JPWO2009051246A1 - 光情報記録媒体再生装置および光情報記録媒体 - Google Patents
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Abstract
Description
3 光ピックアップ(光学系)
9a 制御部
9b テストリード制御部
71 記録マーク
100 光情報記録媒体
100a 超解像光情報記録媒体
100b 通常の光情報記録媒体
101 テストリード情報用領域
102 データ記録領域
まず、実施の形態に係る光情報記録媒体再生装置1について図1を参照して説明する。図1は上記光情報記録媒体再生装置1のテストリード機構を含む構成の一例を示す機能ブロック図である。光情報記録媒体再生装置1は、スピンドルモータ2、光ピックアップ3、レーザ制御回路4、サーボ機構5、信号検出回路6、信号処理回路7、エラー検出回路8、制御部9a、光情報記録媒体の装填を感知するセンサ10を備えている。光情報記録媒体再生装置1の特徴的構成であるテストリード制御部9bは制御部9aに備えられている。また、メモリ9cがテストリード制御部9bから利用可能な状態となっている。
次に、光情報記録媒体再生装置1が、再生する光情報記録媒体100について説明する。図2は、光情報記録媒体100の例示的な平面図である。同図に示すとおり、光情報記録媒体100は、内径穴103を有し、この内径穴103に対する径方向の直ぐ外方側にテストリード情報用領域101を有している。さらに、径方向の外方側にデータ記録領域102を有している。
次に、本発明に係るテストリード機構についての説明および、テストリードの必要性を述べる。テストリードとは、再生信号品質を最適にするための再生レーザパワーを設定するために、予め所定の再生レーザパワーによって、ジッタなどのテストリード用の情報を再生することによって、再生信号品質を評価する指標を測定するという過程を意味する。
次に、テストリード機構の動作手順について図1、図2および図3を用いて説明する。ここでは、光情報記録媒体再生装置1が再生しようとしている光情報記録媒体100は超解像光情報記録媒体100aであるものとする。また、図3はテストリードによる最適再生レーザパワー設定の動作についてのフローチャートである。
次に、本実施の形態に係る光情報記録媒体再生装置1で再生される超解像光情報記録媒体100aについて説明する。ここでは、超解像光情報記録媒体が示す再生信号品質の再生レーザパワーの依存性(再生レーザパワーマージン)が、超解像光情報記録媒体の構成により異なることを、ディスク#1〜3を用いて説明する。まず、これら超解像光情報記録媒体100aの基本構成を説明する。本実施例に係る超解像光情報記録媒体技術を用いた光情報記録媒体について説明する。なお、以下に示すディスク#1〜3は、前述の超解像光情報記録媒体100aの構成に準じているものとする。
図4は、ディスク#1に係る光情報記録媒体20の概略構成を示す断面図である。同図に示すとおり、ディスク#1は、透光層50と、薄膜部60と、基板70とを備え、再生光入射面からこの順に形成されている。透光層50は、ポリカーボネートフィルム(図示しない)(膜厚:80μm)と、透明粘着層(図示しない)(膜厚:20μm)とを備え、再生光入射面からこの順に形成されている。薄膜部60は、酸化亜鉛からなる再生層61(膜厚:111nm)と、Geからなる光吸収層62(膜厚:50nm)とを備え、再生光入射面からこの順に形成されている。基板70は、ポリオレフィン系樹脂で形成されている。
図5は、ディスク#2に係る光情報記録媒体30の概略構成を示す断面図である。同図に示すとおり、ディスク#2は、ディスク#1と同様な構成であるが、再生層61の膜厚は、ディスク#1の再生層61の膜厚よりも厚く、120nm以上に設定されている。
図6は、ディスク#3に係る光情報記録媒体40の概略構成を示す断面図である。同図に示すとおり、ディスク#3は、特許文献2に記載の超解像光情報記録媒体の構造に準じている。ディスク#3は、透光層50と、薄膜層状部80と、基板70とを備え、再生光入射面からこの順に形成されている。
次に、前述のフローチャートにおいて説明した、最適再生レーザパワーを設定する工程をディスク#1〜3に適用した場合について説明する。これら、ディスク#1〜3は前述のとおり、超解像光情報記録媒体である。
図8に示すディスク#2は、図に示されているとおり、ジッタが良好な値となる再生レーザパワー1.0mWから1.8mWにおいて、再生レーザパワーに対し強い依存性がある超解像光情報記録媒体の例である。つまり、ジッタが極小値となる再生レーザパワー1.6mW近傍に最適再生レーザパワーを設定する必要がある。このような超解像光情報記録媒体をテストリードする場合、上記設定法にて以下のようにして、最適再生レーザパワーを設定できる。
