JPWO2008099778A1 - スリット走査共焦点顕微鏡 - Google Patents
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Abstract
スリット走査共焦点顕微鏡は、スリット状の光源1と、光源1の像を試料3の上に結像させる照明光学系2と、試料3からの反射光、透過光又は蛍光を、光源1と光学的に共役な位置に配置された1次元撮像素子5上に結像させる結像光学系4とを有する。スリット状の光源1は、1次元撮像素子5の画素と光学的に共役な大きさの単位光源に分割されている。
Description
本発明は、スリット走査共焦点顕微鏡に関するものである。
一般的に使用されているスリット走査共焦点顕微鏡は、光源からの光を第1のスリットを通過させ、第1のスリットの像を、走査光学系を介して走査光として、対物レンズにより試料上に結像させ、試料からの反射光又は蛍光を、前記対物レンズと前記走査光学系を逆に通過させて非走査光に変え、第1のスリットと光学的に共役な位置に置かれた第2のスリットを通し、第2のスリットを通った光の強度を検出器(1次元撮像素子)により測定し、画像データを構成するものである。走査光学系には、ガルバノミラー等が使用され、スリットの長さ方向と直角な方向に一次元走査を行う。なお、走査光学系は必ずしも必要ではなく、例えば、光源、照明光学系、結像光学系、スリット等を一体に移動させることにより走査を行ってもよい。
なお、レーザー共焦点走査顕微鏡に関しては「第5・光の鉛筆 / 鶴田匡夫 /新技術コミュニケーションズ p177〜p205」(非特許文献1)に詳しく記載されている。スリット走査共焦点顕微鏡は、レーザー共焦点走査顕微鏡が使用しているピンホールをスリットに変えたものである。
第5・光の鉛筆 / 鶴田匡夫 /新技術コミュニケーションズ p177〜p205
第5・光の鉛筆 / 鶴田匡夫 /新技術コミュニケーションズ p177〜p205
共焦点顕微鏡においては、ピンホール状の光源を用いて試料を走査し、光源と共役な位置に置かれたピンホールを透過した光のみを検出しているため、試料の深さ方向において高い分解能を有する。しかし、2次元走査であるため計測時間がかかる。
スリット走査共焦点顕微鏡は、通常の点光源を使用したレーザー共焦点走査顕微鏡に対して、スリットを使用しているため、測定時間は短いが、試料の深さ方向の分解能(解像度)が低いという問題があった。本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、試料の深さ方向の分解能を高めることができるスリット走査共焦点顕微鏡を提供することを課題とする。
前記課題を解決するための第1の手段は、スリット状の光源と、前記光源の像を試料の上に結像させる照明光学系と、前記試料からの反射光、透過光又は蛍光を、前記光源と光学的に共役な位置に配置された1次元撮像素子上に結像させる結像光学系とを有し、前記光源は、前記1次元撮像素子の画素と光学的に共役な大きさの単位光源に分割されていることを特徴とするスリット走査共焦点顕微鏡である。
前記課題を解決するための第2の手段は、前記第1の手段であって、前記光源は、前記単位光源を離散的に点灯するよう制御されていることを特徴とするスリット走査共焦点顕微鏡である。
前記課題を解決するための第3の手段は、前記第2の手段であって、前記光源は、点灯している前記単位光源の両隣にある単位光源を消灯状態にするよう制御されていることを特徴とするスリット走査共焦点顕微鏡である。
前記課題を解決するための第4の手段は、前記第2の手段又は第3の手段であって、前記光源は、前記単位光源を1つおきに点灯するよう制御されていることを特徴とするスリット走査共焦点顕微鏡である。
前記課題を解決するための第5の手段は、前記第2の手段乃至第4の手段のいずれか一つの手段であって、点灯している前記単位光源と共役な位置にある前記1次元撮像素子の画素の出力信号をSaとし、その両隣にある、前記単位光源が点灯したときの前記共役位置に配置された1次元撮像素子の画素の出力信号をSbとするとき、差分出力信号(Sa−Sb)を、前記1次元撮像素子の画素の出力信号Saの修正出力信号とする処理部を有することを特徴とするスリット走査共焦点顕微鏡である。
1…スリット状光源、2…照明光学系、3…試料、4…結像光学系、5…ラインセンサ、SA,SB1,SB2、SB3、SB4…単位光源、D0,D1,D2、D3、D4…画素
以下、本発明の実施の形態の例を、図を用いて説明する。図1(a)は、本発明の実施の形態の1例であるスリット走査共焦点顕微鏡の原理を示す概要図である。図1(a)においては、光軸方向をz軸、スリット状光源1のスリット長さ方向をy軸、スリット幅方向をx軸にとる。
