JPS636774A - 薄膜el素子の製造方法 - Google Patents
薄膜el素子の製造方法Info
- Publication number
- JPS636774A JPS636774A JP61149032A JP14903286A JPS636774A JP S636774 A JPS636774 A JP S636774A JP 61149032 A JP61149032 A JP 61149032A JP 14903286 A JP14903286 A JP 14903286A JP S636774 A JPS636774 A JP S636774A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- zinc
- rare earth
- terbium
- target
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 26
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 24
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 claims description 39
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 31
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 31
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 30
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims description 30
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 25
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 15
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- BHHYHSUAOQUXJK-UHFFFAOYSA-L zinc fluoride Chemical group F[Zn]F BHHYHSUAOQUXJK-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 10
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical compound S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910001117 Tb alloy Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910000037 hydrogen sulfide Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910001297 Zn alloy Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000005083 Zinc sulfide Substances 0.000 description 33
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 description 33
- DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N zinc;sulfide Chemical compound [S-2].[Zn+2] DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 33
- GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N terbium atom Chemical compound [Tb] GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 29
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 28
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 14
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 13
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 11
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 5
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- NFODKZOKWBFONG-UHFFFAOYSA-N terbium zinc Chemical compound [Zn].[Tb] NFODKZOKWBFONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 3
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052775 Thulium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N samarium atom Chemical compound [Sm] KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001217 Terbium Chemical class 0.000 description 1
- RHRDDXDVLTVUTC-UHFFFAOYSA-N [F].[Tb] Chemical compound [F].[Tb] RHRDDXDVLTVUTC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 210000000845 cartilage Anatomy 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 1
- QJUXBIVLOGRZSQ-OQMMLGNJSA-N eliq Chemical compound OC1=CC=C2[C@H]3CC[C@](C)([C@H](CC4)O)[C@@H]4[C@@H]3CCC2=C1.C([C@]12[C@H]3C[C@H]3[C@H]3[C@H]4[C@@H]([C@]5(CCC(=O)C=C5[C@@H]5C[C@@H]54)C)CC[C@@]31C)CC(=O)O2 QJUXBIVLOGRZSQ-OQMMLGNJSA-N 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 229910000041 hydrogen chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N hydrogen chloride Substances Cl.Cl IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- FRNOGLGSGLTDKL-UHFFFAOYSA-N thulium atom Chemical compound [Tm] FRNOGLGSGLTDKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 tildonium Chemical compound 0.000 description 1
- LKNRQYTYDPPUOX-UHFFFAOYSA-K trifluoroterbium Chemical compound F[Tb](F)F LKNRQYTYDPPUOX-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- AKJVMGQSGCSQBU-UHFFFAOYSA-N zinc azanidylidenezinc Chemical compound [Zn++].[N-]=[Zn].[N-]=[Zn] AKJVMGQSGCSQBU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔N要〕
薄膜EL素子の製造方法の改良であり、Q膜EL素子の
発光効率・輝度特性を向上する改良である。
発光効率・輝度特性を向上する改良である。
1+J材をなす硫化亜鉛中に発光中心として添加される
為土類元素とハロゲン元素との組成比を制御することに
より、硫化亜鉛を母材とし希土類元素のハロゲン化物を
発光中心とする薄膜EL素子の発光効率・輝度を制御し
うる、という新たに発見された性質を利用して、希土類
元素とハロゲン元素との組成比を化学量論的組成比より
前記希土類元素の組成比を大きく11発光効率・Ili
度特性を向上するviIl’ff E L素子を製造す
る方法の改良であり、希土類元素と亜鉛との組成物例え
ば合金よりなるターゲットと、ハロゲン元素の亜鉛化物
よりなるターゲットとを使用し、硫化水素を含むスパッ
タガス中においてなすスパッタ法を使用して、希土類元
素とハロゲン元素との組成比がお−むねlであるEL膜
を形成することを特徴とするh1MEL素子の製造方法
である。
為土類元素とハロゲン元素との組成比を制御することに
より、硫化亜鉛を母材とし希土類元素のハロゲン化物を
発光中心とする薄膜EL素子の発光効率・輝度を制御し
うる、という新たに発見された性質を利用して、希土類
元素とハロゲン元素との組成比を化学量論的組成比より
前記希土類元素の組成比を大きく11発光効率・Ili
度特性を向上するviIl’ff E L素子を製造す
る方法の改良であり、希土類元素と亜鉛との組成物例え
ば合金よりなるターゲットと、ハロゲン元素の亜鉛化物
よりなるターゲットとを使用し、硫化水素を含むスパッ
タガス中においてなすスパッタ法を使用して、希土類元
素とハロゲン元素との組成比がお−むねlであるEL膜
を形成することを特徴とするh1MEL素子の製造方法
である。
本発明は、薄11iEL素子の発光効率・輝度を向上す
