JPWO2008111504A1 - 高出力発光装置及びそれに用いるパッケージ - Google Patents

高出力発光装置及びそれに用いるパッケージ Download PDF

Info

Publication number
JPWO2008111504A1
JPWO2008111504A1 JP2008530258A JP2008530258A JPWO2008111504A1 JP WO2008111504 A1 JPWO2008111504 A1 JP WO2008111504A1 JP 2008530258 A JP2008530258 A JP 2008530258A JP 2008530258 A JP2008530258 A JP 2008530258A JP WO2008111504 A1 JPWO2008111504 A1 JP WO2008111504A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
emitting element
lead electrode
package
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008530258A
Other languages
English (en)
Inventor
林 正樹
林  正樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nichia Corp
Original Assignee
Nichia Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nichia Corp filed Critical Nichia Corp
Publication of JPWO2008111504A1 publication Critical patent/JPWO2008111504A1/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05552Shape in top view
    • H01L2224/05554Shape in top view being square
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/4501Shape
    • H01L2224/45012Cross-sectional shape
    • H01L2224/45015Cross-sectional shape being circular
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L24/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01019Potassium [K]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01066Dysprosium [Dy]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/0132Binary Alloys
    • H01L2924/01322Eutectic Alloys, i.e. obtained by a liquid transforming into two solid phases
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1203Rectifying Diode
    • H01L2924/12035Zener diode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1203Rectifying Diode
    • H01L2924/12036PN diode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12041LED
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3025Electromagnetic shielding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/58Optical field-shaping elements
    • H01L33/60Reflective elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/64Heat extraction or cooling elements
    • H01L33/647Heat extraction or cooling elements the elements conducting electric current to or from the semiconductor body

Abstract

本発明は、発熱によるパッケージの変色を抑制して、高出力で長寿命な発光装置を提供することを目的とする。本発明の発光装置1は、発光素子10と、熱硬化性樹脂から形成され、前記発光素子10を実装する凹部43を有するパッケージ40と、前記パッケージ40の凹部43の底面41から露出し、前記発光素子10が載置される第1リード電極20と、前記パッケージ40の凹部43の底面41から露出し、前記発光素子10と電気的に接続される第2リード電極30と、を備えており、前記発光素子10が、共晶層70を介して前記第1リード電極20に共晶接合され、少なくとも前記第1リード電極20の表面がAg膜22によって被覆されており、前記Ag膜22の膜厚が、0.5μm〜20μmであることを特徴とする。

