JPS63122293A - 発光素子パッケージ - Google Patents

発光素子パッケージ

Info

Publication number
JPS63122293A
JPS63122293A JP62273615A JP27361587A JPS63122293A JP S63122293 A JPS63122293 A JP S63122293A JP 62273615 A JP62273615 A JP 62273615A JP 27361587 A JP27361587 A JP 27361587A JP S63122293 A JPS63122293 A JP S63122293A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
emitting element
light emitting
light
attached
semiconductor chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62273615A
Other languages
English (en)
Inventor
キム ブン ジュング
キ ジュン キム
ナム チュン ウー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Semiconductor and Telecomunications Co Ltd
Original Assignee
Samsung Semiconductor and Telecomunications Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Semiconductor and Telecomunications Co Ltd filed Critical Samsung Semiconductor and Telecomunications Co Ltd
Publication of JPS63122293A publication Critical patent/JPS63122293A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • H01L25/167Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits comprising optoelectronic devices, e.g. LED, photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/024Arrangements for thermal management
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/024Arrangements for thermal management
    • H01S5/02476Heat spreaders, i.e. improving heat flow between laser chip and heat dissipating elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45147Copper (Cu) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L24/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/0132Binary Alloys
    • H01L2924/01322Eutectic Alloys, i.e. obtained by a liquid transforming into two solid phases
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/102Material of the semiconductor or solid state bodies
    • H01L2924/1025Semiconducting materials
    • H01L2924/10251Elemental semiconductors, i.e. Group IV
    • H01L2924/10253Silicon [Si]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1203Rectifying Diode
    • H01L2924/12036PN diode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12041LED
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12042LASER
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/483Containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/02208Mountings; Housings characterised by the shape of the housings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/06825Protecting the laser, e.g. during switch-on/off, detection of malfunctioning or degradation
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02BCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO BUILDINGS, e.g. HOUSING, HOUSE APPLIANCES OR RELATED END-USER APPLICATIONS
    • Y02B20/00Energy efficient lighting technologies, e.g. halogen lamps or gas discharge lamps
