CN102290058A - 记录设备、记录方法和程序 - Google Patents

Abstract

公开了记录设备、记录方法和程序。所述记录设备包括：记录单元，其通过基于激光驱动脉冲执行的激光束发射，将信息记录在光学记录介质的记录层中；以及控制单元，其从设置信息存储区域读出与设置为记录目标的光学记录介质对应存储的过去的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息，允许记录单元使用所读出的过去的设置信息对光学记录介质的记录层的测试写入区域执行测试写入并再现测试写入部分，并且执行基于测试写入和再现的结果设置记录激光功率和激光驱动脉冲的设置处理。

Description

记录设备、记录方法和程序

技术领域

本公开涉及用于对如光盘的记录介质执行光学记录的记录设备和记录方法、以及实现所述记录设备和记录方法的程序。

背景技术

已知如一次写入型光盘和可重写光盘的各种类型的可记录光学记录介质。

例如，存在CD-R(致密盘-可记录)、CD-RW(致密盘-可重写)、DVD-R(数字多功能盘-可记录)、DVD-RW(数字多功能盘-可重写)、DVD+R(数字多功能盘+可记录)、DVD+RW(数字多功能盘+可重写)、DVD-RAM(数字多功能盘-随机存取存储器)、BD-R(蓝光盘-可记录)、BD-RE(蓝光盘-可重写)等。

在这样的光学记录介质上记录数据的光学记录和再现设备中，为了在可获取良好记录质量的状态下记录数据区域，以最佳记录功率和最佳记录脉冲执行记录。因此，在预先安排在光学记录介质上的测试写入区域(PCA：功率校准区域)中，执行测试写入(OPC：最佳功率校准)，以便获取最佳记录功率和最佳记录脉冲，然后执行实际记录，这对于获取记录兼容性是重要的。

发明内容

然而，当在管理区域(例如，读入区域、读出区域等)中预先安排对其执行OPC的、用作PCA的区域时，记录区域有以下限制。

例如，当由于其中执行记录的区域的外围的温度的改变或扰动因素而在PCA内重复执行最佳记录功率和最佳记录脉冲的调整等时，PCA的消耗量增加。因此，在对于相同记录介质执行多次额外记录操作的情况下，当由于PCA区域的不足而达到PCA区域的使用数量的上限时，存在未获取最佳记录功率或最佳记录脉冲的情况。

此外，在插入光盘时执行最佳记录功率和最佳记录脉冲的调整的情况下，在插入光盘后，实际记录操作的开始需要一段时间。因此，在普通用户记录TV节目等时，将数据记录到数据区域的开始需要一段时间，这是不方便的。

同时，存在如JP-A-2006-164517的方法，其中，在额外记录期间读出所存储的测试写入的结果，并且通过基于由再现预先记录的部分而获取的RF信号等的结果校正记录功率来获取最佳记录功率。

然而，根据该方法，尽管可以获取最佳记录功率，但是难以通过将记录脉冲校正到最佳记录来记录数据。

此外，根据该方法，难以根据光学记录介质的物理改变(如温度环境或径向倾斜的改变)而响应最佳记录功率的改变。

因此，期望通过以高速方式高效地执行OPC，实现如PCA的OPC执行区域的消耗的减少、以及直到实际数据记录开始为止的时间的缩短。

根据本公开实施例，提供了一种记录设备，包括：记录单元，其通过基于激光驱动脉冲执行的激光束发射，将信息记录在光学记录介质的记录层中；以及控制单元，其从设置信息存储区域读出与设置为记录目标的光学记录介质对应存储的过去的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息，允许记录单元使用所读出的过去的设置信息对光学记录介质的记录层的测试写入区域执行测试写入并再现测试写入部分，并且执行基于测试写入和再现的结果设置记录激光功率和激光驱动脉冲的设置处理。

此外，上述控制单元可以将通过设置处理设置的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息存储在设置信息存储区域中。

此外，在确定与设置为记录目标的光学记录介质对应的设置信息没有存储在设置信息存储区域中的情况下，所述控制单元可以允许所述记录单元不使用过去的设置信息来对测试写入区域执行测试写入并再现其中执行测试写入的部分，执行基于测试写入和再现的结果来设置记录激光功率和激光驱动脉冲的设置处理，并且将通过设置处理设置的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息存储在设置信息存储区域中。

此外，作为使用所读出的过去的设置信息的测试写入，所述控制单元可以允许用设置为激光功率的初始功率值的记录激光功率的设置信息以及设置为激光驱动脉冲的初始设置值的激光驱动脉冲的设置信息执行测试写入。

此外，在将与设置为记录目标的光学记录介质对应的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息存储在设置信息存储区域中的情况下，在获取所存储的设置信息的设置处理时的记录条件与当前记录条件被确定为处于能够同样对待所述各条件的范围内的情况下，所述控制单元可以使用所述设置信息以用于测试写入。这里，所述记录条件处于能够同样对待所述各条件的范围内的情况是下述情况：获取所存储的设置信息的设置处理时的温度与当前温度之间的温度差在预定范围内。

此外，作为使用所读出的过去的设置信息的测试写入，所述控制单元可以校正所读出的记录激光功率的设置信息或激光驱动脉冲的设置信息，并且允许通过使用所校正的设置信息来执行测试写入。

例如，在获取所存储的设置信息的设置处理时的记录条件与当前记录条件被确定为处于能够同样对待所述各条件的范围内的情况下，所述控制单元校正所读出的记录激光功率的设置信息或激光驱动脉冲的设置信息，并且允许通过使用所校正的设置信息来执行测试写入。

替代地，所述控制单元可以允许使用在获取所存储的设置信息的设置处理时的记录条件与当前记录条件被确定为处于能够同样对待所述各条件的范围内的情况下读出的记录激光功率的设置信息和激光驱动脉冲的设置信息，并且允许通过校正在获取所存储的设置信息的设置处理时的记录条件与当前记录条件被确定为不处于能够同样对待所述各条件的范围内的情况下读出的记录激光功率的设置信息或激光驱动脉冲的设置信息，使用所校正的设置信息来执行测试写入。

在此情况下，所述控制单元可以允许利用设置为激光功率的初始功率的记录激光功率的校正的设置信息和作为激光驱动脉冲的设置的初始值的激光驱动脉冲的校正的设置信息来执行测试写入。

此外，所述控制单元可以将包括用于识别光学记录介质的信息、对于光学记录介质的每个记录层的记录激光功率的设置信息、以及对于光学记录介质的每个记录层的激光驱动脉冲的设置信息的单元信息存储在设置信息存储区域中，作为一个单元的设置信息。

所述记录设备还可包括：存储器单元，其用作设置信息存储区域。替代地，所述控制单元可以使用设置为记录目标的光学记录介质的一部分区域或与其连接的任何其他设备的存储器单元的一部分区域作为设置信息存储区域。

此外，在将与设置为记录目标的光学记录介质对应的记录激光功率和激光驱动脉冲的多个单元的设置信息存储在设置信息存储区域中的情况下，所述控制单元可以读出最近的设置信息。

替代地，在存储多个单元的设置信息的情况下，所述控制单元可以读出其记录条件最接近于当前记录条件的设置信息。

根据本公开另一实施例，提供了一种用于记录设备的记录方法，所述记录设备包括记录单元，其通过基于激光驱动脉冲执行的激光束发射，将信息记录在光学记录介质的记录层中。所述记录方法包括以下步骤：从设置信息存储区域读出与设置为记录目标的光学记录介质对应存储的过去的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息；允许记录单元使用所读出的过去的设置信息对光学记录介质的记录层的测试写入区域执行测试写入，并再现测试写入部分，并且执行基于测试写入和再现的结果设置记录激光功率和激光驱动脉冲的设置处理；以及用设置处理中设置的记录激光功率和激光驱动脉冲执行记录。

根据本公开另一实施例，提供了一种用于允许操作处理设备执行上述每个步骤的处理的程序。

根据本公开的一些实施例，在执行用于优化记录激光功率和激光驱动脉冲的设置处理(OPC处理)的情况下，将记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息存储在设置信息存储区域中。在OPC处理中，首先，检查被加载并设置为记录目标的光学记录介质的设置信息是否存在于设置信息存储区域中。在存在所述设置信息的情况下，读出所述设置信息，并通过使用所读出的设置信息来执行OPC处理。例如，将其中可改变激光功率的范围的中心值用作脉冲设置的初始值。通过使用过去使用的适当的值，最大程度地降低OPC中重试出现的可能性，并且可以减少所述处理的时间。

根据本公开实施例，通过使用过去使用的记录激光功率和激光驱动脉冲的适当的值，最大程度地降低OPC时重试出现的可能性。因此，可以减少光学记录介质上的OPC执行区域(例如，PCA)的消耗，并且可以缩短OPC的时间。

附图说明

图1是根据本公开实施例的盘驱动设备的框图。

图2A和2B是图示作为实施例的记录目标的光盘的图。

图3是图示实施例的OPC设置信息的图。

图4是图示根据实施例的激光驱动脉冲的设置的图。

图5是根据第一实施例的、在记录开始之前的处理的流程图。

图6是根据实施例的OPC设置信息检查处理(示例1)的流程图。

图7是根据实施例的OPC设置信息检查处理(示例2)的流程图。

图8是根据实施例的OPC处理的流程图。

图9是根据第二实施例的、在记录开始之前的处理的流程图。

图10是根据第三实施例的、在记录开始之前的处理的流程图。

图11是根据第四实施例的、在记录开始之前的处理的流程图。

图12是根据第五实施例的、在记录开始之前的处理的流程图。

图13是根据第六实施例的、在记录开始之前的处理的流程图。

图14是根据第七实施例的、在记录开始之前的处理的流程图。

图15是根据第八实施例的、在记录开始之前的处理的流程图。

具体实施方式

以下，将按照下面的顺序描述本公开的实施例。

1.盘驱动设备的配置

2.OPC设置信息

3.第一实施例

4.第二实施例

5.第三实施例

6.第四实施例

7.第五实施例

8.第六实施例

9.第七实施例

10.第八实施例

11.修改示例

12.程序

[1.盘驱动设备的配置]

将参考图1描述作为根据本公开实施例的记录设备的盘驱动设备的配置。

根据该实施例的盘驱动设备是例如在如蓝光盘(注册商标)或DVD(数字多功能盘)的光盘上记录并再现数据的记录和再现设备。具体地，盘驱动设备具有与对于如可变相位(phase-changeable)盘或可变色素(pigment-changeable)盘的可记录盘的OPC操作相关的特征。

当如蓝光盘或DVD的光盘90加载到盘驱动设备中时，将光盘加载到图中未示出的转台上并驱动，以便在通过主轴马达2进行记录/再现操作时以恒定线速度(CLV)转动。

当执行再现操作时，通过光学拾取器1读出在光盘90上形成的轨道上记录的标记信息。

另一方面，当将数据记录到光盘90上时，通过光学拾取器1将用户数据作为相位改变标记或色素改变标记记录在光盘90上形成的轨道上。

此外，例如，将盘的物理信息等作为压印凹坑(embossed pit)或摆动沟槽(wobbling groove)而记录在光盘90的内圆周区域等中作为再现专用管理信息，并且还通过光学拾取器1执行信息的读取。

此外，对于光盘90，同样通过光学拾取器1读出盘90上随着沟槽轨道的摆动而嵌入的ADIP(Address in Pregroove，地址预制沟槽)或LPP(LandPre Pit，在岸台上预制凹坑)信息。

在光学拾取器1内，形成：用作激光束源的激光二极管；用于检测反射光的光电检测器；作为激光束的输出端的物镜；以及以通过物镜的激光束照射盘记录表面并将其反射光引导到光电检测器的光学系统等。

使用双轴机构将物镜保持在光学拾取器1内部，以便可在轨道方向和焦点方向上移动。

此外，使用螺纹(thread)机构3，使整个光学拾取器1可在盘的径向上移动。

此外，驱动光学拾取器1的激光二极管，以便根据从激光驱动器13传输的驱动信号(驱动电流)发射激光束。

此外，在光学拾取器1内部，例如布置使用热敏电阻等的温度传感器21以便检测温度信息。将检测到的温度信息提供到系统控制器10。因此，系统控制器10可以在记录期间获取温度信息。

通过光电检测器检测关于从盘90反射的反射光的信息，并且根据接收到的光的强度，将其转换为电信号以便提供到矩阵电路4。

矩阵电路4包括与从作为光电检测器的多个光接收器件输出的输出电流一致的电流电压转换电路、矩阵计算/放大电路等，并且通过矩阵计算处理产生需要的信号。

例如，矩阵电路4产生对应于再现数据的再现信息信号(RF信号)、用于伺服控制的聚焦误差信号、寻轨误差信号等。

此外，矩阵电路4产生推挽信号作为与沟槽的摆动有关的信号，即，用于检测摆动的信号。

将从矩阵电路4输出的RF信号提供到数据检测处理单元5和评估值测量单元19，将聚焦误差信号和寻轨误差信号提供到光学块伺服电路11，并且将推挽信号提供到摆动信号处理电路15。

这里，矩阵电路4可以布置在光学拾取器1的内部。

数据检测处理单元5对于RF信号执行二进制化处理。

例如，数据检测处理单元5执行RF信号的A/D转换处理、使用PLL的再现时钟产生处理、PR(部分响应)均衡处理、维特比解码处理(最大似然解码方法)等，并通过部分响应最大似然解码处理(PRML检测方法)获取二进制数据阵列。

然后，数据检测处理单元5将二进制数据阵列作为从光盘90读出的信息提供到布置在后级的编码/解码单元7。

编码/解码单元7在再现期间执行再现数据的解码处理，并且在记录期间执行记录数据的调制处理。换句话说，编码/解码单元7在再现期间执行数据解调处理、去交织处理、ECC解码处理、地址解码处理等，在记录期间执行ECC编码处理、交织处理、数据调制处理等。

在再现期间，将通过数据检测处理单元5解码的二进制数据阵列提供到编码/解码单元7。编码/解码单元7通过执行二进制数据阵列的解调处理，从光盘90获取再现数据。

编码/解码单元7对于例如对其执行游程长度(run-length)受限码调制处理并且记录在光盘90上的数据执行解调处理、作为纠错处理的ECC解码处理等，从而从光盘90获取再现数据。

基于系统控制器10的指令，将通过编码/解码单元7解码为再现数据的数据传送到主机接口8，并且传送到主机设备100。这里，主机设备100是例如计算机设备、AV(视听)系统设备等。

当将数据记录到光盘90或从光盘90再现数据时，处理ADIP/LPP信息。

换句话说，通过摆动信号处理电路6，将作为与沟槽的摆动有关的信号的、从矩阵电路4输出的推挽信号形成为数字化的摆动数据。此外，通过PLL处理，产生与推挽信号同步的时钟。

使用ADIP/LPP解调电路16，将摆动数据解调为配置ADIP地址的数据流，并将其提供到地址解码器9。

地址解码器9解码所提供的数据以便获取地址值，并将地址值提供到系统控制器10。

在记录期间，从主机设备100传送记录数据，并通过主机接口8将记录数据提供到编码/解码单元7。

在此情况下，编码/解码单元7执行纠错码添加(ECC编码)处理、交织处理、子码添加处理等作为记录数据的编码处理。此外，编码/解码单元7对于已经对其执行这样的处理的数据执行游程长度受限码调制处理。

在作为通过写入策略单元14进行的记录补偿处理，已经执行了最佳记录功率的精细调整、记录线速度、激光束的光点形状、记录层的特性的脉冲波形等的调整的状态下，通过编码/解码单元7处理的记录数据形成为激光驱动脉冲，并且将所述激光驱动脉冲提供到激光驱动器13。

然后，激光驱动器13将已经对其执行了记录补偿处理的激光驱动脉冲提供到光学拾取器1内布置的激光二极管，以便执行激光束发射的驱动。因此，在光盘90上形成对应于记录数据的标记。

此外，激光驱动器13包括所谓的APC(自动功率控制)电路，并且控制激光束的输出以便恒定而不依赖于温度等，同时基于光学拾取器1内布置的激光功率监视检测器的输出来监视激光输出功率。

从系统控制器10给出记录期间和再现期间的激光输出水平的目标值，并且激光驱动器13将记录期间和再现期间的激光输出水平控制为目标值。

通过下面描述的OPC处理，设置记录期间最佳的激光驱动脉冲的激光功率水平和波形。

光学块伺服电路11基于从矩阵电路4传输的聚焦误差信号和寻轨误差信号，产生如聚焦信号、寻轨信号和螺纹信号的各种伺服驱动信号，以便允许执行伺服操作。

换句话说，光学块伺服电路11根据聚焦误差信号和寻轨误差信号，产生聚焦驱动信号和寻轨驱动信号，并通过使用双轴驱动器18驱动光学拾取器1内布置的双轴机构的聚焦线圈和寻轨线圈。因此，由光学拾取器1、矩阵电路4、光学块伺服电路11、双轴驱动器18和双轴机构形成寻轨伺服环和聚焦伺服环。

此外，光学块伺服电路11根据从系统控制器10传输的轨道跳转指令，通过关断寻轨伺服环并输出跳转驱动信号来执行轨道跳转操作。

此外，光学块伺服电路11通过基于作为寻轨误差信号的低频带分量而获取的螺纹误差信号或系统控制器10的访问控制等产生螺纹驱动信号，使用螺纹驱动器19驱动螺纹机构3。螺纹机构3(尽管图中未示出)包括支撑光学拾取器1的主轴、螺纹马达、以及通过传动轮等配置的机构，并且通过根据螺纹驱动信号驱动螺纹马达，执行光学拾取器1所需的滑动运动。

主轴伺服电路12控制主轴马达2以便执行CLV旋转。

主轴伺服电路12通过获取通过对于摆动信号的PLL处理而产生的时钟作为主轴马达2的当前转速信息，并且将该转速信息与预定CLV参考速度信息比较，产生主轴误差信号。

此外，通过数据信号处理单元5内布置的PLL产生的再现时钟是再现数据时的主轴马达2的当前转速信息。因此，通过将转速信息与预定CLV参考速度信息比较，也可以产生主轴误差信号。

然后，主轴伺服电路12通过输出根据主轴误差信号而产生的主轴驱动信号，使用主轴驱动器17执行主轴马达2的CLV旋转。

此外，主轴伺服电路12通过根据从系统控制器10传输的主轴致动(kick)/制动控制信号产生主轴驱动信号，执行主轴马达2的操作，如启动、停止、加速、减速等。

由通过微计算机配置的系统控制器10，控制伺服系统以及记录和再现系统的上述各种操作。

系统控制器10根据通过主机接口8从主机设备100提供的命令，执行各种处理。

例如，在从主机设备100输出写入命令的情况下，首先，系统控制器10将光学拾取器1移动到要对其写入数据的地址。然后，系统控制器10通过使用如上所述的编码/解码单元7，对于从主机设备100传送的用户数据(例如，视频数据、音频数据等)执行编码处理。其后，当激光驱动器13根据如上所述编码的数据驱动激光发射时，执行记录。

另一方面，例如，在从主机设备100提供要求传送记录在光盘90上的数据的读取命令的情况下，系统控制器10控制对于首先作为目标指示的地址的搜索操作。换句话说，系统控制器10指示光学块伺服电路11用通过搜索命令指定的、用作目标的该地址，执行光学拾取器1的访问操作。

此后，系统控制器10执行用于将所指示的数据部分中包括的数据传送到主机设备100所需要的操作控制。换句话说，系统控制器10从盘90读出数据，允许数据检测处理单元5和编码/解码单元7执行再现处理，并传送所要求的数据。

通过矩阵电路4获取的RF信号也提供到评估值测量单元19。

当执行下面要描述的OPC操作时，评估值测量单元19测量所再现的RF信号的评估值，并且将评估值提供到系统控制器10。

例如，评估值测量单元19测量β值、调制度、不对称性、抖动值、RF信号的幅度等。

替代地，误差率可用作评估值。在此情况下，将关于通过编码/解码单元7执行的纠错处理的结果的信息提供到评估值测量单元19，并且计算误差率。

这里，β值是基于再现RF信号的峰值Ip和谷值Ib，通过使用“β＝(Ip+Ib)/(Ip-Ib)”而获取的值。

此外，抖动通过使用标准差σ和1T表示为σ/T，作为距定义的时钟的偏差。可以说抖动的值越大，再现信号越劣化。对于其中记录层配置为专用于再现的一层的蓝光盘，尽管在规范中将抖动定义为等于或小于6.5％，但是显然，优选地，使抖动尽可能的低。

假设8T信号的峰值是Ip8，8T信号的谷值是Ib8，2T信号的峰值是Ip2，并且2T信号的谷值是Ib2，则不对称性通过{(Ip8+Ib8)-(Ip2+Ib2)}/{2(Ip8-Ib8)}表示，并且指示8T信号和2T信号的中心轴之间的偏差。该不对称性是用于确定二进制化螺纹的重要的指标。在蓝光盘的规范中，将不对称性定义为-10％到15％的范围内。然而，通常，优选地，不对称性在0％到10％的范围内。

将调制度表示为(Ip8-Ib8)/(Ip8)。这是8T振幅的幅度，并且是依赖于8T凹坑的深度的指标。可以说该值越大，越改进C/N比。

存储器单元20在其中存储通过系统控制器10的各种处理所使用的参数、常数等。例如，存储器单元20由非易失性存储器配置。

例如，存储器单元20用作设置信息存储区域，其中存储下面要描述的OPC设置信息。

此外，作为设置信息存储区域，可考虑这样的示例，其中不使用盘驱动设备内布置的存储器20。在该示例中，当系统控制器10将作为OPC处理的结果的OPC设置信息存储在设置信息存储区域中时，设置信息存储区域可以使用存储区域的一部分，如与其连接的主机设备100内布置的存储器或硬盘。替代地，可使用加载的光盘90的预定区域。例如，由于可由盘驱动设备任意使用的区域安排在光盘90的读入区域等中，因此可考虑使用该区域。

在图1所示的示例中，尽管已经描述了连接到主机设备100的盘驱动设备，但是可以使用具有没有连接到其他设备的形式的盘驱动设备。在此情况下，其中布置操作单元或显示单元的数据输入/输出接口部分的配置与图1所示的不同。换句话说，优选地，形成用于根据用户操作以及各种类型的数据的输入/输出的使用来记录或再现数据的终端部分。显然，可考虑盘驱动设备的配置的其他各种示例。

图2A和2B图示光盘90的示意性配置。图2A图示在平面内观看光盘90的情况，并且图示其径向方向的各区域的配置。

光盘90例如配置为具有12cm的直径的盘记录介质，并且其区域结构大致地划分为内圆周区域91、数据区92和外圆周区域93。

数据区92是主记录区域，并且其中记录所谓的用户数据。这里描述的用户数据是要存储在光盘90上的主目标数据，如视频数据、音频数据、文本数据、计算机使用数据或软件程序。

内圆周区域91用作所谓的管理区域。在记录层数为1的一层盘的情况下，内圆周区域91是用作所谓的读入区的区域。在记录层数为2或更多的多层盘的情况下，内圆周区域用作每层的读入区、内部区、读出区。在内圆周区域91中，形成盘的物理信息、用于记录/再现操作的设置信息、用于管理各区域、测试写入区域等的更改或配置的信息。

在一层盘的情况下，外圆周区域91是用作所谓的读出区的区域。在记录层数为2或更多的多层盘的情况下，外圆周区域用作每层的读出区或外部区。

图2B示意性图示在光盘90是四层蓝光盘的情况下的层结构。

在光盘90中，在例如使用聚碳酸酯等通过注模等模压的盘基底PK的一个面上形成凹凸形状作为摆动沟槽，将反射膜或记录材料层形成为膜，并且形成第一记录层L0。

此外，在记录层L0上形成中间层C1。在中间层C1的面上，形成凹凸形状作为摆动沟槽，并且其上形成半透射/半反射膜或记录材料层作为膜，并且形成第二记录层L1。

此外，在记录层L1上形成中间层C2。在中间层C2的面上，形成凹凸形状作为摆动沟槽，并且其上形成半透射/半反射膜或记录材料层作为膜，并且形成第三记录层L2。

此外，在记录层L2上，形成中间层L3。在中间层C3的面上，形成凹凸形状作为摆动沟槽，并且其上形成半透射/半反射膜或记录材料层作为膜，并且形成第四记录层L3。

在记录层L3上，形成保护层CV。

此外，在记录层L0、L1、L2和L3的每个中，存在其中形成压印凹坑行的如内圆周区域91的一部分的部分。

实践中，光盘90的厚度为大约1.2mm，并且盘基底PK的厚度为大约1.1mm。此外，在大约100μm的厚度之间，形成从记录层L0直到保护层CV。

在图2B中，尽管将四层盘的情况图示为示例，但是通过调整中间层或保护层的厚度，也形成三层盘或五层或更多层的盘，以便具有类似结构。

[2.OPC设置信息]

在该示例的盘驱动设备中，尽管在记录操作之前执行OPC操作，但是OPC操作不仅执行记录激光功率的优化，而且执行激光驱动脉冲的波形的优化。

当简要描述时，在OPC操作中，对于加载并设置为记录目标的光盘90的PCA(功率校准区域)执行测试写入，同时改变激光功率水平或脉冲波长。然后，再现对其执行测试写入的部分，并且基于如上述β值、抖动等的评估值确定最佳记录激光功率或最佳激光驱动脉冲，并设置以便用于此后的实际记录。

这里，通常，在光盘90的内圆周区域91的安排区域内安排PCA。此外，可在外圆周区域93中安排PCA。在任何情况下，PCA具有受限区域。因此，尤其在一次写入型光盘90的情况下，在OPC操作中重复重试以消耗PCA并不是优选的。此外，从直到执行实际记录操作为止所需的时间的角度而言，在由于某种原因不确定最佳设置的情况下增加重试次数也不是优选的。

因此，在该示例中，作为OPC操作的结果的设置信息(即，最佳记录激光功率和最佳激光驱动脉冲的设置信息(OPC设置信息))存储在上述设置信息存储区域(例如，存储器20)中。然后，当执行OPC操作时，检查设置信息存储区域中存储的OPC设置信息，并且通过尽可能地使用OPC设置信息来执行有效OPC操作。

在该示例中，系统控制器10存储每个单元的OPC设置信息。

图3中图示OPC设置信息的内容的示例。

图3图示以U1、U2、U3...为单元在设置信息存储区域中存储OPC设置信息的外观(appearance)。

一个单元中包括的信息如下。

盘类型表示对其执行OPC的盘90的类型(例如，如CD-R、CD-RW、DVD-R、DVD-RW、DVD+R、DVD+RW、DVD-RAM、BD-R或BD-RE)或记录层的数量。

盘制造者是表示对其执行OPC的盘90的制造商的名称的信息。

唯一ID是唯一分配给对其执行OPC的盘90的标识号。例如，当第一次对光盘90执行OPC时，系统控制器10或主机设备100产生随机数，并且该随机数是作为唯一ID记录在光盘90上的标识号。

OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)是通过对光盘90的记录层L0、L1、L2和L3的每一个执行的OPC操作而设置的最佳记录激光功率的值。

温度信息(Temp L0，...，Temp L3)是当对光盘90的记录层L0、L1、L2和L3的每一个执行OPC操作时由传感器21检测到的环境温度的值。

策略校正量(第0层策略校正量，...，第3层策略校正量)是通过对光盘90的记录层L0、L1、L2和L3的每一个执行的OPC操作而设置的最佳激光驱动脉冲的设置值。

下一标记(Next Marker)表示设置信息存储区域中的下一单元的记录开始位置。

更新数(Update Number)表示更新次数。

例如，根据OPC操作，对于每个单元额外记录上述OPC设置信息。

图3所示的信息仅是示例。例如，当一层盘是目标时，不需要记录层L2到L4的信息。此外，可根据盘类型改变信息的内容。此外，可考虑添加记录期间(以及OPC操作时)的记录线速度(转数)的信息。

在该示例的OPC操作中，设置最佳记录激光功率和最佳激光驱动脉冲。

通常，为了确定最佳记录激光功率，在以步进方式在给定范围内改变记录激光功率的同时执行测试写入。通过检查当再现已经对其执行测试写入的部分时获取的评估值(β值等)，可以确定在改变记录激光功率的范围内具有最大记录特性的激光功率水平。

然而，在β值、抖动等没有达到需要的值或期望估计更加不同的激光功率水平的情况下，执行OPC重试。当在5mW到10mW的范围内改变激光功率时执行测试写入的情况下，假设当抖动值是10mW时的激光功率最小。在此情况下，当进一步提高激光功率时，估计进一步降低抖动值。因此，例如在9mW到14mW的范围内改变激光功率的同时执行测试写入。这里，在激光功率水平是12mW时的抖动值最小的情况下，可以将12mW确定为最佳激光功率。

