JPH1071141A

JPH1071141A - Ｘ線ｃｔスキャナ

Info

Publication number: JPH1071141A
Application number: JP8231095A
Authority: JP
Inventors: Tatsuro Suzuki; 達郎鈴木; Katsuyuki Taguchi; 克行田口
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1996-08-30
Filing date: 1996-08-30
Publication date: 1998-03-17
Anticipated expiration: 2016-08-30
Also published as: JP3742690B2

Abstract

(57)【要約】【課題】Ｘ線管の焦点サイズを切り変えた場合でも、２
次元検出器の指定した検出素子列にＸ線ビームの本影の
みを入射させるようにプリコリメータのスライス方向の
開口幅を制御し、再構成画像の画質の劣化を防止し、被
爆の影響を最小限に抑える。【解決手段】Ｘ線ＣＴスキャナにおいて、Ｘ線検出器１
１を２次元検出器で形成する。Ｘ線管１０の焦点サイズ
を切り換えた場合でも、Ｘ線検出器１１の複数の検出素
子列の内の指定された検出素子列がプリコリメータ１５
により形成されたＸ線プロファイルの本影を受けるよう
にプリコリメータ１５のスライス方向の開口幅を制御す
る手段（３０、３３、１２、３８）と、Ｘ線検出器１１
の指定検出素子列により検出されたデータに基づきＣＴ
像を再構成する手段（１３、３５）とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線管から曝射さ
れたＸ線ビームがコリメータを通って被検体を透過し、
Ｘ線検出器に入射する構造のＸ線ＣＴスキャナに係り、
とくに、Ｘ線管の焦点のサイズを変更できるようにした
Ｘ線ＣＴスキャナに関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、医療用Ｘ線ＣＴスキャナは、Ｘ
線ビームのスライス方向の厚さを絞るコリメータを備え
ている。このコリメータには、その主たる機能を果たす
プリコリメータと、補助的に使われるポストコリメータ
とがある。

【０００３】Ｘ線ＣＴスキャナでは、Ｘ線管から曝射さ
れたＸ線ビームを、スキャンで要求されるスライス厚さ
のファンビームに絞り、このファンビームを被検体に透
過させ、その透過ビームをＸ線検出器で受けるが、プリ
コリメータはこのスライス方向のＸ線絞りに使われる。
つまり、プリコリメータ１００は図２０に示す如く、ス
リット状の開口を有し、Ｘ線管１０１と被検体１０２の
間に介在して、Ｘ線ビームＸＢを、制御機構１０３でそ
の開口調整により所望のスライス厚を有したファンビー
ムに成形する。そして、被検体１０２を透過したファン
ビームはＸ線検出器１０４に入射し、この検出値に基づ
いて画像の再構成が行われる。ポストコリメータもスリ
ット状の開口を有するが、その取付け位置は被検体とＸ
線検出器との間のＸ線検出器近傍にあって、プリコリメ
ータによって絞られたファンビームのスライス方向の厚
さを、必要に応じてさらに細かく絞るものである。

【０００４】Ｘ線管はその焦点のサイズを被検体の大き
さなどの対応して更可能になっているものが知られてい
る。しかし、焦点のサイズがいかほどであっても、無限
小ではなく、スライス方向にある大きさを有している。
このため、プリコリメータでＸ線ビームをプリコリメー
ションすると、Ｘ線検出器に入射するＸ線ファンビーム
のスライス方向の強度（プロファイルＰＬ）は例えば図
２１に示す如く台形状となり、強度が一定の領域ＲM
（以下、「本影」と称する）と、本影のスライス方向の
両側に在って強度に傾きを有した領域ＲS 、２ＲS （以
下、「半影」と称する）が形成される。

【０００５】このような本影ＲM と半影ＲS 、ＲS とか
ら成るＸ線プロファイルに対して、従来のスキャナで
は、本影ＲM 及び半影ＲS 、ＲS の全部をＸ線検出器で
受けている。例えば、シングルスライスＣＴでは、スラ
イス方向に直交するチャンネル方向に沿って１列の検出
素子を配列したシングルスライス検出器が使われるが、
通常、図２１に示す如く、「スライス方向のＸ線のビーム幅」＜「スライス方向の検出器幅」 … 「条件１」となるように、Ｘ線管１０１（管球焦点Ｆ）、プリコリ
メータ１００、及びシングルスライス検出器１０４の位
置関係を設定している。またマルチスライスＣＴでは、
スライス方向に直交するチャンネル方向に沿って２列以
上の検出素子を配列した２次元検出器が使われるが、こ
の場合も図２２に示す如く、上記の「条件１」が保持さ
れる。なお、この２次元検出器はイメージインテンシフ
ァイヤも含む概念である。

【０００６】ところで、Ｘ線ＣＴスキャナによって画像
を得るには、２種類のデータを収集する必要がある。す
なわち、キャリブレーションデータと実際の臨床での被
検体データである。キャリブレーションデータはＸ線検
出器の各セグメントの感度のばらつきを補正するための
もので、例えば既知のファントムを用いて比較的長期の
間隔（例えば１週間、１０日など）毎に測定されるＸ線
透過データである。被検体データ収集時のデータ処理プ
ロセスの中で、キャリブレーションデータを用いて、上
記感度補正が行われる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、Ｘ線の
プロファイルは例えば管球のアノードの曝射時における
熱による膨脹やアノードのガタや変形などに起因する焦
点Ｆの位置の移動等に因って、図２３中の実線状態から
破線状態への移行の如く、スライス方向に平行移動する
ことから、キャリブレーションデータの収集時と被検体
データの収集時とでＸ線プロファイルが異なってしまう
状態が発生し、感度補正を適確に行うことができずに、
そのような再構成された画像にアーチファクトやＣＴ値
のシフトが生じてしまうという問題があった。

【０００８】この問題を図２４及び図２５の具体例を参
照して説明する。図２４は、シングルスライス検出器に
対するＸ線プロファイルのスライス方向の変化の影響を
示すものである。検出器のトータルの出力は、スライス
方向のＸ線プロファイルと検出器感度の積の積分となる
ため、Ｘ線プロファイルがキャリブレーションデータの
収集時と被検体データの収集時とで例えば同図中の実線
から点線の状態に変化すると、スライス方向の検出器感
度が同図に示す如く一様でない場合（通常、一様でない
ことが多い）、検出器出力が変化してしまう。

【０００９】また図２５は２次元検出器に対するＸ線プ
ロファイルのスライス方向の変化の影響を示すものであ
る。２次元検出器の場合、キャリブレーションデータの
収集時と被検体データの収集時とで例えば同図中の実線
から点線の状態に変化すると、半影に相当する部分の検
出素子列ではＸ線強度が大きく変化する。

【００１０】このようにＸ線プロファイルのキャリブレ
ーションデータ収集時と被検体データ収集時とにおける
変化は、アーチファクトの原因になったり、ＣＴ値が実
際値からずれてしまい、画質を低下させ、診断能をも低
下させるという事態を招くことになる。

【００１１】更に、前述した図２２に示す如く「条件
１」を満足させた場合、半影部分も画像化に使用するこ
とになるので、この半影部分で検出するスライス面は本
影部分のそれよりも画質が低下するという問題もあっ
た。

【００１２】一方、検査者は、被検体の大きさなどに応
じてＸ線管の管電流を変更することで、自動的にＸ線の
焦点のサイズ（すなわちＸ線ビームの強さ）を変えるこ
とがある。このように焦点サイズを変更すると、Ｘ線プ
ロファイルの形状も変わってしまうことから、従来の場
合、例えば、本影のみの入射を意図していた検出器列に
本影および半影が入射するようになって、画質が劣化す
るという問題があった。また、本影部分が大きくなって
検出器の入射面からはみ出し、被検体への被爆を懸念し
なければならない状況にあった。

【００１３】本発明は、上述した従来技術の問題に着目
してなされたもので、とくに、Ｘ線管の焦点のサイズが
変更された場合でも、Ｘ線プロファイルのスライス方向
の形状変化に因る画質低下を防止し、また被爆の影響を
最小限に抑えることを、第１の目的とする。

【００１４】また本発明は、上記第１の目的を達成する
と同時に、Ｘ線管の焦点の移動に伴うＸ線プロファイル
のスライス方向の移動に起因したアーチファクトやＣＴ
値のズレを排除でき、高画質及び高精度の画像を得るこ
とを、第２の目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１記載の発明に係るＸ線ＣＴスキャナにおい
ては、Ｘ線ビームを曝射する焦点を有するＸ線源と、被
検体と前記Ｘ線源との間に介挿されて前記被検体のスラ
イス方向における前記Ｘ線ビームの幅を絞るプリコリメ
ータと、前記被検体を透過した前記Ｘ線ビームを受ける
Ｘ線検出器とを備え、前記Ｘ線検出器を、複数の検出チ
ャンネルから成る検出素子列を前記スライス方向に複数
配列した２次元検出器で形成するとともに、前記Ｘ線源
の焦点のサイズに応じて、前記複数の検出素子列の内の
指定された検出素子列が前記プリコリメータにより形成
されたＸ線ビームのプロファイルの本影および半影の内
の本影を受けるように当該プリコリメータを制御する制
御手段と、前記指定された検出素子列により検出された
データに基づいてＸ線ＣＴ像を再構成する再構成手段
と、を備えたことを特徴とする。

【００１６】好適には、前記Ｘ線源の焦点移動に対応し
た量を検出する検出手段を備え、前記制御手段は、前記
検出手段の検出量に基づいて前記プリコリメータの前記
スライス方向の開口幅、前記プリコリメータの前記スラ
イス方向の位置、および前記Ｘ線源の焦点の前記スライ
ス方向の位置の内の少なくとも一つを、前記指定された
検出素子列がＸ線ビームの前記本影を受けるように制御
する手段を含む。