ることを可能にする薄1g!EL素子の製造方法の改良
に関する。特に、希土類元素とハロゲン元素との組成比
を化学量論的組成比に比し希土類元素の組成比を大きく
し、発光効率・輝度特性を向上する薄pl!JEL素子
の製造方法の改良である。
ることを可能にする薄1g!EL素子の製造方法の改良
に関する。特に、希土類元素とハロゲン元素との組成比
を化学量論的組成比に比し希土類元素の組成比を大きく
し、発光効率・輝度特性を向上する薄pl!JEL素子
の製造方法の改良である。
更に、薄膜EL素子の発光効率・輝度を実現可能な大き
さの範囲で所望の値に選択しうるようになす6I膜EL
素子の製造方法の改良に関する。
さの範囲で所望の値に選択しうるようになす6I膜EL
素子の製造方法の改良に関する。
薄115!EL素子は発光中心として機能する希土類元
素例えばテルビュウム、サマリュウム、ツリュウム、プ
ラセオジュウム等とハロゲン元素例えばフッ素、kIX
素等とを含有する硫化亜鉛等のけい光体の多結晶薄膜に
電界を印加し、エレクトロルミネッセンス現象にもとづ
いて発光させる発光素子であり、従来第2図に示すよう
な直流駆動型と第3図に示すような交流駆仙型とが知ら
れている。
素例えばテルビュウム、サマリュウム、ツリュウム、プ
ラセオジュウム等とハロゲン元素例えばフッ素、kIX
素等とを含有する硫化亜鉛等のけい光体の多結晶薄膜に
電界を印加し、エレクトロルミネッセンス現象にもとづ
いて発光させる発光素子であり、従来第2図に示すよう
な直流駆動型と第3図に示すような交流駆仙型とが知ら
れている。
第2図参照
直流駆動型の薄膜EL素子にあっては。
ガラス基板等1上に、ITO等よりなり厚さが約2,0
00人の透明it極2が形成され、その上に発光中心と
して機能する希土類元素例えばテルビュウムとハロゲン
元素例えばフッ素とを含有する硫化亜鉛等よりなるEL
[4が形成され、さらに、その上にアルミニュウム等よ
りなる対向電極6が形成されている。
00人の透明it極2が形成され、その上に発光中心と
して機能する希土類元素例えばテルビュウムとハロゲン
元素例えばフッ素とを含有する硫化亜鉛等よりなるEL
[4が形成され、さらに、その上にアルミニュウム等よ
りなる対向電極6が形成されている。
第3図参照
交流駆動型の61膜EL素子にあっては、上記の第2図
に示す層構成に加えて、EL膜4を挟んで酸窒化シリコ
ン、酸化アルミニュウム、酸化イットリュウム等よりな
り厚さが約 2.000人の第1の絶縁l113と第2
の絶縁膜5とが形成されている。
に示す層構成に加えて、EL膜4を挟んで酸窒化シリコ
ン、酸化アルミニュウム、酸化イットリュウム等よりな
り厚さが約 2.000人の第1の絶縁l113と第2
の絶縁膜5とが形成されている。
ところで1発光中心として機能する希土類元素のうち、
テルビュウムは緑色を、サマリュウムは赤色を、ツリュ
ウムは青色を、プラセオジュウムは白色を、それぞれ発
光するが、その発光効率・輝度は、テルビュウムを除き
、いづれも満足すべきものではない、最もすぐれている
テルビュウムにおいても、発光効率は0.1〜0.2ル
ーメン/Wであり、また、輝度は30フートランパート
であり、いづれも十分満足すべきものとは言い難く、し
かも、再現性が悪い。
テルビュウムは緑色を、サマリュウムは赤色を、ツリュ
ウムは青色を、プラセオジュウムは白色を、それぞれ発
光するが、その発光効率・輝度は、テルビュウムを除き
、いづれも満足すべきものではない、最もすぐれている
テルビュウムにおいても、発光効率は0.1〜0.2ル
ーメン/Wであり、また、輝度は30フートランパート
であり、いづれも十分満足すべきものとは言い難く、し
かも、再現性が悪い。
この問題を解決する手段として、本発明の発明者は、E
IFIに含まれる希土類元素とハロゲン元素との組成比
と発光効率Φ輝度との間に相関関係があり、希土類元素
の原子数とハロゲン元素の原子数とが同一の場合、最も
すぐれた発光効率等輝度を実現することができ、EL脱
膜中含有される希土類元素とハロゲン元素との組成比を
少なくとも化学量論的組成比に比べて希土類元素の組成
比を大きくしておくことが有効であることを発見して、
発光効率・輝度のすぐれた薄膜EL素子の発明を完成し
た。
IFIに含まれる希土類元素とハロゲン元素との組成比
と発光効率Φ輝度との間に相関関係があり、希土類元素
の原子数とハロゲン元素の原子数とが同一の場合、最も
すぐれた発光効率等輝度を実現することができ、EL脱
膜中含有される希土類元素とハロゲン元素との組成比を
少なくとも化学量論的組成比に比べて希土類元素の組成
比を大きくしておくことが有効であることを発見して、
発光効率・輝度のすぐれた薄膜EL素子の発明を完成し
た。
上記せる発明に係る薄115!EL素子を製造する一方
法として、亜鉛と硫黄と希土類元素とI\ロゲン元素と
を所望の混合比に含有する複合ターゲットを使用してな
すスパッタ法を使用しうる。
法として、亜鉛と硫黄と希土類元素とI\ロゲン元素と
を所望の混合比に含有する複合ターゲットを使用してな
すスパッタ法を使用しうる。
例えば、硫化亜鉛とテルビュウムとニフッ化亜鉛とを
100: 3 : l ff1ffl比に含有する複合
ターゲットを使用してなすスパッタ法を使用しうる。
