CN111755033B

CN111755033B - 再生装置

Info

Publication number: CN111755033B
Application number: CN202010556982.8A
Authority: CN
Inventors: 田岛秀春; 山本真树; 山田博久; 中峻之; 小西正人
Original assignee: Sharp Corp; Memory Tech Holding Inc
Current assignee: Sharp Corp; Memory Tech Holding Inc
Priority date: 2013-07-16
Filing date: 2014-04-08
Publication date: 2021-09-21
Anticipated expiration: 2034-04-08
Also published as: US9978416B2; US20190130941A1; CN111755033A; EP3023986A4; US20180018998A1; JP6462933B2; US20160155469A1; EP3023986A1; JP6538957B2; EP3872810A1; CN111755032A; JP2018139166A; CN105474316A; US20180240498A1; JP6326049B2; JP2019067482A; JP6470445B2; WO2015008514A1; US10192581B2; US20170186462A1

Abstract

再生装置(100)具备：向作为超分辨率介质的光盘(1)照射再生光的光拾取器(6)；将反射光变换为再生信号的RF信号处理电路(9)；对再生信号的质量进行评价的i‑MLSE检测部(141)；和利用再生信号的质量评价结果来校正球面像差的球面像差校正部(142)。

Description

再生装置

本申请是2014年4月8日向中国国家知识产权局提出的题为“再生装置”的申请No.201480039922.1的分案申请。

技术领域

本发明涉及能够进行信息再生的再生装置。

背景技术

在作为光学式记录介质的光盘中，为了保护其记录面，形成有给定厚度的透射基板以覆盖所述记录面。作为信息读取单元的光拾取器，根据经由该透射基板而向所述记录面照射了读取射束光时的反射光量，从该光盘进行记录信息的读取。

但是，在制造上，难以将所有光盘的透射基板的厚度均形成为规定值以内，通常会产生几μm的厚度误差。因此，由于该透射基板的厚度误差而会产生球面像差。若产生了球面像差，则有时信息读取信号以及/或者跟踪误差信号的振幅水平会显著下降，存在使信息读取精度降低的问题。也就是说，若更换光盘，则所述透射基板的厚度会变化，因此所述球面像差变化，若不进行处理则存在使信息读取精度降低的问题。

因此，为了提高信息的再生精度，需要对所述球面像差进行校正。例如在专利文献1中公开了对这样的球面像差进行校正的技术。在专利文献1的技术中，对所述球面像差进行校正，以使得RF(Radio Frequency；射频)信号的振幅最大。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本公开专利公报“特开2004-145987号公报(2004年5月20日公开)”

发明内容

发明所要解决的课题

近年，在光信息记录介质中，为了进行图像等的庞大信息的处理，越来越要求增加信息记录容量。作为其解决方法，有利用作为再生时的信息处理提高技术之一的超分辨率技术的方法。

超分辨率技术是指：再生比再生装置所具有的光学系统分辨率限度(由激光波长以及光学系统的数值孔径所决定的限度)短的标记长度的信号的技术。由此，能够实现使用了更小的标记长度的记录，因此实质上的记录密度得以增加。这是由于在高密度化时成为问题的是再生技术而不是记录技术。此外，在将再生装置所射出的再生光的波长设为λ、将物镜的数值孔径设为NA的情况下，光学系统分辨率限度为λ/4NA。

但是，在如专利文献1那样对球面像差进行校正以使得RF信号的振幅最大，并且对能够通过上述超分辨率技术再生的光信息记录介质(超分辨率介质)中记录的信息进行了再生的情况下，根据所形成的坑点的形状，有可能无法获得充分的信号特性。即，根据由再生光照射到超分辨率介质而产生的反射光的光量(反射光量、返回光量)成为最大时获得的球面像差校正值来校正球面像差，并且进行了超分辨率介质中记录的信息的再生的情况下，根据所形成的坑点的形状，信息再生的可靠性有可能下降。这样，由本申请的发明者们发现了：根据超分辨率介质中形成的坑点的形状，有可能无法获得充分的信号特性。

本发明鉴于上述问题点而实现，其目的在于实现一种再生装置，能够高精度地再生在不特定的多个超分辨率介质中记录的信息。

用于解决课题的手段

为了解决上述课题，本发明的一方式所涉及的再生装置，能够从通过包含比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点在内的坑点组而记录了内容的光信息记录介质之中再生该内容，上述再生装置具备：

照射部，其向上述光信息记录介质照射再生光；

变换部，其将由上述照射部照射到上述光信息记录介质的上述再生光在该光信息记录介质中进行反射而产生的反射光，变换为表示上述内容的再生信号；

信号质量评价部，其对由上述变换部变换而得到的上述再生信号的质量进行评价；和

球面像差校正部，其利用由上述信号质量评价部评价而得到的上述再生信号的质量评价结果，来校正在上述照射部中产生的球面像差。

进而，为了解决上述课题，本发明的一方式所涉及的再生装置，能够通过经由数值孔径为0.85的物镜向光信息记录介质照射波长为405nm的再生光来对内容进行再生，上述光信息记录介质从再生光的入射侧起依次配置有：具有该再生光所入射的入射面的透光层；用于反射再生光来再生信息的信息记录层；和在扫描方向上设置有包含长度比作为再生装置所具有的光学系统分辨率限度的119nm短的坑点在内的坑点组的基板，并且，上述光信息记录介质通过该坑点组而在上述信息记录层中记录有上述内容，上述再生装置具备：

照射部，其向上述光信息记录介质照射再生光；

进而，为了解决上述课题，本发明的一方式所涉及的再生装置，能够从光信息记录介质之中对内容进行再生，上述光信息记录介质具有通过第1坑点组而记录了上述内容的第1区域、和通过第2坑点组而记录了用于识别自身的介质的种类的介质识别信息的第2区域，上述第1坑点组包含比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点，上述第2坑点组由再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度以上的坑点构成，上述再生装置具备：

第1球面像差校正部，其在对上述第1区域中记录的上述内容进行再生时，利用表示该内容的再生信号的质量评价结果，来校正在向上述光信息记录介质照射再生光的照射部中产生的球面像差；和

第2球面像差校正部，其在对上述第2区域中记录的上述介质识别信息进行再生时，通过与上述第1球面像差校正部不同的处理，来校正在上述照射部中产生的球面像差。

发明效果

根据本发明的一方式，具有能够高精度地再生在不特定的多个超分辨率介质中记录的信息的效果。

附图说明

图1是表示本发明的实施方式1所涉及的再生装置的简要构成的功能框图。

图2是表示本发明的实施方式1所涉及的再生装置中针对光盘的再生动作的处理的流程的一例的图。

图3是例示图2所示的处理(校正球面像差的处理)的详细情况的图。

图4是本发明的实施方式1所涉及的光盘的剖视图。

图5是表示在本发明的实施方式1所涉及的光盘的基板上形成的预制坑点的俯视图。

图6(a)以及图6(b)是分别表示针对与本发明的实施方式1所涉及的光盘同样的两个不同的光盘的证实试验的结果的图。

图7是表示本发明的实施方式2所涉及的再生装置的简要构成的功能框图。

图8是表示本发明的实施方式3所涉及的光盘的外观的立体图。

图9是表示图9所示的光盘的一部分的详细情况的俯视图。

图10是表示本发明的实施方式3所涉及的再生装置的简要构成的功能框图。

图11是表示本发明的实施方式3所涉及的再生装置中针对光盘的再生动作的处理的流程的一例的图。

图12是表示本发明的实施方式4所涉及的再生装置的简要构成的功能框图。

图13是表示本发明的实施方式5所涉及的光盘的外观的立体图。

图14是表示图13所示的光盘的BCA(Burst Cutting Area；突发切割区域)记录区域中形成的条纹的一例的示意图。

图15是表示本发明的实施方式5所涉及的再生装置的简要构成的功能框图。

图16是表示本发明的实施方式5所涉及的再生装置中针对光盘的再生动作的处理的流程的一例的图。

具体实施方式

〔实施方式1〕

以下，基于图1～图6，对本发明的一实施方式进行说明。此外，在实施方式1以及后述的实施方式2～5中，内容是指用户要利用的信息，具体而言，可列举照片等静止图像、电影等运动图像、程序等。

<再生装置的构成>

图1是表示使光盘1进行再生的再生装置100的简要构成的功能框图。再生装置100具备：光拾取器6(照射部)、主轴电动机7、聚焦/跟踪处理电路8、RF(Radio Frequency；射频)信号处理电路9(变换部)、聚焦/跟踪驱动电路10、焦点偏移附加电路12、控制部14以及存储器15。

光盘1是通过包含比再生装置100(或者能够使该光盘1进行再生的再生装置)所具有的光学系统分辨率限度短的坑点(Pit)在内的坑点组而记录了信息(内容等)的再生专用的光信息记录介质(参照后述的图4)。关于光盘1的构成在后面描述。光盘1被主轴电动机7旋转驱动。

光拾取器6为了对光盘1中记录的内容进行再生而向光盘1照射作为再生光的激光束光(光束)。光拾取器6具备：半导体激光器61、准直透镜62、分束器63、λ/4板64、聚光透镜67、光检测器68、球面像差校正光学系统650、球面像差校正光学系统用驱动机构651、物镜660、以及聚焦/跟踪执行元件661。

半导体激光器61射出具有给定光强度(再生功率)的激光束光。从半导体激光器61射出的激光束光通过准直透镜62、分束器63以及λ/4板64而入射至球面像差校正光学系统650。

准直透镜62形成平行光。分束器63将该平行光分配为透射光和反射光。λ/4板64使该透射光的波长位移1/4波长的量。

球面像差校正光学系统650具有对伴随于光盘1的透光层4(透射基板、覆盖层)的厚度误差的球面像差进行校正的功能。球面像差校正光学系统650例如是由凹透镜650a和凸透镜650b的对所构成的射束放大型的中继透镜，通常被构成为射出使入射的平行光的射束直径放大后的平行光。通过使凹透镜650a与凸透镜650b之间的透镜间隔变化，从而入射至物镜660的平行光被变换为发散光或者会聚光，由此调整在物镜660中产生的球面像差。

球面像差校正光学系统用驱动机构651对凹透镜650a与凸透镜650b之间的透镜间隔进行调整。通过球面像差校正光学系统用驱动机构651，能够使球面像差校正光学系统650发挥功能而校正光盘1的透光层4的厚度的偏差所引起的球面像差。

物镜660使来自球面像差校正光学系统650的激光束光聚光在光盘1所形成的信息记录层3(参照后述的图4)上。然后，光盘1对激光束光进行反射而产生的反射光由光检测器68来检测。