    • Y02B20/30Semiconductor lamps, e.g. solid state lamps [SSL] light emitting diodes [LED] or organic LED [OLED]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〉 本発明は、発光素子パッケージに関し、特に光通信にお
いて用いられる発光素子の放熱及び過電流保護のための
集積回路が実装されている発光素子パッケージに関する
ものである。
(従来の技術〉 光通信において光源として用いられる発光素子は、元素
周期律表の■族及びV族元素の混合半導体からつくられ
ている。
発光素子中、とりわけ、レーザダイオードのごとき発光
素子は、短波長と長波長との光源として用いられており
、主に短距離及び長距離光通信に多く用いられている。
前記のごときレーザダイオードを駆動するためには、少
なくともスレッショルド(threshold )電圧
以上に電圧を印加して電流を流すようにしなければなら
ない。
しかしながら、かかる発光素子の材料として使用される
前記混合半導体は、熱伝導率が悪いため、別に放熱器具
を設けないと温度上昇等に起因するスレッショルド電圧
の変動により安定した光出力が発生不可能となる。
そこで、従来の発光素子パッケージば第3図のように構
成されている。
図において、発光素子チップ15は放熱板材17に導電
性接着材1.6にて付着されている。該放熱板材17は
熱伝導率の良い銅またはダイヤモンドに伝導性の良い金
を塗布したものであって−、パッケージ19の本体40
と一体成形成いは電気溶接または機械的にパッケージ1
9の金属本体40の表面に接着されている。
更に、前記発光素子チップ15の一方の電極18は本体
40を貫通して外部に取出される電極取出し用の第2ス
テム20に金線23を介して接続されており、他方の電
極18は接着剤16.放熱板材17及び本体40を介し
て本体40に一体に取付けられるもう1つの電極取出し
用の第1ステム21に接続されている。
尚、本体40を貫通するステム20と本体40に取付け
られているステム21とは絶縁物質22を介して電気的
に絶縁されている。そして、透視窓24を設けたキャッ
プ60を本体40に取付けて発光素子チップ15゜放熱
板材17を覆うようにしている。
この場合、電流が第2ステム20.金線239発光素子
チップ15.接着剤16.放熱板剤17.第1ステム2
1の径路に沿って流れると、前記発光素子チップ15の
P−N接合面から発せられた光は透視窓24を通し放射
され、発光素子チップ15の発生した熱は放熱板材17
を通しパッケージ19から外部へ放出されるようになっ
ていた。
〈発明が解決しようとする問題点〉 ところで、このような発光素子の駆動回路にあっては、
発光素子を駆動するための供給電圧の突然の変動により
過電流が流れ発光素子が焼かれてしまうのを保護するた
めの保護回路を使用しなければならない。
かかる保護回路としては第4図のように電源端子1と発
光素子3のアノードとの間に発光素子3の順方向抵抗よ
りも非常に大きい抵抗値を有する保護抵抗4を直列に接
続し、発光素子3のカソードを接地するようにしている
。この場合、電源端子1に異常電圧が生じても保護抵抗
4によって発光素子3に流れ込む電流量が大幅に減少さ
れるので、発光素子3の焼損を防止できる。
このようなことから、従来の発光素子パッケージを用い
て、熱の放出と過電流保護回路を具備した装置を製造す
るためには、第5図に示されているように、プリント基
板6に保護抵抗4と第3図の放熱板材17が具備され、
かつ発光素子チップ15が実装されるパッケージ19と
を配置して、導線13に電源端子1を接続し、導線11
を前記保護抵抗4と発光素子チップ15のアノード側に
接続するステム20とを接続し、カソード側に接続され
るステム21は導線14と接続して接地させる構成で従
来から使用されてきている。
しかしながら、前記のごとき構造においては、発光素子
パッケージ19と保護抵抗4を別に設置することにより
、その実装スペースが大きくなるのみならず、製品組立
の際、手間がかかるという問題点を有している。
従って、本発明の目的は発光素子の駆動保護回路が放熱
板材とともに実装されたパッケージを提供することにあ
る。
く問題点を解決するための手段〉 このため本発明は、発光素子と、通電により発光素子か
ら発生する熱を放熱するための放熱板材とを内蔵し、発
光素子の電極取出し用ステムを介して発光素子に通電し
て発光させ透視窓から光を外部に放射するよう構成され
た発光素子パッケージにおいて、前記発光素子に直列接
続する過電流防止用の保護抵抗部を形成したシリコン半
導体チップを内蔵し、該シリコン半導体チップを前記放
熱板材に熱伝導性の良好な部材を介して付着すると共に
、前記シリコン半導体チップに熱伝導性の良好な部材を
介して前記発光素子を付着する構成とした。
く作用〉 上記の構成によれば、発光素子パッケージ内に、放熱板
材と保護抵抗部が内蔵されることになるため、従来、パ
ッケージとは別に行う必要があった抵抗素子の取付けが
不要となり作業性が向上すると共に、実装密度を高める
ことができる。また、保護抵抗部を有するシリコン半導
体チップが補助的に放熱板の作用をなすので、放熱機能
も向上できるようになる。
〈実施例〉 以下、本発明を図面を参照して詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例の発光素子を実装せしめたパ
ッケージを示している。尚、従来と同一部分には同一符
号を付して説明を省略する。
同図において、本体40と一体に形成された放熱板材1
7と第1ステム21及び第1ステム21と絶縁物質22
を介して電気的絶縁されるよう形成されてパッケージの
内部へ突出している第2ステム20及び光の放射のため
の透視窓24を有するキャップ60とから構成された部
分は従来のTO5またはT018型のパッケージと同一
の構成である。本実施例の発光素子パッケージ19は、
更に過電流防止用の保護抵抗部を形成したシリコン補助
チップ25を内蔵している。
前記シリコン補助チップ25の構造を第2図に示し説明
する。
第2図は、本実施例に用いたシリコン補助チップの断面
図を示すものである。
同図において、シリコン補助チップ25は高い抵抗を有
する単結晶シリコン基板26からなり第1導電型の前記
基板26とは反対の第2導電型の分離領域31が形成さ
れ、前記分離領域31内には前記第1導電型と同一導電