【００１７】また請求項２記載の発明に係るＸ線ＣＴス
キャナにおいては、前記Ｘ線検出器を、複数の検出チャ
ンネルから成る検出素子列を前記スライス方向に複数配
列した２次元検出器で形成するとともに、前記Ｘ線源の
焦点のサイズに応じて、前記プリコリメータにより形成
されたＸ線ビームのプロファイルの本影および半影の内
の本影を受ける、前記複数の検出素子列の内の少なくと
も１つの検出素子列により検出されたデータに基づいて
Ｘ線ＣＴ像を再構成する再構成手段を備えたことを特徴
とする。

【００１８】好適には、前記Ｘ線源の焦点移動に対応し
た量を検出する検出手段と、前記検出手段の検出量に基
づいて前記プリコリメータの前記スライス方向の開口
幅、前記プリコリメータの前記スライス方向の位置、お
よび前記Ｘ線源の焦点の前記スライス方向の位置の内の
少なくとも一つを、前記少なくとも１つの検出素子列が
前記Ｘ線ビームの前記本影を受けるように制御する制御
手段と、を備える。

【００１９】さらに請求項３記載の発明に係るＸ線ＣＴ
スキャナにおいては、前記Ｘ線検出器を、複数の検出チ
ャンネルから成る検出素子列を前記スライス方向に複数
配列した２次元検出器で形成するとともに、前記プリコ
リメータにより形成されたＸ線ビームのプロファイルの
本影および半影の内の本影のみによるデータに基づいて
画像再構成を行う第１の収集モード、および、前記本影
および半影の双方によるデータに基づいて画像再構成を
行う第２の収集モードの内の一方の収集モードを選択す
る選択手段と、この選択手段により選択された収集モー
ドおよび前記Ｘ線源の焦点のサイズに応じて前記プリコ
リメータの絞り状況を制御する制御手段と、前記選択手
段により選択された収集モードに基づいてデータを収集
するスキャン手段とを、備えたことを特徴とする。

【００２０】好適には、前記Ｘ線源の焦点移動に対応し
た量を検出する検出手段を備え、前記制御手段は、前記
検出手段の検出量に基づいて前記プリコリメータの前記
スライス方向の開口幅、前記プリコリメータの前記スラ
イス方向の位置、および前記Ｘ線源の焦点の前記スライ
ス方向の位置の内の少なくとも一つを、前記Ｘ線検出器
に入射するＸ線ビームのプロファイルの移動を防止する
ように制御する手段を含む。

【００２１】例えば、前記Ｘ線源は、前記焦点のサイズ
を変更可能なＸ線管である。

【００２２】好適には、前記スライス方向に移動可能で
あって前記被検体を載せる天板と、マルチスキャン時に
前記Ｘ線ビームによるスキャン毎に前記指定された検出
素子列による撮影領域の中心におけるトータルのスライ
ス幅に略一致する前記天板の移動距離を判断する判断手
段と、この判断手段により判断された前記移動距離に基
づいて前記天板の移動を制御する天板制御手段と、を備
えることができる。

【００２３】さらに好適には、前記スライス方向に移動
可能であって前記被検体を載せる天板と、ヘリカルスキ
ャン時に前記被検体周りの前記Ｘ線源およびＸ線検出器
の１回転毎に前記指定された検出素子列による撮影領域
の中心における前記スライス方向のトータルの幅に応じ
て前記天板の移動距離を判断する判断手段と、この判断
手段により判断された前記移動距離に基づいて前記天板
の移動を制御する天板制御手段と、を備えた構成とする
こともできる。

【００２４】さらに、前記プリコリメータの前記スライ
ス方向の開口幅を、前記Ｘ線源の焦点移動に伴う前記Ｘ
線ビームの前記スライス方向の予測される最大移動量に
対応した量だけ広く設定する設定手段を備えることがで
きる。この最大移動量には、例えば焦点サイズの変更に
伴う焦点移動量を含めることができる。

【００２５】さらに、請求項１２記載の発明に係るＸ線
ＣＴスキャナは、Ｘ線ビームを曝射する焦点を有するＸ
線源と、被検体と前記Ｘ線源との間に介挿されて前記被
検体のスライス方向における前記Ｘ線ビームの幅を絞る
プリコリメータと、前記被検体を透過した前記Ｘ線ビー
ムを受けるＸ線検出器とを備え、前記プリコリメータの
前記スライス方向の開口幅および前記スライス方向の位
置の内の少なくとも一つを前記Ｘ線源の焦点のサイズに
応じて制御する制御手段とを備えることを特徴とする。

【００２６】以上の構成により、Ｘ線源としてのＸ線管
の焦点サイズが変更された場合でも、その変更に応じて
プリコリメータの開口幅が制御され、Ｘ線ビームのプロ
ファイルも調整される。この制御は、例えば、２次元検
出器の使用したい検出素子列に常に本影のみが入射する
ように実施される。これにより、焦点サイズが変更され
た場合でも、本影のみを受けて再構成画像の画質劣化を
防止できるとともに、Ｘ線被爆の影響も最小限に抑える
ことができる。

【００２７】この作用に合わせて、Ｘ線検出器の検出素
子列（２次元検出器の場合、撮影時に指定した又は予め
決まっている検出素子列）のスライス方向の幅にわたっ
て、Ｘ線ビームの本影のみが入射するようにプリコリメ
ータの、例えば、スライス方向の開口幅及び／又は位置
が制御される。このため、Ｘ線管内で焦点移動が起こっ
てもスライス方向のプロファイルのＸ線強度は一定にな
り、画質の劣化を招くことはない。

【００２８】また、プリコリメータのスライス方向の開
口幅が、Ｘ線管のＸ線焦点の移動に伴うＸ線ビームのス
ライス方向の予測される最大移動量に対応した量だけ広
く設定される。このため、一度そのように開口設定して
おくだけで、良好な信号及び画質が得られる。

【００２９】さらに、Ｘ線管のＸ線焦点の移動に対応し
た量が検出され、その検出量に基づいて、Ｘ線ビームの
本影が２次元Ｘ線検出器の指定された又は予め決まって
いる検出素子列のスライス方向の幅にわたって入射する
ようにプリコリメータの、例えば、スライス方向の開口
幅及び／又はスライス方向の位置が追従制御される。こ
のため、キャリブレーションデータ収集時と撮影時とで
Ｘ線焦点の移動量が異なる場合でも、常に本影部分がＸ
線検出器に入射し、画像再構成時に安定した良好なキャ
リブレーションが掛かり、アーファクトやＣＴ値のシフ
トの発生を防止できる。

【００３０】さらにまた、オペレータが本影モードと
「本影＋半影」モードとを任意に選択してスキャンさせ
ることもできる。

【００３１】

【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施形態に係
るＸ線ＣＴスキャナを図１〜図１７を参照して説明す
る。

【００３２】図１に示すＸ線ＣＴスキャナは、ガントリ
１、寝台２及び制御キャビネット３を備え、例えばＲー
Ｒ方式で駆動する装置である。寝台２の上面には、その
長手方向（スライス方向（または回転軸方向）に相当す
る）にスライド可能に支持された状態で天板２ａが配設
されており、その天板２ａの上面に被検体Ｐが載せられ
る。天板２ａは、サーボモータにより代表される寝台駆
動装置２ｂの駆動によって、ガントリ１の診断用開口部
に進退可能に挿入される。また寝台２には、天板２ａの
寝台長手方向の位置を電気信号で検出するエンコーダな
どの位置検出器（図示せず）を備えている。なお、図１
に示すように、チャンネル方向がスライス方向およびＸ
線ビームの曝射方向に直交する方向として定義される。

【００３３】ガントリ１は、その開口部に挿入された被
検体Ｐを挟んで対向するＸ線管１０及びＸ線検出器１１
を備えている。

【００３４】この内、Ｘ線源として機能するＸ線管１０
は図２，３に示すように、回転陽極Ｘ線管の構造を成す
とともに、その焦点のサイズを「大」、「小」に切換可
能になっている。すなわち、Ｘ線管１０は、外囲器１０
ａの真空内部に陰極１０ｂと陽極としてのターゲット１
０ｃとを配置している。陰極１０ｂは、ターゲット１０
ｃに対向配置されたタングステン製フィラメントＦＴ，
収束電極ＥＬなどで構成され、陰極スリーブ１０ｄに支
持・結合されている。フィラメントＦＴは図３に示すよ
うに、スライス方向の同一位置にてチャンネル方向に並
置された大焦点用フィラメントＦＴL と小焦点用フィラ
メントＦＴS から形成されている。後述する高電圧制御
装置を介して、２つのフィラメントＦＴL 、ＦＴS に選
択的に電流を流すことによりフィラメントが加熱され、
熱電子がターゲット１０ｃに向かって放出される。

【００３５】陽極であるターゲット１０ｃは、ターゲッ
ト角度θのテーパー状のターゲット面が形成された円板
状になっており、回転陽極子１０ｅにより高速で回転可
能に支持されている。大焦点用または小焦点用のフィラ
メントＦＴL またはＦＴS から放出された熱電子はター
ゲット面に衝突して実効焦点Ｆが形成され、ターゲット
面の実効焦点Ｆの部位からＸ線ビームが曝射される。

