CN101828223A - 光信息记录介质再生装置以及光信息记录介质 - Google Patents

Abstract

一种光信息记录介质再生装置(1)，其对超分辨光信息记录介质(100a)进行再生，其中，该超分辨光信息记录介质(100a)包含比光学系统的分辨界限短的长度的记录标记、并按照随机图案方式配置多个记录标记，由此来记录信息；其中，该光信息记录介质再生装置(1)对超分辨光信息记录介质(100a)的记录面照射激光，一边使再生激光功率从规定的初始值开始变动一边执行对与超分辨光信息记录介质(100a)的再生品质相关的指标进行测量的测试引导，并根据所测量的指标来设定再生激光功率。由此，根据测试引导的结果，决定对超分辨光信息记录介质(100a)中所记录的信息进行再生的再生激光功率，所以能够获得良好的再生品质。

Description

光信息记录介质再生装置以及光信息记录介质

技术领域

本发明涉及采用激光束等的光来记录以及再生、或仅可再生信息的光信息记录介质的光信息记录介质再生装置以及光信息记录介质，尤其涉及采用了可再生由衍射界限光点径决定的光学分辨率以下的记录标记的超分辨光信息记录介质技术的光信息记录介质的光信息记录介质再生装置以及光信息记录介质。

背景技术

近年来，随着高度信息化、信息通信以及多媒体技术的发展，光信息记录介质的高密度化、大容量化的要求提高。

光信息记录介质的记录密度上限主要受记录或再生信息的光束的点径限制。这是因为，与缩小光信息记录介质的记录标记直径而成为高密度化相伴，在点区域内包含多个记录标记，从而导致无法检知各记录标记。

当将从光源照射出的光的波长设为λ、将用于形成光点的物镜的数值孔径(numerical aperture)设为NA时，光束的点径近似用λ/NA来表示。因此，光信息记录介质在缩短从光源照射出的光的波长λ的同时增加物镜的数值孔径NA，缩小光束的点径，由此来提高实质的记录密度。

但是，根据光学元件的吸收及检测器灵敏度特性的限制，考虑了从光源照射出的光的波长λ存在紫外线区域的波长界限。另外，物镜数值孔径NA的提高也受光束光轴和相对于光信息记录介质的倾斜的容许量限制。因此，通过使从光源照射出的光的波长λ或NA变化，来缩小光束的点径，并为了实现记录密度提高而存在界限。

因此，开发了采用能够对再生光学系统的衍射界限以下(以后，称为光衍射界限以下)的长度的记录标记进行再生的技术即超分辨技术的光信息记录介质。此外，以后，将采用该技术的光信息记录介质称为超分辨光信息记录介质，将采用该技术来再生光衍射界限以下的记录标记长的记录坑(pit)的情况称为超分辨再生。

再生光学系统的光衍射界限受可检测出的信号的频率界限制约，一般称为λ/(2NA)(λ：再生光波长，NA：透镜的数值孔径)程度。

已知上述的λ/(2NA)程度相当于由单一尺寸的记录标记(mark)和空白(space)的反复构成的图案(pattern)的周期尺寸，作为其一半的λ/(4NA)程度为记录标记长度的分辨界限。由此，在以后，所谓分辨界限表示记录标记长度的分辨界限即λ/(4NA)。此外，实际上，除了理论以外还要受光学系统内的其它要素影响，所以具有如下的情况，分辨界限值偏离由波长以及数值孔径求出的理论值而产生某程度的差。

作为超过上述分辨界限并能够进行超分辨再生的技术，具有如专利文献1所示的超分辨技术。

在专利文献1中，作为采用上述超分辨技术的光信息记录介质的一例，公开了如下内容：在具有相变化记录膜和反射膜并通过照射激光进行信息的记录再生的光信息记录介质中，在上述相变化记录膜的附近，作为信号增强膜设置有碳薄膜。

另外，在专利文献1所述的光信息记录介质中，采用在信号再生的方向上配置光衍射界限以下的同一形状的记录标记的方式。专利文献1所述的光信息记录介质，再生通过单一频率反复而由相位坑(标记·空白比1∶1，以后，称为单调图案方式)形成的信息。并且，在上述光信息记录介质的再生特性评价中采用C/N(Carrier to Noise ratio，载波噪声比)，并记载了基于该评价的与超分辨再生有关的实施例的结果。

另外，在专利文献1中具有如下的记载：再生超分辨光信息记录介质所需的再生激光功率与再生不需要超分辨再生的光信息记录介质时所需的再生激光功率相比，需要较高的再生激光功率。并且公开了当再生激光功率增加时由于相变化记录标记的破坏，而导致再生信号减少这样的现象，这被推测为导致相变化记录标记开始破坏的原因是热。因此，为了再生这样的超分辨光信息记录介质，而无限制地增加再生激光功率是存在问题的。

【专利文献1】日本国公开专利公报「日本特开2006-18976号公报(2006(平成18)年1月19日公开)」

【专利文献2】日本国公开专利公报「日本特开2001-250274号公报(2001(平成13)年9月14日公开)」

但是，在一般的光信息记录介质中，采用根据规定方式在信号再生的方向上配置长度有规律地不同的多个标记的方式(以后，称为随机图案方式)，而不是专利文献1所公开的单调图案方式。

其理由是因为，与利用单调图案方式进行记录的情况相比，利用随机图案方式进行记录能够提高记录密度。上述情况在采用可再生光衍射界限以下的长度的记录标记的技术即超分辨技术的光信息记录介质中也适合。

此外，在该随机图案方式中具有多个实用化例。例如，在CD(CompactDisk)的情况下，采用EFM(8-14)调制方式(Eight to Fourteen Modulation)。另外，在DVD(Digital Versatile Disk)、Blu-RayDisc(BD)、以及HD-DVD的情况下，调制方式与CD的情况不同，在DVD中采用EFMPlus(8-16)调制方式，在BD中采用1-7PP调制方式，在HD-DVD中采用ETM(8-12)调制方式。即，在多个光信息记录介质中，采用可提高记录密度的随机图案方式。

本发明的发明人从研究结果中发现，当再生利用包含光衍射界限以下长度的记录标记的随机图案方式来记录信息的光信息记录介质时，仅提高C/N，未必能够获得良好的再生品质，所以评价抖晃(jitter)并使其降低是重要的。

当再生采用一般的记录方式即随机图案方式记录信息的光信息记录介质时，再生信号品质是重要的。利用C/N、抖晃、比特错误率、再生信号波形的非对称这样的各种指标来评价再生信号品质。

在再生光信息记录介质的情况下，当再生光束照射到记录有信息的记录标记时，检测器(detector)检知其反射光量(反射强度)的变化，由此来再生信号。实际上，在此过程中，产生信号的变换点位置误差即抖晃。由于激光的噪声、来自邻接磁道(track)的反射衍射光引起的串扰(cross talk)、基于介质缺陷的噪声这样的要因而产生抖晃。当抖晃变大时，产生再生系统中的读出错误，并且难以稳定的再生。因此，为了实现稳定的超分辨再生和超分辨光信息记录介质的高密度化，降低抖晃是必不可少的。

在仅再生形成大于光衍射界限的记录标记长的记录标记的光信息记录介质的情况下，当C/N提高时，抖晃降低。即，在C/N和抖晃之间相关关系成立，所以仅评价C/N，如果仅提高该C/N则能够提高再生信号品质。