Description

本発明は、照明器具、ディスプレイ、携帯電話のバックライト、動画照明補助光源、その他の一般的民生用光源などに用いられる表面実装型発光装置及びそれに適した樹脂成型体に関する。
発光素子を用いた表面実装型発光装置は、小型で電力効率が良く鮮やかな色の発光をする。また、この発光素子は半導体素子であるため球切れなどの心配がない。さらに初期駆動特性が優れ、振動やオン・オフ点灯の繰り返しに強いという特徴を有する。このような優れた特性を有するため、発光ダイオード(LED)、レーザーダイオード(LD)などの発光素子を用いる発光装置は、各種の光源として利用されている。
従来の表面実装型発光装置では、発光素子と、これを搭載する搭載用リードフレームと、発光素子に導線を介して接続される結線用リードフレームと、各リードフレームの大部分を覆うパッケージとを備えている(例えば、特許文献1参照)。この表面実装型発光装置は、量産性を確保するために、パッケージ用の成型材料として成型性の良好な熱可塑性樹脂(例えば液晶ポリマー、PPS(ポリフェニレンサルファイド)、ナイロン等)を用いることがあった。また、一般に、パッケージに用いられる熱可塑性樹脂は、リフロー半田を溶融するための昇温に耐えうる耐熱性が必要なため、熱可塑性樹脂のうちでも比較的耐熱性の良好な半芳香族ポリアミド、液晶ポリマー、PPS等のエンジニアリングポリマーが使用されていた。
最近、発光素子の出力が高くなり、それに伴って発光時の発熱量も非常に大きくなっている。そして、凹部内の発光素子で発生した熱によりパッケージは高温にさらされ、従来の樹脂パッケージではその熱に耐えられずに変色や変形を生じていた。
そこで、パッケージの材料をさらに耐熱性の高いものに変更し(例えば、特許文献2参照)、又は発光素子で発生した熱がパッケージ内にこもらないような放熱構造を設けることがなされている(例えば、特許文献3参照)。発光素子をリードフレームにダイボンドする際に、ダイボンド樹脂により接着する代わりにハンダ材料により共晶接合する(例えば、特許文献3〜5)ことによっても、発光素子からの放熱性を高めることもできる。
また、発光素子からの光を効率よく取出すために、リードフレームの表面に銀メッキを施すことも知られている(例えば、特許文献2及び5参照)。銀メッキによりリードフレームの反射率が向上すると、発光装置内での光の吸収が抑制されることになるので、ハウジング温度上昇を抑制する効果も期待される。
特開平11−87780号公報 特開2006−156704号公報 特開2006−49442号公報 特開2005−259972号公報 特開2005−353914号公報
パッケージの材料を耐熱性材料にすることにより、パッケージの変色や変形はかなり抑えることができたが、現在提供できる発光素子の出力からするとそれでも未だ十分ではなく、使用時間と共にパッケージが徐々に変色する。パッケージが変色するとパッケージが光を吸収する量が急激に増加し、吸収された光は熱に変換されるためパッケージの温度はさらに上昇し、パッケージの変色がさらに促進される、という悪循環が起こる。パッケージの変色が進行すると、発光装置の発光強度が著しく低下して、発光装置の交換を余儀なくされる。つまり、発光装置の寿命を延ばすためには、パッケージのわずかな変色をも抑制することが重要である。
そこで、本発明は、発熱によるパッケージの変色を抑制して、高出力で長寿命な発光装置を提供することを目的とする。
本発明の第1の発光装置は、発光素子と、熱硬化性樹脂から形成され、前記発光素子を実装する凹部を有するパッケージと、前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子が載置される第1リード電極と、前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子と電気的に接続される第2リード電極と、を備えた発光装置であって、前記発光素子が、共晶層を介して前記第1リード電極に共晶接合され、少なくとも前記第1リード電極の表面がAg膜によって被覆されており、前記Ag膜の膜厚が、0.5μm〜20μmであることを特徴とする。
Ag膜の膜厚が0.5μm未満であると、Ag膜の結晶性が低く、硫化や酸化を受けて変色しやすい。変色した部分は光を吸収して発熱するため、パッケージの温度上昇に寄与するおそれがある。
また、Ag膜の膜厚が20μmより厚いと、ハンダ材料で発光素子を接合する時、基板に発光装置を実装する時などに発生する熱応力により、Ag膜の剥離が起こりやすくなる。すなわち、Ag膜が厚くなると、ハンダ材料を用いて発光素子を実装する時にAg膜の熱膨張や収縮が大きくなり、Ag膜がリード電極から剥がれやすくなる。
本発明では、Ag膜を0.5μm以上にすることにより、結晶性が高く、緻密で、変色しにくいAg膜が得られる。よって、Ag膜が光を吸収するのを抑制でき、結果としてパッケージ内に発生する熱を減少する効果がある。また、Ag膜の膜厚を20μm以下にすることにより、Ag膜の剥離を抑えられつつ、Ag膜と共晶層との接合面積を十分に確保できる。これにより、発光素子の熱が共晶層を介してリード電極に伝導しやすくなり、発光装置の放熱性を向上させる効果がある。また、発光素子とリード電極との接合強度が高くなり、発光装置の故障率を抑制できる効果もある。
本発明の第2の発光装置は、発光素子と、熱硬化性樹脂から形成され、前記発光素子を実装する凹部を有するパッケージと、前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子が載置される第1リード電極と、前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子と電気的に接続される第2リード電極と、を備えた発光装置であって、前記発光素子が、共晶層を介して前記第1リード電極に共晶接合され、少なくとも前記第1リード電極の表面がAg膜によって被覆されており、前記第1リード電極及び前記第2リード電極の表面のうち、発光素子と接合する領域の平坦度が、0.001〜50μmであることを特徴とする。
本発明において、「平坦度」とは、測定する領域の3隅を計測して、その3隅を含む面を基準面とし、基準面から、測定領域の中央の高さを計測して、その高さを指している。
共晶層は、Ag膜との接合力が低く、Ag膜に対する濡れ性が低く、そしてダイボンド樹脂に比べて流動性が乏しい等の性質がある。そのため、例えば、メッキ前のリードの平坦度や、Ag膜の形成条件や、成型加工時の状態等の影響が重なって、リード電極のうち発光素子を接合する接合領域の平坦度が大きくなる(すなわち、表面が粗くなる)と、共晶層とAg膜との隙間に共晶層が十分に流れ込めず、共晶層とAg膜との間で十分な接合面積が得られない。特に、平坦度が50μmより大きくなると、接合面積の低下が顕著になり、発光装置の放熱性の低下と、発光素子とリードフレームとの接合強度の低下の影響が大きくなる。
その反面、Ag膜の平坦度が0.001μm未満と小さくなると、Ag膜の表面が滑らかすぎて、共晶層のアンカー効果を高めるのに適した微小な凹凸さえ存在しなくなる。その結果、逆に共晶層とAg膜とが剥離しやすくなり、接合強度の低下につながる。
本発明では、Ag膜の平坦度(すなわちAg膜を被覆したリード電極の表面の平坦度)を、0.001〜50μmの範囲にすることにより、発光素子からの熱を効率よく放熱できる効果と、且つ発光素子とリード電極との接合強度を高くして、発光装置の故障率を抑制できる効果が得られる。
このように、本発明によれば、発光装置内にこもる熱を減らしてパッケージの変色を抑制できるので、高出力で長寿命な発光装置が得られる。さらに、本発明によれば、発光素子とリードフレームとの接合強度が高くなるので、故障率の少ない発光装置とすることができる。
第1の実施の形態に係る発光装置を示す概略上面図である。 図1のA−A線に沿って切断した発光装置の概略断面図である。 第1の実施の形態に係る表面実装型発光装置の製造工程を示す概略断面図である。 第1の実施の形態に係る表面実装型発光装置の製造工程を示す概略断面図である。 第1の実施の形態に係る表面実装型発光装置の製造工程を示す概略断面図である。 第1の実施の形態に係る表面実装型発光装置の製造工程を示す概略断面図である。 第1の実施の形態に係る表面実装型発光装置の製造工程を示す概略断面図である。
符号の説明
1 発光装置
10 発光素子
11 発光素子の第1電極
12 発光素子の第2電極
20 第1リード電極
20a 第1リード電極のインナーリード部
20b 第1リード電極のアウターリード部
22 Ag膜
30 第2リード電極
30a 第2リード電極のインナーリード部
30b 第2リード電極のアウターリード部
32 Ag膜
40 パッケージ
41 底面
42 側面
43 凹部
50 封止部材
60 導電ワイヤ
70 共晶層
80 蛍光物質
90 絶縁膜
120 上金型
121 下金型
以下に、本発明に係る発光装置を実施の形態及び実施例を用いて説明する。だたし、本発明は、この実施の形態及び実施例に限定されない。
<実施の形態1>
図1及び図2に示す本実施の形態の発光装置1は、発光素子10と、発光素子10を載置する凹部43を有するパッケージ40と、発光素子10を被覆する封止部材50とを有している。
パッケージ40には2つのリード電極(第1リード電極20と第2リード電極30)が固定されており、各リード電極20、30の一端(インナーリード部20a、30a)の表面が凹部43の底面41から露出している。
また、各リード電極20、30の他端(アウターリード部20b、30b)は、パッケージ40より外側に突出している。
発光素子10は、パッケージ40の凹部43内で、第1リード電極20のインナーリード部20aの上面20c側に、共晶層70を介して載置されている。図示されている発光素子10は、表面に2つの電極11、12が形成されたタイプであり、第1電極11は、第1リード電極20のインナーリード部20aの上面20cに、ワイヤ60を介して電気的に接続される。また、発光装置1の第2電極12は、第2リード電極30のインナーリード部30aの上面30cに、ワイヤ60を介して電気的に接続されている。
なお、本発明には上面と下面とから正負一対の電極を有する発光素子10も使用できる。
本発明の発光装置1では、発光素子10を載置する第1リード電極20のインナーリード20aの表面が、Ag膜22によって被覆されている。また、第2リード電極30の上面30cもAg膜32によって被覆されているのが好ましい。Ag膜22、32は、発光がリード電極20、30に到達する前に反射する光反射機能を有している。一般的に利用されるリード電極20、30は、銅などの導電率の高い材料から形成されているが、それらの導電率の高い材料の多くは光の反射率がそれほど高くない。そのため、発光素子10からの発光がリード電極20、30に到達すると、光の一部を吸収して熱に変換するため、発光装置1内の温度を上昇させる一因になる。また、リード電極20、30での光吸収は、発光装置1の光損失になるので、発光装置1の発光強度を低下させる原因にもなる。よって、リード電極20、30に光反射率の高いAg膜を被覆することにより、発光装置1内の温度上昇を抑制し、発光装置1の発光強度を向上させることができる。
本願の第1の発光装置では、第1リード電極20の表面のAg膜22の膜厚を、0.5μm〜20μmとしている。その作用効果は次のとおりである。
本発明では、Ag膜を0.5μm以上にすることにより、結晶性が高く、緻密で、変色しにくいAg膜が得られる。よって、Ag膜が光を吸収するのを抑制でき、結果としてパッケージ内に発生する熱を減少する効果がある。また、Ag膜の膜厚を20μm以下にすることにより、Ag膜の剥離を抑えられつつ、Ag膜と共晶層との接合面積を十分に確保できる。これにより、発光素子の熱が共晶層を介してリード電極に伝導しやすくなり、発光装置の放熱性を向上させる効果がある。また、発光素子とリード電極との接合強度が高くなり、発光装置の故障率を抑制できる効果もある。
また、本願の第2の発光装置では、第1リード電極20の平坦度は50μm〜0.001μmとすることにより、発光素子10での発熱を効率よく熱引きして、パッケージ40の黄変を抑えることができる。以下に第2の発光装置の作用効果を詳述する。
発光素子10を第1リード電極20に固定する共晶層70は、金属のハンダ材料から形成することができる。共晶層70は金属から形成されているので熱伝導率が高く、発光装置1の点灯時に発光素子10で発生した熱は、共晶層70を介して第1リード電極20まで効率よく伝わる。そして、その熱は、第1リード電極20のアウターリード20bから外部に放熱できる。よって、共晶層70によって、発光装置1の温度上昇を抑制することができる。
