JPS63276032A - アクテイブマトリツクスアレイ - Google Patents
アクテイブマトリツクスアレイInfo
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- JPS63276032A JPS63276032A JP62111056A JP11105687A JPS63276032A JP S63276032 A JPS63276032 A JP S63276032A JP 62111056 A JP62111056 A JP 62111056A JP 11105687 A JP11105687 A JP 11105687A JP S63276032 A JPS63276032 A JP S63276032A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
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- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136259—Repairing; Defects
-
- G—PHYSICS
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- G02F1/136263—Line defects
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はアクティブマトリックス型液晶表示装置に用い
るアクティブマトリックスアレイに関するものである。
るアクティブマトリックスアレイに関するものである。
従来の技術
近年、液晶表示装置の絵素数増大に伴って、走査線数が
増え、従来から用いられている単純マトリックス型液晶
表示装置では表示コントラストや応答速度が低下するこ
とから、各絵素にスイッチング素子を配置したアクティ
ブマトリックス型液晶表示装置が利用されつつある。
増え、従来から用いられている単純マトリックス型液晶
表示装置では表示コントラストや応答速度が低下するこ
とから、各絵素にスイッチング素子を配置したアクティ
ブマトリックス型液晶表示装置が利用されつつある。
しかしながら前記アクティブマトリックス型液晶表示装
置に用いるアクティブマトリックスアレイは一枚の基板
上に数万個以上の薄膜トランジスタを無欠陥に製造しな
ければならず、したがってこの製造歩留りが非常に大き
な課題となる。高い歩留りにてアクティブマトリックス
アレイを製造するためには、クリーン度の高い、IC製
造ライン並のラインにて製造する必要があるが、万一1
〜2個の欠陥が発生した場合には、これを修正する方法
も確立しておかなければならない、前記欠陥修正が可能
なアクティブマトリックスアレイの1例について以下に
述べる。
置に用いるアクティブマトリックスアレイは一枚の基板
上に数万個以上の薄膜トランジスタを無欠陥に製造しな
ければならず、したがってこの製造歩留りが非常に大き
な課題となる。高い歩留りにてアクティブマトリックス
アレイを製造するためには、クリーン度の高い、IC製
造ライン並のラインにて製造する必要があるが、万一1
〜2個の欠陥が発生した場合には、これを修正する方法
も確立しておかなければならない、前記欠陥修正が可能
なアクティブマトリックスアレイの1例について以下に
述べる。
以下、図面を参照しながら従来のアクティブマトリック
スアレイについて説明する。第17図は従来のアクティ
ブマトリックスアレイの一部拡大平面図である。ただし
一部説明に不用な箇所は省略しである。第17図におい
てla、lb、lc。
スアレイについて説明する。第17図は従来のアクティ
ブマトリックスアレイの一部拡大平面図である。ただし
一部説明に不用な箇所は省略しである。第17図におい
てla、lb、lc。
1dは絵素電極、2.6は絶縁体膜、3はゲート信号線
、4はソース信号線、5はドレイン端子、7は金属薄膜
である。第18図は第17図のAA’線による断面図上
ある。第18図において8は透明基板、9は電気的接続
用パターン、10はコンタクトホールである。第18図
に示すように透明基板8上に電気的接続用パターン9を
形成し、その上に絶縁膜6を形成し、コンタクトホール
10をあけたのち絵素電極1aおよび1cを形成する。
、4はソース信号線、5はドレイン端子、7は金属薄膜
である。第18図は第17図のAA’線による断面図上
ある。第18図において8は透明基板、9は電気的接続
用パターン、10はコンタクトホールである。第18図
に示すように透明基板8上に電気的接続用パターン9を
