JP2009028110A - X線ct装置及びそれに使用するフィルタ板 - Google Patents
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Abstract
【課題】多列化された検出器アレイを有するCT装置において、各検出器列に入射するX線強度を均一化する。
【解決手段】X線源(21)と、被検体(J)との間に配置されるフィルタ板(25)を、前記X線源から照射されたX線のZ軸方向のX線強度分布の均一性が、前記フィルタ板を通過する前よりも前記フィルタ板を通過した後の方が高くなるように、その板厚をZ軸方向に変化させたものとする。
【選択図】図5
【解決手段】X線源(21)と、被検体(J)との間に配置されるフィルタ板(25)を、前記X線源から照射されたX線のZ軸方向のX線強度分布の均一性が、前記フィルタ板を通過する前よりも前記フィルタ板を通過した後の方が高くなるように、その板厚をZ軸方向に変化させたものとする。
【選択図】図5
Description
本発明は、所謂多列X線検出アレイ(array)を有するX線CT装置及びそれに使用される使用されるフィルタ(filter)板に関する。
従来から、被検体の病巣を発見しその位置を特定する為に計算機式断層写真(CT)法が用いられている。かかるCT法においては、X線源から照射され、被検体を通過し、検出器が検出したX線の投影データ(data)から被検体の断面画像を再構成することができる。
図8は、かかるCT法に用いられるX線CT装置の要部構成図である。X線管21に含まれる陰極フィラメント(filament)215は、回転するターゲット(target)213に向かって電子ビーム(beam)を出射し、これにより、X線管21からX線が出射する。コリメータ(collimator)23は、スリット(slit)によりフィルタ板25を通過したX線を偏平なX線ビームにする。検出器アレイ27は、いわゆるマルチディテクタ(multi detector)であり、後述するZ軸方向において64列の検出器アレイを備えている。フィルタ板25は、X線の一部をフィルタリング(filtering)する物質で作られた板(例えばアルミ(alminium)板)である。かかる従来のフィルタ板25は一般的にZ軸方向において一様な厚みを有していた(例えば、特許文献1参照)。
ところで、X線管21のターゲット213は、傾斜部213において電子ビームをX線に変換しており、X線のヒール(heel)効果により、Z軸方向において一様な強度を持つX線を出射されていないことが判明された。図9はかかるX線のZ軸方向における非一様性を示すグラフ(graph)である。具体的には、図9(a)は、被検体が配置されていない状態で、X線管21から照射した場合、X線検出アレイが検出するZ軸方向のX線の強度を示している。図9(b)は、図9(a)の円部分801を拡大したグラフであり、検出器アレイの1〜64列に入射する部分を含んでいる。図9(b)に示されているように検出器アレイの第1列に入射するX線は高い強度を有し、検出器の列番号が異なるに従ってX線の強度は低下することが判明した。かかる問題は検出器が多列化していない従来のCT装置においては問題を発生しなかったので検討されていなかった。
本発明は、上記問題点を鑑みてなされたものであり、所謂多列X線検出アレイを有するX線CT装置において、各検出器列に入射するX線の強度の均一性が向上したX線CT装置提供することを目的とする。さらに、本発明は、前記X線CT装置に用いられるフィルタ板を提供することを他の目的とする。
本発明の第1の観点は、X線コンピュータ(computer)断層撮影(CT)装置(100)であって、X線源(21)と、複数個配列された検出器素子が被検体(J)の体軸方向であるZ軸方向に複数列配列され、前記X線源(21)から照射されたX線を収集するX線検出アレイ(27)と、前記被検体(J)を載置し、前記X線源(21)及び前記X線検出アレイ(27)との間に前記被検体を配置する撮影テーブル(table)(10)と、前記X線源(21)と、前記被検体(J)との間に配置されたフィルタ板(25)と、前記被検体(J)と前記フィルタ板(25)の間に配置され、前記X線源から照射されたX線の照射範囲を制限するコリメータ(23)と、を含み、前記フィルタ板(25)は、前記X線源から照射されたX線のZ軸方向のX線強度分布の均一性が、前記フィルタ板を通過する前よりも前記フィルタ板を通過した後の方が高くなるように、その板厚をZ軸方向に変化させたものであるX線CT装置(100)、というものである。
また、本発明の第2の観点は、第1の観点において、前記X線源(21)は、複数の線質のX線をそれぞれ照射するものであり、前記X線CT装置は、前記複数の線質のX線それぞれに対応させた、材料が異なる複数の前記フィルタ板(25)を含んでいる、というものである。
