憶された基準参照光インターフ
    ェログラムに対して、今回の測定周期における前記同期
    信号波形記憶部に記憶された当該参照光インターフェロ
    グラムの位相が最も一致する位相差を演算する位相マッ
    チング演算部(80)と、 この位相マッチング演算部で演算された位相差を基準に
    同期加算して、前記測定光インターフェログラムと参照
    光インターフェログラムの平均を求めるインターフェロ
    グラム平均部(90)と、 このインターフェログラム平均部で平均された信号につ
    いてフーリエ変換の対象となる区間を抽出する手段(1
    00)と、 このフーリエ変換対象区間抽出手段で抽出された区間に
    ついてフーリエ変換を演算し、前記測定光インターフェ
    ログラムと参照光インターフェログラムに対するスペク
    トルから吸収スペクトルを演算する手段(110)と、 を具備することを特徴とする近赤外分光器。
JP10557396A 1996-04-25 1996-04-25 近赤外分光器 Expired - Fee Related JP3414122B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10557396A JP3414122B2 (ja) 1996-04-25 1996-04-25 近赤外分光器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10557396A JP3414122B2 (ja) 1996-04-25 1996-04-25 近赤外分光器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09292282A true JPH09292282A (ja) 1997-11-11
JP3414122B2 JP3414122B2 (ja) 2003-06-09

Family

ID=14411273

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10557396A Expired - Fee Related JP3414122B2 (ja) 1996-04-25 1996-04-25 近赤外分光器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3414122B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010538266A (ja) * 2007-08-27 2010-12-09 ザ・キュレーターズ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・ミズーリ フーリエ変換分光測光でのノイズキャンセル
US8766191B2 (en) 2009-10-06 2014-07-01 The Curators Of The University Of Missouri External/internal optical adapter for FTIR spectrophotometer
US9442014B2 (en) 2011-04-05 2016-09-13 Konica Minolta, Inc. Fourier transform spectrometer and fourier transform spectroscopic method
JP2020518787A (ja) * 2016-12-23 2020-06-25 サントル ナシオナル ドゥ ラ ルシェルシェ シアンティフィクCentre National De La Recherche Scientifique 赤外線検出装置
CN114441453A (zh) * 2021-12-27 2022-05-06 浙江微翰科技有限公司 基于傅里叶变换光谱仪的异步采集方法及傅里叶变换光谱仪

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010538266A (ja) * 2007-08-27 2010-12-09 ザ・キュレーターズ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・ミズーリ フーリエ変換分光測光でのノイズキャンセル
US8766191B2 (en) 2009-10-06 2014-07-01 The Curators Of The University Of Missouri External/internal optical adapter for FTIR spectrophotometer
US8830474B2 (en) 2009-10-06 2014-09-09 The Curators Of The University Of Missouri External/internal optical adapter with reverse biased photodiodes for FTIR spectrophotometry
US9442014B2 (en) 2011-04-05 2016-09-13 Konica Minolta, Inc. Fourier transform spectrometer and fourier transform spectroscopic method
JP2020518787A (ja) * 2016-12-23 2020-06-25 サントル ナシオナル ドゥ ラ ルシェルシェ シアンティフィクCentre National De La Recherche Scientifique 赤外線検出装置
US11499929B2 (en) 2016-12-23 2022-11-15 Centre National De La Recherche Scientifique Infrared detection device
CN114441453A (zh) * 2021-12-27 2022-05-06 浙江微翰科技有限公司 基于傅里叶变换光谱仪的异步采集方法及傅里叶变换光谱仪

Also Published As

Publication number Publication date
JP3414122B2 (ja) 2003-06-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0749207A (ja) 絶対干渉測定方法とこの方法に適したレーザー干渉装置
JPH11142243A (ja) 干渉計及びこれを用いたフーリエ変換型分光装置
JP3337734B2 (ja) 赤外線エリプソメータ
US5298970A (en) Sample evaluating method by using thermal expansion displacement
JPH07500672A (ja) 光導波構造の反射欠陥検出用干渉装置
US20210190590A1 (en) Interferometer movable mirror position measurement apparatus and fourier transform infrared spectroscopy
JP2001255354A (ja) パルス状レーザビームによる半導体集積回路の精査装置
US3286582A (en) Interference technique and apparatus for spectrum analysis
CN110530531B (zh) 基于迈克尔逊干涉的喷泉型原子重力仪光束相位变化测量装置与方法
JP3414122B2 (ja) 近赤外分光器
JPH07190712A (ja) 干渉計
JPH06186337A (ja) レーザ測距装置
RU2335786C1 (ru) Лидар для контроля состояния атмосферы (варианты)
JP2889248B2 (ja) 光スペクトラムアナライザ用光干渉計
JPH05231939A (ja) ステップスキャンフーリエ変換赤外分光装置
JP2022125549A (ja) フーリエ変換赤外分光光度計
TW200530564A (en) Wavelength meter
JP4206618B2 (ja) フーリエ変換赤外分光光度計
JP2767000B2 (ja) 導波路分散測定方法および装置
CN115655663B (zh) 全光纤结构激光器的线宽测量方法及系统
JPH1019774A (ja) 近赤外分光分析計
RU2788568C1 (ru) Устройство доплеровского измерителя скорости на основе интерферометра с волоконным вводом излучения
RU2045040C1 (ru) Дистанционный измеритель концентрации воздушных загрязнений
JPH01201122A (ja) 光パルス測定方法
JP3149421B2 (ja) リフレクトメータ

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080404

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090404

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090404

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100404

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100404

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110404

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120404

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130404

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130404

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140404

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees