JP2009082616A - 多管球x線ctにおける散乱線強度分布のスケーリング方法および多管球x線ct装置 - Google Patents

多管球x線ctにおける散乱線強度分布のスケーリング方法および多管球x線ct装置 Download PDF

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Abstract

【課題】多管球X線CT装置における検出器信号から、散乱線成分の強度分布をスケーリングする方法および多管球X線CT装置が提供される。
【解決手段】複数のX線発生部からそれぞれ照射されたX線が被写体を透過することにより得られたX線強度の実データと、前記被写体の同一位置を反対方向にこれらX線が透過することにより得られたX線強度の対向データと、の第1の差分を求め、前記実データに含まれる一次散乱線を推定し、前記被写体の同一位置を反対方向にX線がそれぞれ透過することにより得られるX線強度の前記対向データに含まれる一次散乱線を推定し、前記実データに含まれる散乱線強度と前記前記対向データに含まれる散乱線強度との第2の差分を求め、前記第1の差分と前記第2の差分の比に基づいて、前記推定された一次散乱線強度分布のスケーリングを行う。
【選択図】図6

Description

本発明は、多管球X線CTにおける散乱線強度分布のスケーリング方法および多管球X線CT装置に関し、特に、検出信号から、計算により多管球X線CTにおける散乱線強度分布をスケーリングする方法および多管球X線CT装置に関する。
X線CT装置は、X線管球から放射され、被写体を直進したX線(以下、主線という)の強度を検出し、被写体の断面像を生成する。このとき、主線とともに被写体で散乱したX線(以下、散乱線という)を検出すると、断面像に偽像が発生するなど画質劣化の原因となる。従来は、検出器の脇にコリメータを設置して、検出器に対し斜め方向から入射する散乱線を遮蔽していたが、検出器正面から入射する散乱線を分離することはできなかった。散乱線による画質劣化を抑制するため、モンテカルロ法により散乱線をシミュレーションし、検出器で検出された画像構成の元となる信号から、散乱線成分を除去する技術(例えば、特許文献1)や、散乱成分除去を含む補正データをシミュレーションにより作成し、高精度に画像を構成する技術(例えば、特許文献2)などが提案されている。
しかし、X線の飛跡をモンテカルロ法によりシミュレーションし、装置の構造と被写体の形状から散乱線の強度分布を推定することができるが、モンテカルロ法は全ての散乱飛跡を追跡するため、散乱X線のうち検出器に入って誤差を生む成分のみを追跡するという目的に対し、時間がかかりすぎるという問題があった。そのため、あらゆる形状の被写体に適用することは困難であった。
一方、測定時間の短縮や高分解能化を目的として、近年、多管球を有するX線CT装置が注目されている。多管球X線CT装置では、他の管球からの散乱線が、検出器正面から入射することの影響が大きく、またこれをコリメータで遮蔽することはできない。これに対し、被写体内で1回だけ散乱した一次散乱線の強度のみを計算し補正することで画質劣化を改善できるという観点から、一次散乱推定法による補正が効果的とされ、散乱線の検出器上の相対的な強度分布を推定することができる。しかし、推定した散乱線は相対的な強度分布を持つため、実際に補正を行うには、スケーリングする必要がある。
特開平11−299768号公報 特開2006−334319号公報
本発明は、多管球X線CT装置における検出器信号から、散乱線成分の強度分布をスケーリングする方法および多管球X線CT装置を提供する。
本発明の一態様によれば、複数のX線発生部から被写体にX線をそれぞれ照射し、前記被写体を透過した前記X線を検知して前記被写体の断層画像を構成する多管球X線CTにおける散乱線強度分布のスケーリング方法であって、前記複数のX線発生部からそれぞれ照射されたX線が被写体を透過することにより得られたX線強度の実データと、前記被写体の同一位置を反対方向にこれらX線が透過することにより得られたX線強度の対向データと、の第1の差分を求め、前記複数のX線発生部からそれぞれ照射されたX線が被写体を透過することにより得られるX線強度の前記実データに含まれる一次散乱線を推定し、前記被写体の同一位置を反対方向にX線がそれぞれ透過することにより得られるX線強度の前記対向データに含まれる一次散乱線を推定し、前記実データに含まれる散乱線強度と前記前記対向データに含まれる散乱線強度との第2の差分を求め、前記第1の差分と前記第2の差分の比に基づいて、前記推定された一次散乱線強度分布のスケーリングを行うことを特徴とする多管球X線CTにおける散乱線強度分布のスケーリング方法が提供される。
