JPWO2008111504A1 - 高出力発光装置及びそれに用いるパッケージ - Google Patents
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- H01L33/647—Heat extraction or cooling elements the elements conducting electric current to or from the semiconductor body
Abstract
Description
そこで、パッケージの材料をさらに耐熱性の高いものに変更し(例えば、特許文献2参照)、又は発光素子で発生した熱がパッケージ内にこもらないような放熱構造を設けることがなされている(例えば、特許文献3参照)。発光素子をリードフレームにダイボンドする際に、ダイボンド樹脂により接着する代わりにハンダ材料により共晶接合する(例えば、特許文献3〜5)ことによっても、発光素子からの放熱性を高めることもできる。
また、発光素子からの光を効率よく取出すために、リードフレームの表面に銀メッキを施すことも知られている(例えば、特許文献2及び5参照)。銀メッキによりリードフレームの反射率が向上すると、発光装置内での光の吸収が抑制されることになるので、ハウジング温度上昇を抑制する効果も期待される。
そこで、本発明は、発熱によるパッケージの変色を抑制して、高出力で長寿命な発光装置を提供することを目的とする。
また、Ag膜の膜厚が20μmより厚いと、ハンダ材料で発光素子を接合する時、基板に発光装置を実装する時などに発生する熱応力により、Ag膜の剥離が起こりやすくなる。すなわち、Ag膜が厚くなると、ハンダ材料を用いて発光素子を実装する時にAg膜の熱膨張や収縮が大きくなり、Ag膜がリード電極から剥がれやすくなる。
本発明では、Ag膜を0.5μm以上にすることにより、結晶性が高く、緻密で、変色しにくいAg膜が得られる。よって、Ag膜が光を吸収するのを抑制でき、結果としてパッケージ内に発生する熱を減少する効果がある。また、Ag膜の膜厚を20μm以下にすることにより、Ag膜の剥離を抑えられつつ、Ag膜と共晶層との接合面積を十分に確保できる。これにより、発光素子の熱が共晶層を介してリード電極に伝導しやすくなり、発光装置の放熱性を向上させる効果がある。また、発光素子とリード電極との接合強度が高くなり、発光装置の故障率を抑制できる効果もある。
本発明において、「平坦度」とは、測定する領域の3隅を計測して、その3隅を含む面を基準面とし、基準面から、測定領域の中央の高さを計測して、その高さを指している。
その反面、Ag膜の平坦度が0.001μm未満と小さくなると、Ag膜の表面が滑らかすぎて、共晶層のアンカー効果を高めるのに適した微小な凹凸さえ存在しなくなる。その結果、逆に共晶層とAg膜とが剥離しやすくなり、接合強度の低下につながる。
本発明では、Ag膜の平坦度(すなわちAg膜を被覆したリード電極の表面の平坦度)を、0.001〜50μmの範囲にすることにより、発光素子からの熱を効率よく放熱できる効果と、且つ発光素子とリード電極との接合強度を高くして、発光装置の故障率を抑制できる効果が得られる。
10 発光素子
11 発光素子の第1電極
12 発光素子の第2電極
20 第1リード電極
20a 第1リード電極のインナーリード部
20b 第1リード電極のアウターリード部
22 Ag膜
30 第2リード電極
30a 第2リード電極のインナーリード部
30b 第2リード電極のアウターリード部
32 Ag膜
40 パッケージ
41 底面
42 側面
43 凹部
50 封止部材
60 導電ワイヤ
70 共晶層
80 蛍光物質
90 絶縁膜
120 上金型
121 下金型
図1及び図2に示す本実施の形態の発光装置1は、発光素子10と、発光素子10を載置する凹部43を有するパッケージ40と、発光素子10を被覆する封止部材50とを有している。
また、各リード電極20、30の他端(アウターリード部20b、30b)は、パッケージ40より外側に突出している。
なお、本発明には上面と下面とから正負一対の電極を有する発光素子10も使用できる。
共晶層70による発光素子10の実装では、まず、共晶層70を発光素子10の裏面に物理的又は化学的成膜法によって形成し、次いで第1リード電極20の上面に発光素子10を配置する。このとき、共晶層70が第1リード電極20に接触するような状態で配置する。そして、共晶層70をリフローし、溶融した共晶層70が第1リード電極20の表面に密着したところで冷却されて、発光素子10が第1リード電極20に実装される。共晶層70は、従来から発光素子の実装に使用されているダイボンド樹脂に比べると、リード電極20の表面に形成されたAg膜に対して濡れ性が低く、またダイボンド樹脂に比べて薄膜で使用されるので、リード電極の表面に多少の凹凸があるだけで界面に気泡が残ってしまう。そこで、第1リード電極20の表面の凹凸を少なくして、気泡の発生を抑制するのがよい。
しなしながら、第1リード電極20及び第2リード電極30の表面が平坦すぎると、パッケージ40との密着性が悪化してしまう。そこで、本発明では、第1リード電極20及び第2リード電極30の平坦度を0.001μm以上とすることにより、パッケージ40からリード電極20が剥離するのを防止している。よって、裏面にリード電極20、30が露出した発光装置1であっても、リード電極20、30が剥がれにくくすることができる。
使用される熱硬化性樹脂が透明な場合には、発光素子からの発光を効率よく反射するために光反射材を混入するのが好ましい。
凹部43の側面42の表面を平滑にすることもできるが、表面に凹凸を設ければパッケージ40と封止部材50との界面の密着性を向上する効果が期待できる。
封止部材50は、耐熱性に優れた熱硬化性樹脂を用いるのが好ましく、パッケージ40と同様に温度上昇による黄変を抑制することができる。また、封止部材50がパッケージ40に使用する熱硬化性樹脂と同等の又は近い物性を備えていると、封止部材50とパッケージ40との界面の密着性や、熱膨張時の剥離しにくさが向上するので好ましい。
