JPS63163834A

JPS63163834A - ピンボケ画像検出装置および写真焼付装置

Info

Publication number: JPS63163834A
Application number: JP61289865A
Authority: JP
Inventors: Fumio Matsumoto; 文男松本
Original assignee: Fuji Photo Film Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Holdings Corp
Priority date: 1986-12-05
Filing date: 1986-12-05
Publication date: 1988-07-07
Anticipated expiration: 2010-05-17
Also published as: JPH0746201B2; US4792830A

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（発明の技術分野）この発明は、写真フィルム上に記録されている画像がピ
ンボケ画像であるかどうかを検出するピンボケ画像検出
装置およびこれを用いた写真焼付装置に関する。

（発明の技術的背景とその問題点）写真フィルムの焼付に際しては、撮影時の焦点調節が不
適当であったために画像がボケでいるいわゆるピンボケ
画像を焼付けないようにする必要がある。ここに、ピン
ボケ画像の検出方法として、従来より種々の方法が提案
されている。その１つとして、画像のフーリエ変換を用
いてそのスペクトル成分が予め定めた周波数領域以下か
否かを調べ、これにより画像のボケを判別する方法があ
る。しかしながら、かかる方法においては、光学的なフ
ーリエ変換を行なう場合には精度が高く、かつ複雑で高
価なシステムが必要になるといった欠点がある。電気的
なフーリエ変換を行なう場合には、通常の写真プリンタ
のプリント速度に合う高速のフーリエ変換素子が存在し
ていない等の問題がある。また、別の検出方法としては
、写真フィルムを線状に走査し、高帯域幅での最大濃度
勾配と、高い空間周波数領域を取り除くことにより不鮮
明にされた画像内容の最大濃度勾配とを求め、これら２
つの最大濃度勾配の商を算出し、この商がスレッショル
ド値よりも大きいか否かによりて画像のボケを検出する
方法（たとえば特開昭５３−７０４２８号）がある。し
かし、この方法は測定点数が多くなり高速処理が困難で
あること、濃度勾配の測定が走査方向に依存し、２次元
的な濃度勾配を求めるのが困難であること、また濃度勾
配の最大値を求める回路と、２つの濃度勾配の商を求め
る回路とを必要とし、装置が複雑になるといった欠点を
有しているゆこのようなピンボケ画像の検出に当っては、従来第１１
図に示すように、ネガ画面２００に対して２つの測光系
を用いて走査領域２０１を同期させ、領＠２０１内に小
画素２０２のサンプリング位置と同心状の大画素２０３
のサンプリング位置とを設定している。そして、小画素
２０２と大画素２０３はいわゆるボケマスクを形成して
おり、ネガ画面２００の同一サンプリング点を大小２種
類のスポットサイズで測光するようになっている。第１
２図は一般的な装置構成例を示しており、光源２１０か
ら放出された光はコンデンサレンズ２１１を通り、矢線
方向に移動する写真フィルム２２０に到達する。この写
真フィルム２２０上には画像が記録されており、光源２
１０からの光によって照明される。写真フィルム２２０
を透過した光は、ハーフミラ−２１２により透過光と反
射光とに２分割され、ハーフミラ−２１２を透過した光
はレンズ２１３．ミラー２１４．スリット２１５を経て
光電子増倍管２１６に入射し、電気信号に変換される。

レンズ２１３はスリット２１５の開口を写真フィルム２
２０上に結像させるように配置されている。

一方、ハーフミラ−２１２で反射された光はレンズ２１
７及びスリット２１８を通り、光電子増倍管２１９に入
射する。このスリット２１８はスリット２１５よりもそ
の開口が大きくなっている。例えばスリット２１５の開
口を１ｎ＋ｍ角、スリット２１８の開口を１０ｍｍ角と
し、レンズ２１３及び２１７の倍率を１７１０とすれば
、写真フィルム２２０上での測光面積はそれぞれ０．１
ｍｍ角と１ｍｍ角となる。

