JPS6386052A - メモリ診断方式 - Google Patents
メモリ診断方式Info
- Publication number
- JPS6386052A JPS6386052A JP61232321A JP23232186A JPS6386052A JP S6386052 A JPS6386052 A JP S6386052A JP 61232321 A JP61232321 A JP 61232321A JP 23232186 A JP23232186 A JP 23232186A JP S6386052 A JPS6386052 A JP S6386052A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diagnostic
- diagnosis
- data
- memory
- ram
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 101100325756 Arabidopsis thaliana BAM5 gene Proteins 0.000 description 2
- 101150046378 RAM1 gene Proteins 0.000 description 2
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- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
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- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業−1−の利用分野)
本発明は動作後のメモリの障害を診断するメモリ診断1
1式に関する。
1式に関する。
(従来の技術)
一般に、磁気ディスク装置などの入出力機器において、
データバッファあるいは制御用バッファとしてRAMが
用いられている。このRA Mの障害検出h゛式にはパ
リティ一方式が用いられている。
データバッファあるいは制御用バッファとしてRAMが
用いられている。このRA Mの障害検出h゛式にはパ
リティ一方式が用いられている。
また、入出力機器の電源投入直後などのイニシャライズ
期間に、RAMに特定のパターンデータを書き込み、さ
らにこのパターンデータをRA Mから読み出してデー
タの比較を行なうRAMの初期診断方式が知られている
。
期間に、RAMに特定のパターンデータを書き込み、さ
らにこのパターンデータをRA Mから読み出してデー
タの比較を行なうRAMの初期診断方式が知られている
。
従来の小規模のRAMの場合RAMチップの実装上、冗
長分としてのパリティ一部分を省略し、その代わりにR
AMの障害検出を初期診断時に行なうことによりRAM
の障害に備えていた。
長分としてのパリティ一部分を省略し、その代わりにR
AMの障害検出を初期診断時に行なうことによりRAM
の障害に備えていた。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、初期診断後に、データバッファあるいは
制御用バッファとして用いているRAMにビット抜けや
ビット過多などの障害が初期診断後に発生した場合、初
期診断後にはRAMの障害診断をおこなわないためその
障害を知ることができない。このため貴重なディスクの
データやメインメモリのデータを破壊し、計算機システ
ムの運用に大きな打撃を与えるという問題があった。
制御用バッファとして用いているRAMにビット抜けや
ビット過多などの障害が初期診断後に発生した場合、初
期診断後にはRAMの障害診断をおこなわないためその
障害を知ることができない。このため貴重なディスクの
データやメインメモリのデータを破壊し、計算機システ
ムの運用に大きな打撃を与えるという問題があった。
本発明は上記事情を考慮してなされたもので、動作後の
メモリの障害を診断するメモリ診断方式を提供すること
を目的とする。
メモリの障害を診断するメモリ診断方式を提供すること
を目的とする。
(問題点を解決するための手段)
上記目的は診断すべきメモリの診断アドレスを指定する
診断アドレスカウンタと、前記メモリの前記診断アドレ
スのカレントデータをセーブするセーブレジスタと、こ
のカレントデータに基づいて診断パターンを生成する診
断パターン生成手段と、この診断パターンを前記メモリ
の診断アドレスに書込む書込手段と、この書込手段によ
り書込まれた前記メモリの前記診断アドレスの記憶内容
を前記診断パターンと比較する比較手段とを備え、この
比較手段の比較結果により前記メモリの障害を診断する
ことを特徴とするメモリ診断方式により達成される。
診断アドレスカウンタと、前記メモリの前記診断アドレ
スのカレントデータをセーブするセーブレジスタと、こ