形成し、その上に絶縁膜6を形成し、コンタクトホール
10をあけたのち絵素電極1aおよび1cを形成する。
さらに絶縁膜6と絵素電極ICと重なる部分上には金属
薄膜7を形成している。
薄膜7を形成している。
以上のように構成されたアクティブマトリックスアレイ
について、その修正方法を第19図を参照しながら説明
する。第19図はアクティブマトリックスアレイの一部
拡大平面図である。第19図において1)は薄膜トラン
ジスタのソース・ドレイン間の短絡欠陥である。先にも
述べたようにアクティブマトリックスアレイには少なく
とも数万個以上の薄膜トランジスタを作製する必要があ
る。しかしすべての薄膜トランジスタが良品となる確率
は比較的低い、したがって歩留りを向上させるためには
不良薄膜トランジスタが駆動する絵素をなんらかの手段
を用いて正常に点燈させる必要がある。欠陥モードとし
てはたとえば第19図のように薄膜トランジスタのソー
ス・ドレインの短絡欠陥が発生した場合はたえずソース
信号線4に印加される信号が絵素電極1aに流れこみ、
常に点燈状態(以後白欠陥と呼ぶ)となる。また以後常
に非点燈状態となる欠陥を黒欠陥と呼ぶ。そこでまず絵
素電極1aに信号が入力されないようにBB’線の箇所
をレーザ光などにより切断する。
について、その修正方法を第19図を参照しながら説明
する。第19図はアクティブマトリックスアレイの一部
拡大平面図である。第19図において1)は薄膜トラン
ジスタのソース・ドレイン間の短絡欠陥である。先にも
述べたようにアクティブマトリックスアレイには少なく
とも数万個以上の薄膜トランジスタを作製する必要があ
る。しかしすべての薄膜トランジスタが良品となる確率
は比較的低い、したがって歩留りを向上させるためには
不良薄膜トランジスタが駆動する絵素をなんらかの手段
を用いて正常に点燈させる必要がある。欠陥モードとし
てはたとえば第19図のように薄膜トランジスタのソー
ス・ドレインの短絡欠陥が発生した場合はたえずソース
信号線4に印加される信号が絵素電極1aに流れこみ、
常に点燈状態(以後白欠陥と呼ぶ)となる。また以後常
に非点燈状態となる欠陥を黒欠陥と呼ぶ。そこでまず絵
素電極1aに信号が入力されないようにBB’線の箇所
をレーザ光などにより切断する。
次にa点にレーザ光を照射し、金属薄膜7を溶解し、第
20図に示すように、金属薄膜7を介して絵素電極1c
と電気的接続パターンを電気的に接続する。ゆえに絵素
電8ilaは電気的接続パターンを介して絵素電極1c
と接続され、絵素電極lcを駆動する薄膜トランジスタ
により駆動されることになり、疑似的に正常点燈になる
。前記点燈状態は映像信号を表示する場合は、絵素電極
1aと1cは同一表示をおこなうことになるが視覚的に
なんら正常点燈とかわらない、(たとえば特開昭59−
101693号) 発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のようなアクティブマトリックスアレ
イの構成では、隣接した絵素電極に重なるように電気的
接続パターンを形成している0通常電気的接続パターン
は金属で形成する必要がある。したがって前記電気的接
続パターンは不透明なため、絵素の開口率を低下させて
しまう、またソース信号線4の下部に電気的接続パター
ン9を形成しているため、ソース信号線下部の絶縁膜6
にピンホールが生じていた場合、ソース信号線−電気的
接続パターン−絵素電極なる信号入力経路が生じる。し
たがって絵素電極は常時点燈の白欠陥を発生させる。前
記欠陥は薄膜トランジスタの欠陥と同数程度発生する可
能性があり、かえってアクティブマトリックスアレイの
欠陥率を高めるという問題点があった。
20図に示すように、金属薄膜7を介して絵素電極1c
と電気的接続パターンを電気的に接続する。ゆえに絵素
電8ilaは電気的接続パターンを介して絵素電極1c
と接続され、絵素電極lcを駆動する薄膜トランジスタ
により駆動されることになり、疑似的に正常点燈になる
。前記点燈状態は映像信号を表示する場合は、絵素電極
1aと1cは同一表示をおこなうことになるが視覚的に
なんら正常点燈とかわらない、(たとえば特開昭59−
101693号) 発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のようなアクティブマトリックスアレ
イの構成では、隣接した絵素電極に重なるように電気的
接続パターンを形成している0通常電気的接続パターン
は金属で形成する必要がある。したがって前記電気的接
続パターンは不透明なため、絵素の開口率を低下させて
しまう、またソース信号線4の下部に電気的接続パター
ン9を形成しているため、ソース信号線下部の絶縁膜6