発光素子10から共晶層70を介して第1リード電極20で行われる放熱では、各材料の熱伝導率の他に、材料間の界面での熱伝導の効率が重要になる。特に、共晶層70と第1リード電極20との界面には気泡が形成されやすく、そのため熱伝導の効率が容易に低下すると考えられる。よって、本発明の発光装置1では、共晶層70と第1リード電極20との界面の気泡を減少させることにより、発光装置1内で発生した熱を効率よく外部に放熱できるようにすることを重視している。
共晶層70と第1リード電極20との界面の気泡の発生は、主に、第1リード電極20の表面粗さと、溶融した共晶層70の濡れ性の低さとに影響を受けるものと考えられる。
共晶層70による発光素子10の実装では、まず、共晶層70を発光素子10の裏面に物理的又は化学的成膜法によって形成し、次いで第1リード電極20の上面に発光素子10を配置する。このとき、共晶層70が第1リード電極20に接触するような状態で配置する。そして、共晶層70をリフローし、溶融した共晶層70が第1リード電極20の表面に密着したところで冷却されて、発光素子10が第1リード電極20に実装される。共晶層70は、従来から発光素子の実装に使用されているダイボンド樹脂に比べると、リード電極20の表面に形成されたAg膜に対して濡れ性が低く、またダイボンド樹脂に比べて薄膜で使用されるので、リード電極の表面に多少の凹凸があるだけで界面に気泡が残ってしまう。そこで、第1リード電極20の表面の凹凸を少なくして、気泡の発生を抑制するのがよい。
本発明では、第1リード電極20の平坦度を50μm以下と滑らかにすることにより、接合面積の減少を効果的に抑制している。これにより、発光素子10での発熱を効率よく熱引きして、パッケージ40の黄変を抑えることができる。
しなしながら、第1リード電極20及び第2リード電極30の表面が平坦すぎると、パッケージ40との密着性が悪化してしまう。そこで、本発明では、第1リード電極20及び第2リード電極30の平坦度を0.001μm以上とすることにより、パッケージ40からリード電極20が剥離するのを防止している。よって、裏面にリード電極20、30が露出した発光装置1であっても、リード電極20、30が剥がれにくくすることができる。
第1リード電極20の表面の凹凸を減らすには、リード電極20、30の表面を研磨等によって平坦にすることもできるが、Ag膜22の膜厚を厚くすることによっても達成することができる。しかしながら、Agは軟質材料であるので、Ag膜22の膜厚が厚くなり過ぎると膜内での剥離や亀裂が生じやすくなる。よって、Ag膜22の膜厚は、0.5μm〜20μmとするのがよい。Ag膜22が0.5μm以上であれば第1リード電極20の表面の凹凸を平坦にする効果が現れ、また20μm以下であれば膜内の剥離等が起こりにくい。さらに、Ag膜22の膜厚が1μm〜15μmであるとより好ましい。
リード電極20、30のアウターリード部20b、30bは、広義には「リード電極の外部電極と接続する部分」と解釈されるので、外部に露出しているリード電極部分は全てアウターリード部とすることもできる。つまり、本実施の形態のような発光装置1では、リード電極20、30の下面20d、30dもアウターリード部20b、30bとなりうる。第1のアウターリード部20bは、外部電極と電気的に接続されるとともに発光装置1内の熱を放熱する機能も有する。
パッケージ40は、耐熱性に優れた熱硬化性樹脂から形成するのが好ましい。本発明に適した熱硬化性樹脂は、硬化後の耐熱温度が100℃以上のものであり、例えば、トリアジン誘導体エポキシ樹脂、エポキシ樹脂、変性エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、変性シリコーン樹脂、アクリレート樹脂、ウレタン樹脂からなる群から選択される少なくとも1種により形成されるものが挙げられる。特に、トリアジン誘導体エポキシ樹脂を含有するエポキシ樹脂が好ましい。
使用される熱硬化性樹脂が透明な場合には、発光素子からの発光を効率よく反射するために光反射材を混入するのが好ましい。
本実施の形態では、パッケージ40の凹部43を開口方向に拡径して発光素子10の指向性の制御及び光取出しの向上を図っている。そのため、凹部43の側面42が傾斜している。凹部43の側面の傾斜を、底面41から凹部43の内部を通って側面42まで測定した傾斜角度θ(図2参照)により規定した場合、θ=95°〜150°が好ましく、特にθ=100°〜120°がより好ましい。これにより、広範囲の光源として使用しやすい指向性を有する発光装置1を得ることができる。なお、側面42を傾斜させなくてもよく、側面42を底面に対して垂直にした形態も好ましく利用できる。
凹部43の側面42の表面を平滑にすることもできるが、表面に凹凸を設ければパッケージ40と封止部材50との界面の密着性を向上する効果が期待できる。
パッケージ40の主面側の形状は矩形であるが、楕円、円形、五角形、六角形等とすることもできる。凹部43の主面側の形状は、楕円であるが、略円形、矩形、五角形、六角形等とすることも可能である。パッケージ40の表面には、発光素子10の正極の方向を示すためにカソードマークを付けることができる。
第1リード電極20と第2リード電極30との間には、パッケージ40の一部が介在しており、電極間の短絡を防止している。
本実施の形態では、発光装置1は表面実装用に使用することができるので、リード電極20、30の裏面側(アウターリード部20b、30b)が実質的に同一平面を形成していると、実装安定性を向上させることができる。また、発光装置1をリード電極20、30の裏面側で実装基板にハンダ付けする場合には、第1リード電極20と第2リード電極30との間にハンダが広がって短絡を起こす恐れがあるので、第1リード電極20と第2リード電極30との間に介在しているパッケージ40の一部(これを離間部材44と称する)の裏面側に、電気絶縁性の絶縁膜90を薄くコーティングするとよい。
共晶層70は、融点が200℃〜350℃のハンダ材料から成るのが好ましい。共晶層70の融点が200℃未満であると、発光装置1を点灯して使用している間に共晶層70の表面が酸化や硫化して変色してしまう。共晶層70が変色すると、発光素子からの発光の吸収率が上昇して、発光装置1内の温度上昇や発光装置1の発光強度の低下を誘発するので好ましくない。また、融点が350℃より高いと、パッケージ40に使用する熱硬化性樹脂の耐熱温度よりも高くなる可能性があり、後述する発光素子10の実装時において、共晶層70をリフローするための加熱によってパッケージ40が黄変する恐れがあるので好ましくない。
本発明では、発光素子の発光波長が、リード電極20、30によって吸収されやすく、且つAg膜22、32による反射率の高い場合に、発光装置1の温度上昇抑制効果や発光強度向上の効果が高い。よって、本発明は、発光波長が400nm〜530nmの発光素子10に好適である。そして、その発光波長領域において、パッケージ40の反射率が70%以上であるのが好ましい。パッケージ40の反射率が70%未満であると、パッケージ40が発光素子からの発光を吸収して、発光装置1内の温度上昇や発光装置1の発光強度の低下を誘発するので好ましくない。
本実施の形態では、パッケージ40の凹部43内部には、発光素子10を被覆するように封止部材50が充填されている。封止部材50は、外部環境からの外力や埃、水分などから発光素子10を保護するために設けられている。また、発光素子10と封止部材50との屈折率差を調節することにより、発光素子10から出射される光を効率よく外部に放出させることもできる。封止部材50は、パッケージ40の凹部43内に配置している。
封止部材50は、耐熱性に優れた熱硬化性樹脂を用いるのが好ましく、パッケージ40と同様に温度上昇による黄変を抑制することができる。また、封止部材50がパッケージ40に使用する熱硬化性樹脂と同等の又は近い物性を備えていると、封止部材50とパッケージ40との界面の密着性や、熱膨張時の剥離しにくさが向上するので好ましい。
封止部材50には、蛍光物質80を混入することができる。蛍光物質80は、発光装置1の発光色を発光素子10の発光色と異ならせたい場合に使用されるものである。例えば、青色発光する発光素子10と、青色光を吸収して黄色光を発光する発色蛍光物質80とを組み合わせると、補色の関係によって白色に発光する発光装置1を得ることができる。
蛍光物質80は、図2で模式的に図示されているように封止部材50の内部に均一に分散することもできる。しかしながら、一般的に使用される蛍光物質80は、封止部材50よりも比重が大きいので、蛍光物質80はパッケージ40の凹部43の底面41側に沈降した状態で封止部材50内に封入されている。
以下、各構成部材について詳述していく。
<発光素子10>
発光素子10は、基板上にGaAlN、ZnS、ZnSe、SiC、GaP、GaAlAs、AlN、InN、AlInGaP、InGaN、GaN、AlInGaN等の半導体を発光層として形成させたものが用いられる。半導体の構造としては、MIS接合、PIN接合やPN接合を有したホモ構造、ヘテロ構造あるいはダブルへテロ構成のものが挙げられる。半導体層の材料やその混晶度によって発光波長を紫外光から赤外光まで種々選択することができる。発光層は、量子効果が生ずる薄膜とした単一量子井戸構造や多重量子井戸構造としても良い。
屋外などでの使用を考慮する場合、高輝度な発光素子を形成可能な半導体材料として窒化ガリウム系化合物半導体を用いることが好ましく、また、赤色ではガリウム・アルミニウム・砒素系の半導体やアルミニウム・インジュウム・ガリウム・燐系の半導体を用いることが好ましいが、用途によって種々利用することもできる。
窒化ガリウム系化合物半導体を使用した場合、半導体基板にはサファイヤ、スピネル、SiC、Si、ZnOやGaN単結晶等の材料が用いられる。結晶性の良い窒化ガリウムを量産性良く形成させるためにはサファイヤ基板を用いることが好ましい。窒化物系化合物半導体を用いた発光素子10例を示す。サファイヤ基板上にGaN、AlN等のバッファー層を形成する。その上にN或いはP型のGaNである第1のコンタクト層、量子効果を有するInGaN薄膜である活性層、P或いはN型のAlGaNであるクラッド層、P或いはN型のGaNである第2のコンタクト層を順に形成した構成とすることができる。窒化ガリウム系化合物半導体は、不純物をドープしない状態でN型導電性を示す。なお、発光効率を向上させる等所望のN型窒化ガリウム半導体を形成させる場合は、N型ドーパントとしてSi、Ge、Se、Te、C等を適宜導入することが好ましい。
一方、P型窒化ガリウム半導体を形成させる場合は、P型ドーパンドであるZn、Mg、Be、Ca、Sr、Ba等をドープさせる。窒化ガリウム系半導体は、P型ドーパントをドープしただけではP型化しにくいためP型ドーパント導入後に、炉による加熱、低電子線照射やプラズマ照射等によりアニールすることでP型化させる必要がある。こうして形成された半導体ウエハーを部分的にエッチングなどさせ正負の各電極を形成させる。その後半導体ウエハーを所望の大きさに切断することによって発光素子を形成させることができる。
こうした発光素子10は、適宜複数個用いることができ、その組み合わせによって白色表示における混色性を向上させることもできる。例えば、緑色系が発光可能な発光素子10を2個、青色系及び赤色色系が発光可能な発光素子10をそれぞれ1個ずつとすることが出来る。なお、表示装置用のフルカラー発光装置として利用するためには赤色系の発光波長が610nmから700nm、緑色系の発光波長が495nmから565nm、青色系の発光波長が430nmから490nmであることが好ましい。本発明の表面実装型発光装置において白色系の混色光を発光させる場合は、蛍光物質からの発光波長との補色関係や透光性樹脂の劣化等を考慮して発光素子の発光波長は430nm以上530nm以下が好ましく、430nm以上490nm以下がより好ましい。発光素子と蛍光物質との励起、発光効率をそれぞれより向上させるためには、450nm以上475nm以下がさらに好ましい。なお、比較的紫外線により劣化されにくい部材との組み合わせにより400nmより短い紫外線領域或いは可視光の短波長領域を主発光波長とする発光素子を用いることもできる。
発光素子10の大きさは□600μmである。そのほか、□1mm、□450μm、□320μmサイズ等のものも実装可能である。
<パッケージ40>
