JP7044764B2 - X線撮像のための線源格子 - Google Patents
X線撮像のための線源格子 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7044764B2 JP7044764B2 JP2019512893A JP2019512893A JP7044764B2 JP 7044764 B2 JP7044764 B2 JP 7044764B2 JP 2019512893 A JP2019512893 A JP 2019512893A JP 2019512893 A JP2019512893 A JP 2019512893A JP 7044764 B2 JP7044764 B2 JP 7044764B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- grid
- source
- grid structure
- source grid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 48
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 21
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 21
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 21
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 20
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 16
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 7
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 6
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 11
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 10
- 238000013461 design Methods 0.000 description 9
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 7
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 7
- LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H lead(2+);trioxido(oxo)-$l^{5}-arsane Chemical compound [Pb+2].[Pb+2].[Pb+2].[O-][As]([O-])([O-])=O.[O-][As]([O-])([O-])=O LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 5
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 4
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 3
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 3
- 241001465754 Metazoa Species 0.000 description 2
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 2
- 239000010405 anode material Substances 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000035876 healing Effects 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 238000003698 laser cutting Methods 0.000 description 2
- 239000011133 lead Substances 0.000 description 2
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000013170 computed tomography imaging Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4291—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/48—Diagnostic techniques
- A61B6/484—Diagnostic techniques involving phase contrast X-ray imaging
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/18—Diffraction gratings
- G02B5/1838—Diffraction gratings for use with ultraviolet radiation or X-rays
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/18—Diffraction gratings
- G02B5/1866—Transmission gratings characterised by their structure, e.g. step profile, contours of substrate or grooves, pitch variations, materials
- G02B5/1871—Transmissive phase gratings
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
- G21K1/025—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using multiple collimators, e.g. Bucky screens; other devices for eliminating undesired or dispersed radiation
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/06—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/10—Scattering devices; Absorbing devices; Ionising radiation filters
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4064—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis specially adapted for producing a particular type of beam
- A61B6/4092—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis specially adapted for producing a particular type of beam for producing synchrotron radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/041—Phase-contrast imaging, e.g. using grating interferometers
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K2207/00—Particular details of imaging devices or methods using ionizing electromagnetic radiation such as X-rays or gamma rays
- G21K2207/005—Methods and devices obtaining contrast from non-absorbing interaction of the radiation with matter, e.g. phase contrast
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
を有する、撮像システムが提供される。
