JPH119584A - X線ビームトラッキング方法、x線ビーム位置測定方法およびx線ct装置 - Google Patents

X線ビームトラッキング方法、x線ビーム位置測定方法およびx線ct装置

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JPH119584A
JPH119584A JP9168285A JP16828597A JPH119584A JP H119584 A JPH119584 A JP H119584A JP 9168285 A JP9168285 A JP 9168285A JP 16828597 A JP16828597 A JP 16828597A JP H119584 A JPH119584 A JP H119584A
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Japan
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ray
ray beam
collimator
detector
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JP9168285A
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Haruo Kuroji
治夫 黒地
Masayasu Nukui
正健 貫井
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GE Healthcare Japan Corp
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GE Yokogawa Medical System Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 X線管温度の変動により焦点位置が変動して
も、一定位置にX線ビーム位置を維持する。 【解決手段】 参照チャネル511,512のシンチレ
ータ部およびフォトダイオード部を第2方向D2に2分
割し、その分割した一方側のフォトダイオード541
a,542aの検出信号と他方側のフォトダイオード
(541b),542bの検出信号とをそれぞれ独立に
取得し、それら検出信号の強度が一定の比率になるよう
にコリメータ40の第2方向D2の位置を制御する 【効果】 X線ビーム位置の変動による感度変動が防止
され、感度補正が不要となり、データ処理の負担を軽減
することが出来る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、X線ビームトラッ
キング方法、X線ビーム位置測定方法およびX線CT装
置(Computer Tomography)装置に関し、更に詳しく
は、X線管温度の変動によるX線ビーム位置の変動を防
止しX線ビーム位置を一定に維持するX線ビームトラッ
キング方法、X線管温度の変動により変動するX線ビー
ム位置を測定するX線ビーム位置測定方法およびそれら
の方法を好適に実施しうるX線CT装置に関する。
【0002】
【従来の技術】X線CT装置において撮影を継続してい
ると、X線管温度が上昇する。X線管温度が上昇する
と、焦点位置が変動し、X線検出器に入射するX線ビー
ム位置が変動する。そして、X線ビーム位置が変動する
と、X線検出器の感度が変動してしまう。従来は、これ
に対処するため、X線ビーム位置を測定し、その変動に
合わせてX線検出器の感度を補正していた。このような
従来技術は、例えば特公平2−18853号公報や特開
平9−38074号公報に開示されている。
【0003】図8および図9は、前記特公平2−188
53号公報に開示されたX線ビーム位置測定方法の説明
図である。X線管30(図10参照)は、集束電極およ
びフィラメントを内蔵する陰極スリーブ32と、回転す
るターゲット33と有し、焦点fからX線Xaを放射す
る。コリメータ40は、スリット41によりX線Xaを
偏平なX線ビームXbにする。検出器アレイ50は、複
数のX線検出器をコリメータ40のスリット41の長手
方向である第1方向D1に配列したものである。第1方
向D1に直交する第2方向D2のX線検出器の検出面幅
W1は、X線ビームXbの検出器上面における幅よりも
大きい。検出器アレイ50の一端の1チャネルのX線検
出器51mは、参照チャネルになっている。この参照チ
ャネルのX線検出器51mには、被検体を撮影する時で
