JPS63280341A - シフトパス故障診断装置 - Google Patents

シフトパス故障診断装置

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JPS63280341A
JPS63280341A JP62116259A JP11625987A JPS63280341A JP S63280341 A JPS63280341 A JP S63280341A JP 62116259 A JP62116259 A JP 62116259A JP 11625987 A JP11625987 A JP 11625987A JP S63280341 A JPS63280341 A JP S63280341A
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JP
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shift
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circuit
output
signal
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Akira Jitsupou
実宝 昭
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 1丘且1 本発明はシフトパス故障診断方式に関し、特に情報処理
装置におけるシフトパスの故障時の診断に関する。
従来技術 従来、情報処理装置においては、ハードウェア障害時の
保守交換単位(FIELD REPLACEABLE 
UNIT)複数個を縦続的に接続してシフトパスを構成
させていた。そのため、このシフトパスに障害が発生す
ると複数の保守交換単位を交換しなければならず、この
シフトパスの平均修復時間(MEAN TIMETo 
REPAIR)が大きくなるという欠点があった。
この欠点を補うための方法としては、装置を初期状態に
しておき、障害を生じた保守交換単位を含むシフトパス
のシフトレジスタ機能を用いてそのシフトパスのデータ
を出力させ、このデータと装置の初期状態のデータとを
比較することにより障害を生じた保、守交換単位を指摘
する方法がある。
しかしながら、このシフトレジスタ機能を用いて初期状
態の設定が行われる装置においては、シフトパスを構成
する保守交換単位に障害が発生すると、シフトパスのシ
フトレジスタ機能を用いての初期状態の設定を行えなく
なり、複数の保守交換単位を交換しなければならず、こ
のシフトパスの平均修復時間が大きくなるという欠点が
あった。
また、予め記憶された初期状態を示すデータと、シフト
レジスタ機能の使用により全ビットが出力されたデータ
とを比較しなければならないので、障害を生じた保守交
換単位を指摘するのに時間がかかるという欠点があった
発明の目的 本発明は上記のような従来のものの欠点を除去すべくな
されたもので、障害を生じた保守交換単位の指摘を容易
に行うことができ、システムダウン時の故障修復時間を
短くして平均修復時間を短縮することができるシフトパ
ス故障診断方式の提供を目的とする。
発明の構成 本発明によるシフトパス故障診断方式は、複数の記憶素
子が縦続的に接続されて構成された保守交換単位として
のシフトレジスタを複数個縦続的に接続することにより
構成されたシフトパスの故障診断方式であって、前記シ
フトレジスタの各々に対応して設けられ、対応するシフ
トレジスタの入力信号及び出力信号を択一的に導出して
次段回路の入力とする複数の切替手段を有し、この切替
手段の1つを制御して対応するシフトレジスタの入力信
号を次段回路の入力とすることによりこのシフトレジス
タをバイパスさせて故障診断を行うようにしたことを特
徴とする。
実施例 次に、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。図において、本発明の一実施例による情報処理装置
は、シフトレジスタ1〜3と、シフトモード指定回路4
と、シフトイン入力制御回路5と、シフトレジスタ指定
回路6と、デコーダ7.17と、クロック供給回路8と
、セレクタ9〜11と、シフトアウト出力制御回路12
と、保守診断装置13と、シフトバッファ14と、入出
力制御回路15と、入出力接続回路16とにより構成さ
れている。
シフトレジスタ1〜3は夫々記憶素子1−1〜1−ρ、
 2−1〜2−m、 3−1〜3−nが縦続的に接続さ
れて構成されている。また、シフトレジスタ1〜3は夫
々縦続的に接続されて1つのシフトパスを構成するとと
もに、シフトレジスタ1〜3各々はこの情報処理装置の
保守交換単位に対応している。