型の抵抗領域32が拡散形成される。その後、前記基板
26の表面全面にシリコン酸化膜層または窒化膜層を形
成し、保護抵抗を形成するための領域32部分の所定の
2個所と後述の発光素子を付着するための領域50部分
の絶縁層29を通常の写真食刻方法によってエツチング
して除去し、除去部分に真空蒸着方法によりアルミニウ
ムまたは金を真空蒸着した後、前記抵抗領域32により
形成される保護抵抗接続部30.30°と前記発光素子
チップ15を付着するための発光素子付着領域50とを
除きすべてエツチングした後前記基板後面に金またはア
ルミニウムを真空蒸着して金属N7を形成する。尚、2
9はシリコン酸化膜層または窒化膜層等の絶縁層を示す
また、発光素子付着領域50は発光素子チップ15の付
着面積より大きく形成すべきであることを留意すべきで
ある。
このように構成されたシリコン補助チップ25をパッケ
ージ19内に組付ける場合には、第2図のシリコン補助
チップ25を製造した後、キャップ60が覆われていな
い状態において前記パッケージ190本体40を加熱し
た後、超音波または金とインジュームなどの合金からな
るプリフォームを用いて放熱板材17の側壁に第2図の
シリコン補助チップ25の後前金属層7を付着させた後
、更に第2図の発光素子付着領域50に発光素子チップ
15のカソード側電極を対向させ熱伝導性と電気的伝導
性の良い導電性接着剤51にて接着させる。
上記導電性接着剤51は金からなるプリフォームが用い
られ得る。前記のようなシリコン補助チップ25と発光
素子チップ15との付着、すなわち、グイ付着が終了さ
れた後、導線溶接を行う。
即ち、第2ステム20のパッケージ19内部の端部62
と、第2図の第1保護抵抗接続部30とを全導線28に
て導線溶接し、第2図の第2保護抵抗接続領域30゛ 
と上記発光素子チップ15のアノード側電極とを全導線
27にて溶接して導線溶接の工程を終了する。
その後、窒素雰囲気内においてキャップ60を覆い密封
すると、パッケージ19の内部は窒素で充満されて内部
金属の酸化を防止することができるようになる。
従って、第2ステム20に静電圧を印加し、第1ステム
21を接地させると、発光素子チップ15のP−N接合
から放出される光は透視窓24を通し放射されるように
なる。また、発光素子チップ15から発生した熱は、シ
リコン補助チップ25及び放熱板材17により放熱され
る。 発光素子の材料であるGaAs或いはInPの熱
伝導率は常温において各々0.46W/cm’c 、 
0.68W/cm’cであり、シリコンの場合は、1.
5W/cm℃であるので、シリコンからなる補助チップ
25を使用することは熱伝導の面において常更有利であ
り、前記シリコン補助チップ25の厚さを薄くすると尚
更有利であり、約200〜300μm程度であれば十分
である。かかる構成の発光素子パッケージ19を用いれ
ば、パッケージ19とは別に保護抵抗を設ける必要がな
く、プリント基板の実装密度を高めることができると共
に、発光素子駆動回路を製作する際の作業性が向上する
〈発明の効果〉 以上述べたように本発明によれば、シリコン半導体に保
護抵抗を形成してパッケージに収納する構成としたので
、プリント基板回路の構成特別の保護抵抗素子及びそれ
に伴う半田付け、部品挿入など付随作業量の減少効果を
もたらすことができる。また、シリコン半導体が補助放
熱板として利用でき、放熱効果も向上できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に依るシリコン補助チップが実装された
パッケージの一実施例断面図、第2図は同上実施例に用
いたシリコン補助チップの断面図、第3図は従来の発光
素子が実装されたパッケージの断面図、第4図は従来の
発光素子過電流保護回路図、第5図は従来のパッケージ
と保護抵抗の実装図を示す。 7・・・金属N15・・・発光素子チップ  17・・
・放熱板材  19・・・発光素子パッケージ  20
・・・第2ステム  21・・・第1ステム  24・
・・透視窓  25・・・シリコン補助チップ  27
.28・・・金導線  32・・・保護抵抗領域  3
0.30“・・・保護抵抗接続部51・・・導電性接着
剤  60・・・キャップ代理人   弁理士   笹
 島  富二雄第1図 第2図 11)         ’/ 第3図         第4図 第5図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)発光素子と、通電により発光素子から発生する熱
    を放熱するための放熱板材とを内蔵し、発光素子の電極
    取出し用ステムを介して発光素子に通電して発光させ透
    視窓から光を外部に放射するよう構成された発光素子パ
    ッケージにおいて、前記発光素子に直列接続する過電流
    防止用の保護抵抗部を形成したシリコン半導体チップを
    内蔵し、該シリコン半導体チップを前記放熱板材に熱伝
    導性の良好な部材を介して付着すると共に、前記シリコ
    ン半導体チップに熱伝導性の良好な部材を介して前記発
    光素子を付着する構成としたことを特徴とする発光素子
    パッケージ。
  2. (2)シリコン半導体チップは、第1導電型の発光素子
    付着領域と、同じく第1導電型の保護抵抗領域及びこれ
    ら両領域を電気的に分離する第2導電型の分離領域とが
    形成され、前記発光素子付着領域表面に発光素子を付着
    する一方、前記分離領域及び保護抵抗領域表面に絶縁層
    を設け、保護抵抗領域表面絶縁層の所定の2個所を開口
    して保護抵抗領域を一方のステム側と発光素子側とにそ
    れぞれ電気的に接続するための第1及び第2保護抵抗接
    続部を形成し、かつ発光素子付着側と反対の放熱板材付
    着側表面に金属層を形成して構成された特許請求の範囲
    第1項記載の発光素子パッケージ。
JP62273615A 1986-11-04 1987-10-30 発光素子パッケージ Pending JPS63122293A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019860009285A KR890002811B1 (ko) 1986-11-04 1986-11-04 히트 싱크를 겸한 과전류 파괴방지용 집적회로를 내장한 발광소자 패키지
KR9285/1986 1986-11-04

