JP3914601B2 - 計算機式断層写真法システム用の計算機 - Google Patents

Description

【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、一般的には計算機式断層写真法（ＣＴ）の作像に関し、更に具体的には、マルチ・スライス型ＣＴシステムにおけるｚ軸内のＸ線ビームの較正に関する。
【０００２】
【従来の技術】
少なくとも１つの公知のＣＴシステム構成では、Ｘ線源はファン形状のビームを投射し、このビームは、デカルト座標系のＸ−Ｙ平面であって、一般に「作像平面」と呼ばれる平面内に位置するようにコリメートされる。Ｘ線ビームは、患者等の被作像物体を通過する。ビームは、物体によって減衰された後に、放射線検出器の配列に入射する。検出器配列において受け取られる減衰したビーム放射線の強度は、物体によるＸ線ビームの減衰量に依存している。配列内の各々の検出器素子は、検出器の位置におけるビームの減衰量の測定値である個別の電気信号を発生する。すべての検出器からの減衰測定値を個別に収集して、透過プロファイル（断面）を形成する。
【０００３】
公知の第３世代ＣＴシステムでは、Ｘ線源及び検出器配列は、Ｘ線ビームが物体と交差する角度が定常的に変化するように、作像平面内で被作像物体の周りをガントリと共に回転する。１つのガントリ角度における検出器配列からの１群のＸ線減衰測定値、即ち投影データを「ビュー」と呼ぶ。物体の「走査（スキャン）」は、Ｘ線源及び検出器の１回転の間に様々なガントリ角度で形成された１組のビューで構成されている。軸方向走査の場合には、投影データを処理して、物体から切り取られた２次元スライスに対応する画像を構成する。１組の投影データから画像を再構成する１つの方法は、当業界でフィルタ補正逆投影（filtered back projection）法と呼ばれている。この方法は、あるスキャンからの減衰測定値を、「ＣＴ数」又は「Hounsfield単位」と呼ばれる整数に変換し、これらの整数を用いて、陰極線管表示装置上の対応するピクセルの輝度を制御する。
【０００４】
走査を行うときに、熱、重力及び遠心力の影響で、Ｘ線源の焦点は、ｚ（又は患者）方向に近似的に約０．５ｍｍ移動する。放出されたＸ線はｚ軸コリメータの周りに旋回するので、焦点がｚ軸で０．５ｍｍ移動すると、検出器において ビームは近似的に約±２ｍｍ移動する。検出器のｚ軸感度は、特に検出器セルのエッジでは完全には均一でないので、Ｘ線ビームがこのように移動すると、得られる画像に顕著な環状及び帯状のアーティファクトが現れることがある。
【０００５】
単一スライス（即ち、１列の検出器セル）型作像システムでは、Ｘ線ビームの位置は、当業界でＺチャンネルとも呼ばれているｚ軸位置検知チャンネルを用いて決定される。当業界で周知のように、Ｚチャンネルと共に、次第に狭まる（attenuating）ウェッジが典型的に用いられている。
各々のチャンネル、即ち各々の検出器セルのゲイン（利得）と、Ｚチャンネル上の対応するビーム位置とを２つのｚ軸位置で測定することにより、ＺＣＡＬベクタとも呼ばれる較正データが得られる。２つのｚ軸位置は、典型的には約１ｍｍ離れている。一方のｚ軸位置については冷（cold）Ｘ線管走査を用い、他方のｚ軸位置については熱（hot）Ｘ線管走査を用いる。次いで、上述した条件、即ち、冷Ｘ線管走査及び熱Ｘ線管走査の条件に従って各々のチャンネルについて２つのｚ軸位置で検知されたゲイン同士のゲイン差の勾配を表すＺＣＡＬ補正ベクタが発生される。
【０００６】
