JPS6394645A - 電子装置 - Google Patents

電子装置

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JPS6394645A
JPS6394645A JP61240693A JP24069386A JPS6394645A JP S6394645 A JPS6394645 A JP S6394645A JP 61240693 A JP61240693 A JP 61240693A JP 24069386 A JP24069386 A JP 24069386A JP S6394645 A JPS6394645 A JP S6394645A
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insulating film
front surface
opening
flexible
circuit wiring
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    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49855Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers for flat-cards, e.g. credit cards
    • HELECTRICITY
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    • HELECTRICITY
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    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] この発明は電子装置に関し、特に薄型可撓性基板に半導
体装置が実装された電子装置に関するものである。
[従来の技術] 従来、このような電子IAffとして厚みが0.761
1I11程度の超薄型ICカードがある。ICカードに
用いられる半導体装置の実装方式として、従来のワイヤ
ボンディング方式と可撓性有機絶縁フィルムを用いる、
いわゆるテープアセンブリ方式%式% ングともいう)が用いられている。このうち、テープア
センブリ方式は超薄型パッケージ化実装、自動化が可能
などの利点があり、将来性が期待されている。そして、
このテープアセンブリ方式による半導体装置の実装形態
は色々考えられている。
第4図は、従来のICカード用半導体装置の構造を示す
断面図である。
図において、半導体素子1の表側表面1aに突起電極2
が形成されている。ポリイミド樹脂やガラスエポキシ樹
脂などからなる可撓性有機絶縁フィルム30に開口部3
1が形成されており、可撓性有機絶縁フィルム30の表
側表面30aに、回路配線32およびこの回路配viA
32の一方端に電気的に接続される、半導体装置の外部
電極33が形成されている。回路配線32の他方端にリ
ード端子34が電気的に接続されており、このリード端
子34は開口部31へ張り出している。可撓性有機絶縁
フィルム30と回路配線32と外部電極33とリード端
子34とはパッケージ基板300を構成する。半導体素
子1はパッケージ基板300の開口部31下で可撓性有
機絶縁フィルム30の裏側表面30b側に位置するよう
に配置されている。リード端子34は突起電極2に位置
合わせして重ねられるように配置されており、このリー
ド端子34は突起電極2に電気的・機械的に接続されて
いる。半導体素子1の一部、突起電極2、リード端子3
4、回路配線32の一部および開口部31は、エポ4−
シ樹脂などの封止物111#40で封止されている。こ
の封止樹脂40は半導体素子1などを外部からの汚染や
機械的彰轡なとから防ぐ。
第5図は、従来のICカードの構成を示す断面図である
図において、塩化ビニル樹脂などからなる可撓性のカー
ド50の表側に凹部51が形成されている。第4図の半
導体装置が回路配a32側を表側にして凹部51に実装
されており、可撓性有機絶縁フィルム30の表側表面3
0aがカード50の表側表面50aと一致するようにな
っている。この実装は、半導体装置を凹部51に埋め込
み、まl;は半導体:iaを凹部51に埋め込んだ模こ
