JPS63501757A - 電子的インタ−フエイス回路 - Google Patents

電子的インタ−フエイス回路

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JPS63501757A
JPS63501757A JP50637686A JP50637686A JPS63501757A JP S63501757 A JPS63501757 A JP S63501757A JP 50637686 A JP50637686 A JP 50637686A JP 50637686 A JP50637686 A JP 50637686A JP S63501757 A JPS63501757 A JP S63501757A
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circuit
transistor
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JP50637686A
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サウル,ピーター ヘンリィ
ジョイ,アンドリュー ケイス
イエーツ,デビッド ジュリアン
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プレツシ− オ−バ−シ−ズ リミテツド
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子的インターフェイス回路、特に互いに異なる電源レベルの間で動作 する電子装置の間を接続するためのインターフェイス回路に関するものである。
応用面では、例えば、土5vの差動電源レール間での動作が都合のよいディジタ ル/アナログ変換(DAC)がある。最近の微小ジオメトリ・プロセスによって 製造された電界効果トランジスタは一般に上下5v範囲内で動作するようになっ ている。したがって、5v〜Ov間で動作する論理回路と一5v〜Ov間で動作 するディジタル/アナログ変換回路の間でレベルシフトを行ない、システム内の トランジスタに5vのソースドレイン間電圧以上が掛からないようにするために 、インターフェイス回路が必要である。
また、CMOSプロセスはますますジオメトリの微小化と低破壊電圧化が進むの で、最大電圧3vのチップと5vデ/ぐイスのインターフェイスが必要になって ECL複合論理デバイスにおいては、例えば、論理信号レベルをシフトし、トラ ンジスタの飽和させないように信号をカスケード接続r−)に供給するためのレ ベルシフ)I%?成が考案されている。典型的な構成例では、論理信号はエミッ タフォロワのバイポーラトランジスタのベースに供給され、信号レベルはダイオ ード抵抗器レベルシフト回路網でシフトされる。しかし、このレベルシフト構成 は標準電源電圧レール間に接続され、トランジスタには過剰な負荷が掛からない 。
同様K、n−チャンネル、5vのCMOSソースフォロワ電界効果トランジスタ と抵抗器の組合せによシ、Ovと+5vの電源レール間で動作するレベルシフト 回路網f:′IpI成することが可能である。従来は、このトランジスタのp− ウェル分離構造を低電位のレール(Ov)に接続し、その周囲のn−基板材を高 電位のレール(5v)に接続していた。この構成では、p−ウェル/n−基板ダ イオードインターフェイスは常に逆バイアスになる。しかし、このような構成は 、差動電源の5v電源レールと一5v電源レールの間に接続された時には十分に 動作しないという問題がある。
発明の開示 本発明の目的は、互いに異なる電源レベルで動作する電子デバイス間の接続を可 能にする電子的インターフェイス回路の提供にある。
本発明によるインターフェイス回路は、第1および第2の電源電圧レールの間に 接続することによシ、中間電圧に相当する第3電源電圧レールと前記第2電源電 圧レールの間で動作可能な電子デバイスへの信号接続を可能にする電子的インタ ーフェイス回路であって、ソースおよびドレインとトランジスタ基板との間のソ ース、ドレイン近傍に分離ウェルを備え、デートを入力端子とするトランジスタ と、結合点を出力端子とするレベルシフト回路網を有し、トランジスタウェルお よび近傍のトランジスタ基板が一つの適切な電源レールに共通接続され、ソース 、ドレイン間の電流が禁止された時にウェルからレベルシフト回路網に電流が流 れるように構成される。
