CN102332270A

CN102332270A - 记录设备、记录方法和程序

Info

Publication number: CN102332270A
Application number: CN2011101488358A
Authority: CN
Inventors: 后藤隆志; 宫本嘉行; 佐佐木敬
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 2010-06-11
Filing date: 2011-06-03
Publication date: 2012-01-25
Also published as: US8711667B2; EP2395509A1; JP2011258290A; US20110305129A1

Abstract

本发明提供了记录设备、记录方法和程序。该记录设备包括：记录和再现单元，记录或再现存储在记录介质上的数据；和控制单元，在由记录和再现单元执行的记录期间中断记录，获取所记录的部分的记录质量的估计值，基于估计值改变记录速度，并恢复记录。

Description

记录设备、记录方法和程序

技术领域

本公开涉及一种用于对诸如光盘之类的记录介质执行光学记录的记录设备和记录方法以及实现该记录设备和记录方法的程序。

背景技术

多种类型的可记录光学记录介质诸如一次性写类型光盘和可重写光盘是公知的。

例如有CD-R(致密盘-可记录)、CD-RW(致密盘-可重写)、DVD-R(数字多用途盘-可记录)、DVD-RW(数字多用途盘-可重记录)、DVD+R(数字多用途盘+可记录)、DVD+RW(数字多用途盘+可重写)、DVD-RAM(数字多用途盘-随机存取存储器)、BD-R(蓝光盘-可记录)、BD-RE(蓝光盘-可重写)等。

在这样的光学记录介质上记录数据的光学记录/再现设备中，为了保持良好的记录质量，有必要控制各种记录特征的变化以使得变化小，该记录特征诸如RF信号的振幅状态、抖动(jitter)、或基于RF信号的β值估计的误差率、不对称性、调制度等。

发明内容

然而，例如由于在记录期间的各种因素，当再现在记录之后的光学记录介质时获取的RF信号会发生变化。

作为这样的因素的示例，有由记录介质导致的因素，诸如关于光学记录介质的每个厂商的在介质特征上的不同、在径向或切向上的扭曲、表面斑点、灵敏性的不一致、变形、偏心、质量偏心和双折射。

此外，存在由于记录设备方面导致的因素诸如伺服特征、倾斜调整误差、机械装配误差、视野特征上的不同、杂散光、光学拾取器的光学象差、各种微扰调整之后的剩余微扰、激光束、LSI或电路方面的电偏移等。

此外，存在由环境变化导致的因素，诸如设备内温度的升高、随时间、温度和湿度的改变。

这些不同的变化因素随着再现线速度的提高通常具有更多影响。当这些变化大于系统容限的极限时，会产生在其中难以校正数据的RF信号。

关于这样的问题，在JP-A-2006-244670中公开了一种方法，在该方法中当光学记录/再现设备再现在记录之后的光学记录介质时测量RF信号的抖动，并且在抖动超过阈值的情况下限制记录速度。

然而，根据该方法，因为基于绝对值做出确定，所以难以吸收抖动的测量值的设备差异或在设备之间的测量误差或记录介质之间的差异。此外，难以设置阈值。

此外，在JP-A-2006-344299中公开了一种方法，在该方法中检测在记录之前的设备的控制信号中的变化量，并且限制记录速度。然而，由于记录介质的灵敏性的不一致等，难以抑制在记录之后的RF信号的变化。

此外，难以根据在记录操作期间产生的各种变化因素即时地调整记录操作。

因此，期望通过根据在记录操作期间可能产生的各种RF信号的变化因素而调整记录操作来稳定记录质量。

根据本公开的实施例，提供了记录设备，包括：记录和再现单元，记录或再现存储在记录介质上的数据；控制单元，在通过记录和再现单元执行的记录期间中断记录，获取所记录的部分的记录质量的估计值，基于估计值改变记录速度并恢复记录。

上述控制单元可以在基于估计值的记录质量的变化根据处于预定范围之外的情况下降低记录和再现单元的记录速度并恢复记录。

另一方面，上述控制单元可以在基于估计值的记录质量的变化处于预定范围内的情况下提高记录和再现单元的记录速度并恢复记录。替代地，在这种情况下，控制单元可以校正记录和再现单元的记录操作并恢复操作。

此外，上述控制单元在基于估计值的记录质量的变化处于预定范围之外的情况下，可以降低记录和再现单元的记录速度，并且在不以最低记录速度执行中断之前的记录的情况下恢复记录，并且在以最低记录速度执行中断之前的记录的情况下结束记录和再现单元的记录。替代地，代替结束记录和再现单元的记录，控制单元可以执行对连接到它的主机设备的异常状态的通知。

此外，上述控制单元可以在基于估计值的记录质量的变化处于预定范围内的情况下提高记录和再现单元的记录速度并恢复记录操作。

另一方面，上述控制单元可以在基于估计值的记录质量的变化处于预定范围外的情况下校正记录和再现单元的记录操作并恢复记录。

此外，上述控制单元为了确定在记录期间中断记录的定时，可以监视所记录的数据的量、记录数据的地址、位于光学记录介质上的记录位置、记录时间、温度、每个不同半径的校正值(倾斜校正的量、像差校正的量等)、记录激光功率和记录期间的伺服状态中的至少一个。

此外，上述控制单元可以获取抖动值、误差率、β值、调制度、不对称性、RF信号的振幅和孔径比中的至少一个作为估计值。

此外，上述记录设备还可以包括存储单元，在其中存储用于确定基于估计值的记录质量的变化是否处于预定的范围内的阈值，其中控制单元通过使用获取的估计值和阈值来执行确定。

替代地，上述控制单元可以从作为记录目标的记录介质的区域的一部分或连接到它的任意设备的存储单元获取用于确定基于估计值的记录质量的变化是否位于预定范围内的阈值，并且通过使用估计值和阈值来执行确定。

根据本公开的另一实施例，提供了记录方法，包括步骤：在记录介质上记录数据；在记录期间中断记录；获取记录质量的估计值；基于估计值改变记录速度；和恢复记录。

根据本公开的再一实施例，提供了非易失性可读记录介质，其上具有程序，该程序允许操作处理设备执行步骤：在记录介质上记录数据；在记录期间中断记录；获取记录质量的估计值；基于估计值改变记录速度；和恢复记录。

在本公开的实施例中，在记录介质上记录数据期间，以预定的中断定时中断记录操作，再现所记录的部分，并且获取记录质量的估计值。然后，基于使用估计值的记录质量的确定，改变记录线速度，并且恢复记录操作。例如，在质量下降大的情况下，降低记录线速度。此外，存在校正记录操作的情况。替代地，在质量没有下降或下降很少的情况下，提高记录线速度。此外，存在校正记录操作的情况。

通过在操作的中间中断记录操作的同时执行上述操作，可以与RF信号的各种变化因素对应地调节记录操作。

根据本公开的实施例，通过改变记录线速度可以使记录操作适于各种因素，由此通过使用简单的技术可以实现记录质量的稳定。通过稳定记录质量，实现了在记录或再现期间错误发生的减少，由于稳定的伺服状态、实现了在再现期间操作的稳定等，由此改进了记录和再现操作的性能。