光電子増倍管２１６及び２１９の出力信号は、濃度値で
演算する場合には対数変換回路を経て、また透過率で演
算する場合はそのまま差動増幅器２２１に送られ、ここ
で両信号の差ΔＤが算出される。この差動増幅器２２１
の出力信号は、ある適当な幅ごとに寄せ集めて積算して
度数分布を算出する回路２２２に入力される。積算回路
２２３は−０，１５≦ΔＤ≦０．１５内にあるものを積
算し、積算回路２２４はΔＤ＜−０，１５及び０．１５
＜ΔＤにあるものを積算する。この領域分割されて積算
された累積度数は比較回路２２５に送られ、ここで例え
ばその比が算出され、かつその比は一定値によりも大き
いかどうかについて判定される。そして、比が一定値に
よりも大きい時は鮮明画像であることを示す信号が出力
され、小さいときにはピンボケ画像であることを示す信
号が出力される。

以上のように、従来のピンボケ画像検出装置はスリット
開口が異なる２つの測光系を有しているので、大スポッ
ト及び小スポットのサンプリング位置を同期させる必要
があり、装置が複雑かつ大型になってしまう。また、従
来のピンボケ画像検出装置は単能機であり、写真焼付の
ための画像測光や画像コマ位置の検出をするセンサは、
更に別のものを用意していた。

（発明の目的）この発明は上述のような事情からなされたものであり、
この発明の目的は、スリット開口の異なる複数の測光系
を用いることなくピンボケ画像を正確に検出できるピン
ボケ画像検出装置、合せて画像情報の位置検出やコマ画
像の位置検出が可能な写真焼付装置を提供することにあ
る。

（発明の概要）この発明はピンボケ画像検出装置およびこれを用いた写
真焼付装置に関するもので、写真フィルムに記録されて
いる画像の透過光又は反射光を多数の整列画素に分割し
て受光するイメージセンサと、このイメージセンサで検
出された画像情報信号を合成処理してセル化した大測光
スポット及びこの大測光スポットのそれぞれに対応して
整列されている小測光スポットを形成する測光スポット
形成手段と、前記大測光スポット及び前記小測光スポッ
トに対する前記画像の濃度値を求め、両側光スポットの
特性分布に基づいて前記画像のピンボケの程度を判定す
るピンボケ判定手段とを設けたものである。

（発明の実施例）この発明では第１図に示すように、ネガフィルム２の近
傍に、たとえばＣＣＤで成る面走査式の２次元イメージ
センサ１１を内蔵した画像情報検出装置１０を配設し、
ネガフィルム２の画面全体を多数の整列画素に分割して
画像情報を検出する。すなわち、駆動回路からイメージ
センサ１１に所定の駆動信号を与えることにより、２次
元イメージセンサ１１は焼付部に置かれているネガフィ
ルム２の透過光をレンズ系１２を介して受光するので、
２次元イメージセンサ１１はたとえば第２図（Ａ）　に
示すようにネガフィルム２の全体を整列された多数の小
さな画素２１に分割して、走査線ＳＬに従って順番にネ
ガフィルム２の画面全体を走査することができる。そし
て、画面全体の走査終了後にイメージセンサ１１の出力
レジスタ部から画像信号を順次出力ｌノ、この画像信号
をたとえばサンプルホールド回路でサンプルホールドし
て、そのホールド値をＡＤ変換器でディジタル信号に変
換する。ＡＤ変換器からのディジタル信号は対数変換回
路で対数変換されて濃度信号として求められ、この濃度
信号が書込制御回路の制御によって、メモリに第２図（
Ｂ）　に示すような画素２１に対応する配列で、かつネ
ガフィルム２の濃度ディジタル値（又は対数変換回路を
通さない真数ディジタル値）で格納されることになる。

上述の如くしてイメージセンサ１１の検出画素に対応し
てメモリに記憶されたデータに対して、この発明では第
３図に示すように、３×３の９画素データの積分平均値
を１グループとして前述の大画素１００，１１０，１２
０・・・・・・を形成し、各大画素の中心画素を小画素
１０１，１１１，１２１．・・・・・・とじてピンボケ
検出用のボケマスクを形成する。

なお、大画素及び小画素の画素数は共に任意で良く、小
画素は必らずしも大画素の中心でなくても良く、大画素
内に存在していれば十分である。このようにしてイメー
ジセンサの検出データを複数画素の大画素と、この大画
素内の１もしくはそれ以上の画素数で成る画素の小画素
とにグループ化することにより、第１１図で述べたよう
な大画素及び小画素をスリット開口の異なる２つの測光
系を用いることなく形成することがてきる。大画素又は
小画素の濃度値は、たとえばＣＰＵ等を用いてソフト的
に、各画素のアドレス番号から対応したグループ番号を
テーブル参照して濃度値をグループ単位で積分し、その
積分値を平均化することにより求めることによって、簡
単に得られる。

