JP4817065B2 - 放射線撮像装置 - Google Patents

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Description

この発明は、放射線撮像を行う放射線撮像装置に係り、特に、放射線照射手段から照射される放射線の照視野を制御する技術に関する。
放射線撮像装置として、X線透視撮影装置を例に採って説明する。近年、X線透視撮影装置におけるX線撮影では、骨によるX線の吸収度に基づいて骨に含有されているCa(カルシウム)量を測定する骨塩定量を行うケースが増えてきている。骨塩定量を行うには、X線管(放射線照射手段)から照射されて被検体Mを透過したX線を、X線フィルムやフラットパネル型X線検出器(FPD)などに代表されるX線検出器で検出して、検出されたX線に基づいて骨が映った画像を得る。かかる骨塩定量では照視野内で検出されるX線フィルムのフィルム濃度の均一性(照視野の均一性)が要求される。
一般的に、X線管では、図8に示すようにアノード(「ターゲット」とも呼ばれる)A側のX線強度が照視野の中心Oに対して弱くなる。なお、図8中の符号Cはカソード(陰極)である。これは「ヒール効果」とも呼ばれるX線管固有の特性である(例えば、特許文献1、2参照)。照視野内のX線強度の均一性を規定する規格は、国際電気標準会議(IEC: International Electrotechnical Commission)、日本工業規格(JIS: Japanese Industrial Standard)ともに、照視野の中心(視野中心)を100%としたときに30%以上必要と規定されている。しかし、骨塩定量を行う場合には30%程度では不十分であり、80%あるいは90%の均一性が求められる。
そこで、均一性を十分に確保するためには、上述した特許文献1のようにフィルタによってヒール効果を補正する、あるいは上述した特許文献2のようにX線の線量を予め測定して、線量の強い部位ほど厚く形成された金属性のフィルタをX線管の照射口に設けることで一様なX線強度分布を得る。その他にも、図9に示すように、カソードCから出射される電子ビームや、カソードCとアノードAとを結ぶ軸に平行な軸を管軸Axとしたときに、管軸Axに対して垂直な軸Bxの方向を使用する、図10に示すように、カソードCのターゲットアングルθを大きくしたX線管を使用する、あるいは図11(b)に示すように、焦点・フィルム間距離(FFD)を図11(a)よりも大きく取ることで一様なX線強度分布を得る。
ヒール効果は上述したようにアノードA側にX線強度が照視野の中心Oに対して弱くなるので、図9中の管軸Axの方向に対してX線強度分布の変化が大きく、図9中の軸Bxの方向に対してX線強度分布の変化が小さい。そこで、図9に示すような撮影手技を行う。また、ヒール効果では、アノード(ターゲット)A中で発生したX線がターゲット中を透過する間に減弱され、特にカソードC側や照視野の中心O側に出射されたX線よりもアノードA側に出射されたX線の方が透過する長さが長い分だけ減弱されて、アノードA側にX線強度が照視野の中心Oに対して弱くなる。そこで、図10に示す構造のX線管を使用する。X線強度が90%、すなわち照視野の均一性が90%以上の部分を、図11中の斜線のハッチングで示すと、図11(a)のようにFFDが小さいと90%以上の部分での照視野も限られるが、図11(b)のようにFFDが大きいと90%以上の部分での照視野も大きくとることができる。
特開2005−169110号公報(第1−7頁、図3−5) 特開2004−214130号公報(第1−3頁、図1−3)
上述したように、骨塩定量を行うX線撮影では、フィルム濃度の均一性(照視野の均一性)を確保するためにFFDを大きくとる必要がある。一方で、通常のX線撮影では、上述したように30%程度のフィルム濃度の均一性で十分である。しかし、骨塩定量を行うX線撮影を通常のX線撮影とオペレータ(技師)が勘違いして、短いFFDで撮影した場合には、80%あるいは90%のフィルム濃度の均一性が確保できない。その結果、骨塩定量の測定結果が不正確となる。また、その場合には被検体に対して無駄な被曝を与えてしまう。