パッケージ40の材質は熱硬化性樹脂の硬化物である。熱硬化性樹脂のうち、エポキシ樹脂、変性エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、変性シリコーン樹脂、アクリレート樹脂、ウレタン樹脂からなる群から選択される少なくとも1種により形成することが好ましく、特にエポキシ樹脂、変性エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、変性シリコーン樹脂が好ましい。例えば、トリグリシジルイソシアヌレート(化1)、水素化ビスフェノールAジグリシジルエーテル(化2)他よりなるエポキシ樹脂と、ヘキサヒドロ無水フタル酸(化3)、3−メチルヘキサヒドロ無水フタル酸(化4)、4−メチルヘキサヒドロ無水フタル酸(化5)他よりなる酸無水物とを、エポキシ樹脂へ当量となるよう溶解混合した無色透明な混合物100重量部へ、硬化促進剤としてDBU(1,8-Diazabicyclo(5,4,0) undecene-7)(化6)を0.5重量部、助触媒としてエチレングリコール(化7)を1重量部、酸化チタン顔料を10重量部、ガラス繊維を50重量部添加し、加熱により部分的に硬化反応させBステージ化した固形状エポキシ樹脂組成物を使用することができる。
Figure 2008111504
Figure 2008111504
Figure 2008111504
Figure 2008111504
Figure 2008111504
Figure 2008111504
Figure 2008111504
パッケージ40は、パッケージとしての機能を有するため硬質のものが好ましい。また、パッケージ40は透光性の有無を問わないが、用途等に応じて適宜設計することは可能である。例えば、パッケージ40に遮光性物質を混合して、パッケージ40を透過する光を低減することができる。一方、表面実装型発光装置からの光が主に前方及び側方に均一に出射されるように、フィラーや拡散剤を混合しておくこともできる。また、光の吸収を低減するために、暗色系の顔料よりも白色系の顔料を添加しておくこともできる。このように、パッケージ40は、所定の機能を持たせるため、フィラー、拡散剤、顔料、蛍光物質、反射性物質、遮光性物質からなる群から選択される少なくとも1種を混合することもできる。
<第1リード電極20及び第2リード電極30>
第1リード電極20及び第2リード電極30は、鉄、リン青銅、銅合金等の電気良導体を用いて構成することができる。また、発光素子10からの光の反射率を向上させるため、第1リード電極20及び第2リード電極30の表面に銀、アルミニウム、銅や金等の金属メッキを施すこともできる。また、第1リード電極20及び第2リード電極30の表面の反射率を向上させるため、平滑にすることが好ましい。また、放熱性を向上させるため第1リード電極20及び第2リード電極300の面積は大きくすることができる。これにより発光素子10の温度上昇を効果的に抑えることができ、発光素子10に比較的多くの電気を流すことができる。また、第1リード電極20及び第2リード電極30を肉厚にすることにより放熱性を向上することができる。この場合、第1リード電極20及び第2リード電極30を折り曲げるなどの成形工程が困難であるため、所定の大きさに切断する。また、第1リード電極20及び第2リード電極30を肉厚にすることにより、第1リード電極20及び第2リード電極30のたわみが少なくなり、発光素子10の実装をし易くすることができる。これとは逆に、第1リード電極20及び第2リード電極30を薄い平板状とすることにより折り曲げる成形工程がし易くなり、所定の形状に成形することができる。
第1リード電極20及び第2リード電極30は、一対の正負の電極である。第1リード電極20及び第2リード電極30は、少なくとも1つずつあれば良いが、複数設けることもできる。また、第1リード電極20に複数の発光素子10を載置する場合は、複数の第2リード電極30を設ける必要もある。
<封止部材50>
封止部材50の材質は熱硬化性樹脂である。熱硬化性樹脂のうち、エポキシ樹脂、変性エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、変性シリコーン樹脂、アクリレート樹脂、ウレタン樹脂からなる群から選択される少なくとも1種により形成することが好ましく、特にエポキシ樹脂、変性エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、変性シリコーン樹脂が好ましい。封止部材50は、発光素子10を保護するため硬質のものが好ましい。また、封止部材50は、耐熱性、耐候性、耐光性に優れた樹脂を用いることが好ましい。封止部材50は、所定の機能を持たせるため、フィラー、拡散剤、顔料、蛍光物質、反射性物質からなる群から選択される少なくとも1種を混合することもできる。封止部材50中には拡散剤を含有させても良い。具体的な拡散剤としては、チタン酸バリウム、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化珪素等を好適に用いることができる。また、所望外の波長をカットする目的で有機や無機の着色染料や着色顔料を含有させることができる。さらに、封止部材50は、発光素子10からの光を吸収し、波長変換する蛍光物質80を含有させることもできる。
<蛍光物質80>
蛍光物質80は、発光素子10からの光を吸収し異なる波長の光に波長変換するものであればよい。例えば、Eu、Ce等のランタノイド系元素で主に賦活される窒化物系蛍光体・酸窒化物系蛍光体・サイアロン系蛍光体、Eu等のランタノイド系、Mn等の遷移金属系の元素により主に付活されるアルカリ土類ハロゲンアパタイト蛍光体、アルカリ土類金属ホウ酸ハロゲン蛍光体、アルカリ土類金属アルミン酸塩蛍光体、アルカリ土類ケイ酸塩、アルカリ土類硫化物、アルカリ土類チオガレート、アルカリ土類窒化ケイ素、ゲルマン酸塩、又は、Ce等のランタノイド系元素で主に付活される希土類アルミン酸塩、希土類ケイ酸塩又はEu等のランタノイド系元素で主に賦活される有機及び有機錯体等から選ばれる少なくともいずれか1以上であることが好ましい。具体例として、下記の蛍光体を使用することができるが、これに限定されない。
Eu、Ce等のランタノイド系元素で主に賦活される窒化物系蛍光体は、MSi:Eu、CaAlSiN:Eu(Mは、Sr、Ca、Ba、Mg、Znから選ばれる少なくとも1種以上である。)などがある。また、MSi:EuのほかMSi10:Eu、M1.8Si0.2:Eu、M0.9Si0.110:Eu(Mは、Sr、Ca、Ba、Mg、Znから選ばれる少なくとも1種以上である。)などもある。
Eu、Ce等のランタノイド系元素で主に賦活される酸窒化物系蛍光体は、MSi:Eu(Mは、Sr、Ca、Ba、Mg、Znから選ばれる少なくとも1種以上である。)などがある。
Eu、Ce等のランタノイド系元素で主に賦活されるサイアロン系蛍光体は、Mp/2Si12−p−qAlp+q16−p:Ce、M−Al−Si−O−N(Mは、Sr、Ca、Ba、Mg、Znから選ばれる少なくとも1種以上である。qは0〜2.5、pは1.5〜3である。)などがある。
Eu等のランタノイド系、Mn等の遷移金属系の元素により主に付活されるアルカリ土類ハロゲンアパタイト蛍光体には、M(POX:R(Mは、Sr、Ca、Ba、Mg、Znから選ばれる少なくとも1種以上である。Xは、F、Cl、Br、Iから選ばれる少なくとも1種以上である。Rは、Eu、Mn、EuとMn、のいずれか1以上である。)などがある。
アルカリ土類金属ホウ酸ハロゲン蛍光体には、MX:R(Mは、Sr、Ca、Ba、Mg、Znから選ばれる少なくとも1種以上である。Xは、F、Cl、Br、Iから選ばれる少なくとも1種以上である。Rは、Eu、Mn、EuとMn、のいずれか1以上である。)などがある。
アルカリ土類金属アルミン酸塩蛍光体には、SrAl:R、SrAl1425:R、CaAl:R、BaMgAl1627:R、BaMgAl1612:R、BaMgAl1017:R(Rは、Eu、Mn、EuとMn、のいずれか1以上である。)などがある。
アルカリ土類硫化物蛍光体には、LaS:Eu、YS:Eu、GdS:Euなどがある。
Ce等のランタノイド系元素で主に賦活される希土類アルミン酸塩蛍光体には、YAl12:Ce、(Y0.8Gd0.2Al12:Ce、Y(Al0.8Ga0.212:Ce、(Y,Gd)(Al,Ga)12の組成式で表されるYAG系蛍光体などがある。また、Yの一部若しくは全部をTb、Lu等で置換したTbAl12:Ce、LuAl12:Ceなどもある。
その他の蛍光体には、ZnS:Eu、ZnGeO:Mn、MGa:Eu(Mは、Sr、Ca、Ba、Mg、Znから選ばれる少なくとも1種以上である。Xは、F、Cl、Br、Iから選ばれる少なくとも1種以上である。)などがある。
上述の蛍光体は、所望に応じてEuに代えて、又は、Euに加えてTb、Cu、Ag、Au、Cr、Nd、Dy、Co、Ni、Tiから選択される1種以上を含有させることもできる。
また、上記蛍光体以外の蛍光体であって、同様の性能、効果を有する蛍光体も使用することができる。
これらの蛍光体は、発光素子10の励起光により、黄色、赤色、緑色、青色に発光スペクトルを有する蛍光体を使用することができるほか、これらの中間色である黄色、青緑色、橙色などに発光スペクトルを有する蛍光体も使用することができる。これらの蛍光体を種々組み合わせて使用することにより、種々の発光色を有する表面実装型発光装置を製造することができる。
例えば、青色に発光するGaN系化合物半導体を用いて、YAl12:Ce若しくは(Y0.8Gd0.2Al12:Ceの蛍光物質に照射し、波長変換を行う。発光素子10からの光と、蛍光体80からの光との混合色により白色に発光する表面実装型発光装置を提供することができる。
例えば、緑色から黄色に発光するCaSi:Eu、又はSrSi:Euと、蛍光体である青色に発光する(Sr,Ca)(POCl:Eu、赤色に発光する(Ca,Sr)Si:Euと、からなる蛍光体80を使用することによって、演色性の良好な白色に発光する表面実装型発光装置を提供することができる。これは、色の三源色である赤・青・緑を使用しているため、第1の蛍光体及び第2の蛍光体の配合比を変えることのみで、所望の白色光を実現することができる。
(その他)
表面実装型発光装置には、さらに保護素子としてツェナーダイオードを設けることもできる。ツェナーダイオードは、発光素子10と離れて凹部43の底面41の第1リード電極20に載置することができる。また、ツェナーダイオードは、凹部43の底面41の第1リード電極20に載置され、その上に発光素子10を載置する構成を採ることもできる。□280μmサイズの他、□300μmサイズ等も使用することができる。
ワイヤ60は、発光素子10の第2の電極12と第2リード電極30、発光素子10の第1の電極11と第1リード電極20、を電気的に接続するものである。ワイヤ60は、発光素子10の電極とのオーミック性、機械的接続性、電気伝導性及び熱伝導性が良いものが求められる。熱伝導率として0.01cal/(S)(cm)(℃/cm)以上が好ましく、より好ましくは0.5cal/(S)(cm)(℃/cm)以上である。発光素子10の直上から、メッキを施した配線パターンのワイヤボンディングエリアまで、ワイヤを張り、導通を取っている。
<表面実装型発光装置の製造方法>
図3A〜図3Eを参照しながら、本発明に係る発光装置の製造方法について説明する。
(1.リード電極20、30の形成)
まず、第1リード電極20及び第2リード電極30の表面にAg膜を被覆する。Ag膜の被覆方法としては、電気Agメッキ法、無電解Agメッキ法、PVD法、CVD法などを用いることができる。特に、コスト、品質のバランスから、電気Agメッキが好ましい。本明細書では、「電気Agメッキ法」とは、金属イオンを含む電解溶液中でリード電極を陰極として通電し、リード電極の表面にAg(必要に応じて下地用の金属)を電析させることを指す。電気Agメッキ法の詳細を以下に説明する。
まず、リード電極20、30をアルカリ浸漬脱脂溶液・アルカリ電解脱脂溶液に浸漬し、油分を除去する。次いで、リード電極20、30を酸溶液に浸漬し、酸化膜を除去する。必要に応じて、アルカリ中和溶液に浸漬して中和する。その後、Agメッキ前の下地処理として、電気Cuストライクメッキ、電気Cuメッキ、及び電気Agストライクメッキ等を行う。各下地処理に適した電解溶液にリード電極20、30を順次浸漬し、表面に下地金属を電析させる。そして、下地処理が完了したリード電極20、30を、Agメッキ用の電解溶液に浸漬してAgを電析させる。なお、各電解溶液で電析を行った後には、リード電極20、30を純水で洗浄する。最後のAgメッキ後の純水洗浄を行った後、リード電極20、30を乾燥させる。