另一方面，在以包含光衍射界限以下长度的记录标记的随机图案方式来记录信息的光信息记录介质的情况下，仅仅提高C/N，未必能够降低抖晃，由此可知为了提高再生信号品质，抖晃的评价也是必要的。

本发明的发明人从进一步研究的结果中发现，当再生以随机图案方式来记录信息的超分辨光信息记录介质时，抖晃对再生激光功率存在很大的依存性。

当再生现有再生光学系统的衍射界限以上的坑以一般的随机图案方式来记录信息的光信息记录介质时，在该光信息记录介质再生时所产生的抖晃对被照射的激光功率不依存。因此，在再生光信息记录介质的内容之前，针对抖晃等，不需要设定用于使再生信号品质最优的再生激光功率这样的特别过程(以后，称为测试引导机构)。

但是，当再生以随机图案方式来记录信息的超分辨光信息记录介质时，可知抖晃对再生激光功率存在很大的依存性。

即，在再生光信息记录介质的内容之前，针对抖晃等，需要设定用于使再生信号品质最优的再生激光功率这样的构造。另外，上述专利文献1中的伴随着再生激光功率的增加而再生信号减少这样的问题也存在于以随机图案方式来记录信息的超分辨光信息记录介质中，所以根据解决上述问题这样的观点，在再生超分辨光信息记录介质时，非常需要设定最优的再生激光功率。

发明内容

本发明是鉴于上述问题点而作出的，其目的是提供能够决定最优的再生激光功率且实现稳定的超分辨再生的光信息记录介质再生装置以及光信息记录介质。

本发明的光信息记录介质再生装置，对光信息记录介质进行再生，其中，该光信息记录介质按照规定的方式，对长度有规律地不同、并包括比再生装置所具有的光学系统分辨界限短的标记在内的多个标记进行配置，由此来记录信息，该光信息记录介质再生装置的特征是，通过激光照射，来执行对与该光信息记录介质的再生品质相关的指标进行测量的测试引导，并根据测量出的指标，设定再生激光功率，并一边使再生激光功率从规定的初始值开始变动一边进行上述测试引导。

这里，在超分辨光信息记录介质中，再生激光功率与再生品质相关。此外，上述超分辨光信息记录介质采用按照规定的方式在信号再生的方向上配置长度有规律地不同的多个标记的所谓随机图案方式。另外，所谓这里的标记表示由凹凸构成的坑或光信息记录介质的记录装置在记录时形成在光信息记录介质上的记录标记。

根据上述结构，在再生超分辨光信息记录介质时，光信息记录介质再生装置为了再生光信息记录介质而设定最优的再生激光功率，由此来进行测试引导。并且，根据与利用测试引导而获得的再生品质相关的指标，来决定再生激光功率。因此，为了再生光信息记录介质，可决定良好的再生激光功率，从而达到能够获得良好再生品质的效果。

另外，当再生光信息记录介质时，没有将过大的再生激光功率照射到光信息记录介质的记录面上，因此能够防止作为光信息记录介质的介质的再生品质劣化等，提高对反复再生的耐久性。

然后，将用于进行测试引导的再生激光功率设定为规定的初始值，并开始测试引导。这里，所谓规定的初始值例如是预先以标准的条件进行测量等而获得的适合再生上述光信息记录介质的再生激光功率等。

然后，在与实用的再生信号品质的再生激光功率变动相对的余裕(再生激光功率裕度)较宽的光信息记录介质的情况、或相对于围绕超分辨光信息记录介质的周边环境而再生激光功率裕度不变化的情况下，例如，如下地设定最优再生激光功率的情况是高效的。

即，以设定的再生激光功率为中心使再生激光功率变动，将抖晃为最低值的再生激光功率设定为最优再生激光功率。

通过如上所述地进行测试引导，可高效地进行测试引导，并能够迅速决定最优再生激光功率。

此外，再生激光功率的变动方向既可以先是增加方向，也可以先是减少方向，另外，可交替反复一定的变动。另外，在取得推荐再生激光功率信息后，可将该推荐激光功率设定为最优再生激光功率。

另外，本发明的光信息记录介质再生装置，对光信息记录介质进行再生，该光信息记录介质按照规定方式，对长度有规律地不同、并包括比再生装置所具有的光学系统分辨界限短的标记在内的多个标记进行配置，由此来记录信息，光信息记录介质再生装置的特征是，通过激光照射，来执行对与该光信息记录介质的再生品质相关的指标进行测量的测试引导，并根据测量出的指标，设定再生激光功率，然后一边使再生激光功率从规定的初始值开始以规定的变动幅度变动一边进行上述测试引导。

根据上述结构，当再生超分辨光信息记录介质时，光信息记录介质再生装置为了再生光信息记录介质而设定最优的再生激光功率，所以进行测试引导。并且，根据与通过测试引导而获得的再生品质相关的指标，来决定再生激光功率。因此，为了再生光信息记录介质，可以决定良好的再生激光功率，并且达到能够获得良好再生品质的效果。

另外，当再生光信息记录介质时，没有将过大的再生激光功率照射到光信息记录介质的记录面上，所以能够防止作为光信息记录介质的介质的再生品质的劣化等，并提高针对反复再生的耐久性。

然后，为了执行测试引导，设定开始测试引导的再生激光功率即初始值(测试引导开始功率)以及上述规定的变动幅度即扫描间隔。此外，所谓规定的初始值以及规定的变动幅度是上述光信息记录介质的制造商实施测试引导时对上述光信息记录介质推荐的初始值、变动幅度，并记录在上述光信息记录介质内。例如，制造商将在预先假定为以标准条件再生上述光信息记录介质的环境下测量再生时的信号品质等而获得的、适合执行上述光信息记录介质的测试引导的再生激光功率以及变动幅度，作为上述规定的初始值以及上述规定的变动幅度，并将其记录到上述光信息记录介质中。

首先，在设定为测试引导开始功率的再生激光功率下执行测试引导，以下的测试引导从该测试引导开始功率开始使再生激光功率变动扫描间隔。这样，从在上次测试引导中设定的再生激光功率开始，使再生激光功率变动扫描间隔，来执行以下测试引导。

这里，具有如下的情况，根据再生时的环境变化(超分辨光信息记录介质周边的温度变化等)，使超分辨光信息记录介质产生变形等，从而导致最优再生激光功率变动。

这点根据上述结构，可针对每个超分辨光信息记录介质，按照与介质相应的扫描间隔来进行测试引导，并能够可靠高效地决定最优的最优再生激光功率，从而能够在各种超分辨光信息记录介质中稳定再生。

另外，在测试引导中使再生激光功率变动的方向可以是使再生激光功率增加的方向也可以是减少的方向。

通过如上所述地进行测试引导，能够高效地进行测试引导，并能够迅速决定最优再生激光功率。

即，根据本发明的光信息记录介质再生装置以及超分辨光信息记录介质，通过进行测试引导来评价对可看作以随机图案方式来记录信息的超分辨光信息记录介质的特有抖晃等再生信号品质进行表示的指标相对于再生激光功率的依存性，当再生超分辨光信息记录介质时，能够设定可进行最优超分辨再生的再生激光功率。因此，可根据与各超分辨光信息记录介质的再生品质相关的指标的特性，来设定再生激光功率，并达到可实现稳定的超分辨再生的效果。

