JPWO2006016555A1 - 光学機器用遮光部材 - Google Patents
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Abstract
Description
また本発明によれば、滑剤としてその平均粒径が微粒子の平均粒径より大きいものを採用することにより、滑剤の機能が発揮できる状態で遮光膜表面形状の凹凸を複雑にすることができ、微粒子の含有量が少量であっても、より優れた艶消し性が実現できる。
なお本明細書において、吸油量は、ISO787/V−1968に準拠したもので、微粒子100gにアマニ油を湿潤混合して固いペースト状にするのに必要な油の量(g)である。
[実施例1、2及び比較例1〜6]
基材として厚み50μmの黒色ポリエチレンテレフタレートフィルム(ルミラーX30:東レ社)を使用し、その両面に下記処方の遮光膜用塗布液(a)〜(h)をそれぞれバーコート法により乾燥時の厚みがそれぞれ10μmとなるように塗布し、乾燥を行って遮光膜A〜Hを形成し、実施例1、2及び比較例1〜6の光学機器用遮光部材を作製した。なお、下記処方の遮光膜用塗布液(a)〜(h)のアクリルポリオール等の含有量(部)を表1に示す。また、形成した遮光膜A〜Hのアクリルポリオール等の含有率(%)を表2に示す。
・アクリルポリオール(固形分50%) (表1記載の部)
(アクリディックA804:大日本インキ化学工業社)
・イソシアネート(固形分75%) (表1記載の部)
(バーノックDN980:大日本インキ化学工業社)
・カーボンブラック (表1記載の部)
(バルカンXC−72:キャボット社)
・滑剤 (表1記載の部)
(平均粒径8.5μm)(セリダスト3620:ヘキスト社)
・微粒子(シリカ) (表1記載の微粒子及び部)
・メチルエチルケトン 60部
・トルエン 40部
微粒子Q:AZ−200:東ソー・シリカ社、吸油量330(g/100g)、平均粒径2.4μm
微粒子R:TK900:デグサ社、吸油量90(g/100g)、平均粒径8μm
微粒子S:サイリシア730:富士シリシア化学社、吸油量95(g/100g)、平均粒径4μm
以上のようにして実施例1、2及び比較例1〜6で得られた光学機器用遮光部材について、下記の方法で物性の評価をした。それぞれの結果を表3に示す。ただし、下記(1)遮光性の評価については、厚み50μmの透明ポリエチレンテレフタレートフィルム(ルミラーT60:東レ社)の片面に、上記実施例1、2及び比較例1〜6の処方の遮光膜A〜Hを厚み10μmに形成したサンプルを用いて行った。
上記実施例1、2及び比較例1〜6のサンプルを、JIS K7651:1988に基づき光学濃度計(TD−904:グレタグマクベス社)を用いて光学濃度を測定し、4.0を超え、測定不能領域の濃度のものを「○」とし、4.0以下のものを「×」とした。なお、測定はUVフィルターを用いた。
実施例1、2及び比較例1〜6で得られた光学機器用遮光部材を、JIS K7125:1999に基づき荷重200(g)、速度100(mm/min)の条件で静摩擦係数(μs)、動摩擦係数(μk)を測定した。静摩擦係数(μs)が0.35以下のものを「○」、0.35以上のものを「×」とした。また、動摩擦係数(μk)が0.30以下のものを「○」、0.30以上のものを「×」とした。なお、遮光膜が削れ測定不能となったものを「−」とした。
実施例1、2及び比較例1〜6で得られた光学機器用遮光部材の表面の光沢度(鏡面光沢度)(%)を、JIS Z8741:1997に基づきを測定した。
実施例1、2及び比較例1〜6で得られた光学機器用遮光部材の表面抵抗率(Ω)を、JIS K6911:1995に基づき測定した。表面抵抗率が1.0×105Ω未満のものを「○」、1.0×105Ω以上1.0×108Ω未満のものを「△」、1.0×108Ω以上ものを「×」とした。
実施例1、2及び比較例1〜6で得られた光学機器用遮光部材を、JIS K5400:1990における碁盤目テープ法に基づき測定した。碁盤目部分の面績が5%以上剥離したものを「×」、5%未満のものを「○」とした。
実施例1、2及び比較例1〜6で得られた光学機器用遮光部材をカメラの絞り部材として用い、100万回動作させて塗膜面の擦傷、剥がれの有無を調べ、擦傷、剥がれのないものを「○」とし、擦傷、剥がれの認められたものを「×」とした。
2・・・・・・・基材
3・・・・・・・遮光膜
31・・・・・・バインダー樹脂及びカーボンブラック
32・・・・・・滑剤
33・・・・・・微粒子
Claims (7)
- 合成樹脂フィルムからなる基材と、前記基材の少なくとも片面に形成された遮光膜とからなり、前記遮光膜は、バインダー樹脂、カーボンブラック、粒子状の滑剤、及び吸油量250(g/100g)以上の微粒子を含有することを特徴とする光学機器用遮光部材。
- 前記遮光膜中における前記微粒子の含有率が、遮光膜中3重量%以下であることを特徴とする請求項1記載の光学機器用遮光部材。
- 前記滑剤の平均粒径が、前記微粒子の平均粒径よりも大きいことを特徴とする請求項1または2記載の光学機器用遮光部材。
- 前記滑剤の平均粒径が3〜20μmの範囲であり、前記微粒子の平均粒径が1〜10μmの範囲であることを特徴とする請求項3記載の光学機器用遮光部材。
- 前記遮光膜中におけるカーボンブラック、滑剤および微粒子の含有率が、それぞれ5〜20重量%、5〜20重量%、1〜10重量%の範囲であることを特徴とする請求項1記載の光学機器用遮光部材。
- 前記遮光膜中におけるカーボンブラック、滑剤および微粒子の含有率が、それぞれ10〜20重量%、10〜20重量%、1〜5重量%の範囲であることを特徴とする請求項5記載の光学機器用遮光部材。
- 前記微粒子が、シリカであることを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の光学機器用遮光部材。
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