のカレントデータに基づいて診断パターンを生成する診
断パターン生成手段と、この診断パターンを前記メモリ
の診断アドレスに書込む書込手段と、この書込手段によ
り書込まれた前記メモリの前記診断アドレスの記憶内容
を前記診断パターンと比較する比較手段とを備え、この
比較手段の比較結果により前記メモリの障害を診断する
ことを特徴とするメモリ診断方式により達成される。
(作 用)
動作後のメモリの診断アドレスのカレントデータをセー
ブしておき、このカレントデータを基に診断パターンを
作成し、この診断パターンをメモリに書込む、この書込
まれたメモリの記憶内容と比較し、その比較結果により
メモリの故障を診断する。
ブしておき、このカレントデータを基に診断パターンを
作成し、この診断パターンをメモリに書込む、この書込
まれたメモリの記憶内容と比較し、その比較結果により
メモリの故障を診断する。
(実施例)
本発明の一実施例によるメモリ診断方式を第1図に示す
。本実施例で診断されるRAM1は磁気ディスク装置に
おけるデータバッファとして用いられるものとする。障
害診断が行なわれるRAM1に対して、診断時以外の通
常時RAM1のアドレスを指定するアドレスカウンタ2
と、RAMIの診断時の診断アドレスを指定する診断ア
ドレスカウンタ5とが設けられている◎セーブレジスタ
6はRAMIの診断アドレスに現在格納されているカレ
ントータをセーブするレジスタである。
。本実施例で診断されるRAM1は磁気ディスク装置に
おけるデータバッファとして用いられるものとする。障
害診断が行なわれるRAM1に対して、診断時以外の通
常時RAM1のアドレスを指定するアドレスカウンタ2
と、RAMIの診断時の診断アドレスを指定する診断ア
ドレスカウンタ5とが設けられている◎セーブレジスタ
6はRAMIの診断アドレスに現在格納されているカレ
ントータをセーブするレジスタである。
セーブレジスタ6のセーブデータをもとに診断パターン
生成部7は診断パターンを生成する。すなわち、診断パ
ターン生成部7は、診断アドレスカウンタ5により変化
する診断カウンタ10の値により、セーブレジスタ6の
セーブデータをモディファイして診断パターンを生成す
る。
生成部7は診断パターンを生成する。すなわち、診断パ
ターン生成部7は、診断アドレスカウンタ5により変化
する診断カウンタ10の値により、セーブレジスタ6の
セーブデータをモディファイして診断パターンを生成す
る。
診断パターン生成部7で生成した診断パターンは診断パ
ターンレジスタ8に格納される。この診断パターンは診
断アドレスカウンタ5が指定する診断アドレスのRAM
1に書込まれる。比較部9は診断パターンレジスタ8の
診断ソースデータとRAMIから読み出された診断アド
レスのデータとを比較する。比較結果はフリップフロッ
プ11に格納される。不一致なら診断エラーと判断され
る。
ターンレジスタ8に格納される。この診断パターンは診
断アドレスカウンタ5が指定する診断アドレスのRAM
1に書込まれる。比較部9は診断パターンレジスタ8の
診断ソースデータとRAMIから読み出された診断アド
レスのデータとを比較する。比較結果はフリップフロッ
プ11に格納される。不一致なら診断エラーと判断され
る。
次に動作を説明する。
ホストコンピュータおよび磁気ディスクドライブ側への
アクセス体重の期間(アイドル状態)にRAM1の診断
をおこなう。まず診断アドレスカウンタ5の任意のアド
レスのRAMIのカレントデータをセーブレジスタ6に
セーブする。このカレントデータと、例えば診断アドレ
スカウンタ5のキャリイによってカウントアツプする診
断カウンタ10の出力とを診断パターン生成部7により
演算(例えば排他的論理和)を行ない診断データを生成
する。この診断パターンは診断パターンレジスタ8に一
部セットしておき、診断アドレスカウンタうで指定する
アドレスのRAM1に診断パターンレジスタ8にセット
しておいた診断データを書き込む。書き込み終了後、同
一のアドレスのRAMIからデータを読み出し、診断パ
ターンレジスタ8のソースデータと一致するかを比較部
9で比較を行なう。比較の結果、診断パターンと書き込
み後読み出したRAM1のデータが一致すれば正常であ
ると判断し、セーブレジスタ6にセーブしておいたカレ
ントデータを診断アドレスカウンタ5で示すRAM1の
同一アドレスに再書き込みを行なう。
アクセス体重の期間(アイドル状態)にRAM1の診断
をおこなう。まず診断アドレスカウンタ5の任意のアド
レスのRAMIのカレントデータをセーブレジスタ6に
セーブする。このカレントデータと、例えば診断アドレ
スカウンタ5のキャリイによってカウントアツプする診
断カウンタ10の出力とを診断パターン生成部7により
演算(例えば排他的論理和)を行ない診断データを生成
する。この診断パターンは診断パターンレジスタ8に一