走査を行う直前に、空気較正（air calibration）（又は「fastcal 」）が実行される。具体的には、fastcal については、Ｘ線管のウォームアップに続いて、１つのビーム位置においてＸ線ビームによる各々の検出器セルについての平均チャンネル・ゲインが測定される。この１つのビーム位置は、Ｚチャンネルによって同定される。このビーム位置の付近のゲインは、冷位置での極値にあるよりもむしろ、臨床動作中のゲインと殆ど同じであるものと期待される。ＺＣＡＬ補正ベクタは測定された平均ゲインに基づいて正規化され、患者の走査中には、fastcal の時点でのビーム位置からのビームの移動距離であってＺチャンネルによって決定されるビームの移動距離に関連して期待されるゲイン変化に従って、ＺＣＡＬ補正ベクタによって各々のチャンネル・ゲインが調節される。
【０００７】
トゥー（２）・スライス型作像システムでは、Ｘ線検出器は典型的には、ｚ軸方向に互いに隣接して設けられた２列の検出器セルを含んでいる。具体的には、一方の列の検出器セルのエッジが、他方の列の検出器セルのエッジと隣接している。
動作時には、Ｘ線ビームは典型的には、Ｘ線検出器の隣接し合う検出器セルのエッジの位置に入射する。各々の検出器セルの感度は、当業界で公知のように、典型的には、検出器セルのエッジの領域では非線形である。従って、検出器セルのゲイン変化も又、非線形である。
【０００８】
検出器セルの非線形性を排除するために、精密ポスト・ペイシェント・コリメータを用いて、Ｘ線ビームの本影（umbra）のみが検出器セルに入射するようなｚ軸Ｘ線ビーム・プロファイルを形成することができる。焦点がｚ軸上で移動しても、検出器上のＸ線の強度は変化しないので、これにより差信号誤差及び関連するアーティファクトが回避される。当然、このような構成では、半影（penumbra）及び本影の若干量の端部は使用されない。Ｘ線ビームのこれらのような部分が使用されなくても、検出器セルのエッジの領域におけるＸ線ビームの半影に関連する作像上の問題点を回避するために、患者はやはり、このような無用のＸ線ビーム部分を発生するのに要求されるＸ線量にさらされる。
【０００９】
投与線量を減少させるために、若干のＸ線ビームの半影が検出器に入射するのを許容することもできる。しかしながら、このような条件下では優れたＺＣＡＬ補正が要求される。ポスト・ペイシェント・コリメータを省くことにより患者の線量を減少させることは望ましいが、単一スライス型作像システムとの関連で上述したＺＣＡＬ補正ベクタは、Ｘ線ビームが非線形的な検出器セル領域にわたって移動するので、検出器信号を適切には較正しない。従って、患者の線量を減少させるために、検出器セルのエッジの領域での非線形性を考慮に入れて、較正された減衰データをマルチ・スライス型作像システムにおいて取得し得るようにするＺＣＡＬ補正ベクタが必要とされている。又、マルチ・スライス型作像システムにおいて、高価な精密ポスト・ペイシェント・コリメータを省くことが望ましい。
【００１０】
【発明の概要】
これらの目的及びその他の目的は、以下のシステムで達成され得る。即ち、本システムは一実施例では、ＺＣＡＬ補正ベクタを決定すると共にＺＣＡＬ補正ベクタをマルチ・スライス型ＣＴシステムの検出器配列からのチャンネルの出力に対して適用する。更に具体的には、本発明の一実施例によれば、各々の検出器セル、即ち各々のチャンネルについて、複数のｚ軸位置における信号ゲインが測定される。各々のチャンネルについて、補正多項式Ｑ_n が信号変動曲線に対してｚ軸位置の関数として適用され、補正多項式の値にそのチャンネル信号を乗じたものが動作時のｚ軸位置の範囲にわたって一定値を生ずるようにする。ビーム位置（Ｚ_r ）は、各々の位置基準信号（Ｄ_r ）の関数として測定され、センサ・チャンネルにおけるビームのＺ位置及び焦点の位置が決定される。次いで、各々のチャンネルについてのｚ軸位置及びＺＣＡＬ補正ベクタが決定される。次いで、ＺＣＡＬ補正ベクタにチャンネル信号を乗じて、チャンネル信号を較正する。