次に図8に示すディスク#1において最適再生レーザパワーを設定する実施例を説明する。再生レーザパワー0.4mWから0.8mWにおいては、ジッタの再生レーザパワーに対する依存性が見られず、再生レーザパワー1.0mW付近からジッタが急激に劣化する。超解像光情報記録媒体の場合、このように、ジッタが再生レーザパワーに対して変化する媒体が存在する。このような超解像光情報記録媒体を良好な再生信号品質のもとで再生するには、再生レーザパワーマージンを確保する必要がある。また、再生レーザパワー0.4mWから0.8mWの間で最適再生レーザパワーを設定する必要がある。このような超解像光情報記録媒体をテストリードする場合、例えば以下のようにして、最適再生レーザパワーを設定できる。
次に図8に示すディスク#3において最適再生レーザパワーを設定する場合について説明する。
また、これらのテストリード情報は、テストリード情報用領域101の領域に、光情報記録媒体再生装置1がもつ光学系解像限界より長い記録マークで形成されることが好ましい。これらの記録マークは基板70成型時にそのテストリード情報用領域101に形成される。この記録マークはピット、ウオブル等を用いられて形成される。ピットで形成される場合は、光情報記録媒体再生装置がもつ光学系解像限界より長い記録マークを含む複数のピットが所定の方式に従って配置されることにより、テストリード情報が形成される。
(1) 規則的に長さが異なり、再生装置がもつ光学系解像限界より短いマークを含む複数のマークが所定の方式に従って配置されることによりコンテンツ情報が記録され、かつ上記コンテンツの再生用の推奨再生レーザパワー情報および/またはテストリード開始パワー情報と推奨スキャン間隔情報が記録されている超解像光情報記録媒体を再生する再生装置であって、上記情報記録媒体を再生する際に、上記推奨再生レーザパワー情報またはテストリード開始パワー情報、推奨スキャン間隔に基づいてテストリードを行い再生レーザパワーを決定する機構をもつ事を特徴とする再生装置。
上記テストリード情報用領域を形成するマークは、上記再生装置がもつ光学系解像限界以上の長さで形成されていることを特徴とする超解像光情報記録媒体。
上記テストリード情報用領域を形成するマークは、上記再生装置がもつ光学系解像限界以上の長さで形成されていることを特徴とする超解像光情報記録媒体。
Claims (9)
- 規則的に長さが異なり、再生装置がもつ光学系解像限界より短いマークを含む複数のマークが所定の方式に従って配置されることによって情報が記録された光情報記録媒体を再生する光情報記録媒体再生装置において、
レーザ光の照射によって、当該光情報記録媒体の再生品質に関する指標を計測するテストリードを実行し、計測した指標に基づき、再生レーザパワーを設定し、
上記テストリードを、再生レーザパワーを所定の初期値から変動させながら行う光情報記録媒体再生装置。 - 規則的に長さが異なり、再生装置がもつ光学系解像限界より短いマークを含む複数のマークが所定の方式に従って配置されることによって情報が記録された光情報記録媒体を再生する光情報記録媒体再生装置において、
レーザ光の照射によって、当該光情報記録媒体の再生品質に関する指標を計測するテストリードを実行し、計測した指標に基づき、再生レーザパワーを設定し、
上記テストリードを、再生レーザパワーを所定の初期値から所定の変動幅で変動させながら行う光情報記録媒体再生装置。 - 請求項1または2に記載の光情報記録媒体再生装置が再生可能な光情報記録媒体であって、
上記テストリードを行うための情報であるテストリード情報が、上記光情報記録媒体再生装置がもつ光学系解像限界より長い長さのマークのみによって形成されているテストリード用情報領域を含む光情報記録媒体。 - 請求項3に記載の光情報記録媒体であって、
規則的に長さが異なり、上記光情報記録媒体再生装置がもつ光学系解像限界より短いマークを含む複数のマークが所定の方式に従って形成することが可能なデータ記録領域を含む光情報記録媒体。 - 上記変動では、再生レーザパワーを増加させる請求項1に記載の光情報記録媒体再生装置。
- 上記変動では、再生レーザパワーを減少させる請求項1に記載の光情報記録媒体再生装置。
- 上記変動では、再生レーザパワーの増加と、減少とを交互に行う請求項1に記載の光情報記録媒体再生装置。
- 上記所定の初期値は、上記光情報記録媒体製造時に上記光情報記録媒体に記録されている値である請求項1または2に記載の光情報記録媒体再生装置。
- 上記所定の変動幅は、上記光情報記録媒体製造時に上記光情報記録媒体に記録されている変動幅である請求項2に記載の光情報記録媒体再生装置。
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