シフトレジスタ1〜3各々にはシフトモード指定回路4
からのシフトモード信号102が入力されてシフトモー
ドが指定される。クロック供給回路8からのクロック信
号124は、シフトレジスタ指定回路6からの制御信号
123によりデコーダ7で各シフトレジスタ1〜3に夫
々分配される。すなわち、デコーダ7ではシフトレジス
タ指定回路6からの制御信号123によって指定される
シフトレジスタ1〜3に夫々クロック信号103〜10
5を供給する。
シフトレジスタ1のシフトイン端子にはシフトイン入力
制御回路5からシフトイン入力101が入力されている
。また、シフトレジスタ1〜3のシフトアウト端子名々
からのシフトアウト出力106゜108、110は夫々
セレクタ9〜11に入力される。
セレクタ9にはシフトイン入力制御回路5からのシフト
イン入力101とシフトレジスタ1からのシフトアウト
出力106とが入力され、デコーダ17からのセレクタ
切替信号120によりシフ1〜イン人力101とシフト
アウト出力106とを切替えてシフトイン信号107と
してシフトレジスタ2とセレクタ10とに出力する。
セレクタ10にはセレクタ9からのシフトイン信@10
7とシフトレジスタ2からのシフトアウト信号108と
が入力され、デコーダ17からのセレクタ切替信号12
1によりシフトイン信号107とシフトアウト出力10
8とを切替えてシフトイン信号109としてシフトレジ
スタ3とセレクタ11とに出力する。
セレクタ11にはセレクタ10からのシフトイン信号1
09とシフトレジスタ3からのシフトアウト信号110
とが入力され、デコーダ17からのセレクタ切替信号1
22によりシフトイン信号109とシフトアウト出力1
10とを切替えてシフトアウト信号111としてシフト
アウト出力制御回路12に出力する。
シフトアウト出力制御回路12はセレクタ11からのシ
フトアウト信号111のチェックを行い、シフトアウト
信号113をシフトバッファ14に書込むとともに、チ
ェック結果をエラー報告信号112として保守診断装置
13に出力する。
保守診断装置13はシフトアウト出力制御回路12から
のエラー報告信号112によりシフトレジスタ1〜3の
障害の発生を知り、制御信号116を入出力制御回路1
5に出力する。また、保守診断装置13はデータバス1
14,115を介してシフトバッファ14に対してデー
タの書込み読出しを行う。
入出力制御回路15は保守診断装置13からの制御信号
116に応じてシフトモード指定回路4とシフトイン入
力制御回路5とシフトレジスタ指定回路6と入出力接続
回路16とに制御信号118を出力する。この制御信号
118の入力によりシフトモード指定回路4はシフトレ
ジスタ1〜3に対してシフトモードを指定し、シフトイ
ン入力制御回路5はシフトレジスタ1へのシフトイン入
力を制御し、シフトレジスタ指定回路6はクロックを供
給すべきシフトレジスタ1〜3を指定し、入出力接続回
路16はデコーダ17に接続指示信号119を出力して
デコーダ17からのセレクタ切替信号120〜122に
よりセレクタ9〜11の切替動作を制御する。
次に、第1図を用いて本発明の一実施例の動作について
説明する。
まず、シフトレジスタ1〜3各々の記憶素子1−1〜1
 −J)、 2−1〜2−m、 3−1〜3−nに障害
がない場合に、シフトレジスタ1〜3により構成される
シフトパスからその内容を取出してシフトバッファ14
に格納する手順について説明する。
シフトレジスタ指定回路6で所望のシフトレジスタ1〜
3を選択して指定し、シフトモード指定回路4でシフト
モードを“1nにセットし、クロック供給回路8からデ
コーダ7を介してシフトレジスタ1〜3夫々にクロック
信号103〜1o5を供給することにより、シフトレジ
スタ1〜3で構成されるシフトパスにシフト動作を行わ
せる。
このシフト動作によりシフトパスの内容をシフトアウト
出力制御回路12を介してシフトバッファ14に格納す
る。このとき、シフトレジスタ1のシフトイン端子には
シフトイン入力制御回路5からの110 ITが入力さ
れる。
さらに、入出力制御回路15は入出力接続回路16とデ
コーダ17とを介してセレクタ9〜11にセレクタ切替
信号120〜122を出力し、セレクタ9〜11夫々が
シフトレジスタ1〜3夫々のシフトアウト端子からのシ
フトアウト出力106.108゜110を選択するよう
に制御を行う。
シフトレジスタ1〜3夫々の全記憶素子1−1〜1 −
fl、 2−1〜2−m、 3−1〜3−nの数だけク
ロックが供給されると、上述の動作により全記憶素子1
−1〜1−fl、2−1〜2−m、3−1〜3−nの内
容がシフトバッファ14に転送される。
このとき、シフトレジスタ1〜3夫々の全記憶素子1−
1〜1−ρ、 2−1〜2−m、 3−1〜3−nには