【００１１】
マルチ・スライス型作像システムにおいて、検出器セルのエッジの領域による非線形性が存在していても、上述のＺＣＡＬ補正ベクタを用いてチャンネル信号を較正することができる。又、このようなＺＣＡＬ補正ベクタを用いると、マルチ・スライス型作像システムにおいて、高価な精密ポスト・ペイシェント・コリメータの使用が省かれる。
【００１２】
【実施例】
図１及び図２を参照すると、計算機式断層写真法（ＣＴ）作像システム１０は、「第３世代」ＣＴスキャナにおいて典型的なガントリ１２を含んでいるものとして示されている。ガントリ１２は、Ｘ線源１４を有しており、Ｘ線源１４は、Ｘ線ビーム１６をガントリ１２の反対側にある検出器配列１８に向かって投射する。検出器配列１８は、検出器素子２０によって形成されており、これらの検出器素子２０は一括で、患者２２を通過する投射されたＸ線を検知する。各々の検出器素子２０は、入射するＸ線ビームの強度、従って、患者２２を通過する間でのビームの減衰量を表す電気信号を発生する。Ｘ線投影データを収集するための１スキャンの間に、ガントリ１２及びガントリ１２に装着された構成部品は、回転中心２４の周りを回転する。
【００１３】
ガントリ１２の回転及びＸ線源１４の動作は、ＣＴシステム１０の制御機構２６によって制御されている。制御機構２６は、Ｘ線制御装置２８と、ガントリ・モータ制御装置３０とを含んでいる。Ｘ線制御装置２８は、Ｘ線源１４に対して電力信号及びタイミング信号を供給し、ガントリ・モータ制御装置３０は、ガントリ１２の回転速度及び位置を制御する。制御機構２６内に設けられたデータ収集システム（ＤＡＳ）３２は、検出器素子２０からのアナログ・データをサンプリングすると共に、後続処理のためにこのデータをディジタル信号に変換する。画像再構成装置３４が、サンプリングされてディジタル化されたＸ線データをＤＡＳ３２から受け取って、高速画像再構成を行う。再構成された画像は、計算機３６への入力として印加され、計算機３６は、大容量記憶装置３８に画像を記憶させる。
【００１４】
計算機３６は又、キーボードを有しているコンソール４０を介して、オペレータから命令（コマンド）及び走査パラメータを受け取る。付設された陰極線管表示装置４２によって、オペレータは、再構成された画像、及び計算機３６からのその他のデータを観察することができる。オペレータが供給した命令及びパラメータを計算機３６で用いて、ＤＡＳ３２、Ｘ線制御装置２８及びガントリ・モータ制御装置３０に制御信号及び情報を供給する。加えて、計算機３６はテーブル・モータ制御装置４４を動作させ、テーブル・モータ制御装置４４は、モータ式テーブル４６を制御して、ガントリ１２内で患者２２を位置決めする。具体的には、テーブル４６は、患者２２の部分をガントリ開口４８内で移動する。
【００１５】
図３は、焦点５２から発しているＸ線を含めて単一スライス（即ち、１列の検出器セル）型作像システム５０を示している。Ｘ線は、プリペイシェント・コリメータ５４によってコリメートされて、検出器セル５６の表面に入射している。セル５６の下方に、Ｘ線ビーム強度プロファイル５８及び検出器セルのｚ軸感度曲線６０がグラフ図示されている。加えて、検出器セルの信号対Ｘ線ビームのｚ軸位置の曲線６２も図示されている。
