JPWO2010134549A1 - 感光性樹脂組成物 - Google Patents

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Abstract

耐薬品性、ITO膜との密着性に優れる特性を有し、かつ、保存安定性に優れた感光性樹脂組成物、及びこれを用いた感光性樹脂積層体を提供すること。本願発明に係る感光性樹脂組成物は、(A)アルカリ可溶性樹脂40〜90質量%、(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物5〜50質量%、(C)光重合開始剤1〜20質量%、(D)エポキシシラン化合物0.001〜2.5質量%、及び(E)チオール化合物0.005〜1.0質量%を含む。

Description

本発明は、アルカリ性水溶液によって現像可能な感光性樹脂組成物、及び該組成物を用いたドライフィルムレジストに関する。更に詳しくは、本発明は、フラットパネルディスプレイの表示材料等の製造においてITO電極形成や鉄系合金のエッチング(ケミカルミリング)を行う際に好適な感光性樹脂組成物、及び該組成物を用いたドライフィムルレジストに関する。
従来、プリント配線版や金属の精密加工等はフォトリソグラフィー法によって製造されている。フォトリソグラフィー法とは、感光性樹脂組成物を基板上に塗布し、パターン露光して該感光性樹脂組成物の露光部を重合硬化させ、未露光部を現像液で除去して基板上にレジストパターンを形成し、エッチング又はめっき処理を施して導体パターンを形成した後、該レジストパターンを該基板上から剥離除去することによって、基板上に導体パターンを形成する方法を言う。
上記のフォトリソグラフィー法においては、感光性樹脂組成物を基板上に塗布するにあたって、フォトレジスト溶液を基板に塗布して乾燥させる方法、又は支持体、感光性樹脂組成物からなる層(以下、「感光性樹脂層」という。)、及び場合により保護層を順次積層した感光性樹脂積層体(以下、「ドライフィルムレジスト」という。)を基板に積層する方法のいずれかが使用される。プリント配線板の製造においては、後者のドライフィルムレジストが使用されることが多い。
以下、ドライフィルムレジストを用いてプリント配線板を製造する方法について簡単に説明する。
まずドライフィルムレジストからポリエチレンフィルム等の保護層を剥離する。次いで、ラミネーターを用いて銅張り積層板等の基板上に、該基板、感光性樹脂層、支持体の順序になるよう、感光性樹脂層及び支持体を積層する。次いで、配線パターンを有するフォトマスクを介して、該感光性樹脂層を露光することによって、露光部分を重合硬化させる。次いでポリエチレンテレフタレート等からなる支持体を剥離する。次いで、弱アルカリ性を有する水溶液等の現像液により感光性樹脂層の未露光部分を溶解又は分散除去して、基板上にレジストパターンを形成させる。次いで、形成されたレジストパターンを保護マスクとして公知のエッチング処理又はパターンめっき処理を行う。最後に、該レジストパターンを基板から剥離して導体パターンを有する基板、すなわちプリント配線板を製造する。
一方、近年では各種フラットパネルディスプレイ等の表示材料の開発が盛んに行われており、今後その用途は拡大しつつある。この表示材料の例としては、ガラス又はポリエチレンテレフタラート基材上に形成されたITO電極があり、エッチングによる該電極形成に上記のドライフィルムレジストが利用され始めている。
しかしながら、従来のドライフィルムレジストでは、上記の電極形成において基材が、銅等の一般的な金属と異なり平滑なITO膜、SnO膜等であるために密着性が悪い。さらに、エッチング時には強酸性に晒されるため、基材からレジストが剥がれ、サイドエッチングが進行し、高い精度のエッチング加工ができないという問題がある。これを克服するためにシランカップリング剤のような密着助剤が導入されている。
以下の特許文献1には、シランカップリング剤を0.01〜0.5質量部を含むことで感光性樹脂組成物のITO膜との密着性を向上させることが開示されている。しかしながら、該密着助剤自体が不安定であるために、感光性樹脂組成物の保存安定性を劣化させる傾向がある点を十分に解決したものとはいえない。
また、以下の特許文献2には、1分子内に2個以上のメルカプト基を有する多官能チオール化合物0.001〜5質量部を含む感光性樹脂組成物が記載されているが、その用途として、銅基材に対する密着助剤としての効果が開示してあるだけで、ITO膜との密着性や保存安定性向上効果については何ら開示されていない。
特開平10−198032号公報 特開昭58−100844号公報
本発明が解決しようとする課題は、耐薬品性、ITO膜との密着性に優れ、かつ、保存安定性に優れた感光性樹脂組成物、及びこれを用いた感光性樹脂積層体を提供することである。
本願発明者らは、上記課題を解決すべく鋭意検討し、実験を重ねた結果、予想外に以下の構成により、上記課題を解決することができることを見出し、本願発明を完成するに至った。
すなわち、本本発明は以下の通りのものである。
[1](A)アルカリ可溶性樹脂40〜90質量%、(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物5〜50質量%、(C)光重合開始剤1〜20質量%、(D)エポキシシラン化合物0.001〜2.5質量%、及び(E)チオール化合物0.005〜1.0質量%を含む感光性樹脂組成物。
[2]前記(E)チオール化合物が、下記一般式(I):
Figure 2010134549
{式中、Rは芳香族性を有する基である。}で表されるチオール化合物である、請求項1に記載の感光性樹脂組成物。
[3]前記(E)一般式(I)で表されるチオール化合物が、該式中、Rが芳香族性を有する複素環化合物である、前記[2]に記載の感光性樹脂組成物。
[4]前記(E)一般式(I)で表されるチオール化合物が、下記一般式(II):
Figure 2010134549
{式中、Rは、SH、SROR及びNRからなる群から選ばれる一種の基であり、R及びRは、それぞれ独立に、H、炭素数1〜12のアルキル基、及びアリール基からなる群から選ばれる一種の基である。}で表される化合物である、前記[2]に記載の感光性樹脂組成物。
[5]前記(E)チオール化合物が、下記一般式(III):
Figure 2010134549
{式中、Rは、炭素数1〜3のアルキル基、炭素数1〜3のアルコキシ基、炭素数1〜3のアルキルチオ基、SH、及びNRからなる群から選ばれる一種の基であり、R及びRは、それぞれ独立に、H、炭素数1〜12のアルキル基、及びアリール基からなる群から選ばれる一種の基である。}で表される化合物である、前記[2]に記載の感光性樹脂組成物。
[6]前記(D)エポキシシラン化合物が、下記一般式(IV):
Figure 2010134549
{式中、Rは、炭素数1〜5のアルキル基であり、Aは、炭素数1〜4のアルキル基又は−(D−O)−であり、Dは、炭素数1〜3のアルキル基であり、nは、1〜5の整数であり、Bは下記一般式(V):
Figure 2010134549