本発明を図面及び前述の説明において詳細に図示及び説明してきたが、そのような図示及び説明は例示的又は例示的であり、限定的ではないと見なされるべきである。本発明は開示される実施形態に限定されない。開示される実施形態に対する他の変形は、図面、開示、及び従属請求項の検討から、請求される発明を実施する際に当業者によって理解され達成され得る。
以下、本発明の各種形態を付記する。
[付記1]
X線放射に曝されるとき格子構造の表面の後ろに不均一な強度プロファイルを生成する干渉X線撮像ケーブルのための線源格子構造。
[付記2]
前記強度プロファイルは、前記表面のエッジから離れた少なくとも1つの極大値を有する、付記1に記載の格子構造。
[付記3]
前記表面を形成するために周期的パターンで構成される吸収要素のセットを有し、前記セットは少なくとも二つの吸収要素を含み、一方は前記エッジに対して近位であり、他方は前記エッジに対して遠位であり、前記近位吸収要素の材料密度は前記遠位近位要素の材料密度より高い、付記1又は2に記載の格子構造。
[付記4]
前記表面を形成するために周期的パターンで構成される吸収要素のセットを有し、前記セットは少なくとも二つの吸収要素を含み、一方は前記エッジに対して近位であり、他方は前記エッジに対して遠位であり、前記少なくとも1つの近位吸収要素は、前記遠い近位要素の前記深度より大きな、前記表面に対して垂直な深度を有する、付記1又は2に記載の格子構造。
[付記5]
不均一なデューティサイクルプロファイルを有する、付記1又は2に記載の格子構造。
[付記6]
前記デューティサイクルプロファイルは、前記表面の前記エッジから離れる少なくとも1つの極大値を有する、付記5に記載の格子構造。
[付記7]
前記格子は、少なくとも一つの方向において、ヒール効果を補償するように構成される、付記1乃至6の何れか一項に記載の格子構造。
[付記8]
前記強度プロファイルは、X線撮像システムの回転軸に沿う方向に減少する、付記1乃至7の何れか一項に記載の格子構造。
[付記9]
撮像システムであって、
X線源と、
X線感受性検出器と、
撮像されるべき対象物を受けるための、前記X線源と前記X線感受性検出器との間の検査領域と、
前記対象物が撮像領域内にあるとき、前記X線源と前記対象物との間に配置される、付記1乃至8の何れか一項に記載の線源格子構造と
を有する、撮像システム。
[付記10]
前記撮像システムは回転式、特にコンピュータ断層撮像システムである、付記9に記載の撮像システム。
Claims (6)
- 干渉X線撮像のための線源格子構造であって、不均一なデューティサイクルプロファイルを有し、前記線源格子構造が、少なくとも一つの方向においてヒール効果を補償するように変調されている、線源格子構造。
- 前記デューティサイクルプロファイルは、前記線源格子構造の表面の領域のエッジ部から離れたところに少なくとも1つの極大値を有する、請求項1に記載の線源格子構造。
- 干渉X線撮像のための線源格子構造であって、前記線源格子構造の表面を形成するために周期的パターンで構成される吸収要素のセットを有し、前記セットは少なくとも二つの吸収要素を含み、一方は前記表面の領域のエッジ部に対して近位であり、他方は前記エッジ部に対して遠位であり、前記近位吸収要素の材料密度は前記遠位吸収要素の材料密度より高く、前記線源格子構造が、少なくとも一つの方向においてヒール効果を補償するように、又はボウタイフィルタとして機能するように、変調されている、線源格子構造。
- 干渉X線撮像のための線源格子構造であって、前記線源格子構造の表面を形成するために周期的パターンで構成される吸収要素のセットを有し、前記セットは少なくとも二つの吸収要素を含み、一方は前記表面の領域のエッジ部に対して近位であり、他方は前記エッジ部に対して遠位であり、前記少なくとも1つの近位吸収要素は、前記遠位吸収要素の深度より大きな、前記表面に対して垂直な深度を有し、前記線源格子構造が、少なくとも一つの方向においてヒール効果を補償するように、又はボウタイフィルタとして機能するように、変調されている、線源格子構造。
- 撮像システムであって、
X線源と、
X線感受性検出器と、
撮像されるべき対象物を受けるための、前記X線源と前記X線感受性検出器との間の検査領域と、
前記対象物が撮像領域内にあるとき、前記X線源と前記対象物との間に配置される、請求項1乃至4の何れか一項に記載の線源格子構造と
を有する、撮像システム。 - 前記撮像システムは回転式撮像システム又はコンピュータ断層撮像システムである、請求項5に記載の撮像システム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP16187753.5 | 2016-09-08 | ||
EP16187753 | 2016-09-08 | ||
PCT/EP2017/071806 WO2018046377A1 (en) | 2016-09-08 | 2017-08-30 | Source grating for x-ray imaging |
Publications (4)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019531120A JP2019531120A (ja) | 2019-10-31 |
JP2019531120A5 JP2019531120A5 (ja) | 2020-10-08 |
JP7044764B2 true JP7044764B2 (ja) | 2022-03-30 |
JP7044764B6 JP7044764B6 (ja) | 2022-05-31 |
Family
ID=56888983
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019512893A Active JP7044764B6 (ja) | 2016-09-08 | 2017-08-30 | X線撮像のための線源格子 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10835193B2 (ja) |
EP (1) | EP3509492B1 (ja) |
JP (1) | JP7044764B6 (ja) |
CN (1) | CN109688930A (ja) |
WO (1) | WO2018046377A1 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20150117599A1 (en) | 2013-10-31 | 2015-04-30 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
US10295485B2 (en) | 2013-12-05 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray transmission spectrometer system |
USRE48612E1 (en) | 2013-10-31 | 2021-06-29 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
US10989822B2 (en) | 2018-06-04 | 2021-04-27 | Sigray, Inc. | Wavelength dispersive x-ray spectrometer |
WO2020023408A1 (en) | 2018-07-26 | 2020-01-30 | Sigray, Inc. | High brightness x-ray reflection source |
EP3603515A1 (en) * | 2018-08-01 | 2020-02-05 | Koninklijke Philips N.V. | Apparatus for generating x-ray imaging data |
US10656105B2 (en) | 2018-08-06 | 2020-05-19 | Sigray, Inc. | Talbot-lau x-ray source and interferometric system |
DE112019004433T5 (de) | 2018-09-04 | 2021-05-20 | Sigray, Inc. | System und verfahren für röntgenstrahlfluoreszenz mit filterung |
WO2020051221A2 (en) | 2018-09-07 | 2020-03-12 | Sigray, Inc. | System and method for depth-selectable x-ray analysis |
US11143605B2 (en) | 2019-09-03 | 2021-10-12 | Sigray, Inc. | System and method for computed laminography x-ray fluorescence imaging |