如上所述，当在给定范围内改变激光功率的同时，确定评估值最佳时的激光功率水平。

可以以类似方式考虑激光驱动脉冲的设置。

图4图示对应于2T到9T的凹坑长度的激光驱动脉冲的示例。

通过具有特定水平和特定脉冲宽度的第一脉冲FP配置对应于2T的激光驱动脉冲。

通过其每个设置为具有特定水平和特定脉冲宽度的第一脉冲FP和最后脉冲LP配置对应于3T的激光驱动脉冲。

通过分别设置为具有特定水平和特定脉冲宽度的第一脉冲FP、多个脉冲MP和最后脉冲LP配置对应于4T到9T的激光驱动脉冲。4T到9T具有其中对应的第一脉冲FP和对应的最后脉冲LP之间安排的多个脉冲MP的数量彼此不同的模式。

写入策略单元14可以基于如上所述的记录数据产生例如2T到9T的激光驱动脉冲，并且可以基于系统控制器10的指令校正脉冲模式。

作为脉冲模式的校正，如图4所示，执行第一脉冲FP的上升边缘的定时的校正和最后脉冲LP的下降边缘的定时的校正。

以信道时钟CK作为基准，将第一脉冲FP的上升边缘的定时调整为间隔FS。通过设置间隔FS，可以及时地来回改变上升边缘的定时。

以信道时钟CK作为基准，将最后脉冲LP的下降边缘的定时调整为间隔LE。通过设置间隔LE，可以及时地来回偏移下降边缘的定时。

通过在OPC时改变脉冲边缘定时并检查评估值的同时执行测试写入，设置最佳激光驱动脉冲。

激光驱动脉冲的设置可以是在其它定时的设置。例如，可通过改变第一脉冲FP的下降边缘的定时、多个脉冲MP的上升边缘或下降边缘的定时、最后脉冲LP的上升边缘的定时等来获取最佳设置。此外，可通过改变第一脉冲FP、多个脉冲MP和最后脉冲LP的脉冲电平来确定最佳设置。

显然，激光驱动脉冲的波形也不限于图4所示的波形，并且可考虑具有各种波形。图4仅是示例。例如，激光驱动脉冲的波形可基于盘类型、盘是一次写入型还是可重写型等而不同。即使对于激光驱动脉冲的不同波形，通过最佳激光驱动脉冲的设置，也调整脉冲边缘定时及其脉冲激光。

[3.第一实施例]

将参考图5描述根据第一实施例的盘驱动设备的处理。在下述每个实施例的描述中，图示了在加载光盘90之后的系统控制器10的处理。然而，在所加载的光盘90是不可记录光盘的情况、从主机设备100发出再现命令的情况等下执行的处理与本公开的实施例不直接相关，因此省略其描述。因此，以下，将在加载可记录光盘90、然后从主机设备100发出记录命令的前提下给出描述。

当检测到光盘90加载到盘驱动设备中时，系统控制器10将图5中图示的处理从步骤F101前进到步骤F102，并且执行盘确定处理，从而确定所加载的光盘90是否是可记录盘。

在此情况下，例如，系统控制器10读出光盘90的管理信息，并检查盘类型、盘制造者、对于盘唯一的唯一ID、盘封闭状态等。

在所加载的光盘90是如BD-R、BD-RE、DVD-R等类型的可记录盘、并且不是已经对其处理所谓的封闭处理的盘的情况下，系统控制器10将光盘确定为可记录。这里，封闭(closing)处理是用于固定盘的记录状态、使得此后难以在其上额外写入数据、并且该盘仅用于再现的处理。

在所加载的光盘不是可记录盘的情况下，尽管图中未示出，但是系统控制器10向主机设备100通知盘类型或是不可记录盘，并且等待再现命令。在此情况下，可依赖于情况对不兼容盘执行报错处理。

另一方面，在所加载的光盘是可记录光盘90的情况下，系统控制器10从步骤F103进行到步骤F104，并且向主机设备100通知是可记录盘。然后，系统控制器10等待接收记录命令(这里，省略在接收到再现命令的情况下的描述)。

在接收到记录命令的情况下，系统控制器10执行OPC处理，然后在步骤F106及此后控制要求的记录操作。

在步骤F106，检查对应于当前加载并设置为记录目标的光盘90的OPC设置信息是否存储在设置信息存储区域中。

尽管下面将描述该检查处理的示例，但是首先将描述所加载的光盘90是第一次加载的盘、并且没有存储对应的OPC设置信息的情况。

在设置信息存储区域中不存在对应于作为当前记录目标的光盘90的OPC设置信息的情况下，系统控制器10将处理从步骤F107前进到步骤F109，并执行OPC处理。

在图8中图示了在步骤F109中由系统控制器10执行的OPC处理的示例。

首先，在步骤F301，执行OPC初始化设置。这里，设置记录激光功率的初始值和激光驱动脉冲的设置的初始值。

记录激光功率的初始值是在改变记录激光功率的范围内的中心值。确定固定值作为该初始值。例如，对于每种盘类型预先确定激光功率的特定初始值。

例如，在5mW的范围内以步进方式改变激光功率、并且激光功率的功率初始值设置为7mW的情况下，通过在5mW到9mW的范围内改变激光功率来执行测试写入。

此外，激光驱动脉冲的初始值是例如对每个盘类型预定的值。例如，假设图4所示的每个脉冲设置为其初始状态，将图中所示的间隔FS和LE的值确定为初始值。

如上所述，将预先准备的定义的初始值设置为步骤F301中的OPC的初始设置。

此外，系统控制器10将对于OPC的测试写入操作的次数的计数值RN重置为零。

尽管可以以各种方式考虑OPC的过程，但是，这里作为示例采用这样的过程：首先，在将激光驱动脉冲固定为初始设置值的同时搜索记录激光功率的最佳值，获取记录激光功率的最佳值，此后，将记录激光功率固定到最佳值，并搜索最佳激光驱动脉冲的设置。

当完成初始设置时，系统控制器10执行步骤F302中的OPC控制。换句话说，系统控制器10执行测试写入的控制、通过测试写入而写入的部分的再现的控制、以及评估值的取出。

在此情况下，首先，系统控制器10将光学拾取器1移动到盘90的PCA。然后，系统控制器10从编码/解码单元7输出用于测试写入的数据(测试数据)。例如，测试数据可以是随机数据。此外，系统控制器10控制激光驱动器13以便基于上述初始设置以步进方式改变激光功率。

此外，以多级记录激光功率将测试数据记录到光盘90的PCA中。

当完成测试写入时，接下来，系统控制器10允许光学拾取器1访问其中已经执行测试写入的区域的引导(leading)地址。然后，系统控制器10再现通过测试写入预先记录的部分。

此时，将再现RF信号从矩阵电路4提供到评估值测量单元19，并且例如通过评估值测量单元19测量β值。系统控制器10从评估值测量单元19取出在再现时段期间测量的β值，即，对应于多级记录激光功率的每级的β值。

如上所述，可使用除β值以外的抖动值、不对称度、调制度、误差率等作为评估值，可使用多种类型的评估值。

当取出评估值时，系统控制器10基于评估值确定是否可以在已经执行测试写入的激光功率范围内确定最佳记录激光功率。在估计最佳记录激光功率不在其中执行测试写入的范围内的情况下，系统控制器10确定需要重试，并且从步骤F303进行到步骤F305。

在步骤F305，确定测试写入操作次数RN是否达到重试次数上限RNmax。

在测试写入操作次数RN没有达到重试次数上限RNmax的情况下，在步骤F306中改变设置。例如，在还没有确定最佳记录激光功率的情况下，改变要改变的激光功率的范围的设置。

然后，在步骤F307中递增测试写入操作次数RN，将处理返回到步骤F302，并且执行上述测试写入的控制、通过测试写入而写入的部分的再现的控制、以及评估值的取出。

假设作为第一次测试写入操作或第二次或之后的测试写入操作的结果，基于评估值可以确定最佳记录激光功率。

在该示例的情况下，由于进一步执行最佳脉冲设置，因此在该时间点OPC没有完成，并且处理进行到步骤F303-＞F305-＞F306。然后，在此情况下，将激光功率设置为固定到确定为最佳的记录激光功率，并且将激光驱动脉冲设置为在作为中心值的初始值前后的范围内以步进方式改变。

然后，在步骤F307中递增测试写入操作次数RN，然后，处理返回到步骤F302，并且执行如上所述的测试写入处理的控制、通过测试写入而写入的写入部分的再现的控制、以及评估值的取出。

在此时的测试写入中，当将记录激光功率固定到最佳记录激光功率时，以步进方式改变激光驱动脉冲的设置(例如，第一脉冲FP的上升边缘的定时或最后脉冲LP的下降边缘的定时)。

然后，执行其再现以便取出评估值，并且确定最佳激光驱动脉冲的设置。视情况而定，进一步执行重试，并搜索最佳激光驱动脉冲的设置。

当确定最佳激光驱动脉冲的设置时，系统控制器10从步骤F303进行到步骤F304，并且将确定为最佳的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置固定。

此外，此时，系统控制器10检查从传感器21传输的温度检测信息，以便确定当前环境温度。这里，可以不在此时执行温度的确定，并且可检测OPC处理中的温度。

如上所述，完成一系列OPC处理。

然而，存在在没有确定最佳记录激光功率和激光驱动脉冲的情况下达到重试次数上限的情况。在此情况下，处理从步骤F305进行到步骤F308，并且执行作为OPC报错处理的处理。

