JPS6396934A - 回路基板装置 - Google Patents
回路基板装置Info
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- JPS6396934A JPS6396934A JP62126102A JP12610287A JPS6396934A JP S6396934 A JPS6396934 A JP S6396934A JP 62126102 A JP62126102 A JP 62126102A JP 12610287 A JP12610287 A JP 12610287A JP S6396934 A JPS6396934 A JP S6396934A
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
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- Wire Bonding (AREA)
- Combinations Of Printed Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
本発明は、電子デバイスを構成する材料の熱的性質と、
基板を構成する材料の熱的性質との間の不整合があると
き、基板上に直接に電子デバイスを装着する技術に間す
る。より具体的に言えば、本発明はシリコンを主体とし
て作られている半導体チップのような電子デバイスを、
例えば、エポキシ樹脂又は他の同様な材料をガラス繊維
に含浸させた印刷回路基板のような有機物基板に直接に
装着する技術に間する。
基板を構成する材料の熱的性質との間の不整合があると
き、基板上に直接に電子デバイスを装着する技術に間す
る。より具体的に言えば、本発明はシリコンを主体とし
て作られている半導体チップのような電子デバイスを、
例えば、エポキシ樹脂又は他の同様な材料をガラス繊維
に含浸させた印刷回路基板のような有機物基板に直接に
装着する技術に間する。
B、従来の技術
電子デバイスを構成する材料の熱的性質と、上述の基板
を構成する有機物材料の熱的性質との間の不整合がある
場合でも、その基板上に、電子デバイスを直接に装着す
ることがしばしば望まれる。
を構成する有機物材料の熱的性質との間の不整合がある
場合でも、その基板上に、電子デバイスを直接に装着す
ることがしばしば望まれる。
例えば、電子回路基板は、シリコンを主体として作られ
た半導体チップや、セラミック材料を主体として作られ
た半導体チップの支持体(モジュール)のような半導体
デバイス上のリード(即ち端子)を、ガラス繊維などに
エポキシ樹脂又は他の類似の材料が含浸された主として
有機材料で作られた印刷回路基板の表面に存在し固着さ
れた回路導体へはんだ付けすることによって作られてい
るが、そのような印刷回路基板の熱膨張係数は電子デバ
イスを構成している材料の熱m張係数とは著しく異なっ
ている0例えば、若し、印刷回路基板の製造中又は使用
中の温度変化によって、過剰なストレス(応力)がその
ような回路基板に加えられたとすれば、これは、電子デ
バイスと、回路基板上の回路導体との間のはんだ接続体
を破損し、従って、電子デバイスを回路板から剥離させ
たり、或は他の不慮の問題を発生する。
た半導体チップや、セラミック材料を主体として作られ
た半導体チップの支持体(モジュール)のような半導体
デバイス上のリード(即ち端子)を、ガラス繊維などに
エポキシ樹脂又は他の類似の材料が含浸された主として
有機材料で作られた印刷回路基板の表面に存在し固着さ
れた回路導体へはんだ付けすることによって作られてい
るが、そのような印刷回路基板の熱膨張係数は電子デバ
イスを構成している材料の熱m張係数とは著しく異なっ
ている0例えば、若し、印刷回路基板の製造中又は使用
中の温度変化によって、過剰なストレス(応力)がその
ような回路基板に加えられたとすれば、これは、電子デ
バイスと、回路基板上の回路導体との間のはんだ接続体
を破損し、従って、電子デバイスを回路板から剥離させ
たり、或は他の不慮の問題を発生する。
米国特許第4413308号、同第4048438号及
び同第4026759号などに、回路が付与された基板
上に電子デバイスを装着する際に使われる成る種のスト
レス除去技術が開示されている。また、同様な技術が1
969年2月の18Mテクニカル・ディスクロジャ・ブ
レテン(IBMTechnical Disclosu
re Bulletin)のVol、11.No、9の
1173頁の「チップの可撓性接続体」(Flexib
le Chip Joint)と題する文献にも示され
ている。然しながら、これらの技術は複雑であって、例
えば、米国特許第4413308号に示されたように、
電子デバイスが装着される印刷回路基板の開孔を必要と
する。また、これら公知の技術は、例えばシリコンを主
体として作られた電子デバイスを、この電子デバイスを
構成する材料の熱膨張係数とは著しく熱膨張係数が異な
っている基板、例えばエポキシ樹脂又は類似の他の材料
をガラス繊維に浸み込ませたような有機材料の基板上に
装着することを指向していない。
び同第4026759号などに、回路が付与された基板
上に電子デバイスを装着する際に使われる成る種のスト
レス除去技術が開示されている。また、同様な技術が1
969年2月の18Mテクニカル・ディスクロジャ・ブ
レテン(IBMTechnical Disclosu
re Bulletin)のVol、11.No、9の
1173頁の「チップの可撓性接続体」(Flexib
le Chip Joint)と題する文献にも示され
ている。然しながら、これらの技術は複雑であって、例
えば、米国特許第4413308号に示されたように、
電子デバイスが装着される印刷回路基板の開孔を必要と