光检测器68将接受的反射光变换为与反射光的光强度相应的电信号。然后，光检测器68分别向聚焦/跟踪处理电路8以及RF信号处理电路9提供该电信号。

聚焦/跟踪处理电路8生成聚焦误差信号(Focus Error Signal，FES)和跟踪误差信号(Tracking Error Signal，TES)，并赋予给聚焦/跟踪驱动电路10。

聚焦/跟踪驱动电路10基于FES信号来生成焦点驱动信号。并且，聚焦/跟踪驱动电路10驱动聚焦/跟踪执行元件661，以使物镜660进行在光盘1的盘面的垂直方向上位移的聚焦动作。

另外，聚焦/跟踪驱动电路10基于TES信号来生成跟踪驱动信号。并且，聚焦/跟踪驱动电路10驱动聚焦/跟踪执行元件661，以使物镜660进行在光盘1的半径方向(跟踪方向)上位移的跟踪动作。

此外，作为聚焦误差信号的检测方法，可采用公知的像散法、刀口法，光斑尺寸检测法等方法。另外，作为跟踪错误检测方法，可采用公知的推挽法、DPP(DifferentialPush-Pull；差动推挽)法、DPD(Differential Phase Detection；差分相位检测)法等方法。

RF信号处理电路9将由光拾取器6照射到光盘1的再生光在光盘1中反射而产生的反射光，变换为表示信息(内容)的再生信号(RF信号)。变换得到的再生信号被输出到控制部14(特别是i-MLSE(Integrated-Maximum Likelihood Sequence Estimation；综合最大似然序列估计)检测部141)。

控制部14进行光拾取器6的控制、主轴电动机7的控制、以及各伺服系统的控制。例如，在光盘1被装载(填装)于再生装置100时，控制部14通过控制主轴电动机7，从而使光盘1在线速度恒定或者转速恒定等动作条件下被旋转驱动。

另外，控制部14具有各评价指标(i-MLSE、RF信号的振幅、以及抖动等)的运算处理等的功能。另外，控制部14进行对于存储器15中保存的球面像差校正值的读出、以及写入(保存)。在存储器15中保存了再生装置100的各初始设定值。

控制部14在结束了光盘1的旋转、半导体激光器61的点亮等的事先处理后，控制聚焦/跟踪驱动电路10，使其开始聚焦控制。此时，通过实施相位补偿等适当的处理而生成的FES信号被从聚焦/跟踪处理电路8赋予给聚焦/跟踪驱动电路10，由此进行聚焦/跟踪驱动电路10中的聚焦控制。

另外，控制部14通过控制焦点偏移附加电路12而使其进行聚焦控制的偏移调整。通过对伺服控制环路附加偏移，由此来调整光盘1中的射束斑点的聚焦状态。

另外，控制部14控制聚焦/跟踪驱动电路10，使其开始跟踪控制。此时，通过实施相位补偿等适当的处理而生成的TES信号被从聚焦/跟踪处理电路8赋予给聚焦/跟踪驱动电路10，由此进行聚焦/跟踪驱动电路10中的跟踪控制。

另外，控制部14对聚焦/跟踪驱动电路10赋予轨道跃变信号。由此，从聚焦/跟踪驱动电路10向聚焦/跟踪执行元件661中设置的跟踪线圈(未图示)输出轨道跃变驱动信号，进行轨道跃变控制。此外，聚焦控制、跟踪控制以及轨道跃变控制可以根据公知的适当方法来进行。

另外，控制部14具备i-MLSE检测部141(信号质量评价部)以及球面像差校正部142。在RF信号处理电路9中，来自光盘1所形成的信息记录层3的反射光被变换为电信号。并且，在RF信号处理电路9中，电信号被实施适合i-MLSE检测部141中的各种运算的处理(电信号的大小的调整以及AD变换等)，从而被变换为再生信号。RF信号处理电路9将该再生信号赋予给i-MLSE检测部141。i-MLSE检测部141以及球面像差校正部142的详细动作在后面描述。

此外，在再生装置100中，分别设定了从半导体激光器61射出的再生光的波长为405nm，光拾取器6所设置的光学系统的开口率(物镜660的数值孔径)(NumericalAperture，NA)为0.85。但是，也可根据光盘1的种类而适当设定除此之外的波长以及开口率。

<再生装置中的处理>

图2是表示再生装置100中针对光盘1的再生动作的处理(控制方法、再生方法)的流程的一例的流程图。

首先，光盘1被装载于再生装置100(处理S1)。然后，再生装置100的控制部14通过在内部设置的传感器(未图示)来辨识光盘1被装载这一情况。

接着，控制部14在确认了光盘1的装载之后，控制主轴电动机7而使其旋转(处理S2)。由此，光盘1在线速度恒定或者转速恒定等动作条件下被旋转驱动。然后，控制部14基于存储器15中记录的各初始设定值，进行再生装置100的各种设定。

接着，控制部14控制聚焦/跟踪驱动电路10，使物镜660聚焦到记录了应再生的信息的光盘1的信息记录层3(处理S3)。然后，控制部14控制聚焦/跟踪驱动电路10，使物镜660进行跟踪(处理S4)。即，在处理S3以及S4中，从光拾取器6向光盘1照射再生光(照射步骤)，其结果，生成基于所产生的反射光的再生信号(变换步骤)。

接着，控制部14以表示信号质量的指标(i-MLSE)为基准来校正球面像差(处理S5；信号质量评价步骤、球面像差校正步骤)。然后，控制部14利用在处理S5中决定的球面像差校正值，开始再生在光盘1中记录的信息(处理S6)。关于处理S5的详细情况，参照图3在以下进行详述。

(校正球面像差的处理的流程)

图3是例示图2所示的处理S5(校正球面像差的处理)的详细情况的流程图。以下，说明从RF信号处理电路9向控制部14所设置的i-MLSE检测部141赋予了再生信号之后的处理。

i-MLSE检测部141基于来自RF信号处理电路9的再生信号，检测与当前设定的球面像差校正值相应的i-MLSE的值(处理S11)。并且，此后，i-MLSE检测部141将检测出的i-MLSE的值与上述设定的球面像差校正值建立对应地保存到存储器15中。

此外，i-MLSE是针对高密度的记录信息的再生信号的信号特性的评价指标之一。i-MLSE的值越小，意味着再生信号的信号特性越良好。i-MLSE也可以说成是与作为现有的评价指标的抖动类似的评价指标。

另外，球面像差校正值表示用于对因球面像差而产生了位置偏离的光学系统的焦点位置进行校正的量。例如，若球面像差校正值为1μm(-1μm)，则校正光学系统，使得光学系统的焦点向半导体激光器61靠近1μm(从半导体激光器61远离1μm)。

接着，i-MLSE检测部141确认是否检测了给定次数(例如8次)以上的i-MLSE的值(处理S12)。在此，给定次数是指：在再生装置100中能利用的球面像差校正值的范围内，作为用于检测i-MLSE的值的反复处理的次数而在控制部14中预先设定的值。

在i-MLSE检测部141检测了i-MLSE的值的次数小于给定次数的情况下(处理S12中为否)，i-MLSE检测部141向球面像差校正部142赋予指令。然后，球面像差校正部142根据该指令而使球面像差校正值变化，来控制球面像差校正光学系统用驱动机构651(处理S13)。然后，球面像差校正部142将变化后的球面像差校正值保存到存储器15中。

在此，球面像差校正值的变化可以按给定过程来进行。例如，考虑在再生装置100中能利用的球面像差校正值的范围为-4μm以上且3μm以上的情况。

在球面像差校正值的初始设定值被设定为-4μm的情况下，按每1次的i-MLSE的检测而使球面像差校正值各增加1μm(-4μm→-3μm→…→2μm→3μm)即可。另一方面，在球面像差校正值的初始设定值被设定为3μm的情况下，可以按每1次的i-MLSE的检测而使球面像差校正值各减少1μm(3μm→2μm→…→-3μm→-4μm)。由此，在上述的给定次数(8次)的条件下，在再生装置100中能利用的球面像差校正值的范围内，检测出多个i-MLSE的值。

此外，球面像差校正值的初始设定值被预先保存在存储器15中。球面像差校正值的初始设定值及其可取的范围可以根据再生装置100以及光盘1的规格来适当设定。并且，i-MLSE检测部141反复执行上述的处理S11～S13，直至将i-MLSE的值检测了给定次数以上为止。由此，与各个球面像差校正值对应的i-MLSE的值被保存到存储器15中。

在i-MLSE检测部141将i-MLSE的值检测了给定次数以上的情况下(在处理S12中为是)，i-MLSE检测部141对检测出的i-MLSE的所有值进行比较(处理S14)。然后，i-MLSE检测部141确定i-MLSE的最小值(处理S15)。

i-MLSE检测部141将与i-MLSE的最小值对应的球面像差校正值从存储器15读出，来决定在信息再生中应使用的球面像差校正值(处理S16)。然后，球面像差校正部142接受来自i-MLSE检测部141的指令，根据该球面像差校正值来控制球面像差校正光学系统用驱动机构651，从而校正球面像差(球面像差校正步骤)。

通过上述的处理S1～S6、以及处理S11～S16(信号质量评价步骤)，再生装置100通过由i-MLSE检测部141检测i-MLSE来对再生信号的质量进行评价，从而能够利用i-MLSE的值最小时的球面像差校正值来使光盘1进行再生。

此外，在本实施方式中，例示了i-MLSE检测部141以及球面像差校正部142设置在控制部14的内部的构成。但是，i-MLSE检测部141以及球面像差校正部142的构成并不限定于此，也可以构成为设置在控制部14的外部而与控制部14联动。

<光盘的构成>

本申请的发明者们针对具有与光盘1同样的构成的2种光盘A以及光盘B进行了证实本实施方式的效果的试验。在此，在说明证实试验之前，参照图4以及图5来说明光盘1的构成。

图4是光盘1的剖视图。光盘1被构成为在基板2上依次层叠信息记录层(功能层)3以及透光层4。换而言之，光盘1从再生光的入射侧起依次设置了透光层4、信息记录层3、基板2。光盘1是包含比光学系统分辨率限度短的长度的标记(记录标记)或者间隙的超分辨率介质。

基板2由聚碳酸酯形成。在基板2的信息记录层3侧的面(信息记录面)上，形成有由与记录的信息相应的形状的凹以及/或者凸构成的坑点组。

信息记录层3是记录了信息的层，是沿着基板2的信息记录面的凹以及/或者凸而形成的薄膜。信息记录层3是使得能够进行超分辨率再生的功能层。信息记录层3是用于反射再生光来对信息进行再生的层，具体而言，是厚度为12nm的Ta薄膜的层。