の半導体装置を凹部51に接着剤で貼付けることによっ
てなされる。半導体装置の表側表面まわりを平坦化する
ように、この半導体装置の表側表面およびカード50の
表側表面50aに膜厚が約80μmの透明のオーバコー
ト躾60が形成されている。
このオーバコート躾60に開口部61が形成されて外部
’4Iti33の一部が露出しており、この外部電極3
3に外部から電気的に接触できるようになっている。こ
の例において、ICカードの総厚は0.7611111
程度であり、また、ICカード表面は凹凸のない平坦性
が要求される。
なお、第4図においでは、封止樹脂40が半導体素子1
の一部を封止する構造の半導体装置について示したが、
これ以外に、封止樹脂が半導体素子1の裏側表面1bに
も形成されて半導体素子1全体を樹脂封止するような構
造の半導体amも用いられている。
[発明が解決しようとする問題点] ところで、従来のICカードにおいて、回路配線32は
、可撓性有機絶縁フィルム30の表側表面30aに膜厚
が一般に約35μ曙の銅箔などからなる金j1mを形成
し、この金属膜を写真蝕刻法など(よりパターニングし
て形成されるため、半導体装置の仕上がり表面が35μ
層程度の凹凸を有するものとなる。これを防止するため
に、回路配線32表面にソルダーレジストと呼ばれる樹
脂を塗布してこの凹凸を小さくしているが、凹凸は完全
にはなくならない。また、可撓性有機絶縁フィルム30
の表側表面30aに回路配線32、外部電極33がある
ため、封止樹脂4oの表側表面40aを平坦にすること
が困難である。このため、半導体装置をカード5oに実
@後、オーバコート膜60を施しても半導体装置の表側
表面の凹凸を完全には吸収できず若干の凹凸が残る。ま
た、オーバコート膜60は約80μmの膜厚を有するの
で、0.76m−の厚みのICカードを得るためには、
オーバコート1160の膜厚分だけ半導体装置の総厚を
薄くしなければならず、半導体装置の製造がより困難に
なってくる。また、回路配線32は半導体装置の表面に
露出しているため、半導体装置をカード60に実装した
後も回路配線32が外部から見えるためデザイン上見苦
しいなどの問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、その表側表面を平坦化できるとともに外から
回路配線が見えないICカードを得ることを目的とする
[問題点を解決するための手段] この発明に係る電子装置は、半導体素子の表側表面に電
極を形成し、第1開口部が形成された可撓性絶縁フィル
ムの裏側表面に回路配線およびこの回路配線の一方端に
電気的に接続される外部電極を形成し、回路配線の他方
端に第1開口部に張り出したリード端子を電気的に接続
し、可撓性絶縁フィルムに外部電極の一部を露出するよ
うに第2開口部を形成し、可撓性絶縁フィルムと回路配
線と外部電極とリード端子とからパッケージ基板を構成
し、第1開口部下で可撓性絶縁フィルムのI!開衣表面
側半導体素子を配置してリード端子を電極に電気的・機
械的に接続し、封止樹脂で半導体素子の一部または全体
、電極、リード端子、回路配線の一部および第1開口部
を封止し、半導体素子と電極とパッケージ基板と封止樹
脂とから半導体装置を構成し、薄型可撓性基板の表側に
形成された凹部に、半導体装置を可撓性絶縁フィルムの
表側表面が薄型可撓性基板の表側表面に一致するように
して実装したものである。
[作用コ この発明においては、可撓性絶縁フィルムの裏側表面に
回路配線を形成し、第1開口部下で可撓性絶縁フィルム
の裏側表面側に半導体素子を配置し、可撓性絶縁フィル
ムの表側表面を薄型可撓性基板の表側表面に一致するよ
うにしているので、第1+M1口部の封止樹脂表面を平
坦化しかつこの封止樹脂表面を可撓性絶縁フィルムの表
側表面に一致させることができ、電子装置の表側表面を
平坦化プることができる。また、回路配線は可撓性絶縁
゛ノトルムの裏側表面に形成されているので、回路配線
は外から見えない。また、可撓性絶縁フィルムに外部電
極の一部が露出するように9442rM口部を形成する
ことによって、外部電極に外部から電気的に接触できる
。まlζ、電子1a11の表側表面を平坦化できるため
、オーバコート膜を形成する必要がない。
[実施例] 以下、この発明の実茄例を図につい°C説明する。