100: 3 : l ff1ffl比に含有する複合
ターゲットを使用してなすスパッタ法を使用しうる。
この製造方法をもっても、希土類元素と/%ロゲン元素
との組成比が同一ですぐれた発光効率・輝度特性を有す
る薄膜EL素子の製造は可能であるが、h記せる複合タ
ーゲット(亜鉛と硫黄と希土類元素とハロゲン元素とを
所望の混合比に有する複合ターゲット)を製造すること
は煩雑であり。
との組成比が同一ですぐれた発光効率・輝度特性を有す
る薄膜EL素子の製造は可能であるが、h記せる複合タ
ーゲット(亜鉛と硫黄と希土類元素とハロゲン元素とを
所望の混合比に有する複合ターゲット)を製造すること
は煩雑であり。
また、容易でもないうえ、硫化亜鉛のスパッタレートと
希土類元素のスパッタレートとハロゲン元素のスパッタ
レートとが大幅に相違するため。
希土類元素のスパッタレートとハロゲン元素のスパッタ
レートとが大幅に相違するため。
ELIIiに含まれる硫化亜鉛、希土類元素、ハロゲン
元素の組成比が厚さ方向に不均一になり、要すれば十分
な厚さのEL[を再現性よく製造することが容易でなく
1発光効率−輝度が予期したほど向上しない場合もある
という欠点がある。
元素の組成比が厚さ方向に不均一になり、要すれば十分
な厚さのEL[を再現性よく製造することが容易でなく
1発光効率−輝度が予期したほど向上しない場合もある
という欠点がある。
本発明はこれらの欠点を解消するものであり。
その目的は、特殊のソースを使用することが必要ではな
く、希土類元素とハロゲン元素との組成比が極めて1に
近くなり、その結果、発光効率・輝度特性が向上し、し
かも、十分な厚さく駆動電圧を十分大きくすれば輝度を
極めて大きくするに十分な厚さ)のELIIiを製造す
ることができる61膜EL素子の製造方法を提供するこ
とにある。
く、希土類元素とハロゲン元素との組成比が極めて1に
近くなり、その結果、発光効率・輝度特性が向上し、し
かも、十分な厚さく駆動電圧を十分大きくすれば輝度を
極めて大きくするに十分な厚さ)のELIIiを製造す
ることができる61膜EL素子の製造方法を提供するこ
とにある。
上記の目的を達成するために本発明が採った手段は、希
土類元素と亜鉛との組成物例えば合金よりなるターゲッ
トと、ハロゲン元素の亜鉛化物よりなるターゲットとを
使用し、硫化水素を含むスパッタガス中においてなすス
パッタリング法を使用してEL膜を形成することにある
。
土類元素と亜鉛との組成物例えば合金よりなるターゲッ
トと、ハロゲン元素の亜鉛化物よりなるターゲットとを
使用し、硫化水素を含むスパッタガス中においてなすス
パッタリング法を使用してEL膜を形成することにある
。
本発明は、EL膜4が上下の絶縁膜3.5によって挟ま
れていない直流駆動型の薄膜EL素子にも、また、EL
膜4が上下の絶縁1IQ3.5によって挟まれている交
流駆動型の薄膜EL素子にも実現可能である。
れていない直流駆動型の薄膜EL素子にも、また、EL
膜4が上下の絶縁1IQ3.5によって挟まれている交
流駆動型の薄膜EL素子にも実現可能である。
ターゲットとして使用される希土類元素と亜鉛との組成
物例えば合金としては、テルビュウムと亜鉛との合金が
適当であり、また、ハロゲン元素の亜鉛化物としてはニ
フッ化亜鉛が適当である。
物例えば合金としては、テルビュウムと亜鉛との合金が
適当であり、また、ハロゲン元素の亜鉛化物としてはニ
フッ化亜鉛が適当である。
本発明の基本的思想は、硫化亜鉛を母材とし、希土類元
素とハロゲン元素とが発光中心として添加されてなるE
L膜に含まれる希土類元素とハロゲン元素との組成比を
titにすることにある。
素とハロゲン元素とが発光中心として添加されてなるE
L膜に含まれる希土類元素とハロゲン元素との組成比を
titにすることにある。
ところで、硫化亜鉛を母材とし、希土類元素とハロゲン
元素とを発光中心とするEL膜を形成するには、硫化亜
鉛と希土類元素のハロゲン化物をソースとして使用する
ことが最も現実的である。
元素とを発光中心とするEL膜を形成するには、硫化亜
鉛と希土類元素のハロゲン化物をソースとして使用する
ことが最も現実的である。
ところが、希土類元素とハロゲン元素との化合物は、例
えば三フフ化テルビュウムのように、その組成比がl:
lではない、そのため、このようなソースを使用して形
成されるELIQは、I\ロゲン元素を多量に含有しが
ちである。そこで、#J土類元素の添加量を増大するこ
とを目的として、上記せるように1例えば、硫化亜鉛と
チルどニウムと二フッ化亜鉛とを 100: 3 :
1重績比に含有する複合ターゲットを使用してなすスパ
ッタ法を使用していたが、上記せる種々な欠点を避は難
かった。
えば三フフ化テルビュウムのように、その組成比がl:
lではない、そのため、このようなソースを使用して形
成されるELIQは、I\ロゲン元素を多量に含有しが
ちである。そこで、#J土類元素の添加量を増大するこ
とを目的として、上記せるように1例えば、硫化亜鉛と
チルどニウムと二フッ化亜鉛とを 100: 3 :
1重績比に含有する複合ターゲットを使用してなすスパ
ッタ法を使用していたが、上記せる種々な欠点を避は難
かった。
このような欠点をともなわずに、希土類元素の添加量を
増大するため、未発IJIにおいては、希土類元素例え
