JP2003111754A - X線ctシステムにおけるガントリ装置およびその制御方法 - Google Patents

X線ctシステムにおけるガントリ装置およびその制御方法

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JP2003111754A
JP2003111754A JP2001300243A JP2001300243A JP2003111754A JP 2003111754 A JP2003111754 A JP 2003111754A JP 2001300243 A JP2001300243 A JP 2001300243A JP 2001300243 A JP2001300243 A JP 2001300243A JP 2003111754 A JP2003111754 A JP 2003111754A
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Tetsuya Horiuchi
哲也 堀内
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GE Medical Systems Global Technology Co LLC
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 均一な画質で各検出器列に対応するX線断層
像を表示することが可能なX線CTシステムにおけるガ
ントリ装置およびその制御方法を提供すること。 【解決手段】 X線管4と第1コリメータ6との間で、
第1コリメータ6の遮蔽板62の上部に、第2コリメー
タ11が設けられる。この第2コリメータ11を移動さ
せて、検出器列Aに向かうX線ビームの一部分を遮断す
る。この遮断によって、検出器列Aに対する実効焦点寸
法FA’と検出器列Bに対する実効焦点寸法FBとのず
れを小さくする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、X線照射によって
被検体のX線断層像を得るX線CT(Computerized Tom
ography)システムにおけるガントリ装置およびその制
御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】X線CTシステムは、被検体を透過した
X線より得られる投影データを収集して、その投影デー
タからX線断層像を再構成することを主目的とする。具
体的には、まず、被検体をテーブル装置上に横たえさせ
て、ガントリ装置が有する空洞部に向けて搬送する。そ
して、ガントリ装置の回転部(X線管およびX線検出器
を含むX線検出機構が一体的に取り付けられている)を
回転駆動して、異なる角度から被検体に向けてX線を照
射し、各角度での被検体を透過したX線を検出する。そ
して、その検出されたデータ(投影データ)を操作コン
ソールが受信し、算術演算によってX線断層像を再構成
する、という工程を踏むことになる。上記のX線を検出
する一連の工程が、一般にスキャンとよばれるものであ
る。
【0003】また、X線検出部を、テーブルの搬送方向
に配される複数列の検出器で構成する、いわゆるマルチ
スライスX線CTシステムが知られている。このマルチ
スライスX線CTシステムは、一度のスキャンで複数ス
ライスの投影データを収集できるという利点を有する。
【0004】図11は、従来のX線CTシステムにおけ
るX線検出機構の主要部を示す模式図である。同図にお
いて、X線管90は、ハウジング91に、集束電極およ
びフィラメントを内蔵する陰極92と、回転するターゲ
ット面93aが形成された陽極93とを内蔵した構造で
ある。X線は、陰極92から放出される電子ビームがタ
ーゲット面93aで衝突することで発生する。このター
ゲット面93aにおける実際の電子衝突域が焦点fであ
る。
【0005】X線検出部94は、図示のように2列の検
出器AおよびBで構成されている。
【0006】コリメータ95は鉛等のX線遮蔽材質の部
材で構成され、図示の如く、X線管90より放射された
X線のz軸方向(テーブル装置のテーブル搬送方向であ
って、一般に被検体の体軸方向に一致する)におけるX
線照射範囲を画定する2枚の遮蔽板96a,96bと、
ガントリ装置の回転部の回転方向に沿う方向の照射範囲
(ファン角)を画定する、2枚の固定された遮蔽板97
a,97bを備える。これらの遮蔽板の配置によって、
X線の照射範囲を画定するためのスリット98を形成し
ている。
【0007】ところで、上記したX線管90における焦
点fは理想的には点である。焦点fの寸法が大きいと、
再構成されるX線断層像に幾何学的ぼけを生じることが
知られている。これは、X線検出器94に、理想焦点か
ら放射されたX線が被検体のある位置を透過して本影成
分(焦点成分)として入射するのに加え、理想焦点以外
の焦点部分から放射されたX線が被検体の当該位置を透
過して半影成分(副焦点成分)として入り込むためであ
る。したがって、焦点fの寸法は半影成分を生じないよ
うに極力小さいことが好ましい。
【0008】一方、ターゲット面93aにおける冷却効