蛍光物質80は、図2で模式的に図示されているように封止部材50の内部に均一に分散することもできる。しかしながら、一般的に使用される蛍光物質80は、封止部材50よりも比重が大きいので、蛍光物質80はパッケージ40の凹部43の底面41側に沈降した状態で封止部材50内に封入されている。
<発光素子10>
発光素子10は、基板上にGaAlN、ZnS、ZnSe、SiC、GaP、GaAlAs、AlN、InN、AlInGaP、InGaN、GaN、AlInGaN等の半導体を発光層として形成させたものが用いられる。半導体の構造としては、MIS接合、PIN接合やPN接合を有したホモ構造、ヘテロ構造あるいはダブルへテロ構成のものが挙げられる。半導体層の材料やその混晶度によって発光波長を紫外光から赤外光まで種々選択することができる。発光層は、量子効果が生ずる薄膜とした単一量子井戸構造や多重量子井戸構造としても良い。
発光素子10の大きさは□600μmである。そのほか、□1mm、□450μm、□320μmサイズ等のものも実装可能である。
第1リード電極20及び第2リード電極30は、鉄、リン青銅、銅合金等の電気良導体を用いて構成することができる。また、発光素子10からの光の反射率を向上させるため、第1リード電極20及び第2リード電極30の表面に銀、アルミニウム、銅や金等の金属メッキを施すこともできる。また、第1リード電極20及び第2リード電極30の表面の反射率を向上させるため、平滑にすることが好ましい。また、放熱性を向上させるため第1リード電極20及び第2リード電極300の面積は大きくすることができる。これにより発光素子10の温度上昇を効果的に抑えることができ、発光素子10に比較的多くの電気を流すことができる。また、第1リード電極20及び第2リード電極30を肉厚にすることにより放熱性を向上することができる。この場合、第1リード電極20及び第2リード電極30を折り曲げるなどの成形工程が困難であるため、所定の大きさに切断する。また、第1リード電極20及び第2リード電極30を肉厚にすることにより、第1リード電極20及び第2リード電極30のたわみが少なくなり、発光素子10の実装をし易くすることができる。これとは逆に、第1リード電極20及び第2リード電極30を薄い平板状とすることにより折り曲げる成形工程がし易くなり、所定の形状に成形することができる。
封止部材50の材質は熱硬化性樹脂である。熱硬化性樹脂のうち、エポキシ樹脂、変性エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、変性シリコーン樹脂、アクリレート樹脂、ウレタン樹脂からなる群から選択される少なくとも1種により形成することが好ましく、特にエポキシ樹脂、変性エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、変性シリコーン樹脂が好ましい。封止部材50は、発光素子10を保護するため硬質のものが好ましい。また、封止部材50は、耐熱性、耐候性、耐光性に優れた樹脂を用いることが好ましい。封止部材50は、所定の機能を持たせるため、フィラー、拡散剤、顔料、蛍光物質、反射性物質からなる群から選択される少なくとも1種を混合することもできる。封止部材50中には拡散剤を含有させても良い。具体的な拡散剤としては、チタン酸バリウム、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化珪素等を好適に用いることができる。また、所望外の波長をカットする目的で有機や無機の着色染料や着色顔料を含有させることができる。さらに、封止部材50は、発光素子10からの光を吸収し、波長変換する蛍光物質80を含有させることもできる。
蛍光物質80は、発光素子10からの光を吸収し異なる波長の光に波長変換するものであればよい。例えば、Eu、Ce等のランタノイド系元素で主に賦活される窒化物系蛍光体・酸窒化物系蛍光体・サイアロン系蛍光体、Eu等のランタノイド系、Mn等の遷移金属系の元素により主に付活されるアルカリ土類ハロゲンアパタイト蛍光体、アルカリ土類金属ホウ酸ハロゲン蛍光体、アルカリ土類金属アルミン酸塩蛍光体、アルカリ土類ケイ酸塩、アルカリ土類硫化物、アルカリ土類チオガレート、アルカリ土類窒化ケイ素、ゲルマン酸塩、又は、Ce等のランタノイド系元素で主に付活される希土類アルミン酸塩、希土類ケイ酸塩又はEu等のランタノイド系元素で主に賦活される有機及び有機錯体等から選ばれる少なくともいずれか1以上であることが好ましい。具体例として、下記の蛍光体を使用することができるが、これに限定されない。
また、上記蛍光体以外の蛍光体であって、同様の性能、効果を有する蛍光体も使用することができる。
表面実装型発光装置には、さらに保護素子としてツェナーダイオードを設けることもできる。ツェナーダイオードは、発光素子10と離れて凹部43の底面41の第1リード電極20に載置することができる。また、ツェナーダイオードは、凹部43の底面41の第1リード電極20に載置され、その上に発光素子10を載置する構成を採ることもできる。□280μmサイズの他、□300μmサイズ等も使用することができる。
図3A〜図3Eを参照しながら、本発明に係る発光装置の製造方法について説明する。
まず、第1リード電極20及び第2リード電極30の表面にAg膜を被覆する。Ag膜の被覆方法としては、電気Agメッキ法、無電解Agメッキ法、PVD法、CVD法などを用いることができる。特に、コスト、品質のバランスから、電気Agメッキが好ましい。本明細書では、「電気Agメッキ法」とは、金属イオンを含む電解溶液中でリード電極を陰極として通電し、リード電極の表面にAg(必要に応じて下地用の金属)を電析させることを指す。電気Agメッキ法の詳細を以下に説明する。
まず、リード電極20、30をアルカリ浸漬脱脂溶液・アルカリ電解脱脂溶液に浸漬し、油分を除去する。次いで、リード電極20、30を酸溶液に浸漬し、酸化膜を除去する。必要に応じて、アルカリ中和溶液に浸漬して中和する。その後、Agメッキ前の下地処理として、電気Cuストライクメッキ、電気Cuメッキ、及び電気Agストライクメッキ等を行う。各下地処理に適した電解溶液にリード電極20、30を順次浸漬し、表面に下地金属を電析させる。そして、下地処理が完了したリード電極20、30を、Agメッキ用の電解溶液に浸漬してAgを電析させる。なお、各電解溶液で電析を行った後には、リード電極20、30を純水で洗浄する。最後のAgメッキ後の純水洗浄を行った後、リード電極20、30を乾燥させる。