通过以下所示的记载可充分了解本发明的其它目的、特征以及优点。另外，本发明的优点经过参照附图的以下说明而变得明白。

附图说明

图1是示出包含本实施方式的测试引导机构的光信息记录介质再生装置结构的一例的功能框图。

图2是光信息记录介质的例示的平面图。

图3是关于测试引导的最优再生激光功率设定动作的流程图。

图4是示出盘#1的光信息记录介质的概括结构的剖视图。

图5是示出盘#2的光信息记录介质的概括结构的剖视图。

图6是示出盘#3的光信息记录介质的概括结构的剖视图。

图7是示出在光信息记录介质的基板上形成的记录标记的一例的图。

图8是针对盘#1～3所示的再生信号品质的再生激光功率的依存性的曲线图。

符号说明

1    光信息记录介质再生装置

3    光学头(光学系统)

9a   控制部

9b   测试引导控制部

71   记录标记

100  光信息记录介质

100a 超分辨光信息记录介质

100b 通常的光信息记录介质

101  测试引导信息用区域

102  数据记录区域

具体实施方式

如果根据图1～图3来说明本发明的实施方式，则如下所述。本实施方式的光信息记录介质再生装置，对超分辨光信息记录介质以及通常的光信息记录介质中所记录的信息进行再生。

(光信息记录介质再生装置的结构)

首先，参照图1来说明实施方式的光信息记录介质再生装置1。图1是示出包含上述光信息记录介质再生装置1的测试引导机构的结构一例的功能框图。光信息记录介质再生装置1具备：主轴电动机(spindle motor)2、光学头3、激光控制电路4、伺服机构5、信号检测电路6、信号处理电路7、错误检测电路8、控制部9a、以及能感知光信息记录介质装填的传感器10。在控制部9a中具备作为光信息记录介质再生装置1的特征结构的测试引导控制部9b。另外，存储器9c成为可由测试引导控制部9b利用的状态。

光信息记录介质再生装置1是能够光学再生光信息记录介质100的装置。另外，作为上述光信息记录介质100，可采用超分辨光信息记录介质100a及不需要超分辨再生的通常的光信息记录介质100b等。

主轴电动机2具备未图示的转动工作台(turntable)，并使光信息记录介质100旋转。光学头3一边相对于旋转中的光信息记录介质100沿着其半径方向移动一边照射激光。光信息记录介质再生装置1通过该激光的照射来对光信息记录介质100进行信息再生。

光学头3具有如下的功能：当再生光信息记录介质100中所记录的信息时，将再生用激光照射到光信息记录介质100中，接收其反射光变换为电信号后输出。光学头3具有未图示的半导体激光来作为光源，另外，还具有未图示的物镜。不限定上述半导体激光振荡的激光波长，例如可以为405nm。不限定上述物镜的数值孔径，例如可以为0.85。

激光控制电路4对光学头3所照射的激光进行控制。

另外，将激光控制电路4设计成，在再生光信息记录介质100中所记录的信息时，控制光学头3，使再生激光照射到光信息记录介质100上。此外，在再生时由光学头3生成的电信号经由信号检测电路6以及信号处理电路7被发送到错误检测电路8并被进行处理。该再生数据被发送到控制部9a并输出。后面叙述关于测试引导的详细内容，在光信息记录介质100为超分辨光信息记录介质100a的情况下，通过执行测试引导，来使再生激光的再生激光功率最优化，并由光学头3对超分辨光信息记录介质100a照射上述再生激光。然后，在再生时由光学头3生成的电信号经由信号检测电路6以及信号处理电路7被发送到错误检测电路8并被进行处理，并输出超分辨光信息记录介质100a中所记录的信息。

伺服机构5根据由光学头3生成的电信号来生成聚焦错误信号以及跟踪错误信号，并控制光学头3中的半径方向的移动。

另外，在控制部9a中具备管理一连串测试引导的测试引导控制部9b。后面，对测试引导的动作进行详细叙述。另外，这里的光信息记录介质100为超分辨光信息记录介质100a。但是，当再生非超分辨光信息记录介质即通常的光信息记录介质100b时，只要按照通常的再生顺序来再生内容即可。因为形成测试引导信息用区域101的记录标记是以上述光信息记录介质再生装置1所具备的光学系统分辨界限以上的长度来形成的，所以不需要进行超分辨再生，就能够判定光信息记录介质100是超分辨光信息记录介质100a还是通常的光信息记录介质100b。

(光信息记录介质)

接着，对光信息记录介质再生装置1再生的光信息记录介质100进行说明。图2是光信息记录介质100的例示的平面图。如该图所示，光信息记录介质100具有内径孔103，在与该内径孔103相对的径向的正外方侧具有测试引导信息用区域101。此外，在径向的外方侧具有数据记录区域102。

作为记录在测试引导信息用区域101内的测试引导信息，具体地说，包含：表示光信息记录介质100是否是超分辨光信息记录介质的介质识别信息；进行测试引导的磁道位置的地址；推荐再生激光功率信息以及/或表示测试引导时的再生激光功率起点的测试引导开始功率信息和表示推荐扫描间隔的推荐扫描间隔信息。

在上述测试引导信息用区域101内预先再生的光信息记录介质100是否是超分辨光信息记录介质，此外还在基板70成形时，将推荐再生激光功率信息以及/或测试引导开始功率信息和推荐扫描间隔信息形成在测试引导信息用区域101内。此外，在本实施方式中，在上述基板70形成时，形成上述测试引导信息用区域101，但在形成后任意的时期，可形成测试引导信息用区域101。

上述测试引导信息用区域101由坑、摆动沟槽(wobble)等记录标记形成。在由坑形成的情况下，按照规定的方式对包括比光信息记录介质再生装置1所具有的光学系统分辨界限长的记录标记在内的多个坑进行配置，由此形成表示测试引导信息的记录标记。

记录方式采用基于1-7PP调制方式等一般的方式而形成的方式。此外，记录有测试引导信息的测试引导信息用区域101的位置不限于图2所示的位置，在光信息记录介质100中可以处在任意的位置。

另外，可设置多个测试引导信息用区域101。在光信息记录介质100的内径孔103的附近部分可形成记录有测试引导信息的条形码(bar code)。

此外，在测试引导信息用区域101内，当利用由与测试引导信息对应的凸凹构成的坑来进行记录时，优选这些坑的大小由光衍射界限以上的坑构成。即，在不需要超分辨再生的记录方式中，优选记录测试引导信息。由此，能够以通常规定的再生激光功率来读出测试引导信息。在决定再生光信息记录介质100中所记录的信息的再生激光功率之前，只要按照光信息记录介质再生装置1可取得上述测试引导信息的方式被记录即可。

此外，当光信息记录介质再生装置1与互联网(包括有线、无线)网络连接时，可经由网络取得测试引导信息。此外，即使针对上述介质识别信息也能够获得与上述测试引导信息同样的记录方式。

在光信息记录介质100是超分辨光信息记录介质100a时，形成在上述数据记录区域102中的记录标记包括长度有规律地不同且比光信息记录介质再生装置1所具有的光学系统分辨界限短的记录标记。另外，上述数据记录区域102可按照规定的方式来配置该记录标记，由此来记录信息。

另一方面，在光信息记录介质100是通常的光信息记录介质100b时，数据记录区域102由比光信息记录介质再生装置1所具有的光学系统分辨界限长的记录标记形成。

(测试引导概要)

接着，叙述对本发明的测试引导机构的说明以及测试引导的必要性。所谓测试引导表示如下的过程：为了设定用于使再生信号品质最优的再生激光功率，而通过预定的再生激光功率来再生抖晃等测试引导用信息，由此测定评价再生信号品质的指标。