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63122293A true JPS63122293A (ja) 1988-05-26

Family

ID=19253177

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62273615A Pending JPS63122293A (ja) 1986-11-04 1987-10-30 発光素子パッケージ

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JPS63122293A (ja)
KR (1) KR890002811B1 (ja)
DE (1) DE3735818A1 (ja)
FR (1) FR2606211B1 (ja)
GB (1) GB2197126A (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4019091A1 (de) * 1990-06-15 1991-12-19 Battelle Institut E V Waermeableitungseinrichtung fuer halbleiterbauelemente und verfahren zu deren herstellung
KR930015139A (ko) * 1991-12-18 1993-07-23 이헌조 빛세기 변화 가능용 발광다이오드의 제조방법
DE4205789A1 (de) * 1992-02-26 1993-09-02 Abb Patent Gmbh Lichtquelle mit mindestens einem lichtemittierenden bauelement und einer vorgeschalteten schutzeinrichtung
JPH08264898A (ja) * 1995-03-23 1996-10-11 Mitsubishi Electric Corp 半導体レーザ装置
DE19612388C2 (de) * 1996-03-28 1999-11-04 Siemens Ag Integrierte Halbleiterschaltung insb. optoelektronisches Bauelement mit Überspannungsschutz
KR20030049211A (ko) * 2001-12-14 2003-06-25 서오텔레콤(주) 발광다이오드소자
DE102006015335B4 (de) * 2006-04-03 2013-05-02 Ivoclar Vivadent Ag Halbleiter-Strahlungsquelle sowie Lichthärtgerät
GB2479120A (en) 2010-03-26 2011-10-05 Cambridge Display Tech Ltd Organic electrolumunescent device having conductive layer connecting metal over well defining layer and cathode
FR3001357B1 (fr) * 2013-01-22 2015-02-06 Sylumis Support de fixation mecanique et de raccordement electrique de diodes electroluminescentes