この一連の工程により、リード電極20、30の表面には、Ag膜22、32が被覆される。
図3A及び図3Bに図示するように、Ag膜を被覆した面を上側にして、第1リード電極20と第2リード電極30を、上金型120と下金型121とで上下から挟み込む。上金型120はパッケージ40の形状に対応した内部空隙122と、パッケージの凹部を形成するための凸部123とを備えている。ここで、パッケージ40に使用される熱硬化性樹脂は型流れがよく、第1リード電極20及び第2リード電極30と凸部123との隙間に侵入することがある。熱硬化性樹脂が第1リード電極20及び第2リード電極30の上面に付着すると、それらのリード電極20、30の表面に絶縁膜を形成してしまうので、そのような熱硬化性樹脂の侵入は好ましくない。そこで、リード電極20、30の裏面を下金型121で押し上げて、凸部123に前記第1リード電極20及び前記第2リード電極30を押し当てるのがよい。
なお、この例では下金型は平坦になっているが、パッケージ40の種類によっては内部空隙を備えることもできる。その場合には、下金型121によりリード電極20、30を押し上げにくくなるので、下金型の一部に押し上げ用の突条部材を設けたり、又は下金型を貫通する別部材を設けてリード電極20、30を押し上げたりすることができる。
図3Cに図示するように、上金型120の空隙122に熱硬化性樹脂を注入し、加熱硬化してパッケージを成型する。熱硬化性樹脂の注入方法として、トランスファ・モールドを利用できる。
トランスファ・モールドは、所定の大きさを有するペレット状の熱硬化性樹脂を所定の容器に入れる。その所定の容器に圧力を加える。その所定の容器から繋がる上金型120と下金型121とで挟み込まれた凹み部分に、溶融状態の熱硬化性樹脂を流し込む。上金型120と下金型121とを所定の温度に温め、その流し込まれた熱硬化性樹脂を硬化する。この一連の工程をトランスファ・モールドという。
第1リード電極20及び第2リード電極30は、金型で挟み込まれているので、熱硬化性樹脂を流し込む際にリード電極20、30がばたつくことがなく、バリの発生を抑制できる。
成型後のパッケージ40は、パッケージ40の外周や凹部43の内部にバリが発生する場合がある。これらのバリは、発光素子10を実装する前に除去される。バリの除去には、電解処理、ケミカルディッピング、ドライブラスト、ウォータージェット、液体ホーニングなどのバリ取り除去関連装置を組み合わせて用いることができる。
加熱硬化が終わったパッケージ40は、上金型120及び下金型121から取り外されて、発光素子10等が実装される。発光素子10の実装に先立って、発光素子10の裏面に、金属のハンダ材料から成る共晶層70を成膜しておく。共晶層70の成膜方法としては、ペースト材を使用した印刷、ディスペンス、転写、プリフォーム、箔成形、メタライズ、ボール形成などがある。
図3Dのように、パッケージ40の凹部43の内部に、発光素子10を配置する。このとき、発光素子10の共晶層70が、第1リード電極20の上面に接触するよう発光素子10を配置しなくてはならない。パッケージ40ごと加熱処理して共晶層70を溶融(リフロー)し、その後に放冷すると発光素子10は第1リード電極20の表面に固定される。
そして、発光素子10の電極11、12と、第1リード電極20及び第2リード電極30とを導電ワイヤ60によって、電気的に接続する。
発光素子10の固定後に、凹部43内に封止部材50用の熱硬化性樹脂を充填する。熱硬化性樹脂の充填は、滴下手段や射出手段、押出手段などにより行うが、特に滴下手段を用いることが好ましい。滴下手段では、熱硬化性樹脂の充填と同時に、凹部43内に残存する空気を効果的に追い出すことができるからである。熱硬化性樹脂には蛍光物質80を混合しておくことが好ましい。これにより発光装置の色調調整を容易に行うことができる。
注入が完了したら、熱硬化性樹脂を加熱硬化して封止部材50を形成する。
(1.原料の配合)
表1〜表3の配分に沿って各試料を調整する。表中の各符号は以下の材料を示している。
(A1)トリアジン誘導体エポキシ樹脂
トリス(2,3−エポキシプロピル)イソシアネート(TEPIC−S:日産化学(株)製商品名、エポキシ当量100)
(A2)水素添加エポキシ樹脂
ビスフェノールA型水素添加エポキシ樹脂(YL−7170:ジャパンエポキシレジン(株)製商品名、エポキシ当量1200)
(A3)その他の芳香族エポキシ樹脂
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(E1004:ジャパンエポキシレジン(株)製商品名、エポキシ当量890)
(B1)非炭素炭素二重結合酸無水物;メチルヘキサヒドロ無水フタル酸(リカシッドMH:新日本理化(株)製商品名)
(B2)含炭素炭素二重結合酸無水物;テトラヒドロ無水フタル酸(リカシッドTH:新日本理科(株)製商品名)
(C1)リン系酸化防止剤;亜リン酸トリフェニル(和光純薬(株)製商品名)
(C2)フェノール系酸化防止剤;2,6−ジ−t−ブチル−p−クレゾール(BHT:和光純薬(株)製商品名)
(E)無機充填剤;破砕溶融シリカ((株)龍森製商品名)
(F)硬化触媒
(F1)リン系硬化触媒;メチル−トリブチルホスホニウム−ジメチルホスフェイト(PX−4MP:日本化学(株)製商品名)
(F2)イミダゾール系触媒;2−エチル−4−メチルイミダゾール(2E4MZ:四国化成(株)製商品名)
まず、(A)エポキシ樹脂、(B)酸無水物及び(C)酸化防止剤を、予め反応釜により80℃にて5時間溶融混合し、冷却固化させた後に粉砕する。粉砕した混合物に、(D)光反射剤、(E)無機充填剤、及び(F)硬化触媒を所定の組成比にて配合し、熱2本ロールにて均一に溶融混合し、冷却、粉砕してパッケージ40用の熱硬化性樹脂を調整した。
(G)ハンダ材料
ハンダ材料としては、Sn−Pb(融点285℃)、Au−Sn(融点282℃)、Sn−Ag−Cu(融点220℃)、Sn−Ag−Cu−x(x=Bi、In、Ge、Ni、融点200〜230℃)、Sn−Znがあげられる。
