JPS63235343A - 二軸配向ポリエステルフイルム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は二軸配向ポリエステルフィルムに関し、更に詳
しくは平均粒径の異なる球状シリカ粒子を含有し、平坦
で、滑り性、耐削れ性等に優れた二軸配向ポリエステル
フィルムに関する。

［従来技術］ ポリエチレンテレフタレートフィルムに代表されるポリ
エステルフィルムは、その優れた物理的。

化学的特性の故に、広い用途に用いられ、例えば磁気テ
ープ用、コンデンサー用、写真用、包装用。

ＯＨＰ用等に用いられている。

ポリエステルフィルムにおいては、その滑り性や耐削れ
性がフィルムの製造工程よび各用途における加工工程の
作業性の良否、さらにはその製品品質の良否を左右する
大きな要因となっている。

特にポリエステルフィルム表面に磁性層を塗布し、磁気
テープとして用いる場合には、磁性層塗布時におけるコ
ーティングロールとフィルム表面との摩擦および摩耗が
極めて激しく、フィルム表面へのしねおよび擦り傷が発
生しやすい。また、磁性層塗布後のフィルムをスリン１
−シてオーディオ。

ビデオまたはコンピューター用テープ等に加工した後で
も、リールやカセット等からの引き出し、巻き上げその
他の操作の際に、多くのガイド部。

再生ヘッド等との間で摩耗が著しく生じ、擦り傷。

歪みの発生、さらにはポリエステルフィルム表面の削れ
等による白粉状物質を析出させる結果、磁気記録信号の
欠落、即ちドロップアウトの大きな原因となることが多
い。

一般に、フィルムの滑り性および耐削れ性の改良にはフ
ィルム表面に凹凸を付与することによりガイドロール等
との間の接触面積を減少せしめる方法が採用されており
、大別して（ｉ）フィルム原料に用いる高分子の触媒残
渣から不活性の粒子を析出せしめる方法と、（ｉｉ）不
活性無機粒子を添加せしめる方法が用いられている。こ
れら原料高分子中の微粒子は、その大きさが大きい程、
滑り性の改良効果が大であるのが一般的であるが、磁気
テープ、特にビデオ用のごとき精密用途には、その粒子
が大きいこと自体がドロップアウト等の欠点発生の原因
ともなり得るため、フィルム表面の凹凸は出来るだけ微
細である必要があり、相反する特性を同時に満足すべき
要求がなされているのが現状である。

［発明の目的］ 本発明者は、これらの不都合を解消し、粒子周辺のボイ
ドを少なくし且つフィルム表面が適度に粗れることによ
ってフィルムの滑り性と耐削れ性が向上し、しかも各用
途に適した表面性の二軸配向ポリエステルフィルムを得
るべく、殊にビデオテープ用、オーディオテープ用、コ
ンピューターテープ用等の磁気テープ用ポリエステルフ
ィルムを得るべく鋭意検討の結果、フィルム表面の突起
の形状をシャープにし、更に大粒子と小粒子とを特定の
組合せにすればフィルム表面が平坦でも滑り性及び耐削
れ性が大巾に改良されること、突起の形状をシャープに
する為にはフィルム内に存在する粒子は球状であるもの
が最も好ましいこと、球状に近い粒子としてはガラスピ
ーズをはじめ数多く存在するが、これらからは殊に磁気
テープ用としての表面特性を満足するフィルムを得るこ
とが難しいが、特定の球状シリカ粒子を大粒子と小粒子
の組合せて用いると上記特性を満足するフィルムの得ら
れることを見出し、本発明に到達した。

