JPS63172475A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPS63172475A
JPS63172475A JP361887A JP361887A JPS63172475A JP S63172475 A JPS63172475 A JP S63172475A JP 361887 A JP361887 A JP 361887A JP 361887 A JP361887 A JP 361887A JP S63172475 A JPS63172475 A JP S63172475A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
source
unit
pad
fet
pads
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP361887A
Other languages
English (en)
Inventor
Taeko Nakamura
中村 多恵子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP361887A priority Critical patent/JPS63172475A/ja
Publication of JPS63172475A publication Critical patent/JPS63172475A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分胃〕 この発明は、RF特性を改善した半導体装置に関するも
のである。
〔従来の技術〕
第2図(a)? (b)、(C)は従来の(し形ゲート
FETのパターン図、第2図(a)のA−A線における
断面図および等価回路図である。
これらの図において、1はゲート、2はドレイン、3は
グランドパッド、4はソースパッド、5は導体からなる
エアブリッジで、グランドパッド3とソースパッド4を
電気的に接続する。6は前記エアブリッジ5と前、記ソ
ースパッド4とのコンタクト部、7はくし形ゲートFE
Tを構成するユニットFET、8は半導体基板である。
次に従来のくし形ゲー1. F E Tの構成について
説明する。ここでは第2図(a)に示されるように単位
ゲートを2本備えたユニットF E T 73つで構成
され、かつ各ソースパッド4問およびソースパッド4と
グランドパッド3との間が等間隔のものを例として説明
する。
くシ形ゲー)FETのように複数のソースパッドをグラ
ンドパッドと接続するためには現在エアブリッジがよく
使われ、例えば第2図(a)に示すように、エアブリッ
ジ5によりソースパッド4とグランドパッド3とを接続
しており、−続きのエアブリッジ5を各ソースパッド4
とグランドパラ、ド3のコンタクト部6において接続す
る方法をとっている。
そして、この場合の等価回路図は第2図(e)に示すよ
うになり、各ソースパッド4間を接続するエアブリッジ
5より形成されるインダクタを仮りにLとすれば、ソー
スインダクタとしてLが各ユニツl−F E T 7の
ソースとグランド間に存在することになる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記のような従来の半導体装置は、ソースとグランド間
のソースインダクタLが各ユニツl−F ET7により
異なるため、ユニッi−F E T 7間でRF特性に
ばらつきが生じる。したがって、複数のユニッl−F 
E T 7によって構成されるくし形ゲー1− F E
 TのRF特性に悪影響を及ぼすという問題点があった
この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、RF特性の優れた半導体装置を得ることを目的と
する。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係る半導体装置は、複数の導体を用いて各ユ
ニットFETのソースインダクタが等しくなるように、
各ソースパッドとグランドパッドを接続したものである
〔作用〕
この発明においては、各ユニットFETに付加されるソ
ースインダクタが等しいので、ユニットFETより構成
され8半導体装置におけるRF特性が一様になる。
〔実施例〕
第1図(a)、(b)はこの発明の半導体装置の一実施
例のパターン図および等価回路図である。
これらの図において、第2図(a)、(b)、(e)と
同一符号は同一部分を示し、5 a p 5 bはエア
ブリッジである。
次に、この発明の半導体装置について説明する。
ここでは単位ゲートを2本備えたユニッ1− F E 
T73つで構成され、かつ各ソースパッド4問およびソ
ースパッド4とグランドパッド3との間が等間隔のくし
形ゲートFETについて説明する。
この実施例では、半導体基板8(第2図(b)参照)上
に形成された各ユニッl−F E T 7の各ソースパ
ラIS4とグランドパッド3を第1図(a)に示すよう
に3本のエアブリッジ5a、5bで接続している。
すなわち、最も距離の近いソースパッド4とグランドパ
ッド3間を接続するエアブリッジ5bで形成されるイン
ダクタをLとした時、第1図(b)に示されるように、
各ユニッ1− F E T 7のソースパッド4とグラ
ンドパッド3間に存在するソースインダクタは各ユニッ
トFET7でずべてLとなる。したがってユニットFE
T7のRF特性は同一となり、これらのユニッ1− F
 E T 7により構成されるくし形ゲートFETのR
F特性への暑影響を避けることが可能になる。
なお、上記実施例では、単位ゲートを2本備えたFET
73つで構成された(し形ゲー1− F E Tについ
て説明したが、この発明はこれに限定されるものでなく
、適応するくし形ゲー)−F E Tの単位ゲートの本
数およびユニッl−F E T 7の歌は任意であって
もよい。この場合もエアブリッジを複数本用いてソース
インダクタがすべて等しくなるように各ソースパッドと
グランドパッド間を接続すればよい。
また、接続に用いるエアブリッジは側木であってもよい
ほか、ソースパッドおよびグランドパッド間距離は任意
であってもよい。
〔発明の効果〕
この発明は以上説明したとおり、複数の導体を用いて各
ユニットF E Tのソースインダクタが等しくなるよ
うに、各ソースパッドとグランドパッドを接続したので
、ユニットFETにより構成される半導体装置のRF特
性を容易に改善できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の半導体装置の一実施例を説明するた
めの図、第2図は従来のくし形ゲー1− FETを説明
するための図である。 図において、11まゲート、2はドレイン、3はグラン
ドパッド、4はソースパッド、5a、5bはエアブリッ
ジ、6はコンタクト部、7は二二ッ)、FET、8は半
導体基板である。 なお、各図中の同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄   (外2名)第1図 第2図 (b) 第2図(C) 手続゛補正書(自発) 昭和b2年12月21  日

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  半導体基板上に形成された複数の単位ゲートを備えた
    複数のユニットFETの各ソースパッドを、前記半導体
    基板上に形成されたグランドパッドに導体を用いて接続
    して構成される半導体装置において、前記導体を前記各
    ユニットFETのソースインダクタが等しくなるように
    前記各ユニットFETのソースパッドと前記グランドパ
    ッド間に複数個設けたことを特徴とする半導体装置。
JP361887A 1987-01-09 1987-01-09 半導体装置 Pending JPS63172475A (ja)

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JP361887A JPS63172475A (ja) 1987-01-09 1987-01-09 半導体装置

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JP361887A JPS63172475A (ja) 1987-01-09 1987-01-09 半導体装置

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JPS63172475A true JPS63172475A (ja) 1988-07-16

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JP (1) JPS63172475A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04146667A (ja) * 1990-10-09 1992-05-20 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
WO2006072984A1 (ja) * 2005-01-06 2006-07-13 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha 半導体増幅器
JP2015029010A (ja) * 2013-07-30 2015-02-12 富士通株式会社 半導体装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04146667A (ja) * 1990-10-09 1992-05-20 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
WO2006072984A1 (ja) * 2005-01-06 2006-07-13 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha 半導体増幅器
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