JP4348213B2 - 光記録媒体の記録制御方法、記録制御装置、及び検査方法 - Google Patents

光記録媒体の記録制御方法、記録制御装置、及び検査方法 Download PDF

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Description

本発明は、光記録媒体の記録制御方法、記録制御装置、及び検査方法にかかり、特に、光記録媒体の高速記録に好適な有機色素を用いた光記録媒体への記録制御方法、記録制御装置、及び検査方法に関する。
レーザ光により追記型などの情報記録が可能な光記録媒体(光ディスク)が知られている。この光ディスクには、フレキシブルディスクに比較して大容量の光ディスク(所謂CD−R)が知られており、その情報記録は、近赤外域(例えば780nm近傍の波長)のレーザ光をCD−Rに照射することにより行われる。記録層の照射部分はレーザ光を吸収して局所的に温度上昇し、物理的または化学的変化(例えば、ピットの生成)による光学的特性の変化により、情報記録がなされる。
近年、情報化社会の進展に伴って流通する情報量は増大傾向にあり、より大容量の光記録媒体の要望に対して、さらに大容量の光ディスク(追記型デジタル・ヴァサタイル・ディスク、所謂DVD−RやDVD−RW)が流通されるようになってきている。このDVD−R等は、照射されるレーザ光のトラッキングのための案内溝(プレグルーブ)がCD−Rに比べて半分以下(0.74〜0.8μm)と狭く形成された透明な円盤状基板上に、色素からなる記録層、光反射層、そして必要に応じて保護層を順に設けて形成される。DVD−Rへの情報記録再生は、CD−Rより短い波長(例えば、630nm〜680nm波長)のレーザ光の照射によってCD−Rより高密度記録ができる。
ところで、CD−R/RW、DVD−R/RW、DVD+R/RWでは、ディスクの最内周、もしくは最外周の特定位置に記録レーザパワーの校正を行うためのPCA(Power Calibration Area)領域が設けられている。このPCA領域はブロック単位が規定されており、このブロック単位を複数個使用して、各社記録機固有の記録方式、記録信号を書き込み、再生して、記録を行うディスクの最適記録パワーを決定している。
例えば、DVD−Rを例に説明すると、これまでは、記録パワーを段階的に変化させて特定のパターン(例えば、3Tと14Tマークの繰り返しパターン等)を試し書きし、DVD−Rの基板LPPに予め記録されている目標β値が得られた記録パワーで本記録を行うようにしていた。
一方、特許文献1に記載の技術では、ディスク出荷あるいは記録する直前に、変調された2値化信号の記録データとして、注目するデータの“1”に対して周りのデータの“1”もしくは“0”が記録再生過程を通じて影響を及ぼす範囲である熱的・光学的干渉領域を少なくとも含む評価パターンを光記録媒体に記録し、その評価パターンから得られた再生データの2値化信号について、基準位置に対するデータ“1”もしくは“0”の位置を求めて、基準位置に対するデータの“1”もしくは“0”の位置とそれらに対応する再生データの“1”もしくは“0”の位置との位置ずれを検出し、その位置ずれを分析することで記録再生過程で生じる2値化信号の変動を検出することが提案されている。
また、特許文献2に記載の技術では、光ビームにより情報が記録される光磁気ディスクから繰り返しパターンyに対応する再生信号の部分のレベルと、孤立マークパターンxに対応する再生信号の部分のレベルを検出し、各レベルを比較することにより、記録条件を決定することが提案されている。具体的には、繰り返しパターンyに対応する再生信号のハイレベル(あるいはローレベル)と、孤立マークパターンxに対応する再生信号の部分のハイレベル(あるはローレベル)を比較して、同一レベルとなるように記録パワーを決定している。このように記録パワーを決定することで、異なるマークパターンに対応した記録マーク間の熱干渉を同じにすることができる。
特開平6−236553号公報 特開2002−237041号公報