にピンホールが生じていた場合、ソース信号線−電気的
接続パターン−絵素電極なる信号入力経路が生じる。し
たがって絵素電極は常時点燈の白欠陥を発生させる。前
記欠陥は薄膜トランジスタの欠陥と同数程度発生する可
能性があり、かえってアクティブマトリックスアレイの
欠陥率を高めるという問題点があった。
問題点を解決するための手段
上記問題点を解決するため本発明のアクティブマトリッ
クスアレイは、アクティブマトリックスアレイの信号線
上に絶縁体膜を形成したという構成をそなえたものであ
る。
クスアレイは、アクティブマトリックスアレイの信号線
上に絶縁体膜を形成したという構成をそなえたものであ
る。
作用
本発明は上記したアクティブマトリックスアレイの構成
により、前記アクティブマトリックスアレイに不良トラ
ンジスタが発生した場合、不良トランジスタを絵素電極
から切りはなし、前記絵素電極と隣接絵素電極とを信号
線上に形成された絶縁膜を介して接続することによりア
クティブマトリックスアレイの欠陥を修正することがで
きる。
により、前記アクティブマトリックスアレイに不良トラ
ンジスタが発生した場合、不良トランジスタを絵素電極
から切りはなし、前記絵素電極と隣接絵素電極とを信号
線上に形成された絶縁膜を介して接続することによりア
クティブマトリックスアレイの欠陥を修正することがで
きる。
実施例
本発明の一実施例のアクティブマトリックスアレイにつ
いて、図面を参照しながら説明する。
いて、図面を参照しながら説明する。
第1図は本発明の第1の実施例におけるアクティブマト
リックスアレイの一部拡大図を示すものである。第1図
において25は信号線との絶縁膜(以後信号線絶縁膜と
呼ぶ)である。またこの信号線絶縁膜25は無機物質の
絶縁物が適し、特にS i02 、S iNx、Ta2
05など薄膜トランジスタ形成時に用いる無機物質を用
いて信号線絶縁膜を形成することより、薄膜トランジス
タと信号線絶縁膜25とを同時に形成できるという利点
を有する。第2図は第1図のCC゛線における断面図で
ある。第2図で明らかなように信号¥a4を被覆するよ
うに信号線絶縁膜25を形成する。またこの信号線絶縁
膜25は通常透明物質であるから絵素電極1a、lcに
重なっても絵素の開口率を低下させることはない。
リックスアレイの一部拡大図を示すものである。第1図
において25は信号線との絶縁膜(以後信号線絶縁膜と
呼ぶ)である。またこの信号線絶縁膜25は無機物質の
絶縁物が適し、特にS i02 、S iNx、Ta2
05など薄膜トランジスタ形成時に用いる無機物質を用
いて信号線絶縁膜を形成することより、薄膜トランジス
タと信号線絶縁膜25とを同時に形成できるという利点
を有する。第2図は第1図のCC゛線における断面図で
ある。第2図で明らかなように信号¥a4を被覆するよ
うに信号線絶縁膜25を形成する。またこの信号線絶縁
膜25は通常透明物質であるから絵素電極1a、lcに
重なっても絵素の開口率を低下させることはない。
以上のように構成したアクティブマトリックスアレイに
おいてその欠陥修正方法について説明する。第3図は欠
陥修正方法を説明するための説明図であり、修正が終了
したところを示している。
おいてその欠陥修正方法について説明する。第3図は欠
陥修正方法を説明するための説明図であり、修正が終了
したところを示している。
まず欠陥が発生したトランジスタのドレイン端子をBB
゛線で切断し絵素電極1aから切り離す。
゛線で切断し絵素電極1aから切り離す。
次に光CVD法またはスパッタ法などにより接続部12
を形成し、接続絵素電極ICと接続する。
を形成し、接続絵素電極ICと接続する。
第4図は第3図DD’線での断面図である。第5図は光
CVD法による修正装置の構成図である。
CVD法による修正装置の構成図である。
第5図において13はアクティブマトリックスアレイ、
14は位置決め手段、15は原料ガス供給手段、16は
ガス処理手段、17は光量を制御するための制御用ス、
リフト、18はミラー、19はレーザまたは紫外域高調
波発生手段、20はモニタ手段、21はレンズ、22は
光CVD法によりアクティブマトリックスアレイ表面に
形成された金属薄膜(第3図では接続部12)、23は
光を入射するための窓である。まずアクティブマトリッ
クスアレイ13を位置決めする0次に原料ガス供給手段
15より原料ガスを供給する。この原料ガスとしてカル
ボニル化合物のMo (Co) 6などが適する0次に
レーザまたは紫外域高調波発生手段19が発生する光を
第3図絵素電極1aより信号線薄膜1)上を経て絵素電
極1c上に照射し、金属薄膜22を形成する。このレー
ザまたは紫外域高調波発生手段19としてArレーザま