上述测试引导的具体方法例如是以下的方法。当再生超分辨光信息记录介质100a时，首先，光信息记录介质再生装置1获得包含推荐再生激光功率信息以及/或测试引导开始功率信息和推荐扫描间隔信息在内的测试引导信息。上述测试引导信息例如可记录在超分辨光信息记录介质100a的能够记录的区域以外的场所，或者可以在超分辨光信息记录介质100a的内径孔103的附近部分被记录为条形码。在任一情况下，只要在决定对内容进行再生的再生激光功率之前，按照光信息记录介质再生装置1能够取得上述测试引导信息的方式被记录即可。

接着，根据所取得的上述测试引导信息，例如使用测试引导开始功率信息所指定的再生功率，来再生用于测定在测试引导中评价再生信号品质的指标的信息，并测定上述指标。这里，虽然示出了抖晃测定，但评价所测定的再生信号品质的指标不仅限于抖晃，也可以是其它指标(例如，比特错误率、再生波形的非对称等)。抖晃等指标大多为评价超分辨光信息记录介质100a的再生功率裕度(与再生信号品质的再生激光功率变动相对的余裕)的指标，例如，如果是抖晃，则针对超分辨光信息记录介质100a的再生激光功率，抖晃值产生再生系统中的读出错误，可以将未超过难以稳定再生的阈值的区域规定为再生功率裕度。

接着，使再生激光功率增加推荐扫描间隔信息所指定的值，并进行再生，然后测定抖晃(以后叙述对推荐扫描间隔信息的说明)。即，这里采用的再生激光功率是由测试引导开始功率信息所指定的激光功率与由推荐扫描间隔信息所指定的激光功率相加后而获得的数值。

然后，反复使再生激光功率增加推荐扫描间隔信息的设定值并进行再生来测定抖晃的作业，由此，即使再生激光功率稍微变动，也能够决定可获得更低的抖晃的再生激光功率。

此外，在上述中根据测试引导开始功率信息的设定来缓缓提高再生激光功率，但相反通过降低再生激光功率，也可以进行测试引导，或者可以以推荐激光功率为中心使再生激光功率上升下降，来决定最优再生激光功率。

另外，在光信息记录介质再生装置1中，推荐激光功率未必为最优再生激光功率的理由是再生激光功率针对每个光信息记录介质再生装置而存在偏差。

接着，对需要推荐扫描间隔信息的理由进行说明。在超分辨光信息记录介质的情况下，可存在与实用再生信号品质的再生激光功率变动相对的余裕(以下，称为再生激光功率裕度。)较宽的超分辨光信息记录介质、以及再生激光功率裕度较窄的超分辨光信息记录介质。

首先，说明在对已记录到再生激光功率裕度较宽的超分辨光信息记录介质上的内容进行再生之前需要测试引导的理由。

在这样的超分辨光信息记录介质的情况下，因为再生激光功率裕度较宽，所以即使再生激光功率变动，对抖晃产生的影响也较少。因此，在进行测试引导并设定再生激光功率时，进行测试引导的范围变得非常宽。因此，为了能进行高效的测试引导，而根据光信息记录介质的特性来变更测试引导开始功率信息的设定，且在设定了适当的推荐扫描间隔信息之后需要进行测试引导。因此，在测试引导开始功率信息中设定适当值，并适当拓宽利用推荐扫描间隔信息所表示的再生激光功率的变动幅度，从而能够减少抖晃等表示再生信号品质的指标的测定个数。另外，即使在测试引导开始功率基于每个光信息记录介质再生装置的误差而变动的情况下，也能够通过上述推荐扫描间隔信息的设定来决定足够最优再生激光功率。即，可通过适当设定推荐扫描间隔信息来高效地决定最优再生激光功率。

接着，说明在对已记录到再生激光功率裕度较窄的超分辨光信息记录介质上的内容进行再生之前需要测试引导的理由。在此情况下，如果以与关于超分辨光信息记录介质所表示的抖晃的再生激光功率裕度较宽时同样的推荐扫描间隔来进行测试引导，则关于抖晃的再生激光功率裕度非常窄，因此难以设定适当的再生激光功率。

因此，通过使从测试引导开始点开始的再生激光功率的变动幅度(推荐扫描间隔信息)适当变窄，可以始终决定最优的最优再生激光功率。因为与在超分辨光信息记录介质100a再生时测量的抖晃相关的再生激光功率裕度较窄，所以表示实用抖晃值的再生激光功率区域也较窄。因此，需要以与关于抖晃的再生激光功率裕度对应的再生激光功率的变动幅度(推荐扫描间隔信息)进行测试引导。

(测试引导的详细内容)

接着，采用图1、图2以及图3来说明测试引导机构的动作顺序。这里，光信息记录介质再生装置1要再生的光信息记录介质100是超分辨光信息记录介质100a。另外，图3是关于测试引导的最优再生激光功率设定动作的流程图。

当在光信息记录介质再生装置1内装填超分辨光信息记录介质100a时，传感器10检知上述超分辨光信息记录介质100a，控制部9a使主轴电动机2动作并使超分辨光信息记录介质100a旋转。

针对上述光信息记录介质100a，控制部9a经由激光控制电路4使光学头在光信息记录介质100a上的测试引导信息用区域101上移动，并读取介质识别信息(S1)。然后，测试引导控制部9b根据上述介质识别信息，来判定所再生的超分辨光信息记录介质100a是否是应该超分辨再生的光信息记录介质(S2)。该判定例如可以是在介质识别信息中预先记录用于识别介质的识别符，并判定该识别符。这里，判定为超分辨光信息记录介质100a是应该超分辨再生的光信息记录介质(在S2中是“是”)，此外，测试引导控制部9b读出测试引导信息，并取得测试引导条件(S3)。测试引导控制部9b经由信号检测电路6、信号处理电路7、错误检测电路8将该测试引导信息记录到存储器9c内。

测试引导控制部9b使光学头3移动到进行测试引导的磁道位置的地址上。进行测试引导的区域只要是如下这样的区域即可，在该区域中按照规定的方式对长度有规律地不同、并且包括比光信息记录介质再生装置1所具有的光学系统分辨界限短的记录标记在内的多个记录标记进行配置，由此来记录信息。例如，举出数据记录区域102。

接着，测试引导控制部9b设定用于测试引导的再生激光功率，并实施测试引导(S4)。测试引导控制部9b以所设定的再生激光功率经由激光控制电路4使光学头3针对超分辨光信息记录介质100a照射激光。在此再生时，由光学头3所生成的电信号经由信号检测电路6以及信号处理电路7发送到错误检测电路8中并测定抖晃。

这里，将第n次测试引导所测定的抖晃值称为J(n)(n＝1，2...)。即，第n-1次测试引导所测定的抖晃值表示为J(n-1)。另外，为了方便，将基于测试引导开始功率信息的最初测定中的n设为1(n＝1)。在此时的再生激光功率中采用在测试引导开始功率信息中所指定的内容。

然后，将其后实施的测试引导中的n设为2(n＝2)。此时的再生激光功率使由测试引导开始功率信息所指定的再生激光功率变动由推荐扫描间隔信息所指定的再生激光功率量。该变动在测试引导间可以是增加再生激光功率的变动，或者相反可以是减少再生激光功率的变动。

另外，前述的测试引导控制部9b在存储器9c中记录上述测定的抖晃。此外，在本实施方式中是测试引导控制部9b与存储器9c连接的结构，但不限于此。即，在构成本发明方面，具备存储器9c的场所可任意地设定，例如，可构成为在控制部9a和存储器9c连接之后从测试引导控制部9b也能够共同利用的结构。