この一連の工程により、リード電極20、30の表面には、Ag膜22、32が被覆される。
(2.金型120、121によるリード電極20、30の挟持)
図3A及び図3Bに図示するように、Ag膜を被覆した面を上側にして、第1リード電極20と第2リード電極30を、上金型120と下金型121とで上下から挟み込む。上金型120はパッケージ40の形状に対応した内部空隙122と、パッケージの凹部を形成するための凸部123とを備えている。ここで、パッケージ40に使用される熱硬化性樹脂は型流れがよく、第1リード電極20及び第2リード電極30と凸部123との隙間に侵入することがある。熱硬化性樹脂が第1リード電極20及び第2リード電極30の上面に付着すると、それらのリード電極20、30の表面に絶縁膜を形成してしまうので、そのような熱硬化性樹脂の侵入は好ましくない。そこで、リード電極20、30の裏面を下金型121で押し上げて、凸部123に前記第1リード電極20及び前記第2リード電極30を押し当てるのがよい。
なお、この例では下金型は平坦になっているが、パッケージ40の種類によっては内部空隙を備えることもできる。その場合には、下金型121によりリード電極20、30を押し上げにくくなるので、下金型の一部に押し上げ用の突条部材を設けたり、又は下金型を貫通する別部材を設けてリード電極20、30を押し上げたりすることができる。
(3.パッケージの成型)
図3Cに図示するように、上金型120の空隙122に熱硬化性樹脂を注入し、加熱硬化してパッケージを成型する。熱硬化性樹脂の注入方法として、トランスファ・モールドを利用できる。
トランスファ・モールドは、所定の大きさを有するペレット状の熱硬化性樹脂を所定の容器に入れる。その所定の容器に圧力を加える。その所定の容器から繋がる上金型120と下金型121とで挟み込まれた凹み部分に、溶融状態の熱硬化性樹脂を流し込む。上金型120と下金型121とを所定の温度に温め、その流し込まれた熱硬化性樹脂を硬化する。この一連の工程をトランスファ・モールドという。
第1リード電極20及び第2リード電極30は、金型で挟み込まれているので、熱硬化性樹脂を流し込む際にリード電極20、30がばたつくことがなく、バリの発生を抑制できる。
(4.バリ取り工程)
成型後のパッケージ40は、パッケージ40の外周や凹部43の内部にバリが発生する場合がある。これらのバリは、発光素子10を実装する前に除去される。バリの除去には、電解処理、ケミカルディッピング、ドライブラスト、ウォータージェット、液体ホーニングなどのバリ取り除去関連装置を組み合わせて用いることができる。
(5.共晶層70の成膜)
加熱硬化が終わったパッケージ40は、上金型120及び下金型121から取り外されて、発光素子10等が実装される。発光素子10の実装に先立って、発光素子10の裏面に、金属のハンダ材料から成る共晶層70を成膜しておく。共晶層70の成膜方法としては、ペースト材を使用した印刷、ディスペンス、転写、プリフォーム、箔成形、メタライズ、ボール形成などがある。
(6.発光素子10の実装)
図3Dのように、パッケージ40の凹部43の内部に、発光素子10を配置する。このとき、発光素子10の共晶層70が、第1リード電極20の上面に接触するよう発光素子10を配置しなくてはならない。パッケージ40ごと加熱処理して共晶層70を溶融(リフロー)し、その後に放冷すると発光素子10は第1リード電極20の表面に固定される。
そして、発光素子10の電極11、12と、第1リード電極20及び第2リード電極30とを導電ワイヤ60によって、電気的に接続する。
(7.封止部材50の充填)
発光素子10の固定後に、凹部43内に封止部材50用の熱硬化性樹脂を充填する。熱硬化性樹脂の充填は、滴下手段や射出手段、押出手段などにより行うが、特に滴下手段を用いることが好ましい。滴下手段では、熱硬化性樹脂の充填と同時に、凹部43内に残存する空気を効果的に追い出すことができるからである。熱硬化性樹脂には蛍光物質80を混合しておくことが好ましい。これにより発光装置の色調調整を容易に行うことができる。
注入が完了したら、熱硬化性樹脂を加熱硬化して封止部材50を形成する。
<実施例1〜10、比較例1〜6>
(1.原料の配合)
表1〜表3の配分に沿って各試料を調整する。表中の各符号は以下の材料を示している。
(A)エポキシ樹脂
(A1)トリアジン誘導体エポキシ樹脂
トリス(2,3−エポキシプロピル)イソシアネート(TEPIC−S:日産化学(株)製商品名、エポキシ当量100)
(A2)水素添加エポキシ樹脂
ビスフェノールA型水素添加エポキシ樹脂(YL−7170:ジャパンエポキシレジン(株)製商品名、エポキシ当量1200)
(A3)その他の芳香族エポキシ樹脂
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(E1004:ジャパンエポキシレジン(株)製商品名、エポキシ当量890)
(B)酸無水物
(B1)非炭素炭素二重結合酸無水物;メチルヘキサヒドロ無水フタル酸(リカシッドMH:新日本理化(株)製商品名)
(B2)含炭素炭素二重結合酸無水物;テトラヒドロ無水フタル酸(リカシッドTH:新日本理科(株)製商品名)
(C)酸化防止剤
(C1)リン系酸化防止剤;亜リン酸トリフェニル(和光純薬(株)製商品名)
(C2)フェノール系酸化防止剤;2,6−ジ−t−ブチル−p−クレゾール(BHT:和光純薬(株)製商品名)
(D)二酸化チタン;ルチル型(タイペーク、CR−90:石原産業(株)製商品名)
(E)無機充填剤;破砕溶融シリカ((株)龍森製商品名)
(F)硬化触媒
(F1)リン系硬化触媒;メチル−トリブチルホスホニウム−ジメチルホスフェイト(PX−4MP:日本化学(株)製商品名)
(F2)イミダゾール系触媒;2−エチル−4−メチルイミダゾール(2E4MZ:四国化成(株)製商品名)
Figure 2008111504
Figure 2008111504
Figure 2008111504
(2.測定用試料の作製)
まず、(A)エポキシ樹脂、(B)酸無水物及び(C)酸化防止剤を、予め反応釜により80℃にて5時間溶融混合し、冷却固化させた後に粉砕する。粉砕した混合物に、(D)光反射剤、(E)無機充填剤、及び(F)硬化触媒を所定の組成比にて配合し、熱2本ロールにて均一に溶融混合し、冷却、粉砕してパッケージ40用の熱硬化性樹脂を調整した。
銅合金よりなるリードフレームの表面にAg膜を成膜し、金型で挟持し、上記で調整した熱硬化性樹脂をトランスファ・モールドにより金型内に注入して、パッケージ40を成型した。発光素子10には、青色発光ダイオード(サファイヤ基板上にInGaNの発光層を有する半導体層を積層して形成)を使用し、融点の異なる複数種類のハンダ材料を用いて第1リード電極20に実装する。
なお、表1〜表3の配分におけるハンダ材料の各符号は以下の材料を示している。
(G)ハンダ材料
ハンダ材料としては、Sn−Pb(融点285℃)、Au−Sn(融点282℃)、Sn−Ag−Cu(融点220℃)、Sn−Ag−Cu−x(x=Bi、In、Ge、Ni、融点200〜230℃)、Sn−Znがあげられる。
(G1)Au−Sn(融点282℃)
(G2)Sn−Pb(融点285℃)
(G3)Sn−Ag−Cu(融点220℃)
(G4)Sn−Pb(融点183℃)
(G5)Au−Si(融点363℃)
発光素子10とリード電極20、30との導通には、直径30μの金線ワイヤを用いた。その後、パッケージ40の凹部43に封止部材50用の熱硬化性樹脂を滴下する。熱硬化性樹脂には、シリコーン樹脂100重量部に対しYAG蛍光体30重量部と酸化珪素よりなる光拡散剤5重量部を含むものを使用し、室温から150℃まで3時間かけ昇温、150℃で5時間硬化させる。最後にリードフレームより切り出しを行い、白色発光の発光装置1を得る。
(3.発光装置の評価)
発光素子10の実装によるパッケージ40の黄変について目視にて観察した。その結果、共晶層70に融点363℃のハンダ材料を用いた比較例3において、黄変が確認された。これは、ハンダ材料を溶融させるための加熱温度が高く、その温度では、熱硬化性エポキシ樹脂の硬化物が、酸化劣化して黄変してしまったためである。
(4.加熱実験)
パッケージ40に使用した原料を用いて試料片を作製し、加熱下での変色の有無を調べた。試料片は、175℃、6.9N/mm、成型時間2minの条件で、直径50×3mmの円盤状に成型した。この試料片を180℃で24時間放置し、黄変性を比較したところ、比較例4及び5の試料に黄変が確認された。この実験により、トリアジン誘導体エポキシ樹脂を含まない熱硬化性エポキシ樹脂では、樹脂の耐熱性が低いため、180℃程度の温度であっても黄変することがわかった。
(5.点灯実験)
実施例及び比較例の発光装置1を長時間点灯させたときの共晶層70の変色とパッケージの黄変性とを調べた。点灯実験は、85℃−85%RHで、1000hrの条件で行った。実験後の試料の観察では、共晶層70の変色確認は、発光素子10を剥がした後に光学顕微鏡で観察し、パッケージ40の黄変観察は目視で確認した。
共晶層70に変色が確認されたのは、共晶層70に融点183℃のハンダ材料を用いた比較例2であった。ハンダ材料の融点が、約200℃以下になると、ハンダ材料が酸化劣化しやすくなり、黄変しやすくなるためと考えられる。
また、パッケージ40に黄変が確認されたのは、比較例1、4及び5であった。
比較例1のAg層は厚みが薄いことから、Agの結晶性が悪くて容易に酸化劣化して着色する可能性、又は、Ag膜の下地としてメッキしたCuがAg膜の表面に拡散して酸化銅になり、Ag膜の表面が変色した可能性がある。Ag膜の表面が着色すると、発光素子からの発光を吸収して熱に変換し、パッケージ内の温度上昇を助長する。その結果、パッケージが、若干黄変したと考えられる。
比較例4及び5は、熱硬化性エポキシ樹脂の耐熱性が低いため、樹脂が酸化劣化し、パッケージが黄変したと考えられる。
(6.シェア強度測定)
発光素子10と第1リード電極20との接合力を調べるために、シェア強度を測定した。測定には、シェアテスターを使用した。まず、サンプルをシェアテスターのステージに固定し、次に、シェアツールを所定の位置にセットして、シェアツールを移動させて発光素子を剥がす。シェアツールにかかる強度を測定し、剥離時の強度(ピーク強度)をシェア強度とした。
実施例で使用した□600μmの発光素子10の場合、望まれるシェア強度は1.0kgf〜8.0kgfである。このシェア強度を満たさなかった比較例1は、メッキ表面が平坦でなく、共晶接合部分に気泡が多く含まれ、接合強度が低くなったと考えられる。
(7.平坦度の測定)
レーザー式の測定顕微鏡を使用して、リード電極22のうち、発光素子10を実装する領域の平坦度を測定した。実装領域の3隅を計測し、その3隅を含む面を基準面としたときの実装エリアの中央の高さを平坦度とした。
この測定結果と、シェア強度及びパッケージの変色との関係をみると、Ag膜の平坦度が大きくなる(すなわち、表面が粗くなる)と、シェア強度が低下する傾向がみられる。平坦度の小さい(すなわち、表面の滑らかな)実施例8では、パッケージの黄変なく、シェア強度も高い。平坦度が55μmと大きくなっている比較例6では、パッケージの黄変が確認された。これは、平坦度が大きすぎた結果、発光素子とリード電極との間に十分な接合面積が得られず、発光素子の放熱性が悪化して黄変したと考えられる。さらに、比較例6の試料は、シェア強度も小さい。
平坦度は、チップの寸法によって影響の程度が異なると考えられる。例えば、同じ平坦度(同じ凹凸の状態)であっても、大寸法のチップに比べて小寸法のチップのほうが、平坦度の影響を受けやすい。そこで、平坦度をチップ寸法によって規格化した相対平坦度αを、実施例及び比較例の各々について求めた。ここで、相対平坦度α(%)とは、α=(平坦度(μm)/発光素子のサイズ(μm))×100として算出した。「発光素子のサイズ」とは、発光素子が正方形の場合には発光素子の底面の一辺の長さを指し、発光素子が長方形の場合には長辺の長さを指すものとする。
相対平坦度αが最も小さいのは、α=0.1%(実施例8)であり、シェア強度は3.4kgfと高く、パッケージの黄変もない。α=1.7(実施例1〜7)、α=3.3(実施例9)、及びα=8.3(実施例10)では、パッケージの黄変は見られないが、α=9.2(比較例6)では、パッケージの黄変が確認された。また、α=9.2の比較例6は、シェア強度も低い。このことから、相対平坦度αは約9%以下であるのが好ましいと考えられる。
本発明の表面実装型発光装置は、照明器具、ディスプレイ、携帯電話のバックライト、カメラのフラッシュライト、動画照明補助光源などに利用することができる。

