JPS6411887B2 - - Google Patents

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JPS6411887B2
JPS6411887B2 JP11583579A JP11583579A JPS6411887B2 JP S6411887 B2 JPS6411887 B2 JP S6411887B2 JP 11583579 A JP11583579 A JP 11583579A JP 11583579 A JP11583579 A JP 11583579A JP S6411887 B2 JPS6411887 B2 JP S6411887B2
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JP11583579A
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JPS5640738A (en
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Taira Kochiwa
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Ricoh Co Ltd
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Ricoh Co Ltd
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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0292Testing optical properties of objectives by measuring the optical modulation transfer function

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は引伸レンズやマイクロレンズ等の光学
素子のMTF(Modulation Transfer Function:
伝達関数)を検査するMTF検査装置に関する。
〔従来の技術〕
レンズ等の光学素子のMTFを測定する方法と
しては格子チヤートを走査する光学的フーリエ変
換法、エツジ又はスリツトを走査してその電気信
号を電気的にフーリエ解析する電気的フーリエ変
換法、干渉を利用する自己相関法等が知られてお
り、その測定器が市販されている。
光学的フーリエ変換法では第2図aに示すよう
に光源8の前にスリツト9を置き、被検レンズ4
によつて投影されたスリツト9の像9aを正弦波
チヤート10で走査し、その時間的明暗を受光器
11によつて捕えてオツシロスコープ12で表示
し、又は第2図bに示すようにスリツト9と正弦
波チヤート10を入れ換えて物体側の正弦波チヤ
ート10を走査して時間的正弦波を発生させてい
る。なお、MTFを得るには受光部11で捕えた
正弦波のピーク値と谷部の値との差をその和で割
るという演算を行う。また、第2図cに示すよう
に固体走査素子を用いるMTF検査方法では第2
図bの方法と同様に光源8の前に正弦波チヤート
10を置くが、第2図bの方法とは異なり正弦波
チヤート10は固定したままであり、被検レンズ
4による正弦波チヤート10の投影像10aを固
体走査素子13で受光する。固体走査素子13は
自己走査機能を有しており、静止した空間的正弦
波10aを時間的正弦波に変換し、オツシロスコ
ープ12は第2図a,bの方法と同様に波形を表
示する。
ここに、MTF検査用の固体走査素子13は画
像を1方向にのみ走査して電気信号に変換する1
次元の素子である。
しかし、上記市販の測定器では格子チヤート、
エツジ、スリツト等の機械的走査を必要とし、そ
れが回転であるにしろ併進であるにしろ高精度な
メカニズムの走査機構が要求される。したがつて
この走査機構は高価で比較的大きなものになりや
すい為、各像高やチヤートの方向角(所謂
Azimuth)等に対応した個数を設置することが
難しい。この為、1組の走査機構や光源、受光部
等を必要な各位置、方向角に設定して測定を行わ
なければならないので、光軸と軸外2点について
MTFを測定するだけでも少くとも5回の設定変
更を行わなければならない。その上、レンズは一
般に偏心と呼ばれる製作誤差を持つている為、同
じ像高について少くとも対角4方向のMTF測定
を必要とするから、これだけでも17回の設定を行
うことになる。又、Defocusと呼ばれるピントは
ずれ状態の測定を加えれば前述の回数にDefocus
の回数を掛けただけの測定が必要になる。この様
な理由から、レンズの特性判定へのMTF測定の
重要性が呼ばれているにもかかわらず、検査レベ
ルのMTF普及が遅れている。
次に従来のMTF測定装置の一例を挙げて説明
する。この例は複写レンズ、マイクロレンズ、引
伸レンズ等の様に物体距離有限で使用されるレン
ズやフアイバー等の光学素子のMTFを測定する
ものであり、第1図に示す。図中、1は光源部で
あり、光源とスリツトが主な構成要素であるが、
必要に応じて集光レンズ、拡散板、波長選択フイ
ルタ等を取り付けることができる。この光源部1
のスリツトは測定したい方向角に回転できる様に
構成され、光源部1全体は副ベンチ2の上を摺動
し必要な物体高に設置できる様になつている。3
は被検レンズホルダーであり、被検レンズ4を取
り付ける装置とこれを任意の角度回転できる装置
とからなる。5は受光部であり、走査チヤートと
受光器が主な構成要素であるが、チヤートの走査
機構、空間周波数変換機構の他、必要に応じてリ