する。また、これら公知の技術は、例えばシリコンを主
体として作られた電子デバイスを、この電子デバイスを
構成する材料の熱膨張係数とは著しく熱膨張係数が異な
っている基板、例えばエポキシ樹脂又は類似の他の材料
をガラス繊維に浸み込ませたような有機材料の基板上に
装着することを指向していない。
C0発明が解決しようとする問題点
従って、本発明の目的は、電子デバイスを構成する材料
の熱的な性質と、基板を構成する材料の熱的性質との闇
に不整合がある場合、基板上に直接に電子デバイスを装
着するための接続体であって、比較的簡単なストレス除
去用の電気接続体を提供することにある。
の熱的な性質と、基板を構成する材料の熱的性質との闇
に不整合がある場合、基板上に直接に電子デバイスを装
着するための接続体であって、比較的簡単なストレス除
去用の電気接続体を提供することにある。
本発明の他の目的は、シリコンの如き材料を主体として
作られた電子デバイスを、この電子デバイスを構成する
シリコンの熱膨張係数と著しく異なった熱Wij脹係数
を有する例えば、エポキシ樹脂又は類似の他の材料をガ
ラス繊維に浸み込ませた有機物基板に直接に装着するた
めの接続体であって、比較的簡単なストレス除去用の電
気接続体を提供することにある。
作られた電子デバイスを、この電子デバイスを構成する
シリコンの熱膨張係数と著しく異なった熱Wij脹係数
を有する例えば、エポキシ樹脂又は類似の他の材料をガ
ラス繊維に浸み込ませた有機物基板に直接に装着するた
めの接続体であって、比較的簡単なストレス除去用の電
気接続体を提供することにある。
本発明の他の目的はそのようなストレス除去用の電気接
続体を製造する方法を提供することにある。
続体を製造する方法を提供することにある。
D1問題点を解決するための手段
本発明の諸口的は、エポキシ樹脂を浸み込ませたガラス
繊維のような有機物材料の基板上に、シリコンを主体と
して作られた半導体の支持体(モジュール)のような有
機物材料とは熱的な特性が著しく異なる電子デバイスを
装着する場合に、有機物材料の基板上に回路導体の一部
として可撓性の電気接続体を設けることによって達成す
ることが出来る。各可撓性電気接続体は、基板上の回路
導体に電子デバイスを接続する所定の領域である、基板
の相対的に弱い接着力を持つ領域上に浮いているストレ
ス除去用屈曲部を有する回路導体の一部の境界部を含ん
でいる。各可撓性電気接続体は、回路導体の境界部と、
電子デバイスの引き出し部←端子)との間の電気接続を
破損するか、又は悪影響を与える熱的なストレス、又は
他の歪みの除去を与える。
繊維のような有機物材料の基板上に、シリコンを主体と
して作られた半導体の支持体(モジュール)のような有
機物材料とは熱的な特性が著しく異なる電子デバイスを
装着する場合に、有機物材料の基板上に回路導体の一部
として可撓性の電気接続体を設けることによって達成す
ることが出来る。各可撓性電気接続体は、基板上の回路
導体に電子デバイスを接続する所定の領域である、基板
の相対的に弱い接着力を持つ領域上に浮いているストレ
ス除去用屈曲部を有する回路導体の一部の境界部を含ん
でいる。各可撓性電気接続体は、回路導体の境界部と、
電子デバイスの引き出し部←端子)との間の電気接続を
破損するか、又は悪影響を与える熱的なストレス、又は
他の歪みの除去を与える。
本発明に従った可撓性電気接続体は、相対的に強い接着
力を持つ領域でとり囲まれている相対的に弱い接着力を
持つ領域を形成するように、基板の選択された表面部分
を処理することによって作られる。従って、基板の表面
上の相対的に弱い接着力を持つ領域に設けられたストレ
ス除去用屈曲部を有する境界部を有する回路導体を含む
回路導体パターンが基板上に形成されるので、これらの
回路導体の各々の境界部は基板の表面上で浮かされ、他
方、回路導体の残部は基板の表面上の相対的に強い接着
力を持つ領域に確実に固着される。
力を持つ領域でとり囲まれている相対的に弱い接着力を
持つ領域を形成するように、基板の選択された表面部分
を処理することによって作られる。従って、基板の表面
上の相対的に弱い接着力を持つ領域に設けられたストレ
ス除去用屈曲部を有する境界部を有する回路導体を含む
回路導体パターンが基板上に形成されるので、これらの
回路導体の各々の境界部は基板の表面上で浮かされ、他
方、回路導体の残部は基板の表面上の相対的に強い接着
力を持つ領域に確実に固着される。
ストレス除去用の屈曲部を有する回路導体のこれらの浮
いた境界部は可撓性電気接続体を形成し、との可撓性電
気接続体に対して、電子デバイスがはんだ付け、熱圧着
融着、超音波溶着、又は他の適当な接続技術を使うこと
によって接続される。
いた境界部は可撓性電気接続体を形成し、との可撓性電
気接続体に対して、電子デバイスがはんだ付け、熱圧着
融着、超音波溶着、又は他の適当な接続技術を使うこと
によって接続される。
E、実施例
第1図を参照すると、複数個の回路導体11を有し、エ
ポキシ樹脂を含浸させたガラス繊維を主体として作られ
た印刷回路基板、又はカード10の一部を表わした平面
図が示されており、それぞれの回路導体は、本発明の原
理に従った印刷回路基板10上に、シリコンを主体とし
て作られた半導体チップ20を直接に装着するための、
可撓性の電気接続体を備えた印刷回路基板10の相対的
に弱い接着力を持つ領域2に設けられた端子16を有し
ていることが示されている0例えば、若し半導体チップ
20が6ミリメードル平方のデバイスであるとすれば、
弱い接着力の領域2は約15ミリメートル平方の領域で
ある。然しながら、チップ20及び印刷回路基板10の
対応領域2は実際に即した寸法に選ばれることは注意を
要する。
ポキシ樹脂を含浸させたガラス繊維を主体として作られ
た印刷回路基板、又はカード10の一部を表わした平面
図が示されており、それぞれの回路導体は、本発明の原