で表される官能基を有する基である。}で表される化合物である、前記[1]〜[5]のいずれかに記載の感光性樹脂組成物。
[7]前記(A)アルカリ可溶性高分子対前記(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物の質量比が1.5〜1.8:1である、前記[1]〜[6]のいずれかに記載の感光性樹脂組成物。
[8]支持フィルム上に前記[1]〜[7]のいずれかに記載の感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂層が積層された感光性樹脂積層体。
[9]前記[8]に記載の感光性樹脂積層体を透明電極上にラミネートするラミネート工程、該積層体に露光を行う露光工程、及び該露光された積層体に現像を行う現像工程を含むことを特徴とするレジストパターン形成方法。
[10]前記[9]に記載のパターン形成方法で得られたレジストパターンに従って前記透明電極をエッチングすることを特徴とする電極の製造方法。
[11]前記[8]に記載の感光性樹脂積層体を鉄系合金上にラミネートするラミネート工程、該積層体に露光を行う露光工程、及び該露光された積層体に現像を行う現像工程を含むことを特徴とするレジストパターン形成方法。
[12]
前記[11]に記載のパターン形成方法で得られたレジストパターンに従って前記鉄系合金をエッチングすることを特徴とする鉄系合金構造体の製造方法。
本発明により、ITO膜との密着性が良好であり、かつ、保存安定性に優れた感光性樹脂組成物、及びこれを用いた感光性樹脂積層体が提供される。本発明の感光性樹脂組成物、及びこれを用いた感光性樹脂積層体は、パターン形成に優れており、ITO膜のエッチング用途に好適に使用しうる。
以下、本発明について詳細に説明する。
<(A)アルカリ可溶性樹脂>
アルカリ可溶性樹脂とは、カルボキシル基を含有したビニル系樹脂のことであり、例えば、(メタ)アクリル酸、(メタ)アクリル酸エステル、(メタ)アクリロニトリル、(メタ)アクリルアミド等の共重合体である。
(A)アルカリ可溶性樹脂は、カルボキシル基を含有し、酸当量が100〜600であることが好ましい。酸当量とは、その中に1当量のカルボキシル基を有するアルカリ可溶性樹脂の質量を言う。
酸当量は、より好ましくは250以上450以下である。酸当量は、現像耐性が向上し、解像度及び密着性が向上する点から、100以上が好ましく、現像性及び剥離性が向上する点から600以下が好ましい。酸当量の測定は、平沼産業(株)製平沼自動滴定装置(COM−555)を使用し、0.1mol/Lの水酸化ナトリウムを用いて電位差滴定法により行われる。
(A)アルカリ可溶性樹脂の重量平均分子量は、20,000以上80,000以下であることが好ましい。アルカリ可溶性樹脂の重量平均分子量は、現像性が向上する点から80,000以下が好ましく、現像凝集物の性状、感光性樹脂積層体とした場合のエッジフューズ性、カットチップ性など未露光膜の性状の観点から20,000以上であることが好ましい。エッジフューズ性とは、感光性樹脂積層体としてロール状に巻き取った場合ロールの端面から感光性樹脂組成物層がはみ出す現象である。カットチップ性とは未露光膜をカッターで切断した場合にチップが飛ぶ現象のことで、チップが感光性樹脂積層体の上面などに付着すると、後の露光行程などでマスクに転写し不良の原因となる。アルカリ可溶性樹脂の重量平均分子量は、より好ましくは、20,000以上60,000以下であり、さらに好ましくは、40,000以上60,000以下である。
重量平均分子量は、日本分光(株)製ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)(ポンプ:Gulliver、PU−1580型、カラム:昭和電工(株)製Shodex(登録商標)(KF−807、KF−806M、KF−806M、KF−802.5)4本直列、移動層溶媒:テトラヒドロフラン、ポリスチレン標準サンプル(昭和電工(株)製Shodex STANDARD SM−105)による検量線使用)によりポリスチレン換算として求められる。
アルカリ可溶性樹脂は、下記の2種類の単量体の中より、各々一種又はそれ以上の単量体を共重合させることにより得られる。
第一の単量体は、分子中に重合性不飽和基を一個有するカルボン酸又は酸無水物である。例えば、(メタ)アクリル酸、フマル酸、ケイ皮酸、クロトン酸、イタコン酸、マレイン酸無水物、及びマレイン酸半エステルが挙げられる。中でも、特に(メタ)アクリル酸が好ましい。ここで、(メタ)アクリルとは、アクリル及び/又はメタクリルを示す。以下同様である。
第二の単量体は、非酸性で、分子中に重合性不飽和基を少なくとも一個有する単量体である。例えば、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、n−プロピル(メタ)アクリレート、iso−プロピル(メタ)アクリレート、n−ブチル(メタ)アクリレート、iso−ブチル(メタ)アクリレート、tert−ブチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、ビニルアルコールのエステル類、例えば、酢酸ビニル、(メタ)アクリロニトリル、スチレン、及びスチレン誘導体が挙げられる。中でも、メチル(メタ)アクリレート、n−ブチル(メタ)アクリレート、スチレン、ベンジル(メタ)アクリレートが好ましい。現像後のレジストフット部の裾浮きの観点からベンジル(メタ)アクリレートが好ましい。
第一の単量体と第二の単量体の共重合割合は、第一の単量体が10〜60質量%、第二の単量体が40〜90質量%であることが好ましく、より好ましくは第一の単量体が15〜35質量%、第二の単量体が65〜85質量%である。
第一の単量体と第二の単量体の好ましい組み合わせとしては以下の様な組み合わせを挙げることができる。すなわち、アクリル酸ブチル、メタクリル酸メチル、メタクリル酸の共重合体、スチレン、メタクリル酸メチル、メタクリル酸の共重合体、スチレン、メタクリル酸ベンジル、メタクリル酸の共重合体、メタクリル酸ベンジル、メタクリル酸の共重合体、メタクリル酸ベンジル、アクリル酸―2−エチルヘキシル、メタクリル酸の共重合体などが挙げられる。
(A)アルカリ可溶性高分子の感光性樹脂組成物の配合量は感光性樹脂組成物の全固形分質量100質量%とした場合の40〜90質量%の範囲であり、好ましくは50〜70質量%である。エッジフューズ性の観点から40質量%以上であり、現像時間の観点から70質量%以下である。
<(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物>