【００１６】
単一スライス型作像システム５０の場合には、セル５６からの出力の較正は、セル５６の表面上でのビームのｚ軸位置に基づいて単純な方式で実行され得る。具体的には、検出器５６の表面上の２つの離れたビーム位置についてゲインを測定することができ、このようなデータからＺＣＡＬ補正ベクタを発生することができる。検出器５６の表面の殆どでのゲインは実質的に均一であるので、又、ビームはｚ軸内で僅か約０．５ｍｍしか移動しないので、ＺＣＡＬ補正ベクタは単一スライス型システムにおいて妥当な較正を提供する。
【００１７】
図４は、焦点７２から発しているＸ線を含めてマルチ・スライス（即ち、１列よりも多い検出器セル）型作像システム７０を示している。ビーム７２は、プリペイシェント・コリメータ７４によってコリメートされて、検出器セル７６及び７８の表面に入射している。セル７６及び７８の下方に、Ｘ線ビーム強度プロファイル８０並びに検出器セルのｚ軸感度曲線８２及び８４がグラフ図示されている。加えて、検出器セルの信号対Ｘ線ビームのｚ軸位置の曲線８６及び８８も、図示されている。
【００１８】
マルチ・スライス型作像システム７０の場合には、具体的には曲線８２及び８４からわかるように、セル７６及び７８からの出力の較正は、単一スライス型システム５０の場合よりも遥かに複雑である。具体的には、Ｘ線が検出器セル７６及び７８のエッジの領域に入射しているので、又、エッジの領域が高度に非線形な感度（曲線８２及び８４）を有しているので、検出器セルの信号対Ｘ線ビームのｚ軸位置の曲線８６及び８８は、高度に非線形になる。このような非線形性のために、特に薄いスライスのＸ線ビームについて、検出器セルの出力の較正の困難さが増す。
【００１９】
本発明は、一側面では、マルチ・スライス型システムにおける検出器セルの出力を較正する方法である。このような較正は、Ｘ線の半影が検出器セルのエッジ領域に入射しないようにする高価な精密ポスト・ペイシェント・コリメータの使用を要求することなく達成される。その代わりに、一側面では、本発明はマルチ・スライス型システムに適切なＺＣＡＬ補正ベクタを発生する。
【００２０】
更に具体的には、本発明の一実施例によれば、各々の検出器セル、即ち各々のチャンネルについて、多数のｚ軸位置における信号ゲインが測定される。ｚ軸ビーム位置は例えば、１９９５年１２月２１日に出願され、本出願と共通の譲受人に譲渡された同時係属中の米国特許出願第０８／５７６，０６６号「マルチ・スライス型計算機式断層写真法のための改良されたｚ軸Ｘ線ビーム位置センサ」（Improved Z-Axis X-Ray Beam Position Sensor For Multi-Slice Computed Tomography）（出願人控番号第１５ＣＴ４３４２）に記載されたセンサのようなｚ軸ビーム位置センサ（又はＺチャンネル）によって測定される。位置センサは、Ｚチャンネルの位置でビーム位置（Ｚ_r ）のみを決定する。
【００２１】
図５、図６及び図７を参照すると、各々のチャンネル又は検出器セル７６及び７８は、コリメータ７４の形状、焦点７２の位置及びファン・ビーム内での検出器チャンネルの位置に依存して異なるｚ軸内のＸ線ビーム位置を有している。検出器セル７６及び７８を含んでいる検出器９０は、図６に明瞭に示されているように彎曲しており、ｚ位置（Ｚ_n ）は、図７に示すように、各々のチャンネル７６及び７８についてｚ軸に沿った点であって、Ｘ線ビームがＦＷＨＭ（半値幅）の強度にあるような点である。