率等を考慮すると、焦点fの寸法はある程度大きく取ら
ざるをえない。そこで、実際には、図12のX線管90
のターゲット面93a近傍を拡大させた模式図に示すよ
うに、ターゲット面93aは傾斜して設けられ、そこに
電子を衝突させることで、実際の電子衝突域の径を示す
実焦点寸法Srを大きく取る一方、X線検出部94から
みた焦点寸法(実効焦点寸法)Seを小さくするように
している。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上記のようにターゲッ
ト面を傾斜させているので、複数列の検出器を備えるマ
ルチスライスX線CTシステムにおいては、図12に示
されるように、検出器列Aに対する実効焦点寸法SA
と、検出器列Bに対する実効焦点寸法SBとは異なるこ
とになる。この影響は、特に各列の検出器の一部にのみ
X線を照射することになるような薄いスライス厚でスキ
ャンを行う場合に、各検出器列に対応するX線断層像間
の画質の違い(幾何学的ぼけの大小)となって現れる。
このため、各検出器列に対応するX線断層像を表示する
場合に、均一画質のX線断層像を提供することができな
いという問題がある。
【0010】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであり、均一な画質で各検出器列に対応するX線断層
像を表示することが可能なX線CTシステムにおけるガ
ントリ装置およびその制御方法を提供することを目的と
する。
【0011】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するた
め、例えば本発明のX線CTシステムは以下の構成を備
える。すなわち、電子ビームを発生する陰極および、当
該陰極からの電子ビームの衝突により所定方向にX線を
放射するためのターゲット面が形成された陽極を有する
X線管と、被検体搬送用のテーブルを挿入するための空
洞部を挟んで前記X線管と対向する位置に設けられ、前
記テーブルの搬送方向に直交する方向に配される検出素
子群を有する第1および第2の検出器が当該搬送方向に
配されているX線検出部と、を一体的に回転させる回転
部を有するX線CTシステムにおけるガントリ装置であ
って、X線の照射範囲を制限するためのスリットが形成
された第1のコリメータを備えるとともに、前記X線管
と前記第1のコリメータとの間に設けられ、前記第1の
検出器に向けて照射されるX線の範囲を制限する第2の
コリメータを更に備えることを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して実施形態に
ついて詳細に説明する。
【0013】(システム構成)図1は、実施形態におけ
るX線CTシステムのブロック構成図である。図示の如
く、本システムは、被検体へのX線照射と被検体を透過
したX線を検出するためのガントリ装置100と、ガン
トリ装置100に対して各種動作設定を行うとともに、
ガントリ装置100から出力されてきたデータに基づい
てX線断層像を再構成し、表示する操作コンソール20
0により構成されている。
【0014】ガントリ装置100は、その全体の制御を
司るメインコントローラ1を始め以下の構成を備える。
【0015】2は操作コンソール200との通信を行う
ためのインタフェース、3はテーブル16上に横たえた
被検体(患者)を搬送(図面に垂直な方向で以下、z軸
といい、一般に患者の体軸と一致する)するための空洞
部を有するガントリである。4はX線発生源であるX線
管であり、X線管コントローラ5により駆動制御され
る。
【0016】6は被検体に照射されるX線の範囲を制限
するための開口を有する第1コリメータ、7は第1コリ
メータ6のテーブルの搬送方向(すなわち、z軸方向)
の開口幅を調節するための開口幅制御モータ、8は開口
幅制御モータ7の駆動制御を行う開口幅制御モータドラ
イバである。9はコリメータ6のz軸方向の位置を調節
するための位置制御モータ、10は位置制御モータ9の
駆動制御を行う位置制御モータドライバである。
【0017】11は、X線管4と第1コリメータ6との
間に設けられ、X線管4から放射されるX線のうちのz
軸方向における所定領域のX線を遮断する第2コリメー
タである。12は第2コリメータ11のz軸方向の位置
を調節するための調整モータ、13は調整モータ12の
駆動制御を行う調整モータドライバである。
【0018】上記した第1コリメータ6および第2コリ
メータ11の構造およびその制御機構については後ほど
詳述する。
【0019】14はガントリ3の回転運動を行わせる回
転モータであり、15は回転モータ14の駆動を行う回
転モータドライバである。16は被検体を載置するため
のテーブルであり、17はそのテーブル16をz軸方向
に搬送させるためのテーブルモータ、18はテーブルモ
ータ17の駆動制御を行うテーブルモータドライバであ
る。
【0020】また、19は被検体を透過したX線を検出
するためのX線検出部であり、z軸方向に配される2列
の検出器A,Bを備えているものとする。各列の検出器
は、第1コリメータ6で規定されるX線の照射範囲に依