(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物としては、少なくとも一つの末端エチレン性不飽和基を光重合性モノマーであって、具体的な例としては、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、2−ジ(p−ヒドロキシフェニル)プロパン(メタ)アクリレート、グリセロールトリ(メタ)アクリレートトリメチロールトリ(メタ)アクリレート、ポリオキシプロピルトリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ポリオキシエチルトリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、トリメチルプロパントリグリシジルエーテルトリ(メタ)アクリレート、ビスフェノールAエチレングリコール付加ジ(メタ)アクリレート、フェノキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、ノニルフェノキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート等が挙げられる。
また、ウレタン化合物も挙げられ、例えばヘキサメチレンジイソシアネート、トリレンジイソシアネートがある。これらは、単独で使用しても、2種類以上併用しても構わない。
(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物の配合量は感光性樹脂組成物の全固形分質量100質量%とした場合の5〜50質量%である。感度、解像性、密着性の観点から5質量%以上であり、一方、コールドフロー、及び硬化レジストの剥離遅延を抑えるという観点から60質量%以下であり、好ましくは、25〜45質量%である。
<(C)光重合開始剤>
(C)光重合開始剤としては、一般に知られているものが使用できる。(C)光重合開始剤の含有量は、0.1〜20質量%の範囲であり、好ましい範囲は0.5〜10質量%である。十分な感度を得るという観点から、0.1質量%以上が好ましく、一方、レジスト底面にまで光を充分に透過させ、良好な高解像性を得るという観点から、20質量%以下である。
光重合開始剤としては、2−エチルアントラキノン、オクタエチルアントラキノン、1,2−ベンズアントラキノン、2,3−ベンズアントラキノン、2−フェニルアントラキノン、2,3−ジフェニルアントラキノン、1−クロロアントラキノン、2−クロロアントラキノン、2−メチルアントラキノン、1,4−ナフトキノン、9,10−フェナントラキノン、2−メチル−1,4−ナフトキノン、9,10−フェナントラキノン、2−メチル−1,4−ナフトキノン、2,3−ジメチルアントラキノン、3−クロロ−2−メチルアントラキノンなどのキノン類、芳香族ケトン類、例えば、ベンゾフェノン、ミヒラーズケトン 4,4´−ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフェノン、4,4´−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、ベンゾイン又はベンゾインエーテル類、ベンゾイン、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインフェニルエーテル、メチルベンゾイン、エチルベンゾイン、ジアルキルケタール類、ベンジルジメチルケタール、ベンジルジエチルケタール、チオキサントン類、ジエチルチオキサントン、クロルチオキサントン、ジアルキルアミノ安息香酸エステル類、ジメチルアミノ安息香酸エチル、オキシムエステル類、1−フェニル−1,2−プロパンジオン−2−O−ベンゾイルオキシム、1−フェニル−1,2−プロパンジオン−2−(O−エトキシカルボニル)オキシム、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾリル二量体、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ビス−(m−メトキシフェニル)イミダゾリル二量体、2−(p−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾリル二量体、アクリジン化合物、9−フェニルアクリジン、ピラゾリン類、1−フェニル−3−スチリル−5−フェニル−ピラゾリン、1−(4−tert−ブチル−フェニル)−3−スチリル−5−フェニル−ピラゾリン、1−フェニル−3−(4−tert−ブチル−スチリル)−5−(4−tert−ブチル−フェニル)−ピラゾリンなどが挙げられる。これらの化合物は単独で使用しても、2種類以上併用しても構わない。
上述のロフィン二量体と、ミヒラーズケトン 4,4´−ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフェノン又は4,4´−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノンの組み合わせは、感度及び解像度の観点から好ましい組み合わせである。この場合、ロフィン二量体は感度や現像凝集性に応じて適宜配合量を調節することができる。2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾリル二量体を用いる場合は、感度の観点から1質量%以上が好ましく、凝集性の観点から5質量%以下が好ましい。より好ましくは2〜4質量%である。4,4´−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノンは、感度、レジストパターンの矩形性、露光波長の光線透過率を考慮して適宜配合量を調整することができる。70μm以上の厚膜の感光性樹脂層を形成する場合は、パターンの密着性、矩形性を考慮して0.05質量%以下とするのが好ましい。感度の観点から0.01質量%以上が好ましい。
<(D)エポキシシラン化合物>
(D)エポキシシラン化合物とは、分子内に有機材料と反応結合するエポキシ基、及び無機材料と反応結合する加水分解性のアルコキシ基を同時に有する有機ケイ素化合物であり、中でも密着性の観点から、下記一般式(IV):
Figure 2010134549
{式中、Rは、炭素数1〜5のアルキル基であり、Aは、炭素数1〜4のアルキル基又は−(D−O)−であり、Dは、炭素数1〜3のアルキル基であり、nは、1〜5の整数であり、Bは下記一般式(V):
Figure 2010134549
で表される官能基を有する基である。}で表される化合物であることが好ましい。
具体的な例としては、2-(3,4-エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3-グリシドキシメチルトリメトキシシラン、3-グリシドキシエチルトリメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリプロポキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリブトキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリペントキシシラン、3-グリシジルメチルトリメトキシシラン、3-グリシジルエチルトリメトキシシラン、3-グリシジルプロピルトリメトキシシランなどが挙げられる。(D)エポキシシラン化合物として、上述のなかでも、2-(3,4-エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリエトキシシランが密着性の観点からより好ましい。(D)エポキシシラン化合物の配合量は感光性樹脂組成物の全固形分質量100質量%とした場合の0.001〜2.5質量%である。密着性の観点から0.001質量%以上であり、一方、保存安定性の観点から2.5質量%以下である。(D)エポキシシラン化合物の配合量は、好ましくは0.03〜0.3質量%であり、より好ましくは0.05〜0.15質量%である。