上記レベルシフト回路網に抵抗器分圧回路、あるいは、抵抗器および直列接続の 電流源を設けることが可能である。
上記電界効果トランジスタとしてCM OS、 NMO8゜ショットキMESF ET、JFETのいずれも使用可能である。OV%+5Vの電源レール間で動作 するデバイスと一5V%OVの電源レール間で動作するデバイスを結合するため の回路例では、n−チャンネル、p−ウェルの5ポル) CMOS型で、p−ウ ェルと基板がV電源レールに接続されたトランジスタを使用することも可能であ る。
図面の簡単な説明 第1図は本発明の実施例によるインターフェイス回路の構成図、 第2図は第1図の回路の変形としてのインターフェイス回路の構成図、 第3図はインターフェイス回路付きインバータ回路の構成図、 第4図は第3図の回路を集積回路化した状態を示す断面図、 第5図はディジタル/アナログ変換回路の入力インターフェイスを示すブロック 図、 第6図は5vと3vのCMOSデバイスを接続するため代替装置/インターフェ イス構成のブロック図で本発明の理解を深めるため、以下に添付図面を参照しな がら実施例を説明する。なお、下記説明は単なる例証としての記述である。
第1図にはインターフェイス回路1が示されておシ、この回路は、第1の電子装 置13(−電源〔図示せず〕の第ル−ルV 第2レール”DD間で動作する)と 第CC’ 2の電子装置5(上記電源の第2レールvDD1第3レールvss間で動作する )の間の接続を可能にする回路である。インターフェイス回路1は電界効果トラ ンジスタ7と直列接続式レベルシフト回路網9を備えておシ、第1電圧レールV 。0と第3電圧レールvs8の間に接続される。図の例ではトランジスタ7はn −チャンネル、p−ウェルの0MO8)ランジスタであって、p−ウェルとトラ ンジスタ基板が第3電圧レールvDDに接続される。この図ではp−ウェル/ソ ース接合はダイオード11で表されている。ドレインは、ここで最も高い正電圧 に相当する第1電圧レールV。0に接続され、レベルシフト回路網の末端は最も 低い負電圧に相当する第2電圧レールv8sに接続される。トランジスタ7のデ ー)I/Pは第1の電子装置3の出力に接続される。図のレベルシフト回路網9 は1対の抵抗器R工、R2で構成される。これら2個の抵抗器R1,R2の接続 点07 Pから取シ出される出力は第2の電子装置50入力端に供給される。こ の図において、Aはトランジスタ7の?−)への入力電圧、Bはトランジスタ7 のソース電圧、Cはレベルシフト回路網9から得られる出力電圧である。
以下の解析において、vo8はn−チャンネルのデートソース電圧、Vゆけトラ ンジスタ7のp−ウェル・n+ソソー間接合の頭方向バイアスダイオード電圧と する。
抵抗Rユe 82間の最適関係は下記のようになる。
まず、入力信号が論理Hの場合のインターフェイス回路1の動作を考察する。
出力電圧Cは中間レール電圧vDDを超えてはなIGH らないので、 0HIGH≦vDD 単純化して、vDDをゼロ接地レールとすると、CHIGH≦0 、’、 R,≧R2(VCCVGS )/ (VSS)−条件1次に、入力信号 が論理りの場合のインターフェイス回路1の動作を考察する(vDD=Ov)。
すなわち、CLOW=(RI VSS R2VBB)/(R1+R2)したがっ て、出力信号Cに含まれる論理振幅ΔCは下記のようにして得られる。
ΔC:CHI()H−CLOW したがって、最大振惺は抵抗器R工の最大値と対応し、条件1の範囲内である。
タタシ、R1(MIN) = R2(”Co VGS)/(VSS)とする。
回路網抵抗器の抵抗値R1tR2は、ノイズ・イミユニティが最大になるように 選択すればよい。上記インターフェイス回路1の後段にイン/々−夕が接続され る場合、しきい値vIrHは次の式からめることができる。
v′rH:T(0HIGH+0LOW)第2図はインターフェイス回路1の変形 を示すもので、レベルシフト回路網はR1と電流源13で構成され、2番目の抵 抗器R2が電流源で置換されている。
第3図および第4図には、インターフェイス付きのインバータ回路15が示され ている。この回路ではインターフェイス回路1は前記と同様のトランジスタT1 7に加えて、直列抵抗器R1,R2を備えている。このトランジスタTよのドレ インは第ル−ルV。。(+5v)に接続され、第2抵抗器R2の末端は第2レー ルv88(−5V)に接続される。インバータ回路15は1対の相補型トランジ スタ、すなわちp−チャンネルトランジスタT2とn−チャンネルトランジスタ T3で構成される。これら2個のトランジスタT2y T3のr−トはインター フェイス回路1の出力接合o/pに接続さ電源レールV (OV)と第2電源レ ールvss (−5V)D に接続される。
