JPWO2005092195A1 - ヒール効果補正フィルタ、x線照射装置、x線ct装置及びx線ct撮像方法 - Google Patents
ヒール効果補正フィルタ、x線照射装置、x線ct装置及びx線ct撮像方法 Download PDFInfo
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Abstract
Description
なお、体軸線方向と体幅方向とは直交する関係にあり、X線束の照射軸線は、体軸線方向と体幅方向とに直交している。
従って、被検体を透過して各検出器に入射するX線束の強度の相違から透過した断層部の状態が判定できるわけであるが、被検体の被ばくを軽減するためには、検出器が最低検知可能な範囲まで、X線束のX線強度角度分布をできるだけ低くすると共に、X線束強度の相違の幅をできるだけ狭くすることが好ましい。
また、画像データとは、この断層データを画像として視覚的に表したデータである。
なお、ウェッジフィルタはX線検出器及び検出器と一体に回転するので、実際には被検者の体の断面を真円として設計することが行われている。
具体的には、特許文献2に開示される発明は、ターゲットに電子線を照射することにより発生するX線をX線照射口から外部に出力するX線管と、そのX線管のX線照射口に装着され、当該X線間の照射口から出力されるX線の線量分布の測定結果に基づき、線量の強い部位ほど厚く形成された金属性のフィルタと、を有するX線均一照射装置である。
そこで、一度撮像した後にアーチファクトの種類、形状から発生源を特定して原因を取り除いたり、画像データをコンピュータプログラムで補正することによって、アーチファクトの発生を低減させる工夫がなされている(例えば、非特許文献1参照)。
また、前記のようなX線CT装置の現状において、アーチファクトの発生源を特定して発生源を取り除いたり、画像データをコンピュータプログラムで補正したりすることは、CT撮像やデータ処理に時間がかかり、また、手間が増えるなどの問題があった。特に32列以上の検出器を備えたX線CT装置では非特許文献1にあるようにアーチファクトの問題が顕著になる。従って、32列以上の検出器を備えたX線CT装置の開発にあたり、X線CT撮像後の処理だけではなく、撮像時において予めアーチファクトの発生を低減させる解決方法が求められている。
また、X線角度分布の測定値に基づいて厚さを求めるのではなく、計算式によって厚さを求めることにより、設計を容易に行うことができる。
また、このように、式1の計算式でヒール効果補正フィルタの厚さを求めることにより、熱電子ビーム束のビーム照射軸線とX線束の照射軸線とを含む軸平面上において、陽極から所定距離離れた照射軸線と直交する軸上での実効エネルギを、高くかつ均一にすることができる。被検体に入射するX線の実効エネルギが高いと、被検体を透過する際にエネルギが吸収されにくくなり、被検体から出射するX線の実効エネルギの相違が小さくなる。このようなヒール効果補正フィルタをX線CT装置などに適用した場合には、ビームハードニングアーチファクトなどのアーチファクトの発生を減少させ、画像データの画質を体軸線方向に均一かつ良好にすることができる。
特に、32列以上の検出器を備えたX線CT装置は、例えば、X線束の実効エネルギが不均一になりやすくなるためにアーチファクトが発生しやすいが、このようなヒール効果補正フィルタを適用することによって、アーチファクトの発生をより効果的に低減させることができる。
また、このように、ヒール効果補正フィルタを陽極と被検体との間に所定の距離で設けたことにより、熱電子ビーム束のビーム照射軸線とX線束の照射軸線とを含む軸平面上において、陽極から所定距離離れた照射軸線と直交する軸上での実効エネルギを、高くかつ均一にすることができる。
また、このように、本発明のX線CT装置が、ヒール効果補正フィルタを備えたX線照射装置を採用したことにより、X線束がヒール効果補正フィルタを透過した後に、実効エネルギが所定方向に高くかつ均一になるとともに、特にビームハードニングアーチファクトなどのアーチファクトを減少させ、体軸線方向の画像データの画質を均一にすることができる。