たはYAGレーザなどが適する。第6図はスパッタ法に
よる修正装置の構成図である。第6図において24はガ
ラス基板の裏面にC「などの金属*Hを蒸着した金属薄
膜ガラス基板である。まずアクティブマトリックスアレ
イ13を位置決めする0次にレーザまたは紫外域高調波
発生手段19が発生する光をレンズ21によりしぼりこ
み金属薄膜ガラス基板24の金属薄膜に照射する。金属
薄膜は蒸発し、前記蒸発した金属は絵素電極1a、lc
および信号線絶縁膜25上に蒸着する。上記に示した方
法などにより絵素電極1aと10を接続することにより
アクティブマトリックスアレイを修正する。
14は位置決め手段、15は原料ガス供給手段、16は
ガス処理手段、17は光量を制御するための制御用ス、
リフト、18はミラー、19はレーザまたは紫外域高調
波発生手段、20はモニタ手段、21はレンズ、22は
光CVD法によりアクティブマトリックスアレイ表面に
形成された金属薄膜(第3図では接続部12)、23は
光を入射するための窓である。まずアクティブマトリッ
クスアレイ13を位置決めする0次に原料ガス供給手段
15より原料ガスを供給する。この原料ガスとしてカル
ボニル化合物のMo (Co) 6などが適する0次に
レーザまたは紫外域高調波発生手段19が発生する光を
第3図絵素電極1aより信号線薄膜1)上を経て絵素電
極1c上に照射し、金属薄膜22を形成する。このレー
ザまたは紫外域高調波発生手段19としてArレーザま
たはYAGレーザなどが適する。第6図はスパッタ法に
よる修正装置の構成図である。第6図において24はガ
ラス基板の裏面にC「などの金属*Hを蒸着した金属薄
膜ガラス基板である。まずアクティブマトリックスアレ
イ13を位置決めする0次にレーザまたは紫外域高調波
発生手段19が発生する光をレンズ21によりしぼりこ
み金属薄膜ガラス基板24の金属薄膜に照射する。金属
薄膜は蒸発し、前記蒸発した金属は絵素電極1a、lc
および信号線絶縁膜25上に蒸着する。上記に示した方
法などにより絵素電極1aと10を接続することにより
アクティブマトリックスアレイを修正する。
第7図は本発明の第2の実施例におけるアクティブマト
リックスアレイの一部拡大図を示すものである。第2の
実施例では信号線絶縁膜25をゲート信号線3上に形成
している。第8図は第7図のアクティブマトリックスア
レイの修正を終了したところを示すアクティブマトリッ
クスアレイの一部拡大図である。第8図において不良薄
膜トランジスタのドレイン端子5をBB”線で切断し、
光CVD法またはスパッタ法などにより絵素電極1aと
1bを接続したところを示している。
リックスアレイの一部拡大図を示すものである。第2の
実施例では信号線絶縁膜25をゲート信号線3上に形成
している。第8図は第7図のアクティブマトリックスア
レイの修正を終了したところを示すアクティブマトリッ
クスアレイの一部拡大図である。第8図において不良薄
膜トランジスタのドレイン端子5をBB”線で切断し、
光CVD法またはスパッタ法などにより絵素電極1aと
1bを接続したところを示している。
第9図は本発明の第3の実施例におけるアクティブマト
リックスアレイの一部拡大図を示すものである。第3の
実施例では信号線絶縁膜25をゲート信号線3.絵素電
極1bの一端、ソース信号線4上に形成している。第1
0図は第9図のアクティブマトリックスアレイの修正を
終了したところを示すアクティブマトリックスアレイの
一部拡大図である。第10図において不良トランジスタ
のドレイン端子5をBB’線で切断し、光CVD法また
はスパッタ法などにより絵素電極1aとldを接続した
ところを示している。
リックスアレイの一部拡大図を示すものである。第3の
実施例では信号線絶縁膜25をゲート信号線3.絵素電
極1bの一端、ソース信号線4上に形成している。第1
0図は第9図のアクティブマトリックスアレイの修正を
終了したところを示すアクティブマトリックスアレイの
一部拡大図である。第10図において不良トランジスタ
のドレイン端子5をBB’線で切断し、光CVD法また
はスパッタ法などにより絵素電極1aとldを接続した
ところを示している。
以下第1)図、第12図、第13図、第14図。
第15図は本発明の実施例のアクティブマトリックスア
レイの一部拡大図である。第1)図はすべてのソース信
号線4上に信号線絶縁膜25を形成した例であり、第1
2図はすべてのゲート信号線3上に信号線絶縁膜25を
形成した例であり、第13図はソース信号線の1mごと
に信号線絶縁膜25を形成した例であり、第14図はソ
ース信号線の交互に信号線絶縁膜25を形成した例であ
り、第15図はゲート信号線およびソース信号線上に信