従って、本発明の目的は、ボイドが少なく、平坦で滑り
性、耐削れ性等に優れた二軸配向ポリエステルフィルム
を提供することにある。

［発明の構成・効果］ 本発明の目的は、本発明によれば、ポリエステル中に第
１成分として平均粒径が０．６〜３μｍでおりかつ粒径
比（長径／短径）が１．０〜１．２である球状シリカ粒
子を０．００１〜２．５重量％含有し、かつ第２成分と
して平均粒径が０．７〜３．１μｍでおりかつ粒径比（
長径／短径）が１．０〜１，２である球状シリカ粒子を
０．００１〜２重量％含有することを特徴とする二軸配
向ポリエステルフィルムによって達成される。

本発明におけるポリエステルとは芳香族ジカルボン酸を
主たる酸成分とし、脂肪族グリコールを主たるグリコー
ル成分とするポリエステルである。

かかるポリエステルは実質的に線状であり、そしてフィ
ルム形成性特に溶融成形によるフィルム形成性を有する
。芳香族ジカルボン酸としては、例えばテレフタル酸、
ナフタレンジカルボン酸、イソフタル酸、ジフェノキシ
エタンジカルボン酸。

ジフェニルジカルボン酸、ジフェニルエーテルジカルボ
ン酸、ジフェニルスルホンジカルボン酸。

ジフェニルケトンジカルボン酸、アンスラセンジカルボ
ン酸等を挙げることができる。脂肪族グリコールとして
は、例えばエチレングリコール、トリメチレングリコー
ル、テトラメチレングリコール、ペンタメチレングリコ
ール、ヘキサメチレングリコール、デカメチレングリコ
ールの如き炭素数２〜１０のポリメチレングリコールあ
るいはシクロヘキサンジメタツールの如き脂環族ジオー
ル等を挙げることができる。

本発明において、ポリエステルとしては例えばアルキレ
ンテレフタレート及び／又はアルキレンナフタレートを
主たる構成成分とするものが好ましく用いられる。かか
るポリエステルのうちでも、例えばポリエチレンテレフ
タレート、ポリエチレン−２，６−ナフタレートはもち
ろんのこと、例えば全ジカルボン酸成分の８０モル％以
上がテレフタル酸及び／又は２．６−ナフタレンジカル
ボン酸であり、全グリコール成分の８０モル％以上がエ
チレングリコールである共重合体が好ましい。その際全
酸成分の２０モル％以下のジカルボン酸はテレフタル酸
及び／又は２，６−ナフタレンジカルボン酸以外の上記
芳香族ジカルボン酸であることができ、また例えばアジ
ピン酸、セパチン酸等の如き脂肪族ジカルボン酸；シク
ロへキチン−１，４−ジカルボン酸の如き脂環族ジカル
ボン酸等であることができる。また、全グリコール成分
の２０モル％以下のグリコールは、エチレングリコール
以外の上記グリコールであることができ、あるいは例え
ばハイドロキノン、レゾルシン、２．２−ビス（４−ヒ
ドロキシフェニル）プロパン等の如き芳香族ジオール；
１，４−ジヒドロキシメチルベンゼンの如き芳香環を含
む脂肪族ジオール：ポリエチレングリコール、ポリプロ
ピレングリコール、ポリテトラメチレングリコール等の
如ぎポリアルキレングリコール（ポリオキシアルキレン
グリコール）等であることもできる。

また、本発明で用いるポリエステルには、例えばとドロ
キシ安息香酸の如き芳香族オキシ酸：ω−ヒドロキシカ
プロン酸の如き脂肪族オキシ酸等のオキシカルボン酸に
由来する成分を、ジカルボン酸成分およびオキシカルボ
ン酸成分の総量に対し２０モル％以下で共重合或いは結
合するものも包含される。

さらに本発明におけるポリエステルには実質的に線状で
ある範囲の量、例えば全酸成分に対し２モル％以下の量
で、３官能以上のポリカルボン酸又はポリヒドロキシ化
合物、例えばトリメリット酸、ペンタエリスリトールを
共重合したものをも包含される。