スリット状光源1(2次光源である場合もある)が位置する光源面は、試料3上の結像面と共役な関係にある。よって、スリット状光源1から放出された光は、照明光学系2により、試料3上の結像面(xs−ys平面)に、スリット状光源1の像を結像する。これにより、試料3において照射される領域から蛍光、反射光、又は透過光(図においては透過光の例を示している)が発生される。試料3から発生する蛍光、反射光、又は透過光(図においては透過光の例を示している)は、結像光学系4により、試料3から発生する蛍光、反射光、又は透過光の像を、1次元撮像素子であるラインセンサ5(xd−yd平面)上に結像する。ラインセンサ5からの出力信号は、処理部6により処理される。
ラインセンサ5の位置は、スリット状光源1と共役にされている。また、ラインセンサ5が位置する検出面は、結像面と共役な関係にある。よって、試料3上の結像面(xs−ys平面)から発する光が、ラインセンサ5(xd−yd平面)上に焦点を結ぶことになる。そして、注目する試料領域すべての信号を得ることができるように、試料3を光軸方向とxs方向に走査する。なお、スリット状光源1とラインセンサ5が常に共役の関係にあるように位置を保ちながら、スリット状光源1をx軸方向に、ラインセンサ5をxd軸方向に走査してもよい。
図1(b)は、スリット状光源1の詳細とラインセンサ5の各画素との関係を示す図である。スリット状光源1は、ラインセンサ5の各画素と照明光学系2及び結像光学系4を介して光学的に共役な大きさの単位光源に分割されている。図1(b)は、スリット状光源1の単位光源SAが、ラインセンサ5の画素D0と共役な関係にあることを示している。同様、単位光源SB1が画素D1と、単位光源SB2が画素D2と、単位光源SB3が画素D3と、単位光源SB4が画素D4と共役な関係にある。このように、スリット状光源1は、ラインセンサ5の各画素と共役な位置関係となるような単位光源で構成されている。
このような、スリット状光源1の点灯の実施の形態を図2に示す。表示方法は図1と同じである。図2においてはハッチングをしてある単位光源が点灯している。則ち、図2(a)においては、一つおきの単位光源SA、SB3、SB4が点灯している。そして、点灯している単位光源SAの両隣にある単位光源SB1、SB2を消灯状態にする。なお、単位光源の点灯および消灯は制御部(不図示)により制御されている。図に示されているハッチングを施された楕円は、点灯している単位光源と共役な画素が検出しうる試料上の領域を示している。また、破線で示された楕円は、点灯していない単位光源と共役な画素が検出しうる試料上の領域を示している。
図2(b)においては、一つおきの単位光源SB1、SB2が点灯している。そして、点灯している単位光源SB1の両隣にある単位光源SA、SB3を消灯状態にし、また点灯している単位光源SB2の両隣にある単位光源SA、SB4を消灯状態にする。このように、スリット光源1は、図2(a)に示す点灯状態と、図2(b)に示す点灯状態とを有するように制御されている。そして、図2(a)に示す点灯状態と図2(b)に示す点灯状態とのそれぞれで、試料3を走査して出力信号を得る。なお、スリット状光源1をx軸方向に走査して出力信号を得てもよい。
以下、単位光源SAと画素D0を例として、光の進み方を説明する。単位光源SAが点灯している図2(a)の点灯状態のとき、対応するハッチングをした楕円の照明領域からの光は画素D0に入射するが、その一部は、画素D0の隣の画素D1、D2に入射する。則ち、ハッチングをした楕円と破線で示した楕円の重なり合う部分の光が、それぞれ、画素D1、D2に入射する。
同様にして、図2(b)の点灯状態のとき、画素D0には、単位光源SB1、SB2からの光の一部(ハッチングをした楕円と破線で示した楕円の重なり合う部分の光)が入射する。これは、単位光源からの光は試料上で広がりを持ち、また画素D0が検出しうる試料上の領域も広がりを持つためである。則ち、画素D0で受光される光は、単位光源SB1の照明により結像面近傍以外の領域から発する光の一部と、単位光源SB2の照明により結像面近傍以外の領域からの発する光の一部である。
以下、図2(a)の点灯状態のとき、則ち、単位光源SAが点灯しているとき画素D0からの出力信号をSaとする。次に、この出力信号Saが示す試料の情報について説明する。
図3は、試料において、単位光源SAが照射する領域Aを示す図である。この領域からの光が主として画素D0で受光されると共に、一部が画素D1、D2で受光される。