次に、大画素及び小画素のボケマスクを形成し、濃度値
を求めた後のピンボケ検出例について概略説明する。

第４図（Ａ）〜（Ｄ）は鮮明な画像の濃度測定を示すも
のであるが、鮮明な画像のエツジ像は濃度勾配が大きい
から同図（Ａ）のような濃度勾配になっている。このオ
リジナル画像を測定面積の異なる領域で測定すれば、測
定面積の小さい領域の濃度は第４図（Ｂ）のようになり
、大きい領域の濃度は同図（Ｃ）のように勾配が緩やか
な曲線となる。

このように、測定面積の異なる領域の濃度の差を求めれ
ば、第４図ＣＤ）に示すような曲線となる。一般に鮮明
な画像では２つの測定濃度の差が大きいので、曲線の振
幅が大きな値になっている。そして、この濃度差をサン
プリングして所望の濃度幅毎に区分した領域に存在して
いる個数を調べ、濃度差を横軸にとって個数を縦軸にと
った度数分布曲線を求めると、第５図の特性曲線■のよ
うになる。

一方、第６図（Ａ）〜（Ｄ）は第４図と同じ被写体のピ
ンボケ画像の測定を示すものであるが、ピンボケ画像は
そのエツジ部分で濃度変化が緩やかであるから同図（Ａ
）のようになっている。

このエツジ画像を測定面積の異なる２つの領域で測定す
れば、第６図（Ｂ）　、　（Ｃ）のようにいずれも緩°
やかな曲線となるので、その差は小さく同図（Ｄ）のよ
うになる。上述と同様に、この測定濃度の差をサンプリ
ングして度数分布曲線を求めれば、第５図の特性曲線Ｉ
Ｉのようになる。この第５図の特性曲線Ｉ、１１から明
かなように、鮮明な画像とピンボケ画像とでは度数分布
曲線に顕著な差異があり、従ってこの差異が明瞭になる
特性値を用いれば、この特性値からピンボケ画像を検知
できることになる。

ここで第３図に示す小画素（１０１，１１１，１２１・
・・）のｉ列、ｊ行の測定濃度をＤＳ、、とし、大画素
（１００，１１０，１２０・・・）のｉ列、ｊ行の測定
濃度をＤＬ、ｊとし、各画素についてその差ΔＤ目ΔＤ
目−Ｉ　ＤＬ＋ｊ−ＤＳ＋ｊｌ　　　　・・・・・・・
・・（１）を求める。そして、全画素（たとえばｍ個）
に対する差ΔＤＩＪのうち最大のものからｎ番目（１〜
−）の値Ｄ□Ｘ、ｎを第７図の如く縦軸にとる。そして
、第１１図に示される小画素２０２又は大画素２０３の
各隣接するサンプリング点（縦。

横）の濃度差の絶対値ＤＢを、次式に従って求める。

又はしかして、上記（２）式又は（３）式で求めた値０８を
第７図に示す如く横軸に目盛ると、濃度差ΔＤＩＪ　と
の関係からピントの合った画面の領域は同図の八Ｆのよ
うに分布し、ピンボケ画面の領域が同図ＮＦのように分
布する。これは、値ＤＢが画像の局部的なコントラスト
の総計を示してコントラストが大きい場合にはその値Ｄ
Ｂも大ぎくなり、濃度差２０口が絵柄のエツジの強さを
示しているからである。したがって、ピントの合った画
面領域へＦとピンボケ画面領域ＮＦとからピンボケ分布
線５０を予め求めておくことができ、所要ネガのΔＤｍ
ａｘ、。と［ｌＢとによる特性ポイントＰを第７図にあ
てはめることによって直ちにかつ容易に、当該ネガかビ
ンホケか否かを判別することができる。なお、同一の絵
柄についてピンボケ量を増加させると、第７図の特性曲
線ＩＩ＋のようになる。つまり、点Ｐ１ではピントが合
っており、点Ｐ２でピンボケの境界となり、点Ｐ３及び
Ｐ４では完全なピンボケとなっている。

