JPS6334958A - 半導体装置のパツケ−ジ - Google Patents

半導体装置のパツケ−ジ

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Publication number
JPS6334958A
JPS6334958A JP61179685A JP17968586A JPS6334958A JP S6334958 A JPS6334958 A JP S6334958A JP 61179685 A JP61179685 A JP 61179685A JP 17968586 A JP17968586 A JP 17968586A JP S6334958 A JPS6334958 A JP S6334958A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
substrate
sealing glass
cap
package
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61179685A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Okuda
高 奥田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP61179685A priority Critical patent/JPS6334958A/ja
Publication of JPS6334958A publication Critical patent/JPS6334958A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16152Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置のパッケージ、特にチップを収納す
るパッケージの構造に関する。
〔従来の技術〕
従来の半導体装置はメモリ、ゲートアレイ、マイクロ・
コンピュータなどのように機能が専用化されていた。し
かしながら最近では回路シュミレーション技術、微細加
工技術、プロセス技術などの発達による高密度化ととも
に機能の複合化が展開てれている。たとえば画揮用メモ
リやメモリ管理ユニット付マイクロ会コンビエータなど
の機能付メモリがある。特にメモリ管理ユニット付マイ
クロ・コンピュータにおいては入出力ビンと電源ビンの
総ビン数が70ピン以上を有するので、そのパッケージ
はセラミック封止型のピン・グリッド・アレイケース(
以下PGAケースという。)を用いている。
第3図は上記のような従来のパッケージの例?示す。同
図において基板21とキャップ28とが封止ガラス26
によって接合されてチップ22’に封入している。テッ
プ22の入出力はワイヤ24および基板21の内部を経
てピン25に通じている(図示していない。)。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながらこのような機能付チップは通常メモリセル
を有するので、α線等の放射線による誤動作、いわゆる
ソフトエラーに対する技術的対策が必要である。すなわ
ち基板21とキャップ28との接合に使用する封止ガラ
ス26に含まれる鉛やジルコンがα線を放出してソフト
エラーが引き起こされるという欠点がある。
64にビットのスタテイ、り型メモリをもつ機能付メモ
リの場合、α線放出量が0001□・hのとき信頼度1
0Fit程度で十分に信頼度は高い状態である。しかし
ながら上述のPGAケースの場合には封止カラスのα線
放出量は2α/cx −h程度であり、信頼度目標50
Fitをはるかに超えて10.000〜20.000 
Fi tになυ、もはや実用化は困難である。
そして、封止ガラスの低α線化は現在の製造技術におい
ては2 a/cn+・h以下の実現は成されていない。
上述した従来のPGAケースでは、主たるα線放出材料
である封止ガラス26から放出されたα線がチップ22
の表面に入射されるが、本発明はチップ表面に入射され
ず、しかも封止時にキャップ28の位置決めが容易に行
われる構造を有する。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明のパッケージは、半導体集積回路のチップを取付
ける基板と前記基板に接合して前記チップを封入するキ
ャップとを有する半導体装置のパッケージにおいて、前
記キャップが接合する前記基板の接合部に凹部を具備し
、前記基板と前記キャップとを接合する封止材が放出す
る放射線が前記チップを照射することを防止するように
して構成される。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第一の実施例を示す断面図である。同
図においてチップ収納基板11はセラミックから形成さ
れており、中央部にチップ12を収納している。チップ
12はステッチ(見えない。)とワイヤ14で接続され
てビン15に導通している。封止ガラス16は基板11
の凹部17に埋め込まれるように形成されるので、放出
されるα線はチップ12の表面に入射することを防止で
きる。
第2図は本発明の第2の実施例を示す断1図でおる。基
板11aの周辺部に設けた凹部17aの形状は溝形折回
であり、キャップ18aとの位置合せ精度を高めるよう
にしている。この場合も封止ガラス16aが放出するα
線がチップ12aに入射することを防止できる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明はセラビック基板の周辺部に
凹部を設け、それに封止ガラス分埋め込むことによって
、封止ガラスが放出したα線がチップに入射することな
く、したがって信頼度10Fit程展の半導体集積回路
装置を実現できるという効果がめる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第一の実施例を示すvfrIXI図、
第2図は第二の実施例を示す断面図、第3図は従来例を
示す断面図である。 11・・・・・・基板、12・・・・・・チップ、14
・・・・・・ワイヤ、15・・・・・・ビン、16・・
・・・・封止ガラス、17・・・・・・凹部、18・・
・・・・キャップ。 代理人 弁理士  内 原   音 第 l 図 ff−−一淋釈 12−°−伊ツフ゛ 14−−− ワイヤ I5−m−ビン /乙−j十止ガ〜う又 17− 凹部 /3・−キギッフ゛ 第 21!l 第 3 回

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体集積回路のチップを取付ける基板と前記基板に接
    合して前記チップを封入するキャップとを有する半導体
    装置のパッケージにおいて、前記キャップが接合する前
    記基板の接合部に凹部を具備し、前記基板と前記キャッ
    プとを接合する封止材が放出する放射線が前記チップを
    照射することを防止したことを特徴とする半導体装置の
    パッケージ。
JP61179685A 1986-07-29 1986-07-29 半導体装置のパツケ−ジ Pending JPS6334958A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61179685A JPS6334958A (ja) 1986-07-29 1986-07-29 半導体装置のパツケ−ジ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61179685A JPS6334958A (ja) 1986-07-29 1986-07-29 半導体装置のパツケ−ジ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6334958A true JPS6334958A (ja) 1988-02-15

Family

ID=16070079

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61179685A Pending JPS6334958A (ja) 1986-07-29 1986-07-29 半導体装置のパツケ−ジ

Country Status (1)

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JP (1) JPS6334958A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0396045U (ja) * 1990-01-23 1991-10-01
JP2016069265A (ja) * 2014-09-29 2016-05-09 日本碍子株式会社 筐体を構成するセラミックス製のパッケージ部材とセラミックス製の蓋部材とを接合するための接合方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0396045U (ja) * 1990-01-23 1991-10-01
JP2016069265A (ja) * 2014-09-29 2016-05-09 日本碍子株式会社 筐体を構成するセラミックス製のパッケージ部材とセラミックス製の蓋部材とを接合するための接合方法

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