在参考图8如上所述的描述中，为了描述的简化，仅描述了对一个记录层执行测试写入的情况下的处理。然而，作为对于多层盘的OPC处理，存在对每个记录层连续执行OPC处理的情况。

例如，在四层盘的情况下，对记录层L0、L1、L2和L3的每一个顺序执行与上述图8所示相同的OPC处理，并且确定对每个记录层最佳的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置。

此外，存在这样的技术，其中在并非一次对所有记录层执行OPC处理的情况下，对于要对其开始记录的记录层执行OPC处理。

此外，上述OPC处理仅是示例。例如，可考虑其中在一次测试写入操作中同时改变记录激光功率和激光驱动脉冲的处理的示例。

此外，还存在这样的处理的示例，其中，在确定激光驱动脉冲的最佳设置之后，在设置激光驱动脉冲的状态下确定记录激光功率的最佳功率。

将回头参考图5继续描述。

当对所加载的光盘90执行OPC处理时，系统控制器10进行到步骤F110，并且将作为OPC的结果的一个单元的设置信息存储在设置信息存储区域中。

换句话说，产生如图3所示的一个设置信息单元，并将其存储为单元U(x)。

在此情况下，盘类型是基于步骤F102中确定的盘类型的值。

盘制造者是基于在步骤F102的确定时从光盘90的管理信息读出的制造者信息的值。

作为唯一ID，将通过主机设备100或系统控制器10产生的唯一编号分配给该光盘90。

此外，在该时间点或预定时间点(如记录操作之后的管理信息更新时间点)还将该唯一编号记录在光盘90中。

OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)是通过之前的OPC处理已经设置的对于每个记录层的最佳记录激光功率的值。此外，在光盘90是多层盘的情况下，当对每个记录层执行OPC处理时，存储对于每个记录层的记录激光功率。另一方面，在仅对一部分记录层执行OPC处理的情况下，尽管可以将还没有对其执行OPC处理的记录层的记录激光功率信息设置为空白，但是可通过使用对应于记录层且被存储的系数来计算还没有对其执行OPC处理的记录层的记录激光功率的值。例如，在对记录层L0执行OPC处理的情况下，对记录层L0的最佳记录激光功率执行对于记录层L1、L2和L3的每一个的系数计算，并且获取并存储对于记录层L1、L2和L3的每一个适当的记录激光功率。

例如，如图8中所示的步骤F304，将OPC处理时检测的温度信息存储为温度信息。在对每个记录层执行OPC处理的情况下，将每次OPC处理时的温度的值存储为温度信息(Temp L0，...，Temp L3)。

策略校正量(第0层策略校正量，...，第3层策略校正量)是对之前的OPC处理中设置的每个记录层最佳的激光驱动脉冲的设置的值(例如，图4所示的FS和LE的值)。此外，在光盘90是多层盘的情况下，当对每个记录层执行OPC处理时，存储对于每个记录层的策略校正量。另一方面，在仅对各记录层的一部分执行OPC处理的情况下，尽管可以将还没有对其执行OPC处理的记录层的策略校正量设置为空白，但是可通过使用对应于记录层且被存储的系数来计算还没有对其执行OPC处理的记录层的激光驱动脉冲的策略校正量的值。

例如，系统控制器10产生一个设置信息单元的数据，并将数据存储在设置信息存储区域(例如，存储器20)中。

替代地，在主机设备100内部安排的存储器中安排设置信息存储区域的情况下，系统控制器10将设置信息单元的数据传送到主机设备100，并要求主机设备100存储数据。

此外，在设置信息存储区域是光盘90的预定区域的情况下，系统控制器10基于设置信息单元产生记录数据，并将记录数据传送到编码/解码单元7。然后，通过编码/解码单元7、写入策略单元14、激光驱动器13和光学拾取器1的操作，在光盘90上记录对应的设置信息单元的信息。此外，在设置信息存储区域是光盘90的预定区域的情况下，可不在步骤F110的定时、而是在此后执行的记录操作之后更新管理信息时执行在光盘90上写入设置信息单元。

当在步骤F110执行存储设置信息单元的处理时，系统控制器10进行到步骤F111，并开始从主机设备100要求的记录操作。此时，系统控制器10指示写入策略单元14设置最佳激光驱动脉冲，指示激光驱动器13具有最佳记录激光功率，并执行记录操作。

至此，作为步骤F106的处理，已经描述了其中不存在对应于作为当前记录目标的光盘90的OPC设置信息的情况。

另一方面，在加载了对其执行至少一次或更多的OPC操作和记录操作的光盘90的情况下，对应于光盘90在设置信息存储区域中存储一个单元或多个单元的OPC设置信息。

以下，将描述这样的情况。

首先，在图6和7中图示了步骤F106的OPC设置信息检查处理的示例1和示例2。

在步骤F106，系统控制器10检查对应于当前加载并设置为记录目标的光盘90的一个单元的OPC设置信息是否存储在设置信息存储区域中。

图6所示的OPC设置信息检查处理的示例1是如下的处理。

首先，在步骤F201中，系统控制器10用设置信息存储区域中存储的设置信息单元的最后的号码替代变量x。这里，假设将单元号按存储顺序添加到设置信息存储区域的每个设置信息单元。这里，最后的号码是是表示最后存储的设置信息的号码。

在步骤F202，系统控制器10检查设置信息单元U(x)的内容。然后，系统控制器10检查关于当前加载的光盘90的信息(即，在步骤F102从管理信息读出的盘类型、制造商名称、唯一ID)与设置信息单元U(x)的盘类型、盘制造者和唯一ID的一致性。

当盘类型、盘制造者和唯一ID全部与当前加载的光盘90的那些一致时，将设置信息单元U(x)确定为对应于当前加载的光盘90的设置信息单元。

另一方面，在盘类型、盘制造者和唯一ID的任意一个与当前加载的光盘90的那些不一致的情况下，将设置信息单元U(x)确定为不是对应于当前加载的光盘90的设置信息单元。

在设置信息单元U(x)确定为不是对应于当前加载的光盘90的设置信息单元的情况下，系统控制器10从步骤F203进行到步骤F204，并且检查变量x是否是该单元的引导号。换句话说，确定是否完成了所有设置信息单元的检查。

当变量x不是该单元的引导号时，在步骤F205递减变量x，并且在步骤F202检查下一设置信息单元U(x)的内容。

换句话说，系统控制器10执行其中从最后的设置信息单元顺序检查内容、并且搜索对应于当前加载的光盘90的设置信息单元的处理。

在检查处理的中间的设置信息单元U(x)的盘类型、盘制造者和唯一ID与当前加载的光盘90的那些一致的情况下，在一时间点，系统控制器10从步骤F203进行到F206，将设置信息单元U(x)确定为对应于当前加载的光盘90的设置信息单元，并且结束F106的设置信息检查处理。

另一方面，变量x是没有在步骤F204找到对应设置信息单元时的单元引导号的情况是其中并非设置信息存储区域中存储的所有设置信息单元都被检查为与当前加载的光盘90一致的情况。此时，系统控制器10进行到步骤F207，并且作为检查不存在对应设置信息单元的结果，结束步骤F106的设置信息检查处理。

此外，在检查出不存在对应OPC设置信息的情况下，在图5所示的处理中，如上所述执行步骤F107-＞步骤F109-＞步骤F110-＞步骤F111的处理。

在图6所示的该OPC设置信息检查处理中，在存在对应于当前加载的光盘90的一个单元的设置信息单元的情况下，将该设置信息单元确定为具有对应OPC设置信息的单元。此外，在存在多个对应设置信息单元的情况下，将最后一个设置信息单元确定为具有对应OPC设置信息的单元。

换句话说，在对应于设置为记录目标的光盘90的记录激光功率和激光驱动脉冲的多个单元的设置信息存储在设置信息存储区域中的情况下，系统控制器10读出最后的设置信息以用于此后执行的OPC处理。

当考虑如随时间改变的记录条件的变化时，可通过读出最后设置信息单元来获取在接近当前记录条件的记录条件下的设置信息。

接下来，图7图示作为相同步骤F106的OPC设置信息检查处理的示例2。该示例2是在对应于设置为记录目标的光盘90的记录激光功率和激光驱动脉冲的多个单元的设置信息存储在设置信息存储区域中的情况下、系统控制器10读出其记录条件最接近当前记录条件的设置信息的示例。

首先，在步骤F220，系统控制器10指定在设置信息存储区域中存储的设置信息单元的引导设置信息单元。

然后，在步骤F221，系统控制器10检查所指定的设置信息单元(例如，单元U1)的内容。然后，系统控制器10检查在步骤F102从管理信息读出的关于当前加载的光盘90的信息(即，盘类型、制造商名称、以及唯一ID)与设置信息单元U(x)的盘类型、盘制造者和唯一ID的一致性。

与上述示例1类似，仅在盘类型、盘制造者和唯一ID全部与当前加载的光盘90的那些一致的情况下，将检查处理中间的设置信息单元确定为对应于当前加载的光盘90的设置信息单元。

当确定对应设置信息单元时，在步骤F223，系统控制器10将检查处理中间的设置信息单元的单元号存储为对应单元。例如，系统控制器10执行其中将标记设置到与当前设置信息单元的号码一致的内部寄存器中的处理。

另一方面，在盘类型、盘制造者、唯一ID的任意一个与当前加载的光盘90的那些不一致的情况下，不将设置信息单元确定为对应于当前加载的光盘90的设置信息单元，并且不执行步骤F223的处理。