部セットしておき、診断アドレスカウンタうで指定する
アドレスのRAM1に診断パターンレジスタ8にセット
しておいた診断データを書き込む。書き込み終了後、同
一のアドレスのRAMIからデータを読み出し、診断パ
ターンレジスタ8のソースデータと一致するかを比較部
9で比較を行なう。比較の結果、診断パターンと書き込
み後読み出したRAM1のデータが一致すれば正常であ
ると判断し、セーブレジスタ6にセーブしておいたカレ
ントデータを診断アドレスカウンタ5で示すRAM1の
同一アドレスに再書き込みを行なう。
ここで、再書き込みしたカレントデータがRAM1に正
しく格納されたかを、再度RAMIの同一アドレスから
データを読み出し、セーブレジスタ6にセーブしておい
たデータとを比較部9で再度比較を行ない、一致した場
合、診断アドレスカラクン5の診断アドレスをカウント
アツプし、診断の1サイクルを終了する。診断のサイク
ル終了毎に本来の休止期に戻り、ホストコンビュニタあ
るいは磁気ディスクドライブ側とのアクセス要件がなけ
れば、外部からのカウントアツプ信号で診断アドレスカ
ウンタ5をカウントアツプし、前述のRAM診断サイク
ルを続行する。
しく格納されたかを、再度RAMIの同一アドレスから
データを読み出し、セーブレジスタ6にセーブしておい
たデータとを比較部9で再度比較を行ない、一致した場
合、診断アドレスカラクン5の診断アドレスをカウント
アツプし、診断の1サイクルを終了する。診断のサイク
ル終了毎に本来の休止期に戻り、ホストコンビュニタあ
るいは磁気ディスクドライブ側とのアクセス要件がなけ
れば、外部からのカウントアツプ信号で診断アドレスカ
ウンタ5をカウントアツプし、前述のRAM診断サイク
ルを続行する。
、−/−j、診断データあるいはカレントデータの再書
き込み後、RAM読み出しデータとの比較で一致がとれ
ない場合、異常であると判断しフリップフロップ11を
セットし、診断および正規のアクセスを停止卜する。こ
の時、診断エラーのLED(図示せず)あるいはホスト
コンピュータ側へのエラーライン(図示せず)を通じて
異常を表示し、以降のアクセスを停止1.シて、データ
の保護に努めるようにする。
き込み後、RAM読み出しデータとの比較で一致がとれ
ない場合、異常であると判断しフリップフロップ11を
セットし、診断および正規のアクセスを停止卜する。こ
の時、診断エラーのLED(図示せず)あるいはホスト
コンピュータ側へのエラーライン(図示せず)を通じて
異常を表示し、以降のアクセスを停止1.シて、データ
の保護に努めるようにする。
なお、本実施例における各レジスタカウンタおよび演算
ブロック(診断パターン生成部、比較部)はマイコンチ
ップの内蔵レジスタおよび演算機能を活用でき、実現が
容易である。
ブロック(診断パターン生成部、比較部)はマイコンチ
ップの内蔵レジスタおよび演算機能を活用でき、実現が
容易である。
磁気ディスク装置においては、現在運用中のデータの信
頼性が必要な他、既に蓄積されているデータの保護も重
要であり、本実施例によればアクセスの休止期間を活用
して、自己診断を行ない、異常アクセスを事前に停止す
ることができ、既製データの保護をおこなうことができ
る。また一般に、カレントデータは各種ステップにおい
て、バッファリング手段が期待でき、既製データの保護
がより効果大である。
頼性が必要な他、既に蓄積されているデータの保護も重
要であり、本実施例によればアクセスの休止期間を活用
して、自己診断を行ない、異常アクセスを事前に停止す
ることができ、既製データの保護をおこなうことができ
る。また一般に、カレントデータは各種ステップにおい
て、バッファリング手段が期待でき、既製データの保護
がより効果大である。
本発明は1−記実流側に限らず種々の変形が可能である
。例えば、1−紀実流側は磁気ディスク装置について述
べてきたが、他のファイル系入出力装置および通信関係
のネットワーク機器にも本発明のメモリ診断方式を適用
することができる。
。例えば、1−紀実流側は磁気ディスク装置について述
べてきたが、他のファイル系入出力装置および通信関係
のネットワーク機器にも本発明のメモリ診断方式を適用
することができる。
以上の通り本発明によれば動作後のメモリ休止期間中に
、メモリの故障診断をおこなうことができる。
、メモリの故障診断をおこなうことができる。
第1図は本発明の一実施例によるメモリ診断h゛式を示
すブロック図である。 1・・・RAM、2・・・アドレスカウンタ、5・・・
診断アドレスカウンタ、6・・・セーブレジスタ、7・
・・診断パターン生成部、8・・・診断パターンレジス
タ、9・・・比較部、10・・・診断カウンタ、11・
・・フリップフロップ。 出願人代理人 佐 藤 −雄 121面の浄S住1容に変更なし) 第1図 手続?+I]正書(方式) 昭和62年2月17日 14ム1庁長官 黒田明kJi殿 1.11件の表示 4、代理人 昭和62年1月7日 (発送日 昭和62年1 月27日) 図面を別紙の通り浄書する(内容に変更なし)。