【００３６】この結果、高電圧制御装置を介して、２つ
のフィラメントＦＴL 、ＦＴS に選択的に通電すること
で、焦点を「大」または「小」に選択的に設定すること
ができる。大焦点用フィラメントＦＴL を使用すると、
電子ビームはより広い範囲のターゲット面に当たり、実
効焦点Ｆは大きくなる。大焦点用フィラメントＦＴLに
はより大きな電流を流せるようになっているので、Ｘ線
ビームは強くかつ大きなファンビームになる。しかし、
焦点サイズが大きいと、被検体を通過するときの個々の
ビームが太くなるため、分解能は下がる。大焦点は分解
能が低下しても、より強いＸ線を使用したいとき（例え
ば被検体のサイズが大きい場合）に使用される。小焦点
はその反対で分解能を重視するときに使用される。大焦
点、小焦点は通常、このように使い分けられる。

【００３７】この焦点の使い分けに必要な焦点サイズの
情報はプリセット情報として与えられる場合が多い。こ
こでも、操作者は管電流の値を設定することで焦点サイ
ズを自動的に指定できるようになっている。

【００３８】またＸ線検出器１１としては、複数の検出
チャンネルを有する検出素子列をスライス方向に複数列
配した２次元検出器、又は複数の検出チャンネルを有す
る検出素子列をスライス方向に１列配したシングルスラ
イス検出器が搭載される。Ｘ線管１０とＸ線検出器１１
は架台駆動装置１２によってガントリ１内の回転軸の囲
りに回転可能になっている。Ｘ線検出器１１で検出され
た透過Ｘ線に相当する電流信号は、データ収集装置（Ｄ
ＡＳ）１３にてデジタル量に変換され、制御キャビネッ
ト３に送られる。

【００３９】さらにガントリ１内では、Ｘ線管１０と被
検体Ｐとの間にプリコリメータ１５が設けられるととも
に、被検体ＰとＸ線検出器１１との間にポストコリメー
タ１６が設けられている。プリコリメータ１５は、例え
ばチャンネル方向に一定の幅で且つスライス方向には可
変幅のスリット状の開口を形成する２枚のブレードを有
している。この２枚のプレードはスライス方向で対称に
動くとともに、プリコメータ１５全体でもスライス方向
に移動可能になっている。プリコメータ１５のスライス
方向の開口幅及び位置はガントリ１内に設定したプリコ
リメータ駆動装置１７によって調整される。これによ
り、Ｘ線管１０から曝射されたＸ線ビームのスライス方
向の幅を絞って、所望幅のファンビームを形成する。Ｘ
線管１０の実効焦点Ｆはスライス方向に有限の長さを持
っているため、前述と同様に検出器位置におけるスライ
ス方向のＸ線プロファイルに本影および半影を形成す
る。

【００４０】なお、プリコリメータ１５の開口はスリッ
ト状に形成されているため、前述した半影に起因する問
題はチャンネル方向には生じない。

【００４１】ポストコリメータ１６も同様に、チャンネ
ル方向には一定幅でスライス方向に可変幅のスリット状
の開口を有する。このスライス方向の幅はポストコリメ
ータ駆動装置１８によって調整される。ポストコリメー
タ１８は、本実施形態では、プリコリメータ１５によっ
て絞られたＸ線ビームを更に細かく絞る補助的な絞り機
能を担っている。

【００４２】プリコリメータ駆動装置１７およびポスト
コリメータ駆動装置１８は共に、ステッピングモータや
スライド機構を備え、架台駆動装置１２から送られる駆
動制御信号に応答して動作するようになっている。少な
くともプリコリメータ駆動装置１７は、開口幅自体を調
整するモータと開口幅全体のスライス方向の位置を調整
するモータとを備えている。

【００４３】また、Ｘ線検出器１１の近傍には焦点位置
センサとしての焦点位置検出器２０が取り付けられてい
る。Ｘ線管１０により曝射されたＸ線ビームの一部は、
例えばプリコリメータ１５のチャンネル方向の横に取り
付けられた焦点位置検出用のプリコリメータ１５Ｄを通
過した後、上記焦点位置検出器２０に入射する。この焦
点位置検出器２０は図４に示す如く、例えばスライス方
向に隣接した２つのＸ線検出器ＦＤ１，ＦＤ２（各々、
シンチレータとフォトダイオードとを備える）から成
り、データ収集装置と同じくＡ／Ｄ変換の後、制御キャ
ビネット３の後述する架台制御装置に送られる。

【００４４】制御キャビネット３は、システム全体を統
括する主制御装置３０のほか、この主制御装置３０から
指令を受けて作動する高電圧制御装置３１、寝台制御装
置３２、架台制御装置３３を有する。特に架台制御装置
３３は焦点位置検出器２０の検出信号Ｐ１，Ｐ２、すな
わち内蔵する２つのＸ線検出器ＦＤ１，ＦＤ２に入射す
るＸ線強度の比「（Ｐ１−Ｐ２）／（Ｐ１＋Ｐ２）」を
演算するとともに、この比とスライス方向のＸ線焦点位
置移動量とを予め関係付けてある記憶テーブルを参照
し、焦点位置移動量を求める。図５には、かかる関係付
けの一例をグラフで示す。ある焦点移動の範囲において
は、この関係はほぼ直線となる。

【００４５】なお、この架台制御装置３３では、上記の
記憶テーブル参照の代りに、予め図５の特性を表わす直
線の式のみを記憶しておいて、演算により焦点位置移動
量を求めることもできる。

【００４６】更に、この制御キャビネット３は、図１に
示す如く高電圧制御装置３１からの駆動信号（大焦点フ
ィラメントまたは小焦点フィラメントのいずれかを選択
するフィラメント選択信号を含む）に応じて作動する高
電圧発生装置３４を備え、この高電圧発生装置３４で生
成した高電圧がＸ線管２０に供給される。さらに、制御
キャビネット３は、データ収集装置１２の収集信号を受
けて画像データを再構成する画像再構成装置３５、画像
データを記憶しておく画像データ記憶装置３６、再構成
画像を表示する表示装置３７、及びオペレータが主制御
装置３０に指令を与えるための入力器３８を夫々備えて
いる。

【００４７】データ収集装置１３は、図６に示すよう
に、Ｘ線検出器１１が２次元検出器の場合にその「ｎチ
ャンネル×ｆ列」の検出信号（ｎ，ｆは「１」より大き
い正の整数）から、列選択信号に応じてチャンネルごと
に１列分の検出信号を選択するデータ選択部１３Ａ_１、
１３Ａ_２、…、１３Ａ_ｎと、このデータ選択部１３
Ａ_１、…、１３Ａ_ｎにより各々選択された検出信号を増
幅したりＡ／Ｄ変換するデータ収集部１３Ｂとを備え
る。列選択信号は主制御装置３０から送られる。データ
収集部１３Ｂで生成されたチャンネルごとのＸ線検出デ
ータは画像再構成装置３５に出力される。

【００４８】主制御装置３０は、スキャナ全体の管理を
予め定められた手順に従って行う。その一例を図７〜図
１２に示す。なお、この主制御装置３０による制御はＸ
線検出器１１として２次元検出器が使われている場合
と、シングルスライス検出器が使われている場合とに分
けられる。

【００４９】図７にＸ線検出器１１として２次元検出器
が使われている場合の主制御装置３０の制御例を示す。

【００５０】最初に同図ステップ４０にて、主制御装置
３０はスキャンモード（マルチスキャンかヘリカルスキ
ャンか）、データ収集用に指定された検出素子列の数及
びその位置，スキャン部位及び位置，スライス厚，Ｘ線
管電圧及び電流などのスキャン条件の情報（但し後述す
る「１回転当りのスライス数」、「収集モード」および
「焦点サイズ」の情報は含まない）を入力する。

【００５１】次いでステップ４１にて、１回転当りのス
ライス数の情報を入力する。さらにステップ４２にて、
収集モード（本実施形態では、「本影モード」（：本影
のみを収集するモード）、「本影＋半影モード」（：本
影と半影（の一部））とを収集するモード）の情報を入
力する。なお、Ｘ線検出器１１のデータ収集に使用する
検出素子列は、例えばオペレータにより撮影時に任意に
指定される。

【００５２】次いでステップ４３に移行して、主制御装
置３０は、焦点サイズの情報を入力する。具体的には、
ステップ４０で入力した管電流の値をテーブル参照し、
管電流値に対応して予め定めた焦点サイズの情報をプリ
セット情報として入力する。管電流値が高いときには焦
点サイズ「大」が指令され、反対に管電流値が低いとき
には焦点サイズ「小」が指令される。管電流値は操作者
により被検体のサイズなどを勘案して設定される。

【００５３】次いでステップ４４に移行して、プリコメ
ータ１５の開口のスライス方向の幅Ｗpre を演算する。
この演算に際し、主制御装置３０により、プリコメータ
１５の採り得る位置態様が図８に示す如く判断される。

【００５４】すなわち、「２次元検出器の複数の検出素
子列の内、全部の列を使うのか又は一部の指定列を使う
のか」が、入力器３８から指令された入力情報（図７ス
テップ４０）に基づいて判断される（図８ステップ４４
_１）。これで「全部の列」を使うと判断されると、入力
器３８から指令された入力情報（図７ステップ４２）に
基づいて、さらに収集モードは「本影モード」か「本影
＋半影モード」かを判断する（図８ステップ４４_２）。
これで「本影モード」が判断される場合、プリコリメー
タ１５、Ｘ線プロファイルＰＬ、及びＸ線検出器１１は
全部の素子列を本影がカバーするようにプリコリメータ
１５のスライス方向の開口幅が制御されることになる、
図８内の説明図（ａ）の位置関係をとる。また「本影＋
半影モード」が判断される場合、全部の素子列の一部に
半影が入射する、同図の説明図（ｂ）の位置関係とな
る。

