JPS6262284B2 - - Google Patents

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JPS6262284B2
JPS6262284B2 JP8031579A JP8031579A JPS6262284B2 JP S6262284 B2 JPS6262284 B2 JP S6262284B2 JP 8031579 A JP8031579 A JP 8031579A JP 8031579 A JP8031579 A JP 8031579A JP S6262284 B2 JPS6262284 B2 JP S6262284B2
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JP
Japan
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mtf
solid
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JP8031579A
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English (en)
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JPS564031A (en
Inventor
Nobuo Sakuma
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Priority to JP8031579A priority Critical patent/JPS564031A/ja
Publication of JPS564031A publication Critical patent/JPS564031A/ja
Publication of JPS6262284B2 publication Critical patent/JPS6262284B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0292Testing optical properties of objectives by measuring the optical modulation transfer function

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は引伸しレンズやマイクロレンズ等の光
学素子のMTF(Modulation Transfer
Function:伝達関数)を測定するMTF測定装置
に関する。
第1図は光学的フーリエ変換法によるMTF測
定原理を示す原理図である。aは光源1の前にス
リツト2を置き被検レンズ3で投影されたスリツ
ト像2aを正弦波チヤート4で走査し、その時間
的明暗を受光器5によつて捕えてオツシロスコー
プ6で表示している様子を示す。bはスリツト2
と正弦波チヤート4を入れ換えて物体側の正弦波
チヤート4を走査し時間的正弦波を発生させる。
cはbと同様に光源1の前に正弦波チヤート4を
置くが、bとは異なりこのチヤート4は固定した
ままであり、その被検レンズ3による投影像4a
を固体走査素子7で受光する。固体走査素子7は
自己走査機能をもつているので、静止した空間的
正弦波を時間的正弦波に変換できる為、オツシロ
スコープ6にはa,bと同様な波形が表示され
る。いずれの場合にもMTFを得るにはこの正弦
波のピーク値と谷部の値の差を和で割るという演
算を要する。
第2図は第1図aの原理を用いるMTF測定装
置の一例である。この装置は複写レンズ、マイク
ロレンズ、引伸しレンズ等の様に物体距離有限で
使用されるレンズやフアイバー等の光学素子の
MTFを測定するものである。光源部8は光源と
スリツトが主な構成要素であるが、必要に応じて
集光レンズ、拡散板、波長選択フイルター等を取
り付けることができる。光源部8のスリツトは測
定したい方向角(Azimuth Angle)に回転でき
る様に構成され、光源部8全体は副ベンチ9の上
を摺動し必要な物体高に設置できる様になつてい
る。被検レンズホルダー10は被検レンズ3を取
り付ける装置と、これを任意の角度回転できる装
置とからなる。受光部11は走査チヤートと受光
器が主な構成要素であるが、チヤートの走査機
構、空間周波数変換機構の他、必要に応じてリレ
ーレンズ、フアインダー等が付加されている。受
光部11は光源部8のスリツト方向に対応した方
向角に設置できる様に回転が可能であり、受光部
