JPS63263798A - 電子部品の実装方法 - Google Patents

電子部品の実装方法

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JPS63263798A
JPS63263798A JP9928887A JP9928887A JPS63263798A JP S63263798 A JPS63263798 A JP S63263798A JP 9928887 A JP9928887 A JP 9928887A JP 9928887 A JP9928887 A JP 9928887A JP S63263798 A JPS63263798 A JP S63263798A
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JP
Japan
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component
chip
components
solder
leaded
Prior art date
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Pending
Application number
JP9928887A
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English (en)
Inventor
福本 秀裕
恩地 紀夫
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
Application filed by Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Tateisi Electronics Co
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 この発明は、チップ抵抗、チップトランジスタ等の面実
装部品と、リード付部品等を基板に実装する混成電子部
品の実装方法に関する。
(ロ)従来の技術 従来、プリント基板に混成電子部品(面実装部品・リー
ド付実装部品)を実装する方式として、第3図〔第3図
(A)乃至第3図(F)〕及び第4図〔第4図(八)乃
至第4図(F)〕の工程図に示す2つの方式が採用され
ている。
第3図に示す実装方式は、プリント基板11に半田クリ
ーム12を印刷し〔第3図(A))、この半田クリーム
12の上面に面実装部品(チップ部品)13を載せた後
〔第3図(B))、リフロー炉にてヒータエ4加熱しり
フロー半田付けする(第3図(C)〕。その後、基板1
1に対しリード付実装部品15を手挿入し〔第3図(D
))、更にこのリード付実装部品15のリード挿入端部
16を治具にて折曲げた後〔第3図(E))、手半田付
けを行い〔第3図(F))、フレオン洗浄する工程から
成る。
第4図に示す実装方式は、プリント基板21の上面に接
着剤(紫外線硬化樹脂)22を塗布し〔第4図(^)〕
、この接着剤22上にチップ部品23をマウントした後
〔第4図(B)]、接着剤22に紫外線を照射して硬化
させ、チップ部品23を接着固定する[第4図(C)]
。その後、基板21に対しリード付部品24のリード足
26をインサートマシンにより挿入し〔第4図(D))
、この状態で基板21を半田デイツプ槽25に通し〔第
4図(E) ) 、IJ−ド付部品24及びチップ部品
23をディップ半田付けし〔第4図(F))、リード足
端部26をカットし、フレオン洗浄する工程から成る。
(ハ)発明が解決しようとする問題点 上記、従来の実装方法のうち、前者の方式はチップ部品
をクリーム半田付けした後、リード部品を手半田する、
所謂手半田方式であり、リード付部品のリード挿入端部
を治具にて屈曲させ、作業者の手によって半田付けする
ため、作業効率が悪い等の不利がある。一方、後者の所
謂ワンディップ実装方式は自動化されているため、前者
(手半田方式)の不利は解消される反面、第5図(A)
、第5図(B)で示すように、仮に実装される面実装部
品(例えばチップトランジスタ)23が小型であり、隣
合う電極23a間距離が極めて狭い場合、或いは実装部
品間の半田付は部のピッチ間隔が狭い場合には、ディッ
プ半田槽においてディップ半田付けを行う際、隣合う電
極間が半田ブリッジを起こし、電気的ショート状態とな
る虞れがある。
従って、この後者のワンディップ実装方式では、実装密
度を上げることが不可能である等の不利があった。
この発明は、電子部品の実装作業が簡易で、且つ実装効
率を向上した電子部品の実装方法を提供することを目的
とする。
(ニ)問題点を解決するための手段及び作用この目的を
達成させるために、この発明の電子部品実装方法は、プ
リント基板に半田クリームを印刷し、この半田クリーム
上に面実装部品を載置し、この面実装部品を接着剤にて
接着固定した後、基板に対しリード付部品を挿入し、面
実装部品及びリード付部品をディップ半田付けする工程
から成る。
このような電子部品の実装方法では、基板に印刷した半
田クリーム上にチップ部品をilf置し、このチップ部
品を接着剤にて被覆固定する。この接着剤は、例えば半
田の融点より高い、つまり分子量の高いUV樹脂(ウル
トラバイオレット樹脂)、例えばエポキシ樹脂等の紫外
線硬化樹脂が使用され、チップ部品に塗布した後、紫外
線で硬化させ、固定する。これにより、チップ部品が完
全に固定され、後工程で行うディップ半田時におけるチ
ップ部品の脱落、位置ずれが防止される。そして、基板
に対しリード付部品を挿入し、ディップ半田槽にてリー
ド付部品をディップ半田付けする。この時、同時にチッ
プ部品も半田付けされる。ここで、チップ部品は接着剤
層にて被覆されているから、小型チップ部品の隣合う電
極間、チップ部品間或いはチップ部品とリード付部品間
の半田ブリッジが阻止され、高密度実装が達成される。
(ホ)実施例 第1図〔第1図(八)乃至第1図(G)〕・は、この発
明に係る電子部品の実装方法の具体的な一実施例を示す
工程図である。
電子部品の実装方法は、まずプリント基板(の回路パタ
ーン)1にスクリーンペースト装置を用いて、半田クリ
ーム2を印刷する〔第1図(A)〕。
続いて、このクリーム半田2の上面にチップ抵抗、チッ
プコンデンサ等のチップ部品3をマウントする〔第1図
(b)〕。この状態で、チップ部品3の周面(半田クリ
ーム部を含む上面)に、ディスペンサ装置を用いて接着
剤を塗布する〔第1図(C)〕。この接着剤は、UV樹
脂(ウルトラバイオレット樹脂)、例えばエポキシ樹脂
等の紫外線硬化樹脂であって、半田融点よりも高い融点
、つまり分子量の高い樹脂が使用され、チップ部品3が
接着剤層4により被覆される。更に、紫外線ランプ(水
銀ランプ)5にて、接着剤層5に紫外線を照射し硬化さ
せる〔第1図(D)〕。ここにおいて、接着剤層5が光
重合反応を起こして硬化し、チップ部品3が完全に固定
される。つまり、後述する後工程において、リード付部
品6をディップ半田付けする際のチップ部品3の脱落、
位置ずれを防止すると共に、半田ブリッジの発生を防止
する。
更に、基板1に対しリード付抵抗、リード付コンデンサ
等のリード付部品6のリード61を、インサートマシン
により挿入し〔第1図(E))、この状態でディップ半
田槽7に通し〔第1図(F)〕、ここでリード付部品6
のディップ半田付けを行う〔第1図(F)〕。この時、
同時にチップ部品3も半田付けされる。つまり、チップ
部品3の半田付けは、リフロー半田付け(リフロー炉の
ヒータ加熱による半田付け)を行うのではなく、1回の
ディップ半田処理でチップ部品とリード付部品とを同時
に半田付は処理する。基板1をディップ半田槽7を通す
時、チップ部品3のクリーム半田が溶解するが、接着剤
層4は溶解せずチップ部品3の適正位置が保持される。
しかも、チップ部品3は接着剤層4により完全に被覆さ
れているから、仮にチップ部品3間、或いはチップ部品
3とリード付部品6間のピッチ間隔が狭い場合であって
も、ディップ半田付けによりブリッジ状態となる戊れが
全くない。
このディップ半田付け(チップ部品3の半田付は及びリ
ード付部品60半田付け)が、終了した時点で、リード
付部品6のリード6・1端部をリードカッタによりカッ
ティングし、フレオン洗浄して工程を終了する。
第2図(A)及び第2図(B)は、チップ部品3に対す
る接着剤N4の形成方法の他の具体例を示しており、第
2図(八)は平面図、第2図(B)は側面図である。先
の実施例では、接着剤層4はチップ部品3の全面を被覆
する例を示したが、この実施例ではチップ部品3の全面
を被覆するのではなくクリーム半田2対応部分を含む一
部の面を接着剤層4により被覆する場合を例示している
。この場合であっても、前記実施例と同様に、チップ部
品3の脱落及び半田ブリッジを防止し得ることは勿論で
ある。
また、実施例では基板1に対し片面実装の場合を例示し
たが、実施に際しては基板1に対し面実装部品(チップ
部品)3を両面実装しても良い。
この場合は、第1図に示す半田クリーム印刷、チップ部
品マウント、接着剤塗布、接着剤硬化処理〔第1図(A
)乃至第1図(D)]を実行した後、基vi1の裏面に
同様の処理〔第1図(八)乃至第1図(D)]を行い、
その後、第1図に示すリード付部品挿入、ディップ半田
付は処理〔第1図(E)乃至第1図(G)〕を行うこと
で可能となる。
このような電子部品の実装方法によれば、チップ部品3
が接着剤層4で完全に被覆固定されるため、後工程で行
われるリード付部品6のディップ半田付は時、チップ部
品3の半田付けが溶解し脱落する等の虞れがない許かり
でなく、同時にチップ部品3も半田付けが実行される。