上記ポリエステルは、それ自体公知であり、且つそれ自
体公知の方法で製造することができる。

上記ポリエステルとしては、０−クロロフェノール中の
溶液として３５℃で測定して求めた固有粘度が約０．４
〜約０．９のものが好ましい。

本発明の二軸配向ポリエステルフィルムはそのフィルム
表面に多数の微細な突起を有している。

それらの多数の微細な突起は本発明によればポリエステ
ル中に分散して含有される多数の球状シリカ粒子に由来
するものである。

かかる球状シリカ粒子を分散含有するポリエステルは、
通常ポリエステルを形成するための反応時、例えばエス
テル交換法による場合のエステル交換反応中あるいは重
縮合反応中の任意の時期、又は直接重合法による場合の
任意の時期に、球状シリカ粒子（好ましくはグリコール
中のスラリーとして）を反応系中に添加することにより
製造することができる。好ましくは、重縮合反応の初期
例えば固有粘度が約０．３に至るまでの間に、該球状シ
リカ粒子を反応系中に添加するのが好ましい。

本発明においてポリエステル中に分散含有させる球状シ
リカ粒子は粒径比（長径／短径）が１．０〜１．２、好
ましくは１．０〜１．１５、更に好ましくは１．０〜１
．１であるものであり、個々の形状が極めて真球に近い
ものである。そして、この球状シリカ粒子は平均粒径が
０．６〜３μｍ、好ましくは０．６〜２μ鴎、更に好ま
しくは０．６〜１．５μｍのもの（第１成分）と、平均
粒径が０．１〜３．１μ醜、好ましくは０．７〜２．１
μ−１更に好ましくは０．７〜１．６μ醜のものく第２
成分）との２種である。

かかる球状シリカ粒子は、従来から滑剤として知られて
いるシリカ粒子が１０ｍμｍ程度の超微細な塊状粒子か
、これらが凝集して０．５μｍ程度の凝集物（凝集粒子
）を形成しているのとは著しく異なる点に特徴がある。

第１成分としての球状シリ力粒子の平均粒径が３μｍを
こえると、表面平坦性が不充分となり、好ましくない。

また、第２成分としての球状シリカ粒子の平均粒径が３
．１μｍをこえると表面平坦性が不充分となり、好まし
くない。

ここで、球状シリカ粒子の長径、短径１面積円相当径は
粒子表面に金属を蒸着してのち電子顕微鏡にて例えば１
万〜３万倍に拡大した像から求め、平均粒径２粒径比は
次式で求める。

平均粒径＝測定粒子の面積円相高径の総和／・測定粒子
の数 粒径比＝シリカ粒子の平均長径／ 該粒子の平均短径 また、これら球状シリカ粒子は粒径分布がシャープであ
ることが好ましく、分布の急峻度を表わす相対標準偏差
が０．５以下、更には０．４以下、特に０．３以下であ
ることが好ましい。

この相対標準偏差は次式で表わされる。

ここで、Ｄｉ：個々の粒子の面積円相高径（μｍ）ｒ５
二面積円相当径の平均値 Σ　Ｄｉ （＝　　ｉ＝１　　　＞　　（ｐｍ＞ ｎ：粒子の個数 を表わす。

相対標準偏差が０．５以下の球状シリカ粒子を用いると
、該粒子が真球状で且つ粒度分布が極めて急峻であるこ
とから、フィルムの表面に形成される突起の分布は極め
て均一性が高く、突起高さのそろった滑り性の優れたポ
リエステルフィルムが得られる。第１成分の平均粒径と
第２成分の平均粒径とは少くとも０．１μｍの差のある
ことが好ましい。また第１成分と第２成分の粒度分布は
実質的に互いに重ならないことが好ましい。

球状シリカ粒子は、上述の条件を満せば、その製法その
他に何ら限定されるものではない。例えば球状シリカ粒
子は、オルトケイ酸エチル［Ｓｉ　（ＯＣｚｌ（ｓ＞　
４　］の加水分解から含水シリカ［Ｓｉ　（ＯＨ）４　
］単分散球をつくり、更にこの含水シリカ単分散法を脱
水化処理してシリカ結合［ミ５ｉ−０−３ｉ：＝］を三
次元的に成長させることに製造できる（日本科学会誌’
８１．　Ｎｏ、９．　Ｐ１５０３）。