<(E)下記一般式(I)で表されるチオール化合物>
本発明に含まれる感光性樹脂組成物は、(E)チオール化合物を0.005〜1.0質量%含有し、これによって保存安定性を向上させる効果が期待できる。本願において、保存安定性とは感光性樹脂積層体を露光した際のコントラストに、経時変化が無いことを意味する。
(E)チオール化合物としては、芳香族性を有しない炭素原子にメルカプト基が結合した化合物、芳香族性を有する基にメルカプト基が結合した化合物を挙げることができる。
芳香族性を有しない炭素原子にメルカプト基が結合した化合物としては、例えば、オクタンチオール、ヘキサンジチオール 、デカンジチオール 、1,4−ブタンジオールビスチオプロピオネート、1,4−ブタンジオールビスチオグリコレート、エチレングリコールビスチオグリコレート、エチレングリコールビスチオプロピオネート、トリメチロールプロパン、トリスチオグリコレート、トリメチロールプロパントリスチオプロピオネート、トリメチロールプロパントリス(3−メルカプトブチレート)、ペンタエリスリトールテトラキスチオグリコレート、ペンタエリスリトールテトラキスチオプロピオネート、トリメルカプトプロピオン酸トリス、(2−ヒドロキシエチル)イソシアヌレート、ペンタエリスリトールテトラキス−3−メルカプトブチレートを挙げることができる。
芳香族性を有する基にメルカプト基が結合した化合物としては、下記一般式(I):
Figure 2010134549
{式中、Rは芳香族性を有する基である。}で表されるチオール化合物が挙げられる。
上記芳香族性を有する基としては、例えば、フェニル基、ナフチル基、アントラセニル基、イミダゾイル基、トリアゾイル基、テトラゾイル基、ベンゾイミダゾイル基、ベンゾトリアゾイル基、ベンゾテトラゾイル基、オキサゾイル基、ベンゾオキサゾイル基、チアゾイル基、ベンゾチアゾイル基、チアジアゾイル基、トリアジン基、ピリジル基、ピロリル基、フリル基、チエニル基、キノリル基が挙げられる。
は、保存安定性の観点から芳香族性を有する複素環化合物が好ましい。本願において、解像度は解像度評価用ネガとしてラインのライン幅とスペース幅が10μm〜50μmの等幅で交互に並んだネガを使用し、現像で完全に未露光部が膨潤・溶解除去されたスペースの幅の最小のものをさす。
このような上記一般式(I)で表されるチオール化合物としては、例えば、2−クロロチオフェノール、3−クロロチオフェノール、4−クロロチオフェノール、2−アミノチオフェノール、3−アミノチオフェノール、4−アミノチオフェノール、2−ブロモチオフェノール、3-ブロモチオフェノール、4-ブロモチオフェノール、2−フロロチオフェノール、3-フロロチオフェノール、4-フロロチオフェノール、1,2−ジメルカプトベンゼン、1,3−ジメルカプトベンゼン、1,4−ジメルカプトベンゼン、2,3−ジメチルチオフェノール、2,4−ジメチルチオフェノール、2,5−ジメチルチオフェノール、2,6−ジメチルチオフェノール、2,3−ジフルオロチオフェノール、2,4−ジフルオロチオフェノール、2,5−ジフルオロチオフェノール、2,6−ジフルオロチオフェノール、2,3−ジクロロチオフェノール、2,4−ジクロロチオフェノール、2,5−ジクロロチオフェノール、2,6−ジクロロチオフェノール、3,4−ジメトキシチオフェノール、3−クロロ−4−フルオロチオフェノール、4−イソプロピルチオフェノール、3,5−(トリフルオロメチル)ベンゼンチオール、2−メルカプト安息香酸、2−アミノ−4−クロロチオフェノール、4−アセトアミドチオフェノール、2−クロロ−4−フルオロチオフェノール、4−クロロ−2,5−ジメチルチオフェノール、1,3,5−トリメルカプトベンゼン、5−ブロモ−1,3―ジメルカプトベンゼン2,3,5,6−テトラフルオロチオフェノール、2−メルカプトピリジン、3−メルカプトピリジン、4−メルカプトピリジン、2−メルカプトピリジン−N−オキシド、5−メトキシ−2−ベンズイミダゾールチオール、5−アミノ−2−メルカプトベンズイミダゾール、2−メルカプト−1−メチルイミダゾール、2−メルカプト−5−メチルベンズイミダゾール、2−メルカプト−5−ニトロベンズイミダゾール、4−ヒドロキシ−2−メルカプト−6−(トリフルオロメチル)ピリミジン、4−メルカプトピラゾロ[3,4d]ピリミジン、4,6−ジアミノ−2−メルカプトピリミジン、4,6−ジヒドロキシ−2−メルカプトピリミジン、2−メルカプト−4,6−ジメチルピリミジン、5−フェニル−1,3,4−オキサジアゾール−2−チオール、4,5−ジフェニル−2−メルカプトオキサゾール、2‐ベンゾオキサゾールチオール、3−フェニル−1,2,4−トリアゾール−5−チオール、5−メルカプト−1−メチルテトラゾール、1−フェニル−5−メルカプト一1H−テトラゾール、2−メルカプトイミダゾリンが挙げられる。
上記一般式(I)で表されるチオール化合物は、より好ましくは、下記一般式(II):
Figure 2010134549
{式中、Rは、SH、SROR及びNRからなる群から選ばれる一種の基であり、R及びRは、それぞれ独立に、H、炭素数1〜12のアルキル基、及びアリール基からなる群から選ばれる一種の基である。}で表される化合物である。
上記一般式(II)で表されるチオール化合物としては、例えば2,4,6−トリメルカプト−s−トリアジン、2−ジ−n−ブチルアミノ−4,6−ジメルカプト−s−トリアジン、2−アニリノ−4,6−ジメルカプト−s−トリアジン、6−ジアリルアミノ−1,3,5−トリアジン−2,4−ジチオール、2−ジシクロヘキシルアミノ−4,6−ジメルカプト−s−トリアジン、ジメチルアミノ−1,3,5−トリアジン−2,4−ジチオールが挙げられる。
また、上記一般式(I)で表されるチオール化合物として、下記一般式(III):
Figure 2010134549
{式中、Rは、炭素数1〜3のアルキル基、炭素数1〜3のアルコキシ基、炭素数1〜3のアルキルチオ基、SH、及びNRからなる群から選ばれる一種の基であり、R及びRは、それぞれ独立に、H、炭素数1〜12のアルキル基、及びアリール基からなる群から選ばれる一種の基である。}で表される化合物も、保存安定性を付与する効果が期待できる。