また、第3の観点は、第2の観点において、前記X線CT装置(100)は、前記X線源(21)および前記検出器アレイ(27)を回転させる回転部を有しており、ヘリカル・スキャン(helical scan)を行うに際し、被検体の所望の撮影位置について、前記第1のフィルタを通過したX線を用いた前記被検体(J)の走査を行うために、前記回転部により前記X線源および前記検出器アレイを所定角度範囲回転させ、別の回転範囲において、前記被検体の所望の撮影位置について、前記第2のフィルタを通過したX線を用いた前記被検体(J)の走査を行うように構成されている、というものである。
また、第4の観点は、第1の観点〜第3の観点のいずれかにおいて、前記フィルタ板(25)は、前記X検出アレイにより検出されたX線の前記Z軸方向と垂直な方向において、前記被検体を通過するX線が通過する部分が薄く、前記被検体を通過しない部分が厚くなるように、その板厚が調整されたものである、というものである。
また、第5の観点は、X線源(21)と、複数個配列された検出器素子がZ軸方向複数列配列され、前記X線源(21)から照射されたX線を収集するX線検出アレイ(27)とを備える、X線CT装置(100)に使用されるフィルタ板(25)であって、
該フィルタ板(25)は、前記X線源(21)と、前記被検体(J)との間に配置され、
前記フィルタ板(25)は、前記X線源から照射されたX線のZ軸方向のX線強度分布の均一性が、前記フィルタ板を通過する前よりも前記フィルタ板を通過した後の方が高くなるように、その板厚をZ軸方向に変化させたものであるフィルタ板(25)、というものである。
該フィルタ板(25)は、前記X線源(21)と、前記被検体(J)との間に配置され、
前記フィルタ板(25)は、前記X線源から照射されたX線のZ軸方向のX線強度分布の均一性が、前記フィルタ板を通過する前よりも前記フィルタ板を通過した後の方が高くなるように、その板厚をZ軸方向に変化させたものであるフィルタ板(25)、というものである。
本発明のX線CT装置によれば、所謂多列X線検出アレイを有するX線CT装置において、各検出器列に入射するX線の強度の均一性が向上したX線CT装置が提供される。
また、本発明のフィルタ板によれば、所謂多列X線検出アレイを有するX線CT装置用いることで、該X線CT装置の各検出器列に入射するX線の強度の均一性を向上することができる。
また、本発明のフィルタ板によれば、所謂多列X線検出アレイを有するX線CT装置用いることで、該X線CT装置の各検出器列に入射するX線の強度の均一性を向上することができる。
以下添付した図面を参照して、本発明を好適な実施形態に従って、詳細に説明する。
図1には、所謂「第3世代」のCTスキャナ(scanner)を表すガントリ(gantry)20を含むX線コンピュータ断層撮影(X線CT)装置100が示されている。ガントリ20はX線源21を含み、X線源21はガントリ20の対向面上に位置する検出器アレイ27に向けてX線ビームを照射する。検出器アレイ27は2次元に配置された複数の検出器素子を備える複数の検出器モジュール(module)により形成されており、これらの検出器素子は一体となって被検体Jを透過後の入射X線を検出する。各々の検出器素子は、入射したX線の強度を示す電気信号、つまり被検体Jを透過したX線ビームの減弱量を示す電気信号を発生する。スキャン(scan)によりX線投影データを収集する間に、ガントリ20及びガントリ上に装着された構成部品は回転中心の周りを回転する。
図2は、X線CT装置100の構成ブロック(block)図である。このX線CT装置100は、操作コンソール(console)1と、Z軸方向に沿って移動する撮影テーブル10と、走査ガントリ20とを具備している。前記操作コンソール1は、ヘリカル・スキャン等の走査方式の特定や、ヘリカル・ピッチ(helical pitch)、X線管に供給する電流値、電圧値等の各種走査条件等の操作者の指示入力や情報入力などを受け付ける入力装置2と、ヘリカル・スキャン等の走査方式の特定や、ヘリカル・ピッチ、X線管に供給する電流値、電圧値等の各種走査条件等の設定に基づいて走査処理などを実行する制御を行う中央処理装置3と、制御信号などを前記撮影テーブル10や前記走査ガントリ20とやり取りする制御インタフェース(interface)4と、走査ガントリ20で取得したデータを収集するデータ収集バッファ(buffer)5と、前記データから再構成して得たX線画像を表示するCRT6と、プログラム(program)やデータやX線画像を記憶する記憶装置7とを具備している。前記撮影テーブル10は、被検体Jを乗せて体軸方向に移動させる。前記走査ガントリ20は、X線管21と、X線コントローラ22と、コリメータ23と、コリメータコントローラ(collimator controller)24と、前記X線管21から出射されたX線を透過させる際にその短波長成分よりも長波長成分を大きく減衰させるフィルタ板25と、X線の透過経路中に前記フィルタ板25を介在させたりX線の透過経路中から前記フィルタ板25を移動・交換する制御を行うフィルタ板コントローラ(controller)26と、検出器アレイ27と、データ収集部(DAS)28と、被検体の体軸の回りにX線管21などを回転させる回転コントローラ29とを具備している。