附图说明

图1是根据本公开的实施例的盘驱动设备的框图。

图2A和图2B是图示作为实施例的记录目标的光盘的图。

图3是根据第一实施例的记录处理的流程图。

图4是根据第二实施例的记录处理的流程图。

图5是根据第三实施例的记录处理的流程图。

图6是根据第四实施例的记录处理的流程图。

图7是根据第五实施例的记录处理的流程图。

图8是根据第六实施例的记录处理的流程图。

图9是根据第七实施例的记录处理的流程图。

图10是根据第八实施例的记录处理的流程图。

具体实施方式

以下根据下列顺序描述本公开的实施例。

1.盘驱动设备的配置

2.第一实施例

3.第二实施例

4.第三实施例

5.第四实施例

6.第五实施例

7.第六实施例

8.第七实施例

9.第八实施例

10.修改的示例

11.程序

[1.盘驱动设备的配置]

图1示出了作为根据本公开的实施例的记录设备的盘驱动设备的配置。

根据该实施例的盘驱动设备例如是在诸如蓝光盘(注册商标)或DVD(数字多用途盘)之类的光盘上记录和再现数据的记录/再现设备。

当诸如蓝光盘或DVD之类的光盘90被装载到盘驱动设备中时，光盘被装载在图中未示出的转盘(turn table)上。在记录/再现操作期间通过转轴马达2驱动光盘90从而以恒定的线速度(CLV)或恒定的角速度(CAV)转动。

在再现期间，通过光学拾取器1读出在光盘90上形成的轨道上记录的标记信息。

另一方面，当数据记录在光盘90上时，由光学拾取器1将用户数据记录在光盘90上形成的轨道作为相变标记(phase change mark)或色素改变标记(pigmentchange mark)。

此外，在光盘90的内圆周区域等中，作为专用于再现的管理信息，例如盘的物理信息等被作为浮凸的凹坑(embossed pit)或摆动的沟槽(wobbling groove)记录。信息的读出也由光学拾取器1执行。

此外，作为光盘90上的沟槽轨道的摆动嵌入的ADIP(前沟槽中地址)信息或LPP(地面前凹坑)信息由光学拾取器1读出。

在光学拾取器1内，形成用作激光束源的激光二极管；用于检测反射光的光检测器；作为激光束的输出端的物镜；和光学系统等，该光学系统以激光束通过物镜照射盘记录表面并且将其反射光引导到光检测器。

使用双轴机构将物镜保持在光学拾取器1内以便可以在跟踪方向和焦点方向上可移动。

此外，整个光学拾取器1使用线程机构3在盘的径向上可移动。

此外，驱动光学拾取器1的激光二极管以便根据从激光驱动器13发送的驱动信号(驱动电流)发射激光束。

此外，在光学拾取器1内，布置例如使用热敏电阻等的温度传感器21以检测温度信息。所检测的温度信息被提供给系统控制器10。相应地，系统控制器10可以获取在记录期间的温度信息。

关于从盘90反射的反射光的信息由光检测器检测并且根据接收到的光的强度而转换为电信号以提供到矩阵电路4。

与从作为光检测器的多个光接收设备输出的输出电流对应地，矩阵电路4包括电流-电压转换电路、矩阵计算/放大电路等。矩阵电路4通过矩阵计算处理产生需要的信号。

例如，矩阵电路4产生再现信息信号(RF信号)、用于伺服控制的焦点误差信号、跟踪误差信号等。

此外，矩阵电路4产生推挽信号作为关于沟槽的摆动的信号，即，用于检测摆动的信号。

从矩阵电路4输出的RF信号提供到数据检测处理单元5和估计值测量单元19，焦点误差信号和跟踪误差信号提供到光学块伺服电路11，并且推挽信号提供到摆动信号处理电路15。

在此，矩阵电路4可以布置在光学拾取器1内。

数据检测处理单元5执行RF信号的二进制化处理。

例如，数据检测处理单元5执行RF信号的A/D转换处理、使用PLL的再现时钟产生处理、PR(部分响应)均衡化处理、Viterbi解码处理(最大似然解码方法)等，并且通过部分响应最大似然解码处理(PRML检测方法)获取二进制数据阵列。

然后，数据检测处理单元5将二进制数据阵列作为从光盘90读出的信息提供到布置在后级上的编码/解码单元7。

编码/解码单元7在再现期间执行再现数据的解调处理，并且在记录期间执行记录数据的调制处理。换言之，编码/解码单元7在再现期间执行数据解调处理、解交织处理、ECC解码处理、地址解码处理等，并且在记录期间执行ECC编码处理、交织处理、数据调制处理等。

在再现期间，由数据检测处理单元5解码的二进制数据阵列提供到编码/解码单元7。编码/解码单元7通过执行二进制数据阵列的解调处理而从光盘90获取再现数据。

编码/解码单元7例如对于如下数据执行解调处理、作为误差校正处理的ECC解码处理等，对于该数据，执行运行长度限制的码调制处理并且记录在光盘90上，由此从光盘90获取再现数据。

基于系统控制器10的指令，将作为再现数据由编码/解码单元7解码的数据传送到主机接口8并且传送到主机设备100。在此，主机设备100例如是计算机设备、AV(音频-视频)系统设备等。

当将数据记录在光盘90上或者从光盘90再现时，处理ADIP/LPP信息。

换言之，从矩阵电路4输出的推挽信号作为关于沟槽的摆动的信号由摆动信号处理电路6形成为数字化的摆动数据。此外，通过PLL处理，产生了与推挽信号同步的时钟。

使用ADIP/LPP解调电路16将摆动数据解调为配置ADIP地址的数据流并且提供到地址解码器9。

地址解码器9解码提供的数据以获取地址值并且将地址值提供到系统控制器10。

在记录期间，主机设备100通过主机接口8将记录数据提供到编码/解码单元。

在这种情况下，作为记录数据的编码处理，编码/解码单元7执行误差校正码相加(ECC编码)处理、交织处理、子码相加处理等。此外，编码/解码单元7对已经对其执行了这样的处理的数据执行运行长度限制的码调制处理。

由编码/解码单元7处理的记录数据由写策略单元14形成为激光驱动脉冲并提供到激光驱动器13。当记录数据形成为激光驱动脉冲时，写策略单元14也执行记录补偿处理、诸如最优记录功率的精细调整，对于记录层的特征的激光驱动脉冲的脉冲波形等、激光束的斑点形状、记录线速度等的调整。

然后，激光驱动器13将已经对其执行了记录补偿处理的激光驱动脉冲提供到布置在光学拾取器1内的激光二极管以执行激光束发射的驱动。相应地，与记录数据对应的标记形成在光盘90上。

此外，激光驱动器13包括所谓的APC(自动功率控制)电路，并且在基于布置在光学拾取器1内的激光功率监视检测器的输出来监视激光输出功率的同时，控制激光束的输出为恒定而不取决于温度等。

从系统控制器10给出在记录期间和再现期间的激光输出水平的目标值。系统控制器10将记录期间和再现期间的激光输出水平控制为在记录期间和再现期间的激光输出水平的目标值。

光学块伺服电路11基于从矩阵电路4发送的焦点误差信号和跟踪误差信号产生各种伺服驱动信号，诸如焦点信号、跟踪信号和线程信号(thread signal)，以允许执行伺服操作。

换言之，光学块伺服电路11根据焦点误差信号和跟踪误差信号来产生焦点驱动信号和跟踪驱动信号，并且通过使用双轴驱动器18驱动布置在光学拾取器1内的双轴机构的焦点线圈和跟踪线圈。相应地，跟踪伺服环和焦点伺服环由光学拾取器1、矩阵电路4、光学块伺服电路11、双轴驱动器18和双轴机构形成。