も、被検体を透過せずにX線ビームXbが入射しうる。
X線遮蔽板501は、参照チャネルのX線検出器51m
に入射するX線ビームXbの厚さ(d1,dj)を制限
するようになっている。
【0004】図8は、X線管温度が室温の時のX線ビー
ムXbの厚さd1を表している。R1は、この時に参照
チャネルのX線検出器51mに入射するX線ビームXb
の入射面積である。図9は、X線管温度が上昇した時の
X線ビームXbの厚さdjを表している。Rjは、この
時に参照チャネルのX線検出器51mに入射するX線ビ
ームXbの入射面積である。すなわち、X線管温度の上
昇により焦点fの位置が変動し、それにより参照チャネ
ルのX線検出器51mへのX線ビームXbの入射面積が
変化し、参照チャネルのX線検出器51mの出力信号が
変化する。なお、X線ビームXbの入射位置の変化によ
るX線検出器51mの感度変化を無視できる程度に参照
チャネルのX線検出器51mへの入射面積の変化を大き
くしてある。
【0005】感度補正は、次のようにして行う。まず、
図8に示すようにX線管温度が室温の時の参照チャネル
のX線検出器51mの出力信号を測定する。同時に、検
出器アレイ50の各X線検出器の出力信号を測定する。
次に、X線の照射を一定時間継続し、図9に示すように
X線管温度を上昇させてから参照チャネルのX線検出器
51mの出力信号を測定する。同時に、検出器アレイ5
0の各X線検出器の出力信号を測定する。これを繰り返
して得られた参照チャネルのX線検出器51mの出力信
号(これはX線ビーム位置を表わす)と検出器アレイ5
0の各X線検出器の出力信号の関係に基づいて感度補正
データを作成し、記憶する。被検体を撮影する時は、参
照チャネルのX線検出器51mで得られた出力信号に対
応する感度補正データを求め、その感度補正データに基
づいて検出器アレイ50の各X線検出器で得られた出力
信号を感度補正する。
【0006】図10および図11は、特開平9−380
74号公報に開示されたX線ビーム位置測定方法の説明
図である。X線管30は、ハウジング31に、集束電極
およびフィラメントを内蔵する陰極スリーブ32と、回
転するターゲット33とを内設した構造であり、焦点f
からX線Xaを放射する。コリメータ40は、第1方向
D1に長いスリット41によりX線Xaを偏平なX線ビ
ームXbにする。また、コリメータ40は、サーボ機構
42により、前記第1方向と直交する第2方向D2に移
動される。検出器アレイ50は、複数のX線検出器を第
1方向D1に配列したものである。第1方向D1に直交
する第2方向D2のX線検出器の検出面幅W1は、X線
ビームXbの検出器上面における幅よりも大きい。検出
器アレイ50の一端の1チャネルのX線検出器51m
は、参照チャネルになっている。この参照チャネルのX
線検出器51mには、被検体を撮影する時でも、被検体
を透過せずにX線ビームXbが入射しうる。参照チャネ
ルのX線検出器には、図11に示すように、この検出器
の検出面の縦横の各へりと対角線からなる三角形の形状
のX線遮蔽板52が設けられており、このX線遮蔽板5
2は、参照チャネルのX線検出器51mに入射するX線
ビームXbの入射面積を制限する。これにより、X線ビ
ーム位置が第2方向D2に沿って変動すると、参照チャ
ネルのX線検出器51mへのX線入射量は線形に変化す
る。
【0007】感度補正は、次のようにして行う。まず、
図11に示すように、X線ビームXbが初期位置P1に
なるようにコリメータ40を移動させて、参照チャネル
のX線検出器51mの出力信号を測定する。同時に、検
出器アレイ50の各X線検出器の出力信号を測定する。
次に、X線ビームXbが別の位置Pjになるようにコリ
メータ40を移動させて、参照チャネルのX線検出器5
1mの出力信号を測定する。同時に、検出器アレイ50
の各X線検出器の出力信号を測定する。これを繰り返し
て得られた参照チャネルのX線検出器51mの出力信号
(これはX線ビーム位置を表わす)と検出器アレイ50
の各X線検出器の出力信号の関係に基づいて感度補正デ
ータを作成し、記憶する。被検体を撮影する時は、参照
チャネルのX線検出器51mで得られた出力信号に対応
する感度補正データを求め、その感度補正データに基づ
いて検出器アレイ50の各X線検出器で得られた出力信
号を感度補正する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来
は、X線ビーム位置を測定し、その変動に合わせてX線
検出器の感度を補正していた。しかし、感度補正データ
を予め作成する処理と取得したデータの補正処理とが必
要となるため、データ処理の負担が大きい問題点があ
る。そこで、本発明の第1の目的は、X線ビーム位置を
測定しその変動に合わせてX線検出器の感度を補正する
のではなく、X線ビーム位置を一定に維持するX線ビー
ムトラッキング方法を提供することにある。
【0009】また、本発明の第2の目的は、X線ビーム
位置を一定に維持する制御に適したX線ビーム位置測定
方法を提供することにある。さらに、本発明の第3の目
的は、上記X線ビームトラッキング方法および上記X線
ビーム位置測定方法を好適に実施し得るX線CT装置を
提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】第1の観点では、本発明
は、夫々が検出チャネルを構成するX線検出器をコリメ
ータの長手方向に対応する第1方向に並べた検出器アレ
イに、前記第1方向に広がり且つその第1方向に直交す
る第2方向の厚さが前記X線検出器の前記第2方向の厚
さより小さいX線ビームを曝射したとき、当該X線ビー
ムの前記第2方向の位置を一定範囲に維持するX線ビー
ムトラッキング方法であって、被検体を撮影する時でも
被検体を透過せずにX線ビームが入射しうる前記検出器
アレイの位置に参照チャネルを設け、その参照チャネル
を前記第2方向に2分割して、その分割位置を基準とし
て一方側の検出信号と他方側の検出信号とをそれぞれ独
立に取得し、それら検出信号の強度が一定の比率になる
ようにコリメータまたはX線管または検出器アレイの少
なくとも一つの前記第2方向の位置を制御することを特
徴とするX線ビームトラッキング方法を提供する。上記
第1の観点によるX線ビームトラッキング方法では、第
2方向に2分割した参照チャネルの一方側の検出信号と
他方側の検出信号の強度比が一定になるようにコリメー
タまたはX線管または検出器アレイの少なくとも一つの
第2方向の位置を制御する。この結果、X線管温度の変
動により焦点位置が変動しても、参照チャネルの分割位
置に対して一定範囲にX線ビーム位置が維持されること
となる。従って、X線ビーム位置の変動による感度変動
が防止され、感度補正が不要となり、データ処理の負担
を軽減することが出来る。
【0011】第2の観点では、本発明は、夫々が検出チ
ャネルを構成するX線検出器をコリメータの長手方向に
対応する第1方向に並べた検出器アレイに、前記第1方
向に広がり且つその第1方向に直交する第2方向の厚さ
が前記X線検出器の前記第2方向の厚さより小さいX線
ビームを曝射したとき、そのX線ビームの前記第2方向
の位置を一定範囲に維持するX線ビームトラッキング方
法であって、被検体を撮影する時でも被検体を透過せず
にX線ビームが入射しうる前記検出器アレイの位置に参
照チャネルを設け入射位置に応じて参照チャネルの検出
信号の強度が単調に変化するように成し、その参照チャ
ネルの検出信号の強度が一定になるようにコリメータま
たはX線管または検出器アレイの少なくとも一つの前記
第2方向の位置を制御するX線ビームトラッキング方法
を提供する。上記第2の観点によるX線ビームトラッキ
ング方法では、参照チャネルの検出信号の強度が一定に
なるようにコリメータまたはX線管または検出器アレイ
の少なくとも一つの第2方向の位置を制御する。ここ
で、X線ビームの入射位置に対して参照チャネルの検出
信号の強度が単調に変化するから、参照チャネルの検出
信号の強度を一定に維持することは、X線ビーム位置を
一定位置に維持することと等価となる。この結果、X線
管温度の変動により焦点位置が変動しても、一定範囲に
X線ビーム位置が維持されることとなり、X線ビーム位
置の変動による感度変動が防止され、感度補正が不要と
なり、データ処理の負担を軽減することが出来る。
【0012】第3の観点では、本発明は、夫々が検出チ
ャネルを構成するX線検出器をコリメータの長手方向に
対応する第1方向に並べた検出器アレイに、前記第1方
向に広がり且つその第1方向に直交する第2方向の厚さ
が前記X線検出器の前記第2方向の厚さより小さいX線
ビームを曝射したとき、そのX線ビームの前記第2方向
の位置を測定するX線ビーム位置測定方法であって、被
検体を撮影する時でも被検体を透過せずにX線ビームが
入射しうる前記検出器アレイの位置に参照チャネルを設
け、その参照チャネルを前記第2方向に2分割して、そ
の分割位置を基準として一方側の検出信号と他方側の検
出信号とをそれぞれ独立に取得し、それら検出信号の強
度を比較してX線ビームの前記第2方向の位置を算出す