Claims (8)

  1. 発光素子と、
    熱硬化性樹脂から形成され、前記発光素子を実装する凹部を有するパッケージと、
    前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子が載置される第1リード電極と、
    前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子と電気的に接続される第2リード電極と、を備えた発光装置であって、
    前記発光素子が、共晶層を介して前記第1リード電極に共晶接合され、
    少なくとも前記第1リード電極の表面がAg膜によって被覆されており、
    前記Ag膜の膜厚が、0.5μm〜20μmであることを特徴とする発光装置。
  2. 前記Ag膜の膜厚が、1μm〜15μmであることを特徴とする請求項1に記載の発光装置。
  3. 発光素子と、
    熱硬化性樹脂から形成され、前記発光素子を実装する凹部を有するパッケージと、
    前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子が載置される第1リード電極と、
    前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子と電気的に接続される第2リード電極と、を備えた発光装置であって、
    前記発光素子が、共晶層を介して前記第1リード電極に共晶接合され、
    少なくとも前記第1リード電極の表面がAg膜によって被覆されており、
    前記第1リード電極及び前記第2リード電極の表面のうち、前記発光素子と接合する領域の平坦度が0.001〜50μmであることを特徴とする発光装置。
  4. 前記共晶層は、融点が200℃〜350℃のハンダ材料から成ることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の発光装置。
  5. 前記パッケージが、トリアジン誘導体エポキシ樹脂を含むエポキシ樹脂を含有する熱硬化性エポキシ樹脂組成物の硬化物から成型されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の発光装置。
  6. 前記パッケージは、波長430nm以上の光に対する反射率が70%以上であり、
    前記発光素子は、発光ピーク波長が430nm〜530nmであることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の発光装置。
  7. 前記発光装置が、さらに発光素子を封止する透光性の封止部材を備えており、
    前記封止部材が、熱硬化性樹脂から成ることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の発光装置。
  8. 発光素子と、
    熱硬化性樹脂から形成され、前記発光素子を実装する凹部を有するパッケージと、
    前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子が載置される第1リード電極と、
    前記パッケージの凹部の底面から露出し、前記発光素子と電気的に接続される第2リード電極と、
    少なくとも前記第1リード電極の表面を被覆するAg膜と、
    前記発光素子と、前記第1リード電極との間に介在された共晶層と、を備えた発光装置の製造方法であって、
    前記第1リード電極の表面にAg膜を被覆する工程と、
    前記パッケージの形状に対応した内部空隙を備えた上金型及び下金型によって前記第1リード電極と前記第2リード電極とを挟持し、パッケージの凹部を形成するために前記上金型に備えられた凸部に前記第1リード電極及び前記第2リード電極を押し当てる工程と、
    前記上金型及び前記下金型の内部空隙に熱硬化性樹脂を注入し、加熱硬化してパッケージを形成する工程と、
    前記発光素子の裏面に、金属のハンダ材料から成る前記共晶層を成膜する工程と、
    前記形成したパッケージの前記凹部の内部に、前記共晶層が前記第1リード電極の上面に接触するよう前記発光素子を載置し、前記共晶層を加熱溶融して前記発光素子を前記第1リード電極に固定する工程と、
    前記発光素子と前記第1リード電極及び前記第2リード電極とが、電気的に接続される工程と、を含むことを特徴とする発光素子の製造方法。
JP2008530258A 2007-03-12 2008-03-07 高出力発光装置及びそれに用いるパッケージ Pending JPWO2008111504A1 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007061599 2007-03-12
JP2007061599 2007-03-12
PCT/JP2008/054138 WO2008111504A1 (ja) 2007-03-12 2008-03-07 高出力発光装置及びそれに用いるパッケージ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPWO2008111504A1 true JPWO2008111504A1 (ja) 2010-06-24