しかしながら、光記録媒体の高速記録においては、熱干渉の影響が更に顕著となる。具体的には高パワー側(アシンメトリ増加側)のパワーマージンが減少し、少しの記録パワーの上昇が、ジッタ及びエラーの急増を招く。従って、メディア側としては、高い記録パワーで記録されることは望ましくない。一方でドライブ側では、再生時のマージン確保のため、少しでもアシンメトリの増加(記録パワー増加)となる記録パワーで記録することが望まれる。
以上のように、メディア側とドライブ側の事情を踏まえると、高速記録を行う際には、少しでも高めの記録パワーを設定し、実際に良好な記録を行えるかの確認を行う手法が必要である。
ところが、特許文献1に記載の技術では、再生信号の変動を検出するまでは提案されているものの、実際にどのように記録パワーを決定するかまでは言及していない。
一方、特許文献2に記載の技術では、繰り返しパターンに対応する再生信号のハイレベル(あるいはローレベル)と、孤立マークパターンに対応する再生信号の部分のハイレベル(あるはローレベル)を比較して、同一レベルとなるように記録パワーを決定しているものの、少しでも高めの記録パワーで記録することの思想がない。すなわち、高速記録を踏まえた記録パワーの決定方法までは提案されていない。
そこで、本発明は、上記事実を考慮して成されたもので、良好な記録が可能な範囲で少しでも高い記録パワーを決定することができる光記録媒体の記録制御方法、記録制御装置、及び検査方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために請求項1に記載の発明は、少なくともレーザ光を照射することで情報記録が可能な光記録媒体の記録制御方法であって、記録パワーを段階的に変化させて、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンであって最短マーク及び当該最短マークより長いマークを含む評価パターンを光記録媒体に試し書きする記録ステップと、前記記録ステップによって試し書きした前記評価パターンを再生し、前記評価パターンにおける熱干渉の発生度合いを数値化して前記最短マークの変化量を検出する検出ステップと、予め定めた訂正可能なエラーの測定値に対応する前記変化量を予め求めて前記検出ステップで検出した変化量の閾値とし、当該閾値と前記検出ステップによって検出した変化量に基づいて記録パワーを決定する決定ステップと、を含むことを特徴としている。
請求項1に記載の発明によれば、記録ステップでは、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンであって最短マーク及び当該最短マークより長いマークを含む評価パターンを、記録パワーを段階的変化させて(例えば、低い記録パワーから高い記録パワーとなるように段階的に変化させて)光記録媒体に試し書きを行う。
検出ステップでは、光記録媒体に試し書きされた評価パターンを再生し、熱干渉の度合いを数値化して前記最短マークの変化量を検出する。
そして、決定ステップでは、予め定めた訂正可能な測定値(例えば、良好な記録が可能なPIエラーの測定値)に対応する変化量を予め求めて、検出ステップで検出した変化量の閾値として、当該閾値と検出ステップによって検出した変化量に基づいて記録パワーを決定する。すなわち、良好な記録が可能なPIエラー(例えば、PIエラー<280)に対応する変化量を予め求めてこれを検出ステップで検出した変化量の閾値として、閾値より小さくかつ少しでも大きい変化量となる記録パワーを本番の記録を行う際の記録パワーとして決定する。
このように決定した記録パワーで記録を行うと、PIエラーが良好な記録が可能な範囲で記録パワーを決定しているので、良好な記録が可能となる。また、予め定めたPIエラーの測定値から予め求めた閾値に、より近い変化量となる記録パワーを本番の記録時の記録パワーとすることで、良好な記録が可能な範囲で少しでも高い記録パワーを決定することができる。
なお、決定ステップは、請求項2に記載の発明のように、光記録媒体に予め記録された目標記録パワー(所謂目標β値)の方が小さい記録パワーの場合には、目標記録パワーを記録パワーとして決定するようにしてもよい。これによって、良好な記録を行うことができる。