すブロック図である。 1・・・RAM、2・・・アドレスカウンタ、5・・・
診断アドレスカウンタ、6・・・セーブレジスタ、7・
・・診断パターン生成部、8・・・診断パターンレジス
タ、9・・・比較部、10・・・診断カウンタ、11・
・・フリップフロップ。 出願人代理人 佐 藤 −雄 121面の浄S住1容に変更なし) 第1図 手続?+I]正書(方式) 昭和62年2月17日 14ム1庁長官 黒田明kJi殿 1.11件の表示 4、代理人 昭和62年1月7日 (発送日 昭和62年1 月27日) 図面を別紙の通り浄書する(内容に変更なし)。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 診断すべきメモリの診断アドレスを指定する診断アドレ
スカウンタと、 前記メモリの前記診断アドレスのカレントデータをセー
ブするセーブレジスタと、 このカレントデータに基づいて診断パターンを生成する
診断パターン生成手段と、 この診断パターンを前記メモリの診断アドレスに書込む
書込手段と、 この書込手段により書込まれた前記メモリの前記診断ア
ドレスの記憶内容を前記診断パターンと比較する比較手
段とを備え、 この比較手段の比較結果により前記メモリの障害を診断
することを特徴とするメモリ診断方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61232321A JPS6386052A (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | メモリ診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61232321A JPS6386052A (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | メモリ診断方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6386052A true JPS6386052A (ja) | 1988-04-16 |
Family
ID=16937366
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61232321A Pending JPS6386052A (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | メモリ診断方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6386052A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02253323A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-12 | Nec Corp | 磁気ディスク制御装置 |
JP2002244934A (ja) * | 2001-02-19 | 2002-08-30 | Toyo Commun Equip Co Ltd | メモリ監視装置および方法 |
JP2006331086A (ja) * | 2005-05-26 | 2006-12-07 | Nsk Ltd | メモリ診断方法及びその機能を具備した電動パワーステアリング装置 |
JP2011175661A (ja) * | 2011-04-12 | 2011-09-08 | Nsk Ltd | 電動パワーステアリング装置の制御装置 |
-
1986
- 1986-09-30 JP JP61232321A patent/JPS6386052A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02253323A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-12 | Nec Corp | 磁気ディスク制御装置 |
JP2002244934A (ja) * | 2001-02-19 | 2002-08-30 | Toyo Commun Equip Co Ltd | メモリ監視装置および方法 |
JP2006331086A (ja) * | 2005-05-26 | 2006-12-07 | Nsk Ltd | メモリ診断方法及びその機能を具備した電動パワーステアリング装置 |
JP2011175661A (ja) * | 2011-04-12 | 2011-09-08 | Nsk Ltd | 電動パワーステアリング装置の制御装置 |
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