上記一般式(III)で表されるチオール化合物としては、例えば、5−メチル−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、5−エチル−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、5−n−プロピル−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、5−イソプロピル−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、5−メトキシ−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、5−エトキシ−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、5−n−プロピルオキシ−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、5−イソプロピルオキシ−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、5−メチルチオ−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、5−エチルチオ−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、5−n−プロピルチオ−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、5−イソプロピルチオ−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、5−アミノ−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、2,5−ジメルカプト−1,3,4−チアジアゾールが挙げられる。
特に、5−アミノ−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、2−ジ−n−ブチルアミノ−4,6−ジメルカプト−s−トリアジンは、保存安定性を維持する効果が高いため、好ましい。これらは、単独で使用しても、2種類以上併用しても構わない。
(E)上記一般式(I)で表されるチオール化合物の感光性樹脂組成物の配合量は感光性樹脂組成物の全固形分質量100質量%とした場合、0.005〜1.0質量%の範囲であり、好ましくは0.01〜0.1質量%の範囲であり、より好ましくは0.03〜0.08質量%である。保存安定性を維持する観点から0.005質量%以上であり、一方、解像度の観点から1.0質量%以下である。
<その他の成分>
本願発明に係る感光性樹脂組成物は、ロイコ染料、又はフルオラン染料や着色物質を含有してもよい。これらの染料を含むことにより露光部分が発色するので視認性の点で好ましい。また、これらの染料を含むことは、検査機などが露光のための位置合わせマーカーを読み取る場合、露光部と未露光部のコントラストが大きい方が認識しやすく有利である。
ロイコ染料としては、トリス(4−ジメチルアミノフェニル)メタン[ロイコクリスタルバイオレット]、ビス(4−ジメチルアミノフェニル)フェニルメタン[ロイコマラカイトグリーン]が挙げられる。中でも、コントラストが良好となる観点から、ロイコ染料としては、ロイコクリスタルバイオレットを用いることが好ましい。ロイコ染料を含有する場合の含有量は、感光性樹脂組成物中に0.1〜10質量%含むことが好ましい。当該含有量は、露光部分と未露光部分のコントラストの観点から、0.1質量%以上が好ましく、また、保存安定性を維持という観点から、10質量%以下が好ましい。
また、感光性樹脂組成物中に、ロイコ染料と下記ハロゲン化合物を組み合わせて用いることは、密着性及びコントラストの観点から、本発明の好ましい実施形態である。
着色物質としては、例えば、フクシン、フタロシアニングリーン、オーラミン塩基、パラマジエンタ、クリスタルバイオレット、メチルオレンジ、ナイルブルー2B、ビクトリアブルー、マラカイトグリーン(保土ヶ谷化学(株)製 アイゼン(登録商標) MALACHITE GREEN)、ベイシックブルー20、ダイアモンドグリーン(保土ヶ谷化学(株)製 アイゼン(登録商標) DIAMOND GREEN GH)が挙げられる。着色物質を含有する場合の添加量は、感光性樹脂組成物中に0.001〜1質量%含むことが好ましい。0.001質量%以上の含有量は、取扱い性向上という観点から、そして1質量%以下の含有量は、保存安定性を維持するという観点から、好ましい。
感光性樹脂組成物には、感度の観点から、N−アリール−α−アミノ酸化合物を含有してもよい。N−アリール−α−アミノ酸化合物としては、N−フェニルグリシンが好ましい。N−アリール−α−アミノ酸化合物を含有する場合の含有量は、0.01質量%以上1質量%以下が好ましい。
感光性樹脂組成物は、ハロゲン化合物を含有してもよい。ハロゲン化合物としては、例えば、臭化アミル、臭化イソアミル、臭化イソブチレン、臭化エチレン、臭化ジフェニルメチル、臭化ベンジル、臭化メチレン、トリブロモメチルフェニルスルフォン、四臭化炭素、トリス(2,3−ジブロモプロピル)ホスフェート、トリクロロアセトアミド、ヨウ化アミル、ヨウ化イソブチル、1,1,1−トリクロロ−2,2−ビス(p−クロロフェニル)エタン、クロル化トリアジン化合物などが挙げられ、中でも特にトリブロモメチルフェニルスルフォンが好ましく用いられる。ハロゲン化合物を含有する場合の含有量は、感光性樹脂組成物中に0.01〜3質量%である。
また、感光性樹脂組成物の熱安定性、保存安定性を向上させるために、感光性樹脂組成物は、ラジカル重合禁止剤、ベンゾトリアゾール類、及びカルボキシベンゾトリアゾール類からなる群から選ばれる少なくとも1種以上の化合物をさらに含有してもよい。
ラジカル重合禁止剤としては、例えば、p−メトキシフェノール、ハイドロキノン、ピロガロール、ナフチルアミン、tert−ブチルカテコール、塩化第一銅、2,6−ジ−tert−ブチル−p−クレゾール、2,2’−メチレンビス(4−メチル−6−tert−ブチルフェノール)、2,2’−メチレンビス(4−エチル−6−tert−ブチルフェノール)、ニトロソフェニルヒドロキシアミンアルミニウム塩、ジフェニルニトロソアミンなどが挙げられる。
ベンゾトリアゾール類としては、例えば、1,2,3−ベンゾトリアゾール、1−クロロ−1,2,3−ベンゾトリアゾール、ビス(N−2−エチルヘキシル)アミノメチレン−1,2,3−ベンゾトリアゾール、ビス(N−2−エチルヘキシル)アミノメチレン−1,2,3−トリルトリアゾール、ビス(N−2−ヒドロキシエチル)アミノメチレン−1,2,3−ベンゾトリアゾールなどが挙げられる。
カルボキシベンゾトリアゾール類としては、例えば、4−カルボキシ−1,2,3−ベンゾトリアゾール、5−カルボキシ−1,2,3−ベンゾトリアゾール、N−(N,N−ジ−2−エチルヘキシル)アミノメチレンカルボキシベンゾトリアゾール、N−(N,N−ジ−2−ヒドロキシエチル)アミノメチレンカルボキシベンゾトリアゾール、N−(N,N−ジ−2−エチルヘキシル)アミノエチレンカルボキシベンゾトリアゾールなどが挙げられる。
ラジカル重合禁止剤、ベンゾトリアゾール類、及びカルボキシベンゾトリアゾール類の合計含有量は、好ましくは感光性樹脂組成物全体に対して、0.01〜3質量%であり、より好ましくは0.05〜1質量%である。当該含有量は、感光性樹脂組成物に保存安定性を付与するという観点から、0.01質量%以上が好ましく、一方、感度を維持し、染料の脱色を抑える観点から、3質量%以下がより好ましい。