此外，光学块伺服电路11根据从系统控制器10发送的轨道跳动指令、通过断开跟踪伺服环和输出跳动驱动信号来执行轨道跳动操作。

此外，光学块伺服电路11通过基于作为跟踪误差信号的低频带分量获取的线程误差信号或系统控制器10的存取控制等产生线程驱动信号，而使用线程驱动器19驱动线程机构3。尽管图中没有示出，线程机构3包括保持光学拾取器1的主轴、线程马达和由传送齿轮等配置的机构。线程机构3根据线程驱动信号驱动线程马达，由此执行对于光学拾取器1所需的滑动运动。

转轴伺服电路12控制转轴马达2以执行CLV旋转或CAV旋转。

例如，转轴伺服电路12通过获取通过用于摆动信号的PLL处理而产生的时钟作为转轴马达2的当前旋转速度信息并且将旋转速度信息与预定的CLV参考速度信息比较，来产生转轴误差信号。

此外，由布置在数据信号处理电路5内的PLL产生的再现时钟是在再现数据时转轴马达的当前旋转速度信息。相应地，通过比较旋转速度信息与预定的CLV参考速度信息，也可以产生转轴误差信号。

然后，转轴伺服电路12使用转轴驱动器17，通过输出根据转轴误差信号产生的转轴驱动信号来执行转轴马达2的CLV旋转。

此外，转轴伺服电路12通过根据从系统控制器10发送的转轴反冲/制动(kick/brake)控制信号产生转轴驱动信号，执行转轴马达2的操作，诸如启动、停止、加速、减速等。

此外，转轴伺服电路12可以基于从系统控制器10发送的指令改变旋转速度。

例如，在由1X速度表示在正常的记录或再现期间的线速度，系统控制器10可以将速度改变为1X速度、2X速度、4X速度、6X速度、8X速度、10X速度、12X速度、16X速度、24X速度等。

伺服系统和记录和再现系统的所述各种操作由通过微型计算机配置的系统控制器10控制。

系统控制器10根据从主机设备100通过主机接口8提供的命令执行各种处理。

例如，在从主机设备100输出写命令的情况下，系统控制器10首先将光学拾取器1移动到要写入数据的地址。然后，系统控制器100通过使用如上所述的编码/解码单元7对从主机设备100传送的用户数据(例如视频数据、音频数据等)执行编码处理。然后，当激光驱动器13根据如上所述编码的数据驱动激光发射时，执行记录。

另一方面，例如，在从主机设备100提供要求传送记录在光盘90上的数据的读取命令的情况下，系统控制器10首先控制对作为目标指令的地址的搜索操作。换言之，系统控制器10通过搜索命令指令光学块伺服电路11。系统控制器10允许光学拾取器1通过该指令执行对作为目标的指定地址的存取操作。

然后，系统控制器10执行将在指令的数据部分中包括的数据传送到主机设备100所需的操作控制。换言之，系统控制器10从盘90读出数据，允许数据检测处理单元5和编码/解码单元7执行再现处理，并且传送要求的数据。

由矩阵电路4获取的RF信号也被提供到估计值测量单元19。

估计值测量单元19测量再现的RF信号的估计值并且当执行以下描述的OPC操作时将估计值提供到系统控制器10。

例如，估计值测量单元19测量β值、调制度、不对称性、RF信号的振幅、抖动值、孔径比等。

替代地，误差率可以用作估计值。在这种情况下，关于由编码/解码单元7执行的误差校正处理的结果的信息提供到估计值测量单元19，并且计算误差率。

在此，β值是基于再现的RF信号的波峰值Ip和波谷值Ib，而通过使用“β＝(Ip+Ib)/(Ip-Ib)”获取的值。

此外，通过使用作为与定义的时钟的偏差的标准偏差σ和1T将抖动值表示为σ/T。可以说，抖动值越大，则再现的信号下降越多。对于其中记录层配置为专用于再现的一个层的蓝光盘，在规范中抖动值被定义为等于或小于6.5％。优选的是，抖动值尽可能低。

假定8T信号的波峰值是Ip8，8T信号的波谷值是Ib8，2T信号的波峰值是Ip2，并且2T信号的波谷值是Ib2，则不对称性由{(Ip8+Ib8)-(Ip2+Ib2)}/{2(Ip8-Ib8)}表示。不对称性指示在8T信号和2T信号的中心轴之间的偏差。不对称性是对于确定二进制化阈值很重要的指标。在蓝光盘的规范中，不对称性被定义为在范围-10％至15％中。然而，普通地，不对称性优选在范围0％至10％中。

调制度表示为(Ip8-Ib8)/(Ip8)。这是8T振幅的大小并且是取决于8T凹坑(pit)的深度的指标。可以说，该值越大则C/N比率提高越多。

存储单元20在其中存储用于系统控制器10的各种处理的参数、常数等。例如，存储单元20由非易失性存储器构成。

例如，存储单元20用作用于存储控制目标值或阈值的区域，该控制目标值用作在(后面将描述的)记录数据时通过使用估计值确定记录质量时的参考。

此外，可以考虑一种示例，在该示例中，布置在盘驱动设备内的存储器20不用作用于存储控制目标值或阈值的区域。在该示例中，由于系统控制器10可以与主机设备100通信，可以使用布置在主机设备100内的存储区域(诸如存储器、硬盘等)的一部分。替代地，可以使用所装载的光盘90的预定区域。例如，由于可以由盘驱动设备任意地使用的区域布置在光盘90的读入区域等中，所以可以考虑使用该区域。

在图1所示的示例中，尽管已经描述了连接到主机设备100的盘驱动设备，作为根据实施例的盘驱动设备，可以使用不连接到其他设备的形式。例如，可以考虑这样的示例，其中盘驱动设备包括操作单元和显示单元，并且数据输入/输出接口部分的配置与图1所示的不同。换言之，优选地，盘驱动设备根据用户的操作执行记录或再现并且具有用于在其中形成的各种类型的数据的输入/输出的终端单元。明显地，可以考虑盘驱动设备的配置的其他各种示例。

图2A和图2B示出了光盘90的示意性配置。图2A示出了在平面内观察光盘90的情况并且示出了在其径向方向上区域的配置。

光盘90例如被配置为具有12cm直径的盘记录介质，并且其区域结构被宽泛地划分为内圆周区域91、数据区92和外圆周区域93。

数据区92是主记录区域，并且所谓的用户数据被记录在其中。此处描述的用户数据是要存储在光盘90上的主目标数据，诸如视频数据、音频数据、文本数据、计算机使用数据或软件程序。

内圆周区域91用作所谓的管理区域。在其中记录层的数量为1的单层盘的情况下，内圆周区域91是用作所谓的读入区的区域。在其中记录层的数量是两个或多个的多层盘的情况下，对于每一层内圆周区域用作读入区、内部区、读出区。在内圆周区域91中，形成盘的物理信息、用于记录/再现操作的设置信息、用于管理区域的配置或变更的信息、测试写区域等。