Ｓ！　（０ＣｚＨｓ）　４　＋　４　Ｈ２０→Ｓｉ　（
ＯＨ＞　４　＋　４Ｃ２Ｈ５Ｏｔｌ＝Ｓｉ−ＯＨ＋ＨＯ
−３ｉ＝→ ＝Ｓｉ−０−３ｉ＝＋Ｉ−ｂ。

本発明において第１成分としての球状シリカ粒子の添加
層は、ポリエステルに対して０．００１〜２．５重辺％
であり、好ましくは０．００５〜１．５重量％、更に好
ましくはｏ、　ｏｉ〜Ｇ、８型温％である。また第２成
分としての球状シリカ粒子の添加層は、ポリエステルに
対して０．００１〜２重量％、好ましくは０．００５〜
１．５重量％、更に好ましくは０．０１〜０．８重層°
％の範囲内である。また第１成分の量より第２成分の量
が少ない方が好ましい。

第１成分及び第２成分の添加１が０．００１重量％未満
では、滑り性や耐スクラッチ性の向上効果が不充分であ
る。また、第１成分及び第２成分の総添加量としては、
ｏ、　ｏｉ〜　２．６　重１％、更には０゜０２〜１．
３重量％、特に０．０４〜０．８重量％であることが好
ましい。この総添加吊が多すぎると表面平坦性が低下し
、好ましくない。

本発明の二軸配向ポリエステルフィルムは従来から蓄積
された二軸延伸フィルムの製造法に準じて製造できる。

例えば、所定量の球状シリカ粒子を含有するポリエステ
ルを溶融製膜して非晶質の未延伸フィルムとし、次いで
該未延伸フィルムを二輪方向に延伸し、熱固定し、必要
であれば弛緩熱処理することによって製造される。その
際、フィルム表面特性は、球状シリカ粒子の粒径２Ｍ等
によって、また延伸条件によって変化するので従来の延
伸条件から適宜選択する。また密度、熱収縮率等も延伸
、熱処理時の温度１倍率、速度等によって変化するので
、これらの特性を同時に満足する条件を定める。例えば
、延伸温度は１段目延伸温度（例えば縦方向延伸温度：
Ｔ１）が（Ｔｇ−１０）〜（１ｇ＋４５）　’Ｃの範囲
（但し、■ｇ：ポリエステルのガラス転移温度）から、
２段目延伸温度（例えば横方向延伸温度：Ｔ２）が（Ｔ
１＋５）〜（η＋４０）℃の範囲から選択するとよい。

また、延伸倍率は一軸方向の延伸倍率が２．５以上、特
に３倍以上でかつ面積倍率が８倍以上、特に１０倍以上
となる範囲から選択するとよい。更にまた、熱固定温度
は１８０〜２５０℃、更には２００〜２３０℃の範囲か
ら選択するとよい。

本発明の二軸配向ポリエステルフィルムは従来のものに
比してボイドが極めて少ないという特徴を有する。この
球状シリカ粒子の周辺のボイドが小さい理由は、該粒子
のポリエステルへの親和性の良さと、更に粒子そのもの
が極めて真球に近いことから、延伸において粒子周辺の
応力が均等に伝播し、ポリエステルと粒子の界面の一部
に応力が集中しないこと、によると推測される。

本発明においては、その粒径分布が極めてシャープであ
る大小２種の球状シリカ粒子の添加により、ポリエステ
ルフィルム表面に形成された突起の分布は極めて均一性
が高く、大小突起のそれぞれの高さのそろったポリエス
テルフィルムが１ｊられる。