号線絶縁膜25を形成した例である。
レイの一部拡大図である。第1)図はすべてのソース信
号線4上に信号線絶縁膜25を形成した例であり、第1
2図はすべてのゲート信号線3上に信号線絶縁膜25を
形成した例であり、第13図はソース信号線の1mごと
に信号線絶縁膜25を形成した例であり、第14図はソ
ース信号線の交互に信号線絶縁膜25を形成した例であ
り、第15図はゲート信号線およびソース信号線上に信
号線絶縁膜25を形成した例である。
なお、本実施例において信号線上の一部に信号線絶縁膜
25を形成するとしたが、これに限るものではなく、第
、16図のように信号線全体を被覆するような構造でも
よいことは明らかである。
25を形成するとしたが、これに限るものではなく、第
、16図のように信号線全体を被覆するような構造でも
よいことは明らかである。
発明の効果
以上のように本発明はアクティブマトリックスアレイは
絵素電極間に形成された信号線上に絶縁体膜を形成した
ものであるから、駆動用トランジスタに不良が生じた場
合、前記不良駆動トランジスタからの信号が絵素電極に
入力されないようにし、前記駆動トランジスタが接続さ
れた絵素電極と隣接した絵素電極間を前記信号線上に形
成された絶縁体膜上をへて電気的に接続する接続部を形
成することにより、容易に絵素欠陥を修正することがで
きる。
絵素電極間に形成された信号線上に絶縁体膜を形成した
ものであるから、駆動用トランジスタに不良が生じた場
合、前記不良駆動トランジスタからの信号が絵素電極に
入力されないようにし、前記駆動トランジスタが接続さ
れた絵素電極と隣接した絵素電極間を前記信号線上に形
成された絶縁体膜上をへて電気的に接続する接続部を形
成することにより、容易に絵素欠陥を修正することがで
きる。
また信号線上に信号線絶縁膜25を形成するだけでよい
から、前記信号線絶縁膜の形成プロセスは従来の電気的
接続パターンの形成プロセスと比較していたって容易で
ある。
から、前記信号線絶縁膜の形成プロセスは従来の電気的
接続パターンの形成プロセスと比較していたって容易で
ある。
また従来のアクティブマトリックスアレイでは電気的接
続パターンにより絵素の開口率を低下させるという問題
点があったが、通常、絶縁体は光の透過率が高いため本
発明のアクティブマトリックスでは信号線絶縁膜が絵素
領域に重って開口率が低下するという問題点は全くなく
なる。
続パターンにより絵素の開口率を低下させるという問題
点があったが、通常、絶縁体は光の透過率が高いため本
発明のアクティブマトリックスでは信号線絶縁膜が絵素
領域に重って開口率が低下するという問題点は全くなく
なる。
さらに従来のアクティブマトリックスでは信号線の下部
に電気的接続パターンが形成されているため、信号線下
の絶縁膜にピンホールが生じていた場合、信号線と絵素
電極が電気的接続状態となり、絵素の黒欠陥、白欠陥を
発生させるという問題点があったが、本発明のアクティ
ブマトリックスでは欠陥が発生した箇所のみに信号線絶
縁膜上に接続部を形成するものであるから、任意箇所の
駆動用薄膜トランジスタが不良かつ信号線絶縁膜にピン
ホールが発生している確率はきわめて低いため、従来の
問題点がなくなるという大きな効果を有する。
に電気的接続パターンが形成されているため、信号線下
の絶縁膜にピンホールが生じていた場合、信号線と絵素
電極が電気的接続状態となり、絵素の黒欠陥、白欠陥を
発生させるという問題点があったが、本発明のアクティ
ブマトリックスでは欠陥が発生した箇所のみに信号線絶
縁膜上に接続部を形成するものであるから、任意箇所の
駆動用薄膜トランジスタが不良かつ信号線絶縁膜にピン
ホールが発生している確率はきわめて低いため、従来の
問題点がなくなるという大きな効果を有する。
第1図は本発明の第1の実施例におけるアクティブマト
リックスアレイの一部拡大図、第2図は第1図CC′線
での断面図、第3図は本発明の第1の実施例におけるア
クティブマトリックスアレイに修正を加えたときのアク
ティブマトリックスアレイの一部拡大図、第4図は第3
図DD’腺での断面図、第5図は光CVD法による修正
装置の構成図、第6図はスパンタ法による修正装置の構
成図、第7図は本発明の第2の実施例におけるアクティ
ブマトリックスアレイの一部拡大図、第8図は本発明の
第2の実施例におけるアクティブマトリックスアレイに
修正を加えたときのアクティブマトリックスアレイの一
部拡大図、第9図は本発明の第3の実施例におけるアク
ティブマトリックスアレイの一部拡大図、第10図は本
発明の第3の実施例におけるアクティブマトリックスア
レイに修正を加えたときのアクティブマトリックスアレ
イの一部拡大図、第1)図、第12図、第13図、第1