(G1)Au−Sn(融点282℃)
(G2)Sn−Pb(融点285℃)
(G3)Sn−Ag−Cu(融点220℃)
(G4)Sn−Pb(融点183℃)
(G5)Au−Si(融点363℃)
発光素子10の実装によるパッケージ40の黄変について目視にて観察した。その結果、共晶層70に融点363℃のハンダ材料を用いた比較例3において、黄変が確認された。これは、ハンダ材料を溶融させるための加熱温度が高く、その温度では、熱硬化性エポキシ樹脂の硬化物が、酸化劣化して黄変してしまったためである。
パッケージ40に使用した原料を用いて試料片を作製し、加熱下での変色の有無を調べた。試料片は、175℃、6.9N/mm2、成型時間2minの条件で、直径50×3mmの円盤状に成型した。この試料片を180℃で24時間放置し、黄変性を比較したところ、比較例4及び5の試料に黄変が確認された。この実験により、トリアジン誘導体エポキシ樹脂を含まない熱硬化性エポキシ樹脂では、樹脂の耐熱性が低いため、180℃程度の温度であっても黄変することがわかった。
実施例及び比較例の発光装置1を長時間点灯させたときの共晶層70の変色とパッケージの黄変性とを調べた。点灯実験は、85℃−85%RHで、1000hrの条件で行った。実験後の試料の観察では、共晶層70の変色確認は、発光素子10を剥がした後に光学顕微鏡で観察し、パッケージ40の黄変観察は目視で確認した。
共晶層70に変色が確認されたのは、共晶層70に融点183℃のハンダ材料を用いた比較例2であった。ハンダ材料の融点が、約200℃以下になると、ハンダ材料が酸化劣化しやすくなり、黄変しやすくなるためと考えられる。
また、パッケージ40に黄変が確認されたのは、比較例1、4及び5であった。
比較例1のAg層は厚みが薄いことから、Agの結晶性が悪くて容易に酸化劣化して着色する可能性、又は、Ag膜の下地としてメッキしたCuがAg膜の表面に拡散して酸化銅になり、Ag膜の表面が変色した可能性がある。Ag膜の表面が着色すると、発光素子からの発光を吸収して熱に変換し、パッケージ内の温度上昇を助長する。その結果、パッケージが、若干黄変したと考えられる。
比較例4及び5は、熱硬化性エポキシ樹脂の耐熱性が低いため、樹脂が酸化劣化し、パッケージが黄変したと考えられる。
発光素子10と第1リード電極20との接合力を調べるために、シェア強度を測定した。測定には、シェアテスターを使用した。まず、サンプルをシェアテスターのステージに固定し、次に、シェアツールを所定の位置にセットして、シェアツールを移動させて発光素子を剥がす。シェアツールにかかる強度を測定し、剥離時の強度(ピーク強度)をシェア強度とした。
実施例で使用した□600μmの発光素子10の場合、望まれるシェア強度は1.0kgf〜8.0kgfである。このシェア強度を満たさなかった比較例1は、メッキ表面が平坦でなく、共晶接合部分に気泡が多く含まれ、接合強度が低くなったと考えられる。
レーザー式の測定顕微鏡を使用して、リード電極22のうち、発光素子10を実装する領域の平坦度を測定した。実装領域の3隅を計測し、その3隅を含む面を基準面としたときの実装エリアの中央の高さを平坦度とした。
この測定結果と、シェア強度及びパッケージの変色との関係をみると、Ag膜の平坦度が大きくなる(すなわち、表面が粗くなる)と、シェア強度が低下する傾向がみられる。平坦度の小さい(すなわち、表面の滑らかな)実施例8では、パッケージの黄変なく、シェア強度も高い。平坦度が55μmと大きくなっている比較例6では、パッケージの黄変が確認された。これは、平坦度が大きすぎた結果、発光素子とリード電極との間に十分な接合面積が得られず、発光素子の放熱性が悪化して黄変したと考えられる。さらに、比較例6の試料は、シェア強度も小さい。
Claims (8)
- 発光素子と、
熱硬化性樹脂から形成され、前記発光素子を実装する凹部を有するパッケージと、
前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子が載置される第1リード電極と、
前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子と電気的に接続される第2リード電極と、を備えた発光装置であって、
前記発光素子が、共晶層を介して前記第1リード電極に共晶接合され、
少なくとも前記第1リード電極の表面がAg膜によって被覆されており、
前記Ag膜の膜厚が、0.5μm〜20μmであることを特徴とする発光装置。 - 前記Ag膜の膜厚が、1μm〜15μmであることを特徴とする請求項1に記載の発光装置。
- 発光素子と、
熱硬化性樹脂から形成され、前記発光素子を実装する凹部を有するパッケージと、
前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子が載置される第1リード電極と、
前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子と電気的に接続される第2リード電極と、を備えた発光装置であって、
前記発光素子が、共晶層を介して前記第1リード電極に共晶接合され、
少なくとも前記第1リード電極の表面がAg膜によって被覆されており、
前記第1リード電極及び前記第2リード電極の表面のうち、前記発光素子と接合する領域の平坦度が0.001〜50μmであることを特徴とする発光装置。 - 前記共晶層は、融点が200℃〜350℃のハンダ材料から成ることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記パッケージが、トリアジン誘導体エポキシ樹脂を含むエポキシ樹脂を含有する熱硬化性エポキシ樹脂組成物の硬化物から成型されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記パッケージは、波長430nm以上の光に対する反射率が70%以上であり、
前記発光素子は、発光ピーク波長が430nm〜530nmであることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の発光装置。 - 前記発光装置が、さらに発光素子を封止する透光性の封止部材を備えており、