US11175243B1 (en) | 2020-02-06 | 2021-11-16 | Sigray, Inc. | X-ray dark-field in-line inspection for semiconductor samples |
WO2021162947A1 (en) | 2020-02-10 | 2021-08-19 | Sigray, Inc. | X-ray mirror optics with multiple hyperboloidal / hyperbolic surface profiles |
DE112021002841T5 (de) | 2020-05-18 | 2023-03-23 | Sigray, Inc. | System und Verfahren für Röntgenabsorptionsspektroskopie unter Verwendung eines Kristallanalysators und mehrerer Detektorelemente |
JP2023542674A (ja) | 2020-09-17 | 2023-10-11 | シグレイ、インコーポレイテッド | X線を用いた深さ分解計測および分析のためのシステムおよび方法 |
KR20230109735A (ko) | 2020-12-07 | 2023-07-20 | 시그레이, 아이엔씨. | 투과 x-선 소스를 이용한 고처리량 3D x-선 이미징 시스템 |
US11992350B2 (en) | 2022-03-15 | 2024-05-28 | Sigray, Inc. | System and method for compact laminography utilizing microfocus transmission x-ray source and variable magnification x-ray detector |
WO2023215204A1 (en) | 2022-05-02 | 2023-11-09 | Sigray, Inc. | X-ray sequential array wavelength dispersive spectrometer |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011110223A (ja) | 2009-11-27 | 2011-06-09 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | ビーム形成x線フィルタおよびこれを使ったx線ct装置 |
JP2012024339A (ja) | 2010-07-23 | 2012-02-09 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影システム及びコリメータユニット |
US20130032734A1 (en) | 2010-04-26 | 2013-02-07 | Santori Charles M | Non-uniform grating |
JP2014510263A (ja) | 2011-02-07 | 2014-04-24 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | ダイナミックレンジを増大する微分位相コントラスト撮像 |
US20140314374A1 (en) | 2011-10-21 | 2014-10-23 | David A. Fattal | Grating couplers with deep-groove non-uniform gratings |
JP2015078976A (ja) | 2013-09-11 | 2015-04-23 | キヤノン株式会社 | X線撮像システム |
JP2015518765A (ja) | 2012-06-05 | 2015-07-06 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | X線ctイメージの動き層分解較正 |
WO2016075140A1 (en) | 2014-11-11 | 2016-05-19 | Koninklijke Philips N.V. | Source-detector arrangement |
US20160211045A1 (en) | 2015-01-20 | 2016-07-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | X-ray imaging apparatus and method of controlling the same |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SE347859B (ja) * | 1970-11-30 | 1972-08-14 | Medinova Ab | |
US4672648A (en) * | 1985-10-25 | 1987-06-09 | Picker International, Inc. | Apparatus and method for radiation attenuation |
US5812629A (en) * | 1997-04-30 | 1998-09-22 | Clauser; John F. | Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging |
US7965444B2 (en) | 2006-08-31 | 2011-06-21 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus to improve filter characteristics of optical filters |
CN101548339B (zh) * | 2006-12-04 | 2012-06-20 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 尤其适用于x射线的射束过滤器 |
JP4911373B2 (ja) * | 2009-11-26 | 2012-04-04 | 横河電機株式会社 | X線測定装置 |
US10734128B2 (en) | 2011-02-01 | 2020-08-04 | Koninklijke Philips N.V. | Differential phase-contrast imaging with focussing deflection structure plates |
US9066704B2 (en) | 2011-03-14 | 2015-06-30 | Canon Kabushiki Kaisha | X-ray imaging apparatus |
JP6088503B2 (ja) * | 2011-06-30 | 2017-03-01 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | X線ビーム透過プロファイル整形器 |
US20130164457A1 (en) | 2011-12-27 | 2013-06-27 | Rigaku Innovative Technologies, Inc. | Method of manufacturing patterned x-ray optical elements |
WO2013171657A1 (en) | 2012-05-14 | 2013-11-21 | Koninklijke Philips N.V. | Dark field computed tomography imaging |
CN104837406B (zh) * | 2012-12-03 | 2020-05-05 | 皇家飞利浦有限公司 | 平移x射线射束发射分布图整形器 |
CN105393331B (zh) * | 2013-07-23 | 2017-03-22 | 皇家飞利浦有限公司 | 用于差分相衬成像装置的x射线管的阳极 |
US10058292B2 (en) * | 2014-01-14 | 2018-08-28 | Koninklijke Philips N.V. | X-ray emitting device with an attenuating element for an X-ray imaging apparatus |
US9726794B2 (en) | 2014-06-13 | 2017-08-08 | The Regents Of The University Of California | High index contrast grating structure for light manipulation and related method |
US11051772B2 (en) * | 2016-04-08 | 2021-07-06 | Rensselaer Polytechnic Institute | Filtration methods for dual-energy X-ray CT |