存した複数(例えば、1,000個)の検出チャネル(検出
素子)を有する。これら複数の検出チャネルのうちの端
部に位置する検出チャネルには通常、被検体を透過する
ことなくX線ビームが直接入射するようになっており、
各種補正処理等のためのリファレンスチャネルとして使
用される。
【0021】20は、X線検出部19より得られた投影
データを収集し、ディジタルデータに変換するデータ収
集部である。
【0022】メインコントローラ1は、インタフェース
2を介して受信した各種コマンドの解析を行い、それに
基づいて上記のX線管コントローラ5、開口幅制御モー
タドライバ8、位置制御モータドライバ10、調整モー
タドライバ13、回転モータドライバ15、テーブルモ
ータドライバ18、およびデータ収集部20に対し、各
種制御信号を出力することになる。また、メインコント
ローラ1は、データ収集部20で収集された投影データ
を、インタフェース2を介して操作コンソール200に
送出する処理も行う。
【0023】一方、操作コンソール200は、いわゆる
ワークステーションであり、図示するように、装置全体
の制御を司るCPU51、ブートプログラム等を記憶し
ているROM52、主記憶装置として機能するRAM5
3を始め、以下の構成を備える。
【0024】HDD54は、ハードディスク装置であっ
て、ここにOSのほか、ガントリ装置100に各種指示
を与えたり、ガントリ装置100より受信したデータに
基づいてX線断層像を再構成するための診断プログラム
が格納されている。また、VRAM55は表示しようと
するイメージデータを展開するメモリであり、ここにイ
メージデータ等を展開することでCRT56に表示させ
ることができる。57および58は、各種設定を行うた
めのキーボードおよびマウスである。また、59はガン
トリ装置100と通信を行うためのインタフェースであ
る。
【0025】実施形態におけるX線CTシステムの構成
は概ね上記の通りであるが、次に、X線管4、第1コリ
メータ6、第2コリメータ11、および、X線検出部1
9の構造と動作を図2乃至図4を用いて、より詳しく説
明する。
【0026】図2は、X線管4、第1コリメータ6、第
2コリメータ11、X線検出部19の要部構成図であ
る。
【0027】同図において、X線管4はハウジング41
に、集束電極およびフィラメントを内蔵する陰極42
と、回転するターゲット面43aが形成された陽極43
とを内蔵した構造である。X線は、陰極42から放出さ
れる電子ビームがターゲット面43aに衝突することで
発生する。このターゲット面43aにおける実際の電子
衝突域が焦点fである。
【0028】先に述べたとおり、実施形態におけるX線
検出部19は、図示のように2列の検出器AおよびBで
構成されている。
【0029】第1コリメータ6は、鉛等のX線遮蔽材質
の部材で構成され、図示の如く、X線管4より放射され
たX線のz軸方向におけるX線照射範囲を画定する2枚
の遮蔽板61,62と、ガントリ3の回転方向に沿う方
向の照射範囲(ファン角)を画定する、2枚の固定され
た遮蔽板63,64を備える。かかる遮蔽板の配置によ
って、X線の照射範囲を制限するためのスリット6cを
形成している。
【0030】さらに、X線管4と第1コリメータ6との
間で、スリット6cのz軸方向の幅の中点および検出器
列A,Bの境界を通る直線mに対して、陰極42が位置
する側、すなわち、第1コリメータ6の遮蔽板62の上
部、に位置する第2コリメータ11が設けられている。
第2コリメータ11も、第1コリメータ6と同様の、鉛
等のX線遮蔽材質の部材が用いられる。
【0031】上記構成において、第1コリメータ6によ
って形成されるスリット6cのz軸方向の幅(以下、単
に開口幅という)、および、第2コリメータ11のz軸
方向の位置はそれぞれ、機械的動作を行わせることで変
動可能である。
【0032】まず、第1コリメータ6の開口幅の制御機
構の一例について説明する。
【0033】図3は、実施形態における第1コリメータ
6の制御機構を示す図である。なお、同図中の構成部分
に施されているハッチングはガントリ3内部の所定の基
部に取り付けられていることを示している。
【0034】第1コリメータ6の遮蔽板61と62と
は、端部どうしがそれぞれリンク部材65aおよび65
bで回動自在に連結されて、平行移動リンク機構を構成
する。これによって遮蔽板61、62は互いに平行を維
持することを可能にしている。そして、この2枚の遮蔽
板61、62の隙間がX線を通過させるスリット6cを
形成する。また、リンク部材65a、65bそれぞれの
中央位置には回動軸が設けられ、リンク部材65b側の
回動軸は開口幅制御モータ7の出力軸が固定される。
【0035】かかる構成により、開口幅制御モータ7を
駆動させ、回動軸を回動させることで、遮蔽板61、6
2はその平行を保ったまま徐々にその間隔を拡げたり狭
めたりしてスリット6cの開口幅を制御することができ
る。
【0036】また、第1コリメータ6は、その一端部に
z軸方向に沿って取り付けられたボールねじ66およ
び、他端部にz軸方向にスライド自在に取り付けられた
リニアガイド67によって支持されている。ボールねじ