なお、図3の領域AのXs軸上の部分が結像面近傍に相当する。領域Aは、試料3上の結像面(xs−ys平面)上において一番絞られているが、z軸方向にも広がっている。前述のように、スリット走査共焦点顕微鏡においては、ピンホールを用いていないので、試料深さ方向の分解能が低く、出力信号Saに含まれる試料情報の領域は、照射されている試料の領域Aと重なった領域となる。出力信号Saには、単位光源SAの試料における結像面近傍以外の領域(光軸方向に離れた位置)から発する光の一部も含まれる。
次に、図2(b)のように、単位光源SAの両隣の単位光源SB1、SB2を点灯させる。その際、画素D0で受光される光による出力信号をSbとする。この出力信号Sbが示す試料情報の領域について図4を用いて説明する。
図4(a)において、実線で示した領域A(z軸方向中心軸はZA)は図3で示した領域Aであり、破線で示した領域B(z軸方向中心軸はZB)は、単位光源SB1によって照明されている領域である。図4(a)に示すように領域Aと領域Bとは、ハッチングを施した領域Dで重なり合っている。
同様にして、図4(b)において、実線で示した領域Aは図3で示した領域であり、破線で示した領域E(z軸方向中心軸はZE)は、単位光源SB2によって照明されている領域である。図4(b)に示すように領域Aと領域Eとは、ハッチングを施した領域Fで重なり合っている。
以上のように、図2(b)の点灯状態の場合に、これらの重なり合った試料上の領域D及び領域Eからの光が、画素D0で検出され、出力信号Sbが得られる。つまり、出力信号Sbに含まれる試料情報の領域は、図5(b)に示すように、図4の領域Dと領域Fとを合成したものとなり、これらから得られる出力信号Sbは、出力信号Saに含まれる、単位光源SAの照明により結像面近傍以外の領域から発する光の一部とほぼ等価とみなせる。
よって、差分出力信号(Sa−Sb)を演算すれば、この差分に含まれている試料情報の領域は図5(c)に領域Gで示す領域となり、図5(a)に領域Aで示すような、単位光源SAを点灯させた場合の試料情報の領域に比して、z方向の領域が狭くなっている。これは、すなわち、試料深さ方向の分解能(解像度)が高くなっていることを意味する。よって、この差分出力信号を画素D0の修正出力信号として用いて画像を形成すれば、試料深さ方向に高い分解能を有する画像が得られる。
このようにして、まず、図2(a)のように、スリット状光源1の単位光源を1つおきに点灯させて上述の処理を行う。続いて、図2(b)のように、スリット状光源1の単位光源のうち点灯していた単位光源を消灯し、消灯していた単位光源を点灯させて、前述の処理を行う。そして、両者を合成した出力信号により画像を構成すれば、試料深さ方向に高い分解能を有する画像が得られる。
なお、以上の説明においては、単位光源を一つおきに交互に点灯させたが、必ずしもこのようにする必要はない。例えば、単位光源を任意の順で離散的に点灯させ、点灯している単位光源と共役な位置にある1次元撮像素子の画素の出力信号をSaとし、その両隣にある単位光源が点灯したときの前記の同じ画素の出力信号をSbとするとき、差分出力信号(Sa−Sb)を、前記の1次元撮像素子の画素の出力信号Saの修正出力信号とすれば、同じ効果が得られる。
なお、図1においては走査機構の説明を省略しているが、走査機構は従来のスリット走査共焦点顕微鏡と変わるところが無く、従来のものをそのまま使用できる。
Claims (5)
- スリット状の光源と、
前記光源の像を試料の上に結像させる照明光学系と、
前記試料からの反射光、透過光又は蛍光を、前記光源と光学的に共役な位置に配置された1次元撮像素子上に結像させる結像光学系とを有し、
前記光源は、前記1次元撮像素子の画素と光学的に共役な大きさの単位光源に分割されていることを特徴とするスリット走査共焦点顕微鏡。 - 前記光源は、前記単位光源を離散的に点灯するよう制御されていることを特徴とする請求項1に記載のスリット走査共焦点顕微鏡。
- 前記光源は、点灯している前記単位光源の両隣にある単位光源を消灯状態にするよう制御されていることを特徴とする請求項2に記載のスリット走査共焦点顕微鏡。
- 前記光源は、前記単位光源を1つおきに点灯するよう制御されていることを特徴とする請求項2又は請求項3に記載のスリット走査共焦点顕微鏡。
- 点灯している前記単位光源と共役な位置にある前記1次元撮像素子の画素の出力信号をSaとし、その両隣にある、前記単位光源が点灯したときの前記共役位置に配置された1次元撮像素子の画素の出力信号をSbとするとき、差分出力信号(Sa−Sb)を、前記1次元撮像素子の画素の出力信号Saの修正出力信号とする処理部を有することを特徴とする請求項2乃至請求項4のいずれか一項に記載のスリット走査共焦点顕微鏡。
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2009
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