理に従った印刷回路基板10上に、シリコンを主体とし
て作られた半導体チップ20を直接に装着するための、
可撓性の電気接続体を備えた印刷回路基板10の相対的
に弱い接着力を持つ領域2に設けられた端子16を有し
ていることが示されている0例えば、若し半導体チップ
20が6ミリメードル平方のデバイスであるとすれば、
弱い接着力の領域2は約15ミリメートル平方の領域で
ある。然しながら、チップ20及び印刷回路基板10の
対応領域2は実際に即した寸法に選ばれることは注意を
要する。
回路導体11の各々は銅又は他の適当な導電体で作られ
ており、且つ回路導体11へ接続される半導体チップ2
0と適合するような寸法にされている6例えば、若し半
導体チップ20が上述のような6ミリメードル平方のデ
バイスであれば、各回路導体11は、約7.6乃至12
.7ミクロン・(約3乃至5ミル)の幅と、約12.7
乃至35゜6ミクロン(約5乃至14ミル)の高さを有
し、そして回路導体11の間隔は約25.4乃至152
.4ミクロン(10乃至、60ミル)である。
ており、且つ回路導体11へ接続される半導体チップ2
0と適合するような寸法にされている6例えば、若し半
導体チップ20が上述のような6ミリメードル平方のデ
バイスであれば、各回路導体11は、約7.6乃至12
.7ミクロン・(約3乃至5ミル)の幅と、約12.7
乃至35゜6ミクロン(約5乃至14ミル)の高さを有
し、そして回路導体11の間隔は約25.4乃至152
.4ミクロン(10乃至、60ミル)である。
各回路導体11の境界部(terminus) 18は
、印刷回路基板10の表面上で「浮いてJ (floa
t)おり、そして印刷回路基板10上の回路導体11に
対する半導体チップ20の物理的、電気的接続の両方に
影響するストレス、特に熱的ストレスを軽減するための
ストレス除去用の屈曲部17を含んでいる。ここで使わ
れる「浮く」という術語は、印刷回路基板10の領域2
において、各回路導体11の境界部16が、所定の位置
に強固に固着されるように、印刷回路基板10との接触
面と充分に接着されてはいないが、然し、境界部16の
全体の移動は妨げるように、印刷回路基板10との接触
面とは充分に接着されていることを意味する。
、印刷回路基板10の表面上で「浮いてJ (floa
t)おり、そして印刷回路基板10上の回路導体11に
対する半導体チップ20の物理的、電気的接続の両方に
影響するストレス、特に熱的ストレスを軽減するための
ストレス除去用の屈曲部17を含んでいる。ここで使わ
れる「浮く」という術語は、印刷回路基板10の領域2
において、各回路導体11の境界部16が、所定の位置
に強固に固着されるように、印刷回路基板10との接触
面と充分に接着されてはいないが、然し、境界部16の
全体の移動は妨げるように、印刷回路基板10との接触
面とは充分に接着されていることを意味する。
従って、各回路導体の境界部16は、回路導体11の電
気的及び機械的の全体的な特性に悪影響を与えることな
くストレスを除去するために、印刷回路基板10の表面
上を動く(浮く)ことが出来る。
気的及び機械的の全体的な特性に悪影響を与えることな
くストレスを除去するために、印刷回路基板10の表面
上を動く(浮く)ことが出来る。
印刷回路基板10の相対的に弱い接着力の領域2とは対
照的に、印刷回路基板10の領域2を完全に取り巻く印
刷回路基板10の領域4において、各印刷回路導体11
の部分19は、印刷回路基板10の所定の位置に各回路
導体11の部分19を固定するために、印刷回路基板1
0の接触面と充分に接着している。例えば、各回路導体
11の境界部16は、領域2において、1ミリメートル
当り約0.35ニユートン(1インチ当り約2ボンド)
以下の弱い力で下層の印刷回路基板10と接着している
のに反して、各回路導体11の部分19は、領域4にお
いて、1ミリメートル当り少なくとも約0.88ニユー
トン(1インチ当り約5ボンド)の力で下層の印刷回路
基板10と接着している。印刷回路基板10の各回路導
体の領域2の境界部16と、領域4の部分19との間の
接着力のこの差異は、本発明の原理に従った比較的簡単
なストレス除去用の電気接続体を与えるための重要な要
件である。
照的に、印刷回路基板10の領域2を完全に取り巻く印
刷回路基板10の領域4において、各印刷回路導体11
の部分19は、印刷回路基板10の所定の位置に各回路
導体11の部分19を固定するために、印刷回路基板1
0の接触面と充分に接着している。例えば、各回路導体
11の境界部16は、領域2において、1ミリメートル
当り約0.35ニユートン(1インチ当り約2ボンド)
以下の弱い力で下層の印刷回路基板10と接着している
のに反して、各回路導体11の部分19は、領域4にお
いて、1ミリメートル当り少なくとも約0.88ニユー
トン(1インチ当り約5ボンド)の力で下層の印刷回路
基板10と接着している。印刷回路基板10の各回路導
体の領域2の境界部16と、領域4の部分19との間の
接着力のこの差異は、本発明の原理に従った比較的簡単
なストレス除去用の電気接続体を与えるための重要な要
件である。
第1図に示されているように、各回路導体11のストレ
ス除去用の屈曲部は全体としてU字形をしており、U字
形の部分は回路導体の幅(B)の約2乃至3倍の高さく
A)と、回路導体の幅(B)の約4乃至6倍の幅(C)
とを持つのが好ましい。
ス除去用の屈曲部は全体としてU字形をしており、U字
形の部分は回路導体の幅(B)の約2乃至3倍の高さく
A)と、回路導体の幅(B)の約4乃至6倍の幅(C)
とを持つのが好ましい。
例えば、若し各回路導体が約7.6ミクロン(3ミル)
の幅(B)を持っているとすれば、全体としてU字形の
ストレス除去用の屈曲部17は約15.2乃至22.8
ミクロン(約6乃至9ミル)の高さくA)と、約30.