透光层4由厚度为100μm的紫外线固化树脂(再生光波长λ＝405nm下的折射率为1.50)形成。透光层4具有再生光所入射的入射面，对信息记录层3以及基板2的信息记录面进行保护。

图5是表示在光盘1的基板2上形成的坑点的俯视图。所记录的信息按照例如(1，7)RLL(Run Length Limited；行程长度受限)调制方式，作为多个长度(D2T～D8T)的标记以及间隙而记录于光盘1。

在此，光盘1中形成的坑点表示标记，沿着轨道的坑点彼此的间隔表示间隙。具有多个长度的标记以及间隙之中的最小标记长度(D2T)与最小间隙长度的平均长度，在再生装置100的扫描方向上被设定为比光学系统分辨率限度(119nm)短的112nm。在此，最小标记长度以及最小间隙长度均为D2T。

此外，坑点的轨道间距TpD与通常的BD(Blu-ray(注册商标)disc)-ROM相同，为0.32μm。在光盘1中，与通常的BD-ROM(在

盘中为25GB(非超分辨率介质))的最小标记长度(149nm)相比，最小标记长度(112nm)更短，能够较密地记录信息。因此，光盘1在

盘中，能够记录约33.3GB的信息。

此外，在光盘1所记录的信息中，可以将表示再生位置的信息作为地址信息来包含。关于该情况下的处理，在后述的实施方式2中进行说明。

另外，上述光盘1的上述构造仅表示了一例。即，信息记录层3也可被设置多层，各层的厚度等可以根据例如所设置的层数来适当变更。

<证实试验>

本申请的发明者们分别对光盘A以及光盘B进行了基于以下的(试验1)以及(试验2)的证实试验。在此，光盘A以及光盘B具有与图4所示的光盘1同样的构造，只是用于形成坑点的切割条件不同。即，在光盘A以及光盘B中，坑点的形状不同。

(试验1)使球面像差校正值变化来测定了光盘A以及光盘B的i--MLSE。

即，利用BD用评价机(Pulstec工业株式会社制的DDU-1000/再生光学系统：再生光波长(λ)为405nm、数值孔径(NA)为0.85)、Pulstec工业株式会社制的BD评价用信号检测器(SD3)，将再生功率固定为1.0mW、再生速度固定为7.38m/s，并在将与透光层的厚度100μm相当的球面像差校正的设定值(球面像差校正值的初始值)设为0μm之后，使球面像差校正值变化来测定了i-MLSE。

(试验2)使球面像差校正值变化来测定了光盘A以及光盘B的RF信号的振幅。试验中使用的设备以及试验条件与上述的(试验1)相同。

<试验结果>

以下，参照图6(a)以及图6(b)，对光盘A以及光盘B的证实试验的结果进行说明。

图6(b)是分别表示作为针对光盘B的证实试验的结果而获得的、(i)球面像差校正值与i-MLSE的关系、以及(ii)球面像差校正值与RF信号的振幅的关系的图表。在图6(b)中，i-MLSE为最小时的球面像差校正值与RF信号的振幅为最大时的球面像差校正值一致。

如图6(b)所示，在包含比光学系统分辨率限度的长度短的坑点在内的坑点组中记录了信息的再生专用的光盘(作为超分辨率介质的光盘B)中，也与在仅由比光学系统分辨率限度的长度长的坑点构成的坑点组中记录了信息的再生专用的光盘(作为非超分辨率介质的现有的光盘)同样，i-MLSE为最小(即，信号质量最佳)时的球面像差校正值(新基准校正值)与RF信号的振幅为最大时的球面像差校正值(现有基准校正值)一致的情况居多。

在此，超分辨率介质是指通过超分辨率技术来再生信息的光信息记录介质。另一方面，非超分辨率介质是不利用超分辨率技术来再生信息(不能实现利用了超分辨率技术的信息再生)的非超分辨率区域。

另一方面，图6(a)是分别表示作为针对光盘A的证实试验的结果而获得的、(i)球面像差校正值与i-MLSE的关系、以及(ii)球面像差校正值与RF信号的振幅的关系的图表。在图6(a)中，i-MLSE为最小时的球面像差校正值与RF信号的振幅为最大时的球面像差校正值并不一致。

如图6(a)所示，在包含比光学系统分辨率限度的长度短的坑点在内的坑点组中记录信息的再生专用的光盘(作为超分辨率介质的光盘A)中，根据坑点形状，存在i-MLSE为最小(即，信号质量最佳)时的球面像差校正值与RF信号的振幅为最大时的球面像差校正值差异较大的情况。

<效果>

一般而言，在i-MLSE＞15.5％的情况下，光盘再生系统(再生装置)会丧失可靠性。但是，在光盘A中，在RF信号的振幅为最大时的球面像差校正值下，i-MLSE的值成为18％程度的大小。

因此，在以RF信号的振幅为基准来决定球面像差校正值的现有的再生装置中，有时针对超分辨率介质(例如，光盘A)不能进行可靠性高的信息再生，即，超分辨率介质不能以本来具有的信号质量来进行再生。

另一方面，本实施方式的再生装置100以表示信号质量的指标(i-MLSE的值)自身为基准来决定球面像差校正值。具体而言，在由再生装置100执行的光盘A的再生中，i-MLSE的值为14％程度的大小。另外，在由再生装置100执行的光盘B的再生中，i-MLSE的值为10％程度的大小。

即，根据再生装置100，能够使作为超分辨率介质的光盘1自身以本来具有的信号质量来进行信息再生。因此，具有对于光盘A以及光盘B的任一者都能提高再生的可靠性的效果。

更具体而言，再生装置100具备：对由RF信号处理电路9变换得到的再生信号的质量进行评价的i-MLSE检测部141；和利用由i-MLSE检测部141评价得到的再生信号的质量评价结果(i-MLSE的值)来校正在光拾取器6中产生的球面像差的球面像差校正部142。

现有的再生装置与本实施方式的再生装置100不同，不是利用i-MLSE的值为最小时的球面像差校正值，而是利用RF信号的振幅(反射率)为最大时的球面像差校正值，使光盘1进行了再生。即，现有的再生装置利用在向各层的层跃变时也被利用的RF信号振幅检测器，使球面像差校正值变化，将RF信号的振幅为最大的球面像差校正值选择为在信息再生中应使用的球面像差校正值。

这是由于：关于再生信号的信号特性，本领域技术人员作为常识而认识到的是，由光信息记录介质的反射率引起的返回光与再生装置接受的光的量成比例；以及若进行基于其他方法的球面像差校正则成本会增大。但是，如上所述可知，在超分辨率介质中，根据其坑点形状的差异，超分辨率介质不能以本来具有的信号质量进行再生。

因此，再生装置100具备i-MLSE检测部141以及球面像差校正部142，由此与利用RF信号的振幅进行球面像差的校正的情况不同，能够高精度地对不特定的多个超分辨率介质中记录的内容等的信息进行再生。

另外，本实施方式的再生装置100与后述的实施方式2的再生装置200相比，具有能够在更少的光盘1的再生范围(即，更少的总体参数)的情况下决定适当的球面像差校正值的效果。

另外，还考虑作为表示信号质量的指标而使用抖动的值的构成。但是，在抖动的检测中，无法正确评价包含比光学系统分辨率限度短的长度的坑点在内的坑点组的信号质量，因此为了决定适当的球面像差校正值，需要较多的附加构成物(功能)。

另一方面，再生装置100作为表示信号质量的指标而使用了i-MLSE的值，因此与作为表示信号质量的指标而使用抖动的值的构成相比，具有能够实现构成物的削减以及成本的降低的优点。

〔实施方式2〕

关于本发明的另一实施方式，基于图7进行如下说明。此外，为了便于说明，对于与前述实施方式中说明的部件具有相同功能的部件，标注相同符号，并省略其说明。

<再生装置的构成>

图7是表示本实施方式的再生装置200的简要构成的功能框图。本实施方式的再生装置200具有由控制部24置换了实施方式1的再生装置100所具备的控制部14而得到的构成。此外，本实施方式的再生装置200所具有的其他部件与实施方式1的再生装置100所具有的各部件相同，因此标注相同符号，并省略其说明。

控制部24具备错误率检测部241(信号质量评价部、地址信息错误检测部)以及球面像差校正部142。本实施方式的控制部24具有由错误率检测部241置换了实施方式1的控制部14所具备的i-MLSE检测部141而得到的构成。

对错误率检测部241赋予来自RF信号处理电路9的再生信号。然后，错误率检测部241从该再生信号中提取表示再生位置的地址信息(已知)。

错误率检测部241根据地址信息来检测错误率。错误率检测部241例如根据地址信息来算出比特错误率(Bit Error Rate，bER)，将该bER作为错误率来检测。

bER是将对光盘1中记录的坑点进行再生时得到的再生信号解码的结果所包含的错误比特数Ne相对于总解码比特数Nt的比率，表示为bER＝Ne/Nt。

此外，错误率检测部241所利用的信息也可以不是地址信息，只要是已知的信息即可。

错误率检测部241与上述的处理S11～S16同样地决定错误率(质量评价结果)为最小时的球面像差校正值。然后，再生装置200与上述的处理S6同样地开始光盘1的信息再生。

<效果>

再生装置200具备对再生信号中包含的地址信息的错误率进行检测来评价再生信号的质量的错误率检测部241，由此以错误率为基准来决定球面像差校正值。即，再生装置200作为表示信号质量的指标而使用了错误率。

因此，根据本实施方式的再生装置200，与本实施方式1的再生装置100(将i-MLSE的值用作表示信号质量的指标的构成)同样，能够使作为超分辨率介质的光盘1自身以本来具有的信号质量来进行信息再生。因此，具有针对上述的光盘A以及光盘B的任一者都能提高再生的可靠性的效果。即，能够高精度地再生在不特定的多个超分辨率介质中记录的内容等的信息。

另外，由于需要确定光盘1的通常的再生位置(记录了内容等用户数据的位置之中成为再生对象的位置)，因此在再生装置中一般设置有根据再生出的RF信号(来自RF信号处理电路9的再生信号)来检测地址的功能。

因此，根据再生装置200，具有能够在不追加用于检测表示信号质量的指标的新功能的情况下决定适当的球面像差校正值的效果。

此外，在再生装置200中，由于难以根据内容信息来算出bER，因此无法将根据内容信息算出的bER用作表示信号质量的指标。这是由于在ROM中地址信息不包含通常地址信息以外的已知的信息。因此，在ROM中无法算出有效的bER。