11全体はもう1つの副ベンチ12の上を摺動
し、設置した物体高に対応した像高が設置できる
様になつている。2つの副ベンチ9,12及びレ
ンズホルダー10は主ベンチ13の上を摺動し、
必要な物体距離と像距離が設置できる様になつて
いる。
この様な装置は多機種のレンズに対し種々の設
定条件で測定したりレンズ以外の光学素子の
MTFを測定する等いわゆる万能性には優れてい
るが、大量のレンズの良否を能率良く判定する必
要のある工程検査装置としてはほとんど使い物に
ならないのが現状である。
第3図は第1図cの原理を用いる従来のMTF
測定装置の一例であり、引伸しレンズやマイクロ
レンズの工程検査又は調整等に使われるものであ
る。図中1は照明光源、14は拡散板、15はチ
ヤート板であり、チヤート板15は例えば第4図
に示す様に必要な物体高又は像高に対応する位置
全てに同様なチヤート素子16〜16が配置
されている。各チヤート素子16〜16は必
要な単一空間周波数又は選定された複数の空間周
波数を有する透明部、不透明部から成る縞と零空
間周波数におけるMTF値を近似的に100%に規格
化する為の比較的巾の広い透明部、不透明部とか
ら成つている。第3図において被検レンズ3はレ
ンズホルダー17に取り付けられ、被検レンズ3
自体のピント合わせ機構もしくはレンズホルダー
17のピント合わせ機構により上下に移動されて
ピント合わせが行なわれる。板18は固体走査素
子7を一平面上に設定するもので、ここでは9個
の固体走査素子7〜7がチヤート板15での
チヤート素子16〜16の配列に対応して設
置されている。
この様な装置では必要な像高及び方向角に従い
チヤート素子16と固体走査素子7を配置すれば
第2図の装置とは異なり必要な像高及び方向角の
MTF値を同時に得られる事になり、短時間のう
ちに被検レンズの良否判定が可能となる為、工程
検査又は調整装置に適している。しかしながら測
定可能な空間周波数はチヤート板15を交換しな
い限り単一もしくは離散的な2,3の周波数に限
られてしまう為、被検レンズの結像性能を総合的
に判断する必要のある場合には充分な性能を発揮
できないうらみがある。
第5図aは第1図aの原理を用いる第2図の様
な従来のMTF測定装置の受光部11の中にある
走査チヤート部分で、空間周波数を連続的に変化
させる方法の一例を模式的に示したものである。
スリツト板19はその中央0を通つて受光部スリ
ツト20が切つてある。走査チヤート板21はそ
の回転中心Mを軸に回転する事により走査が達成
される。ここにおいて空間周波数を連続的に変化
させるには走査チヤート板21の回転中心Mをス
リツト板19の中心0を中心とする円周上でS点
からE点に移動する方法をとつており、この図で
はその移動角度がθの場合が示されている。第5
図bは第5図aの中心部分の拡大図であるが、こ
の図を用いて上記走査のメカニズムと空間周波数
の連続的変化方法をより詳細に説明する。図にお
いてチヤート板21は反時計廻りに回転している
からスリツト20を通して見る時透明不透明の縞
模様が下方に流れる様に見える。つまりスリツト
20方向のチヤート走査がなされているわけであ
る。この時上記縞模様のピツチPはチヤート自体
のピツチをP0とすればP0/sinθで表わされるか
らθを0゜から90゜迄連続的に変化させる事によ
り空間周波数はsin0゜/P0=0からsin90゜/P0
=1/P0 迄連続的に変化することになる。
この様にして空間周波数の連続的変化が可能で
あるが、第2図でも説明した様にこの装置では多
数の像高におけるMTFの測定を行なうには光源
部、受光部をそれぞれ必要量だけ移動しなければ
ならず多像高の同時測定は不可能である。
本発明は同時に多数の像高についてのMTFを
測定できる、固体走査素子を用いた装置であつて
空間周波数の連続変換を可能にしたMTF測定装
置を提供することを目的とする。
以下図面を参照しながら本発明の実施例につい
て説明する。
第6図は本発明の1実施例を示す斜視図であ
る。図中22は照明光源、23は集光レンズ、2
4は格子チヤート、25は格子チヤート24をそ
の中心を軸にして自動的もしくは手動的に回転さ
せる装置、26は被検レンズ、27は被検レンズ
ホルダーで必要に応じてピント合わせ機構が付与
される。又28は固体走査素子であり、本実施例
では9つの固体走査素子28〜28が光軸対
応位置を含む必要像高位置に並べられている。板
29は固体走査素子28〜28を一平面上に
保持するものであり、ここにも必要に応じて光軸
方向に移動できる機構が付与される。