本発明の他の一態様によれば、X線を発生する複数のX線発生部と、被写体を透過した前記X線を検知するX線検知部と、前記X線検知部で検知された結果に基づいて前記被写体の断層画像を構成する画像再構成部と、前記被写体内における前記X線の一次散乱線強度分布を推定する散乱線計算手段と、を備え、前記散乱線計算部は、前記複数のX線発生部から照射されたX線が被写体を透過することにより前記X線検知部において得られたX線強度の実データと、前記被写体の同一位置を反対方向にこれらX線が透過することにより前記X線検知部において得られたX線強度の対向データと、の第1の差分を求め、前記複数のX線発生部から照射されたX線が被写体を透過することにより得られるX線強度の前記実データに含まれる一次散乱線を推定し、前記被写体の同一位置を反対方向にこれらX線が透過することにより得られるX線強度の前記対向データに含まれる一次散乱線を推定し、前記実データに含まれる散乱線強度と前記対向データに含まれる散乱線強度との第2の差分を求め、前記第1の差分と前記第2の差分の比に基づいて、前記推定された一次散乱線強度分布のスケーリングを行い、前記画像再構成部は、前記散乱線計算部によりスケーリングされた前記一次散乱線強度分布を用いて、前記X線検知部で検知された前記結果を補正することにより前記断層画像を再構成することを特徴とする多管球X線CT装置が提供される。
本発明によれば、多管球X線CT装置における検出信号から、散乱線補正を行うことができる散乱線強度分布のスケーリング方法および多管球X線CT装置が提供される。
以下、図面を参照しつつ本発明の実施形態について説明する。
図1は、本発明の実施形態において採用する一次散乱線強度分布の推定方法を説明する概略図である。
点Mにある第1の管球10から被写体30の中心に対し角度βmの方向に発せられたX線は、点Nにおいて被写体30に入射する。透過線20は、点Qを経て点RまでのパスNQRに沿って被写体30を透過して、検出器14上の点Dにて検出器14に到達する。被写体30内での透過線20のパス長x’は、次式により与えられる。


ここで、X線CTにおいては、第1の管球10とは別に、X線を発生する第2の管球12を設けることができる。検出器14には第1の管球10からの透過線20の他に、被写体30から見て第1の管球10に対し角度φの方向の点Sにある第2の管球12から発せられたX線も、被写体30内で散乱して検出器14に到達する。つまり、散乱線の発生源としては、例えば、第1の管球10とは別に設けられた第2の管球12から発せられたX線の散乱線を挙げることができる。以下、第2の管球12を設けた具体例について説明する。
第2の管球12から被写体30の中心に対し角度βsの方向に発せられたX線は、点Pで被写体30に入射する。被写体30内の点Qにおいて散乱角θで1回散乱した一次散乱線24は、パスPQRに沿って被写体30内を透過し、点Dにて検出器14に到達する。一次散乱線24のパス長xは、次式により与えられる。


第2の管球12から発せられたX線は、被写体30内で散乱し、散乱線を発生させるため、βsを振ってX線を発し、点Dにおける一次散乱線24の強度を積算する。第2の管球12は、散乱線計算のため仮想的に設置し、計算を行うが、実際に設置し実験データを得て、推定値と測定値の比較を行うことが可能である。
透過線20の強度をIp、一次散乱線24の強度をIsとすると、検出器14上の点DにおけるX線強度Iは、次式により与えられる。