ることを特徴とするX線ビーム位置測定方法を提供す
る。上記第3の観点によるX線ビーム位置測定方法で
は、第2方向に2分割した参照チャネルの一方側の検出
信号と他方側の検出信号の強度を比較するため、天秤計
と同様の原理により、参照チャネルの分割位置に対して
相対的なX線ビーム位置を高精度に測定することが出来
る。よって、X線ビームが参照チャネルの分割位置を挟
むような一定範囲にX線ビーム位置を維持する制御に適
したX線ビーム位置測定方法が提供される。
【0013】第4の観点では、本発明は、X線を放射す
るX線管と、X線をスリットの長手方向である第1方向
に偏平なX線ビームにするコリメータと、前記第1方向
に直交する第2方向に前記コリメータを移動させるコリ
メータ移動手段と、複数のX線検出器を前記第1方向に
配列した検出器アレイとを有するX線CT装置におい
て、被検体を撮影する時でも被検体を透過せずにX線ビ
ームが入射しうる前記検出器アレイの位置に設けられ、
前記第2方向に2分割する分割位置を基準として一方側
の検出信号と他方側の検出信号とをそれぞれ独立に出力
する参照チャネルのX線検出器と、前記検出信号の強度
が一定の比率になるように前記コリメータ移動手段によ
り前記コリメータの前記第2方向の位置を制御するコリ
メータ位置制御手段とを具備したことを特徴とするX線
CT装置を提供する。上記第4の観点によるX線CT装
置では、前記第1の観点によるX線ビームトラッキング
方法を好適に実施できる。
【0014】第5の観点では、本発明は、X線を放射す
るX線管と、X線をスリットの長手方向である第1方向
に偏平なX線ビームにするコリメータと、複数のX線検
出器を前記第1方向に配列した検出器アレイとを有する
X線CT装置において、被検体を撮影する時でも被検体
を透過せずにX線ビームが入射しうる前記検出器アレイ
の位置に設けられ、前記第1方向と直交する第2方向に
2分割する分割位置を基準として一方側の検出信号と他
方側の検出信号とをそれぞれ独立に出力する参照チャネ
ルのX線検出器と、前記検出信号の強度を比較してX線
ビームの前記第2方向の位置を算出するX線ビーム位置
算出手段とを具備したことを特徴とするX線CT装置を
提供する。上記第5の観点によるX線CT装置では、前
記第3の観点によるX線ビーム位置測定方法を好適に実
施できる。
【0015】第6の観点では、本発明は、上記構成のX
線CT装置において、参照チャネルのX線検出器がシン
チレータ部とフォトダイオード部とからなり、前記シン
チレータ部は前記第2方向に分割されていないが、前記
フォトダイオード部が前記第2方向に2グループに分割
されており、これにより実質的に参照チャネルが前記第
2方向に2分割されていることを特徴とするX線CT装
置を提供する。上記第6の観点によるX線CT装置で
は、シンチレータ部およびフォトダイオード部がそれぞ
れ第2方向に2グループに分割されている場合に比べて
X線ビーム位置の測定精度は低くなるが、シンチレータ
部を第2方向に分割しないため、製作が容易となる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、図に示す本発明の実施の形
態により本発明をさらに詳しく説明する。なお、これに
より本発明が限定されるものではない。
【0017】−第1の実施形態− 図1は、この発明の第1の実施形態にかかるX線CT装
置100の構成ブロック図である。このX線CT装置1
00は、操作コンソール1と、撮影テーブル10と、走
査ガントリ20とを具備している。前記操作コンソール
1は、操作者の指示入力や情報入力などを受け付ける入
力装置2と、X線ビームトラッキング処理(後述)や撮
影処理や画像再構成処理などを実行する中央処理装置3
と、制御信号などを前記撮影テーブル10や前記走査ガ
ントリ20とやり取りする制御インタフェース4と、走
査ガントリ20で取得したデータを収集するデータ収集
バッファ5と、前記データから再構成した画像を表示す
るCRT6と、プログラムやデータを記憶する記憶装置
7とを具備している。前記撮影テーブル10は、被検体
を乗せて体軸方向に移動させる。前記走査ガントリ20
は、X線コントローラ21と、コリメータコントローラ
22と、X線管30と、コリメータ40と、検出器アレ
イ50と、データ収集部23と、被検体の体軸の回りに
X線管30などを回転させる回転コントローラ24とを
具備している。
【0018】図2は、上記X線CT装置100の要部構
成図である。X線管30は、ハウジング31に、集束電