本発明の二軸配向ポリエステルフィルムは、均一な凹凸
表面特性、すぐれた滑り性、すぐれた耐スクラッチ性等
を有し、例えば擦り傷、白粉等の発生量が著しく少ない
という特徴を有する。この二軸配向ポリエステルフィル
ムはこれらの特性を活かして各種の用途に広く用いるこ
とができる。

例えば、磁気記録用例えばビデオ用、オーディオ用、コ
ンピューター用などのベースフィルムとして用いると、
優れた電磁変換特性、滑り性、走行耐久性等が得られる
。またコンデンナー用途に用いると、低い摩擦係数、す
ぐれた巻回性、低いつぶれ荷重、高い透明性等が得られ
る。上述のように、この二軸配向ポリエステルフィルム
は磁気記録媒体のベースフィルム特に磁気テープのベー
スフィルムに用いるのが好ましいが、これに限定される
ものでなく、電気用途、包装用途及び蒸着用フィルム等
の他の分野へも広く適用することが出来る。

更に、フィルムの片面又は両面に易接着処理例えば易接
着層コーティング、コロナ処理等の表面処理が施されて
いてもよく、またフィルムは帯電防止剤、紫外線吸収剤
２着色剤などの第３成分を含んでいても良い。

［実施例］ 以下、実施例を掲げて本発明を更に説明する。

なお本発明における種々の物性値および特性は以下の如
く測定されたものである。

（１）球状シリカ粒子の粒径 粒子粒径の測定には次の状態がある。

（ｉ）粉体から平均粒径１粒径比等を求める場合（１１
）フィルム中の粒子の平均粒径９粒径比等を求める場合 （ｉ）粉体からの場合 電顕試料台上に粉体を個々の粒子ができるだけ蛋ならな
いように散在せしめ、金スパッター装置により表面に金
薄膜蒸着層（層厚み２００〜３００人）を形成せしめ、
走査型電子顕微鏡にて１万〜３万倍の倍率で観察し、日
本レギュレーター■製ルーピックス＜　ＬｕＺｅＸ）５
００にて少なくとも１００個の粒子の長径（０＊；）、
短径（ＤＳｉ）及び面積円相光径（Ｄｉ）を求める。そ
して、これらの次式で表わされる数平均値をもって、シ
リカ粒子の長径（Ｄｉ）、短径（ＤＳ）。

平均粒径（ｒ５）を表わす。

ＤＪ！＝　（Σ　Ｄｊ！ｉ）／ｎ。

ｉ＝１ Ｄｓ　＝　（Σ　［）Ｓｔ）　／ｎ。

ｉ＝１ 回＝（Σ　［）ｉ）／ｎ ｉ＝１ （ｉｉ）フィルム中の粒子の場合 試料フィルム小片を走査型電子顕微鏡用試料台に固定し
、日本電子ＩＩ製スパッターリング装置（ＪＦＣ−１１
００型イオンスパツタリング装置）を用いてフィルム表
面に下記条件にてイオンエツチング処理を施す。条件は
、ペルジャー内に試料を設置し、約１０−３　Ｔｏｒｒ
の真空状態まで真空度を上げ、電圧０．２５にＶ、電流
１２．５ｍＡにて約１０分間イオンエツチングを実施す
る。更に同装置にて、フィルム表面に金スパッターを施
し、走査型電子顕微鏡にて例えば１万〜３万倍の倍率で
１２寮し、日本レギュレーターＨ！！！／レーゼツクス
５００にて少なくとも１００個の粒子の長径（Ｄｉｉ）
。