【００５５】さらに、ステップ４４_１で「一部の指定検
出素子列」を使うと判断された場合もステップ４４_３に
移って前記ステップ４４_２と同様の判断に付される。こ
の結果、「本影モード」となるときは、説明図（ｃ）に
示す如く、指定された一部の検出素子列のみを本影がカ
バーするようにプリコリメータ１５のスライス方向の開
口幅が制御されることになる。「本影＋半影」モードと
なるときは、指定された一部の素子列の内の更に一部に
半影が入射する、説明図（ｄ）の位置関係が認識でき
る。

【００５６】このようにプリコリメータ１５の位置関係
の取り得るべき態様が上記説明図（ａ）〜（ｄ）の内の
何れかに決まると、主制御装置３０はプリコリメータ１
５の開口のスライス方向の幅Ｗpre を演算する。この演
算は、例えば上記位置関係の態様別に、Ｘ線管１０、プ
リコリメータ１５、被検体のアイソセンタ、及びＸ線検
出器の位置データなどに基づいて求められる。この演算
式を以下に示す。

【００５７】いま、図９に示す如く、Ｘ線管１０の焦点
Ｆのサイズをｘ、Ｘ線検出器１１上に投影される本影の
スライス方向の長さをｙ、Ｘ線検出器１１上に投影され
る「本影＋半影」のスライス方向の長さをｚ、焦点Ｆと
プリコリメータ１５との間の曝射方向の距離をｃ、プリ
コリメータ１５とＸ線検出器１１との間の曝射方向の距
離をｄとすると、プリコリメータ１５の本影モードの開
口幅Ｗpre （ｘ，ｙ）および本影＋半影モードの開口幅
Ｗpre （ｘ，ｚ）はそれぞれ、

【数１】

【数２】の式により演算できる。すなわち、前述した図８の
（ａ）および（ｃ）の位置態様を採るときは、上記式
（１）に基づき、焦点サイズｘおよび本影サイズｙを反
映させた開口幅Ｗpre （ｘ，ｙ）が求められる。また同
図（ｂ）および（ｄ）の位置態様を採るときは、上記式
（２）に基づき、焦点サイズｘおよび「本影＋半影」サ
イズｚを反映させた開口幅Ｗpre （ｘ，ｚ）が求められ
る。これらの式から分かるように、本影サイズｙまたは
「本影＋半影」サイズｚが変わらず、焦点サイズｘのみ
が変化する場合は、その変化分をも反映させた開口幅が
求められることになる。

【００５８】なお、この開口幅Ｗpre （ｘ，ｙ）および
Ｗpre （ｘ，ｚ）は、図７、８の制御が実施される度に
上記（１）または（２）式に基づいて演算により求めて
もよいが、その演算により求められる開口幅データをテ
ーブルとして予め記憶しておいてもよく、その場合に
は、テーブルを参照するだけで開口幅Ｗpre を得ること
ができる。また、かかるテーブルは、実測データを基に
作成し記憶しておいてもよい。

【００５９】次いで図７のステップ４５に移行して、す
でに入手しているスキャン方法を判断し、マルチスキャ
ンの場合、ステップ４６で天板の送りピッチを演算す
る。この送りピッチは図１７（ａ）、（ｂ）に示すよう
に、天板を移動させる距離であり、Ｘ線検出器１１の使
用用に指定した検出素子列の撮影領域の中心におけるト
ータルのスライス幅に一致する距離である。一方、ヘリ
カルスキャンの場合、ステップ４７で天板の送り速度を
演算する。この送り速度は１回転当たりの天板の移動距
離として決められる速度で、その移動距離はＸ線検出器
１１の指定検出素子列の撮影領域の中心におけるトータ
ルのスライス幅に一致させる。なお、ヘリカルスキャン
の場合、別の方法で送り速度を指定してもよい。例え
ば、スライス方向のサンプリング密度を上げるために、
送り速度として、前記指定検出素子列に相当する小数点
無しの整数値を選択する代わりに、小数点（端数）を有
する半端な値を選択することもできる。

【００６０】マルチスキャンは、「スキャン・天板移動
・スキャン・天板移動…」を繰り返し行うものである。
天板移動量を、撮影領域の中心における指定検出素子列
に対応した１スキャン当たりのトータルのスライス幅
（すなわち、指定された検出素子列全てに入射するＸ線
プロファイルの半値幅）と等しくした場合、得られた画
像は全て等間隔であり、また個々の画像は互いに隣接し
た領域から得られたものとなり、画像間のギャップが存
在しない。これはシングルスライスＣＴ，マルチスライ
スＣＴに共に言えることであり、得られた画像から３次
元モデルを作成する場合等に有利である。

【００６１】ヘリカルスキャンは、スキャンと天板移動
を同時に行うことで、螺旋状にデータを取得するスキャ
ン方法である。画像を再構成する場合には、再構成する
断面に対して、その断面からの距離を係数として収集デ
ータを補間する方法が一般的である。ヘリカルスキャン
において天板移動速度を、撮影領域の中心における指定
検出素子列に対応したトータルのスライス幅と一致させ
た場合、データ収集領域は１回転進む毎に互いに隣接す
ることになり、欠落のない被写体データの収集が可能と
なる。

【００６２】以上のように各種データが得られると、主
制御装置３０はステップ４８〜５１にて、データ収集装
置１２及び画像再構成装置３５、架台制御装置３３、寝
台制御装置３２、並びに高電圧制御装置３１に各々必要
情報を出力する。なお、ステップ５１にて高電圧制御装
置３１に出力される情報には、大焦点用フィラメントＦ
ＴL を使用するのか、小焦点用フィラメントＦＴS を使
用するのかの情報が含まれている。この情報付与によ
り、各制御装置は予め記憶している所定の手順に基づい
て動作するので、指令されたスキャンが実行される。

【００６３】一方、図１０にＸ線検出器１１としてシン
グルスライス検出器が使われている場合の主制御装置３
０の制御例を示す。この制御例はシングルスライスに特
有の情報（スライス幅）を取り込むこと、及び前述した
２次元検出器を使用した場合には制御の対象外であった
ポストコリメータ１６が態様によっては新たに加わる点
が２次元検出器の場合とは大きく異なる。

【００６４】具体的には、同図ステップ６０にて、主制
御装置３０がスキャンモード（シングルスキャンか、マ
ルチスキャンか、又はヘリカルスキャンか）、スキャン
部位及び位置，Ｘ線管電圧及び電流などのスキャン条件
の情報（但し後述する「スライス幅」、「収集モード」
および「焦点サイズ」の情報は含まない）を入力する。
次いでステップ６１で、シングルスライスのスライス幅
の情報を入力し、ステップ６２で収集モード（前述と同
様に「本影モード」か「本影＋半影モード」か）の情報
を入力する。

【００６５】次いでステップ６３に移行し、前述と同様
に、Ｘ線管１１の焦点サイズの情報を入力する。

【００６６】さらにステップ６４に移行して、プリコリ
メータ１５のスライス方向の開口幅Ｗpre を演算する。
この場合も、プリコリメータ１５のとり得る位置態様が
図１１に示す如く判断される。

【００６７】すなわち、既に入力している収集モード
（ステップ６２）が「本影モード」か又は「本影＋半影
モード」かが判断される（図１１ステップ６４_１）。こ
れにより、「本影モード」と判断された場合、ステップ
６４_２に移行し、既に得ている指定スライス幅（ステッ
プ６１）が回転軸方向における検出器幅に相当する幅に
等しいか否かを判断する。この判断でＮＯとなるときは
「指定スライス幅＜検出器幅に相当する幅」となる場合
であり、その位置態様は図１１（ａ）の如く表わされ
る。そして、この場合のみ後述するようにポストコリメ
ータ１６が関与する。これに対して、ＹＥＳ、すなわち
「指定スライス幅＝検出器幅に相当する幅」となると
き、プリコリメータ１５は同図（ｂ）の位置態様をと
る。ステップ６４_１で「本影＋半影モード」が判断され
た場合（この場合、指定スライス幅＝検出器幅に相当す
る幅、となることはあり得ない）、説明図（ｃ）の位置
態様をとる。なお、同図（ｂ），（ｃ）の位置態様の場
合、ポストコリメータ１６は関与しない。ここでいうス
ライス幅は「Ｘ線プロファイルの半値幅を回転軸中心に
投影した値」として定義される。

【００６８】上記プリコリメータ１５の開口幅Ｗpre
は、例えば上述の如く判別した態様毎に、Ｘ線管１０，
プリコリメータ１５，被検体のアイソセンタ，及びＸ線
検出器１１の各位置データなどを使って前述の式（１）
または（２）に基づき、演算またはテーブル参照により
求められる。

【００６９】さらに図１０のステップ６５で、ポストコ
リメータ１６のスライス方向の開口幅Ｗpostが演算され
る。この演算は、図１１（ａ）の位置態様のとき（すな
わち、指定スライス幅＜検出器幅に相当する幅のとき）
のみ行われるもので、ポストコリメータ１６が半影をカ
ットするようにその開口幅Ｗpostが演算される。

【００７０】次いで主制御装置３０はステップ６６に進
んでスキャン法を判断する。もしシングルスキャンであ
ると判断されたときはステップ６９にスキップするが、
マルチスキャンであると判断されたとき及びヘリカルス
キャンであると判断されたときは、ステップ６７又はス
テップ６８で天板の送りピッチ又は天板の送り速度がス
ライス幅を加味して各々演算される。

【００７１】この後、ステップ６９〜７２の処理が前記
図７ステップ４８〜５１の処理と同様に順次実施され
る。

【００７２】更に、架台制御装置３３によるコリメータ
１５のスライス方向の開口幅制御の例を図１２に基づい
て説明する。

【００７３】すなわち、架台制御装置３３は主制御装置
から供給された開口幅Ｗpre を初期値として入力し（同
図ステップ８０）、それらのデータに対応した制御信号
を架台駆動装置１８に送ることで、プリコリメータ駆動
装置１７を作動させ、プリコリメータ１５のスライス方
向の実際の開口幅及び／又は位置を指令初期値に合わせ
る（同図ステップ８１）。