Family

ID=39759443

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008530258A Pending JPWO2008111504A1 (ja) 2007-03-12 2008-03-07 高出力発光装置及びそれに用いるパッケージ

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8610143B2 (ja)
JP (1) JPWO2008111504A1 (ja)
KR (1) KR20090124906A (ja)
TW (1) TWI459584B (ja)
WO (1) WO2008111504A1 (ja)

Families Citing this family (68)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007135707A1 (ja) 2006-05-18 2007-11-29 Nichia Corporation 樹脂成形体及び表面実装型発光装置並びにそれらの製造方法
KR100901618B1 (ko) * 2007-04-19 2009-06-08 엘지이노텍 주식회사 발광 다이오드 패키지 및 제조방법
US10008637B2 (en) 2011-12-06 2018-06-26 Cree, Inc. Light emitter devices and methods with reduced dimensions and improved light output
KR101372616B1 (ko) 2008-09-30 2014-03-11 히타치가세이가부시끼가이샤 코트제, 이것을 사용한 광반도체 소자 탑재용 기판 및 광반도체 장치
JP2010095633A (ja) * 2008-10-16 2010-04-30 Omron Corp 接着方法、接着構造、光学モジュールの製造方法および光学モジュール
JP5363789B2 (ja) * 2008-11-18 2013-12-11 スタンレー電気株式会社 光半導体装置
KR101018191B1 (ko) * 2008-11-27 2011-02-28 삼성엘이디 주식회사 세라믹 패키지 및 이를 구비하는 헤드램프 모듈
TWI426206B (zh) * 2008-12-25 2014-02-11 Au Optronics Corp 發光二極體裝置
JP5482293B2 (ja) * 2009-03-05 2014-05-07 日亜化学工業株式会社 光半導体装置及びその製造方法
JP6133004B2 (ja) * 2009-03-31 2017-05-24 日立化成株式会社 光反射用熱硬化性樹脂組成物、光半導体素子搭載用基板及びその製造方法、並びに光半導体装置
JP2010263133A (ja) * 2009-05-11 2010-11-18 Furukawa Electric Co Ltd:The 発光ダイオード装置および発光ダイオード装置の製造方法
JP2011009346A (ja) * 2009-06-24 2011-01-13 Shin-Etsu Chemical Co Ltd 光半導体装置
JP2011060819A (ja) * 2009-09-07 2011-03-24 Nitto Denko Corp 光半導体素子収納用実装パッケージ用樹脂組成物およびそれを用いて得られる光半導体発光装置
JP5381585B2 (ja) * 2009-09-30 2014-01-08 凸版印刷株式会社 Led発光素子用リードフレームの製造方法、及びledパッケージの製造方法
KR100986397B1 (ko) * 2010-02-08 2010-10-08 엘지이노텍 주식회사 발광 장치
KR101192181B1 (ko) * 2010-03-31 2012-10-17 (주)포인트엔지니어링 광 소자 디바이스 및 그 제조 방법
KR20110111243A (ko) * 2010-04-02 2011-10-10 아사히 가라스 가부시키가이샤 발광 소자 탑재 기판 및 이 기판을 사용한 발광 장치
KR101662239B1 (ko) * 2010-04-28 2016-10-04 엘지이노텍 주식회사 발광 소자, 그 제조 방법 및 발광 소자 패키지
EP2629342B1 (en) * 2010-10-22 2014-09-17 Panasonic Corporation Unsaturated polyester resin composition for use in led reflector, and led reflector and led luminaire using said composition
USD721339S1 (en) 2010-12-03 2015-01-20 Cree, Inc. Light emitter device
USD707192S1 (en) 2010-11-18 2014-06-17 Cree, Inc. Light emitting device
USD712850S1 (en) 2010-11-18 2014-09-09 Cree, Inc. Light emitter device
US8564000B2 (en) 2010-11-22 2013-10-22 Cree, Inc. Light emitting devices for light emitting diodes (LEDs)
US9000470B2 (en) 2010-11-22 2015-04-07 Cree, Inc. Light emitter devices
US9300062B2 (en) 2010-11-22 2016-03-29 Cree, Inc. Attachment devices and methods for light emitting devices
US8575639B2 (en) 2011-02-16 2013-11-05 Cree, Inc. Light emitting devices for light emitting diodes (LEDs)
US8624271B2 (en) * 2010-11-22 2014-01-07 Cree, Inc. Light emitting devices
US9490235B2 (en) 2010-11-22 2016-11-08 Cree, Inc. Light emitting devices, systems, and methods
USD706231S1 (en) 2010-12-03 2014-06-03 Cree, Inc. Light emitting device
US20120193671A1 (en) * 2011-02-01 2012-08-02 Chi Mei Lighting Technology Corp. Light-emitting diode device and method for manufacturing the same
USD702653S1 (en) 2011-10-26 2014-04-15 Cree, Inc. Light emitting device component
US8809880B2 (en) 2011-02-16 2014-08-19 Cree, Inc. Light emitting diode (LED) chips and devices for providing failure mitigation in LED arrays
US8455908B2 (en) 2011-02-16 2013-06-04 Cree, Inc. Light emitting devices
JP2012175030A (ja) * 2011-02-24 2012-09-10 Nitto Denko Corp 光半導体素子収納用実装パッケージ用樹脂組成物およびそれを用いて得られる光半導体発光装置
US10211380B2 (en) 2011-07-21 2019-02-19 Cree, Inc. Light emitting devices and components having improved chemical resistance and related methods
US10686107B2 (en) 2011-07-21 2020-06-16 Cree, Inc. Light emitter devices and components with improved chemical resistance and related methods
JP2014525146A (ja) 2011-07-21 2014-09-25 クリー インコーポレイテッド 発光デバイス、パッケージ、部品、ならびに改良された化学抵抗性のための方法および関連する方法
US9142743B2 (en) 2011-08-02 2015-09-22 Kabushiki Kaisha Toshiba High temperature gold-free wafer bonding for light emitting diodes
USD705181S1 (en) 2011-10-26 2014-05-20 Cree, Inc. Light emitting device component
KR20140097284A (ko) 2011-11-07 2014-08-06 크리,인코포레이티드 고전압 어레이 발광다이오드(led) 장치, 기구 및 방법
US9496466B2 (en) 2011-12-06 2016-11-15 Cree, Inc. Light emitter devices and methods, utilizing light emitting diodes (LEDs), for improved light extraction
JP2013179271A (ja) * 2012-01-31 2013-09-09 Rohm Co Ltd 発光装置および発光装置の製造方法
US9240530B2 (en) 2012-02-13 2016-01-19 Cree, Inc. Light emitter devices having improved chemical and physical resistance and related methods
US9343441B2 (en) 2012-02-13 2016-05-17 Cree, Inc. Light emitter devices having improved light output and related methods
US10134961B2 (en) 2012-03-30 2018-11-20 Cree, Inc. Submount based surface mount device (SMD) light emitter components and methods
US9735198B2 (en) 2012-03-30 2017-08-15 Cree, Inc. Substrate based light emitter devices, components, and related methods
CN103367565A (zh) * 2012-04-06 2013-10-23 展晶科技(深圳)有限公司 发光二极管封装方法
JP5167424B1 (ja) * 2012-04-18 2013-03-21 積水化学工業株式会社 光半導体装置用白色硬化性組成物及び光半導体装置用成形体
US20140023430A1 (en) * 2012-07-19 2014-01-23 Apple Inc. Attachment Techniques
US9345091B2 (en) 2013-02-08 2016-05-17 Cree, Inc. Light emitting device (LED) light fixture control systems and related methods
JP2013153175A (ja) * 2013-02-26 2013-08-08 Shin Etsu Chem Co Ltd 封止樹脂の変色抑制方法
TWI529971B (zh) * 2013-04-08 2016-04-11 逢甲大學 發光裝置及其操作與製造方法
CN104103748B (zh) * 2013-04-10 2016-12-07 重庆市路迪机械厂 发光二极管封装结构及其制造方法
USD740453S1 (en) 2013-06-27 2015-10-06 Cree, Inc. Light emitter unit
USD739565S1 (en) 2013-06-27 2015-09-22 Cree, Inc. Light emitter unit
JP6204088B2 (ja) * 2013-07-02 2017-09-27 エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 半導体装置
KR101501020B1 (ko) * 2014-02-17 2015-03-13 주식회사 루멘스 발광 소자 패키지, 백라이트 유닛, 조명 장치 및 발광 소자 패키지의 제조 방법
KR102199986B1 (ko) * 2014-02-17 2021-01-08 엘지이노텍 주식회사 발광 장치
US10177292B2 (en) 2014-05-23 2019-01-08 Everlight Electronics Co., Ltd. Carrier, carrier leadframe, and light emitting device
TWI553264B (zh) * 2014-05-23 2016-10-11 億光電子工業股份有限公司 承載支架及其製造方法以及從該承載支架所製得之發光裝置及其製造方法
TWI598538B (zh) * 2015-07-31 2017-09-11 宏齊科技股份有限公司 無需使用預儲電源的可攜式發光裝置及其發光二極體封裝結構
JP6361645B2 (ja) * 2015-12-22 2018-07-25 日亜化学工業株式会社 発光装置
JP6191705B2 (ja) * 2016-01-04 2017-09-06 日立化成株式会社 光反射用熱硬化性樹脂組成物、光半導体素子搭載用基板及びその製造方法、並びに光半導体装置
USD823492S1 (en) 2016-10-04 2018-07-17 Cree, Inc. Light emitting device
JP6555243B2 (ja) * 2016-12-16 2019-08-07 日亜化学工業株式会社 発光装置および発光装置の製造方法
US20190393112A1 (en) * 2018-06-25 2019-12-26 Elizabeth Nofen Encapsulant material containing fluorophores for in-situ visualization of stress in an organic package
JP7038645B2 (ja) * 2018-12-06 2022-03-18 三菱電機株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法
CN113416963A (zh) * 2021-06-19 2021-09-21 贵州航箭电子产品有限公司 一种电子元器件镀银后处理工艺