請求項3に記載の発明は、少なくともレーザ光を照射することで情報記録が可能な光記録媒体の記録制御装置であって、記録パワーを段階的に変化させて、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンであって最短マーク及び当該最短マークより長いマークを含む評価パターンを光記録媒体に試し書きする記録手段と、前記記録手段によって試し書きされた前記評価パターンを再生し、前記評価パターンにおける熱干渉の発生度合いを数値化して前記最短マークの変化量を検出する検出手段と、予め定めた訂正可能なエラーの測定値に対応する前記変化量を予め求めて前記検出手段によって検出した変化量の閾値とし、当該閾値と前記検出手段によって検出された変化量に基づいて記録パワーを決定する決定手段と、を備えることを特徴としている。
請求項3に記載の発明によれば、記録手段では、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンであって最短マーク及び当該最短マークより長いマークを含む評価パターンが、記録パワーを段階的に変させて光記録媒体に試し書きされる。例えば、低い記録パワーから高い記録パワーとなるように段階的に記録パワーを変化させて評価パターンを光記録媒体に記録する。
検出手段では、光記録媒体に試し書きされた評価パターンを再生し、評価パターンにおける熱干渉の度合いが数値化され、前記最短マークの変化量が検出される。
そして、決定手段では、予め定めた訂正可能な測定値(例えば、良好な記録が可能なPIエラーの測定値)に対応する変化量を予め求めて、検出手段によって検出された変化量の閾値とし、当該閾値と検出手段によって検出された変化量に基づいて記録パワーが決定される。すなわち、良好な記録が可能なPIエラー(例えば、PIエラー<280)に対応する変化量を予め求めてこれを検出手段で検出された変化量の閾値として、閾値より小さくかつ少しでも大きい変化量となる記録パワーを本番の記録を行う際の記録パワーとして決定する。
このように決定手段によって決定された記録パワーで記録を行うことで、PIエラーが良好記録が可能な範囲で記録パワーが決定されているので、良好な記録が可能となる。また、予め定めたPIエラーの測定値から予め求めた閾値に、より近い変化量となる記録パワーを本番の記録時の記録パワーとすることで、良好な記録が可能な範囲で少しでも高い記録パワーを決定することができる。
なお、決定手段は、請求項4に記載の発明のように、光記録媒体に予め記録された目標記録パワー(所謂目標β値)の方が小さい記録パワーの場合には、目標記録パワーを記録パワーとして決定するようにしてもよい。これによって、光記録媒体が許容する範囲で更に高めの記録パワーを決定することができる。
請求項5に記載の発明は、少なくともレーザ光を照射することで情報記録が可能な光記録媒体の検査方法であって、記録パワーを段階的に変化させて、もしくは、特定の記録パワーで、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンであって最短マーク及び当該最短マークより長いマークを含む評価パターンを光記録媒体に記録する記録ステップと、前記記録ステップによって試し書きした前記評価パターンを再生し、前記評価パターンにおける熱干渉の度合いを数値化して前記最短マークの変化量を検出する検出ステップと、予め定めた訂正可能なエラーの測定値に対応する前記変化量を予め求めて前記検出ステップで検出した変化量の閾値とし、記検出ステップによって検出した変化量が前記閾値より小さい場合に高速記録に適した媒体と判定し、前記検出ステップによって検出した変化量が前記閾値以上の場合に高速記録に適さない媒体と判定する判定ステップと、を含むことを特徴としている。
請求項5に記載の発明によれば、記録ステップでは、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンであって最短マーク及び当該最短マークより長いマークを含む評価パターンを、記録パワーを段階的変化させて(例えば、低い記録パワーから高い記録パワーとなるように段階的に変化させて)もしくは、特定の記録パワーで光記録媒体に記録を行う。
検出ステップでは、光記録媒体に試し書きされた評価パターンを再生し、熱干渉の度合いを数値化して前記最短マークの変化量を検出する。