66はカップリング68を介して位置制御モータ9の出
力軸に取り付けられている。そして、この位置制御モー
タ9の駆動によってなされるボールねじ66の回転運動
が第1コリメータ6のz軸方向への直線運動に変換され
ることで、第1コリメータ6全体の位置調整を可能にし
ている。
【0037】図4は、実施形態における第2コリメータ
11の制御機構を示す図である。図示のとおり、第2コ
リメータ11も第1コリメータ6と同様の位置調整機構
を有する。すなわち、第2コリメータ11は、その一端
部にz軸方向に沿って取り付けられたボールねじ70お
よび、他端部にz軸方向に沿ってスライド自在に取り付
けられたリニアガイド71によって支持されている。ま
た、ボールねじ70はカップリング72を介して調整モ
ータ12の出力軸に取り付けられている。そして、この
調整モータ12の駆動によってなされるボールねじ70
の回転運動が第2コリメータ11のz軸方向への直線運
動に変換されることで、第2コリメータ11の位置調整
を可能にしている。
【0038】ただし、ここに説明した制御機構は一例で
あって、これに限定されるものではない。その他のいか
なる構造で実現してもかまわない。
【0039】(スキャンにおける制御)上述した構成の
X線CTシステムにおいて、投影データの収集は次のよ
うに行われる。
【0040】まず、操作者(技師もしくは医師)は操作
コンソールを操作して、各種スキャン条件を設定したう
えで、スキャンの開始指示を与えることになる。操作コ
ンソールで動作している診断プログラムは、設定された
スキャン条件にしたがって、ガントリ装置100(メイ
ンコントローラ1)に対して各種制御コマンドを発行す
る。ガントリ装置100のメインコントローラ1は、こ
の制御指示コマンドにしたがって、X線管コントローラ
5、開口幅制御モータドライバ8、位置制御モータドラ
イバ10、調整モータドライバ13、回転モータドライ
バ15、テーブルモータドライバ18、およびデータ収
集部20に対して制御信号を与えることになる。この結
果、X線管4で発生し、被検体を透過してきたX線をX
線検出部19で検出し、その投影データをデータ収集部
20より得ることが可能になる。
【0041】具体的には、テーブル16の搬送を停止し
た状態でガントリ3を1回転させ、その間、360度分の
複数(例えば1,000)のビュー方向から、X線管4から
のX線ビームを被検体に照射(X線を投影)してその透
過X線をX線検出部19で検出することを繰り返す。検
出された各透過X線は、データ収集部20でディジタル
値に変換されて投影データとしてメインコントローラ1
を介して操作コンソール200に転送される。この一連
の動作を1つの単位として1スキャンとよぶ。そして、
順次z軸方向にスキャン位置を所定量移動して、次のス
キャンを行っていく。このようなスキャン方式はアキシ
ャルスキャン方式とよばれるが、ガントリ3の回転に合
わせてテーブル16を連続的に移動させながら(X線管
4とX線検出部19とが被検体の周囲をらせん状に周回
することになる)投影データを収集する、ヘリカルスキ
ャン方式であってもよい。
【0042】操作コンソール200側で動作している診
断プログラムは、転送されてきた投影データに基づいて
公知の処理によるX線断層像を再構成する処理を行い、
その結果を順次CRT56に表示することになる。
【0043】また、先述したとおり、実施形態における
X線検出部19はz軸方向に配される2列の検出器列
A、Bを備え、マルチスライスX線CTを実現する。す
なわち、1スキャンで2スライス分の投影データを収集
することができる。もちろん、その2スライス分の投影
データを合成して2列の検出器幅に対応したスライス厚
のX線断層像を提供することも可能である。
【0044】続いて、上記スキャンにおける第1コリメ
ータ6および第2コリメータ11の制御について説明す
る。
【0045】図5は、図2のd−d断面であって、X線
管4のターゲット面43a近傍を拡大させた模式図であ
る。スキャンに際して、第1コリメータ6は、所定のス
ライス厚に対応する開口幅に設定される。第2コリメー
タ11は、放射されるX線に影響を与えない初期位置
(例えば、第2コリメータ11の可動範囲の紙面に対し
て最も右の位置)にあるものとする。この状態において
は、検出器列Aに対する実効焦点寸法FAと、検出器列
Bに対する実効焦点寸法FBとは異なったものとなって
いる。このままでは、検出器列Aに対応するX線断層像
と検出器列Bに対応するX線断層像を表示する場合に、
同等の画質の画像を提供することができない。
【0046】そこで、図6に示すように、第2コリメー
タ11を紙面に対して左側に移動させて、検出器列Aに
向かうX線ビームの一部分を遮断する。この遮断によっ
て、検出器列Aに対する実効焦点寸法FA’が検出器列
Bに対する実効焦点寸法FBと等しくなることが望まし
い。実際には、例えば、第2コリメータ11の位置決め
は、第1コリメータ6の開口幅の設定値(設定スライス
厚に応じて定められる)に応じて行われることになる。
【0047】実施形態におけるスライス厚は、例えば、