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、照視野の均一性を確保することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項1に記載の発明は、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段を備え、前記被検体を透過した放射線を検出し、その検出された放射線に基づいて放射線画像を得ることで放射線撮像を行う放射線撮像装置であって、前記放射線照射手段から照射される放射線の照視野を操作する照視野操作手段と、放射線強度分布として表される照視野内の位置と放射線強度との相関関係を予め記憶した相関関係記憶手段と、設定された照視野の均一性および前記相関関係記憶手段に予め記憶された相関関係に基づいて、前記設定された均一性に該当する放射線強度に応じた照視野内の位置に該当する照視野の操作量を演算する操作量演算手段と、その操作量演算手段で演算された操作量で前記照視野操作手段を操作することで照視野を制御する照視野制御手段とを備えることを特徴とするものである。
[作用・効果]請求項1に記載の発明によれば、放射線強度分布として表される照視野内の位置と放射線強度との相関関係を相関関係記憶手段に予め記憶する。設定された照視野の均一性および上述の相関関係記憶手段に予め記憶された相関関係に基づいて、操作量演算手段は上述の設定された均一性に該当する放射線強度に応じた照視野内の位置に該当する照視野の操作量を演算する。その操作量演算手段で演算された操作量で照視野制御手段が操作することで照視野を制御する。その結果、目的の均一性を設定すれば、照視野の操作量が演算され、さらにその操作量で照視野制御手段が操作することで照視野を制御するので、目的の均一性を有した照視野を放射線照射手段から照射することができる。したがって、撮像の目的に合わせて照視野の均一性を確保することができる。
上述した発明では、設定された均一性を入力する入力手段を備えてもよいし(請求項2に記載の発明)、装置の外部にある外部装置との間で転送する転送手段を備え、転送手段から設定された均一性を転送してもよい(請求項3に記載の発明)。すなわち、請求項2に記載の発明の場合には、入力手段に均一性を入力設定して、請求項3に記載の発明の場合には、設定された均一性のデータを外部装置から転送手段を介してこの発明に係る放射線撮像装置に転送することで入力設定する。
また、上述したこれらの発明の一例は、放射線強度分布について、放射線強度が照視野の中心で対称に分布する場合には、その中心から設定すべき放射線強度に相当する箇所までの距離を操作量演算手段は演算するとともに、演算されたその距離に該当する操作量を演算することで、設定された均一性に該当する設定すべき放射線強度に基づいて、操作量を演算することである(請求項4に記載の発明)。
放射線強度が照視野の中心で対称に分布する場合には、逆方向も含めて、ある一方向では、その中心から設定すべき放射線強度に相当する箇所までの距離は2つ存在するが、両者は互いに同じ距離となる。その距離を操作量演算手段は演算するとともに、演算されたその距離に該当する操作量を演算するのが可能になる。このように操作量を演算することで、設定された均一性に該当する設定すべき放射線強度に基づいて、操作量を演算することになる。
また、上述したこれらの発明の他の一例は、放射線強度分布について、放射線強度が照視野の中心で非対称に分布する場合には、その中心から設定すべき放射線強度に相当する箇所までの距離が複数存在し、複数存在する距離の中からもっとも短い距離を選択して操作量演算手段は演算するとともに、演算されたその距離に該当する操作量を演算することで、設定された均一性に該当する設定すべき放射線強度に基づいて、操作量を演算することである(請求項5に記載の発明)。
放射線強度が照視野の中心で非対称に分布する場合には、逆方向も含めて、ある一方向では、その中心から設定すべき放射線強度に相当する箇所までの距離は2つ存在するが、両者は互いに異なる距離となる。したがって、複数存在する距離の中からもっとも短い距離を選択することで、その選択された距離における放射線強度よりも小さい放射線強度が設定されることはない。その距離を操作量演算手段は演算するとともに、演算されたその距離に該当する操作量を演算するのが可能になる。このように操作量を演算することで、設定された均一性に該当する設定すべき放射線強度に基づいて、操作量を演算することになる。
この発明に係る放射線撮像装置によれば、目的の均一性を設定すれば、照視野の操作量が演算され、さらにその操作量で照視野操作手段が操作することで照視野を制御するので、目的の均一性を有した照視野を放射線照射手段から照射することができ、撮像の目的に合わせて照視野の均一性を確保することができる。
以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。
図1は、実施例に係るX線透視撮影装置のブロック図である。本実施例では放射線撮像装置としてX線透視撮影装置を例に採って説明する。
X線透視撮影装置は、図1に示すように、被検体Mを載置する天板1と、その被検体Mに向けてX線を照射するX線管2と、被検体Mを透過したX線を検出するフラットパネル型X線検出器(以下、「FPD」と略記する)3とを備えている。なお、X線検出器としては、FPD以外にもイメージインテンシファイアやX線フィルムでもよい。X線管2は、この発明における放射線照射手段に相当する。
X線透視撮影装置は、他に、天板1の昇降および水平移動を制御する天板制御部4や、FPD3の走査を制御するFPD制御部5や、X線管2の管電圧や管電流を発生させる高電圧発生部6を有するX線管制御部7や、FPD3から電荷信号であるX線検出信号をディジタル化して取り出すA/D変換器8や、A/D変換器8から出力されたX線検出信号に基づいて種々の処理を行う画像処理部9や、これらの各構成部を統括するコントローラ10や、処理された画像などを記憶するメモリ部11や、オペレータが入力設定を行う入力部12や、処理された画像などを表示するモニタ13などを備えている。
天板制御部4は、天板1を水平移動させて被検体Mを撮像位置にまで収容したり、昇降、回転および水平移動させて被検体Mを所望の位置に設定したり、水平移動させながら撮像を行ったり、撮像終了後に水平移動させて撮像位置から退避させる制御などを行う。FPD制御部5は、FPD3を水平移動させたり、被検体Mの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御などを行う。高電圧発生部6は、X線を照射させるための管電圧や管電流を発生してX線管2に与え、X線管制御部7は、X線管2を水平移動させたり、被検体Mの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御や、X線管2側のコリメータ16(図2、図4を参照)の照視野の設定の制御などを行う。なお、X線管2やFPD3の走査の際には、X線管2から照射されたX線をFPD3が検出できるようにX線管2およびFPD3が互いに対向しながらそれぞれの移動を行う。
本実施例では、X線管制御部7は、照視野の操作量d(図4を参照)でコリメータ16(図2、図4を参照)を操作することで照視野を制御する。したがって、X線管制御部7は、この発明における照視野制御手段に相当する。照視野の操作量はコリメータ16の「開き量」とも呼ばれる。
コントローラ10は、中央演算処理装置(CPU)などで構成されており、メモリ部11は、ROM(Read-only Memory)やRAM(Random-Access Memory)などに代表される記憶媒体などで構成されている。また、入力部12は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。X線透視撮影装置では、被検体Mを透過したX線をFPD3が検出して、検出されたX線に基づいて画像処理部9で画像処理を行うことで被検体Mの撮像を行う。
本実施例では、メモリ部11には、X線強度分布(図4、図6を参照)として表される照視野内の位置とX線強度との相関関係を予め記憶した相関関係メモリ部11aを備えている。また、メモリ部11のROMには、設定された照視野の均一性および上述した相関関係メモリ部11aに予め記憶された相関関係に基づいて、設定された均一性に該当するX線強度に応じた照視野内の位置に該当する照視野の操作量を演算するプログラムが予め記憶されており、そのプログラムをコントローラ10が実行する。したがって、コントローラ10は、この発明における操作量演算手段の機能を備えている。したがって、相関関係メモリ部11aは、この発明における相関関係記憶手段に相当する。また、入力部12は、後述するタッチパネル12a(図2、図3を参照)を備えており、設定された均一性を入力する。したがって、タッチパネル12aを含んだ入力部12は、この発明における入力手段に相当する。
次に、撮像系について図2、図3を参照して説明する。図2は、X線透視撮影装置の撮像系の具体的構成を示す概略図であり、図3は、入力部の一例を示すタッチパネルの概略図である。
図2に示すように、上述したX線管2を天井から懸垂支持するための保持器14を備えている。懸垂支持されたX線管2にはランプ15を配設するとともに、照射側にはコリメータ16を配設している。コリメータ16は、X線管2から照射されるX線の照視野を操作する。ランプ15から照射される光もコリメータ16によって操作される。したがって、ランプ15から照射される光によってX線の照視野をオペレータは視認することができる。なお、ランプ15を必ずしも備える必要はない。また、X線管2は保持器14によって懸垂支持されるタイプに限定されず、FPD3とともに支持されるタイプや、回診用に合わせて運搬可能なタイプなどであってもよい。コリメータ16は、この発明における照視野操作手段に相当する。
懸垂支持されたX線管2の側方には、タッチパネル12aを配設している。このタッチパネル12aには、図3に示すように例えば「30%」、「50%」、「80%」、「90%」というような均一性の設定画面を設けており、オペレータがこの画面に触れることで、触れられた画面に該当した均一性を入力設定する。例えば、「30%」に触れることで「30%」の均一性を入力設定する。同じように「50%」に触れることで「50%」の均一性を入力設定し、「80%」に触れることで「80%」の均一性を入力設定し、「90%」に触れることで「90%」の均一性を入力設定する。
次に、設定された均一性に基づく一連の照視野の制御について、図4〜図6を参照して説明する。図4(a)〜図4(c)は、各々の照視野の操作量(開き量)ごとの照視野およびX線強度分布を示した模式図であり、図5は、X線強度分布として表される照視野内の位置とX線強度との相関関係を示したグラフであり、図6は、各々の照視野の操作量(開き量)ごとの図4とは別のX線強度分布を示した模式図である。図4では、X線強度が照視野の中心Oで非対称に分布したときのX線強度分布であって、図6では、X線強度が照視野の中心Oで対称に分布したときのX線強度分布である。
X線強度分布は照視野の均一性を表し、つまり照視野の均一の度合いを示す。従来の図8でも述べたように、図4や図6に示すように照視野の中心OでのX線強度を100%としたときに中心から離れるにしたがって強度は低くなって均一性が保てなくなる。X線強度分布は、照視野内の位置とX線強度との相関関係で表され、図5に示すような分布となる。なお、図5のグラフは、図4と同様にX線強度が照視野の中心Oで非対称に分布したときのX線強度分布である。X線管2またはX線透視撮影装置の出荷前の工場での段階で、かかる相関関係を予め求める。その後にX線管2またはX線透視撮影装置を出荷する。
照視野の操作量(開き量)dを最大にした状態で、被検体として水や銅板などのファントムを用いて撮影を行う。そして、照視野の位置に応じてX線強度を測定して、図5に示すような分布を測定する。なお、X線管2(図1、図2を参照)の種類(例えばターゲットアングルが互いに異なるX線管、アノードやカソードの構造や材料が異なるX線管など)が複数存在する場合には、各々の種類に応じてX線強度分布を測定する。なお、照視野の操作量dを必ずしも最大した状態でX線強度分布を測定する必要はないが、出荷後の実際の撮影時において、照視野の操作量dを最大にして撮影を行うことも考慮して、照視野の操作量dを最大にしてX線強度分布を測定するのが好ましい。このように測定されたX線強度分布を、照視野内の位置とX線強度との相関関係として、上述したように相関関係メモリ部11a(図1を参照)に予め記憶した後に出荷する。また、ファントムを入れない状態で照視野の操作量(開き量)dを最大にした状態で撮影を行ってもよい。
X線強度が照視野の中心Oで非対称に分布したときについて説明する。操作量(開き量)dを最大にした状態を図4(a)に示す。このとき、カソードC側では50%を超えるが、アノードA側では30%未満になる。タッチパネル12a(図2、図3を参照)から30%を入力設定した場合には、30%に該当するX線強度は、図4(b)に示すとおりである。このX線強度に応じた照視野内の位置は、X線強度分布が図中の実線から二点鎖線に変化する部分である。この位置に該当する照視野の操作量dは、図4(b)に示すとおりである。この位置がわかることで操作量dを演算することが可能になる。タッチパネル12aから90%を入力設定した場合には、90%に該当するX線強度は、図4(c)に示すとおりである。このX線強度に応じた照視野内の位置は、X線強度分布が図中の実線から二点鎖線に変化する部分である。この位置に該当する照視野の操作量dは、図4(c)に示すとおりである。
ここで、X線強度が照視野の中心Oで非対称に分布(本実施例ではアノードA側がカソードC側よりも強度が小さく分布)している関係で、逆方向も含めて、ある一方向では、その中心Oから設定すべきX線強度に相当する箇所までの距離は2つ存在するが、両者は互いに異なる距離となる。90%と入力設定した場合には、アノードA側では90%に該当する設定すべきX線強度は、図中の実線に示す部分であるので、中心Oから設定すべきX線強度に相当する箇所までの距離は実線に対応した部分までとなる。しかし、逆のカソードC側では90%に該当するX線強度は、図中の実線に示す部分のみならず二点鎖線の部分まで延びるので、中心OからX線強度に相当する箇所までの距離は実線および二点鎖線に対応した部分までとなり、距離が互いに異なる。したがって、複数存在する距離の中からもっとも短い距離を選択することで、その選択された距離におけるX線強度よりも小さいX線強度が設定されることはない。90%と入力設定した場合には、アノードA側の距離がもっとも短い距離となるので、その距離を選択することで、その選択された距離におけるX線強度は図4(b)に示すようにカソードC側においても100%と90%を超えており、その選択された距離におけるX線強度よりも小さいX線強度が設定されることはない。
その距離を演算するとともに、演算されたその距離に該当する操作量dを演算するのが可能になる。このように操作量dを演算することで、設定された均一性に該当する設定すべきX線強度に基づいて、操作量dを演算することになる。
X線強度が照視野の中心Oで対称に分布したときには、操作量dを変えると、図6(a)〜図6(c)に示すとおりとなる。X線強度が照視野の中心Oで対称に分布している関係で、逆方向も含めて、ある一方向では、その中心Oから設定すべきX線強度に相当する箇所までの距離は2つ存在するが、両者は互いに同じ距離となる。90%と入力設定した場合には、アノードA側では90%に該当する設定すべきX線強度は、図中の実線に示す部分であるので、中心Oから設定すべきX線強度に相当する箇所までの距離は実線に対応した部分までとなる。逆のカソードC側でも90%に該当する設定すべきX線強度は、図中の実線に示す部分であるので、中心Oから設定すべきX線強度に相当する箇所までの距離は実線に対応した部分となり、距離は同じである。
X線強度が照視野の中心Oで非対称に分布している場合と同様に、その距離を演算するとともに、演算されたその距離に該当する操作量dを演算するのが可能になる。このように操作量dを演算することで、設定された均一性に該当する設定すべきX線強度に基づいて、操作量dを演算することになる。
本実施例に係るX線透視撮影装置によれば、X線強度分布として表される照視野内の位置とX線強度との相関関係を相関関係メモリ部11aに予め記憶する。設定された照視野の均一性および上述の相関関係メモリ部11aに予め記憶された相関関係に基づいて、コントローラ10は上述の設定された均一性に該当するX線強度に応じた照視野内の位置に該当する照視野の操作量dを演算する。そのコントローラ10で演算された操作量dでX線管制御部7が操作することで照視野を制御する。その結果、目的の均一性を設定すれば、照視野の操作量dが演算され、さらにその操作量dでX線管制御部7が操作することで照視野を制御するので、目的の均一性を有した照視野をX線管2から照射することができる。したがって、撮像の目的に合わせて照視野の均一性を確保することができる。
この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
(1)上述した実施例では、放射線撮像装置としてX線透視撮影装置を例に採って説明したが、PET(Positron Emission Tomography)装置やSPECT(Single Photon Emission CT)装置などに代表されるECT(Emission Computed Tomography)装置のように、X線以外の放射線(PET装置の場合にはγ線)を検出して、検出された放射線に基づいて放射線画像を得ることで放射線撮像を行う放射線撮像装置に適用してもよい。
(2)上述した実施例では、図1に示すようなX線透視撮影装置を例に採って説明したが、この発明は、例えばC型アームに配設されたX線撮像装置にも適用してもよい。また、この発明は、X線CT装置にも適用してもよい。
(3)上述した実施例では、図1に示すように被検体Mを水平姿勢にしてX線撮影を行ったが、被検体を立位姿勢にしてX線撮影を行ってもよいし、斜め方向にしてX線撮影を行ってもよい。
(4)上述した実施例では、設定された均一性を入力する入力手段としてタッチパネル12aを例に採って説明したが、タッチパネル12a以外のマウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスに適用してもよい。
(5)上述した実施例では、タッチパネル12aなどに代表される入力手段に均一性を入力設定したが、図7に示すように、装置の外部にある外部装置との間で転送するケーブル17を備え、ケーブル17から設定された均一性を転送してもよい。すなわち、設定された均一性のデータを外部装置からケーブル17を介して装置に転送することで入力設定する。かかる構成は、例えば院内のネットワーク(装置、ケーブル17、外部装置からなるネットワーク)から医者がオーダーした手技情報(設定された均一性のデータ)が送られるシステムの場合には有用であって、その情報に応じて均一性を自動的に設定することが可能である。ケーブル17は、この発明における転送手段に相当する。なお、ケーブル17以外にも、無線LAN(Local Area Network)などに例示されるように、通常において用いられる転送手段であれば、特に限定されない。
実施例に係るX線透視撮影装置のブロック図である。 X線透視撮影装置の撮像系の具体的構成を示す概略図である。 入力部の一例を示すタッチパネルの概略図である。 (a)〜(c)は、各々の照視野の操作量(開き量)ごとの照視野およびX線強度分布を示した模式図である。 X線強度分布として表される照視野内の位置とX線強度との相関関係を示したグラフである。 各々の照視野の操作量(開き量)ごとの図4とは別のX線強度分布を示した模式図である。 変形例に係るX線透視撮影装置のブロック図である。 X線強度分布を示した模式図である。 管軸に対して垂直な方向を使用した場合の撮像形態を示した模式図である。 ターゲットアングルを大きくしたX線管の構造を示す概略図である。 (a)、(b)は、焦点・フィルム間距離(FFD)ごとの撮像形態を示した模式図である。
符号の説明
2 … X線管
7 … X線管制御部
10 … コントローラ
11a … 相関関係メモリ部
12 … 入力部
12a … タッチパネル
16 … コリメータ
d … 照視野の操作量(開き量)
O … 照視野の中心
M … 被検体

Claims (5)

  1. 被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段を備え、前記被検体を透過した放射線を検出し、その検出された放射線に基づいて放射線画像を得ることで放射線撮像を行う放射線撮像装置であって、前記放射線照射手段から照射される放射線の照視野を操作する照視野操作手段と、放射線強度分布として表される照視野内の位置と放射線強度との相関関係を予め記憶した相関関係記憶手段と、設定された照視野の均一性および前記相関関係記憶手段に予め記憶された相関関係に基づいて、前記設定された均一性に該当する放射線強度に応じた照視野内の位置に該当する照視野の操作量を演算する操作量演算手段と、その操作量演算手段で演算された操作量で前記照視野操作手段を操作することで照視野を制御する照視野制御手段とを備えることを特徴とする放射線撮像装置。
  2. 請求項1に記載の放射線撮像装置において、前記設定された均一性を入力する入力手段を備えることを特徴とする放射線撮像装置。
  3. 請求項1に記載の放射線撮像装置において、前記装置の外部にある外部装置との間で転送する転送手段を備え、その転送手段から前記設定された均一性を転送することを特徴とする放射線撮像装置。
  4. 請求項1から請求項3のいずれかに記載の放射線撮像装置において、前記放射線強度分布について、放射線強度が照視野の中心で対称に分布する場合には、その中心から設定すべき放射線強度に相当する箇所までの距離を前記操作量演算手段は演算するとともに、演算されたその距離に該当する前記操作量を演算することで、前記設定された均一性に該当する前記設定すべき放射線強度に基づいて、操作量を演算することを特徴とする放射線撮像装置。
  5. 請求項1から請求項3のいずれかに記載の放射線撮像装置において、前記放射線強度分布について、放射線強度が照視野の中心で非対称に分布する場合には、その中心から設定すべき放射線強度に相当する箇所までの距離が複数存在し、複数存在する距離の中からもっとも短い距離を選択して前記操作量演算手段は演算するとともに、演算されたその距離に該当する前記操作量を演算することで、前記設定された均一性に該当する前記設定すべき放射線強度に基づいて、操作量を演算することを特徴とする放射線撮像装置。
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