極およびフィラメントを内蔵する陰極スリーブ32と、
回転するターゲット33とを内設した構造であり、焦点
fからX線Xaを放射する。コリメータ40は、第1方
向D1に長いスリット41によりX線Xaを偏平なX線
ビームXbにする。また、コリメータ40は、サーボ機
構421,422およびコリメータコントローラ22に
より、前記第1方向D1と直交する第2方向D2に移動
される。尚、コリメータコントローラ22によりスリッ
ト41の第2方向D2の幅を変えることも出来る。検出
器アレイ50は、複数のX線検出器を第1方向D1に配
列したものである。検出器アレイ50の両端の複数チャ
ネル(1チャネルでもよい)のX線検出器511,51
2は、参照チャネルのX線検出器になっている。これら
参照チャネルのX線検出器511,512には、被検体
を撮影する時でも、被検体を透過せずにX線ビームXb
が入射しうる。また、X線検出器はシンチレータ部とフ
ォトダイオード部とからなるが、参照チャネルのX線検
出器511,512のシンチレータ部およびフォトダイ
オード部は第2方向D2に2グループに分割されてい
る。すなわち、参照チャネルのX線検出器511のシン
チレータ部はシンチレータ531a,531bからな
り、フォトダイオード部はフォトダイオード541a,
541b(図3参照)からなる。また、参照チャネルの
X線検出器512のシンチレータ部はシンチレータ53
2a,532bからなり、フォトダイオード部はフォト
ダイオード542a,542bからなる。第1方向D1
に広がる偏平なX線ビームXbの第2方向D2の厚さd
は、前記X線検出器の第2方向D2の幅W1より小さ
い。
【0019】図3は、検出器アレイ50のフォトダイオ
ード層の部分の平面図である。この検出器アレイ50
は、フォトダイオード541a,541b,542a,
542bを具備している。前記フォトダイオード541
aの出力信号をA1とし、前記フォトダイオード541
bの出力信号をB1とし、前記フォトダイオード542
aの出力信号をA2とし、前記フォトダイオード542
bの出力信号をB2とする。これらの出力信号A1,B
1,A2,B2を用いて、以下に述べるようにX線ビー
ムトラッキングを行う。
【0020】図4は、上記X線CT装置100のX線ビ
ームトラッキング処理のフローチャートである。ステッ
プS1では、X線曝射を行う。ステップS2では、参照
チャネルの出力信号A1,B1,A2,B2を測定す
る。ステップS3では、出力信号強度比A1/(A1+
B1)が目標値kから許容値εより大きく離れているか
否かをチェックし、離れていないならステップS4へ進
み、離れているならステップS5へ進む。ここで、目標
値kは例えば“0.5”であり、許容値εは例えば出力
信号強度比A1/(A1+B1)が目標値kに一致する
位置と許容値εだけ離れる位置との距離が後述するステ
ップS6,S7,S10,S11における所定距離に相
当するような値である。ステップS4では、出力信号強
度比A2/(A2+B2)が目標値kから許容値εより
大きく離れているか否かをチェックし、離れていないな
らX線ビームトラッキング処理を終了し、離れているな
らステップS9へ進む。なお、X線ビームトラッキング
処理を終了した時点における出力信号A1,B1,A
2,B2は、強度補正用基準データとして利用する。
【0021】ステップS5では、A1<B1か否かをチ
ェックし、A1<B1ならステップS6へ進み、A1<
B1でないならステップS7へ進む。ステップS6で
は、サーボ機構421を駆動し、コリメータ40の第1
端側をA側(フォトダイオード541a側)に所定距離
(例えば2μm)だけ移動する。そして、ステップS8
へ進む。ステップS7では、サーボ機構421を駆動
し、コリメータ40の第1端側をB側(フォトダイオー
ド541b側)に所定距離(例えば2μm)だけ移動す
る。そして、ステップS8へ進む。
【0022】ステップS8では、出力信号強度比A2/
(A2+B2)が目標値kから許容値εより大きく離れ
ているか否かをチェックし、離れていないなら前記ステ
ップS1に戻り、離れているならステップS9へ進む。
【0023】ステップS9では、A2<B2か否かをチ
ェックし、A2<B2ならステップS10へ進み、A2
<B2でないならステップS11へ進む。ステップS1
0では、サーボ機構422を駆動し、コリメータ40の
第2端側をA側(フォトダイオード542a側)に所定
距離(例えば2μm)だけ移動する。そして、前記ステ
ップS1に戻る。ステップS112では、サーボ機構4