また、このようなX線照射装置によれば、ヒール効果によって不均一になるX線束のX線強度角度分布を均一にすることができるため、被検体に与える必要以上の被ばく量をより少なくすることができる。さらに、このようなX線照射装置によれば、所定方向に実効エネルギを高くかつ均一にすることができる。
また、このようなX線CT装置によれば、ヒール効果によって不均一になるX線束のX線強度角度分布を均一にすることができるため、被検体に与える必要以上の被ばく量をより少なくすることができる。さらに、このようなX線CT装置によれば、所定方向に実効エネルギが高くかつ均一になるとともに、特にビームハードニングアーチファクトなどのアーチファクトを減少させ、体軸線方向の画像データの画質を均一にすることができる。
また、このようなX線CT撮像方法によれば、所定方向に実効エネルギが高くかつ均一になるとともに、特にビームハードニングアーチファクトなどのアーチファクトを減少させ、体軸線方向の画像データの画質を均一にすることができる。
10 X線照射装置
11a 陽極(X線源)
11b 陰極
13 ウェッジフィルタ
13a 曲面
14a,15a 曲面
13b,14b 平面
14,15 ヒール効果補正フィルタ
14c,15c 頂点部
15b 曲面
20 検知手段
XR X線束
S 照射軸線
H 被検者(被検体)
B 寝台
なお、各実施形態において、被検体を病院における患者(以下、「被検者」という。)として説明する。
また、本発明のヒール効果補正フィルタ及びX線照射装置をX線CT装置で用いた場合について説明する。
また、X線束の照射方向は、被検者Hの互いに直交する体幅方向と体軸線方向とに直交する方向とする。
図1は、本発明の第一の実施形態に係るX線照射装置の一例を模式的に示す平面図である。図2は、照射されるX線束のX線束照射領域の一例を示す模式図である。図3(a)はヒール効果補正フィルタの一例を示す斜視図であり、図3(b)はウェッジフィルタの一例を示す斜視図である。図4(a)はヒール効果補正フィルタを用いない場合を示す模式図であり、図4(b)はヒール効果補正フィルタを用いない場合のX線の強度分布図であり、図4(c)はヒール効果補正フィルタを用いた場合を示す模式図であり、図4(d)はヒール効果補正フィルタを用いた場合のX線のX線強度角度分布を示すグラフである。図5は、計算式で用いられる記号の位置関係を示す模式図である。図6(a)は、X線の強度の最大値と最小値を示す模式図であり、図6(b)は、X線の強度が最小値で均一になっている状態を示す模式図である。図7は、ヒール効果補正フィルタの厚さを示すグラフである。
なお、例えば、被検者Hの体軸線方向は、この寝台Bの進退方向と平行であり、被検者Hの体幅方向は、寝台Bの幅方向と平行である。
この検知手段20は、体幅方向において、陽極11aからの距離が一定の所定間隔Rとなるように、陽極11aを原点とする半径Rの円弧状に配置されている。
このX線照射装置10によるX線束XRの被検者Hの体軸線方向のX線強度角度分布は、後記するヒール効果補正フィルタ14をX線束XRが透過することによって、均一となる。
陰極11bから電界で加速した熱電子ビーム束が回転する円盤状(図示せず)のX線源11aに衝突し、その衝撃でX線束XRが発生して、熱電子ビームと所定の角度α(図示せず)をなす一定方向に照射される。なお、一般的に、その陰極11bとX線源11aは、絶縁油と共に照射方向の安定のために図示しないX線管容器内に一体に封入されている。陰極11bには加熱して熱電子を放出させる図示しない線状のフィラメントが設けられており、一方、図示しないが、前記の回転する円盤状のX線源11aでは全体がタングステンで構成されており、X線束XRを一定方向に放射するために、ターゲットと呼ばれる熱電子の衝突する面体が傾斜している。熱電子がその傾斜したターゲット面に衝突した衝撃によりターゲットからX線束XRが一定方向に照射されるが、軸平面上においてのX線強度角度分布は略扇状に分布する。これが、前記したヒール効果と呼ばれている現象である。