なお、この実施例の説明において、従来の技術の説明と
重複す部分については適宜その説明を省略する。
第1図は、この発明の実施例であるICカードに用いら
れる半導体装置の構造を示す断面図である。
因において、開口部31を有する可撓性絶縁フィルム3
0の裏側表面30bに、回路配置32およびこの回路配
線32の一方端に電気的に接続される、半導体装置の外
部電極33が形成されている。回路配線32の他方端に
リード端子34が電気的に接続されており、このリード
端子34は開口部31へ張り出している。可撓性有機絶
縁フィルム30に外部電極33に達する開口部35が形
成されている。この開口部35に外部電極33に電気的
に接続された金属突起部36が形成されており、金属突
起部36に外部から電気的に接触できるようになってい
る。金属突起部36は、開口部35に電気メッキや、蒸
着、スパッタなどにより金属膜を析出したり、開口部3
5にこの寸法に切断した金属箔を貼付けたりして形成さ
れる。可撓性有顆絶縁フィルム30と回路配線32と外
部電極33とリード端子34と金属突起部36とはパッ
ケージ基板301を構成する。半導体素子1は開口部3
1下で可撓性有機絶縁フィルム30の裏側表面30b側
に位置するように配置されている。リード端子34は突
起電極2に位置合わせして重ねられるように配置されて
おり、このリード端子34は突起電極2に電気的・機械
的に接続されている。半導体素子1の一部、突起電極2
、リード端子34、回路配線32の一部および同口部3
1はエポキシ樹脂などの封止樹脂41で封止されている
。そして、封止樹脂41の表側表面41aは、半導体素
子1の表側表面1aまわりを平坦化するように平坦にな
っており、かつ可撓性有機絶縁フィルム30の表側表面
30aと一致するようにしている。このような樹脂封止
は回路配$1i32、外部電極33が可撓性有機絶縁フ
ィルム30の裏側表面30bに形成されていることによ
って可能となる。この樹脂封止には、いわゆるトランス
ファモード法や、液状の樹脂を半導体素子1などに滴下
して凝固する方法や、所定の形状に成形された未硬化状
態の樹脂を半導体素子1に載せ、この樹脂を加熱して溶
融する方法などが用いられる。なお、半導体装置の厚み
のIff度を上げるために、封止樹脂の硬化後モの表面
を研磨して半導体装置表面をさらに平坦化してもよい。
また、金属突起部36は有機可撓性絶縁フィルム30の
膜厚が薄いときは必要でなく、有機9撓性絶縁フィルム
30の膜厚が厚くなるにつれて金m突起部36の突起高
さを高くなるようにする。これは、外部から金属突起部
36への電気的接触をより容易にするためである。
第2図は、この発明の一実滴例であるICカードの構造
を示す断面図である。
図において、可撓性のカード50の表側に凹部52が形
成されている。第1図の半導体装置が、可撓性有機絶縁
フィルム30の表側表面30aをカード50の表側表面
50aに一致するようにして凹部52に実装されている
。第1図の半導体装置はその表側表面が可撓性有機絶縁
フィルム30と封止樹脂41とで平坦化されているため
、この半導体装置をカード50に実装したとき、半導体
装置の表側表面をカード50の表側表面50aと同一平
面に仕上げることが可能となる。このため、半導体装置
の表側表面およびカード50の表側表面50aにオーバ
コート膜を形成する必要がなく、その分生導体装置の総
厚を厚くでき半導体装置の製造がより容易となる。また
、回路配線32が可撓性有機絶縁フィルム30の裏側表
面30bに形成されて半導体装置の内部にあるので、回
路配線32は外から見えない。なお、この実施例におい
て、封止樹脂を半導体素子1の裏側表面1bにも形成し
、半導体素子1全体を樹脂封止するようにしてもよい。
第3図は、この発明の他の実施例であるICカードの構
造を示す断面図である。
図において、パッケージ基板301の開口部31下に容
器7が配g1されており、この容器7の端部はパッケー
ジ基板301に接着剤8で接着されている。容器7に半
導体素子1が収納されている。
容器7をパッケージ基板301に接着後開口部31、容
器7内に封止樹脂42が充填され、封止樹脂42で半導
体素子1全体、などが封止されている。カード50の表
側に凹部53が形成されている。この凹部53に、容器
7とともに、半導体素子1と突起電極2どパッケージ基