22を駆動し、コリメータ40の第2端側をB側(フォ
トダイオード542b側)に所定距離(例えば2μm)
だけ移動する。そして、前記ステップS1に戻る。
【0024】以上のX線CT装置100によれば、X線
管30の温度の変動により焦点fの位置が変動しても、
一定位置にX線ビーム位置が維持される。従って、X線
ビーム位置の変動による感度変動が防止され、感度補正
が不要となり、データ処理の負担を軽減することが出来
る。
【0025】−第2の実施形態− 第2の実施形態は、上記第1の実施形態において図4に
示すようにX線ビームトラッキング処理を行う代りに、
図5に示すようにX線ビームトラッキング処理を行うも
のである。図5のステップQ1では、X線曝射を行う。
ステップQ2では、参照チャネルの出力信号A1,B
1,A2,B2を測定する。ここで、A1=0且つB1
>0なら、サーボ機構421を駆動し、A1>0且つB
1>0となるまで、コリメータ40のフォトダイオード
541a,541bに対応する一方の端部(以下、第1
端側という)をA側(フォトダイオード541a側)に
移動する。また、A1>0且つB1=0なら、サーボ機
構421を駆動し、A1>0且つB1>0となるまで、
コリメータ40の第1端側をB側(フォトダイオード5
41b側)に移動する。さらに、A2=0且つB2>0
なら、サーボ機構422を駆動し、A2>0且つB2>
0となるまで、コリメータ40のフォトダイオード54
2a,542bに対応する他方の端部(以下、第2端側
という)をA側(フォトダイオード542a側)に移動
する。また、A2>0且つB2=0なら、サーボ機構4
22を駆動し、A2>0且つB2>0となるまで、コリ
メータ40の第2端側をB側(フォトダイオード542
b側)に移動する。そして、A1>0且つB1>0且つ
A2>0且つB2>0となったときの出力信号A1,B
1,A2,B2を測定する。
【0026】ステップQ3では、第1端ずれ量Δ1を次
式により算出する。 Δ1=S・{k−A1/(A1+B1)} 但し、SはX線ビームXbの検出器上面における厚さで
ある。
【0027】この第1端ずれ量Δ1は、出力信号強度が
k=A1/(A1+B1)となるときのX線ビーム位置
のずれを“0”とするX線ビームの第1端のずれを表し
ている。ステップQ4では、第1端ずれ量Δ1の絶対値
が許容値δより大きいか否かをチェックし、大きいなら
ステップQ5へ進み、大きくないならステップQ6へ進
む。ステップQ5では、サーボ機構421を駆動し、コ
リメータ40の第1端側を次式より与えられる距離C1
だけ第2方向D2に移動する。そして、ステップQ6へ
進む。 C1=−Δ1・FC/FI 但し、図6に示すように、FCは焦点fからコリメータ
40までの距離であり、FIは焦点fからシンチレータ
531a,531b,532a,532bまでの距離で
ある。
【0028】ステップQ6では、次式により第2端ずれ
量Δ2を算出する。 Δ2=S・{k−A2/(A2+B2)} この第2端ずれ量Δ2は、出力信号強度がk=A2/
(A2+B2)となるときのX線ビーム位置のずれを
“0”とするX線ビームの第2端のずれを表している。
ステップQ7では、第2端ずれ量Δ2の絶対値が許容値
δより大きいか否かをチェックし、大きいならステップ
Q8へ進み、大きくないならば処理を終了する。ステッ
プQ8では、サーボ機構422を駆動し、コリメータ4
0の第2端側を次式より与えられる距離C2だけ第2方
向D2に移動する。そして、処理を終了する。 C2=−Δ2・FC/FI 但し、FCは焦点fからコリメータ40までの距離であ
り、FIは焦点fからシンチレータ531a,531
b,532a,532bまでの距離である。
【0029】以上の第2の実施形態のX線CT装置によ
れば、X線管30の温度の変動により焦点fの位置が変
動しても、一定位置にX線ビーム位置が維持される。従
って、X線ビーム位置の変動による感度変動が防止さ
れ、感度補正が不要となり、データ処理の負担を軽減す
ることが出来る。
【0030】−第3の実施形態− 第3の実施形態は、前記第1の実施形態および第2の実
施形態における検出器アレイ50の代りに、図7に示す
検出器アレイ50’を用いるものである。この図7の検
出器アレイ50’は、参照チャネルのX線検出器51
1,512のシンチレータ部531,532は第2方向
D2に分割せず、フォトダイオード部のみを第2方向D
2に2グループに分割したものである。すなわち、参照
チャネルのX線検出器511のシンチレータ部はシンチ
レータ531からなり、フォトダイオード部はフォトダ