このX線束照射領域Vは、体幅方向がX線源11aを中心とする円弧状に形成された検知手段20まで到達する。
このとき、例えば、X線束XRの照射軸線Sと体幅方向に直交するA1−A2ラインに沿って、X線束XRのX線強度角度分布が均一となる。
また、検知手段20上のA3−A4及びA5−A6ラインに沿っても、X線束XRのX線強度角度分布が均一となる。
このように、体幅方向が円弧状となる検知手段20の体軸線方向の各面上においてもX線束XRのX線強度角度分布が均一となる。
なお、本実施形態において、X線CT装置の形態を説明する際に用いる「列」とは、X線CT装置の形態を説明する場合に通常使用される表現であって、図2においては、検知手段20に使用されて放射線を検出するシンチレータが、A1−A2、A3−A4、A5−A6ラインなどの体軸線方向に沿って配列する数を示す。
図1に示すように、X線束XRの照射軸線Sは陰極11bのビーム照射軸線と一定の角度をなし、寝台Bに横たわった被検者Hを透過する向きに設定されている。
そして、このX線束XRの照射軸線Sを跨ぐようにX線源11aから所定距離FFDで間隔を開けてヒール効果補正フィルタ14が配置されている。また、X線源11aとヒール効果補正フィルタ14との間にコリメータ12が配置され、X線源11aとコリメータ12との間にウェッジフィルタ13が配置されている。以下、各構成要素の詳細について説明する。
ヒール効果補正フィルタ14の厚さをこのようにしたのは、ヒール効果によってX線束XRのX線強度角度分布が略扇形に広がるため、被検者Hの体軸線方向と平行であってX線束XRの照射軸線Sと直交する体軸線方向の所定の垂直線(例えば、図6(a)に示すX線強度Imin)でこのX線強度角度分布を跨ぐと、垂直線とX線強度角度分布とが交わる位置のX線束XRの強度を基準にした場合、X線束XRの強度が照射軸線Sから離れた位置が最も強く、その位置から垂直線とX線強度角度分布とが交わる位置に近づくにつれてしだいにX線束XRの強度が小さくなるので、これに対応させるために、厚さをX線の強度が強い位置では厚く、X線の強度が弱い位置では薄くなるようにしている。
図14は、異なる形態のX線照射装置におけるX線の強度分布図であって、(a)は、X線束照射領域の形状を規制するコリメータを介してX線束が照射される場合のX線強度角度分布図、(c)は、X線束照射領域の形状が特にコリメータなどによって規制されずにX線束が照射される場合のX線強度角度分布図である。また、(b)、(d)は、それぞれ(a)、(c)の形態において適切なヒール効果補正フィルタ14を適用した場合のX線束XRの強度分布図である。
つまり、図4(a)に示すように、コリメータ12の開口部12aを通過した範囲でヒール効果補正フィルタ14を用いない場合のX線束XRの強度が、図4(b)に示すように、照射軸線Sから離れた位置で最大となり、そこから次第に小さくなっているため、このX線強度角度分布の不均一を均一にするために前記のごとく凸円筒状の曲面14aを形成したものである。
したがって、図4(c)に示すように、このヒール効果補正フィルタ14を用いた場合は、図4(d)に示すように、ヒール効果補正フィルタ14に入射するX線束XRの強度が最も大きくなる位置ではヒール効果補正フィルタ14の厚さが最も厚く形成され、X線束XRの強度がしだいに弱くなる位置に対応してヒール効果補正フィルタ14の厚さが薄くなるように形成されるので、X線源11aから所定距離FCDにおいて、被検者Hの体軸線方向に沿ってX線束XRのX線強度角度分布が均一になる。