感光性樹脂組成物は、必要に応じて、可塑剤を含有してもよい。このような可塑剤としては、例えば、ポリエチレングリコール、ポリプロピレングリコール、ポリオキシプロピレンポリオキシエチレンエーテル、ポリオキシエチレンモノメチルエーテル、ポリオキシプロピレンモノメチルエーテル、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンモノメチルエーテル、ポリオキシエチレンモノエチルエーテル、ポリオキシプロピレンモノエチルエーテル、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンモノエチルエーテル等のグリコールやエステル類、ジエチルフタレート等のフタル酸エステル類、o−トルエンスルフォン酸アミド、p−トルエンスルフォン酸アミド、クエン酸トリブチル、クエン酸トリエチル、アセチルクエン酸トリエチル、アセチルクエン酸トリ−n−プロピル、アセチルクエン酸トリ−n−ブチルなどが挙げられる。
可塑剤の含有量としては、感光性樹脂組成物中に、5〜50質量%含むことが好ましく、より好ましくは、5〜30質量%である。当該含有量は、現像時間の遅延を抑え、硬化膜に柔軟性を付与するという観点から、5質量%以上が好ましく、一方、硬化不足やコールドフローを抑えるという観点から、50質量%以下が好ましい。
<感光性樹脂組成物調合液>
感光性樹脂組成物を溶解する溶剤としては、メチルエチルケトン(MEK)に代表されるケトン類、メタノール、エタノール又はイソプロパノールに代表されるアルコール類などが挙げられる。当該溶剤は、支持フィルム上に塗布する感光性樹脂組成物の溶液の粘度が25℃で500〜4,000mPa・sとなるように、感光性樹脂組成物に添加することが好ましい。
<感光性樹脂積層体>
感光性樹脂積層体は、感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂層と支持フィルムを含む。必要により、感光性樹脂層の支持フィルム側とは反対側の表面に保護層を有してもよい。ここで用いられる支持フィルムとしては、露光光源から放射される光を透過する透明なものが望ましい。このような支持フィルムとしては、例えば、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリビニルアルコールフィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、塩化ビニル共重合体フィルム、ポリ塩化ビニリデンフィルム、塩化ビニリデン共重合フィルム、ポリメタクリル酸メチル共重合体フィルム、ポリスチレンフィルム、ポリアクリロニトリルフィルム、スチレン共重合体フィルム、ポリアミドフィルム、セルロース誘導体フィルムなどが挙げられる。これらのフィルムは、必要に応じて延伸されたものも使用可能である。ヘーズは5以下のものが好ましい。フィルムの厚みは、薄い方が画像形成性及び経済性の面で有利であるが、強度を維持するために10〜30μmのものが好ましく用いられる。
感光性樹脂積層体に用いられる保護層の重要な特性は、感光性樹脂層との密着力について支持フィルムよりも保護層の方が充分小さく、容易に剥離できることである。例えば、ポリエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルムが保護層として好ましく使用できる。また、特開昭59−202457号公報に示された剥離性の優れたフィルムを用いることもできる。保護層の膜厚は10〜100μmが好ましく、10〜50μmがより好ましい。感光性樹脂積層体における感光性樹脂層の厚さは、用途において異なるが、好ましくは5〜100μm、より好ましくは7〜60μmであり、薄いほど解像度は向上し、また厚いほど膜強度が向上する。
支持フィルム、感光性樹脂層、及び必要により保護層を順次積層して、感光性樹脂積層体を作製する方法として、公知の方法を採用することができる。例えば、感光性樹脂層に用いる感光性樹脂組成物を、これらを溶解する溶剤と混ぜ合わせ均一な溶液にし、まず支持フィルム上にバーコーターやロールコーターを用いて塗布し、次いで乾燥して支持フィルム上に感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂層を積層することができる。
乾燥後の感光性樹脂層の厚さは、1〜100μmであることが好ましく、より好ましくは、2〜50μm、さらに好ましくは、3〜15μmである。当該厚さは、テント性の観点から、3μm以上が好ましく、解像性の観点から、15μm以下が好ましい。
次いで必要により、感光性樹脂層上に保護層をラミネートすることにより感光性樹脂積層体を作製することができる。
<本発明の感光性樹脂組積層体を用いたITO電極形成法>
以下、本発明の感光性樹脂積層体を用いたITO電極の形成方法(パターン形成)について説明する。
尚、本発明の感光性樹脂積層体はITO以外にも鉄系合金のエッチング(ケミカルミリング)に好適に用いることができる。鉄系合金としては、鉄−クロム−ニッケルなどの合金、42アロイ、SUSなどを挙げることができる。鉄系合金はリードフレームや電子機器躯体などに使用されうる。
(基材)
ITO膜とは、インジウムとスズの酸化物の薄膜で透明な電極として使用される。通常、スパッタや蒸着などの方法により、ガラス基材や透明樹脂基材たとえば、ポリエチレンテレフタレート(PET)やポリエチレンテレナフタレート(PEN)、ポリカーボネート(PC)に製膜される。膜厚は、20nm〜300nmが一般的で用途に応じて適宜調節される。またITOに類する透明電極として用いられる化合物としては、IZO、SnOなどが挙げられる。
(1)ラミネート工程
感光性樹脂組成物の保護層を剥がしながら、ラミネーターで感光性樹脂積層体の感光性樹脂層をガラス基板表面に加熱圧着しラミネートする。この時の加熱温度は一般的に40〜160℃である。また、該加熱圧着を二回以上行うことにより、得られるレジストパターンの基板に対する密着性が向上する。この時、圧着は二連のロールを備えた二段式ラミネーターを使用してもよいし、何回か繰り返してロールに通し圧着してもよい。
(2)露光工程
所望の配線パターンを有するマスクフィルムを支持体上に密着させ活性光源を用いて露光を施す。用いられる活性光線源としては、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、紫外線蛍光灯、カーボンアーク灯、キセノンランプなどが挙げられる。また、より微細なレジストパターンを得るためには平行光光源を用いるのがより好ましい。ゴミや異物の影響を極力少なくしたい場合には、フォトマスクを支持体上から数十um以上数百um以上浮かせた状態で露光(プロキシミティー露光)する場合もある。
(3)現像工程