上式の右辺の第1項は検出器14上での透過線20の強度であり、右辺の第2項は検出器14上での一次散乱線の強度である。さらに、第1の管球10から発生するX線の角度βmを振ることにより、検出器14上の検出点Dの位置を走査しながら、検出器14上の一次散乱線強度ΣIsの分布と透過線20の強度Ipの分布を求めることができ、さらにそれらの和としてX線強度Iの分布を求めることができる。
図2は、被写体30内でのX線の散乱について説明する概略図である。
第2の管球12から放射状に発せられたX線は被写体30内のあらゆる場所で散乱し、第1の管球10からの透過線20と同様に検出器14に到達する。複数回散乱した多重散乱線26も検出器14に到達する。多重散乱線26は無視し、被写体30内で1回だけ散乱した一次散乱線24についてのみ、検出器14への入射強度分布を計算する。第2の管球12と対向する位置に検出器15を配置することにより、第2の管球12からの透過線22を検出することも可能である。なお、ここでは、被写体30は人体を模して楕円形としてある。
以下に、散乱線強度分布の計算手順を説明する。
図3は、本発明の実施形態に係るX線散乱線強度分布の推定方法を例示するフローチャートである。
本実施形態の推定方法は、被写体の外形形状を推定する工程(ステップS100)、散乱線強度を推定する検出チャンネルを決定する工程(ステップS102)、管球と検出チャンネル間の透過線パスを決定する工程(ステップS104)、一次散乱線の被写体透過パスを決定する工程(ステップS106)、一次散乱線の強度を計算する工程(ステップS108)、全ての一次散乱線の強度を積算する工程(ステップS110)、全ての検出チャンネルについて一次散乱線の積算を実施したかを判定する工程(ステップS112)、新たな検出チャンネルを決定する工程(ステップS114)及び検出器上の一次散乱線強度分布を計算する工程(ステップS116)と、を備える。
図4は、被写体30の外形形状推定手順(ステップS100)を説明するためのデータ図である。
図4(a)に示すように、散乱線を含む被写体30の投影データ40を得る。次に、図4(b)に示すように、投影像40から、検出器14のチャンネルに沿うプロファイルを得る。楕円体に模した被写体30の長径52と短径54に関して得られる長径プロファイル42と短径プロファイル44は、投影像40の濃淡に沿う強度を示している。プロファイルの幅から、それぞれ長径52と短径54を求めることができる。
図5は、散乱線強度の推定手順を説明する概略図である。
図5(a)は、検出器14上で散乱線強度を推定する検出チャンネル16を決定する工程(ステップS102)を表す。検出器14上に配列されている全ての検出チャンネル16それぞれにおいて散乱線強度の推定を行い、それらを集積して検出器14上のX線強度分布を求める。
図5(b)は、透過線パスを決定する工程(ステップS104)を表す。第1の管球10と検出チャンネル16を結び、検出されるX線の透過パス20を決める。第1の管球10から発生するX線強度をIoとすると、検出チャンネル16で検出される透過線強度Ipは、被写体30のX線吸収係数をμ、透過パス長を図1に示したようにx’として、次式で求められる。

図5(c)は、一次散乱線24の被写体透過パスを決める工程(ステップS106)及び一次散乱線24の強度を計算する工程(ステップS108)を表す。仮想的にまたは実験的に設定した第2の管球12からのX線のうち、被写体30内で1回のみ散乱する一次散乱線24の透過パスを求め、検出チャンネル16で検出される散乱線強度Isを計算する。第2の管球12から発生するX線強度をIo、被写体30のX線吸収係数をμ、透過パス長を図1で示したようにx、X線の散乱確率をP(θ)として、散乱線強度Isは、次式で求められる。


ここで、θは、図1で示した一次散乱線24の散乱角である。
図5(d)は、全ての一次散乱線24の強度を積算する工程(ステップS110)を表す。図1に関して前述したように、第2の管球12から発生するX線の照射角βsを、例えば0.1度ずつ振り、発生したすべての一次散乱線24のパスを決定し、検出チャンネル16で検出されるそれぞれの一次散乱線24の散乱線強度Isを積算する。このとき、検出チャンネル16で検出される検出強度Iは、I=Ip+ΣIsである。
一次散乱推定の結果、推定散乱線としてΣIsが得られる。