レーレンズ、フアインダー等が付加される。この
受光部5は光源部1のスリツト方向に対応した方
向角に設置できる様に回転が可能であり、受光部
5全体はもう一つの副ベンチ6の上を摺動し、設
置した物体高に対応した像高が設置できる様にな
つている。副ベンチ2,6及びレンズホルダー3
は主ベンチ7の上を摺動し必要な物体距離と像距
離が設定できる様になつている。
第3図は固体走査素子を用いたMTF検査装置
の一例を示すもので、引伸レンズやマイクロレン
ズの検査、調整を目的としたものである。図中、
8は光源であり、ここでは螢光灯を示してある
が、ハロゲンランプに集光照明系を組合せたもの
でもよい。14は拡散板であり全画面における照
度分布のムラを取り除く為と照明光のコヒーレン
シイを減少させる目的で挿入される。10はチヤ
ート板で第4図に示す様に必要な物体高又は像高
に対応する位置全てに同様なチヤート素子101
102……が配置されている。このチヤート素子
101,102……は全て動径方向に向けて配置さ
れたチヤート素子であるが、第5図に示すように
動径方向に向けて配置されたチヤート素子101
104,106,108,1010,1011,1013
1015,1017と接線方向に向けて配置されたチ
ヤート素子102,103,105,107,109
1012,1014,1016,1018とを複数の方向
角にそれぞれ同じ像高で設けるようにしてもよ
い。各チヤート素子101,102,……はそれぞ
れ透明部を不透明部とが交互に1方向へ配列され
て必要な単一周波数のチヤート、または選定され
た複数の周波数のチヤートに構成されるが、この
チヤートとは別に規格化用の比較的幅の広い透明
部と不透明部も有している。この幅の広い透明部
と不透明部は各物体高または各像高において近似
的に零空間周波数のMTFを1に規格化できるよ
うな幅の広ものである。被検レンズ4はレンズホ
ルダー3に取付けられ、被検レンズ4自体のピン
ト合わせを行うための機構、もしくはレンズホル
ダー3のピント合わせを行うための機構により上
下に移動されてピント合わせが行われる。15は
固体走査素子13を一平面上に設置する板であ
り、この例ではチヤート板10上のチヤート素子
101,102,……に対応した位置に固体走査素
子131,132,……が設置されている。第5図
に示すようなチヤート板10が用いられた場合に
は第6図に示すようにそのチヤート板10上の動
径方向及び接線方向に同じ像高で配置された各一
対づつのチヤート素子101と102,103と1
4,105と106,107と108,109と10
10,1011と1012,1013と1014,1015と1
16,1017と1018に対応した位置に固体走査
素子131,1317,1316,138,139,13
12,1313,134,132が設置される。各固体
走査素子131,132,……は画像を動径方向ま
たは接線方向にのみ走査して電気信号に変換する
1次元の素子である。
この様な装置では各像高や方向角につき一度に
全ての情報が得られる為、後はその電気的演算処
理により短時間に被検レンズの良否の判定が可能
になる。
〔発明が解決しようとする課題〕
第1図のMTF測定装置は多機種少量のレンズ
に対して種々の設定条件でMTFを測定したりレ
ンズ以外の光学素子のMTFを測定する等いわゆ
る万能性には優れているが、大量のレンズの良否
を能率良く判定する必要のあるいわゆる検査機と
してはほとんど使い物にならないのが現状であ
る。つまり、この装置では光源部1と受光部5が
比較的大きい上、特に受光部5は高精度のメカニ
ズムが要求され高価なものとなり易い為、必要な
物体高(像高)に対応する数だけ設置することが
難しい。従つて被検レンズが同機種であつても
個々のレンズのMTF測定を行う度に必要な物体
高に対応した光源部1と受光部5の移動が必要と
なる。そのうえ、軸上以外においては動径方向
(いわゆるRadial)と接線方向(いわゆる
Tangential)の二方向の方向角に従つて光源部
1と受光部5を各物体高(像高)毎に回転させて
設置しなければならない。
また第3図のMTF検査装置では被検レンズに
より投影されるテストチヤート像に対応して固体
走査素子を配置するので、チヤート像の数に等し
い数だけ固体走査素子を配置する必要があり、チ
ヤート像が多くなればそれだけ多くの固体走査素
子が必要になつてくる。例えば第6図に示すよう
に固体走査素子131〜1317が配置された場合
光軸外16個のテストチヤート像に関してのMTF
が測定できるが、テストチヤート像をさらに増や
した場合テストチヤート像の増加分に等しい固体
走査素子を増設する必要がある。
本発明は操作性と迅速性に優れていてしかも固
体走査素子の数を低減できるMTF検査装置を提
供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は1つの方向角で互いに異なる像高に対
応する各位置に配置された動径方向のチヤート素
子及び接線方向のチヤート素子を1組のチヤート
素子として複数の方向角にそれぞれ1組づつのチ
ヤート素子が配置されたチヤート板と、一体的か
つ被検素子の光軸を中心として回転可能に設けら
れ前記チヤート板に配置された複数組のチヤート
素子の各像が回転位置に応じて1組のチヤート素
子の各像づつ投影されてこの1組の動径方向のチ
ヤート素子及び接線方向のチヤート素子の各像の
信号をそれぞれ検知する動径方向チヤート素子像
信号検知用固体走査素子及び接線方向チヤート素
子像信号検知用固体走査素子とを備えたものであ
る。
〔作用〕
動径方向チヤート素子像信号検知用固体走査素
子及び接線方向チヤート素子像信号検知用固体走