そして、判定ステップでは、予め定めた訂正可能な測定値(例えば、良好な記録が可能なPIエラーの測定値)に対応する変化量を予め求めて、検出ステップで検出した変化量の閾値として、出ステップによって検出した変化量が前記閾値より小さい場合に高速記録に適した媒体と判定し、前記検出ステップによって検出した変化量が前記閾値以上の場合に高速記録に適さない媒体と判定する
請求項5に記載の発明では、これらのステップを、例えば、光記録媒体を製造する工程の検査工程で光記録媒体への検査に用いる。
以上説明したように本発明によれば、良好な記録が可能な範囲で少しでも高い記録パワーを決定することができる、という効果がある。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態の一例を詳細に説明する。
まず、本発明の光記録媒体が適用可能な光ディスク10について説明する。光ディスク10は、DVD−RやDVD−RWなどの追加記録が可能に構成されており、波長が670nm以下の波長のレーザ光に対しても高い反射率などを与える良好な記録再生特性を備えている。
図1に示すように、光ディスク10は、各種情報を記録するため、リードイン領域12、データ領域14、及び必要に応じて形成されるリードアウト領域16の順に、光ディスク10の内周から外周へ向けて構成されたインフォメーションエリア18を備えている。データ領域14は、ゾーンとも呼ばれ、また、インフォメーションエリア18はセクタ単位でデータ記録再生可能に領域分割される。
また、インフォメーションエリア18の更に内周側には、Rインフォメーションエリア20が設けられている。Rインフォメーションエリア20は、PCA(Power Calibration Area)領域とRMA(Recording Management Area)領域で構成されており、記録レーザパワーの校正(PCA領域)や記録機にとって必要な記録管理情報(RMA領域)のために設けられている。例えば、RMA領域には、記録管理情報(記録条件:Drive ID、Recording power、Power Calibration address等)が記録される。なお、光記録媒体10の内周から外周に向かって、PCA領域、RMA領域の順に配置される。
光ディスク10は、グルーブと呼ばれるレーザ光の案内溝が形成されており、ここにデータが記録される。この案内溝は、所定の振幅や周期でうねらせたウォブリングとして形成される。このウォブリングにより、モータの制御用信号を形成したり、孤立ピットを検出するためのゲート信号を生成したりする。また、案内溝と隣り合う案内溝との間の領域であるランドには、予め定めた規則に従って形成された孤立ピット(以下、ランドプリピットという)が形成されている。このランドプリピットは、データ記録時の高精度位置決めに用いられ、また記録アドレスやその他の記録に必要な情報を得るために用いられる。
DVD−RやDVD−RWディスクなどの光ディスク10に記録されるプリフォーマットによる信号はトラッキング時に光ディスク10から反射されるレーザ光を差動検出により検出する。
次に、上記光ディスク10への情報書き込み及び読み取りが可能な記録再生装置22を説明する。
図2に示すように、記録再生装置22は、光ディスク10に対して再生及び記録のためにレーザ光を照射するピックアップ24を備えている。ピックアップ24は、再生信号検出器26及び半導体レーザ28などの光源を備えており、再生信号検出器26は光ディスク10からの反射光を4分割されたフォトディテクタで検出すべく構成されている。再生信号検出器2にはマトリクスアンプ30が接続されており、再生信号検出器2の検出信号がマトリクスアンプへ入力される。マトリクスアンプ30は、再生信号検出器2の4つの検出信号を信号処理して、再生信号(RF信号)、位相差信号(DPD信号、図示省略)、プッシュプル信号(PP信号)を生成して出力する。
マトリクスアンプ30の出力側は2値化回路32に接続されている。2値化回路32は、入力された再生信号を2値化するためのものである。すなわち、2値化回路32は、アナログ信号である再生信号をデジタル信号に変換する回路であり、所定のサンプリング周期で所定値を越えるレベルのハイレベルの再生信号を所定のデジタル値(例えば、「1」)に設定し、それ以外のローレベルの再生信号を所定のデジタル値(例えば、「0」)に設定することによる2値化を行い、これを2値化データとして出力する。
