JPH0646390B2 - シフトパス故障診断装置 - Google Patents

シフトパス故障診断装置

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JPH0646390B2
JPH0646390B2 JP62116260A JP11626087A JPH0646390B2 JP H0646390 B2 JPH0646390 B2 JP H0646390B2 JP 62116260 A JP62116260 A JP 62116260A JP 11626087 A JP11626087 A JP 11626087A JP H0646390 B2 JPH0646390 B2 JP H0646390B2
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shift
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shift registers
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昭 実宝
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Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明なシフトパス故障診断装置に関し、特に情報処理
装置におけるシフトパスの故障時の診断に関する。
従来技術 従来、情報処理装置においては、ハードウェア障害時の
保守交換単位(FIELD REPLACEABLE UNIT)複数個を縦続
的に接続してシフトパスを構成させていた。そのため、
このシフトパスに障害が発生すると複数の保守交換単位
を交換しなければならず、このシフトパスの平均修復時
間(MEAN TIME TO REPAIR)が大きくなるという欠点が
あった。
この欠点を補うための方法としては、装置を初期状態に
しておき、障害を生じた保守交換単位を含むシフトパス
のシフトレジスタ機能を用いてそのシフトパスのデータ
を出力させ、このデータと装置の初期状態のデータとを
比較することにより障害を生じた保守交換単位を指摘す
る方法がある。しかしながら、このシフトレジスタ機能
を用いて初期状態の設定が行われる装置においては、シ
フトパスを構成する保守交換単位に障害が発生するの
と、シフトパスのシフトレジスタ機能を用いての初期状
態の設定が行えなくなり、複数の保守交換単位を交換し
なければならず、このシフトパスの平均修復時間が大き
くなるという欠点があった。
また、予め記憶された初期状態を示すデータと、シフト
レジスタ機能の使用により全ビットが出力されたデータ
とを比較しなければならないので、障害を生じた保守交
換単位を指摘するのに時間がかかるという欠点があっ
た。
発明の目的 本発明は上記のような従来のものの欠点を除去すべくな
されたもので、障害を生じた保守交換単位の指摘を容易
に行うことができ、システムダウン時の故障修復時間を
短くして平均修復時間を短縮することがきるシフトパス
故障診断装置の提供を目的とする。
発明の構成 本発明によるシフトパス故障診断装置は、複数の記憶素
子が縦続的に接続されて構成された保守交換単位として
のシフトレジスタを複数個縦続的に接続することにより
構成されたシフトパスの故障診断装置であって、前記シ
フトレジスタ各々において定められた2つの特定記憶素
子に互いに異なる2値データを書込む書込み手段と、前
記書込み手段により前記シフトレジスタ各々の前記2つ
の特定記憶素子に夫々2値データを書込んだ後に前記シ
フトレジスタ各々からシフトアウトされたデータを基に
前記シフトレジスタ各々の保守診断を行う手段とを有す
ることを特徴とする。
実施例 次に、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。図において、本発明の一実施例による情報処理装置
は、シフトレジスタ1〜3と、シフトモード指定回路4
と、シフトイン入力制御回路5と、シフトレジスタ指定