査素子が被検素子の光軸を中心として回転され、
この動径方向チヤート素子像信号検知用固体走査
素子及び接線方向チヤート素子像信号検知用固体
走査素子はその回転位置に応じて、チヤート板に
配置された複数組のチヤート素子の各像が回転位
置に応じて1組のチヤート素子の各像づつ投影さ
れてこの1組の動径方向のチヤート素子及び接線
方向のチヤート素子の各像の信号をそれぞれ検知
する。
〔実施例〕
第7図〜第9図は本発明の実施例の要部を示
す。この実施例は第3図のMTF検査装置におい
て、上記要部を前記固体走査素子131〜1317
が設置された板15の代りに設けたものであり、
基板16上には光軸上のテストチヤート像の信号
検知用に固体走査素子171が配置されると共に
各像高のテストチヤート像の信号検知用に像高数
の2倍に等しい固体走査素子172〜175が配置
される。この場合同一放射線a,b上の固体走査
素子群c,172,174、d,173,175はそ
れぞれタンジエンシヤル方向とラジアル方向に交
互に配置され、45゜の角度をなす2本の放射線a,
b上の同一像高点(同一円周上)にある固体走査
素子群e,172,173、f,174,175はそ
れぞれタンジエンシヤル方向とラジアル方向に交
互に配置される。固体走査素子171〜175は画
像を動径方向または接線方向にのみ走査して電気
信号に変換する1次元の素子である。このように
固体走査素子171〜175が配置固定された基板
16はその中心が光軸中心に一致するように保持
板18で回転可能に保持され、かつ中心軸19に
駆動回転系が連結される。
上記固体走査素子群c,dはそれぞれ同一放射
線a,b上の各像高のタンジエンシヤル方向ある
いはラジアル方向のテストチヤート像の信号を検
知し、固体走査素子群e,fはそれぞれ同一像高
点のタンジエンシヤル方向あるいはラジアル方向
のテストチヤート像の信号を検知する。チヤート
板10は第6図のような固体走査素子131〜1
17に対応してチヤート素子が配置されたものが
用いられており、基板16を駆動回転系により回
転させることで各放射線g〜l(チヤート素子が
配置されている各方向角に対応する放射線)上の
各像高のテストチヤート像106a〜1017aの信号
を検出することができる。固体走査素子171
175からの検知信号は図示しない装置で電気的
に処理されMTFが測定される。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によるMTF測定装置にあ
つては1つの方向角で互いに異なる像高に対応す
る各位置に配置された動径方向のチヤート素子及
び接線方向のチヤート素子を1組のチヤート素子
として複数の方向角にそれぞれ1組づつのチヤー
ト素子が配置されたチヤート板と、一体的かつ被
検素子の光軸を中心として回転可能に設けられ前
記チヤート板に配置された複数組のチヤート素子
の各像が回転位置に応じて1組のチヤート素子の
各像づつ投影されてこの1組の動径方向のチヤー
ト素子及び接線方向のチヤート素子の各像の信号
をそれぞれ検知する動径方向チヤート素子像信号
検知用固体走査素子及び接線方向チヤート素子像
信号検知用固体走査素子とを備えたので、操作性
と迅速性に優れ、しかも固体走査素子の数を低減
することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のMTF検査装置の一例を示す斜
視図、第2図はMTF検査原理を説明するための
図、第3図は従来の固体走査素子を用いたMTF
検査装置の一例を示す斜視図、第4図及び第5図
はチヤート板の各例を示す平面図、第6図は受光
部の一例を示す平面図、第7図〜第9図は本発明
の一実施例の要部を示す正面図、平面図並びに説
明図である。 16……基板、171〜175……固体走査素
子、106a〜1017a……チヤート像。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 1つの方向角で互いに異なる像高に対応する
    各位置に配置された動径方向のチヤート素子及び
    接線方向のチヤート素子を1組のチヤート素子と
    して複数の方向角にそれぞれ1組づつのチヤート
    素子が配置されたチヤート板と、一体的かつ被検
    素子の光軸を中心として回転可能に設けられ前記
    チヤート板に配置された複数組のチヤート素子の
    各像が回転位置に応じて1組のチヤート素子の各
    像づつ投影されてこの1組の動径方向のチヤート
    素子及び接線方向のチヤート素子の各像の信号を
    それぞれ検知する動径方向チヤート素子像信号検
    知用固体走査素子及び接線方向チヤート素子像信
    号検知用固体走査素子とを備え、この動径方向チ
    ヤート素子像信号検知用固体走査素子及び接線方
    向チヤート素子像信号検知用固体走査素子を回転
    させて被検素子の各方向角のMTF測定を行うこ
    とを特徴とするMTF検査装置。
JP11583579A 1979-09-10 1979-09-10 Mft inspection device Granted JPS5640738A (en)

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JPS5640738A JPS5640738A (en) 1981-04-17
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JPS5640738A (en) 1981-04-17

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