4乃至45.6ミクロン(12乃至18ミル)の幅(C
)を持つのが好ましい、然しながら、各回路導体11の
境界部16のストレス除去用屈曲部17は、不必要なス
トレスを除去する能力を有する任意の寸法及び構造にす
ることが可能であり、且つ各ストレス除去用屈曲部17
の寸法及び構造が回路導体11のために適当な全体的パ
ターンを与えるよう設計されている限りにおいて、各ス
トレス除去用の屈曲部17は必要に応じて異なった寸法
及び構造にすることが出来る。所望の回路導体の密度を
維持するために、ストレス除去用の屈曲部17の特に好
ましい構造は、ストレス除去用屈曲部を有する回路導体
が隣り同志平行に敷設され、ストレス除去用屈曲部が比
較的低い高さく即ち、全体として明確でないU字形の弧
状)で揃えられているような入れ子にされた( nes
ted)構成である。
の幅(B)を持っているとすれば、全体としてU字形の
ストレス除去用の屈曲部17は約15.2乃至22.8
ミクロン(約6乃至9ミル)の高さくA)と、約30.
4乃至45.6ミクロン(12乃至18ミル)の幅(C
)を持つのが好ましい、然しながら、各回路導体11の
境界部16のストレス除去用屈曲部17は、不必要なス
トレスを除去する能力を有する任意の寸法及び構造にす
ることが可能であり、且つ各ストレス除去用屈曲部17
の寸法及び構造が回路導体11のために適当な全体的パ
ターンを与えるよう設計されている限りにおいて、各ス
トレス除去用の屈曲部17は必要に応じて異なった寸法
及び構造にすることが出来る。所望の回路導体の密度を
維持するために、ストレス除去用の屈曲部17の特に好
ましい構造は、ストレス除去用屈曲部を有する回路導体
が隣り同志平行に敷設され、ストレス除去用屈曲部が比
較的低い高さく即ち、全体として明確でないU字形の弧
状)で揃えられているような入れ子にされた( nes
ted)構成である。
第2図は、第1図のtgll−1に沿って切断した、半
導体チップ20を装着した印刷回路基板10の断面図で
ある。第2図に示されたように、半導体チップ20は電
気的な端子(引き出し部)30を有しており、その端子
は回路導体11の境界部16へはんだ柱14によって物
理的及び電気的に接続されている0例えば、半導体チッ
プ20の端子30と、回路導体11の境界部16との間
の各接続ははんだリフロー接続(C−4’)である、然
しながら、半導体チップ20の電気的端子30は、必要
に応じて、ワイヤ・ボンディング又は他の適当な接続技
術によって回路導体11の境界部16に接続することが
出来る。
導体チップ20を装着した印刷回路基板10の断面図で
ある。第2図に示されたように、半導体チップ20は電
気的な端子(引き出し部)30を有しており、その端子
は回路導体11の境界部16へはんだ柱14によって物
理的及び電気的に接続されている0例えば、半導体チッ
プ20の端子30と、回路導体11の境界部16との間
の各接続ははんだリフロー接続(C−4’)である、然
しながら、半導体チップ20の電気的端子30は、必要
に応じて、ワイヤ・ボンディング又は他の適当な接続技
術によって回路導体11の境界部16に接続することが
出来る。
また、第2図に示されているように、印刷回路基板10
は表面領域2(第1図番l1l)を有する基部12を含
んでおり、その領域各回路導体11の境界部16は、そ
の領域2に対して境界部16を所定の位置に充分に固定
するほど接着しておらず、従って、境界部16は上述し
たようにストレスの除去を与えるために、基部12のこ
の領域2の上で浮いている。印刷回路基板10の領域4
(第1図参照)において、回路導体11の部分19は、
下層の基体部12と充分に接着して、回路導体11を印
刷回路基板10の所定の位置に固定している。
は表面領域2(第1図番l1l)を有する基部12を含
んでおり、その領域各回路導体11の境界部16は、そ
の領域2に対して境界部16を所定の位置に充分に固定
するほど接着しておらず、従って、境界部16は上述し
たようにストレスの除去を与えるために、基部12のこ
の領域2の上で浮いている。印刷回路基板10の領域4
(第1図参照)において、回路導体11の部分19は、
下層の基体部12と充分に接着して、回路導体11を印
刷回路基板10の所定の位置に固定している。
また、第1図及び第2図は印刷回路基板10上に装着さ
れた主としてシリコンで作られた半導体チップ20を示
しているけれども、他の適宜の電子デバイスを本発明に
従って印刷回路基板10上に装着することが出来る0例
えば、適当な電気端子を有する抵抗又はコンデンサを印
刷回路基板10上に装着することが可能であり、また、
半導体チップを装着したセラミックモジュールも本発明
に従って印刷回路基板10上に直接装着することが出来
る。
れた主としてシリコンで作られた半導体チップ20を示
しているけれども、他の適宜の電子デバイスを本発明に
従って印刷回路基板10上に装着することが出来る0例
えば、適当な電気端子を有する抵抗又はコンデンサを印
刷回路基板10上に装着することが可能であり、また、
半導体チップを装着したセラミックモジュールも本発明
に従って印刷回路基板10上に直接装着することが出来
る。
動作について説明すると、比較的弱い接着力の領域2の
所にある回路導体11の境界部16にチップ20の端子
30を接続することによって、半導体チップ20、又は
他の適当な電子デバイスが印刷回路基板10に装着され
た後、端子30と境界部16との間のこれらの接続部1
4における不要なストレスは、各境界部16が印刷回路
基板10の表面から浮いており、且つ各境界部がストレ
ス除去用屈曲部17を持っているので、除去される。そ
の結果、例えば印刷回路基板に電子デバイスを装着する
場合とか印刷回路基板10の動作中などに生ずる温度変
化や、印刷回路基板の物理的な歪みや他のストレスを生