また、X線束XRの照射軸線Sに対するX線束XRの広がりの角度θにおけるヒール効果補正フィルタ14の透過前のX線束XRの強度をI0(θ)、ヒール効果補正フィルタ14の透過後のX線束XRの強度をI(θ)とする。角度θにおけるヒール効果補正フィルタ14のみかけ厚さをL(θ)とする。このθは、前記X線源11a位置からこのX線束の照射軸線に対して対称に広がって成す±コーンアングルの範囲内の所定の角度である。式中のzとyが各々Z軸とY軸との交点を原点とする各軸方向の位置とし、FFDが前記X線源11a位置からY軸に沿った所定距離を示す。
このとき、角度θでヒール効果補正フィルタ14をX線束XRが透過する場合、みかけ厚さをL(θ)は、斜距離として表されるので、これをY軸の方向の長さ(厚さ)La(θ)で示す。
また、図6(b)に示すように、このI(θ)をIminにするために以下に示す式2を用いて必要なみかけ厚さL(θ)を求める。
I(θ)=I0(θ)EXP(−μx) (式2)
ここで、xはみかけ厚さである。
このとき、xにL(θ)、I0(θ)にIminを代入してL(θ)を求めると、以下に示す式3のように表される。
L(θ)=1/μ×ln(I(θ)/Imin) (式3)
これを実際の厚さLa(θ)を求めるために、以下の式4に示すようにy,z成分に分解する。
ここで、y´とz´は、体軸線方向の位置に対する厚さと、体軸線方向の位置と、を示す。
この式1を用いて形成したヒール効果補正フィルタ14は、その凸円筒状の曲面14aが向く向きを、被検者H側やX線源11a側に変えて用いることもできる。
なお、ここでは、ヒール効果補正フィルタ14を一枚の構成のものとしたが、複数枚に分割した構成とする場合などは、X線束が透過する距離がこの厚さに一致するように設計すればよい。
なお、ウェッジフィルタ13の配置位置は、コリメータ12と被検者Hとの間や、コリメータ12とヒール効果補正フィルタ14との間であってもよい。
次に、本発明のX線CT装置1の使用方法について図1を参照して説明する。
まず、被検者HをX線照射装置10のX線源11a下方の水平な寝台Bに横たわらせる。この状態でX線源11aからX線束XRを照射すると、X線束XRはウェッジフィルタ13を透過して体幅方向のX線強度角度分布が均一となるように補正されコリメータ12に到達する。コリメータ12の開口部12aにより照射範囲を制限されたX線束XRは、さらにヒール効果補正フィルタ14を透過しつつ体軸線方向のX線強度角度分布を均一に補正されて被検者Hに到達する。被検者Hを透過したX線束XRは、さらに体軸線方向のX線強度角度分布が均一なまま多数の検知手段20に到達することになる。
また、このようにX線照射装置10を構成したので、被検者Hに必要以上に被ばくさせるのを防ぐことができる。
さらに、このように、X線CT装置1を構成したので、X線源11aから所定距離FCDでX線束XRのX線強度角度分布を均一にすることができ、被検者Hに必要以上に被ばくさせるのを防ぐことができる。
本発明の第二の実施形態に係るX線CT装置は、X線照射装置10aが、図8(a)に示すように、X線束XRの入射側透過面となるヒール効果補正フィルタ14の平面14bがX線源11a側に形成され、X線束XRの出射側透過面となる凸円筒状の曲面14aが被検者H側に形成されている点で第一の実施形態と異なる。
このヒール効果補正フィルタ14の平面14bがコリメータ12と被検者Hとの間でコリメータ12に近接しつつX線源11aから所定距離FFD離れた位置に配置されると、X線源11aから所定距離FCD離れた位置で、X線束照射領域Vの連続する体軸線方向に沿ってX線束XRのX線強度角度分布が均一となる。
このように、ヒール効果補正フィルタ14を配置しても第一の実施形態と同様に、図8(b)に示すように、X線源11aからの所定距離FCD(検知手段20)でX線束XRのX線強度角度分布を均一にすることができ、被検者Hに必要以上に被ばくさせるのを防ぐことができる。
本発明の第三の実施形態に係るX線CT装置は、X線照射装置10bが、図8(c)に示すように、X線束XRの入射側透過面となるヒール効果補正フィルタ14の平面14bがX線源11a側に形成され、X線束XRの出射側透過面となる凸円筒状の曲面14aが被検者H側に形成され、ヒール効果補正フィルタ14がX線源11a側に位置するウェッジフィルタ13と、コリメータ12との間に配置されている点で第一の実施形態と異なる。