1,2,3,5,7,10mmのいずれかから選択して設
定することが可能である。設定スライス厚と、第1コリ
メータ6の開口幅、および、第2コリメータ11の初期
位置からの距離との対応関係は、例えば、図7に示すよ
うな構造のテーブル(例えば、RAM53に記憶され
る)に規定されており、このテーブルを参照することで
それぞれを調整することができる。
【0048】図8は、実施形態におけるスキャンを行う
際の動作処理手順を示すフローチャートである。
【0049】まず、操作コンソール200において、ス
ライス厚を設定する(ステップS1)。スライス厚の設
定は一般には、スキャン計画工程の一環として行われ
る。一般には、診断プログラムが提供するGUI(CR
T56に設定画面が表示され、キーボード57もしくは
マウス58を用いて入力することを可能にするユーザイ
ンタフェース)を介して、諸種のスキャン条件(スライ
ス厚を始め、スキャン開始/終了位置、管電流等)が設
定されることになるが、このスキャン計画そのものは公
知のものであるので、その詳細は省略する。設定された
スキャン条件はRAM53に記憶される。
【0050】そして、スキャン開始指示を示すキーボー
ド57もしくはマウス58の入力に基づき、ステップS
1で設定されたスキャン条件をパラメータとするスキャ
ン開始指令をガントリ装置100に送出する(ステップ
S2)。
【0051】スキャン開始指令を受けたガントリ装置1
00は、まず、開口幅制御モータドライバ8を介して開
口幅制御モータ7を駆動させ、例えば、図7に示したテ
ーブル(RAM53に記憶されている)を参照して、第
1コリメータ6の開口幅を設定スライス厚に対応する幅
に調整する(ステップS3)。
【0052】次に、調整モータドライバ13を介して調
整モータ12を駆動させることで、第2コリメータ11
の初期位置からの位置を、ステップS3と同様に、図7
のテーブルを参照して調整する(ステップS4)。
【0053】以上で、スキャンのための準備ができたこ
とになる。これ以降は、ステップS5で、スキャン計画
で設定されたスキャン終了位置までスキャンが終了した
と判断されるまで、ステップS6でのスキャンおよび、
ステップS7でのテーブル16の移動を繰り返すことに
なる。ステップS6における1スキャンで収集された投
影データは操作コンソール200に転送される。
【0054】操作コンソール200は、ガントリ装置1
00から転送されてきた投影データを受信し(ステップ
S8)、その投影データに基づきX線断層像を再構成す
る(ステップS9)。その後、再構成されたX線断層像
をCRT56に表示し、または、図示しない印刷装置に
プリント出力する(ステップS10)。
【0055】以上説明した実施形態に従えば、検出器列
Aに対する実効焦点寸法と、検出器列Bに対する実効焦
点寸法とのずれを小さくすることができる。これによっ
て、各検出器列に対応するX線断層像を表示する場合
に、均一の画質のX線断層像を提供することができる。
【0056】ところで、スキャン中において、X線管か
らのX線の発生に伴って次第に蓄熱し、X線管の焦点位
置がz軸方向にずれてしまい、再構成断層像の画質に悪
影響を与えることが一般に知られている。
【0057】これに対処するために、各列の検出器のリ
ファレンスチャネルの出力が不均等になったときはX線
管の焦点がずれていると判断し、その出力が均等になる
ようにコリメータのz軸方向の位置をフィードバック制
御することで、常に2列の検出器列に等しくX線が照射
されるようにしている。
【0058】実施形態においても、かかるフィードバッ
ク制御を導入し、上記ステップS6のスキャン中におい
て、第1コリメータ6の位置のみならず、第2コリメー
タ11の位置もその制御対象とすることが好ましい。第
1コリメータ6のz軸方向の位置は、位置制御モータ9
およびそのモータドライバ10の駆動によって制御され
うる。
【0059】例えば、検出器列Aのリファレンスチャネ
ルの出力をXA、検出器列Bのリファレンスチャネルの出
力をXBとするとき、 XA/(XA+XB)=XB/(XA+XB) となることを目標として、第1コリメータ6の位置およ
び第2コリメータ11の位置のフィードバック制御を行
う。要するに、XAとXBとが等しくなるように制御されれ
ばよい。
【0060】かかるフィードバック制御を導入すれば、
各検出器列に対応するX線断層像を表示する場合に、更
に両断層像の画質の均一化を図ることが可能になる。
【0061】なお、上述の第2コリメータ11は、第1
コリメータ6の遮蔽板62の上部に遮蔽板を設けるもの
として説明したが、これに限るものではなく、例えば、
第1コリメータ6の遮蔽板61の上部にも遮蔽板を設
け、第1コリメータ6と同様の構造としてもよい。すな
わち、図3に示したような、2枚の遮蔽板により形成さ
れる隙間の間隔を調整することができ、さらに、z軸方
向への位置調整も可能な構造である。
【0062】かかる第2コリメータ11の構成をして、
上記したフィードバック制御において、第1コリメータ
6の位置、第2コリメータ11の位置、さらに、第2コ
リメータ11の2枚の遮蔽板の隙間の間隔をもその制御