板301と封止樹脂42とから構成される半導体v41
itが実装されている。この方法によると、半導体装置
の外形を揃えるために極めて便利である。
なお、上記実施例では、半導体装置をカードに実装した
ICカードについて示したが、この発明は、ICカード
以外の、半導体装置を薄型可撓性基板に実装するような
他の電子Satにも適用することができる。
[発明の効果] 以上のようにこの発明によれば、可撓性絶縁フィルムの
裏側表面に回路配線を形成し、第1開口部下で可撓性絶
縁フィルムの裏側表面側に半導体素子を配置し、可撓性
絶縁フィルムの表側表面を薄型可撓性基板の表側表面に
一致するようにしているので、第1開口部の封止樹脂表
面を平坦化しかつこの封止樹脂表面を可撓性絶縁フィル
ムの表側表面に一致させることができ、電子装置の表側
表面を平坦化することができる。また、回路配線は可撓
性絶縁フィルムの裏側表面に形成されて半導体装置の内
部にあるので、回路配線は外から見えない。また、可撓
性絶縁フィルムに外部電極の一部が露出するように第2
開口部を形成することによって、外部電極に外部から電
気的に接触できる。また、電子装置の表側表面が平坦化
されているためオーバコート膜を形成する必要がなく、
その分生導体装置の総厚を厚くでき半導体装置の製造が
より容易になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の実施例であるICカードに用いら
れる半導体装置の構造を示)°断面図である。 第2図は、この発明の一実施例であるICカードの構造
を示す断面図である。 第3図は、この発明の他の実施例であるICカードの構
造を示す断面図である。 第4図は、従来のICカード用半導体IIの構造を示す
断面図である。 第5図は、従来のIcカードの構造を示す断面図である
。 図において、1は半導体素子、2は突起電橋、30は可
撓性有機絶縁フィルム、31は開口部、32は回路配線
、33は外部電極、34はリード端子、35は開口部、
36は金属突起部、301はパッケージ基板、41.4
2は封止樹脂、50はカード、52.53は凹部、7は
容器、8は接着剤である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体素子と、 前記半導体素子の表側表面に形成される電極と、可撓性
    絶縁フィルムと、 前記可撓性絶縁フィルムの裏側表面に形成される、回路
    配線および該回路配線の一方端に電気的に接続される外
    部電極と、 前記可撓性絶縁フィルムには第1開口部が形成されてお
    り、 前記回路配線の他方端に電気的に接続され、前記第1開
    口部に張り出したリード端子を備え、前記可撓性絶縁フ
    ィルムには前記外部電極の一部を露出するように第2開
    口部が形成されており、前記可撓性絶縁フィルムと、前
    記回路配線と、前記外部電極と、前記リード端子とはパ
    ッケージ基板を構成し、 前記第1開口部下で前記可撓性絶縁フィルムの前記裏側
    表面側に前記半導体素子が配置されて、前記リード端子
    は前記電極に電気的・機械的に接続されており、 前記半導体素子の一部または全体、前記電極、前記リー
    ド端子、前記回路配線の一部および前記第1開口部を封
    止する封止樹脂を備え、 前記半導体素子と、前記電極と、前記パッケージ基板と
    、前記封止樹脂とは半導体装置を構成し、薄型可撓性基
    板を備え、 前記薄型可撓性基板の表側には凹部が形成されており、 前記半導体装置は、前記可撓性絶縁フィルムの表側表面
    を前記薄型可撓性基板の表側表面に一致するようにして
    前記凹部に実装されている電子装置。
  2. (2)さらに、前記第2開口部に前記外部電極に電気的
    に接続される金属膜を備えた特許請求の範囲第1項記載
    の電子装置。
  3. (3)さらに、容器を備え、 前記容器は前記第1開口部下に配置されて該容器の端部
    が前記パッケージ基板に接着され、前記半導体素子は前
    記容器に収納されており、前記封止樹脂は前記半導体素
    子と前記容器との隙間に充填されている特許請求の範囲
    第1項または第2項記載の電子装置。
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