このように、ヒール効果補正フィルタ14を配置しても第一の実施形態と同様に、図8(d)に示すように、X線源11aからの所定距離FCD(検知手段20)でX線束XRのX線強度角度分布を均一にすることができ、被検者Hに必要以上に被ばくさせるのを防ぐことができる。
本発明の第四の実施形態に係るX線CT装置は、X線照射装置10cが、図8(e)に示すように、X線束XRの入射側透過面となるヒール効果補正フィルタ14の凸円筒状の曲面14aがX線源11a側に形成され、X線束XRの出射側透過面となる平面14bが被検者H側に形成され、ヒール効果補正フィルタ14がX線源11a側に位置するウェッジフィルタ13と、X線源11aとの間に配置されている点で第一の実施形態と異なる。
このように、ヒール効果補正フィルタ14を配置しても第一の実施形態と同様に、図8(f)に示すように、X線源11aからの所定距離FCD(検知手段20)でX線束XRのX線強度角度分布を均一にすることができ、被検者Hに必要以上に被ばくさせるのを防ぐことができる。
本発明の第五の実施形態に係るX線CT装置は、X線照射装置が、図9に示すヒール効果補正フィルタ15を、被検者Hの体軸線方向に凸円筒状の曲面15aと、凸円筒状の曲面15aの反対側に体幅方向に凹円筒状の曲面15bとに形成している点で第一の実施形態と異なる。
また、このヒール効果補正フィルタ15は、被検者Hの体軸線方向に凸円筒状の曲面15aと、凸円筒状の曲面15aの反対側に体幅方向に凹円筒状の曲面15bとが形成されている。また、凸円筒状の曲面15aには、X線束XRの照射軸線Sから離れた位置に頂点部15cが形成されている。
つまり、このヒール効果補正フィルタ15は、第一の実施形態で用いたヒール効果補正フィルタ14の平面14bに、第一の実施形態で用いたウェッジフィルタ13の平面13bを当接させた形状となっている。好ましくは、第一の実施形態で用いたヒール効果補正フィルタ14とウェッジフィルタ13とを一体で形成する。
このヒール効果補正フィルタ15にX線束XRを透過させると、X線源11aから所定距離FCD(検知手段20)で、X線束XRの照射軸線Sに対して垂直となる被検者Hの体軸線方向に沿ってX線束XRのX線強度角度分布を均一にすることができ、また、被検者Hの体幅方向に被検者Hの厚さの変化に応じてX線束XRの強度の補正をすることができるので、被検者Hに必要以上に被ばくさせるのを防ぎつつ、鮮明な断層データを得ることができる。
ここで、本発明のヒール効果補正フィルタ14,15が備える新たな機能および効果とその用途を示す。
このX線照射装置10によるX線束XRの被検者Hの所定方向の実効エネルギは、ヒール効果補正フィルタ14をX線束XRが透過することによって、高くかつ均一となる。
ヒール効果補正フィルタ14を一枚の構成のものとしたが、複数枚に分割した構成とする場合などは、X線束が透過する距離がこの厚さに一致するように設計すればよい。
図1に示すように、本実施形態に係るX線CT撮像方法に使用されるX線CT装置11は、このようなヒール効果補正フィルタ14が設置されたX線照射装置10と検知手段20と寝台Bと図示しないガントリーとから構成されており、寝台Bに横たわる被検者Hに向けてX線照射装置10が被検体の体軸線周りを回転しながらX線束XRを照射し、一方寝台Bもそれに伴い進退し、その間、検知手段20が被検者を透過するX線束を検知して断層データを生成し、図示しないコンピュータによりその断層データを画像処理して画像データに変換するものである。なお、X線CT装置1の構成は前記したものと同様であるので説明は省略する。