ばテルビュウムと亜鉛との組成物例えば合金よりなるタ
ーゲットとハロゲン元素例えばフッ素の亜鉛化物よりな
るターゲットとを使用し、硫化水素を含むスパッタガス
中において反応性スパッタリングをなしてELMを形成
することとしたものである。
増大するため、未発IJIにおいては、希土類元素例え
ばテルビュウムと亜鉛との組成物例えば合金よりなるタ
ーゲットとハロゲン元素例えばフッ素の亜鉛化物よりな
るターゲットとを使用し、硫化水素を含むスパッタガス
中において反応性スパッタリングをなしてELMを形成
することとしたものである。
希土類元素例えばテルビュウムと亜鉛との合金よりなる
ターゲットは、硫化水素中においてアルゴン等でスパッ
タされると、その表面が殆ど硫化されて、希土類元素例
えばテルビュウムを含有する硫化亜鉛に転換される。こ
の硫化亜鉛に転換されたターゲットがスパッタされるの
で、基板に堆積される物質は希土類元素例えばテルビュ
ウムを含有する硫化亜鉛となる。また、ハロゲン元素例
えばフッ素の亜鉛化物よりなるターゲットはそのま−ス
パッタされ、これらが結合して、結果的に、希土類元素
例えばテルビュウムとハロゲン元素例えばフッ素とが含
まれた硫化亜鉛が堆積されることになる。そして、希土
類元素例えばテルビュウムの濃度は希土類元素例えばテ
ルビュウムと亜鉛との合金よりなるターゲットの組成を
もって制御することができ、ハロゲン元素例えばフッ素
の濃度は、ハロゲン元素例えばフッ素の亜鉛化物よりな
るターゲットの組成と印加電圧すなわち堆積レート(希
土類元素例えばテルビュウムと亜鉛との合金よりなるタ
ーゲットの組成との関連において決定される印加電圧す
なわち堆積レート)をもって制御することができる。
ターゲットは、硫化水素中においてアルゴン等でスパッ
タされると、その表面が殆ど硫化されて、希土類元素例
えばテルビュウムを含有する硫化亜鉛に転換される。こ
の硫化亜鉛に転換されたターゲットがスパッタされるの
で、基板に堆積される物質は希土類元素例えばテルビュ
ウムを含有する硫化亜鉛となる。また、ハロゲン元素例
えばフッ素の亜鉛化物よりなるターゲットはそのま−ス
パッタされ、これらが結合して、結果的に、希土類元素
例えばテルビュウムとハロゲン元素例えばフッ素とが含
まれた硫化亜鉛が堆積されることになる。そして、希土
類元素例えばテルビュウムの濃度は希土類元素例えばテ
ルビュウムと亜鉛との合金よりなるターゲットの組成を
もって制御することができ、ハロゲン元素例えばフッ素
の濃度は、ハロゲン元素例えばフッ素の亜鉛化物よりな
るターゲットの組成と印加電圧すなわち堆積レート(希
土類元素例えばテルビュウムと亜鉛との合金よりなるタ
ーゲットの組成との関連において決定される印加電圧す
なわち堆積レート)をもって制御することができる。
そのため、希土類元素とハロゲン元素との組成比は、容
易に、再現性よく、極めてlに近く制御することができ
る。
易に、再現性よく、極めてlに近く制御することができ
る。
実験の結果によれば、2at%にテルビュウムを含む亜
鉛の合金ターゲットとニフフ化亜鉛の焼結ターゲットと
を使用し、硫化水素を20%含むアルゴンガス中でスパ
ッタをなす場合、合金ターゲットにIKW印加し2ニフ
ツ化亜鉛の焼結ターゲットに200W印加した場合、硫
化亜鉛中に含まれるテルビュウムとフッ素との組成比は
お−むねlとなることが確認されている。
鉛の合金ターゲットとニフフ化亜鉛の焼結ターゲットと
を使用し、硫化水素を20%含むアルゴンガス中でスパ
ッタをなす場合、合金ターゲットにIKW印加し2ニフ
ツ化亜鉛の焼結ターゲットに200W印加した場合、硫
化亜鉛中に含まれるテルビュウムとフッ素との組成比は
お−むねlとなることが確認されている。
この場合、#14度(発光しきいイ1電圧を30vIt
fl過する電圧に対応する輝度)対電圧特性は第4図に
示すように、従来技術の507−トランバートに比し、
本発明においては200フートランバートである。なお
、Aは本発明の結果を示し、Bは従来技術の結果を示す
。
fl過する電圧に対応する輝度)対電圧特性は第4図に
示すように、従来技術の507−トランバートに比し、
本発明においては200フートランバートである。なお
、Aは本発明の結果を示し、Bは従来技術の結果を示す
。
以下1図面を参照しつ−、本発明の二つの実施例に係る
薄膜EL素子の製造方法についてさらに説明する。
薄膜EL素子の製造方法についてさらに説明する。
匙±1
2at%にテルビュウムを含む亜鉛・テルビュウム合金
のターゲットと、ニフフ化亜鉛の焼結ターゲットとを使
用し、硫化水素を20%含むアルゴンガスをスパッタガ
スとしてなす反応性スパッタ法を使用して、交流駆動型
薄膜EL素子を製造する方法について述べる。
のターゲットと、ニフフ化亜鉛の焼結ターゲットとを使
用し、硫化水素を20%含むアルゴンガスをスパッタガ
スとしてなす反応性スパッタ法を使用して、交流駆動型
薄膜EL素子を製造する方法について述べる。
第1a図参照
スパッタ法を使用して、ガラス基板1上に厚さ約 2,
000人のITO膜よりなる透光性電極2と酸化アルミ
ニュウムよりなり厚さ約2,000人の第1の絶縁v3
とを形成する。
000人のITO膜よりなる透光性電極2と酸化アルミ
ニュウムよりなり厚さ約2,000人の第1の絶縁v3