在步骤F224，确定所有设置信息单元的检查是否完成。在检查没有完成的情况下，在步骤F225指定下一设置信息单元(例如，单元U2)，并且将处理返回到步骤F221。

换句话说，对所有设置信息单元顺序执行步骤F221的处理。

当所有设置信息单元的检查完成时，处理从步骤F224进行到步骤F226，并且系统控制器10检查是否存在对应于当前加载的光盘90的设置信息单元。例如，检查是否存在已经对其执行步骤F223的标记处理的至少一个单元号。

当不存在至少一个对应设置信息单元时，系统控制器10进行到步骤F227，并且作为检查不存在对应设置信息单元的结果，结束步骤F106的设置信息检查处理。此外，在此情况下，在图5所示的处理中，如上所述执行步骤F107-＞步骤F109-＞步骤F110-＞步骤F111的处理。

另一方面，在存在一个或多个对应设置信息单元的情况下，在步骤F228，系统控制器10通过检查是否存在多个单元来将处理分支。

在存在一个对应设置信息单元的情况下，处理进行到步骤F229，并且系统控制器10将设置信息单元确定为对应于当前加载的光盘90的设置信息单元，并结束步骤F106的设置信息检查处理。

在存在多个对应设置信息单元的情况下，系统控制器10进行到步骤F230，并且执行在各设置信息单元中选择其记录条件最接近当前记录条件的设置信息的处理。

例如，将温度信息用作记录条件。系统控制器10基于传感器21的检测信息确定当前温度，并检查每个设置信息单元的温度信息。然后，在步骤F231，从多个设置信息单元中选择其存储的温度信息最接近当前温度的设置信息单元。然后，系统控制器10将所选择的设置信息单元确定为对应于当前加载的光盘90的设置信息单元，并结束步骤F106的设置信息检查处理。

如上所述，在存在多个对应设置信息单元的情况下，通过选择其记录条件(如温度)接近当前条件的设置信息单元，可以获取适于当前记录条件的设置信息。

此外，这里，尽管将温度用作示例，但是例如可选择当对其中当前要记录数据的记录层实际执行OPC处理时的设置信息单元。此外，该条件和温度条件可一起用于选择。显然，可以根据设置信息单元中包括的信息的内容使用用于选择的条件。例如，在OPC时的径向倾斜值存储在设置信息单元内的情况下，可考虑选择具有接近当前状态的径向倾斜值的设置信息单元。

在通过如图6或7所示的处理检查出存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息的情况下图5所示处理之后的处理如下。

系统控制器10从步骤F107进行到步骤F108，如图5所示。在步骤F108，读出上述在步骤F106中检查的设置信息单元的内容，并且设置OPC初始值。换句话说，设置信息单元中存储的OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)用作当对每个记录层执行OPC时的记录激光功率B的初始值(例如，激光功率改变的范围的中心值)。

此外，策略校正量的值(第0层策略校正量，...，第3层策略校正量)的值设置为当对每个记录层执行OPC时的激光驱动脉冲的初始值。

然后，处理进行到步骤F109的OPC处理。

这里，在OPC处理中，如参考图8所述，首先，在步骤F301，执行初始设置。

如上所述，在不存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息的情况下，将记录激光功率和激光驱动脉冲的初始值例如设置为预先确定的固定初始值。

相反，在存在OPC设置信息的情况下，在步骤F301，将上述步骤F108中确定的初始值(即，设置信息单元中存储的OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)和策略校正量(第0层策略校正量，...，第3层策略校正量))设置为初始值。

换句话说，在步骤F301中，当开始了对于记录层L0的OPC处理时，系统控制器10将“OPC功率L0”的值设置为记录激光功率的初始值，并将“第0层策略校正量”的值设置为激光驱动脉冲的设置初始值。然后，执行上述步骤F302及此后的处理。

此外，在步骤F301中，当开始对记录层L1的OPC处理时，系统控制器10将“OPC功率L1”的值设置为记录激光功率的初始值，并将“第1层策略校正量”的值设置为激光驱动脉冲的设置初始值。

此外，在步骤F301中，当开始对记录层L2的OPC处理时，系统控制器10将“OPC功率L2”的值设置为记录激光功率的初始值，并将“第2层策略校正量”的值设置为激光驱动脉冲的设置初始值。

此外，在步骤F301中，当开始对记录层L3的OPC处理时，系统控制器10将“OPC功率L3”的值设置为记录激光功率的初始值，并将“第3层策略校正量”的值设置为激光驱动脉冲的设置初始值。

通过如上所述设置初始值，可有效地执行OPC处理。

换句话说，初始值是通过在过去执行的、对当前加载的光盘90的OPC处理获取的最佳记录激光功率和最佳激光驱动脉冲。因此，当在将记录激光功率用作中心值的情况下、以步进方式改变激光功率的同时执行测试写入时，存在可通过一次或少数几次测试写入确定此时最佳的记录激光功率的高可能性。类似地，当在将过去设置为最佳的激光驱动脉冲用作中心的情况下、以步进方式改变脉冲定时的同时执行测试写入时，存在可通过一次或少数几次测试写入发现此时最佳的激光驱动脉冲的高可能性。

随着测试写入操作的重试次数变小，可减少光盘90中的PCA的消耗，并且可缩短用于OPC处理的时间。

此外，通过在OPC中不仅优化记录激光功率、而且优化激光驱动脉冲，可稳定或改进此后执行的记录操作的质量。

此外，当参考OPC结果时，通过不仅使用记录激光功率、而且使用激光驱动脉冲的设置值，可以提升OPC的效率。

[4.第二实施例]

将参考图9描述根据第二实施例的盘驱动设备的处理。在下面呈现的每个实施例的描述中，将相同的步骤号分配给与图5所示的第一实施例的处理相同的处理，并省略其描述。

图9所示的步骤F101到F106与第一实施例的那些相同。此外，当在步骤F106确定不存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息时执行的处理(F106-＞F107-＞F109-＞F110-＞F111)与第一实施例的处理相似。

在第二实施例的情况下，在步骤F106中检查出存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息的情况下，系统控制器10从步骤F107进行到步骤F120。然后，系统控制器10确定OPC设置信息的记录条件和当前记录条件是否在可以同样对待的范围内。

例如，上述记录条件是温度条件。换句话说，系统控制器10确定存储为OPC设置信息的温度值和当前通过温度传感器21检测到的温度值是否在作为记录条件可以同样对待的范围内。

例如，在OPC设置信息中包括的温度信息的值相对于当前温度在±10℃的范围内的情况下，认为其处于可以同样对待的范围内。

在温度条件不在可以同样对待的范围内的情况下，不使用OPC设置信息。换句话说，系统控制器10从步骤F120进行到步骤F109，并且与不存在OPC设置信息的情况类似地执行OPC处理。

另一方面，在温度差在±10℃的范围内以便处于可以同样对待各温度条件的范围内的情况下，系统控制器10从步骤F120进行到步骤F121，读出上述步骤F106中检查的设置信息单元的内容，并设置OPC初始值。换句话说，系统控制器10将设置信息单元中存储的OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)设置为在对每个记录层执行OPC时的记录激光功率的初始值(改变激光功率的范围内的中心值)。此外，系统控制器10将策略校正量(第0层策略校正量，...，第3层策略校正量)设置为在对每个记录层执行OPC时的激光驱动脉冲的初始值。

然后，处理进行到步骤F109的OPC处理。在此情况下，通过使用在步骤F121中设置为初始值的值(即，设置信息单元中存储的OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)和策略校正量(第0层策略校正量，...，第3层策略校正量)的值)作为初始值，执行OPC处理。

通过如上所述设置初始值，可以改进OPC处理的效率。具体地，在温度条件接近的情况下，通过使用过去使用的OPC设置信息，使用适当估计为接近当前最佳的记录激光功率和激光驱动脉冲的初始值，从而可以提高有效执行OPC处理的可能性。

此外，这里，尽管温度条件描述为记录条件，但是在作为OPC目标的记录层与OPC设置信息的内容不同的情况下，例如，即使在不存储对于对其执行OPC处理的记录层最佳的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置的情况下，也可确定不同样对待各记录条件，从而不使用OPC设置信息。此外，在关于如径向倾斜信息的其他记录条件的信息包括在OPC设置信息中的情况下，可以确定该信息是否在可以与当前记录条件同样对待的范围内，以便确定是否使用OPC设置信息。

[5.第三实施例]

将参考图10描述根据第三实施例的盘驱动设备的处理。

图10所示的步骤F101到F106与第一实施例的那些相同。此外，当在步骤F106确定不存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息时执行的处理(F106-＞F107-＞F109-＞F110-＞F111)与第一实施例的处理相似。

在第三实施例的情况下，在步骤F106中检查出存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息的情况下，系统控制器10从步骤F107进行到步骤F130。然后，系统控制器10确定OPC设置信息中包括的温度信息和当前温度信息之间的温度差是否等于或大于预定值。

例如，确定OPC设置信息中包括的温度信息的值是否在相对于当前温度的±10℃的范围内。

在温度差等于或大于预定值的情况下，不使用OPC设置信息。换句话说，系统控制器10从步骤F130进行到步骤F109，并且类似于不存在OPC设置信息的情况执行OPC处理。

另一方面，在温度差在±10℃的范围内的情况下，系统控制器10从步骤F130进行到步骤F131，读出上述步骤F106中检查的设置信息单元的内容，并通过校正OPC设置信息来设置OPC初始值。

换句话说，设置信息单元中存储的OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)和策略校正量(第0层策略校正量，...，第3层策略校正量)的值基于当执行OPC时获取的温度和对其执行OPC的当前温度之间的差而校正。

例如，假设当前温度是25℃，并且OPC设置信息中存储的温度是18℃。此外，假设25℃以下的最佳记录激光功率的值是LP25，并且18℃以下的最佳记录激光功率的值是LP18。