対象とすることにより、よりいっそうの出力断層像画質
の均一化を進めることができる。
【0063】また、図9に示すように、第2コリメータ
11の2枚の遮蔽板11a、11bについて、遮蔽板1
1aを遮蔽板11bよりも高い位置(X線管4により近
い位置)に設ける、すなわち、段違いに設けることが好
ましい。フィードバック制御における移動量が小さく済
み、制御性に優れるからである。
【0064】ところで、上述した実施形態は、第1コリ
メータ6とは別に第2コリメータ11を設け、それぞれ
独立に制御するものであったが、複数のコリメータを設
けるのではなく、1のコリメータで実現することも可能
である。
【0065】図10は、1のコリメータで本発明を実現
する例を示した図である。図示の如く、第2のコリメー
タを設けるかわりに、第1コリメータ6の遮蔽板62の
板厚を厚くすることでも検出器列Aに向けて照射される
X線ビームの一部を遮断することができる。この場合に
は、上述した複数のコリメータを設け、それぞれを独立
に制御するものに比べれば精度の点では劣るものの、制
御機構を増加させることなく、簡単な構成で目的とする
効果を発揮することができる。
【0066】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
均一な画質で各検出器列に対応するX線断層像を表示す
ることが可能なX線CTシステムにおけるガントリ装置
およびその制御方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態におけるX線CTシステムのブロック
構成図である。
【図2】実施形態におけるX線管、第1コリメータ、第
2コリメータ、X線検出部の要部構成図である。
【図3】実施形態における第1コリメータの制御機構を
示す図である。
【図4】実施形態における第2コリメータの制御機構を
示す図である。
【図5】実施形態における第1および第2コリメータの
動作を説明するための図である。
【図6】実施形態における第1および第2コリメータの
動作を説明するための図である。
【図7】実施形態における設定スライス厚、第1コリメ
ータの開口幅および、第2コリメータの初期位置からの
距離、の対応関係を規定するテーブルの一例を示す図で
ある。
【図8】実施形態におけるスキャンを行う際の動作処理
手順を示すフローチャートである。
【図9】実施形態における別の態様による第1コリメー
タの構造を説明するための図である。
【図10】実施形態における別の態様による第2コリメ
ータの構造を説明するための図である。
【図11】従来のX線CTシステムにおけるX線検出機
構の主要部を示す模式図である。
【図12】従来のX線CTシステムにおける焦点寸法を
説明するための図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 堀内 哲也 東京都日野市旭が丘4丁目7番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内 Fターム(参考) 4C093 AA22 BA03 CA09 EA02 EA14 EB18 FA16 FA43

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子ビームを発生する陰極および、当該
    陰極からの電子ビームの衝突により所定方向にX線を放
    射するためのターゲット面が形成された陽極を有するX
    線管と、 被検体搬送用のテーブルを挿入するための空洞部を挟ん
    で前記X線管と対向する位置に設けられ、前記テーブル
    の搬送方向に直交する方向に配される検出素子群を有す
    る第1および第2の検出器が当該搬送方向に配されてい
    るX線検出部と、 を一体的に回転させる回転部を有するX線CTシステム
    におけるガントリ装置であって、 X線の照射範囲を制限するためのスリットが形成された
    第1のコリメータと、 前記X線管と前記第1のコリメータとの間に設けられ、
    前記第1の検出器に向けて照射されるX線の範囲を制限
    する第2のコリメータと、 を備えることを特徴とするガントリ装置。
  2. 【請求項2】 前記第2のコリメータは、前記スリット
    の前記搬送方向の幅の中点および前記2列の検出器の境
    界を通る直線に対して、前記陰極が位置する側に設けら
    れる第1のX線遮蔽部材を備えることを特徴とする請求
    項1に記載のガントリ装置。
  3. 【請求項3】 前記第2のコリメータは、前記直線に対
    して、前記陽極が位置する側に設けられる第2のX線遮
    蔽部材を更に備えることを特徴とする請求項2に記載の
    ガントリ装置。
  4. 【請求項4】 前記第1および第2のX線遮蔽部材は、
    前記第1のコリメータからの距離が互いに異なる位置に
    設けられることを特徴とする請求項3に記載のガントリ
    装置。
  5. 【請求項5】 前記第1のコリメータの前記搬送方向の
    位置を調整する第1の調整手段と、 前記第2のコリメータの前記搬送方向の位置を調整する