2値化回路32の出力側は、再生用デコーダ34に入力される。
なお、マトリクスアンプ30の出力側(PP信号の出力側)は、サーボ回路44にも接続されている。サーボ回路44は、ピックアップ24を制御して、所定のフォーカス位置、トラッキング位置にレーザースポットを追従させる処理部であり、マトリクスアンプ30からの出力信号からフォーカスサーボ、トラッキングサーボを作用させる。
一方、ピックアップ24に設けられた半導体レーザ28にはレーザドライバ回路46を介して記録信号発生回路48に接続されている。記録信号発生回路48では、光ディスク10へ記録するための半導体レーザ28を駆動するためのパルス数、パルス幅、周期などを設定する。
レーザドライバ回路46は、半導体レーザ28を駆動するための駆動回路であり、入力された記録信号発生回路48からのパルス信号によるオンオフが半導体レーザ28で実施されるように半導体レーザ28を駆動する。
また、記録信号発生回路48は、光ディスク10への記録に先だって光ディスク10のPCA領域に試し書きを行うが、この時の半導体レーザ28を駆動するための評価パルス(評価パターン)を設定する。
また、本実施形態の記録再生装置22は、記録パワー決定回路50を備えており、記録パワー決定回路50によって光ディスク10へ記録を行う際のレーザパワーが決定される。
記録パワー決定回路50は、マトリクスアンプ30に接続された変化量検出回路52とレーザパワー決定回路54で構成されている。
変化量検出回路52は、マトリクスアンプ30から出力される再生信号(RF信号)において、最短マーク(例えば、3Tマークなど)のローレベルの変化量を検出し、レーザパワー決定回路54は、変化量検出回路52で検出された変化量が予め定めたスライスレベル以下となる記録パワーをもって光ディスク10へ記録する際の記録パワーを決定する。なお、スライスレベルは、記録再生装置22のエラー補正能力、記録ストラテジのマッチングに依存する量である。
また、変化量検出回路52は、2値化回路32からの出力から、基準信号(クロック)に対する位置の変化量を検出するようにしてもよい。
続いて、上述のように構成された記録再生装置22で行われるレーザパワーの決定方法について説明する。
熱干渉によるピット長のばらちきが生じない(エラーが致命的な値とならない)記録パワーを決定するために、本実施の形態では図3に示すような手順で記録パワーを決定する。
まず、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンを、記録パワーを低い記録パワーから高い記録パワーに段階的に変化させて記録する(ステップ100)。すなわち、予め定めた評価パターンが記録されるように記録信号発生回路48ではパルスが設定され、レーザドライバ回路46に設定されたパルスが入力されることで光ディスク10のPCA領域にレーザ光が照射されて評価パターンが記録(試し書き)される。
一般に熱干渉は最も短いマークにおいて顕著となり、前後のスペースの長さに依存して、その最短マークの長さが変動する現象として現れる。従って、評価パターンとしては、最短マーク及び数種の長さのスペースの組み合わせであればよい。
次に、試し書きした評価パターンを再生し、記録した各記録パワーにおける熱干渉の発生度合いを数値化する(ステップ102)。熱干渉の度合いを数値化する方法としては、再生信号を2値化して、基準クロックに対する位置の変化量を検出する方法と、再生信号において、最短マークのローレベルの変化量を検出する方法によって熱干渉の度合いを数値化することが可能である。本実施の形態では、変化量検出回路52によって、再生信号における最短マークのローレベルの変化量を検出する。
そして、数値化した値が予め定めたスライスレベルより小さい値となるように記録パワーを決定する(ステップ104)。本実施の形態では、検出された変化量が、予め定めたスライスレベル以下となる記録パワーをもって本番の記録を実施する。すなわち、本実施形態では、レーザパワー決定回路54によって、変化量が予め定めたスライスレベル以下となる記録パワーとなるように設定される。これによって、最適な記録パワーを設定することが可能となる。