図3及び図4に示されているように、検出器アレイ27は複数の検出器素子58を含んでいる。各検出器素子58は、検出器ハウジング(housing)60に取り付けられている。各検出器素子58は、多次元シンチレータ・アレイ(scintillator array)62及び高密度半導体アレイ(図示せず)を含んでいる。X線ビームがシンチレータ・アレイ62に入射する前にこのようなX線ビームをコリメートするポスト・ペイシェント・コリメータ(post patient collimator)(図示せず)が、シンチレータ・アレイの近傍でこれを覆うように配置される。シンチレータ・アレイ62は複数個のシンチレーション(scintillation)素子のアレイを含む。また半導体アレイは、シンチレータ・アレイの配列と一致した配置をもつ複数個のフォトダイオードphotodiode)(図示せず)を含む。フォトダイオードは基板64上に堆積され又は形成されており、シンチレータ・アレイ62は基板64を覆うように配置されて基板に固定されている。
検出器素子58はまた、デコーダ(decoder)68と電気的に接続するスイッチ(switch)装置66を含む。スイッチ装置66は、フォトダイオード・アレイ(photodiode array)と同じ大きさをもつ多次元の半導体スイッチ・アレイ(switch array)で形成されている。一実施態様では、スイッチ装置66は電界効果トランジスタ(FET)のアレイ(図示せず)を含み、各々のFETが入力、出力及び制御線(図示せず)を有する。スイッチ装置66はフォトダイオード・アレイとDAS28との間に接続されている。具体的に述べると、スイッチ装置の各々のFET入力がフォトダイオード・アレイの出力に電気的に接続され、またスイッチ装置の各々のFET出力がDAS28に電気的に接続されている。この接続には、たとえば可撓性の電気ケーブル(cable)70が用いられる。
デコーダ68はスイッチ装置66の動作を制御し、所望のスライス(slice)数及び所望のスライス分解能にしたがって、フォトダイオード・アレイの出力を、各スライスごとに有効にしたり、無効にしたり、あるいは組み合わせたりする。デコーダ68は、一実施態様においては、公知のデコーダ・チップ(decoder chip)あるいはFETコントローラである。デコーダ68は複数の出力及び制御線を含み、これらはスイッチ装置66及びコンピュータ36に結合される。具体的に述べると、デコーダの出力はスイッチ装置制御線に電気的に接続されて、スイッチ装置66がスイッチ装置入力からスイッチ装置出力に適正なデータを渡すことを可能にする。デコーダ制御線はスイッチ装置制御線に電気的に接続されており、これによりデコーダ出力のうちのどれを有効とするかを決定する。デコーダ68を利用して、スイッチ装置66内の特定のFETを有効にし、無効にし、あるいは組み合わせることにより、フォトダイオード・アレイの特定の出力がCT装置のDAS28に電気的に接続されるようにすることが出来る。64スライス・モード(slice mode)と規定される一実施態様では、フォトダイオード・アレイのすべての行がDAS28に電気的に接続されるように、デコーダ68によりスイッチ装置66を作動することができる。この結果、64スライス分のデータを別々に、かつ同時にDAS28に送ることができる。もちろん、これ以外に多くのスライスの組み合わせが可能である。
特定の一実施態様では、X線検出アレイ18は57個の検出器素子58を含んでいる。半導体アレイ及びシンチレータ・アレイ62の各々は、それぞれ64×16のアレイ・サイズ(array size)を持つ。このため、X線検出アレイ18は64列かつ912列(16×57モジュール)となり、ガントリ12の一回転あたり同時に64スライス分のデータを収集できる。もちろん、本発明は特定のアレイ・サイズに限定されるものではなく、アレイのサイズはオペレータの具体的ニーズ次第で大きくも小さくもできると考える。検出器18はまた、多くの異なるスライス厚やスライス数のモード(たとえば1スライス、2スライス、4スライス・モードなど)で動作させることができる。たとえば、FETを4スライス・モードで構成することができ、これによりフォトダイオード・アレイの一列以上の列から4スライス分のデータを収集できる。具体的なFETの構成をデコーダ制御線により決めることによって、フォトダイオード・アレイの出力を様々な組合せで、有効にしたり、無効にしたり、あるいは組み合わせたりすることが可能となり、これにより、例えば、1.25mm、2.5mm、3.75mm、5mmのスライス厚が得られる。別の例としては、1.25mmから20mmまでの範囲のスライス厚のうちの一つのスライスから成る単一スライス・モードや、1.25mmから10mmまでの範囲のスライス厚のうち二つのスライスから成る2スライス・モードがある。さらに、上記のモードを上回るモードも可能である。