露光後、感光性樹脂層上の支持体を剥離し、続いてアルカリ水溶液の現像液を用いて未露光部を現像除去してレジスト画像を得る。アルカリ水溶液としては、NaCO又はKCOの水溶液を用いる。アルカリ水溶液は、感光性樹脂層の特性に合わせて適宜選択されるが、約0.2〜2質量%の濃度、約20〜40℃のNaCO水溶液が一般的である。該アルカリ水溶液中には、表面活性剤、消泡剤、現像を促進させるための少量の有機溶剤などを混入させてもよい。基材への影響を考慮してテトラアンモニウムヒドロキシド(TMAH)水溶液などアミン系のアルカリ水溶液を用いることもできる。現像速度に応じて濃度を適宜選択することができる。
上記の各工程を経てレジストパターンを得ることができるが、場合により、さらに約100〜300℃の加熱工程を行うこともできる。この加熱工程を実施することにより、更なる耐薬品性向上が可能となる。加熱には熱風、赤外線、遠赤外線の方式の加熱炉を用いることができる。
(4)エッチング工程
現像により露出した基板のITO膜をエッチングする。通常30〜60℃の塩化第二銅―塩酸水溶液又は塩化第二鉄―塩酸水溶液等の酸性エッチング液を用いて、導体パターンを形成する。上記エッチング液以外にも、ITO膜や下地の種類に応じてシュウ酸水溶液を用いることもできる。
(5)剥離工程
その後、現像液よりも強いアルカリ性を有する水溶液を用いてレジストパターンを基板から剥離する。剥離用のアルカリ水溶液についても特に制限はないが、濃度約2〜5質量%、温度約40〜70℃のNaOH、KOHの水溶液が一般に用いられる。剥離液に、少量の水溶性溶媒を加えることもできる。
以下、本発明の実施形態の例を具体的に説明する。
(実施例1〜10、比較例1〜3)
まず、実施例及び比較例の評価用サンプルの作製方法を説明し、次いで、得られたサンプルについての評価方法及びその評価結果を示す。
1.評価サンプルの作製
実施例及び比較例における評価用サンプルは次の様にして作製した。
<感光性樹脂積層体の作製>
以下の表1に示す組成(但し、各成分の数字は固形分としての配合量(質量部)を示す。)の感光性樹脂組成物及び溶媒をよく攪拌、混合して感光性樹脂組成物調合液とし、支持体としての16μm厚のポリエチレンテレフタラートフィルムの表面にバーコーターを用いて均一に塗布し、95℃の乾燥機中で2.5分間乾燥して感光性樹脂層を形成した。感光性樹脂組成層の厚みは25μmであった。
次いで、感光性樹脂層のポリエチレンテレフタラートフィルムを積層していない表面上に、保護層として21μm厚のポリエチレンフィルムを張り合わせて感光性樹脂積層体を得た。
以下の表2に、表1中に略号で示した感光性樹脂組成物調合液中の材料成分の名称を示す。
Figure 2010134549
Figure 2010134549
比較例1は、(D)エポキシシラン化合物を含まない組成物であり、比較例2は、(E)チオール化合物を含まない組成物であり、そして比較例3は、(D)エポキシシラン化合物を過剰に含む組成物である。
<基板>
90nmのITO膜を積層した0.7mm厚のガラス基材(ジオマテック(株)製)を用意した。
<ラミネート>
感光性樹脂組成積層体のポリエチレンフィルムを剥がしながら、ホットロールラミネーター(大成ラミネーター(株)製、VA−400III )により、ロール温度110℃でラミネートした。エアー圧は0.40MPaとし、ラミネート速度は1.5m/minとした。
<露光>
クロムガラスフォトマスクを用いて、オーク製作所製高精度露光機EXM−1066−H−01(ghi線、23W、ギャップ露光方式 150um)により150mJ/cm2の露光量で露光した。なお、クロムガラスフォトマスクには、露光部と未露光部の幅が1:1の比率のラインパターンマスクを用いた。
<現像>
ポリエチレンテレフタラートフィルムを剥離した後、30℃の1質量%Na2CO水溶液を所定時間スプレーし、感光性樹脂層の未露光部分を溶解除去した。この際、未露光部分の感光性樹脂層が完全に溶解するのに要する最も少ない時間を最小現像時間をとし、その2倍の時間同条件で現像して硬化レジストパターンを作製した。
<エッチング>
上述の硬化レジストパターン付着ガラス基板を50℃に加熱した塩化第二鉄―塩酸水溶液(ADEKA(株)製、アデカケルミカITO−400)中に5分間浸漬してエッチング加工を行い、エッチング後のガラス基板を水洗洗浄した。
<剥離>
次いで、50℃に加熱した3質量%のNaOH水溶液中にエッチング後のガラス基板を3分間浸漬して硬化レジストパターンを剥離した。
2.評価方法
<密着性評価>
現像後に硬化レジストパターンのライン間幅を測定した。さらに、エッチング後の形成回路パターンのライン間幅を測定した。硬化レジストパターンのライン間幅とエッチング後の形成回路パターンのライン幅を比較し、サイドエッチ幅を算出した。サイドエッチ幅の値により、下記のようにランク分けした:
◎:サイドエッチ幅の値が8.5μm以下である;
○:サイドエッチ幅の値が8.5μmを超え12.0μm以下である;
×:サイドエッチ幅の値が12.0μmを超える。
<保存安定性評価>
感光性樹脂積層体からポリエチレンフィルムを剥がし、上記の露光量にて露光後15分経過した後、スペクトロメーター(日本電色工業(株)、NF333)を用いて、ポリエトレンテレフタラート側から露光部と未露光部のコントラストを測定した。また、温度23℃、湿度75%で3日間保存した同じ感光性樹脂積層体のコントラストを同手順で測定し、その差により下記のようにランク分けした:
◎:コントラストの差が0.8以下である;
○:コントラストの差が0.8を超え1.5以下である;
×:コントラストの差が1.5を超える。
3.評価結果
実施例1〜10、及び比較例1〜3の評価結果を表1に示す。
本発明は、フラットパネルディスプレイの表示材料に用いる、ガラス基材上のITO膜、SnO膜に対し、電極を形成する等のパターン形成に有用な感光性樹脂組成物、及び感光性樹脂積層体を提供することができ、フラットパネルディスプレイの表示材料等の製造においてITO電極形成を行う際に有用である。

Claims (12)

  1. (A)アルカリ可溶性樹脂40〜90質量%、(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物5〜50質量%、(C)光重合開始剤1〜20質量%、(D)エポキシシラン化合物0.001〜2.5質量%、及び(E)チオール化合物0.005〜1.0質量%を含む感光性樹脂組成物。
  2. 前記(E)チオール化合物が、下記一般式(I):
    Figure 2010134549
    {式中、Rは芳香族性を有する基である。}で表されるチオール化合物である、請求項1に記載の感光性樹脂組成物。
  3. 前記(E)一般式(I)で表されるチオール化合物が、該式中、Rが芳香族性を有する複素環化合物である、請求項2に記載の感光性樹脂組成物。
  4. 前記(E)一般式(I)で表されるチオール化合物が、下記一般式(II):
    Figure 2010134549
    {式中、Rは、SH、SROR及びNRからなる群から選ばれる一種の基であり、R及びRは、それぞれ独立に、H、炭素数1〜12のアルキル基、及びアリール基からなる群から選ばれる一種の基である。}で表される化合物である、請求項2に記載の感光性樹脂組成物。