このようなイメージセンサによるビンピケ検出装置のブ
ロック構成は第８図のようになる。

すなわち、イメージセンサ１１は駆動回路３４によって
駆動され、写真フィルムからの透過光又は反射光を受光
して読取回路３２を介して光電的に読取る。読取られた
画像データはディジタル化されてメモリ３３に第２図（
Ｂ）の如く記憶される。メモリ３３に記憶された濃度デ
ータは読出回路３５で読出されると共に、グループ化回
路３６で前述した大画像及び小画素２０２のグループ画
素に整理され、大画素及び小画素の各濃度値データがピ
ンボケ判定回路３０に入力される。ピンボケ判定回路３
０は前述のような手法でネガフィルムのピンボケを判定
し、判定結果ＯＲを出力する。判定結果ＤＲはメモリ３
１に記憶され、写真焼付の時にはその記憶された情報に
基づいて、ピンボケ写真は焼付しないようにする。なお
、ここではメモリ３３に一旦検出データの全てを記憶し
ておき、読出時に小画素１０１，１１１，１２１．・・
・と大画素１００，１１０，１２０．・・・とにグルー
プ化しているが、イメージセンサ１１の検出データを記
憶することなく直接グループ化することも可能である。

ところで、上述した画像情報検出装置１０のイメージセ
ンサ１１は、第２図ＣＢ）に示すようにネガフィルムの
コマ画像の全体データを検出して、画像分割した状態で
メモリに記憶するので、これらデータを写真焼付のため
の露光制御やコマ画像の検出停止の制御にも併せ利用す
ることができる。

写真焼付装置では焼付露光量もしくは補正量を決定する
ためにネガフィルムの濃度を計測しなければならないが
、従来は焼付光学系の光路近辺に配設されたフォトダイ
オード等の光センサによって、ネガフィルムの平均濃度
をＬＡＴＤ（Ｌａｒｇｅ　Ａｒｅａ　Ｔｒａｎｓｍｉｔ
ｔａｎｃａ　Ｄｅｎｓｉｔｙ）測光するようにしている
。このＬＡＴ［）による画像検出はネガフィルムを平均
的に測光するものであり、ネガフィルムの画像濃度を正
確にかつ画面全体にわたって測定するものではないため
、焼付露光もしくは補正が確実でないといった欠点があ
った。メージセンサの走査測光によってメモリ２５には
、ネガフィルム２の画素毎のディジタル値あるいは３原
色に関する画素毎の濃度値が格納されているので、ネガ
フィルム２の画素毎にディジタル値をメモリ２５から読
出して利用することができる。したがフて、３原色のＲ
ＧＢ毎に第２図ＣＢ）に示すような濃度値を求めて記憶
しておけば、記憶値を読出して演算等の処理を行なうこ
とにより、従来と同様な写真焼付露光量の決定もしくは
補正量として用いることができる。なお、演算に用いる
画像情報は、一般に１ｍｍ単位の比較的粗い分解能の画
素データで充分なので、前述のグループ化回路３６でグ
ループ化された大画素の各濃度値データを使うとよい。

この場合、露光量演算回路３７での演算時間が短縮され
、処理が効率化される。

写真焼付においては、ネガ画面を分割して画像情報を得
、得られた各分割画像情報から当該シーンに適当な露光
量を求める。すなわち、画面の平均透過濃度をＤ１１分
割画面中の最高濃度をり、□、最低濃度をＤ＋ｓｌｎと
したとき、たとえば１３５Ｆサイズのフィルムの露光量
Ｘ１はで表わされ、１１０サイズのフィルムの露光ｆｆ
１Ｘ２はで表わされる。このようにして求められた露光量×に対
してフィルムサイズ毎に、 ×８−に１＋　にＪ−Ｘ　　　　　　　　　・・・・・
・・・・（６）のような修正式Ｘ、を用意しておけば、
サイズに対応して正しく修正された露光量×８でネガフ
ィルム２の焼付を行なうことができる。ここに、係数に
４．に、はフィルムサイズによって実験等で定められて
いるものである。