短径（ＤＳｉ）及び面積用相当径（Ｄｉ）を求める。

以下、上記（ｉｌと同様に行なう。

（２）シリカ粒子以外の粒子の粒径等 １）平均粒径 島津製作断裂ＣＰ−５０型セントリフニゲルパーティク
ル　サイズ　アナライザー （Ｃｅｎｔｒｉｆｕｇａｌ　Ｐａｒｔｉｃｌｅ　５ｉｚ
ｅ　Ａｎａｌｙｓｅｒ）を用いて測定し、得られた遠心
沈降曲線を基に算出した各粒径の粒子とその存在量との
積算曲線から、５０マスパーセントに相当する粒径を読
み取り、この値を上記平均粒径とする（Ｂｏｏｋｒ粒度
測定技術」日刊工業新聞社発行。

１９７５年１頁２４２〜２４７参照）。

２）粒径比 フィルム小片をエポキシ樹脂にて固定成形し、ミクロト
ームにて約６００への厚みの超薄切片（フィルムの流れ
方向に平行に切断する）を作成する。この試料を透過型
電子顕微鏡（日立製作新製：　Ｈ−８００型）にてフィ
ルム中の滑剤の断面形状を観察し、滑剤の長袖と短軸の
比で表わす。

３）相対標準偏差値 球状シリカの場合と同様にして測定を行ない、球状以外
の粒子はフィルム厚み方向について、粒子の粒径比から
体積を算出し、等両法とした時の直径をもって粒径とし
、相対標準偏差を算出する。

（３）フィルム表面粗さくＲａ） 中心線平均粗さくＲａ）としてＪＩＳ−ＢＯ６０１で定
義される値であり、本発明では■小板研究所の触針式表
面粗さ計（ＳＵＲＦＣＯＲＤＥＲ５Ｅ−３０Ｃ）を用い
て測定する。測定条件等は次の通りである。

（ａ）触針先端半径　　　：２μｍ （ｂ）測定圧力　　　　　：　３０ｍｇ（Ｃ）カットオ
フ　　　　：　０．２５ｍ１Ｒ（ｄ）測定長　　　　　
　：　２．５１１１ｍ（ｅ）データーのまとめ方 同−資料について５回繰返し測定し、最も大きい値を１
つ除き、残り４つのデーターの平均値の小数点以下４桁
目を四捨五入し、小数点以下３桁目まで表示する。

（４）フィルムの摩擦係数（μｋ） 温度２０℃、湿度６０％の環境で、巾１７２インチに裁
断したフィルムを、固定棒（表面粗さ０．２μｍ）に角
度θ＝πラジアンで接触させて毎分１００ＣＩＩＩの速
さで移動（摩擦）さぜる。入口テンションＴ１が３０ｇ
となるようにテンションコントローラーを調整した時の
出口テンション（Ｔ２二ｇ）をフィルムが９０ｍ走行し
たのちに出口テンション検出機で検出し、次式で走行摩
擦係数μｋを算出する。

μｋ　＝　（２，３０３／θ）　１０（１（Ｔ２／　Ｔ
Ｉ　＞＝０．７３３１ｏａ　　（Ｔ２／３０）（５）削
れ性 フィルムの走行面の削れ性を５段のミニスーパーカレン
ダーを使用して評価する。カレンダーはナイロンロール
とスチールロールの５段カレンダーであり、処理温度は
８０℃、フィルムにがかる線圧は２００ｋＣＩ　／ｃｍ
、フィルムスピードは５０ｍ　／分で走行さぼる。走行
フィルムは全長　２０００ｍ走行さＵた時点でカレンダ
ーのトップローラ−に付着する汚れでフィルムの削れ性
を評価する。

く４段階判定〉 ◎ナイロンロールの汚れ全くなし ０ナイロンロールの汚れほとんどなし Ｘナイロンロールが汚れる ××Ｘナイロンロールひどく汚れる （６）スクラッチ判定 磁気コーティングテープ（１７２インチ巾）を上記（４
）の摩擦係数測定装置を用いて、テープのベースフィル
ム面が固定棒に１８０°の角度で接触するようにかけ、
５　ｃｍ／ｓｅｃ速度で２０ｍ走行させ、これを３０回
繰返した後の１７２インチ巾ベースフィルムの表面に入
ったスクラッチの太さ。