回路6と、デコーダ7と、クロック供給回路8と、シフ
トアウト出力制御回路9と、保守診断装置10と、シフ
トバッファ11と、“0”/“1”入力制御回路12
と、“1”入力回路13と、“0”入力回路14とによ
り構成されている。
シフトレジスタ1〜3は夫々記憶素子1-1〜1-l,2-1
〜2-m,3-1〜3-nが縦続的に接続されて構成されてい
る。また、シフトレジスタ1〜3は夫々縦続的に接続さ
れて1つのシフトパスを構成するとともに、シフトレジ
スタ1〜3夫々はこの情報処理装置の保守交換単位に対
応している。
シフトレジスタ1〜3夫々にはシフトモード指定回路4
からのシフトモード信号102が入力されてシフトモード
が指定される。クロック供給回路8からのクロック信号
120はシフトレジスタ指定回路6からの制御信号119によ
りデコーダ7で各シフトレジスタ1〜3に夫々分配され
る。すなわち、デコーダ7ではシフトレジスタ指定回路
6からの制御信号119によって指定されるシフトレジス
タ1〜3に夫々クロック信号103〜105が供給される。
シフトレジスタ1のシフトイン端子にはシフトイン入力
制御回路5からのシフトイン入力101が入力されてい
る。また、シフトレジスタ1のシフトアウト端子からの
シフトアウト出力106は次段のシフトレジスタ2に出力
され、シフトレジスタ2のシフトアウト端子からのシフ
トアウト出力107は次段のシフトレジスタ3に出力さ
れ、シフトレジスタ3のシフトアウト端子からのシフト
アウト出力108はシフトアウト出力制御回路9に出力さ
れる。
シフトアウト出力制御回路9はシフトレジスタ3のシフ
トアウト端子からのシフトアウト出力108のチェックを
行い、シフトアウト信号110をシフトバッファ11に書
込むとともに、チェック結果をエラー報告信号109とし
て保守診断装置10に出力する。
保守診断装置10はシフトアウト出力制御回路9からの
エラー報告信号109によりシフトレジスタ1〜3の障害
の発生を知り、制御信号113を“0”/“1”入力制御
回路12に出力する。また、保守診断装置10はデータ
バス111,112を介してシフトバッファ11に対してデー
タの書込み読出しを行う。
“0”/“1”入力制御回路12は保守診断装置10か
らの制御信号113に応じて“1”入力回路13と“0”
入力回路14とに夫々制御信号115,116を出力する。こ
の制御信号115の入力により“1”入力回路13はシフ
トレジスタ1〜3夫々の記憶素子1-1,2-1,3-1に対
して“1”を書込み、“0”入力回路14はシフトレジ
スタ1〜3夫々の記憶素子1-2,2-2,3-2に対して
“0”を書込む。
次に、第1図を用いて本発明の一実施例の動作について
説明する。
まず、シフトレジスタ1〜3夫々の記憶素子1-1〜1-
l,2-1〜2-m,3-1〜3-nに障害がない場合に、シフ
トレジスタ1〜3により構成されるシフトパスからその
内容を取出してシフトバッファ11に格納する手順につ
いて説明する。
シフトレジスタ指定回路6で所望のシフトレジスタ1〜
3を選択して指定し、シフトモード指定回路4でシフト
モードを“1”にセットし、クロック供給回路8からデ
コーダ7を介してシフトレジスタ1〜3夫々にクロック
信号103〜105を供給することにより、シフトレジスタ1
〜3で構成されるシフトパスのシフト動作を行わせる。
このシフト動作によりシフトパスの内容をシフトアウト
出力制御回路9を介してシフトバッファ11に格納す
る。このとき、シフトレジスタ1のシフトイン端子には
シフトイン入力制御回路5からの“0”が入力される。
シフトレジスタ1〜3夫々の全記憶素子1-1〜1-l,2
-1〜2-m,3-1〜3-nの数だけクロックが供給される
と、上述の動作により全記憶素子1-1〜1-l,2-1〜2
-m,3-1〜3-nの内容がシフトバッファ11に転送され
る。
このとき、シフトレジスタ1〜3夫々の全記憶素子1-1
〜1-l,2-1〜2-m,3-1〜3-nにはシフトイン入力制
御回路5からの“0”が格納されているはずである。こ
れをチェックするために、さらにクロックを1回だけシ
フトレジスタ1〜3に供給し、このクロックの供給によ