〔实施方式3〕

关于本发明的又一其他实施方式，基于图8～图11进行如下说明。此外，为了便于说明，对于与前述实施方式中说明的部件具有相同功能的部件，标注相同符号，并省略其说明。

<光盘的构成>

图8是表示本实施方式所涉及的再生装置300作为再生处理的对象的光盘20的外观的立体图。另外，图9是表示图8所示的光盘20的a部的详细情况的俯视图。

如图8所示，光盘20被预先分配有：记录了例如内容等信息的数据区域22(第1区域)；和记录了例如与光盘20有关的信息(介质信息)的介质信息区域23(第2区域)。即，光盘20在设置了介质信息区域23这一点与实施方式1的光盘1不同。

在与光盘20有关的信息中包含：表示具有数据区域22的介质识别信息、再生装置300在再生时利用的再生速度信息、用于复制保护的介质固有编号、用于确定数据区域22中的位置的区域位置信息等。此外，上述介质识别信息只要是对自身的介质的种类进行识别(确定)的信息即可，至少数据区域22表现了超分辨率记录形态即可。

图9是表示图8所示的光盘20的a部的详细情况的图。如图9所示，在数据区域22中配置有多个坑点，并且被形成为每隔给定轨道间距TpD而在周向上成串。同样，在介质信息区域23中配置有多个坑点，并且被形成为每隔给定轨道间距TpR而在周向上成串。

在数据区域22以及介质信息区域23的信息记录中，采用了能够利用形状以及大小不同的坑点来记录信息的标记边缘记录方式。在本实施方式中，利用了其中的被称为1-7PP(1-7Parity Preserve/Prohibit RMTR(Repeated Minimum Transition Run Length)；1-7奇偶保留/禁止RMTR(重复的最小过渡行程长度))的调制记录方式(记录编码方式)。即，在该方式中，根据作为(1，7)RLL调制(Run Length Limited；行程长度受限)的1种的调制方式而在数据区域22以及介质信息区域23中分别形成了坑点。例如，通过2T～8T的坑点(或者记录标记)来记录信息。在本实施方式中，如图9所示，为了便于说明，有时将数据区域22的坑点的长度表现为“D2T～D8T”、将介质信息区域23的坑点的长度表现为“R2T～R8T”。

此外，在上述调制中，将原始信息(调制前的信息)的比特串图案变换为不依赖于原始信息的比特串图案且具有给定的频带宽度(即，以多个种类限制的记录标记与间隙的组合)的记录图案，并且将最短的记录标记或者间隙的长度放大得比原始信息的这些标记或间隙的长度大，从而使记录密度增大。在1-7PP调制记录方式的情况下，原始信息的2比特单位被变换为3通道比特单位，作为变换后的记录图案，被调制为限制在2通道比特(2T)至8通道比特(8T)的长度的记录标记和间隙，由此来限制频带宽度。与此同时，最短的记录标记以及间隙的长度成为原始信息的这些标记以及间隙的长度的1.5倍的长度。因此，基于1-7PP调制记录方式的调制适合于高密度记录。此外，调制方式并不限于1-7PP调制，除了1-7PP调制以外的(1，7)RLL调制之外，还可以使用8/16调制、(2，7)RLL调制等其他适合高密度记录的调制方式。

即，利用如(1，7)RLL调制这样的长度不同的坑点或者记录标记来记录信息的理由是，与利用同一长度的坑点或者记录标记来记录信息的情形相比，记录密度增大。

如图8所示，数据区域22被分配在介质信息区域23之间，通过在基板成型时设置由凹以及/或者凸构成的坑点，从而记录了上述内容。该坑点是具有图9中的D2T～D8T的长度的坑点，最短坑点的长度D2T比再生装置300所具有的光学系统分辨率限度的长度短。即，还包含长度比再生装置300所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点来记录上述内容(超分辨率记录形态)，因此能够实现比通常介质更高密度的记录。

如图8所示，介质信息区域23被预先分配在光盘20的最内周部和最外周部，通过由凹以及/或者凸构成的坑点而记录了与超分辨率介质1有关的信息。该坑点是具有图9中的R2T～R8T的长度的坑点，最短坑点的长度R2T在再生装置300所具有的光学系统分辨率限度的长度以上(通常记录形态)。即，介质信息区域23的所有坑点的长度都比数据区域22的上述最短坑点的长度长，介质信息区域23中的信息的记录密度比数据区域22低。

此外，介质信息区域23设置在光盘20的内周以及外周，但并不限定于此，也可分配在内周或者外周的任一方。

另外，光盘20的剖面构造与实施方式1的光盘1的剖面构造相同。换而言之，光盘1的构造成为与数据区域22同样的构造。进而，对于光盘1，也不限于(1，7)RLL调制，可以利用上述所示的各种调制方式来进行坑点的形成以及信息的记录。

如上所述，数据区域22是超分辨率区域，通过包含比再生装置300所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点在内的第1坑点组来记录内容，并通过超分辨率技术来再生该内容等的信息。另一方面，介质信息区域23是非超分辨率区域，通过由再生装置300所具有的光学系统分辨率限度的长度以上的坑点构成的第2坑点组来记录上述介质识别信息，不利用超分辨率技术来再生信息(不能实现利用了超分辨率技术的信息再生)。

换而言之，光盘20是通过包含长度比光学系统分辨率限度的长度短的坑点在内的坑点组来记录了内容的再生专用的光盘，是能够通过所谓的超分辨率技术来进行信息再生的光信息记录介质。

此外，本实施方式的光盘20成为具有如上述那样的数据区域22以及介质信息区域23的构造的理由如下。

一般而言，优选能够通过相同的再生装置使超分辨率介质以及通常介质的任一种介质进行再生。即，优选光信息记录介质对于所对应的全部再生装置具有兼容性(能够由所对应的所有再生装置实现所记录的信息的再生)。

但是，在再生通过包含比光学系统分辨率限度的长度短的坑点在内的坑点组而记录的信息(超分辨率再生)时，需要比针对通常介质照射的再生光的光强度(再生功率)更高的再生功率。因此，在向通常介质照射了具有超分辨率再生用的再生功率的再生光的情况下，存在通常介质会被破坏的可能性。

因此，优选能够使超分辨率介质和通常介质双方进行再生的再生装置具有下述构成：判断作为再生处理的对象的光信息记录介质是超分辨率介质还是通常介质，在判断为该光信息记录介质是超分辨率介质的情况下，向该光信息记录介质照射超分辨率再生用的再生功率。即，优选仅在判断为是超分辨率介质的情况下，使光强度从通常介质用的再生功率增加至超分辨率再生用的再生功率。

因此，光盘20通过具有如上述那样的数据区域22以及介质信息区域23，从而能够使具有上述构成的可使超分辨率介质和通常介质双方进行再生的再生装置照射具有分别适合数据区域22以及介质信息区域23的光强度的再生光。即，光盘20能够作为具有针对该再生装置的兼容性的光信息记录介质而发挥功能。

此外，还考虑通过包含长度比光学系统分辨率限度的长度短的坑点在内的坑点组来记录介质识别信息，使得即便照射具有通常介质用的再生功率的再生光也无法再生介质识别信息，从而使再生装置识别为是超分辨率介质的方法。

但是，还存在着在通常介质的表面附着了污物的情况等而使得上述再生装置无法再生介质识别信息的情况。该情况下，上述再生装置判断为介质识别信息不可再生，从而尽管再生处理的对象是通常介质但会判断为超分辨率介质。然后，会向该通常介质照射具有超分辨率再生用的再生功率的再生光，有可能破坏通常介质。

若考虑这一点，则优选介质识别信息如上述那样由包含光学系统分辨率限度的长度以上的坑点在内的坑点组来形成。

<再生装置的构成>

图10是表示本实施方式的再生装置300的简要构成的功能框图。本实施方式的再生装置300是由控制部34置换了实施方式1的再生装置100所具备的控制部14而得到的构成。此外，本实施方式的再生装置300所具有的其他部件与实施方式1的再生装置100所具有的各部件相同，因此标注相同符号，并省略其说明。

控制部34具备i-MLSE检测部141、第1球面像差校正部342以及第2球面像差校正部343。本实施方式的控制部34是由第1球面像差校正部342置换实施方式1的控制部14所具备的球面像差校正部142、且在控制部14中追加第2球面像差校正部343而得到的构成。

第1球面像差校正部342是与球面像差校正部142同样的部件，因此省略详细的说明。第1球面像差校正部342利用i-MLSE的值为最小时的球面像差校正值来控制球面像差校正光学系统用驱动机构651，由此对球面像差进行校正。

第2球面像差校正部343是与现有的再生装置中设置的球面像差校正部同样的部件。即，第2球面像差校正部343利用RF信号的振幅的值为最大时的球面像差校正值来控制球面像差校正光学系统用驱动机构651，由此对球面像差进行校正。

再生装置300是使上述的光盘20进行再生的再生装置。因此，再生装置300需要对数据区域22和介质信息区域23均进行再生。

因此，再生装置300中作为两个球面像差校正单元而分别具备：(i)作为用于对数据区域22中记录的信息进行再生的球面像差校正单元的第1球面像差校正部342、(ii)作为用于对介质信息区域23中记录的信息进行再生的球面像差校正单元的第2球面像差校正部343。

换而言之，在对数据区域22中记录的信息进行再生时，第1球面像差校正部342利用表示内容的再生信号的质量评价结果(i-MLSE的值)来校正球面像差。另一方面，在对介质信息区域23中记录的信息进行再生时，第2球面像差校正部343通过与第1球面像差校正不同的处理来校正球面像差。

在数据区域22中，由包含比光学系统分辨率限度的长度短的坑点在内的坑点组而记录了信息。因此，如在实施方式1中说明的那样，在再生装置300中设置有第1球面像差校正部342，对作为超分辨率介质的光盘20的透光层4的厚度的偏差所引起的球面像差进行校正。

另一方面，在介质信息区域23中，由包含光学系统分辨率限度的长度以上的坑点在内的坑点组而记录了信息。因此，不需要对光盘20的透光层4的厚度的偏差所引起的球面像差进行校正的第1球面像差校正部342。这是由于：在介质信息区域23所记录的信息的再生时，若由第1球面像差校正部342进行球面像差的校正，则与各球面像差校正值对应的各i-MLSE的值的差异减小，适当的球面像差的最佳化有可能变得困难。另外，在该再生时，若由错误率检测部进行球面像差的校正，则该最佳化需要时间。因此，通过作为与现有的再生装置中设置的球面像差校正部同样的部件的第2球面像差校正部343来校正球面像差即可。