前記封止部材が、熱硬化性樹脂から成ることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の発光装置。 - 発光素子と、
熱硬化性樹脂から形成され、前記発光素子を実装する凹部を有するパッケージと、
前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子が載置される第1リード電極と、
前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子と電気的に接続される第2リード電極と、
少なくとも前記第1リード電極の表面を被覆するAg膜と、
前記発光素子と、前記第1リード電極との間に介在された共晶層と、を備えた発光装置の製造方法であって、
前記第1リード電極の表面にAg膜を被覆する工程と、
前記パッケージの形状に対応した内部空隙を備えた上金型及び下金型によって前記第1リード電極と前記第2リード電極とを挟持し、パッケージの凹部を形成するために前記上金型に備えられた凸部に前記第1リード電極及び前記第2リード電極を押し当てる工程と、
前記上金型及び前記下金型の内部空隙に熱硬化性樹脂を注入し、加熱硬化してパッケージを形成する工程と、
前記発光素子の裏面に、金属のハンダ材料から成る前記共晶層を成膜する工程と、
前記形成したパッケージの前記凹部の内部に、前記共晶層が前記第1リード電極の上面に接触するよう前記発光素子を載置し、前記共晶層を加熱溶融して前記発光素子を前記第1リード電極に固定する工程と、
前記発光素子と前記第1リード電極及び前記第2リード電極とが、電気的に接続される工程と、を含むことを特徴とする発光素子の製造方法。
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JP2011009346A (ja) * | 2009-06-24 | 2011-01-13 | Shin-Etsu Chemical Co Ltd | 光半導体装置 |
JP2011060819A (ja) * | 2009-09-07 | 2011-03-24 | Nitto Denko Corp | 光半導体素子収納用実装パッケージ用樹脂組成物およびそれを用いて得られる光半導体発光装置 |
JP5381585B2 (ja) * | 2009-09-30 | 2014-01-08 | 凸版印刷株式会社 | Led発光素子用リードフレームの製造方法、及びledパッケージの製造方法 |
KR100986397B1 (ko) * | 2010-02-08 | 2010-10-08 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 장치 |
KR101192181B1 (ko) * | 2010-03-31 | 2012-10-17 | (주)포인트엔지니어링 | 광 소자 디바이스 및 그 제조 방법 |
KR20110111243A (ko) * | 2010-04-02 | 2011-10-10 | 아사히 가라스 가부시키가이샤 | 발광 소자 탑재 기판 및 이 기판을 사용한 발광 장치 |
KR101662239B1 (ko) * | 2010-04-28 | 2016-10-04 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자, 그 제조 방법 및 발광 소자 패키지 |
EP2629342B1 (en) * | 2010-10-22 | 2014-09-17 | Panasonic Corporation | Unsaturated polyester resin composition for use in led reflector, and led reflector and led luminaire using said composition |
USD721339S1 (en) | 2010-12-03 | 2015-01-20 | Cree, Inc. | Light emitter device |
USD707192S1 (en) | 2010-11-18 | 2014-06-17 | Cree, Inc. | Light emitting device |
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US9300062B2 (en) | 2010-11-22 | 2016-03-29 | Cree, Inc. | Attachment devices and methods for light emitting devices |
US8575639B2 (en) | 2011-02-16 | 2013-11-05 | Cree, Inc. | Light emitting devices for light emitting diodes (LEDs) |
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US20120193671A1 (en) * | 2011-02-01 | 2012-08-02 | Chi Mei Lighting Technology Corp. | Light-emitting diode device and method for manufacturing the same |
USD702653S1 (en) | 2011-10-26 | 2014-04-15 | Cree, Inc. | Light emitting device component |
US8809880B2 (en) | 2011-02-16 | 2014-08-19 | Cree, Inc. | Light emitting diode (LED) chips and devices for providing failure mitigation in LED arrays |