接着，测试引导控制部9b对已测定的抖晃和之前测定的抖晃的大小进行比较(S5)。即，评价判定式“J(n-1)＜J(n)”，如果没有满足此条件，则对n加一(S7)，此外，实施测试引导(S4)。即，根据推荐扫描间隔信息，测试引导控制部9b经由激光控制电路4使光学头3增加在推荐扫描间隔信息中所指定的量的再生激光功率。并且，同样地进行抖晃测定。

通常，进行多次这些一连串的测试引导，其中，最终检测给与良好抖晃的再生激光功率(在S5中是“是”)。

然后，当再生光信息记录介质100的内容时，将给与抖晃J(n-1)的再生激光功率设定为最优再生激光功率(S6)。然后，结束测试引导。如果根据在S1中所取得的介质识别信息，判定为光信息记录介质再生装置1要再生的光信息记录介质100是不需要超分辨再生的通常的光信息记录介质100b(在S2中是“否”)，则测试引导控制部9b不进行测试引导，就结束处理，光信息记录介质100b通过现有的方法进行再生。

结果，光信息记录介质再生装置1通过最优再生激光功率来再生光信息记录介质100上的数据记录区域，并能够以适合的再生品质来再生内容。

此外，上述测试引导信息可按照光信息记录介质再生装置1无需采用超分辨再生就能够取得上述测试引导信息的方式来被记录。另外，在上述光信息记录介质100不是超分辨光信息记录介质(通常的光信息记录介质100b)的情况下，测试引导控制部9b可采用现有的手法来再生在通常的光信息记录介质100b中所记录的信息。

〔实施例〕

接着，说明由本实施方式的光信息记录介质再生装置1再生的超分辨光信息记录介质100a。这里，采用盘#1～3来说明超分辨光信息记录介质所表示的再生信号品质的再生激光功率的依存性(再生激光功率裕度)根据超分辨光信息记录介质的结构而不同的情况。首先，说明这些超分辨光信息记录介质100a的基本结构。对采用本实施例的超分辨光信息记录介质技术的光信息记录介质进行说明。此外，以下所示的盘#1～3按照前述的超分辨光信息记录介质100a的结构为准。

〔盘#1〕

图4是示出盘#1的光信息记录介质20的概括结构的剖视图。如该图所示，盘#1具备：透光层50、薄膜部60、和基板70，并从再生光入射面起顺次形成。透光层50具备：聚碳酸酯膜(未图示)(膜厚：80μm)、和透明粘着层(未图示)(膜厚：20μm)，并从再生光入射面起顺次形成。薄膜部60具备：由氧化锌构成的再生层61(膜厚：111nm)、和由Ge构成的光吸收层62(膜厚：50nm)，并从再生光入射面起顺次形成。基板70由聚烯烃系树脂形成。

透光层50只要是再生光能够充分透过的材料即可，例如，可以由聚碳酸酯膜、紫外线固化树脂等形成。

〔盘#2〕

图5是示出盘#2的光信息记录介质30的概括结构的剖视图。如该图所示，盘#2是与盘#1同样的结构，但再生层61的膜厚比盘#1的再生层61的膜厚要厚，可设定为120nm以上。

〔盘#3〕

图6是示出盘#3的光信息记录介质40的概括结构的剖视图。如该图所示，盘#3以专利文献2所述的超分辨光信息记录介质的构造为准。盘#3具备：透光层50、薄膜层状部80、和基板70，并从再生光入射面起顺次形成。

在盘#3中，透光层50具备：聚碳酸酯膜(未图示)(膜厚：80μm)和透明粘着层(未图示)(膜厚：20μm)，并从再生光入射面起顺次形成。由Au构成的薄膜层状部80的膜厚是50nm。另外，基板70由聚烯烃系树脂形成。

这里，说明形成在光信息记录介质20·30·40的基板70上的记录标记。图7是表示形成在光信息记录介质的基板70上的记录标记的一例的图。如该图所示，盘#1～3中的光信息记录介质20·30·40的基板70包含光衍射界限以下长度的记录标记和光衍射界限以上长度的记录标记，根据随机图案方式对记录信息进行记录的凹凸形状的预坑(坑)71形成为同心圆状或螺旋状。对构成基板70的材料的光学特性没有特别限定，可以是透明的也可以是不透明的。作为构成基板70的材料，例如可举出玻璃、聚碳酸酯、非晶聚烯烃(amorphous polyolefin)、热可塑型聚酰亚胺、PET(polyethylene terephthalate)、PEN(polyethylene naphthalate)、PES(polyethersulfone)等热塑性透明树脂、热固化型聚酰亚胺、紫外线固化型丙烯酸树脂等热固化性透明树脂、金属等以及它们的组合。

接着，图8示出盘#1～3所示的再生信号品质的再生激光功率的依存性(再生激光功率裕度)，并且说明在再生超分辨光信息记录介质时本发明的测试引导机构的必要性。此外，当再生这些超分辨光信息记录介质时，再生光学系统采用1-7PP调制方式，并应用了以Blu-ray(注册商标)使用的光学读取方式。另外，作为再生信号品质在通过限制均衡器(limitequalizer)处理了信号之后，评价抖晃。

由此可知，盘#1在再生激光功率0.8mW附近，抖晃不发生变化，但到达1mW以上时抖晃劣化。另外，盘#2在再生激光功率1.6mW附近，抖晃为极小值。盘#3以专利文献2所述的超分辨光信息记录介质的构造为准。该盘#3所示的抖晃与再生激光功率不存在依存性。

如上述可知，通过实施各个结构的超分辨光信息记录介质中抖晃的再生激光功率依存性测定，超分辨光信息记录介质根据其结构存在各种再生激光功率裕度。因此，为了稳定地再生超分辨光信息记录介质，而需要设定适应各超分辨光信息记录介质的再生激光功率。

另外，如果设定适应各超分辨光信息记录介质的再生激光功率时所需的时间长，则要花费直到对光信息记录介质100中所记录的信息进行再生为止的时间。因此，需要高效地设定最优再生激光功率。从而需要设定如下所述的测试引导的最优再生激光功率。

这里，对本发明的光信息记录介质再生装置1的特征机构即测试引导机构进行说明。在图1所示的控制部9a中具备管理一连串测试引导的测试引导控制部9b。以后对测试引导动作的详细内容进行叙述。另外，这里的光信息记录介质为超分辨光信息记录介质。但是，当再生非超分辨光信息记录介质时，只要根据通常的再生顺序来再生内容即可。针对该判定，由于按照上述光信息记录介质再生装置1所具有的光学系统分辨界限以上的长度来形成构成测试引导信息用区域的记录标记，因此不需要进行超分辨再生就能够判定光信息记录介质是超分辨光信息记录介质还是通常光信息记录介质。

(各盘的测试引导例)

接着，说明将在上述流程图中已叙述的设定最优再生激光功率的步骤适用于盘#1～3的情况。这些盘#1～3如上所述，是超分辨光信息记录介质。

〔盘#2的测试引导的情况〕

图8所示的盘#2如图所示是在抖晃为良好值的再生激光功率1.0mW～1.8mW中对再生激光功率有强依存性的超分辨光信息记录介质的例子。即，需要在抖晃为极小值的再生激光功率1.6mW附近设定最优再生激光功率。在对这样的超分辨光信息记录介质进行测试引导的情况下，利用上述设定法，可如下地设定最优再生激光功率。