<再生装置的处理>

图11是表示再生装置300中针对光盘20的再生动作的处理(控制方法、再生方法)的流程的一例的流程图。

首先，光盘20被装载于再生装置300(处理S21)。然后，再生装置300的控制部34通过在内部设置的传感器(未图示)来辨识光盘20被装载这一情况。

接着，控制部34控制主轴电动机7而使其旋转(处理S22)。由此，光盘20在线速度恒定或者转速恒定等动作条件下被旋转驱动。然后，控制部34基于存储器15中记录的各初始设定值，进行再生装置300的各种设定。

接着，控制部34控制聚焦/跟踪驱动电路10，使物镜660聚焦到光盘20上(处理S23)。然后，控制部34控制聚焦/跟踪驱动电路10，使物镜660跟踪到介质信息区域23的给定位置(处理S24)。

然后，第2球面像差校正部343以RF信号的振幅(反射率)为基准，即，利用RF信号的振幅的值为最大时的球面像差校正值，对球面像差进行校正(处理S25；第2球面像差校正步骤)。在此，控制部34通过与上述的处理S11～处理S16类似的处理，决定RF信号的振幅的值为最大时的球面像差校正值。即，控制部34检测与各个球面像差校正值相应的RF信号的振幅的值，从检测出的RF信号的振幅的所有值中确定最大值。

控制部34在通过第2球面像差校正部343利用RF信号的振幅的值为最大时的球面像差校正值而校正了球面像差之后，通过对介质信息区域23进行再生来取得介质信息区域23中记录的介质信息(处理S26)。控制部34将取得的介质信息记录到存储器15中。

接着，控制聚焦/跟踪驱动电路10，解除物镜660跟踪到给定位置的状态(处理S27)。

控制部34对存储器15中保存的光盘20的各初始设定值进行选择，进行再生装置300的各种设定。例如，控制部34对取得的介质信息中包含的介质识别信息进行解析，对于是超分辨率介质还是通常介质(非超分辨率介质)也进行判定。即，将光盘20判定为超分辨率介质，将半导体激光器61的输出从通常介质用的再生功率变更为超分辨率再生用的再生功率。然后，控制部34控制聚焦/跟踪驱动电路10，使物镜660跟踪到数据区域22的给定位置(处理S28)。

然后，第1球面像差校正部342以表示信号质量的指标(i-MLSE)为基准，即，利用由i-MLSE检测部141评价而得到的i-MLSE的值为最小时的球面像差校正值，对球面像差进行校正(处理S29；第1球面像差校正步骤)。此外，处理S29的详细处理的流程与上述的处理S11～处理S16相同。

控制部34在通过第1球面像差校正部342利用i-MLSE的值为最小时的球面像差校正值而校正了球面像差之后，开始数据区域22中记录的信息的再生(处理S30)。

此外，在处理S28中，也可以在变更再生功率的同时变更再生速度(线速)。这是由于希望在超分辨率介质中有效利用的以更高密度记录的信息例如高画质影像信息的传输速率更高，因此希望比介质信息区域23的传输速率更快。另外，若是成为能够以介质信息区域23的通道比特率的n(n：整数)倍的通道比特率进行再生的线速(例：2倍速)的线速，则能够简化对应，因此更为优选。

<效果>

根据再生装置300，能够对数据区域22(超分辨率区域)和介质信息区域23(非超分辨率区域)分别进行适当的球面像差校正。因此，通过再生装置300，对于分别设置了数据区域22和介质信息区域23的光盘20，具有再生的可靠性提高的效果。

此外，在本实施方式中，与实施方式1同样地例示了作为表示信号质量的指标而使用i-MLSE的例子。因此，设为了在再生装置300中设置i-MLSE检测部141的构成。

另一方面，也可与实施方式2同样地作为表示信号质量的指标而使用错误率。该情况下，通过将i-MLSE检测部141置换为错误率检测部241来构成再生装置300即可。

〔实施方式4〕

关于本发明的另一其他实施方式，基于图12进行如下说明。此外，为了便于说明，对于与前述实施方式中说明的部件具有相同功能的部件，标注相同符号，并省略其说明。

<再生装置的构成>

图12是表示本实施方式的再生装置400的简要构成的功能框图。本实施方式的再生装置400具有由控制部44来置换实施方式3的再生装置300所具备的控制部34而得到的构成。此外，本实施方式的再生装置400所具有的其他部件与实施方式3的再生装置300所具有的各部件相同，因此标注相同符号，并省略其说明。另外，再生装置400作为再生对象的光盘与实施方式3同样为光盘20。

控制部44具备差分调整部441、第1球面像差校正部342以及第2球面像差校正部343。本实施方式的控制部44具有将i-MLSE检测部141(或者错误率检测部241)置换为差分调整部441而得到的构成。

差分调整部441被赋予来自RF信号处理电路9的再生信号。然后，差分调整部441从该再生信号中提取包含于介质识别信息中的制造商信息(用于确定光盘20的制造商的信息)。此外，介质识别信息被记录于光盘20的介质信息区域23。另外，为了对介质信息区域23进行再生，控制部44决定RF信号的振幅的值为最大时的球面像差校正值，并赋予给第2球面像差校正部343。

差分调整部441确定基于制造商信息的球面像差校正值(例如，为了使数据区域22的再生中的信号质量最佳而由制造商所推荐的球面像差校正值)。制造商信息可以是包含了制造商所推荐的球面像差校正值的信息，也可以是只有制造商能够确定的信息。

在此，将由制造光盘20的各制造商确定的、(i)基于制造商信息而确定的球面像差校正值(例如制造商所推荐的球面像差校正值)(第1球面像差校正值)表示为R1、(ii)RF信号的振幅为最大时的球面像差校正值(第2球面像差校正值)表示为R2。R1以及R2的值分别与表示各制造商的制造商标识符建立对应地保存在存储器15中。另外，控制部44使球面像差校正值变化，以使RF信号的振幅为最大。在此，将由控制部44设定的当前的球面像差校正值的值表示为RP。

即，在存储器15中，根据制造光盘20的多个制造商，(i)利用表示数据区域22中记录的内容的再生信号的质量评价结果而确定的R1、(ii)利用表示介质信息区域23中记录的制造商信息的再生信号的振幅而确定的R2，与这些制造商的每一个建立对应而被预先保存。

在数据区域22的再生时，差分调整部441利用在存储器15中保存的与从介质信息区域23读出的制造商信息所表示的制造商(制造商标识符)建立了对应的R1以及R2的值，作为ΔR＝R1-R2而算出球面像差校正值的差分ΔR。然后，差分调整部441将R＝RP+ΔR、即通过在当前的球面像差校正值RP上附加(加上)差分ΔR而得到的球面像差校正值(内容再生时的球面像差校正值)R，赋予给第1球面像差校正部342。

此外，表示差分ΔR的差分信息也可与R1以及R2的值一起分别与制造商标识符建立对应地预先保存到存储器15中。R1以及R2的值未必要保存到存储器15中。该情况下，差分调整部441可以通过从存储器15中读出差分ΔR来算出上述的球面像差校正值R，并赋予给第1球面像差校正部342。

<效果>

在光盘的制造中，用于形成坑点的切割条件等制造条件按光盘的每个制造商而不同。因此，光盘的坑点的形状有时也根据光盘的制造商而不同。因此，可以说信号质量为最佳时的球面像差校正值与RF信号的振幅为最大时的球面像差校正值之间的差异依赖于光盘的制造商。

在再生装置400中，数据区域22的再生中基于制造商信息而确定的球面像差校正值(R1)、与RF信号的振幅为最大时的球面像差校正值(R2)之间的差异，作为差分ΔR而按光盘的每个制造商被预先确定。

并且，第1球面像差校正部342根据从差分调整部441赋予的球面像差校正值R＝RP+ΔR来校正数据区域22再生时的球面像差。因此，再生装置400能够根据与光盘的制造商相应的适当的球面像差校正值来再生数据区域22。

另外，上述的R1例如是光盘的制造商所推荐的球面像差校正值的代表值。因此，考虑即使光盘的制造商相同但根据光盘的制造公差等而对于数据区域22的再生来说最佳的球面像差校正值与R1不一致的情况。

再生装置400在介质信息区域23的再生时对光盘20确定了球面像差校正值RP之后，根据球面像差校正值R＝RP+ΔR＝R1+(PR-R2)来再生数据区域22。因此，在再生装置400中使用的球面像差校正值R是对光盘20单独设定的值，为了数据区域22的再生，可以说该球面像差校正值R是比代表值则更适当的球面像差校正值。

另外，再生装置400不检测作为信号质量的评价基准的i-MLSE(或者地址信息的错误率)，而通过取得制造商信息来决定数据区域22的再生时的球面像差校正值。因此，在再生装置400中无需设置i-MLSE检测部141(或者错误率检测部241)，设置具有更简单的功能的差分调整部441即可。

因此，根据本实施方式的再生装置400，与上述的实施方式1～3的各再生装置相比，具有能够提供成本更低的再生装置的效果。

此外，在本实施方式中，作为存储器15中记录的R1的值，例示了使用光盘20的制造商所推荐的球面像差校正值的情形，但也可设想存在不提示球面像差校正值的推荐值的制造商。该情况下，用户预先确定R1的值，并将该值分别与制造商标识符建立对应地记录到存储器15中即可。

例如，通过使用实施方式3的再生装置300，从而作为适合数据区域22的再生的球面像差校正值而可确定i-MLSE的值为最小时的球面像差校正值。用户将该球面像差校正值的值作为R1的值而记录到再生装置400的存储器15中即可。

由此，即使在未由制造商提示球面像差校正值的推荐值的情况下，也能通过再生装置400使光盘20进行再生。

〔实施方式5〕

关于本发明的又一其他实施方式，基于图13～图16来进行如下说明。此外，为了便于说明，对于与前述实施方式中说明的部件具有相同功能的部件，标注相同符号，并省略其说明。

<光盘的构成>

图13是表示本实施方式所涉及的再生装置500作为再生处理的对象的光盘30的外观的立体图。另外，图14是表示图13所示的光盘30的BCA(Burst Cutting Area；突发切割区域)记录区域39中形成的条纹的一例的示意图。

光盘30从其内周侧起依次设置了BCA记录区域39、介质信息区域33、数据区域32、介质信息区域33。数据区域32以及介质信息区域33是分别与数据区域22以及介质信息区域23同样的构成，因此这里省略其说明。即，光盘30在其最内周侧设置了BCA记录区域39这一点与实施方式3的光盘20不同。