じさせる現象によって発生される不要なストレスが除去
される。このストレス除去作用はチップ20が印刷回路
基板10上の回路導体から電気的に切断し、物理的に剥
離するのを妨げるので、印刷回路基板10の信頼性を向
上させる。
所にある回路導体11の境界部16にチップ20の端子
30を接続することによって、半導体チップ20、又は
他の適当な電子デバイスが印刷回路基板10に装着され
た後、端子30と境界部16との間のこれらの接続部1
4における不要なストレスは、各境界部16が印刷回路
基板10の表面から浮いており、且つ各境界部がストレ
ス除去用屈曲部17を持っているので、除去される。そ
の結果、例えば印刷回路基板に電子デバイスを装着する
場合とか印刷回路基板10の動作中などに生ずる温度変
化や、印刷回路基板の物理的な歪みや他のストレスを生
じさせる現象によって発生される不要なストレスが除去
される。このストレス除去作用はチップ20が印刷回路
基板10上の回路導体から電気的に切断し、物理的に剥
離するのを妨げるので、印刷回路基板10の信頼性を向
上させる。
上述した可撓性の電気接続体は第3図及び第4図を参照
して説明される本発明の方法によって作られるのが好ま
しい。第3図及び第4図は第1図の線II −IIに沿
って切断した断面図であって、本発明に従って可撓性電
気接続体を製造する良好な実施例の方法のステップの一
部を説明するための模式図である。
して説明される本発明の方法によって作られるのが好ま
しい。第3図及び第4図は第1図の線II −IIに沿
って切断した断面図であって、本発明に従って可撓性電
気接続体を製造する良好な実施例の方法のステップの一
部を説明するための模式図である。
第3図を参照すると、先ず、銅のような材料の相対的に
薄い層15を相対的に厚い基部12上に設ける。上述し
たように、基部12は有機物材料で作られるのが好まし
い。代表的な基部12は、エポキシ樹脂を浸み込ませた
ガラス繊維を複数層積層することにより作られた厚さ、
約1026乃至1538ミクロン(40乃至60ミル)
を持つ矩形の基板である0例えば、層15は厚さが約5
゜1ミクロン(約2ミル)の銅の薄層である。このよう
な銅層15は任意の適当な処理を経て、上述したような
有機物の基部12上に設けられる。例えば、「引剥し銅
箔J (peal apart copper)と適当
なキャリヤ(例えば銅製の担体)との間に剥離層を有す
る引剥し銅箔のシートを基部の表面に付着させる。次に
、キャリヤと剥離層は引剥し銅箔から取り除かれて、引
剥し銅箔は下側の有機物の基部12に接着して、有機物
の基部12上の銅層として所定の場所に残留する。この
ような「引剥し銅箔」という製品はニュージャージ州の
ボーデンタウン(Bordentown、New Je
rsey)所在のイエーツ社(Yates、 Inc、
)により市販されている。
薄い層15を相対的に厚い基部12上に設ける。上述し
たように、基部12は有機物材料で作られるのが好まし
い。代表的な基部12は、エポキシ樹脂を浸み込ませた
ガラス繊維を複数層積層することにより作られた厚さ、
約1026乃至1538ミクロン(40乃至60ミル)
を持つ矩形の基板である0例えば、層15は厚さが約5
゜1ミクロン(約2ミル)の銅の薄層である。このよう
な銅層15は任意の適当な処理を経て、上述したような
有機物の基部12上に設けられる。例えば、「引剥し銅
箔J (peal apart copper)と適当
なキャリヤ(例えば銅製の担体)との間に剥離層を有す
る引剥し銅箔のシートを基部の表面に付着させる。次に
、キャリヤと剥離層は引剥し銅箔から取り除かれて、引
剥し銅箔は下側の有機物の基部12に接着して、有機物
の基部12上の銅層として所定の場所に残留する。この
ような「引剥し銅箔」という製品はニュージャージ州の
ボーデンタウン(Bordentown、New Je
rsey)所在のイエーツ社(Yates、 Inc、
)により市販されている。
更に第3図を参照すると、銅層15を有機物基部12上
に設けた後、イー・アイ・デュポン社により市販されて
いる3515ホトレジストのようなホトレジスト材料2
1の層が銅層15の上に添加される0次に、ホトレジス
ト材料21は通常のホトレジスト処理技術に従って露光
され、現像されて、印刷回路基板10の基部12の相対
的に弱い接着力の領域15上に設けられる各回路導体1
1のストレス除去用屈曲部17を有する境界部16だけ
の像(イメージ)を形成する。第3図は銅層15を有す
る有機物基部12の断面図であって、銅層15上には、
相対的に弱い接着力の領域2の中に所定のイメージを形
成するように露光され現像されたホトレジスト材料21
がある。
に設けた後、イー・アイ・デュポン社により市販されて
いる3515ホトレジストのようなホトレジスト材料2
1の層が銅層15の上に添加される0次に、ホトレジス
ト材料21は通常のホトレジスト処理技術に従って露光
され、現像されて、印刷回路基板10の基部12の相対
的に弱い接着力の領域15上に設けられる各回路導体1
1のストレス除去用屈曲部17を有する境界部16だけ
の像(イメージ)を形成する。第3図は銅層15を有す
る有機物基部12の断面図であって、銅層15上には、
相対的に弱い接着力の領域2の中に所定のイメージを形
成するように露光され現像されたホトレジスト材料21
がある。
第3図及び第4図を参照して説明を続けると、各回路導
体11のストレス除去用屈曲部17を有する境界部16
の所望のイメージが、相対的に弱い接着力の領域2の中
の銅層15上の露光され現像されたホトレジスト材料2
1によって形成された後、ホトレジスト材料21によっ
て覆われていない銅層15の部分は、任意の適当な銅の
蝕刻処理を使うことによって除去されて、ホトレジスト
材料21によって保護されている領域の銅層だけが残さ