在光信息记录介质再生装置1取得了测试引导开始功率信息和推荐扫描间隔信息的情况下，例如，可如下地实施测试引导，并设定最优再生激光功率。

例如，将测试引导开始功率信息设定为1.0mW，将推荐扫描间隔信息设定为0.1mW。在此条件下，测试引导控制部9b开始测试引导。测试引导控制部9b将第n次测试引导所测定的抖晃值设为J(n)(n＝1，2...)(S4)。对已测定的抖晃和之前测定的抖晃的大小进行比较(S5)。测试引导控制部9b将给与判定式为“J(n-1)＜J(n)”的抖晃J(n-1)的再生激光功率设定为最优再生激光功率(S6)。

在上述条件的情况下，进行8次测试引导，利用n＝8来满足上述判定式，从而能够确定最优再生激光功率。最优再生激光功率是J(7)＝1.6mW。由此，测试引导控制部9b将最优再生激光功率设定为1.6mW。这样，通过对超分辨光信息记录介质进行测试引导，可决定最优的再生激光功率。结果，根据良好的再生信号品质可以稳定地再生上述超分辨光信息记录介质。

接着说明如下的情况，与上述设定法不同，在未适当设定推荐扫描间隔信息而进行一连串测试引导时，有可能无法设定最优再生激光功率。将测试引导开始功率信息设定为1.0mW，将推荐扫描间隔信息设定为0.4mW。这是先前设定的推荐扫描间隔信息的设定的4倍长度。在此情况下，不存在作为J(n-1)＜J(n)的n。即，由于不存在抖晃为极小值的n，从而无法设定最优再生激光功率。另外，当将测试引导开始功率信息设定为1.6mW，并将推荐扫描间隔信息设定为0.4mW时，同样不存在抖晃为极小值的n。即，无法设定最优再生激光功率。

另外，即使是盘#2的光信息记录介质30这样的表示比再生激光功率裕度窄的再生激光功率裕度的超分辨光信息记录介质，也根据适当的测试引导开始功率信息和推荐扫描间隔信息的设定来进行测试引导，由此能够设定最优再生激光功率。即，在对作为超分辨光信息记录介质例子的盘#2的光信息记录介质30进行测试引导时，设定适当的推荐扫描间隔信息是重要的。

另外，说明在未适当设定测试引导开始功率信息而进行一连串测试引导时产生无法高效设定最优再生激光功率的可能性。将测试引导开始功率信息设定为0.5mW，将推荐扫描间隔信息设定为0.1mW。在此情况下，n＝12中的再生激光功率信息的设定为最优再生激光功率。这表示与将测试引导开始功率信息设定为1.0mW的情况相比，测试引导需要约2倍的时间。从而不能称之为高效的测试引导。

这样，针对每个超分辨光信息记录介质，利用与介质相应的推荐扫描间隔信息的设定来进行测试引导，由此能够可靠高效地决定最优再生激光功率，并在各种超分辨光信息记录介质中能够稳定的再生。

〔盘#1的测试引导的情况〕

接着，说明在图8所示的盘#1中设定最优再生激光功率的实施例。在再生激光功率0.4mW～0.8mW中，未发现抖晃对再生激光功率的依存性，从再生激光功率1.0mW附近开始，抖晃急剧劣化。在超分辨光信息记录介质的情况下，这样地，存在抖晃针对再生激光功率发生变化的介质。为了根据良好的再生信号品质来再生这样的超分辨光信息记录介质，而需要确保再生激光功率裕度。另外，还需要在再生激光功率0.4mW～0.8mW之间设定最优再生激光功率。在对这样的超分辨光信息记录介质进行测试引导的情况下，例如可如下地设定最优再生激光功率。

与前述的盘#2同样，参照图3的流程图，说明测试引导的最优再生激光功率设定的具体动作。因为需要测试引导(经过S1，在S2中为“是”)，所以读取磁道位置的地址、推荐再生激光功率信息以及/或测试引导开始功率信息和推荐扫描间隔信息(S3)。这里，作为读取的结果，例如，将测试引导开始功率信息设定为0.4mW，将推荐扫描间隔信息设定为0.4mW。在此条件下，测试引导控制部9b开始测试引导。将通过第n次测试引导所测定的抖晃值设为J(n)(n＝1，2...)(S4)。测试引导控制部9b对测定出的抖晃和之前测定出的抖晃的大小进行比较(S5)。将给与J(n-1)＜J(n)的抖晃J(n)的再生激光功率设定为最优再生激光功率(S6)。在该情况n＝3下可确定最优再生激光功率。即，J(2)＝0.8mW为最优再生激光功率。由此，测试引导控制部9b将最优再生激光功率设定为0.8mW。

由此，通过对超分辨光信息记录介质100a进行测试引导，能够决定最优的再生激光功率。从而根据良好的再生信号品质，能够稳定地再生超分辨光信息记录介质。

接着说明如下的情况，与上述设定方法不同，在未适当设定推荐扫描间隔信息而进行一连串测试引导时，有可能无法高效地实施一连串测试引导。测试引导开始功率的信息同样设定为0.4mW，推荐扫描间隔信息设定为0.1mW。这是先前设定的推荐扫描间隔信息的1/4倍长度。在此情况下，J(n-1)＜J(n)的n为6(n＝6)。此时，所设定的最优再生激光功率为0.8mW，并可以将最优再生激光功率设定为与将推荐扫描间隔信息设定成0.4mW时相同的值。

但是，在以推荐扫描间隔0.4mW进行测试引导时，可利用第3次测试引导(n＝3)来设定最优再生激光功率。但是，当像此次这样将推荐扫描间隔信息设定为0.1mW时，在第6次测试引导(n＝6)中，可最终设定最优再生激光功率。这表示花费了测试引导所需时间的2倍，从而不能称为高效的测试引导。因此，需要针对每个超分辨光信息记录介质来设定适当的推荐扫描间隔信息。

这样针对每个超分辨光信息记录介质，通过与介质相应的推荐扫描间隔信息的设定来进行测试引导，由此能够可靠高效地决定最优再生激光功率，在各种超分辨光信息记录介质中能够稳定的再生。

〔盘#3的测试引导的情况下〕

接着，说明在图8所示的盘#3中设定最优再生激光功率的情况。

盘#3也能够以与前述盘#1、2中所说明的设定法同样的方法进行设定。将测试引导开始功率信息设定为0.3mW，将推荐扫描间隔信息设定为0.1mW，来实施测试引导。结果，可将0.5mW设定为最优再生激光功率。

此外，如盘#3那样，在与实用的抖晃的再生激光功率变动相对的余裕(再生激光功率裕度)较宽的介质的情况下，或者相对于围绕超分辨光信息记录介质的周边环境，在与实用的抖晃的再生激光功率变动相对的余裕(再生激光功率裕度)未发生变化的情况下，可如下地设定最优再生激光功率。

例如，光信息记录介质再生装置1仅取得推荐再生激光功率信息。具体地说，此时例如举出如下的两个流程。

(i)在取得推荐再生激光功率后，以该推荐激光功率为中心使再生激光功率连续地上升下降，将抖晃是最低值的再生激光功率设定为最优再生激光功率。

(ii)在取得推荐再生激光功率信息后，将该推荐激光功率设定为最优再生激光功率，并作为该最优再生激光功率来再生内容。

测试引导中的使再生激光功率变化的方法、设定最优再生激光功率的方法不限于上述方法，根据测试引导信息中所包含的磁道位置的地址、推荐再生激光功率信息以及/或测试引导开始功率信息和推荐扫描间隔信息等信息，来适当组合上述各种信息，由此能够进行测试引导。作为结果，可设定根据良好再生信号品质来再生的最优再生激光功率。