第９図は画像コマの検出停止方法の一例を示すフローチ
ャートであり、焼付けるべきネガフィルム２のサイズに
応じた大きさのネガキャリアを焼付部の所定位置に装填
しくステップＳ１）、ネガキャリアの開口部のサイズを
イメージセンサ１１で計測する（ステップＳ２）。なお
、このサイズ計測は目視によって人力しても良い。この
サイズ計測情報に従ってネガフィルム２の搬送量を設定
したり、画素列４０の選択抽出を自動的に行ない、更に
は焼付露光量やその修正量を制御したりする。

次に、焼付けるべきネガフィルム２をネガフィルム先端
部の空振りコマがネガキャリアの開口部とほぼ対応する
位置に装填しくステップＳ３）、ネガフィルム２の先端
部がネガドライブローラに装填されると、モータを駆動
してネガフィルム２をコマ間隔りの半分Ｄ／２だけ高速
搬送しくステップＳ４）、その後に一時停止しくステッ
プＳ５）、その間イメージセンサ１１によって画像情報
の検出を行ない、画素毎のデータを得る。ネガフィルム
２に撮影されている画像コマとコマ間の未撮影領域とで
は一般的に濃度値に顕著な差があるので、濃度値が一定
以下で、なおかつ濃度値の横方向に急峻な変化部分で縦
方向（ネガフィルム２の搬送方向と垂直方向）に一定変
化範囲内の領域を、イメージセンサ１１の画素列４０（
第２図（Ａ）参照）で探すことによって、画像コマとコ
マ間の未撮影領域のエツジを検出することができる。第
１θ図はこの様子を示すものであり、ネガフィルム２は
ネガキャリア３２の焼付部にＮ方向に搬送され、画像情
報検出装置１０の画素列４０でコマ間の未撮影領域ＲＢ
のエツジを検出している。そして、イメージセンサ１１
の画素列４０はネガキャリア３２の中央部に来るように
なっている。

かかる画像コマ２Ａとコマ間の未撮影領域ＲＢのエツジ
が検出された場合には、中央の基準画素列に対して実際
に上記エツジが検出された画素列に対する補正量αを加
算（＋α）又は減算（−α）し、上記サイズ計測（ステ
ップＳ２）で求められたサイズ情報から当該コマを焼付
部に位置決めするまでの距ｍ　Ｄ／２だけ搬送しくステ
ップ５８．５７．５８）　、その後に停止する（ステッ
プ５９）。この場合、ネガキャリア３２の中央部に位置
している画像コマ２Ａとコマ間の未撮影領域ＲＢのエツ
ジから当該コマの焼付部までの距離は、コマサイズが分
れば計算により予め求めることができ、第１０図の状態
から（Ｄ／２◆α）又は（Ｄ／２−α）だけ搬送すれば
結局焼付部に正確に位置決めされた状態でネガフィルム
２は、トータルの送り量Ｄ＋α又はＤ−αで停止するこ
とになる。なお、ネガフィルム２の最初のコマは空振つ
と区別がつきにくい場合も多いので、最初の１コマを手
動で位置決めするようにしても良い。この場合は第９図
フローのステップＳ３の後、ステップＳ９から開始され
る。また、画像情報検出装置ｌＯの画素列４０で上記エ
ツジが検出されない場合は、例えばコマ間隔ｐの定量送
りを行なう（ステップ５１３）。

このようなネガフィルム２の搬送・停止の後、当該停止
コマが焼付に適するか否かを判断しくステップ５１０）
、焼付に適さない場合にはステップＳ１２にスキップし
、焼付に適する場合には当該停止コマの焼付を決定され
た露光量及び補正量で行ない（ステップ５１１）、当該
コマの焼付終了後に次の画像コマを焼付部に搬送して焼
付けるため、ネガフィルム２がまだ有るか否かを判断し
て、上記ステップＳ２で求められたサイズ情報に従って
ネガフィルム２をコマ間隔の１／２だけ高速に搬送する
（ステップ５１２．５４）　。