深さ、数を総合して次の５段階判定する。

く５段階判定〉 ◎　１７２インチ巾ベースフィルムに全くスクラッチが
認められない ０１／２インチｒｊＪベースフィルムにほとんどスクラ
ッチが認められない △　１／２インチ巾ベースフィルムにスクラッチが認め
られる（何本か） ×　１７２インチ巾ベースフィルムに太いスクラッチが
何本か認められる ｘｘ　　１／２インチ巾ベースフィルムに太く深いスク
ラッチが多数全面に認められる 実施例１〜３及び比較例１〜３ ジメチルテレフタレートとエチレングリコールを、エス
テル交換触媒として酢酸マンガンを、重合触媒として三
酸化アンチモンを、安定剤として亜燐酸を、更に滑剤と
して第１表に示す無機粒子を用いて、常法により重合し
、固有粘度（オルソクロロフェノール、３５℃）０．８
２のポリエチレンテレフタレートを得た。

このポリエチレンテレフタレートのベレットを１７０℃
、３時間乾燥後押出機ホッパーに供給し、溶融温度２８
０〜３００℃で溶融し、この溶融ポリマーを間隔１１Ｉ
ＩＩＩのスリツＩ〜状ダイを通して表面仕上げ０．３Ｓ
程度、表面温度２０℃の回転冷却ドラム上に形成押出し
、２１０μｍの未延伸フィルムを得た。

このようにして得られた未延伸フィルムを７５℃にて予
熱し、更に低速、高速のロール間で１５ｍｍ上方より９
００℃の表面温度のＩＲヒーター１本にて加熱し、低、
高速ロールの表面速度差により３．６倍に縦方向に延伸
し、急冷し、続いてステンターに供給し１０５℃にて横
方向に３．９倍延伸した。得られた二軸配向フィルムを
２１０℃の温度で１０秒間熱固定し、厚み１５μｍの熱
固定二軸配向フィルムを得た。

このフィルムの特性を第１表に示す。

第１表から、比較例１のフィルムは走行時の摩擦係数が
高く耐スクラッチ性が悪く不満足なものであり、比較例
２のフィルムは走行時の摩擦係数が高くかつカレンダ一
工程にて白粉が発生し不満足なものであり、また比較例
３のフィルムは走行時の摩擦係数が高く、カレンダ一工
程にて白粉が発生しかつ耐スクラッチ性も不充分で不満
足なものであること、一方実施例１〜３に示される如く
、球状シリカを組み合せたものは、比較例１〜３に示さ
れる従来のものに比べ、表面は平坦でも滑り性、耐削れ
性及び耐スクラッチ性に優れた二軸配向ポリエステルフ
ィルムであることがわかる。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、ポリエステル中に、第１成分として平均粒径が０．
   ６〜３μｍでありかつ粒径比（長径／短径）が１．０〜
   １．２である球状シリカ粒子を０．００１〜２．５重量
   ％含有し、かつ第２成分として平均粒径が０．７〜３．
   １μｍでありかつ粒径比（長径／短径）が１．０〜１．
   ２である球状シリカ粒子を０．００１〜２重量％含有す
   ることを特徴とする二軸配向ポリエステルフィルム。 ２、球状シリカ粒子は下記式で表わされる相対標準偏差
   が０．５以下のものである特許請求の範囲第１項記載の
   二軸配向ポリエステルフィルム。 相対標準偏差＝｛√［■＾ｎ＿ｉ＿＝＿１（Ｄｉ−＠Ｄ
   ＠）＾２］／ｎ｝／＠Ｄ＠ここで、Ｄｉ：個々の粒子の
   面積円相当径（μｍ）＠Ｄ＠：面積円相当径の平均値 （＝Σ＾ｎ＿ｉ＿＝＿１Ｄｉ／ｎ）（μｍ）ｎ：粒子の
   個数 を表わす。