  5. 前記(E)チオール化合物が、下記一般式(III):
    Figure 2010134549
    {式中、Rは、炭素数1〜3のアルキル基、炭素数1〜3のアルコキシ基、炭素数1〜3のアルキルチオ基、SH、及びNRからなる群から選ばれる一種の基であり、R及びRは、それぞれ独立に、H、炭素数1〜12のアルキル基、及びアリール基からなる群から選ばれる一種の基である。}で表される化合物である、請求項2に記載の感光性樹脂組成物。
  6. 前記(D)エポキシシラン化合物が、下記一般式(IV):
    Figure 2010134549
    {式中、Rは、炭素数1〜5のアルキル基であり、Aは、炭素数1〜4のアルキル基又は−(D−O)−であり、Dは、炭素数1〜3のアルキル基であり、nは、1〜5の整数であり、Bは下記一般式(V):
    Figure 2010134549
    で表される官能基を有する基である。}で表される化合物である、請求項1に記載の感光性樹脂組成物。
  7. 前記(A)アルカリ可溶性高分子対前記(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物の質量比が1.5〜1.8:1である、請求項1に記載の感光性樹脂組成物。
  8. 支持フィルム上に請求項1〜7のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂層が積層された感光性樹脂積層体。
  9. 請求項8に記載の感光性樹脂積層体を透明電極上にラミネートするラミネート工程、該積層体に露光を行う露光工程、及び該露光された積層体に現像を行う現像工程を含むことを特徴とするレジストパターン形成方法。
  10. 請求項9に記載のパターン形成方法で得られたレジストパターンに従って前記透明電極をエッチングすることを特徴とする電極の製造方法。
  11. 請求項8に記載の感光性樹脂積層体を鉄系合金上にラミネートするラミネート工程、該積層体に露光を行う露光工程、及び該露光された積層体に現像を行う現像工程を含むことを特徴とするレジストパターン形成方法。
  12. 請求項11に記載のパターン形成方法で得られたレジストパターンに従って前記鉄系合金をエッチングすることを特徴とする鉄系合金構造体の製造方法。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102875745B (zh) * 2011-07-14 2014-07-09 京东方科技集团股份有限公司 一种碱可溶性树脂和含有其的感光性树脂组合物及其应用
JP6230256B2 (ja) * 2013-04-09 2017-11-15 日本合成化学工業株式会社 アクリル系粘着剤、粘着シート、両面粘着シート、透明電極用粘着剤、タッチパネル及び画像表示装置、並びに粘着剤層含有積層体の製造方法
JP6486672B2 (ja) * 2013-12-20 2019-03-20 旭化成株式会社 感光性エレメント、及びその製造方法
TWI495956B (zh) * 2014-01-28 2015-08-11 Daxin Materials Corp 感光性樹脂組合物、電子元件及其製造方法
JP6361191B2 (ja) * 2014-03-14 2018-07-25 日立化成株式会社 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、レジストパターンの形成方法及びタッチパネルの製造方法
JP2016056323A (ja) * 2014-09-12 2016-04-21 住友化学株式会社 硬化性樹脂組成物
EP3085661B1 (en) * 2015-04-21 2017-12-27 JSR Corporation Method of producing microfluidic device
JP6520490B2 (ja) * 2015-07-08 2019-05-29 信越化学工業株式会社 パターン形成方法
WO2019142786A1 (ja) * 2018-01-18 2019-07-25 旭化成株式会社 感光性樹脂積層体およびその製造方法
CN113845611B (zh) * 2020-06-28 2024-04-19 常州强力先端电子材料有限公司 支链化改性树脂及包括其的光固化组合物
TWI797993B (zh) * 2022-02-16 2023-04-01 長春人造樹脂廠股份有限公司 光阻膜及其應用
CN116093175B (zh) * 2023-03-21 2023-11-03 泉州师范学院 一种大面积图案化锡金属栅线电极的常温制备方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4048791B2 (ja) * 2002-02-18 2008-02-20 Jsr株式会社 感放射線性樹脂組成物
CN1768306B (zh) * 2003-04-02 2011-12-14 日产化学工业株式会社 含有环氧化合物和羧酸化合物的光刻用形成下层膜的组合物
JP2005281624A (ja) * 2004-03-30 2005-10-13 Kyocera Chemical Corp 封止用樹脂組成物および半導体装置
WO2005101127A1 (ja) * 2004-04-15 2005-10-27 Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. レジスト組成物
JP4614858B2 (ja) * 2005-10-05 2011-01-19 旭化成イーマテリアルズ株式会社 感光性樹脂組成物およびその積層体
JP4888640B2 (ja) * 2006-03-14 2012-02-29 Jsr株式会社 感放射線性樹脂組成物および液晶表示素子用スペーサー
JP2007334290A (ja) * 2006-05-17 2007-12-27 Mitsubishi Chemicals Corp 保護膜用感光性熱硬化性組成物、カラーフィルタ、及び液晶表示装置
JP4986591B2 (ja) * 2006-12-04 2012-07-25 旭化成イーマテリアルズ株式会社 感光性樹脂組成物及びその用途
JP2009069465A (ja) * 2007-09-13 2009-04-02 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 感光性樹脂組成物
TW200919085A (en) * 2007-09-18 2009-05-01 Asahi Kasei Emd Corp Photosensitive resin composition and laminate thereof
JP4901687B2 (ja) * 2007-10-17 2012-03-21 日東電工株式会社 感光性樹脂組成物およびそれを用いて得られるカバー絶縁層を有するフレキシブルプリント配線回路基板

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