ステップS104からステップS110に至る工程を、図1に関して前述したように、第1の管球10から発生するX線の角度βmを振りながら、検出器14上の全ての検出チャンネル16について実行することにより、検出器14上のX線強度分布及びその一次散乱線強度分布を求めることができる。
以上の説明では、被写体30内での散乱は、第1の管球10とは別の第2の管球12からの散乱に注目していた。それは、コリメータでは除去できない検出器14正面から入射する散乱線として、第1の管球10とは別の第2の管球12からの散乱線を想定したためである。 しかし、第1の管球10からのX線の被写体30内における散乱を除去することも、X線CT装置の課題である。特に、分解能向上の観点から検出チャンネルが小さくなった場合、コリメータを設けることは困難となり、コリメータ無しのX線CT装置の必要性が生じてくる。
一方、多管球CTでは、検出器正面から入射する散乱線の除去が課題となる。その場合には、第1の管球10からの散乱線を装置に設けられる機器によらず、計算により除去する方法が必須となる。
図6は、本発明の実施の形態に係る多管球CTの散乱線強度分布のスケーリング方法を例示するフローチャートである。
ここで、「スケーリング」は、推定した一次散乱線強度の補正を行うことに対応する。
本実施形態の散乱線強度分布のスケーリング方法は、X線強度の実データと対向データの差分をとる工程(ステップS202)、実データに含まれる散乱線と対向データに含まれる散乱線を推定し、これら散乱線の差分をとる工程(ステップS204)、2つの差分データのピーク値を用いて推定した散乱線のスケーリングを行う工程(ステップS206)と、を備えている。
図7は、本発明の実施の形態に係る多管球CTの散乱線強度分布のスケーリング方法を説明する概略図である。
本具体例においても、X線発生部としては、第1の管球10と第2の管球12とを備えている。第1の管球10から出射したX線は、被写体30に入射し、透過線20は被写体30を透過し、検出器14に到達する。同時に、第2の管球12から出射したX線も、被写体30に入射し、被写体30内で1回散乱した一次散乱線24が、被写体30を透過した後、検出器14に到達する。
図7(a)は、検出器14に入射するX線強度のカウント(実データ)を取得するための配置であり、図7(b)は、被写体の同じ位置を反対方向にX線が透過したときの検出器14のカウント(対向データ)を取得するための配置である。
図7(a)では、被写体30の中心を通る基線をZとしたとき、基線Zに対し被写体30の中心から見て角度βの方向に、第1の管球10が位置し、第1の管球10から被写体30の中心を見て角度γの方向にX線が出射するとしている。角度γを振ったとき、検出器14上では透過線20の強度分布が測定される。また、第2の管球12から出射したX線は、被写体30内で散乱して検出器14に到達し、一次散乱線24は、検出器14上において第2の管球12に近い側では、被写体30内での透過パスが短いため、第2の管球12から遠い側よりも強い強度が測定されることとなる。
図7(b)では、被写体30の同じ位置を反対方向にX線が透過するように、第1の管球10、第2の管球12及び検出器14が被写体30の周囲を、実データ取得時に比べさらに角度(π+2γ)だけ回転している。すなわち、第1の管球10は、基線Zに対し被写体30の中心から見て角度(β+π+2γ)の方向にある。第1の管球10からのX線は被写体30の同じ位置を反対方向に透過しているので、検出器14でのカウントは同じである。つまり、実データに含まれる第1の管球10からの透過X線の強度と、対向データに含まれる第1の管球10からの透過X線の強度と、の差分はゼロである。
一方、第2の管球12から出射し、被写体30の同じ位置で1回散乱した一次散乱線24の検出器14でのカウントは、被写体30内での透過パスが長くなるため、実データ取得時のカウントに比べ低い。そして、一次散乱線24の検出器14でのカウントは、第2の管球12に近い側の方が高くなる。つまり、第2の管球12から出射した散乱線の強度分布については、実データに含まれる散乱線の強度分布と、対向データに含まれる散乱線の強度分布と、が同一ではなくなる。
図8は、検出器14で得られたX線強度の実データと対向データの差分プロファイルを示すグラフ図である。被写体は、水の円柱(水円柱)としている。第2の管球12からの散乱線の強度分布を反映した差分結果が得られている。横軸は検出器14上の検出チャンネルの番号を表すが、検出器14の中央部から離れたチャンネルで強度分布を反映したピークが得られている。
このように、実データと対向データの間で、X線強度分布には、一次散乱線24の強度分布の違いを反映した差異が得られる。
その結果、多管球CTでは、実データと対向データの差分を取ることにより、散乱線が寄与する差分データを得ることができる(S202)。
次に、第2の管球12からの一次散乱線24の強度分布を計算し、推定散乱線分布を求める。つまり、実データと対向データにそれぞれ含まれる散乱線の分布を推定する。
ここで、一例として、水に対するX線散乱確率を使用して散乱線強度分布の推定を行う。
図9は、水に対するX線の散乱確率P(θ)を例示するグラフ図である。散乱確率P(θ)は、X線スペクトルと散乱角度、被写体の材質から計算により求めることができる。θは、図1に関して前述したように、入射するX線に対する散乱X線の散乱角度である。
図10は、被写体30を水円柱としたときの第2の管球12からの推定散乱線のプロファイルの一例を表すグラフ図である。被写体30内の透過パス長の違いを反映して、検出器14上で第2の管球12に近い側で、高い強度が得られている。
一次散乱線のプロファイルを推定するには、第2の管球12から出射されるX線強度Io、一次散乱線24が被写体30内を透過するパス長x、X線の水による吸収係数μ、水に対するX線の散乱確率P(θ)を用いると、検出器14での一次散乱線24の強度Isは、(2)式で与えられることを利用する。第2の管球12から出射され、検出器14の同一チャンネルで検出される一次散乱線24のうち、第1の管球10からの透過線20と同一角度で検出器14に入射する全ての一次散乱線24を積算することにより、上記同一チャンネルでの一次散乱線24のX線強度のカウントを求める。角度γを振ることにより、検出器14での一次散乱線24の強度分布のカウントを計算し、推定散乱線の実データを求める。
さらに、第1の管球10、第2の管球12が180°回転した位置での一次散乱線24の強度分布のカウントを計算し、図示していないが対向データに含まれる散乱線を推定する。
散乱線強度分布は、第2の管球12に近い側で強くなることから、計算による推定散乱線分布は、実データと対向データで違いが生じる。その結果、推定散乱線について差分データを得ることができる(S204)。
推定散乱線分布は、相対的な強度を示すのみであるため、実際に検出器14で得られたX線強度のカウントを補正するには、スケーリングが必要である。このために、図8に例示したような検出器14上のカウントの実データと対向データの差分データのピーク値と、実データに含まれる散乱線と対向データに含まれる散乱線との差分データを推定し、これら差分データの例えばピーク値の比をとって、推定散乱線の差分データのスケーリングを行う。
スケーリングされた推定散乱線の差分データから、一次散乱線24のスケーリングされたプロファイルを求めることができる(S206)。
このスケーリングされた一次散乱線強度分布を用いて検出器14で得られたX線強度のカウントを補正することにより、断面像を再構成することができる。
図11は、水円柱シミュレーションデータの補正結果を示す断面像である。
シミュレーションにより水円柱を作成し、第1の管球10、第2の管球12よりX線を適宜照射し、散乱線補正を行った断面像である。
図11(a)は、第2の管球12からの照射を行わないとしたときの断面像である。水は均一な構造を持つため、断面像に濃淡などは現れていない。
図11(b)は、第2の管球12からもX線を照射したときの、散乱線を含む断面像である。散乱線の影響が濃淡の不均一性となって現れている。
図11(c)は、本実施形態の方法により第2の管球12からの散乱線の影響を補正した断面像である。散乱線の影響は取り除かれ、明るさが均一な断面像が得られている。
次に、本発明の実施形態に係るX線CT装置について説明する。
図13は、散乱線強度分布の推定を可能とする多管球X線CT装置を例示する概略図である。
本実施形態のX線CT装置は、第1の管球10、第2の管球12、被写体30、検出器14、15と検出器14、15に接続される散乱線計算部60及び画像再構成部70を備える。
検出器14には、第1の管球10からの透過線20、第2の管球12からの多重散乱線26及び一次散乱線24が入射する。検出器15には、第2の管球12からの透過線22の他、第2の管球12からの一次散乱線が入射する。検出器14で検出される透過線20及び一次散乱線24とから形成されるX線強度分布に対し、散乱線計算部60は図1〜図12に関して前述した方法により散乱線強度分布のスケーリングを実行する。すなわち、散乱線計算部60は、第1の計算部62と、第2の計算部64と、第3の計算部66と、を有する。第1の計算部62は、散乱線が被写体を透過するパス長を計算する。第2の計算部64は、パス長と、被写体のX線吸収係数と、被写体の散乱確率と、に基づいて散乱線の強度を推定する。第3の計算部66は、検出器14、15上のカウントの実データと対向データの差分データのピーク値と、これら実データと対向データにそれぞれ含まれる散乱線分布を推定して得られた差分データのピーク値と、の比をとって、推定散乱線分布のスケーリングを行う。
このようにして得られた散乱線強度分布に基づいて、X線強度分布に対する散乱線成分の補正を行い、画像再構成部70はその補正データを用いて断面像を作成する。
第2の管球12を含むすべてのX線源に応じて、そのX線源からの一次散乱線24を散乱線計算部60においてスケーリングすることにより、いかなるX線発生源からの散乱をも計算により補正することが可能である。散乱線計算部60により散乱線成分を計算し、X線強度分布を補正し、画質劣化のない断面像を再構成することが可能である。
以上具体例を参照しつつ本発明の実施形態について説明した。しかし、本発明は、上述した具体例に限定されるものではない。2管球について説明したが、例えば、3管球以上あってもよい。
すなわち、本発明は、具体例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で、種々変型して実施することが可能であり、これらすべては本発明の範囲に包含される。
本発明の実施形態に係る一次散乱線強度分布を推定する方法を説明する概略図である。 被写体におけるX線の散乱を説明する概略図である。 本発明の実施形態に係るX線散乱線強度分布の推定方法を例示するフローチャートである。 被写体の外形形状推定手順を説明するためのデータ図である。 散乱線強度の推定手順を説明する概略図である。 本発明の第2の実施の形態に係る多管球X線CTの散乱線強度分布のスケーリング方法を例示するフローチャートである。 本発明の第2の実施の形態に係る多管球X線CTの散乱線強度分布のスケーリング方法を説明する概略図である。 X線強度の実データと対向データの差分プロファイルを表すグラフ図である。 水に対するX線の散乱確率P(θ)を例示するグラフ図である。 推定散乱線のプロファイルを表すグラフ図である。 水円柱シミュレーションデータの補正結果を例示する断面像である。 散乱線強度分布の推定を可能とする多管球X線CT装置を例示する概略図である。
符号の説明
10 第1の管球、 12 第2の管球、 14、15 検出器、 16 検出チャンネル、 20、22 透過線、 24 一次散乱線、 26 多重散乱線、 28 散乱線分布、 30 被写体、 40 投影データ、 60 散乱線計算部、 70 画像再構成部

Claims (9)

  1. 複数のX線発生部から被写体にX線をそれぞれ照射し、前記被写体を透過した前記X線を検知して前記被写体の断層画像を構成する多管球X線CTにおける散乱線強度分布のスケーリング方法であって、
    前記複数のX線発生部からそれぞれ照射されたX線が被写体を透過することにより得られたX線強度の実データと、前記被写体の同一位置を反対方向にこれらX線が透過することにより得られたX線強度の対向データと、の第1の差分を求め、
    前記複数のX線発生部からそれぞれ照射されたX線が被写体を透過することにより得られるX線強度の前記実データに含まれる一次散乱線を推定し、前記被写体の同一位置を反対方向にX線がそれぞれ透過することにより得られるX線強度の前記対向データに含まれる一次散乱線を推定し、前記実データに含まれる散乱線強度と前記前記対向データに含まれる散乱線強度との第2の差分を求め、
    前記第1の差分と前記第2の差分の比に基づいて、前記推定された一次散乱線強度分布のスケーリングを行うことを特徴とする多管球X線CTにおける散乱線強度分布のスケーリング方法。
  2. 前記第1の差分と前記第2の差分のピーク値の比に基づいて、前記推定された一次散乱線強度分布のスケーリングを行うことを特徴とする請求項1記載の多管球X線CTにおける散乱線強度分布のスケーリング方法。
  3. 前記一次散乱線強度分布の推定は、一次散乱線が前記被写体を透過するパス長を計算し、
    前記パス長と、前記被写体のX線吸収係数と、前記被写体のX線の散乱確率と、に基づいて前記一次散乱線の強度を計算することにより実行されることを特徴とする請求項1記載の散乱線強度分布のスケーリング方法。
  4. 前記一次散乱線強度分布の推定は、前記被写体の断面構造が均一であるとして、前記散乱線のうち1回散乱した成分の強度を計算することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の散乱線強度分布のスケーリング方法
  5. 前記被写体を水に近似して前記一次散乱線強度分布を推定することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載の散乱線強度分布のスケーリング方法。
  6. 前記被写体の形状を、散乱線を含む投影データから再構成し、前記形状から前記被写体のパス長を求めることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1つに記載の散乱線強度分布のスケーリング方法。
  7. X線を発生する複数のX線発生部と、
    被写体を透過した前記X線を検知するX線検知部と、
    前記X線検知部で検知された結果に基づいて前記被写体の断層画像を構成する画像再構成部と、
    前記被写体内における前記X線の一次散乱線強度分布を推定する散乱線計算手段と、
    を備え、
    前記散乱線計算部は、
    前記複数のX線発生部から照射されたX線が被写体を透過することにより前記X線検知部において得られたX線強度の実データと、前記被写体の同一位置を反対方向にこれらX線が透過することにより前記X線検知部において得られたX線強度の対向データと、の第1の差分を求め、
    前記複数のX線発生部から照射されたX線が被写体を透過することにより得られるX線強度の前記実データに含まれる一次散乱線を推定し、前記被写体の同一位置を反対方向にこれらX線が透過することにより得られるX線強度の前記対向データに含まれる一次散乱線を推定し、前記実データに含まれる散乱線強度と前記対向データに含まれる散乱線強度との第2の差分を求め、
    前記第1の差分と前記第2の差分の比に基づいて、前記推定された一次散乱線強度分布のスケーリングを行い、
    前記画像再構成部は、前記散乱線計算部によりスケーリングされた前記一次散乱線強度分布を用いて、前記X線検知部で検知された前記結果を補正することにより前記断層画像を再構成することを特徴とする多管球X線CT装置。
  8. 前記第1の差分と前記第2の差分のピーク値の比に基づいて、前記推定された一次散乱線強度分布のスケーリングを行うことを特徴とする請求項7記載の多管球X線CT装置。
  9. 前記計算部は、前記一次散乱線が前記被写体を透過するパス長を計算する第1の計算部と、
    前記パス長と、前記被写体のX線吸収係数と、前記被写体のX線の散乱確率と、に基づいて前記一次散乱線強度分布を推定する第2の計算部と、
    前記第1の差分と前記第2の差分の比に基づいて、前記第2の計算部により推定された前記一次散乱線強度分布のスケーリングを実行することを特徴とする請求項7または8記載の 多管球X線CT装置。
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