本実施の形態では、スライスレベルは、良好な記録を行えるPIエラー(訂正可能なエラー)の測定値を求め、該PIエラーの測定値に対応する変化量を求めることでスライスレベルを決定する。すなわち、最短マークのローレベルの変化量が良好な記録を行うことができるPIエラーの測定値から求めたスライスレベルをもって記録パワーを決定することで、PIエラーの発生を抑制することができ、良好な記録を行うことができる。
なお、上述の熱干渉発生度合いを数値化する方法を、光ディスク10の製造時の検査工程で実施するようにしてもよい。この場合には、上述のスライスレベルで、OK/NGの判定を行うことで、高速記録適正のない(熱干渉に弱い)ディスクを検出することが可能となる。
ここで、一例として記録再生装置22としてパルステック社製DDU−1000を使用して上述の方法を適用して記録パワーの決定をした場合の例を説明する。
使用した評価パターンは、3Tと11Tマークの繰り返しパターンを使用して記録パワーの決定を行う。
図4は、8倍速で光ディスク10に記録を行い、熱干渉が顕著となっているときのRF信号を示す図である。3Tlレベル(3T信号のローレベル)が3Tlhから3TlLまで変動しているのがわかる。なお、11Thは11Tマークのハイレベルを示し、11Tlは11Tマークのハイレベルを示し、同様に、3Thは3Tマークのハイレベルを示す。
また、図5は、記録パワーを変化させた時の3T及び11Tからなる評価パターンの再生信号を示す図であり、図5(A)は記録パワー28.2mWのときの評価パターンの再生信号を示し、図5(B)は記録パワー29.0mWのときの評価パターンの再生信号を示し、図5(C)は記録パワー29.8mWのときの評価パターンの再生信号を示し、図5(D)は記録パワー30.6mWのときの評価パターンの再生信号を示し、図5(E)は記録パワー31.4mWのときの評価パターンを示す。
ここで、3Tlの変化量(Δ3Tl)を3T信号で規格化したΔ3Tl/3Tを、記録パワーに対してプロットすると図6に示すようになる。
図6に示すように、記録パワーの上昇に伴い、Δ3T/3Tも増加する。ここで、通常の記録パターンを使用して記録パワーを低い記録パワーから高い記録パワーに段階的に変化させて記録したときのPIエラー測定値を測定すると、良好な記録が行えるのは、PIエラーが280個より小さい時(PIエラー<280)である。
そこで、本実施形態では、PIエラーの測定値とΔ3Tl/3Tの値とを対応させてスライスレベルを決定している。すなわち、Δ3Tl/3Tの値にPIエラー<280を対応させると、Δ3Tl/3T<0.3のときPIエラーが280より小さくなり、Δ3Tl/3Tのスライスレベルを0.3に設定する。
本実施形態の記録再生装置(DDU−1000)では、図6から記録パワーは31mW以下として記録すべきであると判断できるので、この値(31mW)をスライスレベルとしてレーザパワー決定回路54に記憶する。これによってレーザパワー決定回路54で最適な記録パワーを決定することができる。
なお、評価パターンの記録は、記録パワーを段階的に変化させて記録するが、この時の記録パワーは0.5mWステップであることが好ましく、0.3mWステップである方が更に好ましい。さらには0.1mWステップであることが最も好ましい。
また、本実施の形態では、上述のように決定した記録パワーが光ディスク10に予め記録された目標β値から得られる記録パワーよりも大きい場合には、上述のように決定した記録パワーではなく、目標β値を記録パワーとして設定するようにしてもよい。すなわち、レーザパワー決定回路54では、上述のスライスレベルを用いて決定した記録パワーと光ディスク10から読み取った目標β値から得られる記録パワーとが比較され、目標β値から得られる記録パワーの方が小さい記録パワーである場合には、目標β値となる記録パワーを本番の記録用の記録パワーとして設定する。これによって、良好な記録を行うことができるようになる。
本発明の実施の形態に係わる光記録媒体が適用可能な光ディスクを示す図である。 本発明の実施の形態に係わる記録再生装置の構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態に係わるレーザパワーの決定方法の手順を示すフローチャートである。 8倍速で光ディスクに記録を行い、熱干渉が顕著となっているときの再生信号を示す図である。 記録パワーを変化させた時の3T及び11Tからなる評価パターンの再生信号を示す図である。 記録パワーの変化に対するΔ3T/3Tの特性を示すグラフである。