れる0次に、ホトレジスト材料21は、任意の適当なホ
トレジスト剥離技術を使うことにより除去される。
体11のストレス除去用屈曲部17を有する境界部16
の所望のイメージが、相対的に弱い接着力の領域2の中
の銅層15上の露光され現像されたホトレジスト材料2
1によって形成された後、ホトレジスト材料21によっ
て覆われていない銅層15の部分は、任意の適当な銅の
蝕刻処理を使うことによって除去されて、ホトレジスト
材料21によって保護されている領域の銅層だけが残さ
れる0次に、ホトレジスト材料21は、任意の適当なホ
トレジスト剥離技術を使うことにより除去される。
上述したようにホトレジスト材料21を除去した後、プ
ラウエアのウイルミントン(Wilmington)所
在のへルクレス・パウダ社(Hercules Po賀
derCo、)で市販されているレチン(Reten)
210のようなカチオン界面活性剤が、境界部16の
パターンを有する銅層15を有する基部12の領域2と
、基部12上に形成されるべき各回路導体11のストレ
ス除去用屈曲部17とを含む基部12の全面に添加され
る6表面活性剤のこの添加工程の後、例えば、米国特許
第4448804号に示されているようなコロイド!3
I/パラジウムのだね層を基部12の全表面に成長させ
る工程が続く0次に、デュポン社で市販しているリスト
ン・タイプT168ホトレジストの如きホトレジストの
他の層(図示せず)が基部12の全表面に添加される。
ラウエアのウイルミントン(Wilmington)所
在のへルクレス・パウダ社(Hercules Po賀
derCo、)で市販されているレチン(Reten)
210のようなカチオン界面活性剤が、境界部16の
パターンを有する銅層15を有する基部12の領域2と
、基部12上に形成されるべき各回路導体11のストレ
ス除去用屈曲部17とを含む基部12の全面に添加され
る6表面活性剤のこの添加工程の後、例えば、米国特許
第4448804号に示されているようなコロイド!3
I/パラジウムのだね層を基部12の全表面に成長させ
る工程が続く0次に、デュポン社で市販しているリスト
ン・タイプT168ホトレジストの如きホトレジストの
他の層(図示せず)が基部12の全表面に添加される。
ホトレジストのこの第2層は、基部12に設けられるべ
き全回路導体のパターンの陰画のイメージを形成するた
めに、通常のホトレジスト処理技術に従って露光され現
像される。より詳細に説明すると、ホトレジストの第2
層は、領域2の中のストレス除去用屈曲部17を有する
境界部16と、回路導体11の領域4の中の部分19と
を含んで、印刷回路基板10の基部12上に形成される
べきすべての回路導体11に対応する陰画のイメージを
形成するように、露光され現像される。
き全回路導体のパターンの陰画のイメージを形成するた
めに、通常のホトレジスト処理技術に従って露光され現
像される。より詳細に説明すると、ホトレジストの第2
層は、領域2の中のストレス除去用屈曲部17を有する
境界部16と、回路導体11の領域4の中の部分19と
を含んで、印刷回路基板10の基部12上に形成される
べきすべての回路導体11に対応する陰画のイメージを
形成するように、露光され現像される。
回路導体全体のパターンの所望の陰画のイメージがホト
レジスト材料の第2層を露光し且つ現像することによっ
て基部12上に形成された後、ホトレジストで覆われて
いない基部12の領域の上に銅な可とする導電材料を被
着することにより回路導体11が形成される。上述のホ
トレジストで覆われていない領域は、上述の第1のホト
レジスト工程後に基部12上に残され、且つ各回路導体
11のストレス除去用の屈曲部17を有する境界部16
の構成でパターン化されている銅層15を有する基部1
2の領域を含んでいる。導電材料は回路導体11を形成
するための任意の適当な方法で基部12上に被着される
0例えば、銅層は、回路導体11を形成するため、通常
の被着(additive)銅めつき処理を使うことに
よって基部12上に被着される。所望の回路導体11の
陰画イメージを形成しているホトレジストは、第4図に
示された構造を残すために、任意の適当なホトレジスト
剥離処理を施すことによって除去される。
レジスト材料の第2層を露光し且つ現像することによっ
て基部12上に形成された後、ホトレジストで覆われて
いない基部12の領域の上に銅な可とする導電材料を被
着することにより回路導体11が形成される。上述のホ
トレジストで覆われていない領域は、上述の第1のホト
レジスト工程後に基部12上に残され、且つ各回路導体
11のストレス除去用の屈曲部17を有する境界部16
の構成でパターン化されている銅層15を有する基部1
2の領域を含んでいる。導電材料は回路導体11を形成
するための任意の適当な方法で基部12上に被着される
0例えば、銅層は、回路導体11を形成するため、通常
の被着(additive)銅めつき処理を使うことに
よって基部12上に被着される。所望の回路導体11の
陰画イメージを形成しているホトレジストは、第4図に
示された構造を残すために、任意の適当なホトレジスト
剥離処理を施すことによって除去される。
第1図に良く示されているように、上述の方法は、印刷
回路基板10の基部12の相対的に弱い接着力の領域2
上で浮いているストレス除去用屈曲部17を有する境界
部16を持ち、且つ印刷回路基板10の基部12の相対
的に強い接着力領域4上に固定された部分19を持つ各
回路導体11を作ることになる。各回路導体11のスト
レス除去用屈曲部17を有する境界部16は、上述した
ように、カチオン界面活性剤で下層の銅層を処理するこ
とによって、印刷回路基板10の基部12の領域2の表
面に浮くことになる。この処理は、処理を施さない場合
に比べて、印刷回路基板10の基部12上の下側の銅層