りシフトパスから出力されるビットが“0”であること
をシフトアウト出力制御回路9でチェックする。
このクロックの供給によりシフトパスから出力されるビ
ットが“1”である場合には、シフトレジスタ1〜3の
ある記憶素子が“1”に固定されるようなモードの障害
になっていると判断され、これによりいわゆる“1”ス
タック故障を検出することができる。
シフトアウト出力制御回路9でのチェックによりシフト
レジスタ1〜3が正常であると判断されると、さらにク
ロックを1回だけシフトレジスタ1〜3に供給するとと
もに、シフトレジスタ1のシフトイン端子から“1”を
入力する。これにより、シフトレジスタ1ではシフトイ
ン端子側の記憶素子1-1が1ビットだけ“1”で、他の
記憶素子1-2〜1-lの内容はすべて“0”となる。この
記憶素子1-1に格納された“1”をラストディジットと
呼び、上述のような手順でシフトパスの内容をシフトバ
ッファ11に転送する動作をスキャンアウト動作と呼
ぶ。
次に、このスキャンアウト動作によりシフトバッファ1
1に格納された内容をシフトレジスタ1〜3に転送する
手順について説明する。
シフトレジスタ指定回路6で所望のシフトレジスタ1〜
3を選択して指定し、シフトモード指定回路4でシフト
モードを“1”にセットし、クロック供給回路8からデ
コーダ7を介してシフトレジスタ1〜3夫々にクロック
信号103〜105を供給することにより、シフトレジスタ1
〜3で構成されるシフトパスにシフト動作を行わせる。
このとき、シフトイン入力制御回路5からシフトレジス
タ1のシフトイン端子に入力されるデータはシフトバッ
ファ11に格納されていたデータであり、このシフトイ
ン端子にはシフトイン入力制御回路5を介して1ビット
ずつシフトバッファ11の内容が転送されることとな
る。
シフトレジスタ1〜3の全記憶素子1-1〜1-l,2-1〜
2-m,3-1〜3-nの数だけクロックが供給されると、こ
れによりシフトパスから最後に出力されたデータが
“1”であるか“0”であるかをシフトアウト出力制御
回路9でチェックする。
このシフトレジスタ1〜3の全記憶素子1-1〜1-l,2
-1〜2-m,3-1〜3-nの数だけクロックが供給されて
も、シフトパスから出力されビットが“0”である場合
には、シフトレジスタ1〜3のある記憶素子が“0”に
固定されようなモードの障害になっていると判断され、
これによりいわゆる“0”スタック故障を検出すること
ができる。
シフトレジスタ1〜3に障害がないときには、予めスキ
ャンアウト動作時にシフトイン入力したラストディジッ
トの“1”がシフトパスから出力される。この上述の動
作をスキャンイン動作と呼ぶ。上述のスキャンアウト動
作およびスキャンイン動作時に、シフトレジスタ1〜3
に記憶素子の“1”スタック故障または“0”スタック
故障が検出されると、シフトアウト出力制御回路9はエ
ラー報告信号112を保守診断装置10に出力し、保守診
断装置10にこの障害の発生が報告される。
保守診断装置10ではこの障害の検出により制御信号11
3を“0”/“1”入力制御回路12に出力し、“0”
/“1”入力制御回路12はこの制御信号113により
“1”入力回路13と“0”入力回路14とを制御し
て、シフトレジスタ1〜3夫々の特定の2つの記憶素子
1-1,1-2,2-1,2-2,3-1,3-2に夫々“1”およ
び“0”が書込まれる。すなわち、記憶素子1-1,2-
1,3-1には“1”が格納され、記憶素子1-2,2-2,
3-2には“0”が格納される。
“1”入力回路13と“0”入力回路14とにより特定
の2つの記憶素子1-1,1-2,2-1,2-2,3-1,3-2
に夫々“1”および“0”が書込された後に、上述のス
キャンアウト動作をシフトレジスタ1〜3に実施する
と、これらシフトレジスタ1〜3に夫々格納された内容
はシフトバッファ11に転送される。保守診断装置10
はこのスキャンアウト動作によりシフトレジスタ1〜3
から転送されたデータをシフトバッファ11からデータ
バス111を介して続出し、特定の2つの記憶素子1-1,
1-2,2-1,2-2,3-1,3-2夫々のデータが“10”