在此情况下，将OPC设置信息中包括的OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)乘以系数(LP25/LP18)，以便设置为初始值。

同样对于策略校正量，预先准备通常温度下的校正量的变化的信息，并基于所存储的准备信息执行校正。

例如，系统控制器10通过如上所述校正OPC设置信息的值来设置初始值。然后，在步骤F109，系统控制器10通过使用初始值来执行OPC处理。

通过如上所述执行校正，将过去对于OPC最佳的设置值设置为适于当前温度条件的值，并且可通过使用所适配的值作为OPC的初始值来执行OPC处理。

因此，可从更接近当前记录条件的设置状态开始OPC处理，并可提高OPC处理的效率。

此外，在图10所示的处理中，尽管在步骤F130检查温度差，但是在步骤F106执行该处理，并且其温度差等于或大于预定值的设置信息单元可以不是对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息。

[6.第四实施例]

将参考图11描述根据第四实施例的盘驱动设备的处理。

图11所示的步骤F101到F106与第一实施例的那些相同。此外，当在步骤F106确定不存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息时执行的处理(F106-＞F107-＞F109-＞F110-＞F111)与第一实施例的处理相似。

在第四实施例的情况下，在步骤F106中检查出存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息的情况下，系统控制器10从步骤F107进行到步骤F140。然后，系统控制器10确定OPC设置信息中包括的温度信息和当前温度之间的温度差是否等于或高于预定温度。

例如，确定OPC设置信息中包括的温度信息的值是否在相对于当前温度的±10℃的范围内。

在温度差处于预定范围内的情况下，系统控制器10从步骤F140进行到步骤F141，读出上述步骤F106中检查的设置信息单元的内容，并设置OPC的初始值。换句话说，将设置信息单元中存储的OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)设置为对每个记录层执行OPC时的记录激光功率的初始值(激光功率改变的范围内的中心值)。此外，将策略校正量(第0层策略校正量，...，第3层策略校正量)的值设置为对每个记录层执行OPC时的激光驱动脉冲的初始值。

然后，处理进行到步骤F109的处理。在此情况下，用设置信息单元中存储的、用作初始值的OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)和策略校正量(第0层策略校正量，...，第3层策略校正量)执行OPC处理。

另一方面，在步骤F140中确定温度差等于或大于预定值的情况下，系统控制器10进行到步骤F142，读出上述步骤F106中已经检查的设置信息单元的内容，并通过校正OPC设置信息来设置OPC的初始值。

换句话说，作为上述第三实施例中所述的校正，设置信息单元中存储的OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)和策略校正量(第0层策略校正量，...，第3层策略校正量)的值基于当执行OPC时获取的温度和要对其执行OPC的当前温度之间的差而校正。

然后，系统控制器10通过校正OPC设置值的值来设置初始值。然后，系统控制器10在步骤F109通过使用初始值来执行OPC处理。

换句话说，在该第四实施例中，在当前温度状态接近对其存储OPC设置信息的OPC处理时的温度状态时，将OPC设置信息中包括的记录激光功率和激光驱动脉冲的值直接用作OPC的初始值。

另一方面，在温度状态彼此极大不同的情况下，校正OPC设置信息中包括的激光驱动脉冲和记录激光功率的值，以便用作OPC的初始值。因此，改进初始值的准确度。

如上所述，在存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息的情况下，有效地使用OPC设置信息，并可以有效地执行OPC处理。

[7.第五实施例]

在到目前为止呈现的第一到第四实施例中，呈现了通过使用OPC设置信息来设置OPC的初始值、并通过使用初始值来执行OPC从而有效地执行OPC处理的示例。相反，以下呈现的第五到第八实施例是其中安排了不执行OPC处理的情况的处理的示例。

将参考图12描述根据第五实施例的盘驱动设备的处理。

图12所示的步骤F101到F106与第一实施例的那些相同。此外，当在步骤F106确定不存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息时执行的处理(F106-＞F107-＞F109-＞F110-＞F111)与第一实施例的处理相似。

根据该第五实施例，在步骤F106中检查出存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息的情况下，系统控制器10从步骤F107进行到步骤F401。然后，系统控制器10将OPC设置信息中包括的OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)设置为对每个记录层最佳的记录激光功率。此外，系统控制器10将策略校正量(第0层策略校正量，...，第3层策略校正量)的值设置为对每个记录层最佳的激光驱动脉冲。

然后，在不执行OPC处理的情况下开始步骤F111的记录操作控制。

在该第五实施例中，在存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息的情况下，将OPC设置信息的内容直接用作最佳设置值，并且在省略OPC处理的情况下执行实际记录。因此，可以缩短直到记录开始为止的时间，并且可以减小PCA区域的消耗。

[8.第六实施例]

将参考图13描述根据第六实施例的盘驱动设备的处理。

图13所示的步骤F101到F106与第一实施例的那些相同。此外，当在步骤F106中确定不存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息时，处理从步骤F107进行到步骤F109和F110的处理，此后在步骤F111开始记录，其类似于第一实施例的处理。

在第六实施例中，在步骤F106中检查出存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息的情况下，系统控制器10从步骤F107进行到步骤F501。然后，系统控制器10确定OPC设置信息中包括的记录条件(例如，温度条件或目标记录层等)是否位于可以同样对待各条件的范围内。

在记录条件不在可以同样对待各记录条件的范围内的情况下，处理从步骤F501进行到步骤F109，并执行OPC处理。

另一方面，在记录条件在可以同样对待各记录条件的范围内的情况下，系统控制器10从步骤F501进行到步骤F502。然后，将OPC设置信息中包括的OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)设置为对每个记录层最佳的记录激光功率。此外，将策略校正量(第0层策略校正量，...，第3层策略校正量)的值设置为对每个记录层最佳的激光驱动脉冲。

然后，在不执行OPC处理的情况下开始步骤F111的记录操作控制。

在该第六实施例中，在存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息的情况下，将OPC设置信息的内容直接用作最佳设置值，并在省略OPC处理的情况下执行实际记录。

然而，在当存储OPC设置信息时的OPC处理时的记录条件(如温度)与当前时间的记录条件不在可以同样对待各记录条件的范围内的情况下，在一些情况下，可能不适于直接使用OPC设置信息的内容作为最佳值。因此，在此情况下，执行OPC处理，从而维持步骤F111的实际记录操作中的记录质量。

[9.第七实施例]

将参考图14描述根据第七实施例的盘驱动设备的处理。

图14所示的步骤F101到F106与第一实施例的那些相同。此外，当在步骤F106确定不存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息时执行的处理的前进(F107-＞F109-＞F110-＞F111)与第一实施例的处理相似。

在第七实施例中，在步骤F106中检查出存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息的情况下，系统控制器10从步骤F107进行到步骤F601。然后，系统控制器10确定OPC设置信息中包括的温度信息和当前温度之间的温度差是否等于或大于预定值。

在温度差等于或大于预定值、并且OPC设置信息的内容被确定为在所述温度与当前温度极大不同的条件下的值的情况下，处理从步骤F601进行到步骤F109，并执行OPC处理。

另一方面，在确定温度差在预定范围内、并且是其中可以同样对待各记录条件的范围内的情况下，系统控制器10从步骤F601进行到步骤F602。然后，系统控制器10将OPC设置信息中包括的OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)设置为对每个记录层最佳的记录激光功率。此外，系统控制器10将策略校正量(第0层策略校正量，...，第3层策略校正量)的值设置为对每个记录层最佳的激光驱动脉冲的设置。

然后，在不执行OPC处理的情况下开始步骤F111的记录操作控制。

在该第七实施例中，在存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息的情况下，将OPC设置信息的内容直接用作最佳设置值，并且在省略OPC处理的情况下执行实际记录。然而，在存储OPC设置信息时的OPC处理时的温度条件和当前温度条件彼此极大不同的情况下，在一些情况下，可能不适于直接使用OPC设置信息的内容作为最佳值。因此，在这样的情况下，执行OPC处理。

[10.第八实施例]

将参考图15描述根据第八实施例的盘驱动设备的处理。

图15所示的步骤F101到F106与第一实施例的那些相同。此外，当在步骤F106确定不存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息时执行的处理的前进(F107-＞F109-＞F110-＞F111)与第一实施例的处理相似。

在第八实施例中，在步骤F106中检查出存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息的情况下，系统控制器10从步骤F107进行到步骤F701。然后，系统控制器10确定OPC设置信息中包括的温度信息和当前温度之间的温度差是否等于或大于预定值。

在温度差等于或大于预定值、并且OPC设置信息的内容被确定为处于所述温度与当前温度极大不同的条件下的情况下，系统控制器10从步骤F701进行到步骤F702，读出步骤F106中检查的设置信息单元的内容，并且通过校正OPC设置信息来设置OPC的初始值。

换句话说，作为上述第三实施例中所述的校正，设置信息单元中存储的OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)和策略校正量(第0层策略校正量，...，第3层策略校正量)的值基于当执行OPC时获取的温度和要对其执行OPC的当前温度之间的差而校正。

然后，系统控制器10通过校正OPC设置值的值来设置初始值。然后，在步骤F109，系统控制器10通过使用所述初始值来执行OPC处理。

另一方面，在确定温度差在预定范围内并且在可以同样对待各记录条件的范围内的情况下，系统控制器10从步骤F701进行到步骤F703。然后，系统控制器10将OPC设置信息中包括的OPC功率(OPC功率L0，...，OPC功率L3)设置为对每个记录层最佳的记录激光功率。此外，系统控制器10将策略校正量(第0层策略校正量，...，第3层策略校正量)的值设置为对每个记录层最佳的激光驱动脉冲的设置。