【００２２】
多数のｚ軸位置における各々のチャンネル７６及び７８の信号、即ちゲインを決定するために、コリメータ７４は、較正走査中に１組のｚ軸の位置を通じて、例えば０．０２ｍｍ区切りで−０．２ｍｍから＋０．２ｍｍまで、インデクス付けされる。Ｘ線管が熱するにつれて焦点の位置が変化するので、較正中の焦点位置の変化を測定すると共に補正するために、一連の較正操作の最後にコリメータ７４を基準位置に復帰させる必要がある。
【００２３】
各々のチャンネル７６及び７８についてのｚ位置（Ｚ_n ）は、以下に述べるように焦点の位置に関係付けられる。
Ｚ_n ＝（Ｃ−ｆ）ｄ_n ／ｓ_n ＋ｆ （１）
Ｚ＝検出器上でのビームの位置
ｆ＝ｚ軸内での焦点の位置
Ｃ＝ｚ軸内でのコリメータ点の位置
ｄ＝検出器から焦点までの距離
ｓ＝Ｘ線源からコリメータまでの距離
ｎ＝チャンネル・インデクス
各々のチャンネルについて、補正多項式Ｑ_n が信号変動曲線に対してｚ軸位置の関数として適用され、補正多項式の値にそのチャンネル信号を乗じたものが動作時のｚ軸位置の範囲にわたって一定値を生ずるようにする。補正多項式（Ｑ_n ）は、以下の通りである。
【００２４】
Ｑ_n ＝ａ_n ＋ｂ_n Ｚ_n ＋ｃ_n Ｚ_n ²… （２）
Ｑ_n ＝Ｚの関数としてのチャンネル・ゲインの逆数
ビーム位置（Ｚ_r ）は、以下の方程式に従って各々の位置基準信号（Ｄ_r ）の関数として測定される。
Ｚ_r ＝ａ_r ＋ｂ_r Ｄ_r ＋ｃ_r Ｄ_r ²… （３）
Ｚ_r ＝差信号Ｄ_r の関数としてのＺ検知チャンネルにおけるｚ位置
従って、センサ・チャンネルにおけるビームのＺ位置は、方程式（３）によって決定される。焦点の位置は、
ｆ＝（Ｚ_r −Ｃ（ｄ_r ／ｓ_r ））／（１−（ｄ_r ／ｓ_r ）） （４）
によって決定される。ここで、コリメータの位置Ｃ及び基準チャンネルについてのビームのｚ軸位置Ｚ_r は既知である。
【００２５】
次いで、各々のチャンネルについてのｚ軸位置が方程式（１）に従って決定され、ＺＣＡＬ補正ベクタが方程式（２）に従って決定される。次いで、ＺＣＡＬ補正ベクタにチャンネル信号を乗じて、チャンネル信号を較正する。
上述のＺＣＡＬ補正ベクタは、マルチ・スライス型作像システムにおいて、検出器セルのエッジの領域による非線形性が存在していても、このようなベクタを用いてチャンネル信号を較正することができるという重要な利点を提供する。又、このようなＺＣＡＬ補正ベクタを用いると、マルチ・スライス型作像システムにおいて、高価な精密ポスト・ペイシェント・コリメータの使用が省かれる。
【００２６】
トゥー・スライスよりも多いスライスのＣＴシステムに関して（上述のシステム７０は、トゥー・スライス型システムである。）、コリメータ・システムの形状が、少量の半影が動作時のｚ軸移動範囲にわたって外側の検出器列に常に入射することを許容するならば、信号変動対ｚ軸ビーム位置は、トゥー・スライス型ＣＴシステムのビーム曲線と同様になる。このように、上述のＺＣＡＬ補正アルゴリズムは、トゥー・スライス型システムで有用であるばかりでなく、トゥー・スライスよりも多いスライスを有するマルチ・スライス型ＣＴシステムにも使用することができる。
【００２７】