第4図は、この回路(第3図)をn型シリコン基板上に集積回路化した例を示し ている。トランジスタT0゜T、のソースおよびドレイン領域はn+ドーゾ材で 形成され、それぞれのp−ウェル構造21,23によってn−/n+基板19か ら分離される。n−/ n+基板19と第1トランジスタTlのp−ウェル21 には共通接続点が設けられ、そこに電源の第3レールvDD(Ov)が接続され る。第1トランジスタT1のソースはソースフォロアとして動作し、第4図のよ うに第2(負)電圧レール”ss (75V ”)に接続された1対の抵抗器R よ、R2に電流を供給する。これら抵抗器Rよs R2の接続点07Pからは後 段T2tT3への入力が供給される。これら抵抗器は図のようにポリシリコンで 形成するか、あるいはトランジスタ’r1. ’r3と同様にp−ウェル内で分 離されたn+ンソー/ドレイン・インブラント型とすることも可能である。なお 、p−ウェル23と第3トランジスタT3のソースは従来の装置と同様に、最も 低い負電圧レールである第2レールv88に接続される。また、隣接の基板19 は第6レール”ss (OV ”)に接続される。
この装置は次のように動作する。入力がHのとき、トランジスタT1が導通し、 Vos t” n−チャンネルのゲートソース電圧とすると、第1抵抗器R1の 上端は5 v−vGSまでゾルアップされる。抵抗器R1?R2は分圧器として 働き、出力電圧は次のようになる。
(10V VGS ) R2/(R1+R2) 5V一方、入力がLのときは、 第1トランジスタTlのソースの電位は−vBE1すなわちトランジスタTのp −ウェル・n“ソース間接合の順方向バイアスダイオード電圧まで低下し、この 電圧もまた分圧される。
適切に許容誤差を設定することによシ、デートチ2的な効果は、トランジスタT □t T2t ’r3のいずれにも過負荷を掛けずに信号をレベルシフトし得る ことである。
上記説明ではn−チャンネル、p−ウェルの装置について述べたが、この概念は p−チャンネル、n−ウェルの装置にも同様に適用可能でおる。
ディジタル/アナログ変換IC利用する場合は、負の出力電圧コンプライアンス になるように、論理および電流スイッチングをOvと一5vの間で行うことが望 ましい。これを第5図に示す。ディジタル/アナログ変換器31の各入力I/P (1)、・・・・・I/P(N)は、それぞれ対応のインターフェイス回路1の 出力0/Pに接続される。なお、単純化するため、これらインターフェイス回路 のうち、1個のみ図示されている。
また、例えは0〜3vで動作する回路を従来のOv〜5■のCMOS入力に適合 させるためのインターフェイスが必要な場合のように非常に微細な回路構造にも 、本発明を応用することができる。入力構成Tl。
R4t R2(第1図)または、電流源利用の等測的代替構成(第2図)を使用 すれば、装置の過負荷を避けるためのプロセス変更を行うことなく、インターフ ェイス回路が得られる。第6図はそのような応用例を示しておシ、インターフェ イス回路1が標準の0MO8装置33と低電圧0MO8装置35の間の接続機能 を果たしている。
本発明はディジタル設計に最適であるが、アナログ信号に対するインターフェイ ス機能も可能である。しかし、その場合はダイナミックレンジが著しく制限され る。
国際調査報告 CCT’S ITON INTERNATIONAL APPLICATION No、 E’CT/C B 86100730 (SA 15378)・−−―+−―・・―−−・++ +−−−−−・―+++−―― +・・−・―−・−・拳・・自・ ・+++噂 拳働−・+――eport

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.第1および第2の電源電圧レール(VCC,VSS)の間に接続されるイン ターフエイス回路であつて、中間電圧に相当する第3電源電圧レール(VDD) と前記第2電源電圧レール(VSS)の間で動作可能な電子デバイス(5;15 ;31;35)への信号接続を可能にする電子的インターフエイス回路(1)に おいて、ソース(s)およびドレイン(d)とトランジスタ基板との間のソース (s)、ドレイン(d)近傍に分離ウエル(21)を備え、ゲート(P/F)を 入力端子(I/P)とするトランジスタ(7)と、結合点を出力端子とするレベ ルシフト回路網(9)を有し、 トランジスタウエル(21)および近傍のトランジスタ基板(19)が一つの適 切な電源レール(例えばVDD)に共通接続され、ソース(s)、ドレイン(d )間の電流が禁止された時にウエル(21)からレべルシフト回路網(9)に電 流が流れる電子的インターフエイス回路(1)。