符号の説明
10 光ディスク
24 ピックアップ
26 再生信号検出器
28 半導体レーザ
30 マトリクスアンプ
46 レーザドライバ回路
50 記録パワー決定回路
52 変化量検出回路
54 レーザパワー決定回路

Claims (5)

  1. 少なくともレーザ光を照射することで情報記録が可能な光記録媒体の記録制御方法であって、
    記録パワーを段階的に変化させて、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンであって最短マーク及び当該最短マークより長いマークを含む評価パターンを光記録媒体に試し書きする記録ステップと、
    前記記録ステップによって試し書きした前記評価パターンを再生し、前記評価パターンにおける熱干渉の発生度合いを数値化して前記最短マークの変化量を検出する検出ステップと、
    予め定めた訂正可能なエラーの測定値に対応する前記変化量を予め求めて前記検出ステップで検出した変化量の閾値とし、当該閾値と前記検出ステップによって検出した変化量に基づいて記録パワーを決定する決定ステップと、
    を含むことを特徴とする光記録媒体の記録制御方法。
  2. 前記決定ステップは、決定した記録パワーよりも前記光記録媒体に予め記録された目標記録パワーの方が小さい記録パワーの場合には、前記目標記録パワーを記録パワーとして決定することを特徴とする請求項1に記載の光記録媒体の記録制御方法。
  3. 少なくともレーザ光を照射することで情報記録が可能な光記録媒体の記録制御装置であって、
    記録パワーを段階的に変化させて、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンであって最短マーク及び当該最短マークより長いマークを含む評価パターンを光記録媒体に試し書きする記録手段と、
    前記記録手段によって試し書きされた前記評価パターンを再生し、前記評価パターンにおける熱干渉の発生度合いを数値化して前記最短マークの変化量を検出する検出手段と、
    予め定めた訂正可能なエラーの測定値に対応する前記変化量を予め求めて前記検出手段によって検出した変化量の閾値とし、当該閾値と前記検出手段によって検出された変化量に基づいて記録パワーを決定する決定手段と、
    を備えることを特徴とする光記録媒体の記録制御装置。
  4. 前記決定手段は、決定した記録パワーよりも前記光記録媒体に予め記録された目標記録パワーの方が小さい記録パワーの場合には、前記目標記録パワーを記録パワーとして決定することを特徴とする請求項3に記載の光記録媒体の記録制御装置。
  5. 少なくともレーザ光を照射することで情報記録が可能な光記録媒体の検査方法であって、
    記録パワーを段階的に変化させて、もしくは、特定の記録パワーで、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンであって最短マーク及び当該最短マークより長いマークを含む評価パターンを光記録媒体に記録する記録ステップと、
    前記記録ステップによって記録した前記評価パターンを再生し、前記評価パターンにおける熱干渉の度合いを数値化して前記最短マークの変化量を検出する検出ステップと、
    予め定めた訂正可能なエラーの測定値に対応する前記変化量を予め求めて前記検出ステップで検出した変化量の閾値とし、記検出ステップによって検出した変化量が前記閾値より小さい場合に高速記録に適した媒体と判定し、前記検出ステップによって検出した変化量が前記閾値以上の場合に高速記録に適さない媒体と判定する判定ステップと、
    を含むことを特徴とする光記録媒体の検査方法。
JP2004054453A 2004-02-27 2004-02-27 光記録媒体の記録制御方法、記録制御装置、及び検査方法 Expired - Lifetime JP4348213B2 (ja)

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