外圆周区域93是在单层盘情况下用作所谓的读出区的区域。在其中记录层的数量是两个或多个的多层盘的情况下，对于每一层外圆周区域用作读出区或外部区。

图2B示意性示出了光盘90假定为四层蓝光盘的情况下的层结构。

在光盘90中，例如使用聚碳酸酯等在通过注模等模制的盘基底PK的一个表面上形成作为摆动的沟槽的凹凸形状，将反射膜或记录材料层形成为膜，并且形成第一记录层L0。

此外，在记录层L0上形成中间层C1。在中间层C1的表面上形成作为摆动的沟槽的凹凸形状，并且半透射/反射膜或记录材料层在其上形成为膜，并且形成第二记录层L1。

此外，在记录层L1上形成中间层C2。在中间层C2的表面上形成作为摆动的沟槽的凹凸形状，并且半透射/反射膜或记录材料层在其上形成为膜，并且形成第三记录层L2。

此外，在记录层L2上形成中间层C3。在中间层C3的表面上形成作为摆动的沟槽的凹凸形状，并且半透射/反射膜或记录材料层在其上形成为膜，并且形成第四记录层L3。

在记录层L3上，形成覆盖层CV。

此外，在每个记录层L0、L1、L2和L3上，有这样的部分，诸如内圆周区域91的其中形成浮凸的凹坑行的一部分，。

实践中，光盘90的厚度大约为1.2mm，并且盘基底PK的厚度大约为1.1mm。此外，在大约100μm的厚度之间，形成从记录层L0直到覆盖层CV。

在图2B中，尽管作为例子示出了四层盘的情况，也可以形成三层盘或五层或更多层的盘，以通过调节中间层或覆盖层的厚度等来具有类似的结构。

[2.第一实施例]

将参考图3描述根据第一实施例的盘驱动设备的处理。

在以下呈现的每个实施例的描述中，作为从当在光盘90被装载之后根据从主机设备100发送的写命令开始记录时的时间点开始的系统控制器10的处理来描述所述处理。

当光盘90被装载时，系统控制器10执行盘确定处理。例如，系统控制器10通过读出光盘90的管理信息检查盘类型、盘制造商、盘唯一的唯一ID、盘封闭状态等。相应地，在记录期间，系统控制器10具有装载的光盘90的类型、制造商、唯一ID等。

现在描述图3所示的处理。在步骤F101中，系统控制器10根据从主机设备100发送的写命令执行记录开始控制。例如，系统控制器10控制OPC(最优功率校准)操作以获取最优激光功率或最优激光驱动脉冲的设置。然后，系统控制器10指令写策略单元14设置最优激光驱动脉冲并且指令激光驱动器13设置最优记录激光功率。

此外，系统控制器10将光学拾取器1移动到在数据要写入的光盘90上的地址。然后，系统控制器10允许编码/解码单元7执行用于从主机设备100传送的用户数据的编码处理。然后，当激光驱动器13根据已编码的数据驱动激光束的发射时，由此执行记录。

如上所述，在开始记录操作之后，系统控制器10在步骤F102中监视中断定时直到在步骤F109确定基于写命令的记录完成。

在此，中断定时是这样的定时，在该定时，暂时中断由写命令要求的记录操作并且执行步骤F104和之后的处理。

在中断定时时，系统控制器10在记录期间监视以下中的至少一个：所记录的数据量、记录数据的地址、光盘90上的记录位置的信息、记录时间、温度、用于在各种半径的补偿的校正值(倾斜校正的量、像差的量等)、记录激光功率和伺服状态。

例如，系统控制器10在记录操作期间监视所记录的数据量。例如，在每当作为误差校正块(ECC块)的整数倍的数据量作为记录数据单元被记录时中断记录操作的情况下，系统控制器10通过监视所记录的数据量来确定中断定时。

此外，每当执行对应于地址的预定长度的记录时，通过监视数据当前记录到的光盘90的当前地址，系统控制器10可以确定中断定时。

每当执行对应于预定的径向范围的记录时，通过监视数据记录到的光盘90的径向位置，系统控制器10可以确定中断定时。

此外，通过从在开始(恢复)记录操作时的时间点执行计时，每当经过记录操作的预定时间时，系统控制器10可以确定中断定时。

当通过监视从传感器21提供的温度信息，检测到从特定的时间点、例如记录操作的开始时间点的预定温度或更高的温度改变时，系统控制器10可以确定中断定时。

另外，当通过监视作为用于各种径向位置中的每个的补偿的校正值的、诸如倾斜校正量或像差校正量之类的校正值而检测到校正值中的预定改变或更大改变时，系统控制器10可以确定中断定时。

在系统控制器10通过对记录激光功率的最优控制来适当地调整记录功率的情况下，系统控制器10可以通过检测记录激光功率中的预定改变或更大改变，来确定中断定时。

此外，系统控制器10可以通过在记录期间监视焦点伺服的伺服状态、跟踪伺服等，基于误差信号电平、伺服失调的频率等的上升来确定中断定时。

系统控制器10通过上述的监视处理或多个监视处理的任意处理确定中断定时。多个监视处理的示例是这样的处理，在该处理中，基本上每当记录相应于n×ECC块的时间数据时设置中断定时，并且在温度方面有改变的情况也设置为中断定时。

在实施例的每个示例中，通过在记录期间顺序地中断上述处理并且与后面将描述的步骤F104和之后步骤的处理中的记录状态对应地执行线速度改变或校正，稳定了记录质量。从这点上，尽管优选地以精细的间隔进行中断，但是当处理被太频繁地中断时，直到记录操作完成的时间延长。因此，可以在考虑合适的记录时间长度和质量的稳定的情况下来确定中断定时确定处理。

当到了中断定时时，系统控制器10从步骤F102前进到步骤F103并且由编码/解码单元7、写策略单元14、激光驱动器13、光学拾取器1等执行的记录操作被中断。

然后，处理前进到步骤F104，并且系统控制器10执行对所记录的部分的再现控制并且获得估计值。

换言之，系统控制器10控制光学拾取器1以直接在中断之前读出在记录位置处的至少一个或更多ECC块的记录数据。例如，再现与n×ECC块对应的记录数据、沿着盘的半径的一个轨道循环、对于盘的每个旋转角度的任意长度等。

然后，系统控制器10取得在再现操作期间由估计值测量单元19获取的估计值(β值、调制度、抖动值、误差率等或其组合)。

在步骤F105，系统控制器10通过使用取得的估计值来计算记录质量的变化。

在此，记录质量的变化(以下简称“变化”)可以是在取得的估计值和目标值之间的差值、用于为消除该差值而执行的校正操作(例如激光功率校正、激光驱动脉冲校正等)的控制值(校正值)等。在此，为了描述的简单，变化被描述为在估计值和目标值之间的差值。

例如，假定存在要通常地作为β值获取的目标值β_t。与目标值相反，当前的β值被表示为β_c。于是，变化可以是β_c-β_t或β_c/β_t的值。

此外，变化的值可以是例如从数据(诸如获取的β值)通过近似计算而计算的值，或者可以在数值计算(诸如在最大值和最小值之间的差值、移动平均值等的计算)之后计算。此外，所述变化可以通过使用波峰-波谷检测方法等的电路来计算。