イオード541a,541b(図3参照)からなる。ま
た、参照チャネルのX線検出器512のシンチレータ部
はシンチレータ532からなり、フォトダイオード部は
フォトダイオード542a,542bからなる。上記検
出器アレイ50’を用いると、シンチレータ部およびフ
ォトダイオード部を第2方向に2グループに分割する場
合に比べてX線ビーム位置の測定精度は低くなるが、シ
ンチレータ部を第2方向に分割しないため、製作容易と
なる。
【0031】−第4の実施形態− 上述の第1から第3の実施形態では、参照チャネルのX
線検出器を2分割し、両分割部にそれぞれ入射するX線
の照射量を比較することによって、X線ビーム位置を測
定していたが、図8,図9または図10,図11に示し
た従来のX線ビーム位置測定方法によりX線ビーム位置
を測定し、この測定されたX線ビーム位置が一定になる
ようにコリメータ40の第2方向D2の位置を制御して
もよい。この場合も、感度補正が不要となり、データ処
理の負担を軽減することが出来る。
【0032】−第5の実施形態− また、上述の第1から第4の実施形態では、参照チャネ
ルのX線検出器による検出結果に従ってX線ビーム位置
を移動させるときに、コリメータ40の第2方向D2の
位置を変化させることによってX線ビーム位置を移動さ
せていたが、コリメータ40の第2方向D2の位置を制
御する代りに若しくはそれに加えて、X線管30の第2
方向D2の位置および/または検出器アレイ50,5
0’の第2方向D2の位置を制御してもよい。
【0033】
【発明の効果】本発明のX線ビームトラッキング方法に
よれば、X線管温度の変動により焦点位置が変動して
も、X線ビーム位置が検出器アレイのX線管対向面上の
一定位置に維持されることとなり、X線ビーム位置の変
動による感度変動が防止され、感度補正が不要となり、
データ処理の負担を軽減することが出来る。また、本発
明のX線ビーム位置測定方法によれば、参照チャネルの
分割位置に対して相対的なX線ビーム位置を高精度に測
定することが出来る。よって、X線ビームが参照チャネ
ルの分割位置を挟むような一定位置にX線ビーム位置を
維持する制御に適したX線ビーム位置測定方法となる。
さらに、本発明のX線CT装置によれば、上記X線ビー
ムトラッキング方法またはX線ビーム位置測定方法を好
適に実施できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態にかかるX線CT装置
のブロック図である。
【図2】図1のX線CT装置の要部構成図である。
【図3】図1のX線CT装置のフォトダイオード部から
の出力信号の説明図である。
【図4】本発明の第1の実施形態にかかるX線ビームト
ラッキング処理を示すフローチャートである。
【図5】本発明の第2の実施形態にかかるX線ビームト
ラッキング処理を示すフローチャートである。
【図6】X線ビームとコリメータとシンチレータの幾何
学的関係の説明図である。
【図7】本発明の第3の実施形態にかかる検出器アレイ
の斜視図である。
【図8】第1従来例のX線ビーム位置測定方法の原理説
明図である。
【図9】第1従来例のX線ビーム位置測定方法の別の原
理説明図である。
【図10】第2従来例のX線ビーム位置測定方法の原理
説明図である。
【図11】第2従来例のX線ビーム位置測定方法の別の
原理説明図である。
【符号の説明】
100 X線CT装置 22 コリメータコントローラ 30 X線管 40 コリメータ 421,422 サーボ機構 50,50’ 検出器アレイ 511,512,51m 参照チャネルのX線検出器 531a,531b,532a,532b シンチレ
ータ 541a,541b,542a,542b フォトダ
イオード A1,B1,A2,B2 出力信号 f 焦点 Xb X線ビーム

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 夫々が検出チャネルを構成するX線検出
    器をコリメータの長手方向に対応する第1方向に並べた
    検出器アレイに、前記第1方向に広がり且つその第1方
    向に直交する第2方向の厚さが前記X線検出器の前記第
    2方向の厚さより小さいX線ビームを曝射したとき、当
    該X線ビームの前記第2方向の位置を一定範囲に維持す
    るX線ビームトラッキング方法であって、 被検体を撮影する時でも被検体を透過せずにX線ビーム
    が入射しうる前記検出器アレイの位置に参照チャネルを
    設け、その参照チャネルを前記第2方向に2分割して、