そして、本実施形態に係るX線CT撮像方法は、まず、被検者HをX線照射装置10のX線源11a下方の水平な寝台Bに横たわらせる。この状態でX線源11aからX線束XRを照射すると、X線束XRはウェッジフィルタ13を透過してコリメータ12に到達する。コリメータ12の開口部12aにより照射範囲を制限されたX線束XRは、さらにヒール効果補正フィルタ14を透過しつつ、熱電子ビーム束のビーム照射軸線とX線束XRの照射軸線とを含む軸平面上において、X線源11aから所定距離離れた照射軸線と直交する軸上での実効エネルギを高くかつ均一に補正されて被検者Hに到達する。このようなヒール効果補正フィルタ14を介したX線束XRは、被検者Hを透過する際にエネルギが吸収されにくくなり、被検体Hから出射するX線の実効エネルギの相違が小さくなる。被検者Hを透過したX線束XRは、その実効エネルギを保持したまま多数の検知手段20に到達する。そして、検知手段20がこのX線束を検知して断層データを生成し、図示しないコンピュータによりその断層データを画像処理して画像データに変換する。
このようなヒール効果補正フィルタ14を用いたX線CT撮像方法によれば、特にビームハードニングアーチファクトなどのアーチファクトの発生を減少させ、画像データの画室を体軸線方向に均一かつ良好にすることができる。
また、被検体は人体に限るものではなく、動物あるいは植物全般、建物や機械などの構造物であってもよい。
また、各実施形態において、ウェッジフィルタ13を用いてX線束XRを照射しているが、このウェッジフィルタ13を除いてX線束XRを照射しても良い。
また、本発明のX線照射装置10はCTでの使用に限定されるものでなく、診療用X線装置、デジタルラジオグラフィ(DR)、あるいはその他の一般的なX線束を照射する装置においても使用できるものである。
また、角度θは、コリメータ12の開口部12aの開口幅がX線束XRの照射軸線Sに対して均等にならない状態で配置されても、適宜用いることができる。
ここで、式1の計算式から、第一の実施形態で用いたヒール効果補正フィルタ14の厚さを求める。
ここで、X線CT装置1には256列CT、120kv、頭部用ウェッジを用い、X線強度角度分布がわかるように138mmビーム幅で照射した。
そして、二次式となっているフィッティング関数である以下の式6を用いてフィッティングした。
この条件において、ヒール効果補正フィルタ14を用いることで、全体のX線強度が74%になるように計算した。
このとき、ヒール効果補正フィルタ14の厚さとX線透過率の関係は、図10のような測定結果となり、以下の式7で表される。
I=EXP(−0.13x) (式7)
I:透過後X線強度、x:ヒール効果補正フィルタ14の厚さ
この式7を用いてX線強度をIminにするための必要なみかけ厚さL(θ)を計算する。
L(θ)=7.67n(I(θ)/74) (式8)
式1からコーンアングルを考慮し、実際に求めるヒール効果補正フィルタ14の厚さLa(θ)を求める。このとき、FCD=600mm、FFD=40mm、とした。
これにより求められたヒール効果補正フィルタ14の厚さLa(θ)は、図7に示すように表される。
本実施例では、実際に作製したヒール効果補正フィルタをX線CT装置1に適用し、その効果に関して検証を行った。
比較例として、ヒール効果補正フィルタは用いず、第一の実施形態で用いたウェッジフィルタ13のみを使用して測定した。
なお、本実施例で使用したヒール効果補正フィルタ15と比較例で使用したウェッジフィルタ13の材質は、同一のアルミニウム材からなる。
そして、作製した本実施例のヒール効果補正フィルタ15および比較例のウェッジフィルタ13をそれぞれ図1に示すX線CT装置1にセットして、下記の評価を行った。
線量分布は、X線CT装置1として256列CTを用い、固定されたX線管から管電圧120kV、管電流200mAの条件で鉛直下方にX線を照射し、体軸線方向に沿って配設されている複数の検出器によってX線の強度を測定した。検出器には、2.8mm(体幅方向)×2.8mm(体軸線方向)×2.7mm(厚さ方向)の検出感度があるSi PIN フォトダイオード線量計(浜松ホトニクス社、S2506−04)を用いた。
そして、実施例および比較例に関して、それぞれ体軸線方向の線量分布を評価した。