【００７４】この後、焦点位置検出器２０からの検出信
号を入力し（同図ステップ８２）、Ｘ線管１０の発熱な
どに伴う焦点Ｆの移動量を、例えば図５に示したグラフ
を表わした記憶テーブル参照によって推定演算する（同
図ステップ８３）。

【００７５】次いでステップ８４に移行して、推定した
Ｘ線焦点Ｆの移動量を加味したプリコリメータ１５の開
口幅Ｗpre 又はスライス方向の位置を再演算する。すな
わち、焦点Ｆの移動によってＸ線プロファイルＰＬがス
ライス方向にずれたことを補正する開口データが得られ
る。この補正用の新たなデータが再び架台駆動装置１２
に送られ、その更新された値でプリコリメータ１５の開
口幅、位置が修正される（同図ステップ８１）。以下、
同様の処理が繰り返される。

【００７６】なお、上述した図１２の処理に係る焦点移
動に対する焦点追従制御にあっては、プリコメータ１５
のみを追従させるだけでよく、ポストコリメータ１６は
Ｘ線検出器１１に近いため、このコリメータ１６を追従
移動させる必要は無い。Ｘ線検出器１１にシングルスラ
イス検出器が採用されている場合であって、スライス幅
＜検出器幅となるプリコリメータ１５の位置態様（すな
わち図１１の（ａ）で表わされる位置態様）のとき、ポ
ストコリメータ１６は図１０のステップ６５の処理で演
算された開口幅Ｗpostが架台制御装置３３の図示しない
処理によって指令される。しかし、この場合もポストコ
リメータ１６の開口幅ＷpostをＸ線焦点移動に伴って追
従制御させることはせず、常に一定値に保持され、半影
をカットする。プリコリメータ１５がその他の位置態
様、すなわち図８（ａ）〜（ｄ），図１１（ｂ），
（ｃ）を採るときは、ポストコリメータ１６はＸ線コリ
メーションに関与しない。

【００７７】以上の構成及び処理に係るプリコリメータ
１５の動作の典型例を図１３〜１６に示す。この内、図
１３は焦点サイズのみを変更した場合のプリコリメータ
１５のスライス方向の開口幅の制御例を、図１４は焦点
サイズおよび使用検出器列を変更した場合のプリコリメ
ータ１５のスライス方向の開口幅の制御例を、図１５は
焦点移動に伴うプリコリメータ１５のスライス方向の開
口幅の制御例を、図１６は焦点移動に伴うプリコリメー
タ１５のスライス方向の開口幅及びその位置の制御例を
それぞれ示す。

【００７８】いま、Ｘ線検出器１１として２次元検出器
を使用し（スライス方向の検出素子列はａ〜ｈとす
る）、そのスライス方向の一部の検出素子列ｄ，ｅを使
用して本影モードのマルチスキャンを実施するものとす
る。

【００７９】焦点サイズとして小焦点フィラメントＦＴ
S による小焦点Ｆが指令されている場合、プリコリメー
タ１５の開口幅Ｗpre は図１３（ａ）に示すように設定
される。すなわち、スキャン条件、１回転当たりのスラ
イス数＝２、収集モード＝本影モード、および焦点サイ
ズ＝小焦点の情報が主制御装置３０に入力されると（図
７ステップ４０〜４３）、プリコリメータ１５の位置態
様及びスライス方向の開口幅Ｗpre が自動的に決められ
る（同図ステップ４４）。その位置態様は図８（ｃ）に
相当するものであり、また開口幅Ｗpre ＝Ｗpre1は前記
式（１）に基づき例えば演算により求められる。さらに
スキャン方法はマルチスキャンが指令されているので、
その送りピッチがその一部の指定素子列ｄ，ｅに相当す
る回転中心におけるトータルのスライス幅に等しくなる
ように自動的に演算される（同図ステップ４５、４
６）。そして、入力データ及び演算データは各々、所要
のデータ収集装置１３、画像再構成装置３５、架台制御
装置３３、寝台制御装置３２、及び高電圧制御装置３１
に出力される。高電圧制御装置３１には小焦点を選択す
るフィラメント選択信号も併せて供給される。このため
高電圧制御装置３１は、高電圧発生装置３４から小焦点
フィラメントＦＴS にフィラメント電源を供給させる。

【００８０】この状態から例えば、撮影部位が頭部から
腹部に変わるなどの状況に対応してオペレータが焦点サ
イズＦ＝大焦点への変更のみを欲したとする（管電流以
外のスキャン条件、１回転当たりのスライス数、および
収集モードは不変とする）。そこでスキャン条件の一つ
としての管電流の上昇を指令すると、この管電流の上げ
に対応したプリセット値として焦点サイズＦ＝大焦点の
情報が自動的に読み込まれる（図７、ステップ４３）。
これに応答して、プリコリメータ１５の位置態様に応じ
たプリコリメータ１５の開口幅Ｗpre ＝Ｗpre2が自動的
に演算される（図７、ステップ４４）。つまり、位置態
様は図１３（ａ）のものと変わらないが、前記式（１）
に基づいて求められる開口幅Ｗpre ＝Ｗpre2は焦点Ｆの
スライス方向のサイズが大きくなった分だけ大きくな
り、Ｗpre2＞Ｗpre1となる開口幅が設定される。そし
て、図１２の処理を介して（いま焦点位置そのものは変
わらないとする）、図１３（ｂ）に示すように、プリコ
リメータ１５の開口幅Ｗpre がＷpre1からＷpre2に広げ
られ、使用する検出素子列ｄ，ｅには本影ＲM のみが入
射する。

【００８１】したがって、焦点サイズを大焦点に切り換
えた場合でも、使用する検出素子列ｄ，ｅに半影ＲS が
入り込んで、本影モードを指定しているにも関わらず、
実質的に「本影＋半影」モードになってしまうことはな
く、収集モードで指定した通りに本影ＲM のみが入射す
る。逆に言えば、図１３（ａ）の小焦点の開口幅Ｗpre1
のまま大焦点に切り換えたときには、検出素列ｄ，ｅの
一部に、焦点のスライス方向のサイズが大きくなった分
だけ半影ＲS が入り込む。しかし、本実施形態のよう
に、焦点サイズの切換に合わせてプリコリメータの開口
幅も調整しているので、そのような事態の発生が未然に
防止される。このため、半影などが入り込むことに因り
再構成像の画質が低下してしまうという不具合の発生も
確実に回避される。

【００８２】上述のように焦点サイズを小焦点から大焦
点に切り換える場合とは反対に、大焦点から小焦点に切
り換えた場合も同様に、図１３（ｂ）から同図（ａ）の
状態に開口幅Ｗpre が調整される。つまり、本影ＲM が
入射するスライス方向の範囲は検出素子列ｄ，ｅの範囲
に止められ、使用しない検出素子列にまで本影が入射す
ることはない。このように本影の入射範囲を必要以上に
広げないことによって、Ｘ線検出器１１の外側に漏れる
不要なＸ線を極力少なくし、被検体への被爆の影響をよ
り抑えることができる。

【００８３】また、上述した焦点サイズの切換に加え
て、使用する検出素子列を変更する場合の開口幅制御例
を図１４（ａ），（ｂ）に示す。

【００８４】いま、Ｘ線検出器１１として２次元検出器
を使用し（スライス方向の検出素子列はａ〜ｈとす
る）、そのスライス方向の一部の検出素子列ｄ，ｅを使
用して本影モードのマルチスキャンを実施するものとす
る。焦点サイズとして小焦点フィラメントＦＴS による
小焦点Ｆが指令されている場合、プリコリメータ１５の
開口幅Ｗpre は図１４（ａ）に示すように設定される。
すなわち、この場合は前述した図１３（ａ）の場合と同
様の処理が行われる。

【００８５】この状態から例えば、撮影部位が頭部から
腹部に変わるなどの状況に対応してオペレータが焦点サ
イズＦ＝大焦点へ、かつ使用検出素子列の数（すなわ
ち、１回転当たりのスライス数）をｃ〜ｆへの増加を指
令したとする（管電流、使用する検出素子列の位置以外
のスキャン条件および収集モードは不変とする）。これ
に応答して、プリコリメータ１５の位置態様に応じたプ
リコリメータ１５の開口幅Ｗpre ＝Ｗpre2が自動的に演
算される（図７、ステップ４４）。つまり、位置態様は
図１４（ａ）のものと変わらないが、前記式（１）に基
づいて求められる開口幅Ｗpre ＝Ｗpre2は焦点Ｆのスラ
イス方向のサイズが大きくなった分、および、使用検出
素子列の増えた分だけ大きくなり、Ｗpre2＞Ｗpre1とな
る開口幅が設定される。この結果、図１２の処理を介し
て、図１４（ｂ）に示すように、プリコリメータ１５の
開口幅Ｗpre がＷpre1からＷpre2に広げられ、新たに指
定した検出素子列ｃ〜ｆには本影ＲM のみが入射する。

【００８６】したがって、焦点サイズを大焦点に且つ使
用する検出素子列を切り換えた場合でも、使用する検出
素子列に半影ＲS が入り込んで、本影モードを指定して
いるにも関わらず、実質的に「本影＋半影」モードにな
ってしまうことはなく、再構成画像の画質低下を防止で
きる。また、当然に図１４（ｂ）の状態から同図（ａ）
の状態へも自動的に開口幅を制御でき、被検体への被爆
の影響をより抑えることができる。