US8455908B2 (en) | 2011-02-16 | 2013-06-04 | Cree, Inc. | Light emitting devices |
JP2012175030A (ja) * | 2011-02-24 | 2012-09-10 | Nitto Denko Corp | 光半導体素子収納用実装パッケージ用樹脂組成物およびそれを用いて得られる光半導体発光装置 |
US10211380B2 (en) | 2011-07-21 | 2019-02-19 | Cree, Inc. | Light emitting devices and components having improved chemical resistance and related methods |
US10686107B2 (en) | 2011-07-21 | 2020-06-16 | Cree, Inc. | Light emitter devices and components with improved chemical resistance and related methods |
JP2014525146A (ja) | 2011-07-21 | 2014-09-25 | クリー インコーポレイテッド | 発光デバイス、パッケージ、部品、ならびに改良された化学抵抗性のための方法および関連する方法 |
US9142743B2 (en) | 2011-08-02 | 2015-09-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | High temperature gold-free wafer bonding for light emitting diodes |
USD705181S1 (en) | 2011-10-26 | 2014-05-20 | Cree, Inc. | Light emitting device component |
KR20140097284A (ko) | 2011-11-07 | 2014-08-06 | 크리,인코포레이티드 | 고전압 어레이 발광다이오드(led) 장치, 기구 및 방법 |
US9496466B2 (en) | 2011-12-06 | 2016-11-15 | Cree, Inc. | Light emitter devices and methods, utilizing light emitting diodes (LEDs), for improved light extraction |
JP2013179271A (ja) * | 2012-01-31 | 2013-09-09 | Rohm Co Ltd | 発光装置および発光装置の製造方法 |
US9240530B2 (en) | 2012-02-13 | 2016-01-19 | Cree, Inc. | Light emitter devices having improved chemical and physical resistance and related methods |
US9343441B2 (en) | 2012-02-13 | 2016-05-17 | Cree, Inc. | Light emitter devices having improved light output and related methods |
US10134961B2 (en) | 2012-03-30 | 2018-11-20 | Cree, Inc. | Submount based surface mount device (SMD) light emitter components and methods |
US9735198B2 (en) | 2012-03-30 | 2017-08-15 | Cree, Inc. | Substrate based light emitter devices, components, and related methods |
CN103367565A (zh) * | 2012-04-06 | 2013-10-23 | 展晶科技(深圳)有限公司 | 发光二极管封装方法 |
JP5167424B1 (ja) * | 2012-04-18 | 2013-03-21 | 積水化学工業株式会社 | 光半導体装置用白色硬化性組成物及び光半導体装置用成形体 |
US20140023430A1 (en) * | 2012-07-19 | 2014-01-23 | Apple Inc. | Attachment Techniques |
US9345091B2 (en) | 2013-02-08 | 2016-05-17 | Cree, Inc. | Light emitting device (LED) light fixture control systems and related methods |
JP2013153175A (ja) * | 2013-02-26 | 2013-08-08 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 封止樹脂の変色抑制方法 |
TWI529971B (zh) * | 2013-04-08 | 2016-04-11 | 逢甲大學 | 發光裝置及其操作與製造方法 |
CN104103748B (zh) * | 2013-04-10 | 2016-12-07 | 重庆市路迪机械厂 | 发光二极管封装结构及其制造方法 |
USD740453S1 (en) | 2013-06-27 | 2015-10-06 | Cree, Inc. | Light emitter unit |
USD739565S1 (en) | 2013-06-27 | 2015-09-22 | Cree, Inc. | Light emitter unit |
JP6204088B2 (ja) * | 2013-07-02 | 2017-09-27 | エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 | 半導体装置 |