15に対して、各回路導体11のストレス除去用屈曲部
17を有する境界部16の接着力を劇的に減少させる0
例えば、この処理は、銅対鋼の接着力を1ミリメートル
当り約2.64ニユートン(1インチ当り約15ボンド
)から1ミリメートル当り約0.18乃至0゜35ニユ
ートン(1インチ当り約1乃至2ボンド)に減少する。
回路基板10の基部12の相対的に弱い接着力の領域2
上で浮いているストレス除去用屈曲部17を有する境界
部16を持ち、且つ印刷回路基板10の基部12の相対
的に強い接着力領域4上に固定された部分19を持つ各
回路導体11を作ることになる。各回路導体11のスト
レス除去用屈曲部17を有する境界部16は、上述した
ように、カチオン界面活性剤で下層の銅層を処理するこ
とによって、印刷回路基板10の基部12の領域2の表
面に浮くことになる。この処理は、処理を施さない場合
に比べて、印刷回路基板10の基部12上の下側の銅層
15に対して、各回路導体11のストレス除去用屈曲部
17を有する境界部16の接着力を劇的に減少させる0
例えば、この処理は、銅対鋼の接着力を1ミリメートル
当り約2.64ニユートン(1インチ当り約15ボンド
)から1ミリメートル当り約0.18乃至0゜35ニユ
ートン(1インチ当り約1乃至2ボンド)に減少する。
銅層15はこの領域4−には存在せず、且つコロイド錫
/パラジウムのたねの被着が後続するカチオン界面活性
剤処理が、未処理のものの接着力に比べて、この領域4
の接着力を増加するよう作用するので、上述した場合と
は逆に、この処理は、領域4における印刷回路基板10
の基部12に対して、各回路導体11の部分19の接着
力を劇的に増加する0例えば、この処理は、銅対ガラス
/エポキシ樹脂の接着力を、1ミリメートル当り約0.
35乃至0.53ニユートン(1インチ当り約2乃至3
ボンド)から、1ミリメートル当り約0.70乃至0.
88ニユートン(1インチ当り約4乃至5ボンド)に増
加する。
/パラジウムのたねの被着が後続するカチオン界面活性
剤処理が、未処理のものの接着力に比べて、この領域4
の接着力を増加するよう作用するので、上述した場合と
は逆に、この処理は、領域4における印刷回路基板10
の基部12に対して、各回路導体11の部分19の接着
力を劇的に増加する0例えば、この処理は、銅対ガラス
/エポキシ樹脂の接着力を、1ミリメートル当り約0.
35乃至0.53ニユートン(1インチ当り約2乃至3
ボンド)から、1ミリメートル当り約0.70乃至0.
88ニユートン(1インチ当り約4乃至5ボンド)に増
加する。
このように、本発明の上述の実施例の方法は、既に述べ
たように、印刷回路基板10上に電子デバイスを直接に
装着するのに使うことの出来る相対的に弱い接着力の領
域2上に浮いているストレス除去用屈曲部17を有する
境界部16を持つ夫々の回路導体を設けることが出来る
。勿論、印刷回路基板10上の基部12上に、相対的に
弱い接着力を有する領域2を作るための他の方法がある
。
たように、印刷回路基板10上に電子デバイスを直接に
装着するのに使うことの出来る相対的に弱い接着力の領
域2上に浮いているストレス除去用屈曲部17を有する
境界部16を持つ夫々の回路導体を設けることが出来る
。勿論、印刷回路基板10上の基部12上に、相対的に
弱い接着力を有する領域2を作るための他の方法がある
。
例えば、第1番目のホトレジスト材料21を添加する前
に、基部12上に置かれた銅層15全体が基部12から
蝕刻し除去され、次に、印刷回路基板10の領域2のす
べての部分は覆わないで、領域4だけを保護するように
、ホトレジスト材料21が添加され、露光され且つ現像
されることを除いて、上述の方法を実施する0次に、開
放された開口領域2は濃硫酸、又は気相ブラストで処理
し、その後、残りの工程は上述の方法が適用される。開
口領域2の濃硫酸処理又は気相ブラスト処理は処理が施
されない場合に比べて、印刷回路基板10の基部12の
領域2に対して、回路導体11の接着力の減少をもたら
す、その他の方法として、銅層15を基部12の表面に
接着する前に、銅層15を硫酸、気相ブラスト又は蝕刻
によって選択的な前処理を施し、そして、選択的に前処
理が施された銅層15の面を基部12の表面に向けて、
基部12上に銅層を積層することを除いて、上述の方法
を適用する方法がある。この選択的な前処理は、銅層1
5上に平滑な領域を発生させ、この銅層の平滑な領域は
、銅層15を積層し、且つ後の工程で銅層15を完全に
除去した後に、基部12の表面上に平滑な領域を作らせ
、この基部12の表面上の平滑な領域は、印刷回路基板
10の基部12の相対的に弱い接着力の領域2を形成す
るために必要な、各回路導体11の境界部16のパター
ンを持つよう選択された銅層15上の平滑な領域に対応
するものである。印刷回路基板10の領域2の中のこの
選択された平滑さは、非処理の場合に比べて、印刷回路
基板10の基部12のこの領域2に対して、回路導体1
1の接着力を減少する。
に、基部12上に置かれた銅層15全体が基部12から
蝕刻し除去され、次に、印刷回路基板10の領域2のす
べての部分は覆わないで、領域4だけを保護するように
、ホトレジスト材料21が添加され、露光され且つ現像
されることを除いて、上述の方法を実施する0次に、開
放された開口領域2は濃硫酸、又は気相ブラストで処理
し、その後、残りの工程は上述の方法が適用される。開
口領域2の濃硫酸処理又は気相ブラスト処理は処理が施
されない場合に比べて、印刷回路基板10の基部12の
領域2に対して、回路導体11の接着力の減少をもたら
す、その他の方法として、銅層15を基部12の表面に
接着する前に、銅層15を硫酸、気相ブラスト又は蝕刻
によって選択的な前処理を施し、そして、選択的に前処
理が施された銅層15の面を基部12の表面に向けて、