    その分割位置を基準として一方側の検出信号と他方側の
    検出信号とをそれぞれ独立に取得し、それら検出信号の
    強度が一定の比率になるようにコリメータまたはX線管
    または検出器アレイの少なくとも一つの前記第2方向の
    位置を制御することを特徴とするX線ビームトラッキン
    グ方法。
  2. 【請求項2】 夫々が検出チャネルを構成するX線検出
    器をコリメータの長手方向に対応する第1方向に並べた
    検出器アレイに、前記第1方向に広がり且つその第1方
    向に直交する第2方向の厚さが前記X線検出器の前記第
    2方向の厚さより小さいX線ビームを曝射したとき、そ
    のX線ビームの前記第2方向の位置を一定範囲に維持す
    るX線ビームトラッキング方法であって、 被検体を撮影する時でも被検体を透過せずにX線ビーム
    が入射しうる前記検出器アレイの位置に参照チャネルを
    設け入射位置に応じて参照チャネルの検出信号の強度が
    単調に変化するように成し、その参照チャネルの検出信
    号の強度が一定になるようにコリメータまたはX線管ま
    たは検出器アレイの少なくとも一つの前記第2方向の位
    置を制御することを特徴とするX線ビームトラッキング
    方法。
  3. 【請求項3】 夫々が検出チャネルを構成するX線検出
    器をコリメータの長手方向に対応する第1方向に並べた
    検出器アレイに、前記第1方向に広がり且つその第1方
    向に直交する第2方向の厚さが前記X線検出器の前記第
    2方向の厚さより小さいX線ビームを曝射したとき、そ
    のX線ビームの前記第2方向の位置を測定するX線ビー
    ム位置測定方法であって、 被検体を撮影する時でも被検体を透過せずにX線ビーム
    が入射しうる前記検出器アレイの位置に参照チャネルを
    設け、その参照チャネルを前記第2方向に2分割して、
    その分割位置を基準として一方側の検出信号と他方側の
    検出信号とをそれぞれ独立に取得し、それら検出信号の
    強度を比較してX線ビームの前記第2方向の位置を算出
    することを特徴とするX線ビーム位置測定方法。
  4. 【請求項4】 X線を放射するX線管と、X線をスリッ
    トの長手方向である第1方向に偏平なX線ビームにする
    コリメータと、前記第1方向に直交する第2方向に前記
    コリメータを移動させるコリメータ移動手段と、複数の
    X線検出器を前記第1方向に配列した検出器アレイとを
    有するX線CT装置において、 被検体を撮影する時でも被検体を透過せずにX線ビーム
    が入射しうる前記検出器アレイの位置に設けられ、前記
    第2方向に2分割する分割位置を基準として一方側の検
    出信号と他方側の検出信号とをそれぞれ独立に出力する
    参照チャネルのX線検出器と、 前記検出信号の強度が一定の比率になるように前記コリ
    メータ移動手段により前記コリメータの前記第2方向の
    位置を制御するコリメータ位置制御手段とを具備したこ
    とを特徴とするX線CT装置。
  5. 【請求項5】 X線を放射するX線管と、X線をスリッ
    トの長手方向である第1方向に偏平なX線ビームにする
    コリメータと、複数のX線検出器を前記第1方向に配列
    した検出器アレイとを有するX線CT装置において、 被検体を撮影する時でも被検体を透過せずにX線ビーム
    が入射しうる前記検出器アレイの位置に設けられ、前記
    第1方向と直交する第2方向に2分割する分割位置を基
    準として一方側の検出信号と他方側の検出信号とをそれ
    ぞれ独立に出力する参照チャネルのX線検出器と、 前記検出信号の強度を比較してX線ビームの前記第2方
    向の位置を算出するX線ビーム位置算出手段とを具備し
    たことを特徴とするX線CT装置。
  6. 【請求項6】 請求項4または請求項5に記載のX線C
    T装置において、前記参照チャネルのX線検出器がシン
    チレータ部とフォトダイオード部とからなり、前記シン
    チレータ部は前記第2方向に分割されていないが、前記
    フォトダイオード部が前記第2方向に2グループに分割
    されており、これにより実質的に参照チャネルが前記第
    2方向に2分割されていることを特徴とするX線CT装
    置。
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