第7図は固体走査素子28〜28が板29
上に配列された様子を下方から見た場合の平面図
であり、軸上を含めた9ケ所の像高位置に9つの
固体走査素子28〜28が配列されている様
子を示している。個々の固体走査素子28〜2
中には直線30〜30で示した様に図に
おいて上下方向になる様に単位受光素子が並んで
いる。この単位受光素子は例えばFair child社の
CCD 121Hの場合8μ×17μで、この素子が13
μのピツチで1728個直線上に並んでいる。この様
子はあたかも17μ巾で長さ約22.5mmの受光スリツ
トが9つの像高位置に設定されているごとく見え
る。
第8図は第6図におけるチヤート24の像が被
検レンズ26によつて拡大投影された様子を示
す。この像31が第7図に点線31aで示した位
置に来る様に第6図の装置が構成されている。
第9図は個々の固体走査素子の単位受光素子の
並び30とそこに投影されたチヤート24の像3
1を拡大したものとその時の出力波形32とを並
記した図である。イはチヤート24の回転角がθ
の場合を示す。チヤート24のピツチがP0であれ
ばm倍に投影されたチヤート像のピツチはmP0
あるから出力波形のピツチPはP=mP0/sinθ
となり像面ではsinθ/mP0の空間周波数につい
ての測定がなされている事になる。ロはθ=90゜
の特別な場合で、測定可能な最大空間周波数1/
mP0での測定がなされることになる。ハはθ=0
゜の特別な場合で出力32は直線となり零空間周
波数の場合である。
次に本実施例の作用について説明する。
第6図において光源22から発せられた光は集
光レンズ23で集光されチヤート24を照明しつ
つ被検レンズ26の瞳付近に光源22の像を結像
する。被検レンズ26は板29の上に並べられた
個々の固体走査素子28〜28の上にチヤー
ト24の像を結像する。固体走査素子28は自己
走査機能を有するので、空間的なチヤート像の波
形信号を時間的な波形信号に変換する。図示して
ないが、固体走査素子28〜28を駆動する
電気回路、固体走査素子28〜28からの信
号波形を処理してMTFを算出、表示する回路に
より1度に全像高のMTFが求められる。
本実施例の特徴はチヤート24とこれを回転さ
せる装置25及び板29上での固体走査素子28
の配置にあるが、これらについて説明する。第7
図において固体走査素子28の単位受光素子の並
び30は全て図の上下方向になつているが、この
配置は方向角45゜と呼ばれいわゆるラジアル方向
とタンジエンシヤル方向の中間の方向角での測定
をしていることになる。板29上に投影されたチ
ヤート像31aは第6図の回転装置25により回
転させられて単位受光素子の並び30に対して
種々の角度をとることができる。この角度変化に
対応して空間周波数を第9図ハの零空間周波数か
らロの1/mP0の空間周波数迄連続的に任意に選
定できる為、光軸対応点を含む9つの像高に対し
て連続的に変化する空間周波数に対応するMTF
値を同時に得る事ができる。方向角45゜の測定を
行なう様に単位受光素子の並び30を定めたのは
1つのMTF値でその像高での結像性能を適確に
とらえ様とする意図であつて、必要であればラジ
アル方向とタンジエンシアル方向の測定を行なう
事も可能である。又測定像高は本実施例の様に9
点に限る必要はなくチヤートの投影されている範
囲であればあらゆる位置を連続的にとる事ができ
る。
第10図は本発明の他の実施例における固体走
査素子の配置を示すもので、固体走査素子28
〜28はタンジエンシヤル方向のMTFを、又
固体走査素子28,28〜28はラジアル
方向のMTFを測定する様に配置されている。こ
こにおいて第8図の様にチヤート24が投影され
ていればラジアル方向、タンジエンシヤル方向と
も零空間周波数であり、又チヤート24のいかな
る傾きに対してもラジアル方向、タンジエンシヤ
ル方向が同じ空間周波数のもとでMTFを測定で
きる。但し偏心の影響を含めた測定を行ないたい
場合には少なくとも第6図において被検レンズ2
6を90゜回転した設置位置での測定もつけ加える
必要がある。
第11図は本発明の更に他の実施例における固
体走査素子の配置を示すもので、固体走査素子2
〜28はタンジエンシヤル方向のMTF
を、又固体走査素子28,2810〜2817はラ
ジアル方向のMTFを測定する様に配置されてい
る。この場合には偏心の影響を含めた測定であつ
ても第6図における被検レンズ26の回転は必要
でなくなるが、チヤートのある回転角に対する空
間周波数が固体走査素子の位置と単位受光素子の
並びの向きで異なつてくる事になる。しかしなが
ら第6図の回転装置25を自動的に連続運転させ