また、チップ部品3は接着剤層4に被覆されているから
、混成部品間の隣合う電極間が半田ブリッジされ、電気
的ショート状態となる等の虞れが解消される。
(へ)発明の効果 この発明の電子部品実装方法では、基板に印刷処理した
半田クリーム上にチップ部品を載置し、このチップ部品
を接着剤で被覆固定し、その後、基板に対しリード付部
品を挿入し、リード付部品をディップ半田付けする工程
としたから、ディップ半田槽を通過する時、クリーム半
田が溶解しチップ部品も同時に半田付けされ、チップ部
品及びリード付部品は1回のディップ半田処理で同時に
半田付けが実行される。
また、チップ部品は接着剤層によって完全に被覆固定さ
れているから、ディップ半田槽通過時、脱落する等の虞
れがない。更に、接着剤層によってチップ部品が被覆固
定されているから、仮に実装部品が高密度実装された場
合であっても、隣合・う部品の電極間がディップ半田に
より、半田ブリッジがかかる等の不利が解消され、実装
効率が向上する等、発明目的を達成した優れた効果を有
する。
【図面の簡単な説明】
第1図(A)、第1図(B)、第1図(C)、第1図(
D)、第1図(E)、第1図(F)及び第1図(G)は
、実施例電子部品実装方法の実装工程を示す工程説明図
、第2図(A)及び第2図(B)は、接着剤層の形成方
法の他の実施例を示し、第2図(八)は平面図、第2図
(B)は側面図、第3図(A)、第3図(B)、第3図
(C)、第3図(D)、第3図(E)及び第3図(F)
は、従来の電子部品の実装方法を示す実装工程図、第4
図(A)、第4図(B)、第4図(C)、第4図(D)
、第4図(E)及び第4図(F)は、従来の他の電子部
品実装方法を示す実装工程図、第5図(八)及び第5図
(B)は、従来の電子部品の実装方法により生じる半田
ブリッジ状態を示し、第5図(A)は平面図、第5図(
13)は側面図である。 1ニブリント基板、 3:面実装部品、4:接着剤層、
   6:リード付部品。 特許出願人       立石電機株式会社代理人  
  弁理士  中 村 茂 信第2図(A) 第2図(B)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)プリント基板に半田クリームを印刷し、この半田
    クリーム上に面実装部品を載置し、この面実装部品を接
    着剤にて接着固定した後、基板に対しリード付部品を挿
    入し、面実装部品及びリード付部品をディップ半田付け
    する電子部品の実装方法。
JP9928887A 1987-04-22 1987-04-22 電子部品の実装方法 Pending JPS63263798A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9928887A JPS63263798A (ja) 1987-04-22 1987-04-22 電子部品の実装方法

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JP9928887A JPS63263798A (ja) 1987-04-22 1987-04-22 電子部品の実装方法

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JPS63263798A true JPS63263798A (ja) 1988-10-31

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ID=14243458

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JP9928887A Pending JPS63263798A (ja) 1987-04-22 1987-04-22 電子部品の実装方法

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JP (1) JPS63263798A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0417391A (ja) * 1990-05-10 1992-01-22 Taiyo Yuden Co Ltd 配線基板に電子部品を搭載する方法と回路基板
JPH04122094A (ja) * 1990-09-13 1992-04-22 Fujitsu Ltd 電子部品接合方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0417391A (ja) * 1990-05-10 1992-01-22 Taiyo Yuden Co Ltd 配線基板に電子部品を搭載する方法と回路基板
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