  2. 2.請求の範囲第1項において、レベルシフト回路網(9)に抵抗器分圧回路( R1,R2)が含まれる回路(第1図)。
  3. 3.請求の範囲第1項において、レベルシフト回路網(9)に抵抗器(R1)と 電流源(13)が含まれる回路(第2図)。
  4. 4.請求の範囲第1項〜第3項において、第1、第2、第3のレール(VCC, VSS,VDD)を正、負、中間電圧用レールとし、トランジスタ(7)がn− チヤンネル、p−ウエルのトランジスタ(第4図)であつて、p−ウエル(21 )および基板(19)が第3電圧レール(VDD)に共通接続される回路(第3 図、第4図)。
  5. 5.請求の範囲第4項において、トランジスタ(7)がn−チヤンネル、p−ウ エルのMOS電界效果トランジスタである回路(第4図)。
  6. 6.請求の範囲第1項〜第5項において、デイジタル/アナログ変換装置にイン ターフエイス(1)として使用される回路(第5図)。
  7. 7.複数の入力インターフエイス回路を備え、その各人カインターフエイス回路 が請求の範囲第1項記載の回路(1)であるデイジタル/アナログ変換装置(第 5図)。
  8. 8.請求の範囲第1項〜第3項において、異種ジオメトリのCMOSプローセス で製造されたCMOSデバイス(33,35)間のインターフエイス(1)とし て使用される回路(第6図)。
  9. 9.請求の範囲第8項において、CMOS装置(33,35)がそれぞれ5Vと 5Vのプロセスジオメトリによるもので、0V、5V間と0V、3V間にそれぞ れ接続される回路。
JP50637686A 1985-12-04 1986-12-01 電子的インタ−フエイス回路 Pending JPS63501757A (ja)

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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5132564A (en) * 1990-07-27 1992-07-21 North American Philips Corp. Bus driver circuit with low on-chip dissipation and/or pre-biasing of output terminal during live insertion
US5172016A (en) * 1991-06-28 1992-12-15 Digital Equipment Corporation Five-volt tolerant differential receiver
US6404231B1 (en) * 1999-02-16 2002-06-11 Ericsson Inc. Method and apparatus for electrically coupling digital devices
DE60118412T2 (de) * 2000-09-27 2006-11-09 Koninklijke Philips Electronics N.V. Digital-analog-wandler

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL267386A (ja) * 1960-07-22
DE2524001A1 (de) * 1975-05-30 1976-12-02 Licentia Gmbh Integrierte schaltungsanordnung mit mos-transistoren
US4450369A (en) * 1981-05-07 1984-05-22 Schuermeyer Fritz L Dynamic MESFET logic with voltage level shift circuit
US4490632A (en) * 1981-11-23 1984-12-25 Texas Instruments Incorporated Noninverting amplifier circuit for one propagation delay complex logic gates

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