とを形成する。
つづいて、上記の反応性スパッタ法を使用して、厚さ約
s、ooo人の硫化亜鉛膜を形成する。このとき、合金
ターゲットにはIKWを、また焼結ターゲットには20
QWを印加する。
s、ooo人の硫化亜鉛膜を形成する。このとき、合金
ターゲットにはIKWを、また焼結ターゲットには20
QWを印加する。
上記せるように、亜鉛・テルビュウム合金ターゲットの
表面は硫化されてテルビュウムを2at%含む硫化亜鉛
ターゲットに転換される。′このテルビュウムを2at
%含む硫化亜鉛がターゲットとして機能するから、この
テルビュウムを2at%含む硫化亜鉛が基板上に堆積す
る。さらに、焼結ターゲットの二フフ化亜鉛も・同時に
堆積するが、この焼結ターゲットには200W印加され
ているので、実験の結果を上記したように、基板上に形
成される硫化亜鉛中にはテルビュウムとフッ素とが等量
含有されることになる。
表面は硫化されてテルビュウムを2at%含む硫化亜鉛
ターゲットに転換される。′このテルビュウムを2at
%含む硫化亜鉛がターゲットとして機能するから、この
テルビュウムを2at%含む硫化亜鉛が基板上に堆積す
る。さらに、焼結ターゲットの二フフ化亜鉛も・同時に
堆積するが、この焼結ターゲットには200W印加され
ているので、実験の結果を上記したように、基板上に形
成される硫化亜鉛中にはテルビュウムとフッ素とが等量
含有されることになる。
その後、約450℃において約1時間熱処理をなしEL
膜4を形成する。
膜4を形成する。
次に、電子ビーム蒸着法を使用して、酸化イットリュウ
ムよりなりHさが約2,000人の第2の絶縁膜5を形
成し、さらに、′A層着法たはスバ7り法を使用してア
ルミニュウムよりなる対向電極(#¥而主電極6を形成
する。
ムよりなりHさが約2,000人の第2の絶縁膜5を形
成し、さらに、′A層着法たはスバ7り法を使用してア
ルミニュウムよりなる対向電極(#¥而主電極6を形成
する。
以上の工程をもって製造した薄膜EL素子のEL膜4は
、テルビュウムとフッ素の組成比がお\むねl:1に近
くされており、しかも、硫化亜鉛とテルビュウム・フッ
素の組成比は 100:2であるので1発光効率・輝度
(発光しきい値電圧を30vIfi過する電圧に対応す
る輝度)は、それぞれ、lルーメン/W、 200フー
トランバートであり、従来技術に比し約4倍に向上して
いる。
、テルビュウムとフッ素の組成比がお\むねl:1に近
くされており、しかも、硫化亜鉛とテルビュウム・フッ
素の組成比は 100:2であるので1発光効率・輝度
(発光しきい値電圧を30vIfi過する電圧に対応す
る輝度)は、それぞれ、lルーメン/W、 200フー
トランバートであり、従来技術に比し約4倍に向上して
いる。
L」
2at%にテルビュウムを含む亜鉛・テルビュウム合金
のターゲットと、二フフ化亜鉛の焼結ターゲットとを使
用し、F&化水素を20%含むアルゴンガスをスパッタ
ガスとしてなす反応性スパッタ法を使用して、直流駆動
型薄膜EL素子を製造する方法について述べる。
のターゲットと、二フフ化亜鉛の焼結ターゲットとを使
用し、F&化水素を20%含むアルゴンガスをスパッタ
ガスとしてなす反応性スパッタ法を使用して、直流駆動
型薄膜EL素子を製造する方法について述べる。
第tb図参照
上記と同様にして、スパッタ法を使用して。
ガラス基板l上に厚さ約2,000人のI T]12よ
りなる透光性電極2を形成する。
りなる透光性電極2を形成する。
つづいて、上記と同゛様にして、上記の反応性スパッタ
法を使用して、厚さ約8,000人の硫化亜鉛膜を形成
する。このとき、合金ターゲットにはIKWを、また焼
結ターゲットには200Wを印加する。
法を使用して、厚さ約8,000人の硫化亜鉛膜を形成
する。このとき、合金ターゲットにはIKWを、また焼
結ターゲットには200Wを印加する。
上記せるように、亜鉛・テルビュウム合金ターゲットの
表面は硫化されてテルビュウムを2at%含む硫化亜鉛
ターゲットに転換される。
表面は硫化されてテルビュウムを2at%含む硫化亜鉛
ターゲットに転換される。
このテルビュウムを2at%含む硫化亜鉛がターゲット
として機能するから、このテルビュウムを2at%含む
硫化亜鉛が基板上に堆積する。さらに、焼結ターゲット
の二7フ化亜鉛も回持に堆積するが、この焼結ターゲッ
トには200W印加されているので、実験の結果を上記
したように、基板上に形成される硫化亜鉛中にはテルビ
ュウムとフッ素とが等量含有されることになる。
として機能するから、このテルビュウムを2at%含む
硫化亜鉛が基板上に堆積する。さらに、焼結ターゲット
の二7フ化亜鉛も回持に堆積するが、この焼結ターゲッ
トには200W印加されているので、実験の結果を上記
したように、基板上に形成される硫化亜鉛中にはテルビ
ュウムとフッ素とが等量含有されることになる。
その後、約450℃において約1時間熱処理をなしEL
膜4を形成する。
膜4を形成する。
さらに、薄着法またはスパッタ法を使用してアルミニュ
ウムよりなる対面室8i(背面電極)6を形成する。
ウムよりなる対面室8i(背面電極)6を形成する。
以上の工程をもって製造した薄膜EL素子のELl19
4は、テルビュウムとフッ素の組成比がお−むね1:1
に近くされており、しかも、硫化亜鉛とテルビュウム・