KR101501020B1 (ko) * | 2014-02-17 | 2015-03-13 | 주식회사 루멘스 | 발광 소자 패키지, 백라이트 유닛, 조명 장치 및 발광 소자 패키지의 제조 방법 |
KR102199986B1 (ko) * | 2014-02-17 | 2021-01-08 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 장치 |
US10177292B2 (en) | 2014-05-23 | 2019-01-08 | Everlight Electronics Co., Ltd. | Carrier, carrier leadframe, and light emitting device |
TWI553264B (zh) * | 2014-05-23 | 2016-10-11 | 億光電子工業股份有限公司 | 承載支架及其製造方法以及從該承載支架所製得之發光裝置及其製造方法 |
TWI598538B (zh) * | 2015-07-31 | 2017-09-11 | 宏齊科技股份有限公司 | 無需使用預儲電源的可攜式發光裝置及其發光二極體封裝結構 |
JP6361645B2 (ja) * | 2015-12-22 | 2018-07-25 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置 |
JP6191705B2 (ja) * | 2016-01-04 | 2017-09-06 | 日立化成株式会社 | 光反射用熱硬化性樹脂組成物、光半導体素子搭載用基板及びその製造方法、並びに光半導体装置 |
USD823492S1 (en) | 2016-10-04 | 2018-07-17 | Cree, Inc. | Light emitting device |
JP6555243B2 (ja) * | 2016-12-16 | 2019-08-07 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置および発光装置の製造方法 |
US20190393112A1 (en) * | 2018-06-25 | 2019-12-26 | Elizabeth Nofen | Encapsulant material containing fluorophores for in-situ visualization of stress in an organic package |
JP7038645B2 (ja) * | 2018-12-06 | 2022-03-18 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置および半導体装置の製造方法 |
CN113416963A (zh) * | 2021-06-19 | 2021-09-21 | 贵州航箭电子产品有限公司 | 一种电子元器件镀银后处理工艺 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1187780A (ja) * | 1997-09-04 | 1999-03-30 | Sharp Corp | 発光装置 |
WO2004082036A1 (ja) * | 2003-03-10 | 2004-09-23 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | 固体素子デバイスおよびその製造方法 |
JP2005259972A (ja) * | 2004-03-11 | 2005-09-22 | Stanley Electric Co Ltd | 表面実装型led |
JP2005353914A (ja) * | 2004-06-11 | 2005-12-22 | Toshiba Corp | 半導体発光装置及びその製造方法並びに半導体発光ユニット |
JP2006049442A (ja) * | 2004-08-02 | 2006-02-16 | Sharp Corp | 半導体発光装置およびその製造方法 |
JP2006156704A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Nichia Chem Ind Ltd | 樹脂成形体及び表面実装型発光装置並びにそれらの製造方法 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3059828B2 (ja) | 1992-06-26 | 2000-07-04 | 三洋電機株式会社 | 発光ダイオード表示装置 |
JP4065051B2 (ja) | 1998-04-17 | 2008-03-19 | スタンレー電気株式会社 | 表面実装ledとその製造方法 |
JP2002270860A (ja) | 2000-12-06 | 2002-09-20 | Ibiden Co Ltd | Icチップ実装用基板 |
US7091656B2 (en) * | 2001-04-20 | 2006-08-15 | Nichia Corporation | Light emitting device |
EP1672707B1 (en) * | 2001-04-20 | 2019-07-31 | Nichia Corporation | Light emitting device |
JP4211359B2 (ja) * | 2002-03-06 | 2009-01-21 | 日亜化学工業株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
SG173925A1 (en) * | 2002-03-22 | 2011-09-29 | Nichia Corp | Nitride phosphor and production process thereof, and light emitting device |
EP1980886A3 (en) * | 2002-04-01 | 2008-11-12 | Ibiden Co., Ltd. | Optical communication device and optical communication device manufacturing method |