る各固体走査素子それぞれにおいて零空間周波数
からMTFの測定が開始される様にし、それぞれ
についての演算結果をグラフ化もしくは数値化す
る様な電気回路を付加すれば実質的な問題はなく
なる。
第7図の実施例あるいは第10図の実施例にお
いて各固体走査素子が中央部を軸にそれぞれもし
くは全部同時に回転できる様にすれば任意の方向
角についてのMTF値を連続した空間周波数に対
して得る事ができる。又1つもしくは複数の固体
走査素子を像面の任意の位置に任意の方向角で設
置できる様にすれば全像面のMTF値を求める事
もできる。
上述の実施例は引伸しレンズやマイクロレンズ
等有限物体で使用するレンズのMTFを測定する
例であるが、写真レンズの投影解像力検査装置を
本発明の装置におきかえれば投影解像力検査と同
様な検査を客観性高く迅速に行なう事ができる。
又コリメーターを使用するMTF測定装置にも本
発明が適用できることはもちろんである。
以上のように本発明によるMTF測定装置にあ
つては固体走査素子を用いた装置であるから同時
に多数の像高についてのMTFを測定することが
可能である上に、固体走査素子の単位受光素子の
並び方向に対する格子チヤート像の線条の方向を
変化させる装置を設けたので空間周波数を連続的
に変えることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はMTF測定原理を示す原理図、第2図
及び第3図は従来のMTF測定装置の例を示す斜
視図、第4図は第3図の装置におけるチヤート板
を示す平面図、第5図a,bは第2図の装置にお
ける走査チヤート部分を示す平面図及びその拡大
図、第6図は本発明の1実施例を示す斜視図、第
7図は同実施例の一部を示す平面図、第8図及び
第9図は同実施例を説明するための図、第10図
及び第11図は本発明の他の実施例の一部を示す
平面図である。 22…光源、23…集光レンズ、24…チヤー
ト、25…回転装置、26…被検レンズ、27…
被検レンズホルダー、28…固体走査素子、29
…板。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 格子チヤート像を被検光学素子を介して固体
    走査素子上に投影しこの固体走査素子の出力信号
    により被検光学素子のMTF測定を行なう装置に
    おいて、固体走査素子の単位受光素子の並び方向
    に対する格子チヤート像の線条の方向を変化させ
    る装置を備えたことを特徴とするMTF測定装
    置。
JP8031579A 1979-06-26 1979-06-26 Mtf measuring device Granted JPS564031A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8031579A JPS564031A (en) 1979-06-26 1979-06-26 Mtf measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8031579A JPS564031A (en) 1979-06-26 1979-06-26 Mtf measuring device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS564031A JPS564031A (en) 1981-01-16
JPS6262284B2 true JPS6262284B2 (ja) 1987-12-25

Family

ID=13714820

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JP8031579A Granted JPS564031A (en) 1979-06-26 1979-06-26 Mtf measuring device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57163838A (en) * 1981-04-01 1982-10-08 Agency Of Ind Science & Technol Evaluation device for transmitted picture

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JPS564031A (en) 1981-01-16

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