図5は、本発明の一実施形態にかかるフィルタ板25を説明する概念図である。図に示されているように、本願の一実施形態におけるフィルタ板25は、Z軸方向にその板厚が連続的に変化する、Z軸方向への傾斜面を有する形状を有しており、複数の検出器列に渡って均一な強度のX線を放出するように設計されている。この実施例においてフィルタ板25の材質はアルミニウム(alminium)が使用されている。アルミニウムに替えてエポキシ(epoxy)混合物、ポリエチレン(polyethylene)、グラファイト(graphite)、銅、チタン(titanium)等を使用することもできる。さらに、フィルタ板の薄型化とZ軸方向にその板厚が連続的に変化したフィルタ板の製造の容易化の双方を実現するために、例えば50マイクロメートル(micrometer)厚の銅板に平均で10mm厚を有し、所定の傾斜厚を有するグラファイトや18mm平均厚を有し、所定の傾斜厚を有するポリエチレンを張り合わせることが可能である。
この実施例においてフィルタ板25は図9で示したZ軸方向に傾斜(検出器の列番号が異なるに従ってX線の強度が低下)する効果を補償し、検出器アレイの複数の列に亘り強度の均一性が向上したX線がフィルタ板25から放出するように設計されている。
具体的には、図6に示すように、被検体が配置されていない状態で、フィルタ板25を通過するX線のZ軸方向のX線強度の測定を行い、フィルタ板25の傾斜角を算出する。本願発明の一実施態様においては、検出器アレイ27の第1列に対応する位置601と検出器アレイ27の最終列(64列)に対応する位置605とを結ぶ直線に基づいてフィルタ板25の傾斜角が算出される。別法においては、検出器アレイ27の中心付近に対応する位置においてX線の強度が調べられ、検出器アレイ27の中心に対応するZ位置603におけるX線強度の分布曲線615の接線613を求め、この接線613に基づいてフィルタ板25の傾斜角が算出される。
X線強度の分布曲線615は、X線管21に入力されるX線管電圧によって変化する曲線であり、本願の好適な実施例においては、このX線CT装置で使用されるX線管21に供給されるX線管電圧に応じてフィルタ板25が複数用意される。具体的には図2の操作コンソール1の入力装置で特定されたX線管21に入力されるX線管電圧が、現在使用しているフィルタ板25に対応していない場合、中央処理装置3は、フィルタ板コントローラ26にフィルタ板25の交換を指示するコマンド(command)を送出する。このコマンドを受けたフィルタ板コントローラ26は、コマンドに含まれるフィルタ板の種類の情報に対応したフィルタ板の交換を行う。
さらに、この実施例においてフィルタ板25は前記Z軸方向と垂直なY軸方向(図5の紙面の前後方向)において被検体を通過するX線が通過する部分が薄く、被検体を通過しない部分が厚くなるように、その板厚が調整されたものである。即ち、被検体を通過するX線と被検体を通過しないX線の強度に大きな差が生じないように、被検体の形状にほぼ合うように、中央部に凹部を有するフィルタとして構成されている。
尚、フィルタ板25は適切なZ軸位置に配置されるようにZ軸方向の位置が調整される。
図7は、本発明の他の実施形態にかかるフィルタ板25を説明する概念図である。本実施形態は、例えば、2種類の管電圧のX線管(例えば、80kVと140kV)による2種類の線質のX線を用いた、所謂デュアルエナジー(dual energy)法に適用したフィルタ板である。
図に示されているように、この実施形態におけるフィルタ板25は、中央部251を境に材料が異なる2つのフィルタ板25A、25Bを含んでいる。2つの部分25A、25Bの夫々はZ軸方向の座標値が異なるに従って薄くなる形状を有しており、図9で示したZ軸方向に傾斜する効果を補償し、夫々のフィルタ板(25A,25B)において検出器アレイの複数の列に亘り強度の均一性が向上したX線がフィルタ板(25A,25B)から放出するように設計されている。尚、X線がフィルタ板(25A,25B)は、それぞれ異なるX線管電圧を用いたX線を通過させるようにするため、上記設計は、それぞれの線質のX線に対して行われる。尚、この実施例において、検出器アレイの紙面において右側の検出器アレイ27Aは、左側の検出器アレイ27Bと異なる線質のX線を検出するものとする。