4図、第15図、第16図は本発明のアクティブマトリ
ックスアレイの一部拡大図、第17図は従来のアクティ
ブマトリックスアレイの一部拡大図、第18図、第20
図は第17図のAA線での断面図、第19図は従来のア
クティブマトリックスアレイに修正を加えたときのアク
ティブマトリックスアレイの一部拡大図である。 1 a、 1 b、 l c、1 d−絵素電極、
2.6・・・・・・絶縁体膜、3・・・・・・ゲート信
号線、4・・・・・・ソース信号線、5・・・・・・ド
レイン端子、7・・・・・・金属薄膜、8・・・・・・
透明基板、9・・・・・・電気的接続用パターン、10
・・・・・・コンタクトホール、1)・・・・・・短絡
欠陥、12・・・・・・接続部、13・・・・・・アク
ティブマトリックスアレイ、14・・・・・・位置決め
手段、15・・・・・・原料ガス供給手段、16・・・
・・・ガス処理手段、17・・・・・・制御用スリット
、18・・・・・・ミラー、19・・・・・・レーザま
たは紫外域高調波発生手段、20・・・・・・モニタ手
段、21・・・・・・レンズ、22・・・・・・金属薄
膜、23・・・・・・窓、24・・・・・・金属薄膜ガ
ラス基板、25・・・・・・信号線絶縁@。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名1a、lb
、Ic、Icl −款走t 極2゛−、1)!縁体膜 3− ケート落予諌 25 °パ σ夛a封」1膜 8−・透1)@抜 第 4 図 13− アクテイフマトソツクスアレイ14−一−イ
jシニl>」象艷めぞ(jjテ+5−8P+ガ2#絵手
段 20−モニタ手段 第 5図 n−窓 24−全Affi膜ガヲスエ状 第6図 第7図 第8図 第9図 邪10図 富1)i″A 第12図 第13図 第14図 ”js 15図 酊16図 Ia、Iム、Ic、1cl −−紋 未 t Ji
&2.1−M縁体膜 汁−ゲート信号線 4−・ソース信号線 5“°−ドレイン塙子 第17図 7−“金属:I7.膜+7
− 妓絡欠 M 第19図 第20図
リックスアレイの一部拡大図、第2図は第1図CC′線
での断面図、第3図は本発明の第1の実施例におけるア
クティブマトリックスアレイに修正を加えたときのアク
ティブマトリックスアレイの一部拡大図、第4図は第3
図DD’腺での断面図、第5図は光CVD法による修正
装置の構成図、第6図はスパンタ法による修正装置の構
成図、第7図は本発明の第2の実施例におけるアクティ
ブマトリックスアレイの一部拡大図、第8図は本発明の
第2の実施例におけるアクティブマトリックスアレイに
修正を加えたときのアクティブマトリックスアレイの一
部拡大図、第9図は本発明の第3の実施例におけるアク
ティブマトリックスアレイの一部拡大図、第10図は本
発明の第3の実施例におけるアクティブマトリックスア
レイに修正を加えたときのアクティブマトリックスアレ
イの一部拡大図、第1)図、第12図、第13図、第1
4図、第15図、第16図は本発明のアクティブマトリ
ックスアレイの一部拡大図、第17図は従来のアクティ
ブマトリックスアレイの一部拡大図、第18図、第20
図は第17図のAA線での断面図、第19図は従来のア
クティブマトリックスアレイに修正を加えたときのアク
ティブマトリックスアレイの一部拡大図である。 1 a、 1 b、 l c、1 d−絵素電極、
2.6・・・・・・絶縁体膜、3・・・・・・ゲート信
号線、4・・・・・・ソース信号線、5・・・・・・ド
レイン端子、7・・・・・・金属薄膜、8・・・・・・
透明基板、9・・・・・・電気的接続用パターン、10
・・・・・・コンタクトホール、1)・・・・・・短絡
欠陥、12・・・・・・接続部、13・・・・・・アク
ティブマトリックスアレイ、14・・・・・・位置決め
手段、15・・・・・・原料ガス供給手段、16・・・
・・・ガス処理手段、17・・・・・・制御用スリット
、18・・・・・・ミラー、19・・・・・・レーザま
たは紫外域高調波発生手段、20・・・・・・モニタ手
段、21・・・・・・レンズ、22・・・・・・金属薄
膜、23・・・・・・窓、24・・・・・・金属薄膜ガ
ラス基板、25・・・・・・信号線絶縁@。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名1a、lb
、Ic、Icl −款走t 極2゛−、1)!縁体膜 3− ケート落予諌 25 °パ σ夛a封」1膜 8−・透1)@抜 第 4 図 13− アクテイフマトソツクスアレイ14−一−イ
jシニl>」象艷めぞ(jjテ+5−8P+ガ2#絵手