例如，在步骤F106，系统控制器10确定变化的值是否在表示记录质量的变化的预定范围的阈值之内。

如果变化的值在阈值之内，系统控制器10确定当前的记录质量没有下降或者稍微下降(记录质量的变化位于预定范围内)。

另一方面，如果变化的值超过阈值，系统控制器10确定当前的记录质量相对倾向于下降(记录质量的变化在预定范围之外)。

在此，用于计算变化的目标值或用于确定变化是否在预定范围内的阈值例如可以被存储在存储器20中，从而在步骤F105和F106系统控制器10可以参考它们。

在此，目标值和阈值不被设置为一种类型而是设置为不同类型并且存储。例如，目标值和阈值可以与某一估计值对应地如下设置。

对于每个盘类型和规范设置目标值和阈值。

对于每个盘制造商设置目标值和阈值。

对于每个盘设置目标值和阈值。

对于记录期间的每个线速度设置目标值和阈值。

对于记录层的每一层设置目标值和阈值。

对于每个记录径向位置设置目标值和阈值。

明显的是，可以使用上述示例的组合。

示例包括以下。

除了每个盘类型/规范之外，对于每个盘制造商设置目标值和阈值。

除了盘类型/规范之外，对于记录期间的每个线速度设置目标值和阈值。

除了盘类型/规范之外，对于每个记录径向位置设置目标值和阈值。

对于每个盘类型/规定、每个盘制造商和记录期间的每个线速度设置目标值和阈值。

在对于每个线速度设置目标值和阈值的情况下，可以考虑，线速度越高、则阈值具有越困难的值。换言之，阈值被设置为更难(松散地)与记录和再现线速度成比例。

此外，阈值可以与记录和再现线速度对应的被设置为更难(松散地)与由每个规范定义的参考时钟的频率成比例。

如上，与用于估计的估计值对应的目标值和阈值被根据类型等存储在存储器20中。然后，在步骤F105系统控制器10从存储器20读出与光盘90对应的目标值和阈值，作为当前目标或记录操作的状态，以用于所述处理。

由于当盘被装载时，确定盘类型、盘制造商、盘ID等，因此系统控制器10可以读出与盘类型等对应的目标值和阈值。此外，由于记录线速度、记录层和径向位置是直接在当前的记录操作之前执行的记录操作的记录线速度、记录层和径向位置，系统控制器10可以读出与这些参数对应的目标值和阈值。

此外，上面描述了，目标值和阈值可以不被存储在存储器20中而是存储在主机设备100或光盘90中。在目标值和阈值存储在主机设备100中的情况下，系统控制器10在步骤F105可以与主机设备100通信以便要求传输相应的目标值和相应的阈值。

此外，在目标值和阈值存储在光盘90中的情况下，对于每个线速度、每个记录层、每个径向位置等的目标值和阈值例如可以在装载盘期间读出，被加载到存储器20或系统控制器20的内部寄存器中，并且在步骤F105的时间点读出。

如果在步骤F106中变化被确定为在阈值范围内，系统控制器10前进到步骤F107并且控制恢复已中断的记录操作。换言之，由于在当前线速度下的记录的继续不会导致任何问题，以与中断之前的状态相同的状态恢复记录。然后，处理返回到步骤F102和F109的监视循环。

另一方面，如果在步骤F106中变化被确定为在阈值之外，系统控制器10前进到步骤F108并且控制降低线速度。换言之，由于在当前线速度下难以维持记录质量，记录线速度(和在下一中断处的再现线速度)降低。

例如，在可以被切换到1X速度、2X速度、4X速度、6X速度、8X速度、10X速度、12X速度、16X速度、24X速度的设备的情况下，如果当前由16X速度执行记录和再现，系统控制器10控制切换到低一级的12X速度。

具体地，控制速度指令或用于转轴伺服电路12的时钟系统的改变与用于光学块伺服电路11的速度对应的各种伺服系数的改变等。

此后，在步骤F107中恢复已经中断的记录操作。当恢复了记录操作时，例如在线速度降低的状态下恢复记录操作。然后，处理返回到步骤F102和F109的监视循环。

此后，系统控制器10在每个中断定时还执行步骤F103至F108的处理。然后，当完成了由从主机设备100发送的写命令所要求的一系列记录操作时，处理从步骤F109前进到步骤F110，并且执行记录操作完成控制以结束图3所示的记录处理。

根据第一实施例的记录控制处理，当例如由于对于光学记录介质的每个制造商的介质特征上的变化、在径向或切向方向上的偏差、表面模糊、灵敏性的不一致、变形、偏心、质量偏心、或双折射、伺服特征、倾斜调节误差、机械装配误差、视野特征上的变化、杂散光、光学拾取器上的光学像差、各种微扰的调节之后的剩余微扰、和LSI或电路中的电偏移、各种环境变化因素诸如设备内温度的升高、随时间、温度、湿度等的改变而记录质量降低时，降低线速度。相应地，降低了这些因素的影响，由此可执行能够保持记录质量的记录操作。

特别地，顺序地中断记录操作以执行步骤F103至F108的处理，可以防止记录操作的处理中质量降低的加剧。持续检查记录期间的记录质量，并且相应地，可以确定和响应记录质量的降低，而无论影响记录质量下降的因素如何。

此外，关于阈值的设置(该阈值用于在步骤F106所作的确定中确定变化位于预定范围之外)，使用被确定为“当前记录质量是可允许的但是如果在该状态下继续记录则很可能发生质量的不允许的下降”的值，可以避免记录期间质量的严重下降。

如上，通过在记录操作期间在需要时逐渐减低记录线速度，可以以稳定的记录质量继续记录和再现，由此可以提前防止错误的发生。此外，相应地可以在稳定伺服状态继续记录和再现，这对于防止错误的发生也是有效的。

此外，通过这样的稳定化，可以以高性能继续记录和再现。相应地，以快速方式精确完成根据写命令的记录操作的可能性高。

在步骤F108，执行线速度降低控制。然而，在1X速度(最低的线速度)的情况下，不进一步执行线速度降低控制。

此外，在步骤F108，例如，尽管每次降低线速度一级，但是也可以降低线速度两级或更多级。例如，如果当前线速度是16X速度，线速度降低直到8X速度。此外，降低级数可以基于变化的大小来确定。

此外，在所述处理前进到步骤F108的情况下，可以考虑将线速度直降到1X速度的降低处理，而无论当前速度如何。

[3.第二实施例]

参考图4描述根据第二实施例的系统控制器的处理。在第二至第八实施例的描述中，相同的步骤号被分配给前面描述的相同处理，并且避免对其的重复描述。

如图4所示，步骤F101至F106和步骤F107至F110与参考图3描述的步骤相同。在图4的情况下，步骤F111和F112添加到图3所示的处理。

在变化不是处于步骤F106中的阈值之内的情况下，系统控制器10执行步骤F108中的线速度降低控制并且然后执行步骤F107中的记录恢复控制。

换言之，如果在步骤F106中变化处于阈值之内，则系统控制器10前进到步骤F111，并且确定是否需要校正处理。

此处所述的校正处理是关于记录操作的校正处理。换言之，为了提高记录质量，校正处理是关于各种记录操作的校正参数的处理。

例如，作为激光功率校正，存在优化记录激光功率的校正。

此外，作为激光驱动脉冲的校正，存在通过调节激光驱动脉冲的脉冲边缘定时或调节脉冲电平的校正。

此外，存在径向倾斜的校正。尽管在图1中没有示出，整个光学拾取器1或布置在光学拾取器内的物镜被配置为能够通过使用图中没有示出的倾斜机构来控制关于光盘90的倾斜状态。通过调节倾斜机构，校正了在光盘90的记录层和入射的激光束的光轴方向之间的垂直关系。