更に具体的には、図８は、焦点１０２から発しているＸ線を含めてフォー（４）・スライス型作像システム１００を模式的に示している。ビームは、プリペイシェント・コリメータ１０４によってコリメートされて、検出器セル１０６、１０８、１１０及び１１２の表面に入射している。最も外側のセル１０６及び１１２の下方に、これらのセル１０６及び１１２についてのＸ線ビーム強度プロファイル１１４並びに検出器セルのｚ軸感度曲線１１６及び１１８がグラフ図示されている。加えて、検出器セルの信号対Ｘ線ビームのｚ軸位置の曲線１２０及び１２２も図示されている。
【００２８】
図８に示すように、少量の半影が、動作時のｚ軸移動範囲にわたって外側の検出器列１０６及び１１２に入射している。その結果、信号変動対ビームのｚ軸位置（曲線１２０及び１２２）は、トゥー・スライス型ＣＴシステムのビーム曲線と同様になるので、上述のＺＣＡＬ補正を用いることができる。しかしながら、ビーム・モーションによって半影が最も外側の検出器セル１０６及び１１２を逸れて移動すれば、これ以上の移動があっても検出器１０６及び１１２からの信号に実質的に何の変化ももたらさなくなるような不連続点、即ち、屈曲部（knee）１２４及び１２６が現れる。この点では、検出器配列は本影で完全に溢れて（flood）いる。非常に高い次数の関数であっても、実際的なＺＣＡＬ補正ベクタを実現してアーティファクトを回避するのに十分な正確さでこの曲線の形状の鋭い変化を画定することは、一般に不可能である。
【００２９】
しかしながら、このような場合には、較正中に屈曲部１２４及び１２６のｚ軸ビーム位置を、７点箱型フィルタ（seven point box car filter）で補正された１組の信号対ビーム位置チャンネル・データにおける最大値の０．９９倍を超える第１の点として同定することができる。次いで、多項式補正関数を、屈曲部までの且つ屈曲部を含めた彎曲部分に対してのみ適用することができる。補正多項式及びｚ軸位置の不連続点は、各々のチャンネルについて記憶される。患者の走査中には、ビーム位置が屈曲部よりも上方にあるか下方にあるかによって、各々のチャンネルに多項式の値又は定数のいずれかによる補正が適用される。
【００３０】
本発明の様々な実施例に関する以上の記述から、本発明の目的が達成されたことは明らかである。本発明を詳細にわたって記述すると共に図示したが、これらは説明及び例示のみを意図したものであって、限定のためのものであると解釈してはならないことを明瞭に理解されたい。例えば、ここに記載したＣＴシステムは、Ｘ線源と検出器との両者がガントリと共に回転するような「第３世代」システムである。しかしながら、検出器が全環状の静止式検出器であって、Ｘ線源のみがガントリと共に回転するような「第４世代」システムを含めて他の多くのＣＴシステムを用いることができる。従って、本発明の要旨は、特許請求の範囲によってのみ限定されるものとする。
【図面の簡単な説明】
【図１】ＣＴ作像システムの見取り図である。
【図２】図１に示すシステムのブロック模式図である。
【図３】Ｘ線ビーム及び検出器セルの模式図であって、Ｘ線ビーム強度プロファイル、検出器セルのｚ軸感度、及び検出器セルの信号対Ｘ線ビームのｚ軸位置を含めた図である。
【図４】Ｘ線ビーム及び２つの（即ち、ツウィン）検出器セルの模式図であって、Ｘ線ビーム強度プロファイル、検出器セルのｚ軸感度、及び検出器セルの信号対Ｘ線ビームのｚ軸位置を含めた図である。
【図５】ツウィン検出器セルと、セルに関するＸ線ビームのｚ軸位置とを示す模式図である。
【図６】直線的なコリメータ及び彎曲した検出器セル配列を示す図である。
【図７】Ｘ線ビーム（中心）位置対検出器セル（即ち、チャンネル）位置を示す図である。
