JPH02136936A - 情報処理システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 玖血豆１ 本発明は情報処理システムに関し、特に診断用スキャン
パス回路を具備する論理演算処理装置を、診断装置を用
いて診断するよう構成された情報処理システムに関する
ものである。

良米肱韮 従来この種の情報処理システムの構成が第２図に示され
ている０本システムは演算処理装置１及び診断装置２か
ら構成されている。演算処理装置１は複数の診断用スキ
ャンパス回路１１〜１ｎを有しており、各診断用スキャ
ンパス回路１１〜１ｎは共に複数の論理回路単位１１１
〜１１３（図では簡単のために３個の論理回路単位を示
しているが、４個以上であっても良い）を有する。これ
等論理回路単位１１１〜１１３は保守時の交換単位とな
るものであり、故障が生じた場合にこの保守交換単位で
ある各論理回路単位毎に新しいものと交換されるように
なっている。

これ等論理回路単位１１１〜１１３の各々には、診断の
ためにスキャンパス部が設けられており、各スキャンパ
ス部は互いに縦続接続されたレジスタ３１〜３ｎ、４１
〜４ｍ、５１〜５１からなっており、全てのスキャンパ
ス部が更に縦続接続されて診断用スキャンパス回路を構
成している。

診断装置２はこれ等各診断用スキャンパス回路１１〜１
ｎに対するデータのシフトイン及びシフトアウト制御機
能を有する。

この様な情報処理システムにおいては、例えば、診断用
スキャンパス回路１１内のレジスタ４ｍである１ビツト
が論理″０″または１″の固定障害となった場合、この
診断用スキャンパス回路１１が正常動作し得ないことは
診断装置２により識別される。しかしながら、いずれの
論理回路単位で故障が発生したかを識別することは不可
能である。

例えば、前述の様にレジスタ４ｍで故障が生じたとする
と、論理回路単位１１１〜１１３のうちいずれかを交換
すれば良いことは判るが、論理回路単位１１２の故障で
あると判定することはできないのである。そのために、
論理回路単位１１１〜１１３を順次交換して動作させる
か、全単位を交換しなければならず、よって保守交換時
間が大となるという欠点を有している。

良皿ムユ」 本発明の目的は、保守交換単位である論理回路単位毎の
障害を検出するようにして、保守交換時間を少なくする
ことが可能な情報処理システムを提供することである。

九匪五■メ 本発明によれば、夫々が第１及び第２のスキャンパス部
を有し保守交換単位となる論理回路単位及び前記スキャ
ンパス部を縦続接続することにより構成された診断用ス
キャンパス回路を具備する演算処理装置と、前記診断用
スキャンパス回路の動作を制御して前記演算処理装置の
診断をなす診断装置とを含む債報処理システムであって
、前記論理回路単位内々に設けられ、前記第１及び第２
のスキャンパス部の出力を夫々択一的に導出してこの選
択出力を夫々次段の論理回路単位内の第１及び第２のス
キャンパス部の入力へ印加する第１及び第２の選択手段
と、前記診断装置に設けられ、前記論理回路単位の各第
１及び第２の選択手段に対して選択指示を与える手段と
を有することを特徴とする情報処理システムが得られる
。

Ｋ立型 以下、本発明について図面を参照しつつ詳細に説明する
。

第１図は本発明の実施例を示すブロック図である。演算
処理装置１は診断用スキャンパス１００゜２００　、３
００　、４００　、５００　、６００を有しており、診
断用スキャンパス１００及び２００は論理単位１７０゜
１８０　、１９０内に夫々設けられている第１及び第２
のスキャンパス部３１，３２，４１，４２，５１゜５２
の縦続接続パスにより構成される。

これ等第１及び第２のスキャンパス部を適宜組合せて診
断用スキャンパス１００　、２００が構成されるが、そ
の組合せのために、各論理単位内に第１及び第２の選択
手段３３，３４，４３，４４，５３．５４が夫々設けら
れている。

論理単位１８０について述べれば、第１の選択手段４３
は第１及び第２のスキャンパス部４１．４２の出力を択
一的に導出し、また第２の選択手段４４は同じく第１及
び第２のスキャンパス部４１゜４２の出力を択一的に導
出する。そして、両選択手段４３．４４は、一方が第１
のスキャンパス部４１を選択しているときには、他方は
第２のスキャンパス部４２を選択するように制御されて
いるものとする。