此外，可以考虑激光束的像差的校正。在光学拾取器1内的光学系统中，用于校正球形像差的液晶设备或扩张器(expander)被布置在激光束的光学路径上。通过控制这些单元校正了像差。

此外，可以考虑伺服参数、诸如焦点伺服或跟踪伺服的伺服偏移值的校正。

在步骤F111，系统控制器10例如基于当前变化是否是零(或者在可以被认为是零的范围内)并且估计值是否与目标值近似一致或是否在一定程度上呈现变化并且变化位于阈值之内，来确定校正的必要性。

在变化几乎为零的情况下，校正确定为是不必要的，并且系统控制器10在步骤F107执行记录恢复控制。

另一方面，在变化等于或大于预定值的情况下，所述处理前进到步骤F112，并且执行校正。然后，在完成校正之后，在步骤F107执行记录恢复控制。

根据第二实施例，除了与第一实施例相同的优点之外，即使当记录质量的变化(下降)位于预定范围内时，也可以执行校正处理。相应地，在记录期间通过适应性地响应于变化因素来维持记录质量。因此，可以进一步稳定记录质量。

此外，通过在记录期间顺序执行校正处理，可以减少形成变化超过阈值的状态的可能性。换言之，可以减少在步骤F108中执行线速度降低控制的次数，并且由此可以获得记录时间的缩短。

此外，由于可以通过系统控制器10对激光驱动器13和写策略单元14的参数指令来执行激光功率的校正或激光驱动脉冲的校正，所以这些校正可以在极短的时间内完成。另一方面，对于倾斜校正需要相对长的时间以执行倾斜控制。相应地，从缩短中断时间来看，作为在步骤F112执行的校正，优选地执行激光功率校正或激光驱动脉冲校正。

此外，如果如在第二实施例中那样执行校正处理，则可以在步骤F105中计算校正值。换言之，在步骤F105，当获取了当前的估计值与目标值的变化时，在这种情况下附加地计算与该变化对应的校正值(例如，激光功率校正值)。

在步骤F106，确定校正值是否在设置阈值内。例如，可以使用表示特征变化是否在可以通过校正来响应变化的范围内的阈值。

然后，如果校正值在阈值内，则所述处理前进到步骤F112，并且执行使用校正值的校正处理。

在执行这样的处理的情况下，由图4中的步骤F111表示的执行校正的确定可以被认为是在步骤F105中在获取校正值的时间点同时执行的。换言之，当校正值＝零时，校正被确定为是不必要的。

此外，作为根据第二实施例的步骤F108的速度降低控制，可以考虑一级降低控制、多级降低控制、用将速度降低到1X速度的控制等。

[4.第三实施例]

将参考图5描述第三实施例。

在图5中，步骤F101至F106、F107、F109和F110与图3中所示的步骤相同。

在图5所示的处理的示例中，如果在步骤F106中变化在阈值之内，系统控制器10在步骤F120中执行控制使得记录和再现线速度提高。

例如，在当前以4X速度执行记录/再现的情况下，执行将速度改变到高一级的6X速度的控制。

特别地，控制用于转轴伺服电路12的速度指令、时钟系统的改变、根据光学块伺服电路11的速度的各种伺服系数的改变等。

然后，恢复在步骤F107中已经中断的记录操作。在恢复记录操作时，例如，以其中线速度提高的状态恢复记录。然后，处理返回到步骤F102和F109的监视循环。

另一方面，当在步骤F106中变化不在阈值内时，系统控制器10在步骤F121执行校正处理。

该情况的校正处理是校正记录质量的下降，并且作为该校正处理，例如存在上面描述的激光功率校正、激光驱动脉冲校正、倾斜校正和伺服参数校正等。在这种情况下，优选地也执行要求相对长时间的校正操作、诸如倾斜校正。

在校正处理完成之后，在步骤F107恢复记录。记录线速度与中断之前的相同。

根据该第三实施例，当检查到记录质量下降时，校正记录操作的参数。换言之，在记录期间，在需要时顺序校正记录操作，由此可以防止记录质量的下降。

另一方面，当记录质量好时，提高记录线速度。相应地，当执行稳定的记录时，提高线速度以缩短记录时间。

尽管在步骤F120执行线速度提高控制，当线速度已经是最大线速度时，不执行进一步提高线速度的处理。

此外，在步骤F120，尽管例如将线速度提高一级，但是线速度也可以以两级或多级的步幅提高。例如，如果当前速度是1X速度，则速度可以提高直到8X速度。

此外，在所述处理前进到步骤F120的情况下，可以考虑在无论当前速度如何的情况下将速度提高直到最大速度的处理。

此外，如在第二实施例中所述，可以配置为使得在步骤F105中计算校正值，并且在步骤F106确定校正值是否位于设置的阈值内。

[5.第四实施例]

将参考图6描述第四实施例。

在图6中，步骤F101至F106、F107、F109和F110与图3中所示的步骤相同。

在图6所示的处理的示例中，如果在步骤F106中变化在阈值之内，则系统控制器10在步骤F120中执行控制使得记录和再现线速度提高。然后，在步骤F107中以提高的线速度恢复记录。

另一方面，如果在步骤F106中变化不在阈值之内，则系统控制器10在步骤F122中执行使得记录和再现线速度降低的控制。然后，在步骤F107中，以提高的线速度恢复记录。

根据该第四实施例，当检查到记录质量下降时，降低记录/再现线速度。相应地，降低了由于变化因素对记录质量下降的影响，并且可以稳定记录质量。

此外，作为根据第四实施例的步骤F122的速度降低控制，可以考虑一级降低控制、多级降低控制、将速度降低到1X速度的控制等。

类似地，作为步骤F120的速度提高控制，可以考虑一级提高控制、多级提高控制、将速度提高到最大线速度的控制等。

[6.第五实施例]

将参考图7描述第五实施例。

在图7中，步骤F101至F106、F107、F109和F110与图3中所示的步骤相同。

在图7所示的处理的示例中，如果在步骤F106中变化位于阈值内，则系统控制器10前进到步骤F111并且确定校正的必要性。

在步骤F111，系统控制器10例如基于当前变化是否是零(或者在可以被认为是零的范围内)并且估计值是否与目标值近似一致或变化是否在一定程度上呈现并且位于阈值之内，来确定校正的必要性。

在变化等于或大于预定值的情况下，所述处理前进到步骤F112，并且执行校正。然后，在完成校正之后，在步骤F107执行记录恢复控制。

在不需要校正的情况下，即，在变化几乎为零的情况下，系统控制器10前进到步骤F120，并且执行记录/再现线速度提高控制。然后，在步骤F107，以提高的线速度恢复记录。

另一方面，如果在步骤F106中变化不在阈值之内，则系统控制器10在步骤F122执行使得记录和再现线速度降低的控制。然后，在步骤F107，以降低的线速度恢复记录。

根据该第五实施例，当检查到记录质量的下降时，降低记录/再现线速度。相应地，降低了由于变化因素对记录质量下降的影响，并且可以稳定记录质量。

另一方面，当记录质量的变化在预定范围内时，执行校正处理以在记录期间适应性地响应变化因素，并且因此可以保持记录质量。因此，可以进一步稳定记录质量。

此外，当记录质量相当好时，提高记录线速度。相应地，当执行稳定的记录时，提高线速度以缩短记录时间。

此外，作为根据第五实施例的步骤F122的速度下降控制，可以考虑一级降低控制、多级降低控制、将速度降低到1X速度的控制等。

此外，如在第二实施例中所述，可以配置使得在步骤F105中计算校正值，并且在步骤F106确定校正值是否位于设置阈值内。

[7.第六实施例]