例如，在光信息记录介质再生装置1从超分辨光信息记录介质100a的测试引导信息用区域101取得推荐再生激光功率信息以及测试引导开始功率信息和推荐扫描间隔信息的情况下，如上所述，光信息记录介质再生装置1可选择如下方法的任意一种：使用测试引导开始功率信息和推荐扫描间隔信息来进行测试引导并设定最优再生激光功率的方法、和仅使用推荐再生激光功率信息来设定最优再生激光功率的(相当于上述(i)(ii))方法。另外，可组合它们进行测试引导，并设定最优再生激光功率。

〔变形例〕

另外，这些测试引导信息优选在测试引导信息用区域101的区域中由比光信息记录介质再生装置1所具有的光学系统分辨界限长的记录标记来形成。在基板70成型时，在该测试引导信息用区域101中形成这些记录标记。采用坑、摆动沟槽等来形成该记录标记。在由坑形成的情况下，按照规定的方式来对包括比光信息记录介质再生装置所具有的光学系统分辨界限长的记录标记在内的多个坑进行配置，由此形成测试引导信息。

记录方式采用根据1-7PP调制方式等一般方式而形成的方式。但是，不限于此方式。

如上所述，由比光学系统分辨界限长的记录标记来形成测试引导信息，由此不进行超分辨再生，就能够取得所再生的光信息记录介质是否是超分辨光信息记录介质，此外还能够取得推荐再生激光功率信息以及/或测试引导开始功率信息和推荐扫描间隔信息。由此，即使再生的介质是ROM(Read Only Memory)型、可追加记录型或可改写的光信息记录介质，也能够取得测试引导信息，无论是不是超分辨光信息记录介质，都能够在各种光信息记录介质中稳定地再生，因此扩展了关于光信息记录介质再生装置的光信息记录介质的互换性。

此外，可利用各超分辨光信息记录介质的最优再生激光功率来进行再生，所以能够防止由于具有过度激光功率的再生激光的照射而导致的光信息记录介质100的劣化等，从而能够提高对于反复再生的耐久性。另外，能够延长光信息记录介质再生装置1中的再生激光元件的使用寿命。

除此之外，根据与超分辨光信息记录介质100a所表示的实用的抖晃等的再生激光功率变动相对的余裕(再生激光功率裕度)，进行测试引导，并能够确保良好的再生信号品质。因此，能够不依赖各种超分辨光信息记录介质而稳定再生，所以扩展了与光信息记录介质再生装置的超分辨光信息记录介质相关的互换性。

另外，用于测试引导的评价再生信号品质的指标不限于抖晃，例如，可以是比特错误率等。例如，在将比特错误率作为指标时，针对超分辨光信息记录介质100a的再生激光功率，比特错误率的值可将不超过产生再生系统中的读出错误并难以稳定再生的阈值的区域规定为再生功率裕度。

另外，可针对每个超分辨光信息记录介质，通过与其特性相应的推荐扫描间隔信息的设定来进行测试引导，并能够可靠高效地决定最优再生激光功率，从而在各种超分辨光信息记录介质中能够稳定再生。

此外，因为能够以各超分辨光信息记录介质的最优再生激光功率进行再生，所以可防止由于具有过度激光功率的再生激光功率的照射而导致的光信息记录介质的劣化等，并能够提高针对反复再生的耐久性。另外，可延长光信息记录介质再生装置1中的再生激光元件的寿命。

此外，根据与超分辨光信息记录介质100a再生时产生的实用的抖晃等的再生激光功率变动相对的余裕(再生激光功率裕度)，进行测试引导，从而能够确保再生信号品质。因此，能够不依赖各种超分辨光信息记录介质而稳定再生，所以扩展了与光信息记录介质再生装置1的光信息记录介质100相关的互换性。

另外，本发明也可以表现如下。即，

(1)一种再生装置，对超分辨光信息记录介质进行再生，其中，该超分辨光信息记录介质按照规定方式，对长度有规律地不同、且包括比再生装置所具有的光学系统分辨界限短的标记在内的多个标记进行配置，由此来记录内容信息，并且记录有上述内容的再生用的推荐再生激光功率信息以及/或测试引导开始功率信息和推荐扫描间隔信息；该再生装置的特征是具有如下的机构，该机构在再生上述信息记录介质时，根据上述推荐再生激光功率信息或测试引导开始功率信息、推荐扫描间隔来进行测试引导并决定再生激光功率。

(2)一种再生方法，对超分辨光信息记录介质进行再生，其中，该超分辨光信息记录介质按照规定方式，对长度有规律地不同、且包括比再生装置所具有的光学系统分辨界限短的标记在内的多个标记进行配置，由此来记录内容信息，并且记录有上述内容的再生用的推荐再生激光功率信息以及/或测试引导开始功率信息和推荐扫描间隔信息；该再生方法的特征是在再生上述信息记录介质时，根据上述推荐再生激光功率信息或测试引导开始功率信息、推荐扫描间隔来进行测试引导并决定再生激光功率。

(3)一种超分辨光信息记录介质，分配了：数据记录区域，其按照规定方式，对长度有规律地不同、且包括比再生装置所具有的光学系统分辨界限短的标记在内的多个标记进行配置，由此来记录内容信息；以及测试引导信息用区域，其记录有上述内容的再生用的推荐再生激光功率信息以及/或测试引导开始功率信息和推荐扫描间隔信息；该超分辨光信息记录介质的特征是，形成上述测试引导信息用区域的标记由上述再生装置所具有的光学系统分辨界限以上的长度形成。

(4)一种超分辨光信息记录介质，分配了：数据记录区域，其按照规定方式，形成长度有规律地不同、且包括比再生装置所具有的光学系统分辨界限短的标记在内的多个标记，由此来记录内容；以及测试引导信息用区域，其记录有上述内容的再生用的推荐再生激光功率信息以及/或测试引导开始功率信息和推荐扫描间隔信息；该超分辨光信息记录介质特征是，形成上述测试引导信息用区域的标记由上述再生装置所具有的光学系统分辨界限以上的长度形成。

如上所述，本发明的光信息记录介质再生装置，对光信息记录介质进行再生，其中，该光信息记录介质按照规定方式，对长度有规律地不同、且包括比再生装置所具有的光学系统分辨界限短的标记在内的多个标记进行配置，由此来记录信息；该光信息记录介质再生装置的特征是，通过激光照射，来执行对与该光信息记录介质的再生品质相关的指标进行测量的测试引导，并根据测量出的指标，设定再生激光功率，然后一边使再生激光功率从规定的初始值开始变动一边进行上述测试引导。

这里，在超分辨光信息记录介质中，再生激光功率和再生品质相关。此外，上述超分辨光信息记录介质采用按照规定方式沿着信号再生的方向对长度有规律地不同的多个标记进行配置的所谓随机图案方式。

根据上述结构，当再生超分辨光信息记录介质时，光信息记录介质再生装置为了再生光信息记录介质而设定最优的再生激光功率，所以进行测试引导。并且，根据与通过测试引导而获得的再生品质相关的指标，来决定再生激光功率。因此，为了再生光信息记录介质，可以决定良好的再生激光功率，并且达到能够获得良好再生品质的效果。