シフトイン入力制御回路5からの“0”が格納されてい
るはずである。これをチェックするために、さらにクロ
ックを1回だけシフトレジスタ1〜3に供給し、このク
ロックの供給によりシフトパスかへ出力されるビットが
“0”であることをシフトアウト出力制御回路12でチ
ェックする。
このシフトパスから出力されるビットが“1”である場
合には、シフトレジスタ1〜3のある記憶素子が“1”
に固定されるようなモードの障害になっていると判断さ
れ、これによりいわゆる°“1”スタック故障を検出す
ることができる。
シフトアウト出力制御回路12でのチェックによりシフ
トレジスタ1〜3が正常であると判断されると、さらに
クロックを1回だけシフトレジスタ1〜3に供給すると
ともに、シフトレジスタ1のシフトイン端子から1′′
を入力する。これにより、シフトレジスタ1ではシフト
イン端子側の記憶素子1−1が1ビツトだけ“1″で、
他の記憶i子1−2〜1−ρの内容はすべて“O”とな
る。
この記憶素子1−1に格納された“1″をラストデイジ
ツトと呼び、上述のような手順でシフトパスの内容をシ
フトバッファ14に転送する動作をスキャンアウト動作
と呼ぶ。
次に、このスキャンアウト動作によりシフトバッファ1
4に格納された内容をシフトレジスタ1〜3に転送する
手順について説明する。
シフトレジスタ指定回路6で所望のシフトレジスタ1〜
3を選択して指定し、シフトモード指定回路4でシフト
モードを“°1″にセットし、クロック供給回路8から
デコーダ7を介してシフトレジスタ1〜3夫々にりOツ
ク信号103〜105を供給することにより、シフトレ
ジスタ1〜3で構成されるシフトパスにシフト動作を行
わせる。このとき、シフトイン入力制御回路5からシフ
トレジスタ1のシフトイン端子に入力されるデータはシ
フトバッファ14に格納されていたデータであり、この
シフトイン端子にはシフトイン入力制御回路5を介して
1ビツトずつシフトバッファ14の内容が転送されるこ
ととなる。
シフトレジスタ1〜3の全記憶素子1−1〜1−L2−
1〜2−m、3−1〜3−nの数だけクロックが供給さ
れると、これによりシフトパスからR後に出力された1
ビツトのデータが″“1”であるか“0″であるかをシ
フトアウト出力制御回路12でチェックする。
このシフトパスから出力されるピッートが“0”である
場合には、シフトレジスタ1〜3のある記憶素子が“°
O”に固定されるようなモードの障害になっていると判
断され、これによりいわゆる“O”スタック故障を検出
することができる。
シフトレジスタ1〜3に障害がないときには、予めスキ
11ンアウト動作時にシフトイン入力したラストディジ
ットの゛1パがシフトパスから出力される。この上述の
動作をスキャンイン動作と呼ぶ。
上述のスキャンアウト動作およびスキャンイン動作時に
、シフトレジスタ1〜3に記憶素子の“1nスタツク故
障または“0”スタック故障が検出されると、シフトア
ウト出力制御回路12はエラー報告信号112を保守診
断装置13に出力し、保守゛診断装置13にこの障害の
発生が報告される。
保守診断装置13ではこの障害の検出により制御信号1
16を入出力制御回路15に出力し、この制御信号11
6によりシフトレジスタ1〜3のうちどのシフトレジス
タに対する入出力の接続を変更するかが入出力制御回路
15に指示される。
最初、シフトレジスタ1に対して入出力接続変更指示が
出力されたとすると、入出力制御回路15は制御信号1
18により入出力接続回路16にシフトレジスタ1に対
する入出力接続変更を指示する。入出力接続回路16は
接続指示信号119をデコーダ17に出力し、デコーダ
17はこの接続指示信号119によりセレクタ切替信号
120をセレクタ9に出力する。すなわら、セレクタ9
からの出力をシフトレジスタ1からのシフトアウト出力
106からシフトレジスタ1へのシフトイン入力101
に切替えるように指示する。
また、入出力制御回路15は制御信号118をシフトレ
ジスタ指定回路6に出力し、シフトレジスタ指定回路6
に対してシフトレジスタ1にクロックを供給しないよう
に指示する。この指示によりシフトレジスタ指定回路6
は制御信号123によ゛リデコーダ7を制御して、シフ
トレジスタ1にクロックを供給しないようにする。
さらに、入出力制御回路15は制御信号118をシフト
モード指定回路4に出力し、シフトモード指定回路4に
対してシフトレジスタ1をシフトモードにしないように
制御する。
これらシフトレジスタ指定回路6とシフトモード指定回
路4とを入出力制御回路15の制御信号118によって
制御した後に、スキャンアウト動作およびスキャンイン
動作を実施すると、これらスキャンアウト動作とスキャ
ンイン動作とは、シフトレジスタ1をバイパスし、シフ