フッ素の組成比は 100:2であるので、発光効率・
輝度(発光しきいイめ電圧を20V超過する電圧に対応
する輝度)は、それぞれ、 0.3ルーメン/W、 8
00フートランバートであり、従来技術に比し約3倍に
向上している。
4は、テルビュウムとフッ素の組成比がお−むね1:1
に近くされており、しかも、硫化亜鉛とテルビュウム・
フッ素の組成比は 100:2であるので、発光効率・
輝度(発光しきいイめ電圧を20V超過する電圧に対応
する輝度)は、それぞれ、 0.3ルーメン/W、 8
00フートランバートであり、従来技術に比し約3倍に
向上している。
以上説明せるとおり、本発明に係る薄膜EL素子の製造
方法においては、希土類元素と亜鉛との組成物例えば合
金よりなるターゲットと、ハロゲン元素の亜鉛化物より
なるターゲットとを使用し、硫化水素を含むスパッタガ
ス中においてなすスパッタリング法を使用してEL膜を
形成することとされているので、希土類元素の原子数と
7\ロゲン元素の原子数とはお〜むね同一とされ、しか
も、硫化亜鉛の組成比も望ましい状態に保持され、すぐ
れた発光効率・輝度の薄膜EL素子を製造することがで
きる。更に、本発明に係る薄膜EL素子の製造方法によ
れば、EL膜の発光効率・輝度をある範囲で所望の値に
選択・制御しうるので1色彩画像を実現するために有効
である。
方法においては、希土類元素と亜鉛との組成物例えば合
金よりなるターゲットと、ハロゲン元素の亜鉛化物より
なるターゲットとを使用し、硫化水素を含むスパッタガ
ス中においてなすスパッタリング法を使用してEL膜を
形成することとされているので、希土類元素の原子数と
7\ロゲン元素の原子数とはお〜むね同一とされ、しか
も、硫化亜鉛の組成比も望ましい状態に保持され、すぐ
れた発光効率・輝度の薄膜EL素子を製造することがで
きる。更に、本発明に係る薄膜EL素子の製造方法によ
れば、EL膜の発光効率・輝度をある範囲で所望の値に
選択・制御しうるので1色彩画像を実現するために有効
である。
第1a図は1本発明の実施例に係る交流駆動型線11り
EL素子の構造図である。 第ib図は、本発明の実施例に係る直流駆動望薄1膜E
L素子の構造図である。 第2図は、従来技術に係る直流駆動型線11!2EL素
子の構造図である。 第3図は、従来技術に係る交流駆動型薄膜EL素子の構
造図である。 第4図は、本発明の一実施例に係る薄膜EL素子の製造
方法を実施して製造した交流駆動型薄膜EL素子の輝度
対電圧関係を従来技術の輝度(発光しきい値電圧を30
V超過する電圧に対応する輝度)対電圧関係とを比較し
て表すグラフである。 l・・・透光性基板(ガラス基板)。 2・す・透光性電極(ITO電極)。 3・Φ・第1の絶縁膜(酸化窒化シリコン、酸化アルミ
ニュウム、酸化イットリュウム)、40争、・ELM(
硫化亜鉛と希土類元素とハロゲン元素との組成物)、 5・争・第2の絶縁膜(酸化窒化シリコン、酸化アルミ
ニュウム、m化イットリュウム)、6争−・対向電極(
fY而主電極。 −41\、 代理人 弁理士 井桁貞−2,1゜ 第 2 図 従来技術 第3図 従来技術 第1C図 本発明 第4図
EL素子の構造図である。 第ib図は、本発明の実施例に係る直流駆動望薄1膜E
L素子の構造図である。 第2図は、従来技術に係る直流駆動型線11!2EL素
子の構造図である。 第3図は、従来技術に係る交流駆動型薄膜EL素子の構
造図である。 第4図は、本発明の一実施例に係る薄膜EL素子の製造
方法を実施して製造した交流駆動型薄膜EL素子の輝度
対電圧関係を従来技術の輝度(発光しきい値電圧を30
V超過する電圧に対応する輝度)対電圧関係とを比較し
て表すグラフである。 l・・・透光性基板(ガラス基板)。 2・す・透光性電極(ITO電極)。 3・Φ・第1の絶縁膜(酸化窒化シリコン、酸化アルミ
ニュウム、酸化イットリュウム)、40争、・ELM(
硫化亜鉛と希土類元素とハロゲン元素との組成物)、 5・争・第2の絶縁膜(酸化窒化シリコン、酸化アルミ
ニュウム、m化イットリュウム)、6争−・対向電極(
fY而主電極。 −41\、 代理人 弁理士 井桁貞−2,1゜ 第 2 図 従来技術 第3図 従来技術 第1C図 本発明 第4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 [1]透光性基板(1)上に透光性電極(2)を形成し
、 該透光性電極(2)上に、EL膜(4)を形成し、 該EL膜(4)上に対向電極(6)を形成する薄膜EL
素子の製造方法において、 前記EL膜(4)は、希土類元素と亜鉛との組成物より
なるターゲットと、ハロゲン元素の亜鉛化物よりなるタ
ーゲットとを使用し、硫化水素を含むスパッタガス中に
おいてなすスパッタリング法を使用して形成することを
特徴とする薄膜EL素子の製造方法。 [2]前記EL膜(4)を挟んで第1の絶縁膜(3)と
第2の絶縁膜(5)とを形成する工程を有することを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の薄膜EL素子の製
造方法。 [3]前記希土類元素と亜鉛との組成物は、テルビュウ
ムと亜鉛との合金であり、前記ハロゲン元素の亜鉛化物
は二フッ化亜鉛であることを特徴とする特許請求の範囲