になっているかどうかをチェックする。
たとえば、シフトレジスタ2に“1”スタック障害があ
ると、シフトレジスタ1,2夫々の特定の2つの記憶素
子1-1,1-2,2-1,2-1のデータは“11”になって
いるので、保守診断装置10はシフトレジスタ2に
“1”スタック障害が生じていることを検出する。ま
た、シフトレジスタ2に“0”スタック障害があると、
シフトレジスタ1,2夫々の特定の2つの記憶素子1-
1,1-2,2-1,2-2のデータは“00”になっている
ので、保守診断装置10はシフトレジスタ2に“0”ス
タック障害が生じていることを検出する。
これらの例では保守診断装置10はシフトレジスタ2の
障害を検出することにより、このシフトレジスタ2に対
応する保守交換単位に障害が発生してることを知り、故
障している保守交換単位の指摘を容易に行うことができ
る。
このように、複数の記憶素子1-1〜1-l,2-1〜2-m,
3-1〜3-nが夫々縦続的に接続されて構成されるシフト
レジスタ1〜3の予め定められた2つの特定の記憶素子
1-1,1-2,2-1,2-2,3-1,3-2に夫々互いに異な
る2値データ“1”,“0”を書込み、この書込み後に
シフトレジスタ1〜3を夫々縦続的に接続して構成され
るシフトパスのシフトアウト動作を行わせることでこの
シフトパスの保守診断を行うようにすることによって、
障害を生じたシフトレジスタ1〜3(保守交換単位)の
指摘を容易に行うことができる。この障害を生じたシフ
トレジスタ1〜3の指摘を容易に行うことができるの
で、従来シフトパスを構成していた複数の保守交換単位
のうち1つでも障害を生ずるとすべて交換するといった
システムダウン時の故障修復時間を短くすることがで
き、故障修復もその障害が生じたものだけに行えばよく
なるため、平均修復時間を短縮することができる。
発明の効果 以上説明したように本発明によれば、複数の記憶素子が
縦続的に接続されて構成された複数の保守交換単位夫々
の予め定められた2つの特定記憶素子に互いに異なる2
値データを書込み、これら特定記憶素子夫々への互いに
異なる2値データの書込み後に保守交換単位各々に格納
されたデータをシフトアウトすることにより保守交換単
位の保守診断を行うようにすることによって、障害を生
じた保守交換単位の指摘を容易に行うことができ、シス
テムダウン時の故障修復時間を短くして平均修復時間を
短縮することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。 主要部分の符号の説明 1〜3……シフトレジスタ 4……シフトモード指定回路 5……シフトイン入力制御回路 6……シフトレジスタ指定回路 10……保守診断装置 12……“0”/“1”入力制御回路 13……“1”入力回路 14……“0”入力回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の記憶素子が縦続的に接続されて構成
    された保守交換単位としてのシフトレジスタを複数個縦
    続的に接続することにより構成されたシフトパスの故障
    診断装置であって、前記シフトレジスタ各々において定
    められた2つの特定記憶素子に互いに異なる2値データ
    を書込む書込み手段と、前記書込み手段により前記シフ
    トレジスタ各々の前記2つの特定記憶素子に夫々2値デ
    ータを書込んだ後に前記シフトレジスタ各々からシフト
    アウトされたデータを基に前記シフトレジスタ各々の保
    守診断を行う手段とを有することを特徴とするシフトパ
    スの故障診断装置。
JP62116260A 1987-05-13 1987-05-13 シフトパス故障診断装置 Expired - Lifetime JPH0646390B2 (ja)

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JPS63280342A JPS63280342A (ja) 1988-11-17
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