【００８７】一方、焦点Ｆのサイズを切り換えた場合で
も、焦点位置はその配置構造上、チャンネル方向にはず
れるが、スライス方向には原則としてずれないことには
なっている。しかしながら、焦点サイズの切換に因って
スライス方向にも微妙にずれることがある。この場合で
も、図１３および図１４に示す開口幅制御において、そ
のスライス方向のずれが焦点位置検出器２０により検出
されるから、図１２の処理を介してそのずれが自動的に
補正される。

【００８８】なお、図１３および図１４の開口幅制御に
おいて、プリコリメータ１５のスライス方向の開口幅と
そのスライス方向の位置とを一体に調整するようにして
もよい。

【００８９】上述した図１３および図１４の開口幅制御
は、被検体が変わったときなどに、オペレータにより指
令されるスキャン条件および／または焦点サイズの情報
に応じて実施されるものであるが、図１５および図１６
の開口幅制御はスキャン中であっても自動的に追従制御
されるものである。

【００９０】いま、Ｘ線検出器１１として２次元検出器
を使用し（スライス方向の素子列はａ〜ｈとする）、そ
のスライス方向の一部の検出素子列ｃ〜ｆを指定して本
影モードのマルチスキャンを行うものとする。これらの
情報を含むスキャン条件、スライス数、収集モード、お
よび焦点サイズが主制御装置３０に入力されると（図７
ステップ４０〜４３）、プリコリメータ１５の位置態様
及びスライス方向の開口幅が自動的に決められる（同図
ステップ４４）。さらにスキャン方法はマルチスキャン
が指令されているので、その送りピッチがその一部の指
定素子列に相当する回転中心におけるトータルのスライ
ス幅に等しくなるように自動的に演算される（同図ステ
ップ４５、４６）。このようにして入力されたデータ及
び演算されたデータは各々、所要のデータ収集装置１
３、画像再構成装置３５、架台制御装置３３、寝台制御
装置５０、及び高電圧制御装置５１に出力される。

【００９１】特に、データ収集装置１３は、主制御装置
３０から指令された「どの列」（この場合はｃ〜ｆ列）
を使うかの列選択信号により、チャンネルごとの列を切
り替え、必要なデータを選択して画像再構成装置３５に
送る。また、マルチスキャンが指令されているので、ｃ
〜ｆ列分に相当するスライス幅が天板の送りピッチとな
る。ヘリカルスキャンが指令されているとすると、ｃ〜
ｆ列分に相当する撮影領域の回転中心におけるスライス
幅が１回転中の天板移動距離となる。これにより、検出
器の描く軌跡が全て等間隔となり、再構成におけるデー
タ補正等の処理が簡単になる。

【００９２】この結果、主制御装置３０の管理のもと
で、各装置が同期をとって動作しデータ収集を行うとと
もに、その画像を再構成する。このとき、プリコリメー
タ１５は図１５（図８（ｃ）に相当）に示す位置態様を
とる。つまり、プリコリメータ１５のスライス方向の開
口幅Ｗpre は２次元検出器１１の検出素子列ａ〜ｈの内
の一部の指定素子列ｃ〜ｆに本影ＲM のみが入射するよ
うに制御される。

【００９３】しかも、Ｘ線管１０の管球焦点Ｆ（例えば
小焦点、ここでは点として表す）が例えば図１５に示す
如く、陽極の曝射時の発熱などに因ってスライス方向に
移動することがある。この場合でも、焦点位置移動量の
検出に伴う図１２の処理に拠ってプリコリメータ１５の
開口幅がリアルタイムに微調整され、検出用の一部の指
定素子列ｃ〜ｆには本影ＲM のみが入射する。

【００９４】このようにプリコリメータ１５の開口幅を
フィードバック制御することで、キャリブレーションデ
ータ収集時と実際の撮影時とでＸ線プロファイルが変わ
るような撮影を行った場合でも、２次元検出器１１の予
め指定した検出素子列ｃ〜ｆ（スライス方向のスライス
幅に相当）に入射するＸ線強度は常に一定になるから、
再構成時のキャリブレーションが良好に掛かり、従来発
生していた画像上のアーチファクトやＣＴ値のシフトを
防止することができる。またＸ線プロファイルの変化に
対する要求が大幅に緩和される。さらに、再構成画像は
本影のみを使っているから、何れのスライス面の画質も
良好になる。さらに、プリコリメータ１５の開口幅だけ
を制御すればよいので、駆動対象となるモータ数が開口
幅制御用の１つだけで済み、制御が簡単であるという利
点もある。

【００９５】なお、上述した図１５の制御法を２次元検
出器の全面、すなわち図１５の例で言えば全部の検出素
子列ａ〜ｈを使って本影モードでスキャンする場合（す
なわち図８（ａ）の状態）にも同様に好適に適用でき
る。また、Ｘ線検出器１１としてシングルスライス検出
器を使う場合で、本影モードの場合（すなわち図１１
（ａ），（ｂ）の状態）にも好適に実施できる。

【００９６】一方、図１６に示すスキャンの場合、図１
５の場合と同一の条件（２次元検出器，スライス方向の
一部の指定検出素子列ｃ〜ｆのみの使用，本影モード，
同一焦点サイズ）を採用するが、焦点移動に伴うフィー
ドバック制御量が今度はプリコリメータ１５の各ブレー
ドの「スライス方向の位置」（すなわち、プリコリメー
タのスライス方向の開口幅及び位置）としている。すな
わち、プリコリメータ１５全体のスライス方向の位置が
リアルタイムに変更される。この制御は図１２のステッ
プ８２〜８４，８１の一連の処理によってリアルタイム
に行われる。

【００９７】このため、例えばＸ線管１０の焦点Ｆ（例
えば小焦点、図では点で表す）が図１６上で矢印で示す
如く右側に移動すると、結果的には、プリコリメータ１
５のスライス方向の一方のプレードが右側（矢印Ａ₁）
に移動させられ、且つ、もう一方のブレードも右側（矢
印Ａ₂）に等距離だけ移動させられる。すなわち、前述
した図１５の場合のようにスライス方向のコリメーショ
ンを担う両ブレードがスライス方向に対称に動いて開口
幅Ｗpre のみを変える制御とは異なり、開口幅Ｗpre 自
体及びスライス方向のコリメータ全体の位置が焦点移動
量に応じて変わる。

【００９８】したがって、Ｘ線検出器１１に対するＸ線
プロファイルＰＬのスライス方向の位置は変わらず、焦
点移動が実際には生じても、見掛け上焦点移動が発生し
ていないことと同じになる。これにより、図１５の場合
と同等の作用効果が得られるほか、図１５の方法と比べ
ても、より安定且つ高精度なプロファイルの位置制御を
行うことができ、また被曝量を最小限に抑制できるとい
う利点がある。さらに重要なことは、図１６に示すプリ
コリメータ１５の制御を行った場合、スライス方向の本
影の位置が固定される。つまり、本影を受ける検出素子
列のＸ線プロファイルの形状は、キャリブレーションデ
ータ収集時と画像データ収集時とで不変である。したが
って、そのような本影を受ける検出素子列により検出さ
れたデータを使った画像は常に高品質に保持できるとい
う有利さも在る。

【００９９】なお、上述した図１６の制御法を２次元検
出器の全面、すなわち図１６の例で言えば全部の検出素
子列ａ〜ｈを使って本影モードでスキャンする場合（す
なわち図８（ａ）の状態）にも同様に好適に適用でき
る。また、Ｘ線検出器１１としてシングルスライス検出
器を使う場合で、本影モードの場合（すなわち図１１
（ａ），（ｂ）の状態）にも好適に実施できる。

【０１００】一方、「本影＋半影モード」は検査者によ
り必要に応じて選択される（図７、ステップ４２及び図
１０、ステップ６２参照）。このように「本影モード」
のみならず、「本影＋半影モード」も任意に選択できる
ようにしたので、半影部分も合せて検出器に入射させる
ことで被曝量を抑えることができ、またマルチスキャン
やヘリカルスキャンを高速に行うことができるというメ
リットがある。この様子を図１７（ａ），（ｂ）に示
す。同図（ａ）は「本影モード」のスキャンを、同図
（ｂ）は「本影＋半影モード」のスキャンを各々説明す
るもので、同図（ｂ）の方がＸ線検出器１１上の使用可
能な素子列数が多い。これにより、「本影＋半影モー
ド」で高速なスキャンが可能になる。

【０１０１】ところで、図１７（ａ），（ｂ）では送り
ピッチまたは送り速度の量を表す矢印は概略的に描かれ
ている。送りピッチや送り速度は実際にはＸ線焦点を点
と見做して演算されるので、それらの量を表す矢印は実
際には図示のものよりも若干短くなって、トータルのス
ライス幅に相当する量となる。

【０１０２】本発明に係る変形例を図１８に基づき説明
する。前述した実施形態はＸ線管の管球焦点の移動に応
じてプリコリメータ１５のスライス方向の位置及び／又
は開口幅をリアルタイムに微調整する構成としたが、か
かる変形例はそのような構成を簡略化したものである。
具体的には、プリコリメータ１５のスライス方向の開口
幅及び／又は位置は一回だけ初期設定することとし、そ
の後は焦点位置の移動があっても、その値を保持する。

【０１０３】いま、前述した図１５，１６の場合と同様
に、２次元検出器の一部の指定検出素子列ｃ〜ｅのみを
使って本影モードでスキャンするとする。Ｘ線管１０が
最も低い温度状態から最も高い温度状態になって焦点移
動が起こったとしても、少なくとも目的とする一部の検
出素子列ｃ〜ｅには必ず本影のみが入射するように開口
幅Ｗpre （又は位置）が最初に１回だけ設定される。つ
まり、予め焦点移動を見込んで、使用する検出素子列を
決め、開口幅（又はスライス方向の位置）を広めに設定
しておく。そして、スキャン前に一度設定したら、その
後の開口制御は行わない。