将参考图8描述第六实施例。

在图8中，步骤F101至F106、F107、F109和F110与图3中所示的步骤相同。

在图8所示的处理的示例中，如果在步骤F106中变化在阈值之内，则系统控制器10在步骤F107直接恢复记录。

另一方面，如果在步骤F106中变化不是在阈值之内，则在步骤F123系统控制器10确定是否已经完成了校正。该校正是步骤F124的下一校正处理。

当在直到现在的记录线速度的状态下中断记录时，如果步骤F124的校正处理执行了上限的预定次数，则处理前进到步骤F125。另一方面，如果步骤F124的校正处理没有执行上限的预定次数，则处理前进到步骤F124。

上限的次数可以被合适地设置为一次或预定次数。

在处理前进到步骤F124的情况下，系统控制器10执行校正处理。

这种情况的校正处理是校正记录质量的下降，并且作为该校正处理，例如存在上面描述的激光功率校正、激光驱动脉冲校正、倾斜校正和伺服参数校正等。在这种情况下，由于记录质量倾向于下降，优选地也执行要求相对长时间的校正操作、诸如倾斜校正。

此外，如果在步骤F124执行了校正，则对于之后的步骤F123的确定，执行指示校正完成的标记处理(flag process)和对校正完成的次数计数的处理。

在中断时间，如果在前面的步骤F124中设置了指示校正完成的校正完成标记或者校正计数器达到了上限，则在步骤F123的处理中校正被确定为处于完成状态。

在这样的情况下，系统控制器10前进到步骤F125，执行降低记录/再现线速度的控制。然后，在步骤F107，在步骤F107以提高的线速度恢复记录。

这是通过降低线速度来响应即使通过执行校正也没有校正记录质量下降的趋势的情况的处理。

根据该第六实施例，当检查到记录质量下降趋势时，首先，校正记录操作。在通过校正难以阻止质量下降趋势的情况下，降低记录/再现线速度。通过执行这样的处理，稳定了记录质量。

此外，作为根据第六实施例的步骤F125的速度降低控制，可以考虑一级降低控制、多级降低控制、将速度降低到1X速度的控制等。

此外，可以配置使得在步骤F105中计算校正值，并且在步骤F106确定校正值是否位于设置阈值内。

在这种情况下，在步骤F123，代替确定校正是否处于完成状态，可以确定所计算的校正值是否处于预定范围内，即，处于能够通过校正来响应的范围内。

换言之，这是如下处理的示例，在该处理中，如果校正值位于能够通过校正来响应的范围内(或者对于其来说，校正是合适的)，在步骤F124执行校正。另一方面，在该处理的示例中，如果校正值不是处于能够通过校正来响应的范围内，在步骤F125降低线速度。

在图8中，如果在步骤F106中变化(或校正值)处于阈值之内，则所述记录被描述为在不执行任何其他处理的条件下恢复。然后，在第二至第五实施例中描述的处理可以组合到一起。

换言之，如果变化在阈值之内，则类似于第二实施例，可以确定是否要执行校正，并且在必要时可以执行校正处理。

此外，当变化在阈值之内时，类似于第三和第四实施例，可以执行提高记录/再现线速度的控制。

此外，当变化在阈值之内时，类似于第五实施例，可以执行提高记录/再现线速度的控制的处理。

[8.第七实施例]

将参考图9描述第七实施例。

在图9中，步骤F101至F106、F107、F109和F110与图3中所示的步骤相同。

在图9所示的处理的示例中，如果在步骤F106中变化在阈值之内，则系统控制器10在步骤F111例如基于当前变化是否是零(或者在可以被认为是零的范围内)并且估计值是否与目标值近似一致或变化是否在一定程度上呈现并且位于阈值之内，来确定校正处理的必要性。

在变化几乎为零的情况下，校正被确定为是不必要的，并且系统控制器10在步骤F107执行记录恢复控制。

另一方面，在变化等于或大于预定值的情况下，所述处理前进到步骤F112，并且执行校正处理，诸如激光功率校正或激光驱动脉冲校正。然后，在完成校正之后，在步骤F107执行记录恢复控制。

另一方面，如果在步骤F106中变化不在阈值之内，系统控制器10在步骤F130确定当前的速度是否是最低线速度(即，1X速度)。

在当前速度不是1X速度的情况下，处理前进到步骤F131，并且降低记录/再现线速度。然后，在步骤F107执行记录恢复控制。相应地，以降低的线速度恢复了记录。

此外，作为步骤F130的速度降低控制，可以考虑一级降低控制、多级降低控制、将速度降低到1X速度的控制等。

在以直到现在的最低线速度已经执行了记录的情况下，系统控制器10从步骤F130前进到步骤F132。

在这种情况下，系统控制器10在错误结束时结束记录操作。系统控制器10将错误结束通知主机设备100。主机设备100响应于错误结束通过使用显示设备、LED、液晶屏等向用户执行错误通知。明显的是，错误通知可以通过盘驱动设备的显示设备或报警音来执行。

由于难以执行进一步降低线速度的控制，确定发生即使在其中线速度被降低到最低的状态中也难以稳定记录质量的状况。因此，记录操作在没有完成的情况下结束，并且所述处理被转移到以后来处理。

根据该第六实施例，可以通过降低线速度或校正过程来稳定记录质量。而且，在即使恢复了记录也难以避免质量下降的状况中，强制执行错误结束，并且相应地，可以避免记录处理的不必要的恢复。

此外，当在步骤F130确定当前速度为最低速度时，可以配置使得首先执行校正处理，然后恢复记录操作。然后，在在校正之后的记录中出现记录质量的下降的情况下(在步骤F106的阈值之外)，考虑执行错误结束。

此外，在第七实施例中，可以配置使得在步骤F105计算校正值，并且在步骤F106确定校正值是否在阈值之内。

在图9中，在步骤F106变化(或校正值)在阈值之内的情况下，可以执行以下处理。

在变化在阈值之内的情况下，类似于第一实施例，可以不执行任何其他处理直接恢复记录。

此外，在变化在阈值之内的情况下，类似于第三和第四实施例，可以执行提高记录/再现线速度的控制。

此外，在变化在阈值之内的情况下，类似于第五实施例，可以执行校正处理或提高记录/再现线速度的控制。

[9.第八实施例]

将参考图10描述第八实施例。

尽管在图10中示出的处理基本上与图9所示的相同，当在步骤F130确定当前速度为最低线速度时执行的处理与图9所示的不同。

在以直到现在为止的最低速度已经执行了记录，并且变化在步骤F106的阈值之外的情况下，系统控制器10从步骤F130前进到F133。

在这种情况下，系统控制器10向主机100报告异常并且等待来自主机设备100的指令。

然后，在从主机设备100发送了恢复指令的情况下，处理从步骤F134前进到步骤F107，并且恢复记录。换言之，以维持的最低线速度恢复记录。

然而，在从主机设备100发送了完成指令的情况下，处理从步骤F134前进到步骤F110，并且完成记录操作。

在该第八实施例中，如果发生即使在其中线速度被降低到最低的状态中也难以稳定记录质量的状况，是否恢复记录操作取决于主机设备100的确定(主机设备100中操作的应用程序的确定)。相应地，取决于主机设备100方面的状况，执行恢复处理或错误结束的处理。