如图13所示，BCA记录区域39是记录了包含介质识别信息的与光盘30有关的信息(相当于与实施方式3的光盘20有关的信息)(介质信息)的区域。该介质信息通过将从YAG(Yttrium Aluminum Garnet；钇铝石榴石)激光器等射出的脉冲激光照射到信息记录层，从而如图14所示，形成幅w为约10μm程度、长度1为几百μm程度的条纹(条形码)，由此进行了记录。即，在BCA记录区域39中，介质识别信息通过条纹形状来记录。

这样，BCA记录区域39中形成的条纹比具有几百nm程度的长度的坑点等大。因此，再生装置500即使向BCA记录区域39的聚焦稍微偏离，也能不进行跟踪地对上述介质信息进行再生。即，在介质信息的再生时，能够不进行球面像差的校正(最佳化)地对上述介质信息进行再生。

此外，在光盘30由多层构成的情况下，BCA记录区域39被设置于配置在离再生光的入射侧最远的位置的基板的正上方紧挨的信息记录层，但并不限定于此。

另外，在光盘30中，至少设置有BCA记录区域39以及数据区域32即可。

<再生装置的构成>

图15是表示本实施方式的再生装置500的简要构成的功能框图。本实施方式的再生装置500是使上述的光盘30进行再生的再生装置。本实施方式的再生装置500具有由控制部54置换实施方式1的再生装置100所具备的控制部14而得到的构成。此外，本实施方式的再生装置500所具有的其他部件与实施方式1的再生装置100所具有的各部件相同，因此标注相同符号，并省略其说明。

控制部54具备i-MLSE检测部141、球面像差校正部142以及BCA再生控制部543。本实施方式的控制部54具有通过在实施方式1的控制部14中附加BCA再生控制部543而得到的构成。

此外，本实施方式的球面像差校正部142，具有与再生数据区域22中记录的内容时利用表示该内容的再生信号的质量评价结果来校正球面像差的第1球面像差校正部342同样的功能。另外，在再生BCA记录区域39中记录的介质信息时，球面像差校正部142利用球面像差校正值的初始值对球面像差进行校正。即，介质信息的再生时的球面像差的校正不是以RF信号的振幅为基准的球面像差的校正。

BCA再生控制部543通过控制聚焦/跟踪驱动电路10，由此使光拾取器6的各部进行用于对BCA记录区域39中记录的介质信息进行再生的动作。

<再生装置的处理>

图16是表示再生装置500中针对光盘30的再生动作的处理(控制方法、再生方法)的流程的一例的流程图。

首先，光盘30被装载于再生装置500(处理S41)。然后，再生装置500的控制部54通过其内部设置的传感器(未图示)来辨识光盘30被装载这一情况。

接着，控制部54控制主轴电动机7而使其旋转(处理S42)。由此，光盘30在线速度恒定或者转速恒定等动作条件下被旋转驱动。

接着，BCA再生控制部543控制聚焦/跟踪驱动电路10，使光拾取器6移动到BCA记录区域39的给定位置。然后，BCA再生控制部543使物镜660聚焦(处理S43)。

然后，在球面像差校正部142利用存储器15中记录的球面像差校正值的初始值来校正了球面像差之后，BCA再生控制部543取得BCA记录区域39中记录的介质信息(处理S44)。此外，若已经被设定为初始值，则在不进行球面像差的校正的情况下由BCA再生控制部543取得介质信息。控制部54将取得的介质信息记录到存储器15中。

此外，如上所述，从BCA记录区域39取得介质信息的过程中不需要跟踪。因此，在处理S44之前，不进行向BCA记录区域39的跟踪。

控制部54利用存储器15中记录的介质信息，选择在存储器15中记录的光盘30的各初始设定值，进行再生装置500的各种设定。例如，如实施方式3中所述，进行是否为超分辨率介质的判定、半导体激光器61的输出的变更、再生速度(线速)的变更等。然后，控制部54控制聚焦/跟踪驱动电路10，使物镜660跟踪到数据区域32的给定位置(处理S45)。

然后，球面像差校正部142以表示信号质量的指标(i-MLSE)为基准，即，利用i-MLSE的值为最小的球面像差校正值来对球面像差进行校正(处理S46)。此外，处理S46的详细处理的流程与上述的处理S11～处理S16相同。

控制部54在通过球面像差校正部142利用i-MLSE的值为最小时的球面像差校正值校正了球面像差之后，开始再生在数据区域32中记录的信息(处理S47)。

<效果>

根据再生装置500，能够使除设置了数据区域32(超分辨率区域)之外还设置了BCA记录区域39的光盘30进行再生。

在再生装置500中，无需进行向BCA记录区域39的跟踪、以及用于再生BCA记录区域39的球面像差校正值的最佳化，就能再生BCA记录区域39中记录的介质信息。

因此，根据本实施方式的再生装置500，与实施方式3的再生装置300开始光盘20的再生的时间相比，具有能够以更短的时间来开始光盘30的再生的效果。

〔基于软件的实现例〕

再生装置100～500的控制块(特别是i-MLSE校正部141、球面像差校正部142、错误率检测部241、第1球面像差校正部342、第2球面像差校正部343、差分调整部441、BCA再生控制部543)可以由形成于集成电路(IC芯片)等的逻辑电路(硬件)来实现，也可以利用CPU(Central Processing Unit；中央处理单元)而由软件来实现。

在后者的情况下，再生装置100～500具备：执行作为实现各功能的软件的程序的命令的CPU；以由计算机(或者CPU)可读取的方式记录了上述程序以及各种数据的ROM(ReadOnly Memory；只读存储器)或者存储装置(将这些称为“记录介质”)；和将上述程序展开的RAM(Random Access Memory；随机存取存储器)等。并且，通过计算机(或者CPU)从上述记录介质中读取上述程序来执行，能够实现本发明的目的。作为上述记录介质，可使用“非暂时性的有形介质”，例如带、盘、卡、半导体存储器、可编程逻辑电路等。另外，上述程序也可经由能够传输该程序的任意的传输介质(通信网络、广播波等)而提供给上述计算机。此外，本发明也能够以上述程序通过电子传输而被具体化的、嵌入于载波的数据信号的形态来实现。

〔总结〕

本发明的方式1所涉及的再生装置(100，200，300，500)能够从通过包含比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点在内的坑点组而记录了内容的光信息记录介质(光盘1)之中再生该内容，具备：

向上述光信息记录介质照射再生光的照射部(光拾取器6)；

将由上述照射部照射到上述光信息记录介质的上述再生光在该光信息记录介质中进行反射而产生的反射光，变换为表示上述内容的再生信号(RF信号)的变换部(RF信号处理电路9)；

对由上述变换部变换而得到的上述再生信号的质量进行评价的信号质量评价部(i-MLSE检测部141、错误率检测部241)；和

利用由上述信号质量评价部评价而得到的上述再生信号的质量评价结果，来校正在上述照射部中产生的球面像差的球面像差校正部(142)。

在使通过由再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度以上的坑点构成的坑点组而记录了信息的光信息记录介质(即，不包含比该光学系统分辨率限度的长度短的坑点，不能通过超分辨率技术来再生的非超分辨率介质)进行再生时，例如如专利文献1所示那样，以RF信号的振幅为基准来校正球面像差。即，决定用于进行球面像差的校正的球面像差校正值以使RF信号的振幅为最大，利用该球面像差校正值来校正球面像差。在非超分辨率介质中，若这样校正球面像差以使RF信号的振幅为最大，则能够在信号特性高的状态下进行信息的再生。

另外，作为在非超分辨率介质的再生时的球面像差的校正中使用RF信号的振幅的理由，可列举对于本领域技术人员而言为常识的“再生信号的信号特性，与光信息记录介质(非超分辨率介质)的反射率引起的、再生装置接受的返回光的光量(反射光量、返回光量)成比例”。上述反射率表示向光信息记录介质照射再生光时产生的反射光相对于该再生光的比例。

另外，为了对由多层构成的光信息记录介质中记录的信息进行再生，算出RF信号的振幅的功能(部件、单元)对于再生装置而言是必须的构成。也就是说，作为利用上述方法的其他理由而可列举：在为了上述球面像差的校正而设置了与算出RF信号的振幅的功能不同的新的功能的情况下，制造成本会增加。

但是，如利用图6说明的那样，在通过包含比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点在内的坑点组而记录了内容的光信息记录介质(即，能够通过超分辨率技术来再生的超分辨率介质)中，根据该超分辨率介质中形成的坑点的形状，即使在RF信号的振幅最大的情况下，有时信号特性也较低，本申请的发明者们发现了这一点。即，获知了下述情况：考虑上述的理由，利用以所接受的反射光的光强度为基准进行球面像差的校正的再生装置来再生超分辨率介质中记录的信息的情况下，根据超分辨率介质而存在再生质量下降的可能性。

为此，在本发明的一方式中，信号质量评价部对基于反射光的再生信号的质量进行评价，该反射光是由照射部向光信息记录介质(超分辨率介质)照射了再生光的结果而产生的。然后，球面像差校正部利用由信号质量评价部评价而得到的再生信号的质量评价结果，对照射部中产生的球面像差进行校正。根据该构成，取代RF信号的振幅而利用再生信号的质量评价结果来进行球面像差的校正。

因此，在超分辨率介质的再生时，能够以信号特性充分高的状态对球面像差进行校正，从而能够防止在以RF信号的振幅为基准时产生的、以信号质量低的状态校正球面像差这样的事态。

因此，根据本发明的一方式，与利用RF信号的振幅来进行球面像差的校正的情况不同，能够高精度地再生在不特定的多个超分辨率介质中记录的内容等的信息。

进而，本发明的方式2所涉及的再生装置(100，200，300，500)，能够通过经由数值孔径为0.85的物镜(600)而向光信息记录介质(光盘1)照射波长为405nm的再生光来对内容进行再生，上述光信息记录介质从再生光的入射侧起依次配置有：具有该再生光所入射的入射面的透光层(4)；用于反射再生光来再生信息的信息记录层(3)；和在扫描方向上设置有包含长度比作为再生装置所具有的光学系统分辨率限度的119nm短的坑点在内的坑点组的基板(2)，并且，上述光信息记录介质通过该坑点组而在上述信息记录层中记录有上述内容，