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1187780A (ja) * 1997-09-04 1999-03-30 Sharp Corp 発光装置
WO2004082036A1 (ja) * 2003-03-10 2004-09-23 Toyoda Gosei Co., Ltd. 固体素子デバイスおよびその製造方法
JP2005259972A (ja) * 2004-03-11 2005-09-22 Stanley Electric Co Ltd 表面実装型led
JP2005353914A (ja) * 2004-06-11 2005-12-22 Toshiba Corp 半導体発光装置及びその製造方法並びに半導体発光ユニット
JP2006049442A (ja) * 2004-08-02 2006-02-16 Sharp Corp 半導体発光装置およびその製造方法
JP2006156704A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Nichia Chem Ind Ltd 樹脂成形体及び表面実装型発光装置並びにそれらの製造方法

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3059828B2 (ja) 1992-06-26 2000-07-04 三洋電機株式会社 発光ダイオード表示装置
JP4065051B2 (ja) 1998-04-17 2008-03-19 スタンレー電気株式会社 表面実装ledとその製造方法
JP2002270860A (ja) 2000-12-06 2002-09-20 Ibiden Co Ltd Icチップ実装用基板
US7091656B2 (en) * 2001-04-20 2006-08-15 Nichia Corporation Light emitting device
EP1672707B1 (en) * 2001-04-20 2019-07-31 Nichia Corporation Light emitting device
JP4211359B2 (ja) * 2002-03-06 2009-01-21 日亜化学工業株式会社 半導体装置の製造方法
SG173925A1 (en) * 2002-03-22 2011-09-29 Nichia Corp Nitride phosphor and production process thereof, and light emitting device
EP1980886A3 (en) * 2002-04-01 2008-11-12 Ibiden Co., Ltd. Optical communication device and optical communication device manufacturing method
JP4029843B2 (ja) 2004-01-19 2008-01-09 豊田合成株式会社 発光装置
WO2004082034A1 (ja) 2003-03-14 2004-09-23 Sumitomo Electric Industries Ltd. 半導体装置
US7070730B2 (en) * 2003-06-13 2006-07-04 Safe Boats International, Llc Method of manufacturing foam core boat collars
JP2005191420A (ja) * 2003-12-26 2005-07-14 Stanley Electric Co Ltd 波長変換層を有する半導体発光装置およびその製造方法
JP4632426B2 (ja) 2004-03-31 2011-02-16 シーアイ化成株式会社 発光ダイオード組立体の組立方法および発光ダイオード組立体
JP4659421B2 (ja) 2004-09-30 2011-03-30 株式会社トクヤマ 発光素子収納用パッケージの製造方法
JP5060707B2 (ja) 2004-11-10 2012-10-31 日立化成工業株式会社 光反射用熱硬化性樹脂組成物
JP2006186297A (ja) 2004-12-03 2006-07-13 Toshiba Corp 半導体発光装置及びその製造方法
JP4876426B2 (ja) * 2005-04-08 2012-02-15 日亜化学工業株式会社 耐熱性及び耐光性に優れる発光装置
JP4091063B2 (ja) 2005-06-07 2008-05-28 株式会社フジクラ 発光素子実装用基板および発光素子モジュール
JP4037423B2 (ja) 2005-06-07 2008-01-23 株式会社フジクラ 発光素子実装用ホーロー基板の製造方法
US8269227B2 (en) * 2005-06-09 2012-09-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and electronic device
US7812358B2 (en) * 2005-09-13 2010-10-12 Showa Denko K.K. Light-emitting device
WO2007135707A1 (ja) * 2006-05-18 2007-11-29 Nichia Corporation 樹脂成形体及び表面実装型発光装置並びにそれらの製造方法
US20070295482A1 (en) * 2006-06-23 2007-12-27 Fitzgerald Thomas J Heat spreader for use in conjunction with a semiconducting device and method of manufacturing same
EP2109157B1 (en) * 2006-12-28 2018-11-28 Nichia Corporation Light emitting device and method for manufacturing the same

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1187780A (ja) * 1997-09-04 1999-03-30 Sharp Corp 発光装置
WO2004082036A1 (ja) * 2003-03-10 2004-09-23 Toyoda Gosei Co., Ltd. 固体素子デバイスおよびその製造方法
JP2005259972A (ja) * 2004-03-11 2005-09-22 Stanley Electric Co Ltd 表面実装型led
JP2005353914A (ja) * 2004-06-11 2005-12-22 Toshiba Corp 半導体発光装置及びその製造方法並びに半導体発光ユニット
JP2006049442A (ja) * 2004-08-02 2006-02-16 Sharp Corp 半導体発光装置およびその製造方法
JP2006156704A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Nichia Chem Ind Ltd 樹脂成形体及び表面実装型発光装置並びにそれらの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR20090124906A (ko) 2009-12-03
TWI459584B (zh) 2014-11-01
US20090261374A1 (en) 2009-10-22
TW200903859A (en) 2009-01-16
WO2008111504A1 (ja) 2008-09-18
US8610143B2 (en) 2013-12-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11631790B2 (en) Resin molding, surface mounted light emitting apparatus and methods for manufacturing the same
JP4608294B2 (ja) 樹脂成形体及び表面実装型発光装置並びにそれらの製造方法
TWI459584B (zh) 發光裝置及其製造方法
JP5262374B2 (ja) 樹脂成形体及び表面実装型発光装置並びにそれらの製造方法
JP4611937B2 (ja) 表面実装型発光装置及びその製造方法
JP5233170B2 (ja) 発光装置、発光装置を構成する樹脂成形体及びそれらの製造方法
JP2007329219A (ja) 樹脂成形体及び表面実装型発光装置並びにそれらの製造方法
US8217414B2 (en) Light emitting device, package, light emitting device manufacturing method, package manufacturing method and package manufacturing die
JP2009170825A (ja) 発光装置及びその製造方法
JP2011100905A (ja) 発光装置および発光装置の製造方法
JP5294741B2 (ja) 樹脂成形体及び表面実装型発光装置並びにそれらの製造方法
JP5628475B2 (ja) 表面実装型発光装置の製造方法
JP2013138262A (ja) 樹脂成形体及び表面実装型発光装置並びにそれらの製造方法
JP7054019B2 (ja) 樹脂成形体及び表面実装型発光装置並びにそれらの製造方法
JP6809518B2 (ja) 樹脂成形体及び表面実装型発光装置並びにそれらの製造方法
JP6628752B2 (ja) 樹脂成形体及び表面実装型発光装置並びにそれらの製造方法
JP6149886B2 (ja) 表面実装型発光装置
JP2008252148A (ja) 発光装置用のパッケージ及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110705

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110902

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20120306

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120605

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20120724

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20120824

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130520