    第2の調整手段と、 前記回転部の回転中に、前記各検出器における所定位置
    の検出素子の出力が等しくなるように前記第1および第
    2の調整手段をフィードバック制御するフィードバック
    制御手段と、 を更に備えることを特徴とする請求項1から4のいずれ
    か1項に記載のガントリ装置。
  6. 【請求項6】 前記第1のコリメータの前記搬送方向の
    位置を調整する第1の調整手段と、 前記第2のコリメータの前記搬送方向の位置を調整する
    第2の調整手段と、 前記第2のコリメータの前記第1および第2のX線遮蔽
    部材の前記搬送方向の間隔を調整する第3の調整手段
    と、 前記回転部の回転中に、前記各検出器における所定位置
    の検出素子の出力が等しくなるように前記第1、第2お
    よび第3の調整手段をフィードバック制御するフィード
    バック制御手段と、 を更に備えることを特徴とする請求項3または4に記載
    のガントリ装置。
  7. 【請求項7】 電子ビームを発生する陰極および、当該
    陰極からの電子ビームの衝突により所定方向にX線を放
    射するためのターゲット面が形成された陽極を有するX
    線管と、被検体搬送用のテーブルを挿入するための空洞
    部を挟んで前記X線管と対向する位置に設けられ、前記
    テーブルの搬送方向に直交する方向に配される検出素子
    群を有する第1および第2の検出器が当該搬送方向に配
    されているX線検出部と、X線の照射範囲を制限するた
    めのスリットが形成された第1のコリメータと、前記X
    線管と前記第1のコリメータとの間に設けられ、前記第
    1の検出器に向けて照射されるX線の範囲を制限する第
    2のコリメータと、を一体的に回転させる回転部と、 前記第1のコリメータの前記搬送方向の位置を調整する
    第1の調整手段と、 前記第2のコリメータの前記搬送方向の位置を調整する
    第2の調整手段と、 を備えるX線CTシステムにおけるガントリ装置の制御
    方法であって、 前記回転部の回転中に被検体のX線投影データを収集す
    るスキャンを行うスキャン工程と、 前記回転部の回転中に、前記各検出器における所定位置
    の検出素子の出力が等しくなるように前記第1および第
    2の調整手段をフィードバック制御する制御工程と、 を有することを特徴とするガントリ装置の制御方法。
  8. 【請求項8】 電子ビームを発生する陰極および、当該
    陰極からの電子ビームの衝突により所定方向にX線を放
    射するためのターゲット面が形成された陽極を有するX
    線管と、 被検体搬送用のテーブルを挿入するための空洞部を挟ん
    で前記X線管と対向する位置に設けられ、前記テーブル
    の搬送方向に直交する方向に配される検出素子群を有す
    る第1および第2の検出器が当該搬送方向に配されてい
    るX線検出部と、 X線遮蔽部材を用いて、X線の照射範囲を制限するため
    のスリットが形成されたコリメータと、 を一体的に回転させる回転部を有するX線CTシステム
    におけるガントリ装置であって、 前記スリットの前記搬送方向の幅の中点および前記2列
    の検出器の境界を通る直線に対して、前記陰極が位置す
    る側に設けられる前記コリメータの前記X線遮蔽部材
    は、当該直線に対して前記陽極が位置する側における検
    出器列に向けて照射されるX線ビームの一部を遮断する
    厚さを有することを特徴とするガントリ装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005192992A (ja) * 2003-12-29 2005-07-21 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc コリメータおよびx線照射装置並びにx線撮影装置
JP2008006186A (ja) * 2006-06-30 2008-01-17 Shimadzu Corp X線診断装置
JP2008104704A (ja) * 2006-10-26 2008-05-08 Shimadzu Corp 放射線撮像装置
JP2011036641A (ja) * 2009-08-12 2011-02-24 Toshiba Corp スリット機構装置及びx線コンピュータ断層撮影装置
JP2011104353A (ja) * 2009-10-23 2011-06-02 Toshiba Corp X線診断装置
WO2014125386A1 (en) * 2013-02-18 2014-08-21 Koninklijke Philips N.V. Hydraulic adjusting system for adjusting a collimator used in a ct apparatus
CN105769231A (zh) * 2016-02-18 2016-07-20 赛诺威盛科技(北京)有限公司 一种限束器在z轴上的射线跟踪方法