然后，在不执行OPC处理的情况下开始步骤F111的记录操作控制。

在该第八实施例中，在存在对应于当前加载的光盘90的OPC设置信息、并且温度条件彼此接近的情况下，将OPC设置信息的内容直接用作最佳设置值，并且在省略OPC处理的情况下执行实际记录。然而，在存在OPC设置信息、并且温度条件彼此不接近的情况下，校正OPC设置信息的内容以便设置OPC初始值。然后，通过使用OPC初始值执行OPC处理。

因此，通过在温度条件彼此不接近的情况下不执行OPC处理，可以缩短直到记录开始为止的时间，并且可以减少PCA区域的消耗。此外，在温度条件彼此有很大程度的不同的情况下，通过使用通过校正OPC设置信息的内容获取的初始值，可以有效地执行OPC处理，可以缩短直到记录开始为止的时间，并且可以减少PCA区域的消耗。

[11.修改示例]

如上所述，尽管已经描述了各个实施例，但是作为根据本公开的实施例的处理的示例，可以考虑各种修改示例。

OPC设置信息的内容不限于图3所示的那些。例如，如上所述，可以添加OPC处理时的径向倾斜信息，或可以依赖于盘类型添加在岸台中记录期间以及在沟槽中记录期间的最佳激光功率信息。

在参考图5、9、10、11、12、13、14和15所述的每个处理中，当接收到记录命令时执行OPC。然而，每个图中图示的步骤F106及此后的处理可以应用到在不同时间点执行OPC的情况。

此外，在实施例中，已经描述了这样的示例，其中通过对于如DVD型或蓝光型的光盘的盘驱动设备实现根据本公开实施例的记录设备。然而，本公开实施例可应用到对于另一类型的光学记录介质的记录设备。例如，本公开实施例可以应用到通过将激光束发射到光卡而记录信息的记录设备。

[12.程序]

根据本公开实施例的程序是允许操作处理设备(系统控制器10等)执行图5、9、10、11、12、13、14和15所示的上述处理的程序。

根据实施例的程序是用于包括记录单元的记录设备的操作处理设备的程序，所述记录单元通过基于激光驱动脉冲执行的激光束发射而将信息记录在光学记录介质的记录层中。

所述程序允许操作处理设备执行从预定设置信息存储区域读出与设置为记录目标的光学记录介质一致存储的过去的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息。

此外，所述程序允许操作处理设备使得记录单元使用所读出的过去的设置信息，对光学记录介质的记录层的测试写入区域执行测试写入，并且再现测试写入部分，并且执行基于测试写入和再现的结果设置记录激光功率和激光驱动脉冲的设置处理。

此外，所述程序允许操作处理设备以设置处理中设置的记录激光功率和激光驱动脉冲执行记录。

根据本实施例的程序可预先记录在作为记录介质的HDD、在具有CPU的微计算机中安排的ROM等中，所述记录介质内置在如盘驱动设备、光卡记录设备、个人计算机等的设备中。

替代地，或另外地，所述程序可暂时或永久存储(记录)在如软盘、CD-ROM(致密盘只读存储器)、MO(磁光)盘、DVD、蓝光盘、磁盘、半导体存储器、或存储卡的可移除记录介质上。这样的可移除记录介质可提供为所谓的封装软件。

此外，根据本公开实施例的程序可从可移除记录介质安装到个人计算机等，或可通过如LAN(局域网)或因特网的网络下载。

所述程序适于实现执行上述实施例的每个的处理的记录设备，并适于在大范围内提供。

本申请包含涉及于2010年6月9日向日本专利局提交的日本优先权专利申请JP 2010-131618中公开的主题，在此通过引用并入其全部内容。

本领域技术人员应当理解，依赖于设计需求和其他因素可以出现各种修改、组合、子组合和更改，只要它们在权利要求或其等效物的范围内。

Claims (17)

1.一种记录设备，包括：

记录单元，其通过基于激光驱动脉冲执行的激光束发射，将信息记录在光学记录介质的记录层中；以及

控制单元，其从设置信息存储区域读出与设置为记录目标的光学记录介质对应存储的过去的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息，允许记录单元使用所读出的过去的设置信息对光学记录介质的记录层的测试写入区域执行测试写入并再现测试写入部分，并且执行基于测试写入和再现的结果设置记录激光功率和激光驱动脉冲的设置处理。

2.如权利要求1所述的记录设备，其中，控制单元将通过设置处理设置的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息存储在设置信息存储区域中。

3.如权利要求2所述的记录设备，其中，在确定与设置为记录目标的光学记录介质对应的设置信息没有存储在设置信息存储区域中的情况下，所述控制单元允许所述记录单元不使用过去的设置信息来对测试写入区域执行测试写入并再现其中执行测试写入的部分，执行基于测试写入和再现的结果来设置记录激光功率和激光驱动脉冲的设置处理，并且将通过设置处理设置的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息存储在设置信息存储区域中。

4.如权利要求3所述的记录设备，其中，作为使用所读出的过去的设置信息的测试写入，所述控制单元允许用设置为激光功率的初始功率值的记录激光功率的设置信息以及设置为激光驱动脉冲的初始设置值的激光驱动脉冲的设置信息执行测试写入。

5.如权利要求3所述的记录设备，其中，在将与设置为记录目标的光学记录介质对应的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息存储在设置信息存储区域中的情况下，在获取所存储的设置信息的设置处理时的记录条件与当前记录条件被确定为处于能够同样对待所述各条件的范围内的情况下，所述控制单元使用所述设置信息以用于测试写入。

6.如权利要求5所述的记录设备，其中，所述记录条件处于能够同样对待所述各条件的范围内的情况是下述情况：获取所存储的设置信息的设置处理时的温度与当前温度之间的温度差在预定范围内。

7.如权利要求3所述的记录设备，其中，作为使用所读出的过去的设置信息的测试写入，所述控制单元校正读出的记录激光功率的设置信息或激光驱动脉冲的设置信息，并且允许通过使用所校正的设置信息来执行测试写入。

8.如权利要求7所述的记录设备，其中，在将与设置为记录目标的光学记录介质对应的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息存储在设置信息存储区域中的情况下，在获取所存储的设置信息的设置处理时的记录条件与当前记录条件被确定为处于能够同样对待所述各条件的范围内的情况下，所述控制单元校正读出的记录激光功率的设置信息或激光驱动脉冲的设置信息，并且允许通过使用所校正的设置信息执行测试写入。

9.如权利要求7所述的记录设备，其中，在将与设置为记录目标的光学记录介质对应的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息存储在设置信息存储区域中的情况下，所述控制单元允许使用在获取所存储的设置信息的设置处理时的记录条件与当前记录条件处于能够同样对待所述各条件的范围内的情况下读出的记录激光功率的设置信息和激光驱动脉冲的设置信息来执行测试写入，并且允许通过校正在获取所存储的设置信息的设置处理时的记录条件与当前记录条件被确定为不处于能够同样对待所述各条件的范围内的情况下读出的记录激光功率的设置信息或激光驱动脉冲的设置信息，使用所校正的设置信息执行测试写入。

10.如权利要求7所述的记录设备，其中，所述控制单元允许利用设置为激光功率的初始功率的记录激光功率的校正的设置信息和作为激光驱动脉冲的设置的初始值的激光驱动脉冲的校正的设置信息来执行测试写入。

11.如权利要求2所述的记录设备，其中，所述控制单元将包括用于识别光学记录介质的信息、对于光学记录介质的每个记录层的记录激光功率的设置信息、以及对于光学记录介质的每个记录层的激光驱动脉冲的设置信息的单元信息存储在设置信息存储区域中，作为一个单位的设置信息。

12.如权利要求1所述的记录设备，还包括：存储器单元，其用作设置信息存储区域。

13.如权利要求1所述的记录设备，其中，所述控制单元使用设置为记录目标的光学记录介质的一部分区域或与其连接的任何其他设备的存储器单元的一部分区域作为设置信息存储区域。

14.如权利要求1所述的记录设备，其中，在将与设置为记录目标的光学记录介质对应的记录激光功率和激光驱动脉冲的多个单位的设置信息存储在设置信息存储区域中的情况下，所述控制单元读出最近的设置信息。

15.如权利要求1所述的记录设备，其中，在将与设置为记录目标的光学记录介质对应的记录激光功率和激光驱动脉冲的多个单位的设置信息存储在设置信息存储区域中的情况下，所述控制单元读出其记录条件最接近于当前记录条件的设置信息。

16.一种用于记录设备的记录方法，所述记录设备包括记录单元，其通过基于激光驱动脉冲执行的激光束发射，将信息记录在光学记录介质的记录层中，所述记录方法包括以下步骤：

从设置信息存储区域读出与设置为记录目标的光学记录介质对应存储的过去的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息；

允许记录单元使用所读出的过去的设置信息对光学记录介质的记录层的测试写入区域执行测试写入，并再现测试写入部分，并且执行基于测试写入和再现的结果设置记录激光功率和激光驱动脉冲的设置处理；以及

用设置处理中设置的记录激光功率和激光驱动脉冲执行记录。

17.一种用于记录设备的操作处理设备的程序，所述记录设备包括记录单元，其通过基于激光驱动脉冲执行的激光束发射，将信息记录在光学记录介质的记录层中，所述程序允许所述操作处理设备执行包括以下步骤的处理：

从设置信息存储区域读出与设置为记录目标的光学记录介质对应存储的过去的记录激光功率和激光驱动脉冲的设置信息；

允许记录单元使用所读出的过去的设置信息对光学记录介质的记录层的测试写入区域执行测试写入，并再现测试写入部分，并且执行基于测试写入和再现的结果设置记录激光功率和激光驱动脉冲的设置处理；以及

用设置处理中设置的记录激光功率和激光驱动脉冲执行记录。

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