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61107783A (ja) * 1984-10-30 1986-05-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体レ−ザ装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1483849A (en) * 1974-09-21 1977-08-24 Nippon Electric Co Semiconductor laser device equipped with a silicon heat sink
JPS546787A (en) * 1977-06-17 1979-01-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Luminous element
NL178376C (nl) * 1978-06-19 1986-03-03 Philips Nv Koppelelement met een lichtbron en een lens.
FR2445617A1 (fr) * 1978-12-28 1980-07-25 Ibm France Resistance a tension de claquage amelioree obtenue par une double implantation ionique dans un substrat semi-conducteur et son procede de fabrication
GB2098714B (en) * 1980-06-04 1984-08-22 Tranilamp Ltd Led cluster assembly
JPS6081879A (ja) * 1983-10-11 1985-05-09 Nec Corp 発光ダイオ−ド
JPS60186076A (ja) * 1984-03-05 1985-09-21 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体発光装置
DE3534744A1 (de) * 1985-09-28 1987-04-09 Standard Elektrik Lorenz Ag Laservorrichtung mit stabilisierter ausgangsleistung

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61107783A (ja) * 1984-10-30 1986-05-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体レ−ザ装置

Also Published As

Publication number Publication date
GB2197126A (en) 1988-05-11
FR2606211B1 (fr) 1991-07-12
GB8725476D0 (en) 1987-12-02
DE3735818A1 (de) 1988-05-11
FR2606211A1 (fr) 1988-05-06
KR890002811B1 (ko) 1989-07-31
KR880006772A (ko) 1988-07-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA2112860C (en) Integrated circuit package and assembly thereof for thermal and emi management
US4550333A (en) Light emitting semiconductor mount
JP2003229629A (ja) 光モジュール
JPS63122293A (ja) 発光素子パッケージ
JP4056598B2 (ja) 赤外線データ通信モジュール
US20030020161A1 (en) Semiconductor laser device
JP3377553B2 (ja) 半導体レーザ装置
KR20020035789A (ko) 발광 다이오드 패키지 및 그 제조 방법
US10985527B2 (en) Laser diode surface mounting structure
JPH04275482A (ja) 半導体装置用マウント
JPH06188516A (ja) 光半導体装置およびその製造方法
JP3062855B2 (ja) 半導体レーザ装置および光送信装置
JPH0459791B2 (ja)
JPS63318193A (ja) 光半導体用サブマウント
JPH1022570A (ja) 窒化物半導体レーザ素子
JPS61234588A (ja) 光半導体素子用サブマウント
JPH0677604A (ja) 半導体レーザ装置
KR100335106B1 (ko) Ⅲ-V족 GaN 반도체 광소자
JP2001068778A (ja) 半導体レーザ装置
JPH0758400A (ja) 高出力パルスレーザダイオードモジュール
JPS60110185A (ja) 光集積回路パッケ−ジ
KR940006789B1 (ko) 레이저 다이오드
JPH07202067A (ja) ヒートシンク付ピングリッドアレイ
KR960003867B1 (ko) 표면실장형 레이저다이오드
JPS6011475B2 (ja) Ccdフオトカプラ