此外，当在步骤F130中确定当前速度为最低线速度时，可以配置使得首先执行校正处理，并且恢复记录操作。然后，在在校正之后的记录中出现记录质量的下降的情况下(在步骤F106的阈值之外)，可以考虑在步骤F133中向主机设备100报告异常。

此外，在该第八实施例中，可以配置为使得在步骤F105计算校正值，并且在步骤F106确定校正值是否在设置阈值之内。

在图10中，在步骤F106变化(或者校正值)在阈值之内的情况下，可以执行以下处理。

[10.修改的示例]

如上，尽管已经描述了各种实施例，作为本公开的处理的示例，可以考虑其他各种修改的示例。

在每个上述实施例的处理中，当执行了提高线速度的控制时，可以一起执行关于上述记录操作的校正处理。通过在校正之后提高线速度，可以稳定在提高线速度之后的记录质量。

此外，在每个上述实施例的处理中，当执行了降低线速度的控制时，可以一起执行校正处理。通过在校正之后降低线速度，可以稳定在降低线速度之后的记录质量。

作为图3至图10所示的步骤F102的中断定时的确定，可以考虑不同于上述示例的各种示例。此外，可以考虑由用户选择确定中断定时的方法。例如，允许用户确定要么对缩短记录时间要么对稳定记录质量给予优先级，并且在稳定记录质量具有优先级的情况下，尽可能执行其中记录中断定时频繁发生的处理。

在实施例中，描述了通过用于DVD类型或蓝光类型的光盘的盘驱动设备实现本公开的记录设备的示例。然而，本公开可以应用于用于其他类型的光学记录介质的记录设备。例如，本公开可以应用于通过向光学卡发射激光束来记录信息的记录设备。

此外，本公开可以应用于用于光学记录介质的记录设备以外的记录设备。例如，本公开可以应用于执行磁记录的记录设备。

[11.程序]

根据实施例的程序是允许操作处理设备(系统控制器10等)执行上述图3至图10中所示的处理(或者其修改的示例的处理)的程序。

根据实施例的程序允许操作处理设备通过激光束发射来执行用于光学记录介质、诸如光盘90的信息记录操作。

此外，程序允许操作处理设备在记录操作期间在预定的中断定时执行中断记录操作，再现所记录的部分，并且获取记录质量的估计值。

此外，程序允许操作处理设备使用估计值执行确定记录质量，基于确定结果改变记录线速度，并且恢复记录操作。

根据该实施例的程序可以被预先记录在作为嵌入到设备(诸如盘驱动设备、光学卡记录设备、个人计算机等)中的记录介质的HDD、布置在具有CPU的微型计算机内的ROM等中。

替代地，或附加地，程序可以临时或永久地存储(记录)在可拆卸记录介质上，诸如软盘、CD-ROM(致密盘只读存储器)、MO(磁光)盘、DVD、蓝光盘、磁盘、半导体存储器或存储卡。这样的可拆卸记录介质可以作为所谓的封装软件提供。

此外，程序可以从可拆卸记录介质安装到个人计算机等或可以通过网络，诸如LAN(局域网)或因特网从下载站点下载。

该程序对于实现执行每个上述实施例的处理的记录设备和记录方法并且对于其规定在宽的范围是合适的。

本申请包含与于2010年6月11日向日本专利局提交的日本优先权专利申请JP2010-133588中公开的主题有关的主题，将其整个内容通过引用合并于此。

本领域技术人员应当理解，只要在所附权利要求或其等价物的范围之内，根据设计要求和其他因素可以进行各种修改、组合、部分组合和变更。

Claims

1.一种记录设备，包括：

记录和再现单元，记录或再现存储在记录介质上的数据；和

控制单元，在由所述记录和再现单元执行的记录期间中断记录，获取所记录的部分的记录质量的估计值，基于估计值改变记录速度，并恢复记录。

2.根据权利要求1所述的记录设备，其中，在基于估计值的记录质量的变化在预定范围之外的情况下，所述控制单元降低所述记录和再现单元的记录速度并恢复记录。

3.根据权利要求2所述的记录设备，其中，在基于估计值的记录质量的变化在预定范围之内的情况下，所述控制单元提高所述记录和再现单元的记录速度并恢复记录。

4.根据权利要求2所述的记录设备，其中，在基于估计值的记录质量的变化在预定范围之内的情况下，所述控制单元校正所述记录和再现单元的记录操作并恢复操作。

5.根据权利要求2所述的记录设备，其中，在基于估计值的记录质量的变化在预定范围之外的情况下，所述控制单元降低所述记录和再现单元的记录速度，并在不以最低记录速度执行中断之前的记录的情况下恢复记录，并在以最低记录速度执行中断之前的记录的情况下结束所述记录和再现单元的记录。

6.根据权利要求2所述的记录设备，其中，在基于估计值的记录质量的变化在预定范围之外的情况下，所述控制单元降低所述记录和再现单元的记录速度，并在不以最低记录速度执行中断之前的记录的情况下恢复记录，并在以最低记录速度执行中断之前的记录的情况下执行异常状态的通知。

7.根据权利要求1所述的记录设备，其中，在基于估计值的记录质量的变化在预定范围之内的情况下，所述控制单元提高所述记录和再现单元的记录速度并恢复记录操作。

8.根据权利要求7所述的记录设备，其中，在基于估计值的记录质量的变化在预定范围之外的情况下，所述控制单元校正所述记录和再现单元的记录操作并恢复记录。

9.根据权利要求1所述的记录设备，

其中，所述记录介质是光学记录介质，并且

其中，为了确定用于中断记录的定时，所述控制单元监视以下各项的至少一个：所记录的数据量、记录数据的地址、位于所述光学记录介质上的记录位置、记录时间、温度、对于每个不同半径的校正值、激光功率和伺服状态。

10.根据权利要求1所述的记录设备，

其中，所述记录介质是光学记录介质，并且

其中，所述控制单元获取以下各项的至少一个作为估计值：抖动值、误差率、β值、调制度、不对称性、RF信号的振幅和孔径比。

11.根据权利要求1所述的记录设备，进一步包括：

存储单元，在其中存储用于确定基于估计值的记录质量的变化是否处于预定范围内的阈值，

其中，所述控制单元通过使用所获取的估计值和阈值来执行所述确定。

12.根据权利要求1所述的记录设备，其中，所述控制单元从作为记录目标的记录介质的区域的一部分或连接到其的任意其它设备的存储单元获取用于确定基于估计值的记录质量的变化是否位于预定范围内的阈值，并且通过使用所述估计值和阈值执行所述确定。

13.一种记录方法，包括步骤：

在记录介质上记录数据；

在记录期间中断记录；

获取记录质量的估计值；

基于所述估计值改变记录速度；和

恢复记录。

14.一种非易失性可读记录介质，在其上具有程序，所述程序允许操作处理设备执行步骤：

在记录介质上记录数据；

在记录期间中断记录；

获取记录质量的估计值；

基于所述估计值改变记录速度；和

恢复记录。