本実施例においては、それぞれのフィルタは材質を変えることができ、例えば、フィルタ板の第1の部分25Aのフィルタ材料はアルミニウムであり、フィルタ板の第2の部分25Bのフィルタ材料はグラファイトとすることができる。フィルタ材料として、エポキシ混合物、ポリエチレン、銅、チタン等も採用可能であり、様々な組み合わせでこの実施例のフィルタ板25を作成することができる。また、厚さの調整により材料の密度の違いを補償することも可能である。たとえば、フィルタ板25の第2の部分25Bを54mm平均厚のグラファイトや95mm平均厚のポリエチレンとすることや、フィルタ板25の第1の部分25Aを75マイクロメートル平均厚の銅や325マイクロメートル平均厚のチタンと置換することが可能である。この実施例においても、上記実施例同様、フィルタ板25の第1の部分25A及び第2の部分25BはY軸方向(図の紙面の前後方向)において中央部に凹部を有するフィルタとして構成されている。
また、フィルタ板25の第1及び第2の部分25A、25Bの厚みを調整する(第1の部分25Aの厚さを第2の部分25Bの厚みよりも厚くする)ことで、低いエネルギー(energy)側のX線照射量と高いエネルギー側のX線照射量と近づけることが可能となり、供給する電流値、電圧値を一定にすることができる。この場合、スカウト・スキャン(scout scan)(ガントリを回転させない状態でのスキャン)などにより実験的に求める方法や各材質の単位長さあたりのX線吸収量を用いて計算により求める方法などから最適なフィルタ板の厚さを調整することができる。
尚、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。
例えば、本願発明は人体、動植物の検査のみならず、例えば配管の内側表面の状態を検査することにも適用可能である。
また、本明細書に記載したCT装置は、X線源及び検出器の両方がガントリと共に回転する「第3世代」の装置である。検出器が全環状で静止しておりX線源のみがガントリと共に回転する方式の「第4世代」の装置など、他の多くのCT装置を用いることもできる。さらに、実施例においてはフィルタ板は特定の材料により製造されているが、本発明の要旨及び範囲から逸脱することなく様々な複合または単一の材料から製造することができるものであり、かかる全ての変形は本書で網羅されているものとする。
100 X線CT装置
1 操作コンソール
2 入力装置
3 中央処理装置
4 制御インタフェース
5 データ収集バッファ
6 CRT
7 記憶装置
10 撮影テーブル
20 ガントリ
21 X線管
22 X線コントローラ
23 コリメータ
24 コリメータコントローラ
25 フィルタ板
26 フィルタ板コントローラ
27 検出器アレイ
270 検出器素子
28 データ収集部(DAS)
29 回転コントローラ
1 操作コンソール
2 入力装置
3 中央処理装置
4 制御インタフェース
5 データ収集バッファ
6 CRT
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10 撮影テーブル
20 ガントリ
21 X線管
22 X線コントローラ
23 コリメータ
24 コリメータコントローラ
25 フィルタ板
26 フィルタ板コントローラ
27 検出器アレイ
270 検出器素子
28 データ収集部(DAS)
29 回転コントローラ
Claims (5)
- X線コンピュータ断層撮影(CT)装置(100)であって、
X線源(21)と、
複数個配列された検出器素子が被検体(J)の体軸方向であるZ軸方向に複数列配列され、前記X線源(21)から照射されたX線を収集するX線検出アレイ(27)と、
前記被検体(J)を載置し、前記X線源(21)及び前記X線検出アレイ(27)との間に前記被検体を配置する撮影テーブル(10)と、
前記X線源(21)と、前記被検体(J)との間に配置されたフィルタ板(25)と、
前記被検体(J)と前記フィルタ板(25)の間に配置され、前記X線源から照射されたX線の照射範囲を制限するコリメータ(23)と、
を含み、
前記フィルタ板(25)は、前記X線源から照射されたX線のZ軸方向のX線強度分布の均一性が、前記フィルタ板を通過する前よりも前記フィルタ板を通過した後の方が高くなるように、その板厚をZ軸方向に変化させたものである、X線CT装置(100)。 - 前記X線源は、複数の線質のX線をそれぞれ照射するものであり、