前記したように、実効エネルギは、X線束XRの半価層と等しい半価層を与える単色X線のエネルギ値であって、従来公知の方法によって、照射されるX線束の半価層から容易に算出することができる。
半価層は、入射X線量に対し出射X線量を半減させるフィルタの厚みで表現される。具体的には、固定されたX線管を様々な厚さのアルミニウムフィルタで覆い、X線管から鉛直下方に照射されるX線の強度を電離箱式照射線量計により測定して照射減弱曲線を作成し、この照射減弱曲線に基づいて半価層を算出した。なお、本実施例では、電離箱式照射線量計として、0.6ml体積の電離箱式照射線量計(応用技研社、C−110)を使用した。
そして、実施例および比較例に関して、それぞれ体軸線方向とこれに直交する体幅方向とを含む平面における実効エネルギ分布を評価した。
画像データは、X線CT装置1として256列CTを用い、管電圧120kV、管電流200mA、照射時間1秒、ガントリ回転時間1秒、スライス厚1mmの条件で、寝台Bに静置されたCTファントムを撮像することによって取得した。撮像対象としたCTファントムには、低コントラスト評価用ファントム(Phantom Laboratory社、Catphan 500)を使用した。
そして、実施例および比較例に関して、それぞれ体軸線方向位置−40mm,0mm,40mmにおいて撮像された画像データを用いて評価を行った。
以上の評価を行った結果を、図面を参照して説明する。
図11に示すように、本実施例では極大値を有する比較例に比べ、体軸線方向に沿って低くかつ均一なX線強度分布を示した。
さらに、本実施例によってX線強度分布が低くかつ均一となった結果、本実施例の積分線量も比較例に比べて20%低下させることができた(図11においては、面積比に相当)。従って、本実施例によれば、X線CT装置1で撮像する際に被検者Hの被爆を大幅に低減させることができる。
なお、本実施例においては、線量計を使用して線量分布を測定したが、このような測定方法に限定されない。例えば、X線CT装置においてX線管球が回転する場合には、X線管球を固定させて鉛直下方にX線束を照射し、体軸線方向に沿って配設された所定のフィルムによって測定することができる。そして、X線曝射されたフィルムの黒度化をデンシトメータなどで測定し、線量分布を取得する。
図12に示すように、比較例では、体軸線方向に陰極側が低く陽極側が高い不均一な分布を示したのに対して、本実施例では、体軸線方向の陰極側から陽極側にかけて、均一な分布を示した。
また、このようにアーチファクトの発生に影響される画像データの画質の均一性の評価は、CT値を用いて行うことができる。CT値は、次の式9により表される。
ここで、比較例の体軸線方向位置−40mmと40mmとを比較すると、画像データの中心部のCT値の差が、2〜3%であった。一方で、本実施例の体軸線方向位置−40mmと40mmとを比較すると、画像データの中心部のCT値の差が、0.3%であった。すなわち、本実施例は、比較例に比べ、体軸方向位置によるCT値の差を低減することができた。このようにCT値の差が低減されることにより、アーチファクトが低減し、例えば、肝臓などの診断上低コントラストが重要な要素となる部位で、特に、微小な腫瘍や血管などを描出する場合においても、良好な画像データを取得することができる。
なお、本実施例において、X線束の実効エネルギは55keVであった。ただし、この値は画像データにおいてアーチファクトが低減された場合の実効エネルギ値の一例に過ぎず、本発明を限定するものではない。
なお、測定結果を図示しないが、撮像対象となるファントムを他の種類のものに代えて撮像した場合でも、比較例においては特に陽極側でアーチファクトが現れた一方で、本実施例の画像データにおいてはアーチファクトが現れなかった。本発明によれば、撮像対象に関わらず、アーチファクトを減少させ、体軸線方向に画像データの画質を均一にすることが可能である。