基部12上に銅層を積層することを除いて、上述の方法
を適用する方法がある。この選択的な前処理は、銅層1
5上に平滑な領域を発生させ、この銅層の平滑な領域は
、銅層15を積層し、且つ後の工程で銅層15を完全に
除去した後に、基部12の表面上に平滑な領域を作らせ
、この基部12の表面上の平滑な領域は、印刷回路基板
10の基部12の相対的に弱い接着力の領域2を形成す
るために必要な、各回路導体11の境界部16のパター
ンを持つよう選択された銅層15上の平滑な領域に対応
するものである。印刷回路基板10の領域2の中のこの
選択された平滑さは、非処理の場合に比べて、印刷回路
基板10の基部12のこの領域2に対して、回路導体1
1の接着力を減少する。
F6発明の効果
本発明は、熱膨張係数が相異する電子デバイスと回路基
板などの接続部において、例えば印刷回路基板に電子デ
バイスを装着する際とか、印刷回路基板の動作中などに
生ずる温度変化や、印刷回路基板の物理的な歪みなどに
より発生される接続部のストレスを除去して、印刷回路
基板の信頼性を向上させる。
板などの接続部において、例えば印刷回路基板に電子デ
バイスを装着する際とか、印刷回路基板の動作中などに
生ずる温度変化や、印刷回路基板の物理的な歪みなどに
より発生される接続部のストレスを除去して、印刷回路
基板の信頼性を向上させる。
第1図はエポキシ樹脂又は類似の材料を浸み込ませたガ
ラス繊維のような有機物材料で作られた印刷回路基板上
に、シリコンのような材料を主体として作られた半導体
チップを、本発明に従ったストレス除去用の複数個の可
撓性電気接続体を使って直接に装着した印刷回路基板の
一部を示す平面図、第2図は半導体チップが装着された
第1図の印刷回路基板を1ll−1に沿って切断した断
面図、第3図及び第4図は第1図の線II −IIに沿
って切断した断面図であって、本発明の可撓性電気接続
体を製造する方法の工程の一部を説明するための模式図
である。 2・・・・弱い接着力の領域、4・・・・強い接着力の
領域、10・・・・印刷回路基板、11・・・・回路導
体、16・・・・回路導体の境界部、17・・・・スト
レス除去用屈曲部、20・・・・半導体チップ。 出 願 人 インターナショナル・ビジネス・マシー
ンズ・コーポレーション
ラス繊維のような有機物材料で作られた印刷回路基板上
に、シリコンのような材料を主体として作られた半導体
チップを、本発明に従ったストレス除去用の複数個の可
撓性電気接続体を使って直接に装着した印刷回路基板の
一部を示す平面図、第2図は半導体チップが装着された
第1図の印刷回路基板を1ll−1に沿って切断した断
面図、第3図及び第4図は第1図の線II −IIに沿
って切断した断面図であって、本発明の可撓性電気接続
体を製造する方法の工程の一部を説明するための模式図
である。 2・・・・弱い接着力の領域、4・・・・強い接着力の
領域、10・・・・印刷回路基板、11・・・・回路導
体、16・・・・回路導体の境界部、17・・・・スト
レス除去用屈曲部、20・・・・半導体チップ。 出 願 人 インターナショナル・ビジネス・マシー
ンズ・コーポレーション
Claims (1)
- 回路基板と、この回路基板上に実装される部品と、上記
回路基板上に設けられ、上記部品の所定箇所と電気的か
つ機械的に結合される少なくとも1本の導体線とを有し
、かつこの導体線は上記部品の周辺において他の領域よ
りも弱い接着力で上記回路基板に接着され、さらにこの
周辺においてストレス除去用の屈曲部を有することを特
徴とする回路基板装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/915,485 US4728751A (en) | 1986-10-06 | 1986-10-06 | Flexible electrical connection and method of making same |
US915485 | 1992-07-17 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6396934A true JPS6396934A (ja) | 1988-04-27 |
JPH031831B2 JPH031831B2 (ja) | 1991-01-11 |
Family
ID=25435830
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62126102A Granted JPS6396934A (ja) | 1986-10-06 | 1987-05-25 | 回路基板装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4728751A (ja) |
EP (1) | EP0263277A3 (ja) |
JP (1) | JPS6396934A (ja) |
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1986
- 1986-10-06 US US06/915,485 patent/US4728751A/en not_active Expired - Fee Related
-
1987
- 1987-05-25 JP JP62126102A patent/JPS6396934A/ja active Granted
- 1987-08-21 EP EP87112150A patent/EP0263277A3/en not_active Withdrawn
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---|---|
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