トレジスタ2゜3で構成されるシフトパスに対して行わ
れることとなる。
すなわち、シフトレジスタ1の記憶素子1−1〜1−f
!のどれかに“1”スタック故障または“0″スタツク
故障があったとしても、シフトレジスタ1はバイパスさ
れているので、シフトレジスタ2゜3で構成されるシフ
トパスに対するスキャンアウト動作およびスキャンイン
動作は正常に終了し、シフトレジスタ1に障害があるこ
とが判明する。
シフトレジスタ1〜3は夫々保守交換単位に対応してい
るので、上述の動作を行うことによって故障している保
守交換単位を容易に指摘することができる。
このように、複数の記憶素子が縦続的に接続されて構成
される各シフトレジスタを夫々バイパス制御可能な様に
構成することにより、複数のシフトレジスタが夫々縦続
的に接続されて構成されるシフトパスの故障診断を行う
ようにするものであるから、保守交換単位となるシフト
レジスタの障害の特定指摘を容易に行うことができる。
このように障害を生じたシフトレジスタの指摘を容易に
行うことができるので、従来シフトパスを構成していた
複数の保守交換単位のうち1つにでも障害を生ずるとす
べて交換するといったシステムダウン時の故障修復時間
を短くすることができ、故障修復もその障害が生じたも
のだけに行えばよくなるため、平均修復時間を短縮する
ことができる。
尚、本発明の一実施例では障害の発生したシフトレジス
タをバイパスさせて故障診断を行う場合について述べた
が、他のシフトレジスタをバイパスさせて1つのシフト
レジスタのみの故障診断を行うこともできるのは明白で
ある。
発明の詳細 な説明したように本発明によれば、シフトパスを構成す
る複数の保守交換単位であるシフトレジスタの少なくと
も1つをバイパスさせて故障診断を行うようにすること
によって、シフトパスのうち障害を生じた保守交換単位
を特定する指摘を容易に行うことができ、システムダウ
ン時の故障修復時間を短くして平均修復時間を短縮する
ことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。 主要部分の符号の説明 1〜3・・・・・・シフトレジスタ 4・・・・・・シフトモード指定回路 5・・・・・・シフトイン入力!、1lvA回路6・・
・・・・シフトレジスタ指定回路9〜11・・・・・・
セレクタ 13・・・・・・保守診断装置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数の記憶素子が縦続的に接続されて構成された保守交
    換単位としてのシフトレジスタを複数個縦続的に接続す
    ることにより構成されたシフトパスの故障診断方式であ
    って、前記シフトレジスタの各々に対応して設けられ、
    対応するシフトレジスタの入力信号及び出力信号を択一
    的に導出して次段回路の入力とする複数の切替手段を有
    し、この切替手段の1つを制御して対応するシフトレジ
    スタの入力信号を次段回路の入力とすることによりこの
    シフトレジスタをバイパスさせて故障診断を行うように
    したことを特徴とするシフトパス故障診断方式。
JP62116259A 1987-05-13 1987-05-13 シフトパス故障診断装置 Expired - Lifetime JPH0646389B2 (ja)

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JPS63280341A true JPS63280341A (ja) 1988-11-17
JPH0646389B2 JPH0646389B2 (ja) 1994-06-15

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60239836A (ja) * 1984-05-15 1985-11-28 Fujitsu Ltd 論理回路の故障診断方式
JPS6293672A (ja) * 1985-10-21 1987-04-30 Hitachi Ltd 階層型論理装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60239836A (ja) * 1984-05-15 1985-11-28 Fujitsu Ltd 論理回路の故障診断方式
JPS6293672A (ja) * 1985-10-21 1987-04-30 Hitachi Ltd 階層型論理装置

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JPH0646389B2 (ja) 1994-06-15

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