JP2020092887A (ja) * 2018-12-13 2020-06-18 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 X線ct装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0391309A (ja) * 1989-09-04 1991-04-16 Fujitsu Ltd 振幅減衰器
JPH09215688A (ja) * 1995-12-21 1997-08-19 General Electric Co <Ge> マルチ・スライス型計算機式断層写真法システムにおいてx線ビームの位置を決定するシステム
JPH119584A (ja) * 1997-06-25 1999-01-19 Ge Yokogawa Medical Syst Ltd X線ビームトラッキング方法、x線ビーム位置測定方法およびx線ct装置
JP2001054515A (ja) * 1999-08-19 2001-02-27 Shimadzu Corp X線撮像装置
JP2001112747A (ja) * 1999-10-19 2001-04-24 Ge Yokogawa Medical Systems Ltd X線ct装置
JP2001187046A (ja) * 1999-12-27 2001-07-10 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc マルチスライスx線ct装置及びその制御方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0391309A (ja) * 1989-09-04 1991-04-16 Fujitsu Ltd 振幅減衰器
JPH09215688A (ja) * 1995-12-21 1997-08-19 General Electric Co <Ge> マルチ・スライス型計算機式断層写真法システムにおいてx線ビームの位置を決定するシステム
JPH119584A (ja) * 1997-06-25 1999-01-19 Ge Yokogawa Medical Syst Ltd X線ビームトラッキング方法、x線ビーム位置測定方法およびx線ct装置
JP2001054515A (ja) * 1999-08-19 2001-02-27 Shimadzu Corp X線撮像装置
JP2001112747A (ja) * 1999-10-19 2001-04-24 Ge Yokogawa Medical Systems Ltd X線ct装置
JP2001187046A (ja) * 1999-12-27 2001-07-10 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc マルチスライスx線ct装置及びその制御方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005192992A (ja) * 2003-12-29 2005-07-21 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc コリメータおよびx線照射装置並びにx線撮影装置
JP2008006186A (ja) * 2006-06-30 2008-01-17 Shimadzu Corp X線診断装置
JP2008104704A (ja) * 2006-10-26 2008-05-08 Shimadzu Corp 放射線撮像装置
JP2011036641A (ja) * 2009-08-12 2011-02-24 Toshiba Corp スリット機構装置及びx線コンピュータ断層撮影装置
JP2011104353A (ja) * 2009-10-23 2011-06-02 Toshiba Corp X線診断装置
US8831173B2 (en) 2009-10-23 2014-09-09 Kabushiki Kaisha Toshiba X-ray diagnostic apparatus
WO2014125386A1 (en) * 2013-02-18 2014-08-21 Koninklijke Philips N.V. Hydraulic adjusting system for adjusting a collimator used in a ct apparatus
CN105769231A (zh) * 2016-02-18 2016-07-20 赛诺威盛科技(北京)有限公司 一种限束器在z轴上的射线跟踪方法
JP2020092887A (ja) * 2018-12-13 2020-06-18 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 X線ct装置
JP7223572B2 (ja) 2018-12-13 2023-02-16 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 X線ct装置

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