これ等第１及び第２の選択手段４３．４４の各出力は次
段の論理単位１７０の第１及び第２のスキャンパス部の
入力へ供給されており、他の論理単位においても同等構
成とされ、よって１対の診断用スキャンパス１００　、
２００が、これ等各論理単位内の第１及び第２の選択手
段と第１及び第２のスキャンパス部により構成されるこ
とになる。

他の診断用スキャンパス３００　、４００　、５００　
、６００等についても全く同様である。

通常スキャン動作時にあっては、診断用スキャンパス１
００は第１のスキャンパス部３１，４１゜５１の縦続接
続構成よりなり、診断用スキャンパス２００は第２のス
キャンパス部３２．４２．５２のＭｉ続接続構成よりな
る様、診断装置２内の選択指示手段２１によって各選択
手段が夫々制御されている。

この状態において、診断用スキャンパス１００内の第１
のスキャンパス部４１内のある１ビツトが故障した場合
につき以下説明する。

先ず、診断用スキャンパス１００の通常動作時に異常が
発見されると、診断装置２は論理単位１９Ｇ内の第１の
選択手段５３に対して、第１のスキャンパス部５１の代
わりに第２のスキャンパス部５２を選択する様指示する
と共に、第２の選択手段５４に対して、第２のスキャン
パス部５２の代わりに第１のスキャンパス部５１を選択
する様指示する。

次に、診断用スキャンパス１００のうち診断用スキャン
パス２００と入れ換った部分の７リツプフロツプ数の修
正が行われ、スキャン動作が実行される。しかしながら
、この場合には正常な論理単位１９０内のスキャンパス
部同士が入換っただけであるから、診断用スキャンパス
１００の動作は依然として異常終了となる。

次に、診断装置２は論理単位１８０内の第１．第２の選
択手段４３．４４に対して選択状態を切換える指示を出
す、すなわち、第２のスキャンパス部４２が第１の選択
子ｆ１４３により選択され、第１のスキャンパス部４１
が第２の選択手段４４により選択される。しかる後に、
診断用スキャンパス部１００のうち診断用スキャンパス
２００と入換った部分のフリップ７０ツブ数の補正が行
われ、スキャン動作が実行される。

この結果、論理単位１８０の不良な第１のスキャンパス
部４１は正常な第２のスキャンパス部４２と入換ったた
めに、当該スキャン動作は正常終了する。よって論理単
位１８０が不良であることが判明するのである。

以上のことから判る様に、診断スキャンパスの最終段に
位置する論理単位から初段に位置する論理単位へ、また
はその逆方向に順次論理単位内のスキャンパス部を入換
えることにより、始めてスキャン動作が正常終了したと
きに、そのときのスキャンパス部の入換えがなされた論
理単位が不良であると判定できるのである。

ｉ服曵左１ 叙上の如く、本発明によれば、論理単位内に複数のスキ
ャンパス部を設けておき、診断用スキャンパスを構成す
る論理単位内のスキャンパス部を交換自在に構成するこ
とにより、診断用スキャンパス内のどの論理単位に故障
が生じているかを特定し得るという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例のブロック図、第２図は従来技
術を示すブロック図である。 主要部分の符号の説明 １・・・・・・演算処理装置 ２・・・・・・診断装置 ２１・・・・・・選択指示手段 ３１．４１．５１・・・・・・第１のスキャンパス部３
２．４２．５２・・・・・・第２のスキャンパス部３３
゜ ３４゜ １００　。 ４００　。 １７０　。 ４３゜ ４４゜ ２００　。 ５００　。 １８０　。 ５３・・・・・・第１の選択手段 ５４・・・・・・第２の選択手段 ３００゜ ６０Ｇ・・・・・・診断用スキャンパス１９０・・・・
・・論理単位

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）夫々が第１及び第２のスキャンパス部を有し保守
   交換単位となる論理回路単位及び前記スキャンパス部を
   縦続接続することにより構成された診断用スキャンパス
   回路を具備する演算処理装置と、前記診断用スキャンパ
   ス回路の動作を制御して前記演算処理装置の診断をなす
   診断装置とを含む情報処理システムであって、前記論理
   回路単位夫々に設けられ、前記第１及び第２のスキャン
   パス部の出力を夫々択一的に導出してこの選択出力を夫
   々次段の論理回路単位内の第１及び第２のスキャンパス
   部の入力へ印加する第１及び第２の選択手段と、前記診
   断装置に設けられ、前記論理回路単位の各第１及び第２
   の選択手段に対して選択指示を与える手段とを有するこ
   とを特徴とする情報処理システム。