【０１０４】この焦点移動距離を見込んだ場合の開口幅
Ｗpre の設定は定量的には下記の式を用いればよい。前
述した図９に示す如く、Ｘ線管１０の焦点Ｆのサイズを
ｘ、Ｘ線検出器１１上に投影される本影のスライス方向
の長さをｙ、Ｘ線検出器１１上に投影される「本影＋半
影」のスライス方向の長さをｚ、焦点Ｆとプリコリメー
タ１５との間の曝射方向の距離をｃ、プリコリメータ１
５とＸ線検出器１１との間の曝射方向の距離をｄとし、
さらに、図１９に示す如く、スライス方向における予想
される最大の焦点移動量をΔｍとすると、プリコリメー
タ１５の本影モードの開口幅Ｗpre （ｘ，ｙ）および
「本影＋半影」モードの開口幅Ｗpre （ｘ，ｚ）は夫
々、

【数３】

【数４】の式により演算できる。なお、この開口幅の設定値は予
め式（３）または（４）に基づいて演算しておいて、テ
ーブルとして保有しておくようにしてもよい。

【０１０５】これにより、Ｘ線ＣＴスキャナの駆動状態
に応じてＸ線管の温度が上昇し、管球焦点が例えば図１
８中の実線図示の状態から点線図示の状態（Ｘ線管が最
高に暖まった状態）に向かって移動した場合でも、Ｘ線
検出器１１の指定検出素子列ｃ〜ｅには常に本影のみが
入射する。したがって、この変形例によれば、開口制御
が一回で済み、制御が簡単化される。この場合にはま
た、焦点位置検出器２０が不要になる利点もある。

【０１０６】さらに、上述した焦点移動を見込んだ開口
幅設定の手法には、以下のような種々のファクタを取り
込んで、または単独で実施することができる。

【０１０７】第１に、焦点切換における焦点位置の移動
に対する対応策に関する。Ｘ線管１０の焦点を例えば小
焦点から大焦点に切り換えると、焦点位置が微妙にずれ
ることがあり得る。Ｘ線管内では、大焦点用フィラメン
トおよび小焦点用フィラメントは、その構造上、チャン
ネル方向に並んで設置されているため、焦点を切り換え
ても通常、チャンネル方向に焦点位置がずれるだけで、
スライス方向には原理的にはずれないことになってい
る。しかしながら、焦点切換によってスライス方向にも
微妙にずれを生じることがある。

【０１０８】そこで、図１９に示す如くの、スライス方
向における予想される最大の焦点移動量Δｍに、焦点切
換に伴う焦点移動量を加味しておく。または、この最大
の焦点移動量Δｍを焦点切換に伴う焦点移動量に等しく
設定しておく。これにより、前述した図１８に模式的に
表す如く、Ｘ線管１０の温度上昇および焦点切換に拠る
焦点移動があっても、または、焦点切換に拠る焦点移動
があっても、簡単な開口幅制御でありながら、使用する
検出素子列に入射するＸ線プロファイルを常に所望のも
のに維持できる。

【０１０９】第２に、フライング焦点の技法における焦
点移動の対応に関する。Ｘ線ＣＴスキャナでは、データ
のサンプリング点を増加させるなどの目的のため、Ｘ線
管内で陰極からターゲートに向けて放射する電子ビーム
を電磁的作用などに因って振り、意図的に焦点位置を変
える機能を搭載しているものがある。この焦点位置の移
動によって本影のスライス方向の移動が生じる。

【０１１０】そこで、この場合も図１９に示す如くの、
スライス方向における予想される最大の焦点移動量Δｍ
に、フライング焦点に伴う焦点移動量を加味しておく。
または、この最大の焦点移動量Δｍをフライング焦点に
伴う焦点移動量に等しく設定しておく。これにより、前
述した図１８に模式的に表す如く、Ｘ線管１０の温度上
昇および焦点切換に拠る焦点移動があっても、または、
フライング焦点に拠る焦点移動があっても、簡単な開口
幅制御でありながら、使用する検出素子列に入射するＸ
線プロファイルを常に所望のものに維持できる。

【０１１１】なお、上述した図１８の制御法を２次元検
出器の全面、すなわち図１８の例で言えば全部の検出素
子列ａ〜ｈを使って本影モードでスキャンする場合（す
なわち図８（ａ）の状態）にも同様に好適に適用でき
る。また、Ｘ線検出器１１としてシングルスライス検出
器を使う場合で、本影モードの場合（すなわち図１１
（ａ），（ｂ）の状態）にも好適に実施できる。

【０１１２】またなお、本発明におけるＸ線管の管球焦
点の移動に関するセンサ手段は、上述した構成のものに
限定されることなく、例えばＸ線管１０の外周面上に取
り付けた赤外線検出器でＸ線管１０の温度変化を検出
し、その温度変化に基づいて管球焦点の移動を推定する
ようにしてもよい。また、例えば実開平２−９１２００
号公報記載の如く、Ｘ線管の冷却油の温度を検出する温
度検出器であってもよいし、またＸ線管電圧、Ｘ線管電
流、Ｘ線照射時間、Ｘ線照射停止時間などのＸ線管の駆
動に関する情報を、管球焦点の移動に関する情報として
取り込む構造を採ってもよい。

【０１１３】また、前述した実施形態およびその変形例
では、Ｘ線管の焦点サイズの切換を「大」または「小」
の２段階としたが、本発明は必ずしもこれに限定される
ものではない。例えば、「中」焦点用フィラメントを搭
載して、焦点サイズを３段階に切換可能に構成すること
もできるし、焦点サイズをさらに多くのステップ状に切
換可能に構成してもよい。さらには、例えば電磁的作用
により電子ビームの形状や位置を制御したり、陰極の位
置を機械的に調整したりすることで、任意の大きさの焦
点を設定可能なＸ線管に本発明を適用し、任意値に設定
された焦点サイズに応じて前述と同様にプリコリメータ
の開口幅を制御するようにしてもよい。

【０１１４】さらに、本発明は上述した実施形態、つま
り、Ｘ線ビームの本影のみを受ける、２次元検出器の１
以上の検出素子列の指定を、実際のＸ線スキャンによる
撮影時にその都度行うようにするというスキャナ構成に
限定されるものではない。設計上の条件やその他の条件
により、その１以上の検出素子列が予め固定的に決まっ
ている場合でも、かかる２次元検出器は本発明のＸ線Ｃ
Ｔスキャナに好適に適用できる。つまり、そのような場
合には、予め決まっている検出素子列によって検出され
たデータのみを採用して前述と同様の処理を行うように
データ収集装置１３への列選択信号を設定しておけばよ
い。

【０１１５】さらに、前述した実施形態およびその変形
例では、焦点サイズの変更（切換）および焦点位置の移
動に伴う、両方のプリコリメータの開口幅制御に対応可
能な制御を実施する構成を示したが、焦点サイズの変更
（切換）に伴うプリコリメータの開口幅制御のみでも単
独に実施できることは勿論である。

【０１１６】なおまた、本発明は上述した実施形態や変
形形態に限定されるものではなく、本発明の基本原理の
範囲内で適宜に組み合わせ、変更、変形することが可能
である。

【０１１７】

【発明の効果】以上説明したように、この発明のＸ線Ｃ
Ｔスキャナによれば、Ｘ線源としてのＸ線管の焦点サイ
ズが変更された場合でも、その変更に応じてプリコリメ
ータの開口幅が、例えば、２次元検出器の使用したい検
出素子列に常に本影のみが入射するように制御されるこ
とから、焦点サイズが変更された場合でも、本影のみを
受けて再構成画像の画質劣化を防止できるとともに、Ｘ
線被爆の影響も最小限に抑えることができる。

【０１１８】また、上述の効果にほか、下記の種々の効
果も同時に得られる。すなわち、Ｘ線検出器の検出素子
列（２次元検出器の場合、複数の検出素子列の内の指定
された検出素子列または予め決まっている検出素子列）
のスライス方向の幅全体にＸ線プロファイルの本影のみ
が入射するので、スライス位置によって画質が変わるこ
とも無く、また高い信号値を検出することができ、高画
質の再構成象を提供することができる。さらに、プリコ
リメータのスライス方向の開口幅が、Ｘ線管のＸ線焦点
の移動に伴うＸ線ビームのスライス方向の予測される最
大移動量に対応した量だけ広く設定されるので、一度そ
のように開口設定しておくだけで、良好な信号及び画質
が得られる。さらにまた、Ｘ線管の管球焦点が温度上昇
などに因って移動し、キャリブレーションデータ収集時
と撮影時とでＸ線プロファイルが変化した場合でも、プ
リコリメータのスライス方向の例えば開口幅及び／又は
位置などを焦点移動量に応じてリアルタイムに微調整す
ることにより、Ｘ線検出器の指定されたまたは予め決め
てある検出素子列のスライス方向の幅全体にわたって本
影を入射させることができるので、画像上のアーチファ
クトやＣＴ値のシフトを排除でき、画質を向上させるこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態に係るＸ線ＣＴスキャナの
概要を示すブロック図。