前記X線CT装置は、前記複数の線質のX線それぞれに対応させた、材料が異なる複数の前記フィルタ板含んでいる、請求項1に記載のX線CT装置(100)。 - 前記X線CT装置(100)は、前記X線源(21)および前記検出器アレイ(27)を回転させる回転部を有しており、ヘリカル・スキャンを行うに際し、被検体の所望の撮影位置について、前記第1のフィルタを通過したX線を用いた前記被検体(J)の走査を行うために、前記回転部により前記X線源および前記検出器アレイを所定角度範囲回転させ、別の回転範囲において、前記被検体の所望の撮影位置について、前記第2のフィルタを通過したX線を用いた前記被検体(J)の走査を行うように構成されている、請求項2に記載のX線CT装置(100)。
- 前記フィルタ板(25)は、前記X検出アレイにより検出されたX線の前記Z軸方向と垂直な方向において、前記被検体を通過するX線が通過する部分が薄く、前記被検体を通過しない部分が厚くなるように、その板厚が調整されたものである請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載のX線CT装置(100)。
- X線源(21)と、複数個配列された検出器素子がZ軸方向複数列配列され、前記X線源(21)から照射されたX線を収集するX線検出アレイ(27)とを備える、X線CT装置(100)に使用されるフィルタ板(25)であって、
該フィルタ板(25)は、前記X線源(21)と、前記被検体(J)との間に配置され、
前記フィルタ板(25)は、前記X線源から照射されたX線のZ軸方向のX線強度分布の均一性が、前記フィルタ板を通過する前よりも前記フィルタ板を通過した後の方が高くなるように、その板厚をZ軸方向に変化させたものであるフィルタ板(25)。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2221911A1 (en) | 2009-02-10 | 2010-08-25 | SPC Electronics Corporation | Waveguide circulator |
GB2498615B (en) * | 2011-11-08 | 2016-06-15 | Ibex Innovations Ltd | X-Ray detection apparatus |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06296607A (ja) * | 1993-04-19 | 1994-10-25 | Toshiba Medical Eng Co Ltd | X線ct装置 |
JP2001061831A (ja) * | 1999-08-25 | 2001-03-13 | Hitachi Medical Corp | X線ct装置 |
WO2005092195A1 (ja) * | 2004-03-29 | 2005-10-06 | National Institute Of Radiological Sciences | ヒール効果補正フィルタ、x線照射装置、x線ct装置及びx線ct撮像方法 |
-
2007
- 2007-07-25 JP JP2007192795A patent/JP2009028110A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06296607A (ja) * | 1993-04-19 | 1994-10-25 | Toshiba Medical Eng Co Ltd | X線ct装置 |
JP2001061831A (ja) * | 1999-08-25 | 2001-03-13 | Hitachi Medical Corp | X線ct装置 |
WO2005092195A1 (ja) * | 2004-03-29 | 2005-10-06 | National Institute Of Radiological Sciences | ヒール効果補正フィルタ、x線照射装置、x線ct装置及びx線ct撮像方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2221911A1 (en) | 2009-02-10 | 2010-08-25 | SPC Electronics Corporation | Waveguide circulator |
GB2498615B (en) * | 2011-11-08 | 2016-06-15 | Ibex Innovations Ltd | X-Ray detection apparatus |
US9519068B2 (en) | 2011-11-08 | 2016-12-13 | Ibex Innovations Ltd. | X-ray detection apparatus |
US9784851B2 (en) | 2011-11-08 | 2017-10-10 | Ibex Innovations Ltd. | X-ray detection apparatus |
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