上述再生装置具备：

向上述光信息记录介质照射再生光的照射部(光拾取器6)；

将由上述照射部照射到上述光信息记录介质的上述再生光在该光信息记录介质中进行反射而产生的反射光，变换为表示上述内容的再生信号的变换部(RF信号处理电路9)；

利用由上述信号质量评价部评价而得到的上述再生信号的质量评价结果，来校正在上述照射部中产生的球面像差的球面像差校正部(球面像差校正部142)。

如上所述，对于非超分辨率介质，若以RF信号的振幅为基准来校正球面像差，则能够以信号特性高的状态进行信息的再生，但在超分辨率介质中，存在无法以信号特性高的状态进行信息的再生的可能性。

在本发明的一方式所涉及的再生装置作为再生对象的光信息记录介质中，配置透光层、信息记录层以及基板，在基板上设置包含长度比作为再生装置所具有的光学系统分辨率限度的119nm短的坑点在内的坑点组，由此在信息记录层中记录了内容。并且，本发明的一方式所涉及的再生装置成为经由数值孔径为0.85的物镜而照射波长为405nm的再生光的构成。

即，本发明的一方式所涉及的再生装置作为再生对象的光信息记录介质是超分辨率介质，该再生装置成为能够再生该超分辨率介质中记录的内容的构成。

并且，在本发明的一方式中，信号质量评价部对基于反射光的再生信号的质量进行评价，该反射光是由照射部向光信息记录介质(超分辨率介质)照射再生光的结果而产生的。然后，球面像差校正部利用由信号质量评价部评价而得到的再生信号的质量评价结果，对照射部中产生的球面像差进行校正。

因此，与上述方式1同样，与利用RF信号的振幅来进行球面像差的校正的情况不同，能够高精度地再生在不特定的多个超分辨率介质中记录的内容等的信息。

本发明的方式3所涉及的再生装置，在上述方式1或者2中优选上述信号质量评价部是：对作为针对上述再生信号的信号特性的评价指标的i-MLSE(Integrated-MaximumLikelihood Sequence Estimation；综合最大似然序列估计)进行检测来对上述再生信号的质量进行评价的i-MLSE检测部(141)、或者对上述再生信号中包含的地址信息的错误率进行检测来对上述再生信号的质量进行评价的地址信息错误检测部(错误率检测部241)。

根据上述构成，信号质量评价部由上述i-MLSE检测部或者上述地址信息错误检测部构成。

在信号质量评价部为上述i-MLSE检测部时，能够将i-MLSE用作再生信号的质量评价结果。因此，在超分辨率介质的再生时，能够以信号特性充分高的状态对球面像差进行校正。

另外，在信号质量评价部为上述地址信息错误检测部时，能够将地址信息的错误率用作再生信号的质量评价结果。

地址信息错误检测部一般被设置在以超分辨率介质为再生对象的再生装置中。因此，无需为了再生信号的质量评价而设置新的功能(部件、单元)，能够利用由地址信息错误检测部检测出的地址信息的错误率，在超分辨率介质的再生时以信号特性充分高的状态对球面像差进行校正。

此外，如上所述，根据超分辨率介质中形成的坑点的形状，即使在RF信号的振幅为最大的情况下有时信号特性也较低，本申请的发明者们发现了这一点。因此，在以超分辨率介质为再生对象的现有的再生装置中，进行超分辨率介质的再生时，并未设想将地址信息错误检测部所检测的地址信息的错误率用作再生信号的质量评价结果来进行球面像差的校正，可以说通过这样的方法来进行球面像差的校正是由本申请的发明者们发现的。

本发明的方式4所涉及的再生装置(300，400)，能够从光信息记录介质(光盘20)之中对内容进行再生，上述光信息记录介质具有通过第1坑点组而记录了上述内容的第1区域(数据区域22)、和通过第2坑点组而记录了用于识别自身的介质的种类的介质识别信息的第2区域(介质信息区域23)，上述第1坑点组包含比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点，上述第2坑点组由再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度以上的坑点构成，

上述再生装置具备：

在对上述第1区域中记录的上述内容进行再生时，利用表示该内容的再生信号的质量评价结果，来校正在向上述光信息记录介质照射再生光的照射部(光拾取器6)中产生的球面像差的第1球面像差校正部(342)；和

在对上述第2区域中记录的上述介质识别信息进行再生时，通过与上述第1球面像差校正部不同的处理，来校正在上述照射部中产生的球面像差的第2球面像差校正部(343)。

如上所述，对于非超分辨率介质，若以RF信号的振幅为基准来校正球面像差，则能够以信号特性高的状态进行信息的再生，但在超分辨率介质中，存在无法以信号特性高的状态进行信息的再生的可能性。即，如上所述，在超分辨率介质的再生时，以再生信号的质量评价结果为基准来对球面像差进行校正。

在本发明的一方式所涉及的再生装置作为再生对象的光信息记录介质中，设置有第1区域和第2区域。第1区域是通过包含比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点在内的第1坑点组而记录了内容的区域。即，是能够实现基于超分辨率技术的信息的再生的超分辨率区域。另一方面，第2区域是通过由再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度以上的坑点构成的第2坑点组而记录了用于识别自身的介质的种类的介质识别信息的区域。即，是不能实现基于超分辨率技术的信息的再生的非超分辨率区域。

并且，在本发明的一方式所涉及的再生装置中，在对作为超分辨率区域的第1区域中记录的内容进行再生时，第1球面像差校正部利用再生信号的质量评价结果来对球面像差进行校正。另一方面，在对作为非超分辨率区域的第2区域中记录的介质识别信息进行再生时，第2球面像差校正部通过与第1球面像差校正部不同的处理来对球面像差进行校正。该与第1球面像差校正部不同的处理，例如可列举利用了RF信号的振幅的对球面像差的校正。

因此，在对第1区域(超分辨率区域)中记录的内容、以及第2区域(非超分辨率区域)中记录的介质识别信息的任一者进行再生时，都能以获得了高的信号特性的状态分别进行内容以及介质识别信息的再生。因此，根据本发明的一方式，对于同时具备超分辨率区域以及非超分辨率区域的超分辨率介质，也能够高精度地再生在不特定的多个超分辨率区域中记录的内容等的信息。

本发明的方式5所涉及的再生装置(300)，在上述方式4中优选具备：对表示上述第1区域中记录的上述内容的再生信号的质量进行评价的信号质量评价部(i-MLSE检测部141、错误率检测部142)，

上述第1球面像差校正部利用由上述信号质量评价部评价而得到的上述再生信号的质量评价结果，来校正上述照射部中的球面像差，

上述信号质量评价部是检测作为针对上述再生信号的信号特性的评价指标的i-MLSE(Integrated-Maximum Likelihood Sequence Estimation；综合最大似然序列估计)来对上述再生信号的质量进行评价的i-MLSE检测部(141)、或者检测上述再生信号中包含的地址信息的错误率来对上述再生信号的质量进行评价的地址信息错误检测部(错误率检测部142)。

在信号质量评价部为上述i-MLSE检测部时，能够将i-MLSE用作再生信号的质量评价结果。因此，在第1区域(超分辨率区域)的再生时，能够以信号特性充分高的状态对球面像差进行校正。

并且，如方式3中描述的那样，无需为了再生信号的质量评价而设置新的功能(部件、单元)，能够利用由地址信息错误检测部检测出的地址信息的错误率，在超分辨率区域的再生时以信号特性充分高的状态对球面像差进行校正。

进而，本发明的方式6所涉及的再生装置(400)，能够从光信息记录介质(光盘20)之中对内容进行再生，上述光信息记录介质具有通过第1坑点组而记录了上述内容的第1区域(数据区域22)、和通过第2坑点组而记录了用于确定光信息记录介质的制造商的信息即制造商信息的第2区域(介质信息区域23)，上述第1坑点组包含比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点，上述第2坑点组由再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度以上的坑点构成，

在上述再生装置中，根据制造上述光信息记录介质的多个制造商，利用表示上述第1区域中记录的上述内容的再生信号的质量评价结果而确定的第1球面像差校正值(球面像差校正值R1)、和利用表示上述第2区域中记录的上述制造商信息的再生信号的振幅而确定的第2球面像差校正值(球面像差校正值R2)，分别与这些制造商建立对应地被预先保存，上述再生装置具备：

将与从上述第2区域读出的上述制造商信息所表示的制造商建立了对应的上述第1球面像差校正值和上述第2球面像差校正值的差分(ΔR)，相加从上述第2区域读出上述制造商信息时的球面像差校正值(RP)，来求取上述内容再生时的球面像差校正值(R)的差分调整部(441)；和

在对上述第1区域中记录的上述内容进行再生时，利用上述内容再生时的球面像差校正值，来校正在向上述光信息记录介质照射再生光的照射部(光拾取器6)中产生的球面像差的第1球面像差校正部(342)。

可以说在第1区域的再生时再生信号的信号质量为最佳时的球面像差校正值、与在第2区域的再生时RF信号的振幅为最大时的球面像差校正值之间的差异依赖于制造光信息记录介质的制造商。

根据上述构成，在上述再生装置中，上述第1球面像差校正值和上述第2球面像差校正值分别与这些制造商建立对应地被预先保存。并且，差分调整部，将与从光信息记录介质读出的制造商信息所表示的制造商建立了对应的上述第1球面像差校正值和上述第2球面像差校正值的差分，相加从第2区域读出制造商信息时的球面像差校正值，来求取内容再生时的球面像差校正值。在内容再生时，第1球面像差校正部利用差分调整部所求出的内容再生时的球面像差校正值对球面像差进行校正。

因此，仅设置具有更简单的功能的差分调整部即可，无需设置对表示内容的再生信号的质量进行评价的信号质量评价部(i-MLSE检测部、错误率检测部等)，就能够进行上述内容再生时的球面像差的校正。因此，根据本发明的一方式，对于同时具备超分辨率区域以及非超分辨率区域的超分辨率介质，也能够高精度地再生在不特定的多个超分辨率区域中记录的内容等的信息。

进而，本发明的方式7所涉及的再生装置(400)，能够从光信息记录介质(光盘20)之中对内容进行再生，上述光信息记录介质具有通过第1坑点组而记录了上述内容的第1区域(数据区域22)、和通过第2坑点组而记录了用于确定光信息记录介质的制造商的信息即制造商信息的第2区域(介质信息区域23)，上述第1坑点组包含比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点，上述第2坑点组由再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度以上的坑点构成，

在上述再生装置中，根据制造上述光信息记录介质的多个制造商，对利用表示上述第1区域中记录的上述内容的再生信号的质量评价结果而确定的第1球面像差校正值(球面像差校正值R1)、与利用表示上述第2区域中记录的上述制造商信息的再生信号的振幅而确定的第2球面像差校正值(球面像差校正值R2)之间的差分(ΔR)进行表示的差分信息，分别与这些制造商建立对应地被预先保存，