第1項または第2項記載の薄膜EL素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61149032A JPS636774A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | 薄膜el素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61149032A JPS636774A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | 薄膜el素子の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS636774A true JPS636774A (ja) | 1988-01-12 |
Family
ID=15466174
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61149032A Pending JPS636774A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | 薄膜el素子の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS636774A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5500103A (en) * | 1992-12-07 | 1996-03-19 | Fuji Electric Co., Ltd. | Method for preparing thin film electro-luminescence element |
US5668695A (en) * | 1995-03-03 | 1997-09-16 | International Business Machines Corp. | Portable computer utilizable by an over head projector and tilting mechanism thereof |
-
1986
- 1986-06-25 JP JP61149032A patent/JPS636774A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5500103A (en) * | 1992-12-07 | 1996-03-19 | Fuji Electric Co., Ltd. | Method for preparing thin film electro-luminescence element |
US5668695A (en) * | 1995-03-03 | 1997-09-16 | International Business Machines Corp. | Portable computer utilizable by an over head projector and tilting mechanism thereof |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS59146192A (ja) | El素子 | |
JPS636774A (ja) | 薄膜el素子の製造方法 | |
JPH0272592A (ja) | 薄膜el素子 | |
JPS63230869A (ja) | 薄膜el素子の製造方法 | |
JPS62140395A (ja) | 薄膜el素子の製造方法 | |
JPH077711B2 (ja) | 薄膜el素子の製造方法 | |
JPS636776A (ja) | 薄膜el素子の製造方法 | |
JPS62140394A (ja) | 薄膜el素子の製造方法 | |
JP2730931B2 (ja) | 薄膜el素子 | |
JPH10199675A (ja) | 薄膜el素子の製造方法 | |
JPS59143297A (ja) | 交流駆動薄膜電場発光素子 | |
JPS6276281A (ja) | 薄膜el素子の製造方法 | |
JP2828019B2 (ja) | エレクトロルミネッセンス素子およびその製造方法 | |
JPH0452566B2 (ja) | ||
JPS60172196A (ja) | エレクトロルミネセンス素子およびその製造法 | |
JPH0265094A (ja) | 薄膜el素子及びその製造方法 | |
JPH0395893A (ja) | 蛍光体薄膜の製造方法および薄膜el素子 | |
JP2572080B2 (ja) | 薄膜el素子及びその製造方法 | |
JPH0266872A (ja) | 白色発光薄膜el素子 | |
JPS6276282A (ja) | 薄膜el素子の製造方法 | |
JPS6381791A (ja) | 薄膜el素子の製造方法 | |
JPH04259791A (ja) | 薄膜elパネルの製造方法 | |
JPS636773A (ja) | 薄膜el素子の製造方法 | |
JPS63294694A (ja) | 薄膜el素子の製造方法 | |
JPH077710B2 (ja) | 薄膜el素子の製造方法 |