なお、ネガフィルム２の有無の判断（ステップ５１２）
は、ネガフィルム２がネガキャリア３２上から無くなれ
ば、開口部の画像情報が全て“０°′（又はこれに近い
値）になることで検出することができる。また、停止コ
マが焼付に適するか否かの判断（ステップ５ＩＱ）は、
第２図（Ｂ）の画像情報の全てが一定の値以上（極端な
オーバー露光ネガに相当）、又は一定の値以下（極端な
アンダー露光ネガに相当）、あるいは一定の値以内（極
端な低コントラストネガに相当）になることで検出する
ことができる。以下、上述した搬送及び停止を繰返すこ
とにより、順次各画像コマの焼付を自動的に行なうこと
ができる。

そして、ステップ５１２でネガフィルム２か無くなった
時、ネガドライブローラの空転を自動停止して終了する
。

なお、２次元イメージセンサの画素列は中央部に限定さ
れるものではない。また、１次元イメージセンサで画像
情報を検出する場合は、副走査をネガ送りと同期させ、
主走査を１次元イメージセンサで行なえば良い。

さらに、画素分解能が十分にある場合、小測光スポット
も大測光スポットと同様に、イメージセンサで検出され
た画像情報信号（画素信号を合成処理してセル化した画
素を形成してもよい。