【図２】焦点サイズを切換可能なＸ線管の概略構造図。

【図３】図２中のIII-III 線に沿った側面図。

【図４】Ｘ線検出器とＸ線ビームの入射との位置関係を
説明する図。

【図５】Ｘ線検出器の出力とＸ線焦点位置移動量の関係
を示すグラフ。

【図６】データ収集装置のブロック図。

【図７】主制御装置で実行される２次元検出器の場合の
制御例を示すフローチャート。

【図８】２次元検出器の場合のプリコリメータの位置態
様を判断するフローチャート。

【図９】プリコリメータの開口幅制御に関わるパラメー
タの説明図。

【図１０】主制御装置で実行されるシングルスライス検
出器の場合の制御例を示すフローチャート。

【図１１】シングルスライス検出器の場合のプリコリメ
ータの位置態様を判断するフローチャート。

【図１２】架台制御装置で実行される開口制御の一例を
示すフローチャート。

【図１３】焦点サイズの切換に伴うプリコリメータの開
口幅制御を示す説明図。

【図１４】焦点サイズの切換および使用する検出素子列
の変更に伴うプリコリメータの開口幅制御を示す説明
図。

【図１５】２次元検出器を使ったときの焦点移動追従制
御の一例を示す説明図。

【図１６】２次元検出器を使ったときの焦点移動追従制
御の他の例を示す説明図。

【図１７】（ａ），（ｂ）は本影モード，本影＋半影モ
ードのときの送りピッチまたは送り速度の大小を比較説
明する図。

【図１８】変形例に係るプリコリメータの開口設定を説
明する図。

【図１９】焦点の移動量を説明する図。

【図２０】プリコリメータの役割を説明する図。

【図２１】従来のシングルスライスＣＴにおけるＸ線プ
ロファイルとＸ線検出器の位置関係を説明する図。

【図２２】従来の２次元検出器に係るＣＴにおけるＸ線
プロファイルとＸ線検出器の位置関係を説明する図。

【図２３】Ｘ線管の管球焦点の移動を説明する図。

【図２４】シングルスライス検出器に対するプロファイ
ル変化の影響を説明する図。

【図２５】２次元検出器に対するプロファイル変化の影
響を説明する図。

【符号の説明】

１ガントリ２寝台２ａ天板２ｂ寝台駆動装置３制御キャビネット１０Ｘ線管（Ｘ線源）１１Ｘ線検出器（２次元検出器またはシングルスライ
ス検出器）１２架台駆動装置１３データ収集装置１５プリコリメータ１７プリコリメータ駆動装置２０焦点位置検出器３０主制御装置３１高電圧制御装置３２寝台制御装置３３架台制御装置３４高電圧発生装置３５画像再構成装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】Ｘ線ビームを曝射する焦点を有するＸ線
源と、被検体と前記Ｘ線源との間に介挿されて前記被検
体のスライス方向における前記Ｘ線ビームの幅を絞るプ
リコリメータと、前記被検体を透過した前記Ｘ線ビーム
を受けるＸ線検出器とを備えたＸ線ＣＴスキャナにおい
て、前記Ｘ線検出器を、複数の検出チャンネルから成る検出
素子列を前記スライス方向に複数配列した２次元検出器
で形成するとともに、前記Ｘ線源の焦点のサイズに応じて、前記複数の検出素
子列の内の指定された検出素子列が前記プリコリメータ
により形成されたＸ線ビームのプロファイルの本影およ
び半影の内の本影を受けるように当該プリコリメータを
制御する制御手段と、前記指定された検出素子列により
検出されたデータに基づいてＸ線ＣＴ像を再構成する再
構成手段と、を備えたことを特徴とするＸ線ＣＴスキャ
ナ。
【請求項２】Ｘ線ビームを曝射する焦点を有するＸ線
源と、被検体と前記Ｘ線源との間に介挿されて前記被検
体のスライス方向における前記Ｘ線ビームの幅を絞るプ
リコリメータと、前記被検体を透過した前記Ｘ線ビーム
を受けるＸ線検出器とを備えたＸ線ＣＴスキャナにおい
て、前記Ｘ線検出器を、複数の検出チャンネルから成る検出
素子列を前記スライス方向に複数配列した２次元検出器
で形成するとともに、前記Ｘ線源の焦点のサイズに応じて、前記プリコリメー
タにより形成されたＸ線ビームのプロファイルの本影お
よび半影の内の本影を受ける、前記複数の検出素子列の
内の少なくとも１つの検出素子列により検出されたデー
タに基づいてＸ線ＣＴ像を再構成する再構成手段を備え
たことを特徴とするＸ線ＣＴスキャナ。
【請求項３】Ｘ線ビームを曝射する焦点を有するＸ線
源と、被検体と前記Ｘ線源との間に介挿されて前記被検
体のスライス方向における前記Ｘ線ビームの幅を絞るプ
リコリメータと、前記被検体を透過した前記Ｘ線ビーム
を受けるＸ線検出器とを備えたＸ線ＣＴスキャナにおい
て、前記Ｘ線検出器を、複数の検出チャンネルから成る検出
素子列を前記スライス方向に複数配列した２次元検出器
で形成するとともに、前記プリコリメータにより形成されたＸ線ビームのプロ
ファイルの本影および半影の内の本影のみによるデータ
に基づいて画像再構成を行う第１の収集モード、およ
び、前記本影および半影の双方によるデータに基づいて
画像再構成を行う第２の収集モードの内の一方の収集モ
ードを選択する選択手段と、この選択手段により選択さ
れた収集モードおよび前記Ｘ線源の焦点のサイズに応じ
て前記プリコリメータの絞り状況を制御する制御手段
と、前記選択手段により選択された収集モードに基づい
てデータを収集するスキャン手段とを、備えたことを特
徴とするＸ線ＣＴスキャナ。
【請求項４】前記Ｘ線源は、前記焦点のサイズを変更
可能なＸ線管である請求項１乃至３のいずれか一項に記
載のＸ線ＣＴスキャナ。
【請求項５】前記スライス方向に移動可能であって前
記被検体を載せる天板と、マルチスキャン時に前記Ｘ線
ビームによるスキャン毎に前記指定された検出素子列に
よる撮影領域の中心におけるトータルのスライス幅に略
一致する前記天板の移動距離を判断する判断手段と、こ
の判断手段により判断された前記移動距離に基づいて前
記天板の移動を制御する天板制御手段と、を備えた請求
項１乃至４のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴスキャナ。
【請求項６】前記スライス方向に移動可能であって前
記被検体を載せる天板と、ヘリカルスキャン時に前記被
検体周りの前記Ｘ線源およびＸ線検出器の１回転毎に前
記指定された検出素子列による撮影領域の中心における
前記スライス方向のトータルの幅に応じて前記天板の移
動距離を判断する判断手段と、この判断手段により判断
された前記移動距離に基づいて前記天板の移動を制御す
る天板制御手段と、を備えた請求項１乃至４のいずれか
一項に記載のＸ線ＣＴスキャナ。
【請求項７】前記プリコリメータの前記スライス方向
の開口幅を、前記Ｘ線源の焦点移動に伴う前記Ｘ線ビー
ムの前記スライス方向の予測される最大移動量に対応し
た量だけ広く設定する設定手段を備えた請求項１乃至４
のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴスキャナ。
【請求項８】前記設定手段は、前記Ｘ線源の焦点サイ
ズの切換に伴う焦点位置の移動量を加味した最大移動量
に対応した量だけ広く設定する手段である請求項７記載
のＸ線ＣＴスキャナ。
【請求項９】前記Ｘ線源の焦点移動に対応した量を検
出する検出手段を備え、前記制御手段は、前記検出手段
の検出量に基づいて前記プリコリメータの前記スライス
方向の開口幅、前記プリコリメータの前記スライス方向
の位置、および前記Ｘ線源の焦点の前記スライス方向の
位置の内の少なくとも一つを、前記指定された検出素子
列がＸ線ビームの前記本影を受けるように制御する手段
を含む請求項１記載のＸ線ＣＴスキャナ。
【請求項１０】前記Ｘ線源の焦点移動に対応した量を
検出する検出手段と、前記検出手段の検出量に基づいて
前記プリコリメータの前記スライス方向の開口幅、前記
プリコリメータの前記スライス方向の位置、および前記
Ｘ線源の焦点の前記スライス方向の位置の内の少なくと
も一つを、前記少なくとも１つの検出素子列が前記Ｘ線
ビームの前記本影を受けるように制御する制御手段と、
を備える請求項２記載のＸ線ＣＴスキャナ。
【請求項１１】前記Ｘ線源の焦点移動に対応した量を
検出する検出手段を備え、前記制御手段は、前記検出手
段の検出量に基づいて前記プリコリメータの前記スライ
ス方向の開口幅、前記プリコリメータの前記スライス方
向の位置、および前記Ｘ線源の焦点の前記スライス方向
の位置の内の少なくとも一つを、前記Ｘ線検出器に入射
するＸ線ビームのプロファイルの移動を防止するように
制御する手段を含む請求項３記載のＸ線ＣＴスキャナ。
【請求項１２】Ｘ線ビームを曝射する焦点を有するＸ
線源と、被検体と前記Ｘ線源との間に介挿されて前記被
検体のスライス方向における前記Ｘ線ビームの幅を絞る
プリコリメータと、前記被検体を透過した前記Ｘ線ビー
ムを受けるＸ線検出器とを備えたＸ線ＣＴスキャナにお
いて、前記プリコリメータの前記スライス方向の開口幅および
前記スライス方向の位置の内の少なくとも一つを前記Ｘ
線源の焦点のサイズに応じて制御する制御手段とを備え
ることを特徴とするＸ線ＣＴスキャナ。
【請求項１３】前記Ｘ線検出器は、複数の検出チャン
ネルから成る検出素子列を前記スライス方向に複数配列
した２次元検出器である請求項１２記載のＸ線ＣＴスキ
ャナ。
【請求項１４】前記Ｘ線検出器は、複数の検出チャン
ネルから成る検出素子列をスライス方向に１列配列した
シングルスライス検出器である請求項１２記載のＸ線Ｃ
Ｔスキャナ。