このように本発明のヒール効果補正フィルタによれば、256列の検出器を備えたX線CT装置でもアーチファクトを低減させることができる。すなわち、本発明に係るヒール効果補正フィルタは、被検者に照射するX線束の所定方向のX線角度分布を均一にすることで被検体の被爆を低減し、実効エネルギを所定方向に高くかつ均一にすることで、特にビームハードニングアーチファクトなどのアーチファクトの発生を減少させ、画像データの画質を体軸線方向に均一かつ良好にすることができるという効果を有するヒール効果補正フィルタとして、例えば、32、40、64、124列など、32列以上に多列化した検出器を備えたX線CT装置に好適に用いることができる。
Claims (8)
- 陰極から陽極に熱電子ビーム束を照射して陽極で発生するX線束を、被検体の体幅方向に凹円筒状の曲面となるウェッジフィルタを介して前記被検体に向け照射する際に、
前記X線束が前記陽極から前記被検体の体幅方向に広がりつつヒール効果によるX線強度角度分布によって前記被検体の体幅方向と直交する体軸線方向に略扇形に広がって形成
されるX線束照射領域で前記被検体の体軸線方向に不均一となる前記X線強度角度分布を均一とする厚さに形成されているヒール効果補正フィルタであって、
前記厚さは、
前記X線束の照射軸線と前記熱電子ビーム束のビーム照射軸線とを含む平面において、X線束の照射軸線をY軸とし、X線束の照射方向にY軸に沿って距離FCD離れた位置でY軸と直交する軸をZ軸とし、z´とy´が各々Z軸とY軸との交点を原点とする各軸方向の位置とし、FFDが前記陽極位置からY軸に沿った所定距離を示し、θが前記陽極位置からこのX線束の照射軸線に対して対称に広がって成すコーンアングルの範囲内の所定の角度であり、La(θ)が前記角度θにおけるy´の方向の長さを示す場合において、次の式1の計算式で求められることを特徴とするヒール効果補正フィルタ。
- 複数に分割可能に構成され、使用時において前記X線束が前記ヒール効果補正フィルタを透過する距離が、前記厚さに一致することを特徴とする請求項1に記載のヒール効果補正フィルタ。
- 前記X線束の入射側透過面又は出射側透過面の一方が前記被検体の体軸線方向に延びる凸円筒状の曲面に形成され、他方が平面に形成されていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のヒール効果補正フィルタ。
- 前記X線束の入射側透過面又は出射側透過面のいずれか一方が前記体軸線方向に延びる凸円筒状の曲面に形成され、他方が前記体軸線方向と直交する体幅方向に延びる凹円筒状の曲面に形成されていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のヒール効果補正フィルタ。
- X線検出器を32列以上備えたX線CT装置に用いられることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載のヒール効果補正フィルタ。
- 陰極から陽極に熱電子ビーム束を照射し、陽極で発生するX線束を被検体に向け照射するX線照射装置において、
前記X線束が前記陽極から前記被検体の体幅方向に広がりつつヒール効果によって前記被検体の体幅方向と直交する体軸線方向に略扇形に広がるX線束照射領域で前記被検体の体軸線方向に不均一となるX線束のX線強度角度分布を均一に補正する請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載のヒール効果補正フィルタを、陽極と被検体との間に所定の距離で設けたことを特徴とするX線照射装置。 - 請求項6に記載のX線照射装置を採用したことを特徴とするX線CT装置。
- 請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載のヒール効果補正フィルタをX線CT装置に適用し、体軸線方向に沿って撮像される画像データのCT値の差を低減することによって、前記X線CT装置で撮像される画像データのアーチファクトを低減させることを特徴とするX線CT撮像方法。
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