上述再生装置具备：

将与从上述第2区域读出的上述制造商信息所表示的制造商建立了对应的上述差分信息所表示的差分，相加从上述第2区域读出上述制造商信息时的球面像差校正值(RP)，来求取上述内容再生时的球面像差校正值(R)的差分调整部；和

根据上述构成，在再生装置中，表示上述第1球面像差校正值与上述第2球面像差校正值之间的差分的差分信息分别与这些制造商建立对应地被预先保存。并且，差分调整部将与从光信息记录介质读出的制造商信息所表示的制造商建立了对应的差分信息所表示的差分，相加从第2区域读出制造商信息时的球面像差校正值，来求取内容再生时的球面像差校正值。在内容再生时，第1球面像差校正部利用差分调整部所求出的内容再生时的球面像差校正值对球面像差进行校正。

进而，本发明的方式8所涉及的再生装置(500)，能够从光信息记录介质(光盘30)之中对内容进行再生，上述光信息记录介质具有通过第1坑点组而记录了上述内容的第1区域(数据区域22)、和通过条纹形状而记录了用于识别自身的介质的种类的介质识别信息的BCA(Burst CuttingArea；突发切割区域)记录区域(39)，上述第1坑点组包含比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点，

上述再生装置具备：

对上述BCA记录区域中记录的上述介质识别信息进行再生的BCA再生控制部(543)；和

在对上述第1区域中记录的上述内容进行再生时，利用表示该内容的再生信号的质量评价结果，来校正在向上述光信息记录介质照射再生光的照射部(光拾取器6)中产生的球面像差的球面像差校正部(球面像差校正部142、第1球面像差校正部342)。

根据上述构成，光信息记录介质中设置有通过条纹形状而记录了介质识别信息的BCA记录区域。并且，BCA再生控制部从BCA记录区域中再生介质识别信息。

BCA记录区域的介质识别信息例如被形成得比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度以上的坑点大。因此，BCA再生控制部与介质识别信息由坑点形成的情况不同，能够不进行球面像差的校正处理以及跟踪处理等地读出介质识别信息。

因此，根据本发明的一方式，不需要由BCA再生控制部所进行的介质识别信息的再生时的上述处理，在对第1区域中记录的内容进行再生时，仅进行由球面像差校正部执行的校正即可。因此，能够缩短直至信息再生的开始为止的时间。

进而，本发明的方式9所涉及的再生方法是上述方式1或者2所述的再生装置的控制方法，包括：

向上述光信息记录介质照射再生光的照射步骤；

将通过上述照射步骤向上述光信息记录介质照射的上述再生光在该光信息记录介质中进行反射而产生的反射光，变换为表示上述内容的再生信号的变换步骤；

对通过上述变换步骤变换而得到的上述再生信号的质量进行评价的信号质量评价步骤；和

利用通过上述信号质量评价步骤评价而得到的上述再生信号的质量评价结果，来校正在上述照射部中产生的球面像差的球面像差校正步骤。

根据上述构成，与方式1或者2同样，能够高精度地再生在不特定的多个超分辨率介质中记录的内容等的信息。

进而，本发明的方式10所涉及的再生方法是上述方式4所述的再生装置的控制方法(再生方法)，包括：

在对上述第1区域中记录的上述内容进行再生时，利用表示该内容的再生信号的质量评价结果，来校正在向上述光信息记录介质照射再生光的照射部中产生的球面像差的第1球面像差校正步骤；和

在对上述第2区域中记录的上述介质识别信息进行再生时，通过与上述第1球面像差校正步骤不同的处理，来校正在上述照射部中产生的球面像差的第2球面像差校正步骤。

根据上述构成，对于同时具备第1区域(超分辨率区域)以及第2区域(非超分辨率区域)的超分辨率介质，也能够高精度地再生在不特定的多个超分辨率区域中记录的内容等的信息。

进而，本发明的方式11所涉及的再生装置，能够从通过包含比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点在内的坑点组而记录了内容的光信息记录介质之中再生该内容，具备：

对向上述光信息记录介质照射再生光的结果而生成的表示上述内容的再生信号的质量进行评价的信号质量评价部；和

利用由上述信号质量评价部评价而得到的上述再生信号的质量评价结果，来校正在向上述光信息记录介质照射再生光的照射部中产生的球面像差的球面像差校正部。

根据上述构成，与方式1同样，能够高精度地再生在不特定的多个超分辨率介质中记录的内容等的信息。

本发明的各方式所涉及的再生装置也可以由计算机实现，该情况下，通过使计算机作为上述再生装置所具备的各单元进行动作来使计算机实现上述再生装置的再生装置的控制程序、以及记录了该程序的计算机可读取的记录介质也在本发明的范畴内。

〔其他〕

此外，也可将本发明的一方式按以下方式来表现。

(1)本发明的一方式所涉及的光信息记录介质再生装置是从通过坑点组而记录了用户要利用的内容的再生专用光信息记录介质中再生用户要利用的内容的再生装置，上述坑点组包含比对应的再生装置所具有的再生光学系统的光学系统分辨率限度短的坑点，上述再生装置具备：向上述再生专用光信息记录介质照射再生光的照射单元；将通过上述照射单元而得到的反射光变换为信号的变换单元；对通过上述变换单元而得到的信号的质量进行评价的信号质量评价单元；和利用上述信号质量评价单元来进行上述照射单元的球面像差校正的信号质量基准球面像差校正单元。

(2)本发明的一方式所涉及的光信息记录介质再生装置是通过经由数值孔径为0.85的物镜向光信息记录介质照射波长为405nm的再生光来对用户要利用的内容进行再生的再生装置，上述光信息记录介质从再生光的入射侧起依次配置有具有该再生光的入射面的透光层、信息记录层和基板，并且，在上述信息记录层中，通过在再生装置的扫描方向上包含作为再生装置的光学系统分辨率限度的119nm以下的长度的预制坑点在内的上述基板上设置的预制坑点组，记录了用户要利用的内容，上述再生装置具备：向上述光信息记录介质照射再生光的照射单元；将通过上述照射单元而得到的反射光变换为信号的变换单元；对通过上述变换单元而得到的信号的质量进行评价的信号质量评价单元；和利用上述信号质量评价单元来进行上述照射单元的球面像差校正的信号质量基准球面像差校正单元。

(3)在本发明的一方式所涉及的光信息记录介质再生装置中，在上述(1)或者(2)中，上述信号质量评价单元可以是根据再生信号来检测i-MLSE的i-MLSE检测单元、或者从再生信号中仅提取地址信息并检测仅地址信息的错误率的地址信息错误检测单元。

(4)本发明的一方式所涉及的光信息记录介质再生装置是从光信息记录介质中再生用户要利用的内容的再生装置，该光信息记录介质具备：通过包含比对应的再生装置所具有的再生光学系统的光学系统分辨率限度短的坑点在内的坑点组而记录了用户要利用的内容的第1区域；和通过仅由比对应的再生装置所具有的再生光学系统的光学系统分辨率限度长的坑点构成的坑点组而记录了用于识别自身的种类的介质识别信息的第2区域，在再生上述第1区域时使用的第1球面像差校正单元与再生上述第2区域时使用的第2球面像差校正单元不同。

(5)本发明的一方式所涉及的光信息记录介质再生装置在上述(4)中，上述第1球面像差校正单元可以是根据再生信号来检测i-MLSE的i-MLSE检测单元、或者从再生信号中仅提取地址信息并检测仅地址信息的错误率的地址信息错误检测单元。

本发明并不限定于上述的各实施方式，能够在技术方案所示的范围内进行各种变更，关于对不同实施方式中分别公开的技术手段进行适当组合而得到的实施方式也包含于本发明的技术范围内。进而，通过对各实施方式中分别公开的技术手段进行组合而能够形成新的技术特征。

产业上的可利用性

本发明能够在超分辨率介质中进行利用。

符号说明

1 光盘(光信息记录介质)

A 光盘(光信息记录介质)

B 光盘(光信息记录介质)

2 基板

3 信息记录层

4 透光层

6 光拾取器(照射部)

9 RF信号处理电路(变换部)

20 光盘(光信息记录介质)

22 数据区域(第1区域)

23 介质信息区域(第2区域)

30 光盘(光信息记录介质)

100 再生装置

141 i-MLSE检测部(信号质量评价部)

142 球面像差校正部

200 再生装置

241 错误率检测部(信号质量评价部，地址信息错误检测部)

300 再生装置

342 第1球面像差校正部

343 第2球面像差校正部

660 物镜

Claims

1.一种再生装置，能够从通过包含比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点在内的第1坑点组而记录了内容的光信息记录介质之中再生该内容，

上述再生装置的特征在于，具备：

照射部，其向上述光信息记录介质照射再生光；

球面像差校正部，其利用由上述信号质量评价部评价而得到的上述再生信号的质量评价结果，来校正在上述照射部中产生的球面像差，

上述信号质量评价部是检测作为针对上述再生信号的信号特性的评价指标的综合最大似然序列估计i-MLSE，来对上述再生信号的质量进行评价的i-MLSE检测部，

上述再生装置判断上述光信息记录介质是超分辨率介质还是通常介质，在判断为上述光信息记录介质是超分辨率介质的情况下，向该光信息记录介质照射具有超分辨率再生用的再生功率的上述再生光，

上述再生装置判断上述光信息记录介质是超分辨率介质还是通常介质，在判断为上述光信息记录介质是超分辨率介质的情况下，将线速变更为能够以该光信息记录介质的介质信息区域的通道比特率的n倍的通道比特率进行再生的线速，其中n为整数，

在上述光信息记录介质中，设置了BCA记录区域，其中，BCA是突发切割区域，

上述再生装置还具备：BCA再生控制部，其用于对上述BCA记录区域中通过条纹形状记录的介质识别信息进行再生，

在上述光信息记录介质中，设置了介质信息区域和数据区域，

上述再生装置还具备：再生控制部，其不进行向上述BCA记录区域的跟踪，而进行向上述数据区域的跟踪，

在上述介质信息区域中，通过由上述再生装置所具有的上述光学系统分辨率限度的长度以上的坑点构成的第2坑点组，记录用于确定上述光信息记录介质的制造商的信息即制造商信息，

上述再生装置提取上述制造商信息，

上述再生装置基于上述制造商信息来再生上述内容，

上述BCA再生控制部使再生位置移动，使得能够在上述BCA记录区域的给定位置再生上述介质识别信息。