段 20−モニタ手段 第 5図 n−窓 24−全Affi膜ガヲスエ状 第6図 第7図 第8図 第9図 邪10図 富1)i″A 第12図 第13図 第14図 ”js 15図 酊16図 Ia、Iム、Ic、1cl −−紋 未 t Ji
&2.1−M縁体膜 汁−ゲート信号線 4−・ソース信号線 5“°−ドレイン塙子 第17図 7−“金属:I7.膜+7
− 妓絡欠 M 第19図 第20図
Claims (2)
- (1)透過型液晶表示パネルに用いるアクティブマトリ
ックスアレイであって、絵素電極間に形成された信号線
上に絶縁体膜を形成したことを特徴とするアクティブマ
トリックスアレイ。 - (2)絶縁体膜はスイッチング素子形成時に用いる絶縁
物質で形成することを特徴とする特許請求の範囲第(1
)項記載のアクティブマトリックスアレイ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62111056A JPS63276032A (ja) | 1987-05-07 | 1987-05-07 | アクテイブマトリツクスアレイ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62111056A JPS63276032A (ja) | 1987-05-07 | 1987-05-07 | アクテイブマトリツクスアレイ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63276032A true JPS63276032A (ja) | 1988-11-14 |
Family
ID=14551284
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62111056A Pending JPS63276032A (ja) | 1987-05-07 | 1987-05-07 | アクテイブマトリツクスアレイ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63276032A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02310537A (ja) * | 1989-05-26 | 1990-12-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | アクティブマトリックスアレイ |
JPH055902A (ja) * | 1991-06-27 | 1993-01-14 | Sanyo Electric Co Ltd | 液晶表示パネル |
CN100419503C (zh) * | 2004-09-27 | 2008-09-17 | 株式会社日立显示器 | 图形修正装置和显示装置的制造方法 |
JP2008262013A (ja) * | 2007-04-12 | 2008-10-30 | Sony Corp | 表示装置の製造方法およびtftアレイ基板の製造方法 |
US8704309B2 (en) | 2011-05-26 | 2014-04-22 | Panasonic Corporation | Display panel and method of manufacturing the same |
-
1987
- 1987-05-07 JP JP62111056A patent/JPS63276032A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02310537A (ja) * | 1989-05-26 | 1990-12-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | アクティブマトリックスアレイ |
JPH055902A (ja) * | 1991-06-27 | 1993-01-14 | Sanyo Electric Co Ltd | 液晶表示パネル |
CN100419503C (zh) * | 2004-09-27 | 2008-09-17 | 株式会社日立显示器 | 图形修正装置和显示装置的制造方法 |
JP2008262013A (ja) * | 2007-04-12 | 2008-10-30 | Sony Corp | 表示装置の製造方法およびtftアレイ基板の製造方法 |
US8704309B2 (en) | 2011-05-26 | 2014-04-22 | Panasonic Corporation | Display panel and method of manufacturing the same |
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