另外，当再生光信息记录介质时，没有将过大的再生激光功率照射到光信息记录介质的记录面上，所以能够防止作为光信息记录介质的介质的再生品质的劣化等，并提高针对反复再生的耐久性。

然后，将用于进行测试引导的再生激光功率设定为规定的初始值，并开始测试引导。这里，所谓规定的初始值例如是通过预先以标准的条件进行测量等而获得的适合再生上述光信息记录介质的再生激光功率等。

并且，在与实用的再生信号品质的再生激光功率变动相对的余裕(再生激光功率裕度)较宽的光信息记录介质的情况、或相对于围绕超分辨光信息记录介质的周边环境而再生激光功率裕度不变化的情况下，例如，如下地设定最优再生激光功率的情况是高效的。

即，以设定的再生激光功率为中心使再生激光功率变动，并将抖晃是最低值的再生激光功率设定为最优再生激光功率。

通过如上所述地进行测试引导，可高效地进行测试引导，并能够迅速决定最优再生激光功率。

此外，再生激光功率的变动方向既可以先是增加方向，也可以先是减少方向，另外，可交替反复一定的变动。另外，在取得推荐再生激光功率信息后，可将该推荐激光功率设定为最优再生激光功率。

另外，本发明的光信息记录介质再生装置，对光信息记录介质进行再生，其中，该光信息记录介质按照规定方式，对长度有规律地不同、且包括比再生装置所具有的光学系统分辨界限短的标记在内的多个标记进行配置，由此来记录信息；该光信息记录介质再生装置的特征是，通过激光照射，来执行对与该光信息记录介质的再生品质相关的指标进行测量的测试引导，并根据测量出的指标，设定再生激光功率，然后一边使再生激光功率从规定的初始值开始以规定的变动幅度变动一边进行上述测试引导。

根据上述结构，当再生超分辨光信息记录介质时，光信息记录介质再生装置为了再生光信息记录介质而设定最优的再生激光功率，所以进行测试引导。并且，根据与通过测试引导而获得的再生品质相关的指标，来决定再生激光功率。因此，为了再生光信息记录介质，可以决定良好的再生激光功率，并且达到能够获得良好再生品质的效果。

另外，当再生光信息记录介质时，没有将过大的再生激光功率照射到光信息记录介质的记录面上，所以能够防止作为光信息记录介质的介质的再生品质的劣化等，并提高针对反复再生的耐久性。

然后，为了执行测试引导，而设定开始测试引导的再生激光功率即测试引导开始功率以及上述规定的变动幅度即扫描间隔。此外，所谓规定的初始值以及规定的变动幅度例如是预先以标准的条件进行测量等而获得的适合再生上述光信息记录介质的再生激光功率以及变动幅度。

首先，在设定为测试引导开始功率的再生激光功率下执行测试引导，以下测试引导从该测试引导开始功率开始使再生激光功率变动扫描间隔。这样，从在上次测试引导中设定的再生激光功率开始，使再生激光功率变动扫描间隔，来执行以下测试引导。

这里，具有如下的情况，根据再生时的环境变化(超分辨光信息记录介质周边的温度变化等)，使超分辨光信息记录介质产生变形等，从而导致最优再生激光功率变动。

这点根据上述结构，可针对每个超分辨光信息记录介质，按照与介质相应的扫描间隔来进行测试引导，并能够可靠高效地决定最优的最优再生激光功率，从而能够在各种超分辨光信息记录介质中稳定再生。

另外，在测试引导中使再生激光功率变动的方向可以是使再生激光功率增加的方向也可以是减少的方向。

通过如上所述地进行测试引导，能够高效地进行测试引导，并能够迅速决定最优再生激光功率。

此外，本发明的光信息记录介质的特征是，具有测试引导用信息区域，在该测试引导用信息区域中，仅由比上述光信息记录介质再生装置所具有的光学系统的分辨界限长的长度的记录标记来形成用于进行上述测试引导的信息即测试引导信息。

根据上述结构，进一步地，形成测试引导信息用区域的标记由上述光信息记录介质再生装置所具有的光学系统分辨界限以上的长度形成，所以不需要超分辨再生。即，在读出测试引导信息时，不需要超分辨再生，因此不需要测试引导就能够高效地执行测试引导。

另外，本发明的光信息记录介质的特征是，包含数据记录区域，该数据记录区域可按照规定的方式，形成长度有规律地不同、且包括比再生装置所具有的光学系统分辨界限短的标记在内的多个标记。

根据上述结构，在上述光信息记录介质再生装置中再生该光信息记录介质时，通过如上地进行测试引导，可高效进行测试引导，从而能够迅速决定最优再生激光功率。

另外，本发明不限于上述实施方式，在权利要求所示的范围内可进行各种变更。即，即使是组合在权利要求所示的范围内适当变更的技术手段而获得的实施方式，也包含在本发明的技术范围内。

工业上的可利用性

本发明可广泛适用于进行超分辨再生的光信息记录介质再生装置等。

Claims (9)

1.一种光信息记录介质再生装置，对光信息记录介质进行再生，其中，该光信息记录介质按照规定的方式，对长度有规律地不同、并包括比再生装置所具有的光学系统分辨界限短的标记在内的多个标记进行配置，由此来记录信息，

该光信息记录介质再生装置，

通过激光照射，来执行对与该光信息记录介质的再生品质相关的指标进行测量的测试引导，并根据测量出的指标，设定再生激光功率，

并一边使再生激光功率从规定的初始值开始变动一边进行上述测试引导。

2.一种光信息记录介质再生装置，对光信息记录介质进行再生，其中，该光信息记录介质按照规定的方式，对长度有规律地不同、并包括比再生装置所具有的光学系统分辨界限短的标记在内的多个标记进行配置，由此来记录信息，

该光信息记录介质再生装置，

通过激光照射，来执行对与该光信息记录介质的再生品质相关的指标进行测量的测试引导，并根据测量出的指标，设定再生激光功率，

并一边使再生激光功率从规定的初始值开始以规定的变动幅度变动一边进行上述测试引导。

3.一种光信息记录介质，能够被权利要求1或2所述的光信息记录介质再生装置进行再生，

该光信息记录介质包含测试引导用信息区域，其中，仅由长度比上述光信息记录介质再生装置所具有的光学系统分辨界限长的标记来形成用于进行上述测试引导的信息即测试引导信息。

4.根据权利要求3所述的光信息记录介质，其特征在于，

该光信息记录介质包含数据记录区域，该数据记录区域能够按照规定的方式形成长度有规律地不同、并包括比上述光信息记录介质再生装置所具有的光学系统分辨界限短的标记在内的多个标记。

5.根据权利要求1所述的光信息记录介质再生装置，其特征在于，

在上述变动中使再生激光功率增加。

6.根据权利要求1所述的光信息记录介质再生装置，其特征在于，

在上述变动中，使再生激光功率减少。

7.根据权利要求1所述的光信息记录介质再生装置，其特征在于，

在上述变动中，交替地进行再生激光功率的增加和减少。

8.根据权利要求1或2所述的光信息记录介质再生装置，其特征在于，

上述规定的初始值是在制造上述光信息记录介质时被记录在上述光信息记录介质中的值。

9.根据权利要求2所述的光信息记录介质再生装置，其特征在于，

上述规定的变动幅度是在制造上述光信息记录介质时被记录在上述光信息记录介质中的变动幅度。

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