（発明の効果）以上のようにこの汽明のピンボケ画像検出装置によれば
、１つの測光系によって写真フィルムのピンボケを正確
に検出できると共に、露光制御やコマ画像の検出停止を
も併せて制御することができる。したがって、装置が簡
易、低コスト化を図れると共に、より正確な検出７制御
が可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明のイメージセンサによる画像情報検出
装置の取付例を示す構成図、第２図（Ａ）はイメージセ
ンサの走査を説明するための図、同図（Ｂ）はメモリの
データ格納例を示す図、第３図はこの発明の詳細な説明
するための図、第４図〜第７図のピンボケ検出の原理を
説明するための図、第８図はこの発明の一実施例を示す
ブロック構成図、第９図はコマ画像の検出停止の制御例
を示すフローチャート、第１Ｏ図はその動作を説明する
ための図、第１１図はピンボケ検出の原理を説明するた
めの図、第１２図は従来のピンボケ検出装置の一例を示
すブロック構成図である。２・・・ネガフィルム、３・・・調光フィルタ、７・・
・写真印画紙、１０・・・画像情報検出装置、１１・・
・２次元イメージセンサ、３０・・・ピンボケ検出回路
、３１．３３・・・メモリ、３２・・・読取回路。出願人代理人　　安　形　雄　三 ←４＄　ｌ　図ｔ蓼　２　図＄３　図芋４図　　　　　第０回 −０，２−０，１００，１０，２第１１差蓼５　図＄　７　図＄６　国羊　ｌＯ回蔓　９　回芸　ｆｆ　　図手続補正書昭和６２年３月１９日；、−１特許庁長官　黒　１）明　雄　殿１、事件の表示昭和６１年特許願第２８９８８５号２、発明の名称ピンボケ画像検出装置および写真焼付装置３、補正をす
る渚事件との関係　　特許出ｒＪ１人富士写真フィルム株式会社４、代理人５、補正の対象６、補正の内容（１）明Ｈａ、７ｒｆＪ９頁？５４行乃至第５行に「２
次元イメージセンサ１１を内蔵した画像情報検出袋ｒａ
１０　Ｊとあるをｒ２次元イメージセンサ１１と、ネガ
フィルム２の測定コマのほぼ中心部を結像するためのレ
ンズ系１２と、駆動回路３４、読取回路３２．メモリ３
３等がユニット化されたＩＣ等で成る処理回路を具備し
た基板１３とを有する画像情報検出装置１０」と補正す
る。（２）同、第９頁第７行にｆ駆動回路」とあるを「駆動
回路３４」と補正する。（３）同、第９頁第１８行の「たとえば」の前に「取囲
路３２内の」を挿入する。（４）同、第１Ｏ頁第３行に「メモリ」とあるを「メモ
リ３３」　と補正する。（５）同、第１Ｏ頁第７行の「されることになる、」の
後に下記文を挿入する。ｒなお、第１図の写真焼付装置の概要を説明すると、ネ
ガ搬送装置５０で焼付部に送られて来たネガフィルム２
は、イエロー（Ｙ）、マゼンタ（Ｍ）及びシアン（Ｃ）
の各３補色フィルタ３を通して光源４で照明され、ネガ
フィルム２からのｉｌ！ＩＪ光はレンズ系５及びブラッ
クシャッタ６を紅て写真印画紙７に達するようになつて
いる。写真印画紙７はフィードローラ７＾に巻回されて
おり、ネガフィルム２の搬送及び停止と同期してローラ
７Ｂに巻取られるようになっており、ネガフィルム２の
レンズ系４側近傍には、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）及び青ＣＢ
）の３原色の画像濃度情報を検出するためのフォトダイ
オード等の光センサ８が配設されており、この光センサ
８の検出１８号によって写真焼付を行なうようになって
いる。」（６）同、第１Ｏ頁第９行に「メモリ」とあるを「メモ
リ３３」と補正する。（７）同、第１５頁第６行乃至第７行に「ピンボケ検出
装置」とあるを「ピンボケ検出装置３００」と補正する
。（８）同、第１５頁第１７行及びＴ＆１８行にそれぞれ
「判定回路３０」とあるをそれぞれ「検出回路３０」　
と補正する。（９）同、第１６頁第１２行に「メモリ」とあるを「メ
モリ３３」と補正する。（１０）同、第１６頁第１９行乃至第２０行に「光セン
サＪとあるを「赤センサ８」と補正する。（ｌ　ｌ）同、第１７頁第７行及び第１１行にそれぞれ
「メモリ２５」とあるをそれぞれ「メモリ３３」と補正
する。（１２）同、第１７頁第１７行に「一般に」とあるを「
−ｎ２にネガフィルム２上で」と補正する。（１３）同、第２０頁第１行に「半分Ｄ／２」とあるを
「半分Ｄ／２弱」と補正する。（目）同、第２０頁第１４行乃至第１５行及び第１８行
。第２１頁第８行、第２２頁第１６行にそれぞれ「ネガキ
ャリア３２」とあるをそれぞれ「ネガマスク４１Ｊと補
正する。（１５）同、第１９頁第７行乃至第８行、第９行、第１
７行にそれぞれ「ネガキャリア」とあるをそれぞれ「ネ
ガマスク４１Ｊと補正する。（１６）同、第２３頁第５行の「することができる、」
の後に「さらに、前述のピンボケ検出回路３０の判定結
果ＤＲを用いて、ピンボケ写真を焼付しないようにする
ことが可能である。」を挿入する。（１７）本願添付の第１図、第８図及び第１０図を別紙
の通り補正する。 ′伽・芋　ｆ　図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）写真フィルムに記録されている画像の透過光又は
反射光を多数の整列画素に分割して受光するイメージセ
ンサと、このイメージセンサで検出された画像情報信号
を合成処理してセル化した大測光スポット及びこの大測
光スポットのそれぞれに対応して整列されている小測光
スポットを形成する測光スポット形成手段と、前記大測
光スポット及び前記小測光スポットに対する前記画像の
濃度値を求め、両測光スポットの特性分布に基づいて前
記画像のピンボケの程度を判定するピンボケ判定手段と
を具えたことを特徴とするピンボケ画像検出装置。
（２）前記イメージセンサが、前記写真フィルム焼付の
ための露光量測定のセンサを兼用している特許請求の範
囲第１項に記載のピンボケ画像検出装置。
（３）前記イメージセンサが、前記写真フィルム焼付の
ための画像コマの検出停止用センサを兼用している特許
請求の範囲第１項に記載のピンボケ画像検出装置。
（４）前記イメージセンサが２次元イメージセンサであ
る特許請求の範囲第１項から第３項のいずれかに記載の
ピンボケ画像検出装置。
（５）写真フィルムに記録されている画像の透過光又は
反射光を多数の整列画素に分割して受光するイメージセ
ンサと、このイメージセンサで検出された画像情報信号
を合成処理してセル化した大測光スポット及びこの大測
光スポットのそれぞれに対応して整列されている小測光
スポットを形成する測光スポット形成手段と、前記大測
光スポット及び前記小測光スポットに対する前記画像の
濃度値を求め、両測光スポットの特性分布に基づいて前
記画像のピンボケの程度を判定するピンボケ判定手段と
、前記測光スポット形成手段で形成された大測光スポッ
トによる画像情報信号に基づいて写真焼付露光量を演算
する手段とを具えたことを特徴とする写真焼付装置。