JP4029843B2 (ja) | 2004-01-19 | 2008-01-09 | 豊田合成株式会社 | 発光装置 |
WO2004082034A1 (ja) | 2003-03-14 | 2004-09-23 | Sumitomo Electric Industries Ltd. | 半導体装置 |
US7070730B2 (en) * | 2003-06-13 | 2006-07-04 | Safe Boats International, Llc | Method of manufacturing foam core boat collars |
JP2005191420A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Stanley Electric Co Ltd | 波長変換層を有する半導体発光装置およびその製造方法 |
JP4632426B2 (ja) | 2004-03-31 | 2011-02-16 | シーアイ化成株式会社 | 発光ダイオード組立体の組立方法および発光ダイオード組立体 |
JP4659421B2 (ja) | 2004-09-30 | 2011-03-30 | 株式会社トクヤマ | 発光素子収納用パッケージの製造方法 |
JP5060707B2 (ja) | 2004-11-10 | 2012-10-31 | 日立化成工業株式会社 | 光反射用熱硬化性樹脂組成物 |
JP2006186297A (ja) | 2004-12-03 | 2006-07-13 | Toshiba Corp | 半導体発光装置及びその製造方法 |
JP4876426B2 (ja) * | 2005-04-08 | 2012-02-15 | 日亜化学工業株式会社 | 耐熱性及び耐光性に優れる発光装置 |
JP4091063B2 (ja) | 2005-06-07 | 2008-05-28 | 株式会社フジクラ | 発光素子実装用基板および発光素子モジュール |
JP4037423B2 (ja) | 2005-06-07 | 2008-01-23 | 株式会社フジクラ | 発光素子実装用ホーロー基板の製造方法 |
US8269227B2 (en) * | 2005-06-09 | 2012-09-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and electronic device |
US7812358B2 (en) * | 2005-09-13 | 2010-10-12 | Showa Denko K.K. | Light-emitting device |
WO2007135707A1 (ja) * | 2006-05-18 | 2007-11-29 | Nichia Corporation | 樹脂成形体及び表面実装型発光装置並びにそれらの製造方法 |
US20070295482A1 (en) * | 2006-06-23 | 2007-12-27 | Fitzgerald Thomas J | Heat spreader for use in conjunction with a semiconducting device and method of manufacturing same |
EP2109157B1 (en) * | 2006-12-28 | 2018-11-28 | Nichia Corporation | Light emitting device and method for manufacturing the same |
-
2008
- 2008-03-07 US US12/374,686 patent/US8610143B2/en active Active
- 2008-03-07 KR KR1020087018789A patent/KR20090124906A/ko not_active Application Discontinuation
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1187780A (ja) * | 1997-09-04 | 1999-03-30 | Sharp Corp | 発光装置 |
WO2004082036A1 (ja) * | 2003-03-10 | 2004-09-23 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | 固体素子デバイスおよびその製造方法 |
JP2005259972A (ja) * | 2004-03-11 | 2005-09-22 | Stanley Electric Co Ltd | 表面実装型led |
JP2005353914A (ja) * | 2004-06-11 | 2005-12-22 | Toshiba Corp | 半導体発光装置及びその製造方法並びに半導体発光ユニット |
JP2006049442A (ja) * | 2004-08-02 | 2006-02-16 | Sharp Corp | 半導体発光装置およびその製造方法 |
JP2006156704A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Nichia Chem Ind Ltd | 樹脂成形体及び表面実装型発光装置並びにそれらの製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20090124906A (ko) | 2009-12-03 |
TWI459584B (zh) | 2014-11-01 |
US20090261374A1 (en) | 2009-10-22 |
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WO2008111504A1 (ja) | 2008-09-18 |
US8610143B2 (en) | 2013-12-17 |
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