【図８】Ｘ線ビーム及び４つの検出器セルの模式図であって、Ｘ線ビーム強度プロファイル、最も外側の各セルのｚ軸感度、及び最も外側の各検出器セルの信号対Ｘ線ビームのｚ軸位置を含めた図である。
【符号の説明】
１０ ＣＴシステム
１２ ガントリ
１４ Ｘ線源
１６ Ｘ線ビーム
１８ 検出器配列
２０ 検出器素子
２２ 患者
２４ 回転中心
２６ 制御機構
２８ Ｘ線制御装置
３０ ガントリ・モータ制御装置
３２ データ収集システム（ＤＡＳ）
３４ 画像再構成装置
３６ 計算機
３８ 大容量記憶装置
４０ コンソール
４２ 陰極線管表示装置
４４ テーブル・モータ制御装置
４６ モータ式テーブル
４８ ガントリ開口
５０ 単一スライス型作像システム
５２、７２、１０２ 焦点
５４、７４、１０４ プリペイシェント・コリメータ
５６、７６、７８、１０６、１０８、１１０、１１２ 検出器セル
５８、８０、１１４ Ｘ線ビーム強度曲線
６０、８２、８４、１１６、１１８ 検出器セルのｚ軸感度曲線
６２、８６、８８、１２０、１２２ 検出器セルの信号対Ｘ線ビームのｚ軸位置の曲線
７０ トゥー・スライス型作像システム
９０ 検出器
１００ フォー・スライス型作像システム
１２４、１２６ 屈曲部

Claims (6)

1. Ｘ線源（１４）と、少なくとも２つの検出器チャンネル（７６、７８）を有している検出器配列（１８）とを含んでいる計算機式断層写真法システム（１０）用の計算機（３６）であって、
   該計算機（３６）は、投影データを較正するように構成されていると共に、各々の検出器チャンネル（７６、７８）について、多数のｚ軸位置における信号ゲインを決定し、
   補正多項式Ｑnを信号変動曲線に対してｚ軸位置の関数として適用し、前記補正多項式の値にそのチャンネルの信号ゲインを乗じたものが動作時のｚ軸位置の範囲にわたって一定値を生ずるようにし、
   各々の検出器チャンネル（７６、７８）についてのｚ軸ビーム位置（Ｚr ）を決定し、
   各々のチャンネルの信号ゲインに前記補正多項式を乗じて、各々のチャンネルの信号ゲインを較正するようにプログラムされている計算機式断層写真法システム（１０）用の計算機（３６）。
2. 前記ｚ軸ビーム位置（Ｚr ）は、ｚ軸ビーム位置センサにより測定されている請求項１に記載の計算機（３６）。
3. 前記計算機式断層写真法システム（１０）は更に、コリメータ（７４）を含んでおり、各々の検出器チャンネル（７６、７８）について、多数のｚ軸位置における信号ゲインを決定するときに、前記コリメータ（７４）は、較正走査中に１組のｚ軸位置を通じてインデクス付けされている請求項２に記載の計算機（３６）。
4. 各々の検出器チャンネル（７６、７８）についての前記ｚ軸位置（Ｚn ）は、Ｚn ＝（Ｃ−ｆ）ｄn ／ｓn ＋ｆにより前記Ｘ線源の焦点（７２）の位置に関係付けられており、ここで、Ｚ＝検出器上でのビームの位置ｆ＝ｚ軸内での焦点の位置Ｃ＝ｚ軸内でのコリメータ点の位置ｄ＝検出器から焦点までの距離ｓ＝線源からコリメータまでの距離ｎ＝チャンネル・インデクスである請求項１に記載の計算機（３６）。
5. 前記補正多項式Ｑn は、Ｑn ＝ａn ＋ｂn Ｚn ＋ｃn Ｚn²…であり、ここで、Ｑn は、Ｚの関数としてのチャンネル・ゲインの逆数である請求項４に記載の計算機（３６）。
6. 前記焦点（７２）の位置は、ｆ＝（Ｚr −Ｃ（ｄr ／ｓr ））／（１−（ｄr ／ｓr ））
   により決定されている請求項５に記載の計算機（３６）。

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