-
2017
- 2017-08-30 US US16/329,807 patent/US10835193B2/en active Active
- 2017-08-30 WO PCT/EP2017/071806 patent/WO2018046377A1/en unknown
- 2017-08-30 JP JP2019512893A patent/JP7044764B6/ja active Active
- 2017-08-30 CN CN201780055442.8A patent/CN109688930A/zh active Pending
- 2017-08-30 EP EP17758190.7A patent/EP3509492B1/en active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011110223A (ja) | 2009-11-27 | 2011-06-09 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | ビーム形成x線フィルタおよびこれを使ったx線ct装置 |
US20130032734A1 (en) | 2010-04-26 | 2013-02-07 | Santori Charles M | Non-uniform grating |
JP2012024339A (ja) | 2010-07-23 | 2012-02-09 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影システム及びコリメータユニット |
JP2014510263A (ja) | 2011-02-07 | 2014-04-24 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | ダイナミックレンジを増大する微分位相コントラスト撮像 |
US20140314374A1 (en) | 2011-10-21 | 2014-10-23 | David A. Fattal | Grating couplers with deep-groove non-uniform gratings |
JP2015518765A (ja) | 2012-06-05 | 2015-07-06 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | X線ctイメージの動き層分解較正 |
JP2015078976A (ja) | 2013-09-11 | 2015-04-23 | キヤノン株式会社 | X線撮像システム |
WO2016075140A1 (en) | 2014-11-11 | 2016-05-19 | Koninklijke Philips N.V. | Source-detector arrangement |
US20160211045A1 (en) | 2015-01-20 | 2016-07-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | X-ray imaging apparatus and method of controlling the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3509492B1 (en) | 2021-12-15 |
US20190216416A1 (en) | 2019-07-18 |
EP3509492A1 (en) | 2019-07-17 |
CN109688930A (zh) | 2019-04-26 |
US10835193B2 (en) | 2020-11-17 |
WO2018046377A1 (en) | 2018-03-15 |
JP2019531120A (ja) | 2019-10-31 |
JP7044764B6 (ja) | 2022-05-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7044764B2 (ja) | X線撮像のための線源格子 | |
US7983381B2 (en) | X-ray CT system for x-ray phase contrast and/or x-ray dark field imaging | |
RU2562879C2 (ru) | Устройство для фазоконтрастного формирования изображений, содержащее перемещаемый элемент детектора рентгеновского излучения, и соответствующий способ | |
JP4487032B2 (ja) | ヒール効果補正フィルタ、x線照射装置、x線ct装置及びx線ct撮像方法 | |
JP5127249B2 (ja) | X線装置の焦点‐検出器装置のx線光学透過格子 | |
JP2012090944A (ja) | 放射線撮影システム及び放射線撮影方法 | |
US20090154640A1 (en) | Focus detector arrangement and method for generating contrast x-ray images | |
JP2012090945A (ja) | 放射線検出装置、放射線撮影装置、放射線撮影システム | |
US9269469B2 (en) | Arrangement and method for inverse X-ray phase contrast imaging | |
JP2007296338A (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置における散乱放射線補正方法およびx線コンピュータ断層撮影装置 | |
JP2017518099A (ja) | コンピュータ断層撮影(ct)ハイブリッドデータ収集 | |
JP6467420B2 (ja) | ヘリカルコンピュータ断層撮影における最適snrを達成するための調整可能なボウタイフィルタ及びボウタイフィルタを用いて調整する方法 | |
JP7163969B2 (ja) | X線位相差撮影システム | |
JP2012125423A (ja) | 放射線画像検出装置、放射線撮影装置、放射線撮影システム | |
US11000249B2 (en) | X-ray detector for grating-based phase-contrast imaging | |
WO2013027519A1 (ja) | 放射線撮影装置及びアンラップ処理方法 | |
WO2013027536A1 (ja) | 放射線撮影装置及び放射線撮影方法 | |
WO2013051647A1 (ja) | 放射線撮影装置及び画像処理方法 | |
WO2012057045A1 (ja) | 放射線撮影装置、放射線撮影システム | |
JP2014113168A (ja) | 放射線撮影システム及び放射線撮影方法 | |
JPH1133019A (ja) | 放射線照射・検出装置および放射線断層撮影装置 | |
JPH11285489A (ja) | 放射線照射位置調節方法および放射線照射・検出装置並びに放射線断層撮影装置 | |
JP2013090921A (ja) | 放射線撮影装置及び画像処理方法 | |
JP2014113192A (ja) | 放射線撮影方法及び装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190809 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200826 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200826 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210414 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210427 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20210726 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211026 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220310 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220317 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7044764 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |