JP7257761B2 - 放射線検査装置 - Google Patents

Description

本発明は、被検体を透過したビームを検出して画像化する放射線検査装置に関する。

放射線検査装置は被検体の非破壊検査を支援する装置であり、Ｘ線を代表とする放射線を被検体に照射し、被検体を透過した放射線を検出して画像化する。例えば、この放射線検査装置により生成された画像を観察することにより、被検体内部に存在するボイドが発見可能となる。

放射線検査装置としては透視撮影装置及びＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）撮影装置が普及している。透視撮影装置は、放射線を発生させる電子管と放射線の検出器を備える。この透視撮影装置は、被検体に対して放射線を一方向から照射し、被検体を透過する過程で減弱した放射線強度の二次元分布を検出して、透過像を画像化する。

また、ＣＴ撮影装置は、放射線を発生させる電子管と放射線の検出器に加え、被検体を回転させる機構と再構成処理部を備える。このＣＴ撮影装置は、被検体を回転させながら電子管が発生させた放射線を照射し、各ビュー方向の透過像を得て、これら透過像から被検体のボリュームデータを作成し、更にボリュームデータから被検体の断面像を画像化する。

放射線検査装置において、例えば電子管の管電圧は、光子の平均エネルギーに係り、放射線の透過能力を決定し、画像のコントラストに影響を与える。管電流は、線量に係り、画像の濃淡に影響を与える。また、ＣＴ撮影装置において、透過像の収集枚数であるビュー数は、画像再構成の情報量を決定し、画像の輪郭に影響を与える。透過像の積分枚数や露光時間は画像のＳＮ比に影響を与える。

従って、放射線検査装置を扱うオペレータは、画像を所望した画質で得られるよう、これら管電圧、管電流、ビュー数及び積分枚数又は露光時間といった撮影条件を適切に設定しなくてはならない。しかしながら、撮影条件の設定項目は多く、適切な撮影条件の設定には手間がかかる。そこで、放射線検査装置には、被検体の材質に応じた撮影条件がプリセットされている。オペレータは、被検体の材質に応じて撮影条件を呼び出し、呼び出した撮影条件で検査を行っていた。

特開２００２－３６５２３９号公報

非破壊検査に使用される産業用の放射線検査装置が対象とする被検体は多様である。例えば、被検体の形、材質、金属が埋め込まれた樹脂等の異種素材の存在、製造方法の種類、及び被検体の評価基準が様々であり、適切な撮影条件が異なる。そのため、プリセットされた撮影条件では対処できない場合が多い。

プリセットされた撮影条件で対処できない場合、近い撮影条件を呼び出し、呼び出した撮影条件をオペレータによってアレンジする必要がある。しかしながら、放射線検査装置の知識が薄いオペレータでは、改善のための設定項目の選択及びパラメータの設定に多くの労力を要する。

特に、ＣＴ撮影装置の場合、放射線の照射から再構成処理を経て画像化されるまで画像が適切な画質を有するか確認できない。場合によっては、オペレータは撮影条件を試行錯誤しながら、検査を何度もやり直さなければならない。そのため、ＣＴ撮影装置の場合は、適切な画質の画像を得るために非常に多くの労力を要する。

本実施形態は、上記課題を解決すべく、所望の画質の画像を得るために適切な撮影条件を簡便に設定することができる放射線検査装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本実施形態に係る放射線検査装置は、各種画質の撮像イメージを表示する表示部と、オペレータによる画質の選択を受け付けるコントローラと、前記コントローラを用いて選択された画質に対応する撮影条件に基づいて、放射線を照射して被検体内の画像を撮像する撮像部と、を備えること、を特徴とする。

前記画質の選択は、画質に関わる各種パラメータの入力であり、前記コントローラは、オペレータによる画質に関わる各種パラメータの入力を受け付け、前記表示部は、前記コントローラで入力された前記各種パラメータに対応する画質の撮像イメージを表示し、前記撮像部は、前記コントローラで入力された前記各種パラメータに対応する撮影条件に基づいて、放射線を照射して被検体内の画像を撮像するようにしてもよい。

または、前記画質の選択は、撮像イメージの選択であり、前記表示部は、前記各種画質の撮像イメージを一度に複数表示し、前記コントローラは、一度に表示された複数の前記撮像イメージから選択を受け付け、前記撮像部は、前記コントローラを用いて選択された前記撮像イメージに対応する撮影条件に基づいて、放射線を照射して被検体内の画像を撮像するようにしてもよい。

前記撮像部は、前記撮像イメージを撮像し、前記データベースは、前記撮像部によって撮像された前記撮像イメージを記憶するようにしてもよい。

ＣＴ撮影装置の全体構成を示す図である。 撮影条件設定部の構成を示す図である。 表示部の画面を示す模式図である。 データベースを示す模式図である。 撮影条件設定部の全体動作を示すフローチャートである。 撮影条件設定部の他の構成を示す図である。 データベースの他の例を示す模式図である。 表示部の画面の他の例を示す模式図である。 コントローラの他の態様を示す模式図である。

以下、本実施形態に係る放射線検査装置についてＣＴ撮影装置を例示して図面を参照しつつ詳細に説明する。図１は、ＣＴ撮影装置の全体構成を示す図である。ＣＴ撮影装置１は、被検体１００周りに当該被検体１００を透過するビームを照射し、複数ビュー数の透過像からボリュームデータを作成し、更にボリュームデータから被検体１００の断面像を作成して表示する。これにより、ＣＴ撮影装置１は、断面像に基づく非破壊検査を支援する。

尚、透過像は、被検体１００の透過過程で減弱したビーム強度の二次元分布データである。ボリュームデータは、水や空気の線減弱係数を基準として被検体１００の各部の元素組成と組織密度に応じた線減弱係数を相対的に表現して規格化したＣＴ値の３次元分布である。断面像は、被検体１００の断面の画像であり、ＭＰＲ（Ｍｕｌｔｉ－ｐｌａｎａｒ ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｉｏｎ）像やＣＰＲ（Ｃｕｒｖｅｄ ｐｌａｎａｒ ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｉｏｎ）像が挙げられる。

このＣＴ撮影装置１は、撮像部として、主に照射源２、検出器３、載置台４、回転テーブル５、再構成処理部６、水平移動機構９１、昇降機構９２及び並進機構９３を備えている。載置台４は回転テーブル５に支持され、被検体１００が載置される。照射源２と検出器３は被検体１００を挟んで対向配置される。再構成処理部６は、検出器３と信号線を介して接続されている。水平移動機構９１は照射源２及び検出器３の位置関係を保ったまま、当該照射源２と検出器３を移動可能に支持し、昇降機構９２及び並進機構９３は載置台４を移動可能に支持している。

この照射源２は、被検体１００を透過するビームを照射する。被検体１００を透過するビームは例えばＸ線ビーム２１である。照射源２は、焦点Ｆを頂点としてファン角及びコーン角を有する角錐状に拡げたＸ線ビーム２１を出射する。尚、被検体１００を透過するビームはＸ線に限らない。照射源２は、例えばγ線、超音波、マイクロ波等を照射するようにしてもよい。

この照射源２は、例えば、反射型又は透過型のマイクロフォーカスＸ線管又は１μｍ以下の焦点Ｆを持つナノフォーカスＸ線管である。Ｘ線管は、フィラメント側の陰極とタングステン等のターゲット側の陽極とを対向に配置して成る。電極間には撮影条件に従った管電流及び管電圧が印加される。フィラメントからは電子が放出され、電子はターゲットに向かって加速し、加速した電子はターゲットに衝突する。この電子のターゲットへの衝突によって焦点ＦからＸ線が放射される。

検出器３は、被検体１００を透過したＸ線ビーム２１の進行先に位置し、照射源２の焦点Ｆと対向配置される。この検出器３は、Ｘ線ビーム２１を検出する二次元状に拡がる面を有する。そして、検出器３は、被検体１００を透過したＸ線ビーム２１の二次元分布を検出し、被検体１００の透過像を出力する。

検出器３は、例えばフラットパネルディテクタ（ＦＰＤ）である。ＦＰＤは、Ｘ線ビーム２１の検出素子を二次元状に拡がる面に並べて有する。各検出素子は、シンチレータ面とフォトダイオードを有する。シンチレータ面は、放射線に励起されると発光するヨウ化セシウム等により成る。フォトダイオードは、蛍光像を電荷に変換して蓄積し、ＴＦＴスイッチは、ＯＮ信号を与えられると、フォトダイオードに蓄積されていた電荷を出力させる。

検出器３は、イメージインテンシファイア（Ｉ．Ｉ．）とカメラにより構成されてもよい。Ｉ．Ｉ．は、シンチレータ面を２次元状に拡げ、入射した放射線の二次元分布を蛍光像に変換しつつ、蛍光像の光度を増倍させる。カメラは、ＣＣＤやＣＭＯＳ等の撮像素子を並設し、蛍光像を撮像する。

載置台４は、照射源２と検出器３の間に配置される。載置台４の載置面は、Ｘ線ビーム２１の光軸２２と平行な平坦面である。回転テーブル５は、載置台４の下方に設けられ、載置台４を回転軸５１周りで回転させる。回転軸５１は、光軸２２と垂直に交差する。この回転テーブル５は、例えばモータとシャフトを有する。シャフトは、回転軸５１と一致して延び、載置台４を軸支する。回転テーブル５は、Ｘ線ビーム２１の照射中、回転軸５１を中心に、載置台４を３６０度回転させる。

ＣＴ撮影装置１が傾斜型である場合、載置台４の載置面は光軸２２と非直交のラミノ角が生じるように、光軸２２に対して傾いていてもよい。また、ＣＴ撮影装置１はハーフスキャンを実行してもよい。この場合、回転テーブル５の回転角度は１回転より小さい。またＣＴ撮影装置１はオーバースキャンを実行してもよい。この場合、回転テーブル５の回転角度は１回転より大きい。

再構成処理部６は所謂コンピュータであり、プロセッサ、ＲＡＭ、及び不揮発性のメモリにより成る。メモリには再構成処理のプログラムが記憶されており、再構成処理部６は、メモリに記憶されたプログラムに従って断面像を生成する生成部である。この再構成処理部６は、検出器３が出力した各ビューの透過像を受け取り、これら各ビューの透過像からボリュームデータを作成し、ボリュームデータから断面像を生成する。この再構成処理には、例えばＦＤＫ（Feldkamp, Davis, Kress）のフィルタ補正逆投影法又はＡＲＴ（Algebraic Reconstruction Technique）の逐次近似法等が使用される。

水平移動機構９１は、照射源２と検出器３を光軸２２に沿って平行移動させる。昇降機構９２は載置台４を回転軸５１に沿って移動させる。並進機構９３は載置台４を回転軸５１に沿って移動させる。これら水平移動機構９１、昇降機構９２及び並進機構９３は関心領域及び撮影倍率を変更する。

図２に示すように、このようなＣＴ撮影装置１は、撮影条件設定部７及び各種制御機器を更に備えている。制御機器は、例えば高電圧発生部８１、回転駆動部８２及び撮像駆動部８３である。撮影条件設定部７は各制御機器に対して制御信号を出力するインターフェースを有するコンピュータである。撮影条件設定部７と再構成処理部６とは同一のコンピュータにより構成されていてもよいし、別々のコンピュータにより構成されていてもよい。

まず、撮影条件設定部７は撮影条件を設定する。また、この撮影条件設定部７は、設定された撮影条件を反映した制御信号を生成し、高電圧発生部８１、回転駆動部８２及び撮像駆動部８３に出力する。撮影条件は、ＣＴ撮影装置１の場合、管電圧、管電流、ビュー数、積分枚数又は露光時間、ビームハードニング補正データ、並びにフィルタの厚み及び種類、その他被検体１００の撮影から画像化に必要な条件である。

高電圧発生部８１は、高電圧を発生させ、撮影条件設定部７により設定された管電圧及び管電流を照射源２に与える。回転駆動部８２は、回転テーブル５に電力信号を入力し、撮影条件設定部７により設定されたビュー数及び積分枚数又は露光時間に応じた回転速度で回転テーブル５を回転させる。撮像駆動部８３は、撮影条件設定部７により設定された露光時間に応じて、Ｘ線ビーム２１の検出により発生した検出器３の電気信号を蓄積させる。尚、再構成処理部６は、撮影条件設定部７により設定された積分枚数分の透過像を積分していく。

撮影条件設定部７を更に詳細に説明する。撮影条件設定部７は、表示部７１、入力部７２、コントローラ７３、データベース７４及び時間算出部７５を備えている。表示部７１は、液晶ディスプレイや有機ＥＬディスプレイ等の画面を有するデバイスとプロセッサを含み構成される。入力部７２は、マウス、キーボード又はタッチパネル等の入力デバイスである。コントローラ７３は、表示部７１に表示されるＧＵＩインターフェースであり、表示部７１とプロセッサを含み構成される。データベース７４はメモリを含み構成される。時間算出部７５は主にプロセッサを含み構成される。

表示部７１は、図３に示すように、撮影条件の設定画面を表示する。設定画面のレイアウトに必要なパーツデータやレイアウト方法等はメモリに記憶されており、表示部７１は、パーツデータ等を読み出して設定画面をレンダリングして画面に表示する。この設定画面には、撮像イメージ７４ｄとコントローラ７３が配置される。また設定画面には撮影時間７４ｅが表示される。

コントローラ７３は、撮影しようとする被検体１００の材質、及び所望する断面像の画質の選択を受け付ける。このコントローラ７３にはプルダウンメニュ７３ａとスライドバー７３ｂがレイアウトされる。プルダウンメニュ７３ａは、撮影しようとする被検体１００の材質選択に用いられ、各種材質を示す文字列が一覧表示する。各文字列はクリックによって選択可能となっている。スライドバー７３ｂは画質選択に用いられる。このスライドバー７３ｂには、入力部７２を用いてドラッグされたノブの位置毎に画質のパラメータが割り振られている。パラメータは絶対値又は基準に対する例えば大小の程度といった相対値である。

選択可能な画質としては、例えば被検体１００の輪郭のシャープネス、断面像のＳＮ比、断面像のコントラスト、断面像のビームハードニング補正強度が挙げられる。スライドバー７３ｂは、これら画質に関わる項目毎にコントローラ７３に並べて配置される。本実施形態において、これら画質に関わる項目は、断面像の画質そのものを指し、画質に影響を与える撮影条件は含まれない。

撮像イメージ７４ｄは画質を視覚的に表す参考画像である。表示部７１に表示される撮像イメージ７４ｄが有する画質は、コントローラ７３で選択された画質と一致する。この撮像イメージ７４ｄはデータベース７４に予め記憶されている。表示部７１は、コントローラ７３で選択された材質及び画質と一致する撮像イメージ７４ｄをデータベース７４から読み出して表示する。

図４は、データベース７４を示す模式図である。図４に示すように、データベース７４には複数の撮像イメージ７４ｄが記憶されている。各撮像イメージ７４ｄには、材質情報７４ａと画質情報セット７４ｂと撮影条件セット７４ｃとが紐付けられている。換言すると、データベース７４には、撮像イメージ７４ｄと材質情報７４ａと画質情報セット７４ｂと撮影条件セット７４ｃが組みになって記憶されている。また更に言い換えると、データベース７４には、画質情報セット７４ｂで示される画質の断面像を、撮像イメージ７４ｄの画質のように取得する場合の、撮影条件セット７４ｃが材質情報７４ａで示される材質に応じて記憶されている。

材質情報７４ａは、紐付けられている撮像イメージ７４ｄの材質を示し、例えばアルミニウムや樹脂等の文字列データである。画質情報セット７４ｂは、紐付けられている撮像イメージ７４ｄの画質を示し、コントローラ７３のスライドバー７３ｂで調整可能な画質に関わる各項目のパラメータを含む。例えば画質情報セット７４ｂには、輪郭のシャープさを示すパラメータ、ＳＮ比を示すパラメータ、コントラストを示すパラメータ、及びビームハードニング補正強度のパラメータ等が含まれる。撮影条件セット７４ｃは、紐付けられている撮像イメージ７４ｄに沿った画質の断面像を得るための管電圧、管電流、ビュー数、積分枚数又は露光時間、ビームハードニング補正強度、フィルタの厚み及び種類等の各種撮影条件により成る。

データベース７４に登録されている撮像イメージ７４ｄは、過去に被検体１００を撮影して得たボリュームデータ又は断面像である。例えば、データベース７４に未登録の材質を有する被検体１００を撮影した際、入力部７２を用いて材質情報７４ａと画質情報セット７４ｂと撮影条件セット７４ｃを加えてデータベース７４に登録しておく。登録タイミングとしては、現在本撮影しようとする被検体１００を試し撮りの時であってもよい。また、撮像イメージ７４ｄは、ＣＧモデル等の撮影に依らずに得られた画像であってもよい。

撮影条件設定部７は、各画質に関わるパラメータと撮影条件の関係式を予め記憶し、一組の撮像イメージ７４ｄと材質情報７４ａと画質情報セット７４ｂと撮影条件セット７４ｃから、画像処理及び関係式による演算によって、撮像イメージ７４ｄと材質情報７４ａと画質情報セット７４ｂと撮影条件セット７４ｃの各組を生成するようにしてもよい。

このような撮影条件設定部７では、コントローラ７３は、材質及び画質の選択を受け付ける。表示部７１は、選択された材質及び画質と一致する撮像イメージ７４ｄをデータベース７４から読み出して設定画面内に表示する。

このとき、時間算出部７５は、コントローラ７３が受け付けた材質及び画質と合致する材質情報７４ａ及び画質情報セット７４ｂに紐付けられた撮影条件セット７４ｃを読み出し、ビュー数及び積分枚数又は露光時間から撮影時間７４ｅを算出し、表示部７１に表示する。例えば、１枚の透過像の収集ピッチをＴ秒とし、ビュー数をＹ枚とし、積分枚数をＺ枚とすると、撮影時間７４ｅはＴ×Ｙ×Ｚで導かれる。

また、材質及び画質の選択が確定すると、撮影条件設定部７は、選択された材質及び画質に対応する撮影条件セット７４ｃをデータベース７４から読み出し、撮影条件セット７４ｃに含まれる各撮影条件の制御信号を高電圧発生部８１、回転駆動部８２及び撮像駆動部８３に出力する。尚、設定画面内には確定ボタン７３ｃのアイコンが配置される。この確定ボタン７３ｃは、選択の確定時に入力部７２を用いて押下される。撮影条件設定部７は、確定ボタン７３ｃの押下に応答して選択を確定する。即ち、撮影条件セット７４ｃに含まれる各撮影条件を反映する制御信号を制御機器に出力する。

図５は、この撮影条件設定部７の全体動作を示すフローチャートである。まず、撮影条件設定部７はコントローラ７３を表示部７１の設定画面に表示する（ステップＳ０１）。コントローラ７３は、プルダウンメニュ７３ａからの材質選択を受け付ける（ステップＳ０２）。材質が入力部７２を用いて選択されると、表示部７１は、選択された材質と合致する材質情報７４ａを探索する（ステップＳ０３）。そして、該当の材質情報７４ａに紐付けられた撮像イメージ７４ｄを読み出して表示する（ステップＳ０４）。

尚、同一材質情報７４ａには複数の撮像イメージ７４ｄが紐付けられているが、材質選択に応答して読み出される撮像イメージ７４ｄは予め定めておく。例えば、材質選択に応答して読み出される撮像イメージ７４ｄは、中間的な画質を有する撮像イメージ７４ｄであるとよい。

次に、入力部７２を用いて各スライドバー７３ｂのノブがドラッグされると（ステップＳ０５，Ｙｅｓ）、コントローラ７３は、各種ノブの位置に応じて定まるパラメータの組み合わせを含む画質情報セット７４ｂをデータベース７４から検索する（ステップＳ０６）。そして、表示部７１は、該当の画質情報セット７４ｂと紐付けられている撮像イメージ７４ｄをデータベース７４から読み出して表示する（Ｓ０７）。

これまでの過程で、オペレータは、被検体１００の材質は考慮するものの、撮影条件は意識せず、撮像イメージ７４ｄの画質を参照して、輪郭やコントラストといった画質に関わる各項目を調整しているように意識する。即ち、オペレータにとっては、所望の断面像の画質を意識すればよく、撮影条件と画質との関係を熟知していなくとも直感的な設定操作を行うものである。

画質選択と撮像イメージ７４ｄの表示は、画質選択が確定されない限り繰り返される（ステップＳ０８，Ｎｏ）。一方、確定ボタン７３ｃの押下により選択が確定されると（ステップＳ０８，Ｙｅｓ）、撮影条件設定部７は、コントローラ７３に現在セットされている画質と合致する画質情報セット７４ｂに紐付けられた撮影条件セット７４ｃを読み出す（ステップＳ０９）。そして、撮影条件設定部７は、読み出した撮影条件セット７４ｃに含まれる各撮影条件を制御信号に変換して制御機器に出力して撮影を開始させる（ステップＳ１０）。

これにより、オペレータが選択した画質の断面像を得るために適切な撮影条件が、オペレータによって意識されることなく設定されたことになる。

そして、ＣＴ撮影装置１は、撮影条件に合わせて被検体１００を撮影して断面像を生成する。即ち、照射源２は、画質の選択によって設定された管電圧及び管電流でＸ線ビーム２１を照射する。回転テーブル５は、画質の選択によって設定されたビュー数及び積分枚数又は露光時間を達成できる回転速度で載置台４を回転させる。検出器３は、画質の選択によって設定された積分枚数又は露光時間で透過像を出力する。再構成処理部６は、画質の選択によって設定されたビームハードニング補正強度並びにフィルタの厚み及び種類で断面像を生成する。

以上のように、このＣＴ撮影装置１では、各種画質の撮像イメージ７４ｄを表示する表示部７１と、オペレータによる画質の選択を受け付けるコントローラ７３とを備えるようにした。そして、撮像部は、コントローラ７３を用いて選択された画質に対応する撮影条件に基づいて、放射線を照射して被検体１００内の画像を撮像するようにした。

これにより、オペレータは管電流や管電圧といった撮影条件を意識する必要はなく、ただ所望の画質を意識すればよい。そのため、ＣＴ撮影装置１の知識が薄いオペレータであっても簡便に所望の画質の断面像を得ることができる。また、選択した画質に合わせて撮像イメージ７４ｄが表示されるので、ＣＴ撮影装置１では何度も検査をやり直す必要はなく、労力が低減する。

ここで、表示部７１には各種画質の撮像イメージ７４ｄが表示されればよく、そのためにデータベース７４に全ての撮像イメージ７４ｄが記憶されていなくともよい。例えば、図６に示すように、撮影条件設定部７は、表示部７１、入力部７２、コントローラ７３、データベース７４及び時間算出部７５に加えて、画質調整部７６を備えている。また、図７に示すように、データベース７４には、材質情報７４ａに対して１枚の撮像イメージ７４ｄが記憶されている。即ち、撮像イメージ７４ｄは材質情報７４ａと撮影条件セット７４ｃに紐付けられて記憶されている。

画質調整部７６は主にプロセッサを含み構成される。この画質調整部７６は、データベース７４に記憶されている撮像イメージ７４ｄを画像処理して、この撮像イメージ７４の画質をコントローラ７３で選択された画質に合わせる。例えば輪郭のシャープネスを選択するスライドバー７３ｂが操作されると、画質調整部７６は、ノブの位置で決定されたパラメータに合わせて撮像イメージ７４ｄの輪郭のシャープネスを変更する。表示部７１は、画質調整部７６により画質変更された撮像イメージ７４ｄを表示する。

また、撮影条件設定部７は、各画質に関わる項目のパラメータと撮影条件との関係式を予め記憶している。そして、撮影条件設定部７は、ノブの位置で決定されたパラメータに合わせてデータベース７４に記憶されている撮影条件セット７４ｃを変更し、選択に確定に応答して制御機器に出力する。例えば、撮影条件設定部７は、輪郭のシャープネスを示すパラメータに合わせて管電圧を変更する。

また、各種画質の撮像イメージ７４ｄが表示されればよく、表示部７１は、図８に示すように、プルダウンメニュ７３ａから選択された材質に合う複数の撮像イメージ７４ｄをデータベース７４から一度に読み出し、一度に表示するようにしてもよい。データベース７４には、材質情報７３ａと各画質の撮像イメージ７４ｄが紐付けられて記憶されている。選択の確定は、表示されている撮影イメージの群から１枚を選択することにより確定する。

撮影条件設定部７は、撮像イメージ７４ｄが入力部７２を用いてクリックされると、クリックされた撮像イメージ７４ｄに紐付けられた撮影条件セット７４ｃをデータベース７４から読み出し、制御信号を生成して制御機器に出力する。この場合、コントローラ７３は材質を選択するのみとなり、スライドバー７４ｂは現われず、撮像イメージ７４ｄをクリックする入力部７２が画質の選択を受け付けるコントローラ７３の主な構成となる。

図９は、コントローラ７３の他の態様を示す模式図である。図９に示すように、コントローラ７３をレーダーチャートとしてもよい。レーダーチャートの各角に各種の画質に関わる項目が配置されている。このコントローラ７３は、レーダーチャートの中心から角方向へ沿ってドラッグされることで、ドラッグ方向に配される角に対応する画質のパラメータが変更される。

これらのような各種態様によっても、オペレータは管電流や管電圧といった撮影条件を意識せずに所望の画質を選択でき、またその画質の選択によって適切な撮影条件が設定できるので、ＣＴ撮影装置１の知識が薄いオペレータであっても簡便に所望の断面像を撮影することができる。また、選択した画質に合わせて撮像イメージ７４ｄが表示されるので、ＣＴ撮影装置１で検査を何度もやり直す必要はなく、労力が低減する。

また、本実施形態では画質に関わる項目は断面像の画質そのものとしたが、コントローラ７３によって選択される画質に関わる項目が撮影条件であってもよい。表示部７１は、コントローラ７３によって撮影条件が変更されると、変更された撮影条件の組み合わせと一致する撮影条件セット７４ｃに合致した撮像イメージ７４ｄを読み出して表示する。この場合、オペレータは、撮像イメージ７４ｄの画質調整を撮影条件の変更によって行っているため、撮影条件を意識する必要があるが、撮影条件の変更結果を撮像イメージ７４ｄによってリアルタイムに知ることができるため、ＣＴ撮影装置１の知識が薄いオペレータであっても簡便に適切な撮影条件に至ることができる。

本明細書においては、本発明に係る実施形態を説明したが、この実施形態は例として提示したものであって、発明の範囲を限定することを意図していない。上記のような実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の範囲を逸脱しない範囲で、種々の省略や置き換え、変更を行うことができる。実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

例えば、本実施形態では放射線検査装置としてＣＴ撮影装置１を例に採り説明したが、透過像を画像化する透視撮影装置であっても適用可能である。即ち、透視撮影装置に撮影条件設定部７を備えるようにすればよく、放射線検査装置にはＣＴ撮影装置１の他、透視撮影装置も含まれる。

１ ＣＴ撮影装置
２ 照射源
２１ Ｘ線ビーム
２２ 光軸
３ 検出器
４ 載置台
５ 回転テーブル
５１ 回転軸
６ 再構成処理部
７ 撮影条件設定部
７１ 表示部
７２ 入力部
７３ コントローラ
７３ａ プルダウンメニュ
７３ｂ スライドバー
７３ｃ 確定ボタン
７４ データベース
７４ａ 材質情報
７４ｂ 画質情報セット
７４ｃ 撮影条件セット
７４ｄ 撮像イメージ
７４ｅ 撮影時間
７５ 時間算出部
７６ 画質調整部
８１ 高電圧発生部
８２ 回転駆動部
８３ 撮像駆動部
９１ 水平移動機構
９２ 昇降機構
９３ 並進機構
１００ 被検体

Claims (11)

1. 撮像イメージを記憶するデータベースと、
   オペレータによる画質の選択を受け付けるコントローラと、
   前記データベースの前記撮像イメージを画像処理によって画質調整する画質調整部と、
   前記画質調整部で調整された前記撮像イメージを表示する表示部と、
   撮影条件に基づいて、放射線を照射して被検体内の画像を撮像する撮像部と、
   を備え、
   前記コントローラを用いて選択された画質に対応して、前記画質調整部が前記データベースの前記撮像イメージを画像処理によって画質を調整すると共に、前記撮像部は、画質に関わる項目のパラメータと撮影条件との関係式に従って、前記画質調整部が調整した当該画質に対応する撮影条件に基づいて撮像すること、
   前記データベースは、被検体の材質に応じた前記各種画質の撮像イメージを記憶し、前記コントローラは、被検体の材質の選択を更に受け付けること、
   を特徴とする放射線検査装置。
2. 前記画質の選択は、画質に関わる各種パラメータの入力であること、
   を特徴とする請求項１記載の放射線検査装置。
3. 前記撮像部は、前記撮像イメージを撮像し、
   前記データベースは、前記撮像部によって撮像された前記撮像イメージを記憶すること、
   を特徴とする請求項１記載の放射線検査装置。
4. 前記コントローラは、輪郭強調の程度、ＳＮ比の程度、コントラストの程度、ビームハードニング補正強度の程度、又はフィルタ強度のうちの少なくとも１項目以上を前記画質に関わる各種パラメータとして入力を受け付けること、
   を特徴とする請求項２記載の放射線検査装置。
5. 前記コントローラは、前記画質に関わる各種パラメータとして前記撮影条件の各種パラメータの入力を受け付けること、
   を特徴とする請求項２記載の放射線検査装置。
6. 前記表示部は、前記画質の選択に応じて前記撮像部による撮影時間を更に表示すること、
   を特徴とする請求項１乃至５の何れかに記載の放射線検査装置。
7. 前記コントローラは、前記表示部によって前記撮像イメージと共に表示されるＧＵＩインターフェースであること、
   を特徴とする請求項１乃至６の何れかに記載の放射線検査装置。
8. 前記コントローラは、前記表示部によって前記撮像イメージと共に表示されるＧＵＩインターフェースであり、前記画質に関わる各種パラメータのスライドバーを含むこと、
   を特徴とする請求項２記載の放射線検査装置。
9. 前記コントローラは、前記表示部によって前記撮像イメージと共に表示されるＧＵＩインターフェースであり、前記画質に関わる各種パラメータを各角に配置したレーダーチャートを含むこと、
   を特徴とする請求項２記載の放射線検査装置。
10. 前記撮像部は、
    被検体を載置する載置台と、
    放射線を前記被検体に照射する照射源と、
    被検体を透過した放射線を検出する検出部と、
    前記検出部の検出結果に基づき被検体の画像を生成する生成部と、
    を備えること、
    を特徴とする請求項１乃至９の何れかに記載の放射線検査装置。
11. 前記撮像部は、前記放射線源と前記検出部の組と前記載置台とを相対的に回転させる回転テーブルを備え、
    前記生成部は、前記回転テーブルの回転により得られた各方向の検出結果からボリュームデータを再構成する再構成処理部であること、
    を特徴とする請求項１０記載の放射線検査装置。

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