JPS63120320A - マイクロプロセツサおよびマイクロコントロ−ラ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、マイクロプロセッサおよびマイクロコント
ローラ、特に、マイクロプロセッサおよびマイクロコン
トローラの内部クロック信号を外部ビンにより制御可能
とするマイクロプロセッサおよびマイクロコントローラ
に関するものである。

〔従来の技術〕

従来、この種の装置においては、第２図にｉＫす従来装
置のタイミングチャートを参照して説明−４−ると、外
部クロック信号１を分周して内部クロックイ３号３を作
成するクロックゼネレータを同一チップ内に内蔵するＭ
ｉｓ／ＭＯ３構造のマイクロプロセッサおよびマイクロ
コントローラを被測定デバイス（以丁デバイスという）
としてＬＳＩ−用テスタでテストしようとする際には、
外部クロック信号１はテスタより与える。内部クロック
信号３は外部クロック信号１を分周してデバイス内で作
成されるが、内部クロック信号３が外部クロック信号１
のどのタイミングで立ち上るかは、そのときのデバイス
の初期状態により変化する。

一方、テスタからデバイスをテストするためにデータバ
ス・アドレスなどの信号を与えるには、内部クリック信
号３に同期して、こわらの信号を与える必要がある。そ
のためには、内部クロックイ５号３が、外部クロック信
号ｔのどのタイミングで立ち上るかを、テスタが検知す
る必要がある。

従来のマイクロプロセッサおよびマイクロコントローラ
では、内部クロック信号３を制御する外部ビン２が存在
しないため、テスタにより内部クロック信号３の立ち上
りを検出する必要がある。

前出第２図は、テスタにより内部クロック信号３の立ち
トりを検出するときの従来例のタイミングチャートであ
る。１はテスタより与える外部クロック信号、３はデバ
イス内で作成される内部クロック１５号で、デバイス外
部にも出力される。

この内部クロックイ５号３はここでは外部クロック１を
４分周して作成したものを例として示した。

５は、テスタより内部クロック信号３をテストするため
のストローブ、６はテスト後の判定結果を示す。

内部クロック信号３の立ち上りを検知するためには、外
部クロックイ３号１に同期してストローブ５を立て、判
定結果がＬ１ノベルからＨレベルに変化した点を検出し
、その時点をテストの基準点７として以後のテストを行
なってきた。以−トのようにデスクを用いて外部クロッ
ク信号１と内部クロック信号３の同期を取ることをマツ
チ動作と呼ぶ。

（発明が解決しようとする問題点） しかしながら、従来のクロックゼネレータを内蔵するマ
イクロプロセッサおよびマイクロコントローラにおい”
Ｃは、外部ビンから内部クロック信号３を制御できない
ため、デバイスのテストを行なう際に、テスタにより外
部クロックイ５号１と内部クロック信号３の同期をとる
というマツチ動作が必要であり、テストが容易ではない
という問題点があった。

この発明は以上のような間２八点を解消するためになさ
れたもので、テスタによるマツチ動作なしでテストが可
能なりロックゼネレータを内蔵するマイクロプロセッサ
およびマイクロコントローラを作成し、テストの８鋳化
をはかり得るマイクロプロセッサおよびマイクロコント
ローラを提供することを目的としている。

（問題点を解決するための手段） このため、この発明に係るクロックゼネレータを内蔵す
るマイクロプロセッサおよびマイクロコントローラにお
いては、内部クロック信号を制御する外部ビンを有し、
外部ビンに同期して内部クロック信号の動作開始点を定
めることを可能とすることにより、前記の目的を達成し
ようとするものである。

（作用） 以上のような構成により、クロックゼネレータを内蔵す
るマイクロプロセッサおよびマイクロコントローラに内
部クロックイ３号を制御する外部ビンを’ｆｉ−シ、内
部クロック信号の動作開始点を定めることを可能とした
ため、テスタによるマツチ動作が不要のとなり、テスト
を容易化できる。

（実施例〕 以下に、この発明の一実施例を図に基づいて説明する。

第１図にこの発明に係るマイクロプロセッサおよびマイ
クロコントローラの一実施例におけるタイミングチャー
トを示す、＠出従来例第２図におけると同一（相当）構
成要素は同一符号で表わし、説明の重複をさける。２は
内部クロック信号３を制御する外部ビンの信号、４はデ
バイスの１マシンサイクルである。

クロックゼネレータを内蔵するＭｉｓ／ＭＯ３構造のマ
イクロプロセッサおよびマイクロコントローラのテスト
を行なう際、外部クロック信号１はテスタより与える。

この一実施例では、内部クロック信号３は、外部クロッ
ク信号１を４分周して作成されるものとし、内部クロッ
ク信゛号３の周期を１マシンサイクル４ト呼ぶことにす
る。内部クロック信号３は、内部クロックを制御する外
部ビンの信号２がＬレベルからＨレベルになった時点か
ら１マシンサイクル後に立ち上り、動作を開始するよう
になワている。

以下に、この発明の一実施例の動作ついて説明する。

テスタより外部クロック信号１を与え、また、内部クロ
ック信号３を制御する外部ビンの信号２にＬレベルを与
える。この状態では、デバイス内の内部クロック信号３
は止まった状態である。

つぎに、内部クロック信号３を制御する外部ビンの信−
号２をＬレベルからＨレベルに変化させる。

この一実施例のデバイスでは、前記内部クロック信号２
がＬレベルからＨレベルに変化してから１マシンサイク
ル後に内部クロック信号３が立ち上り、動作を始めるの
で、内部クロック信号３の立ち−Ｌり点をテストの基準
点として以後のテストを行なうことができる。

以」二のように、内部クロック信号３を制御する外部ビ
ンを設けることにより、内部クロック信号３の動作開始
点を定めることができ、外部クロック信号１と内部クロ
ック信号３の同期をテスタを用いて行なうというマツチ
動作が不要となり、テストを容易化することが可能とな
る。

〔他の実施例〕

上記実施例においては、外部クロック信号１を４分周し
て内部クリック信号３を作成する場合について示したが
５４分周に限らず何分用の場合においてもよいことはも
ちろんである。

また、Ｌ記実施例に＄５いては、内部クロック信号３を
制御する外部ビンの信号２がｌ、　ｌノベルからＨレベ
ルに変化してから１マシンサイクル後に内部クロック信
号３が動作する場合を示したが、１マシンサイクル以外
でも一定時間（ザイクル）後に内部クロック１３号３が
動作を開始するように設計しても同様の効果が得られる
。

さらに、上記実施例においては、内部クロック信号３を
制御する外部ビンの信号２がＬレベルからＨレベルに変
化する時点を検出したが、ＨレベルからＬレベルになる
点を検出してもさしつかえない。

〔発明の効果〕

以上説明してきたように、この発明によれば、クロック
ゼネレータを内蔵するマイクロプロセッサおよびマイク
ロコントローラにおいて、内部クロック信号を制御する
外部ビンを設けることにより、内部クロック信号の動作
開始点を定めることができ、外部クロック（８号と内部
クロック信号の同期をテスタを用いて行なうというマツ
チ動作が不要となり、テストを容易化できることができ
るようになった。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例におけるタイミングチャー
ト、第２図は従来例におけるタイミングチャートである
。 図中、１は外部クロック信号、２は内部クロック信号を
制御する外部ビンの信号、３は内部クロック信号である
。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）ＭＩＳ／ＭＯＳ構造のマイクロプロセッサおよび
   マイクロコントローラにおいて、外部クロック信号を分
   周して内部クロック信号を作成するクロックゼネレータ
   を同一チップ内に内蔵し、前記内部クロック信号を制御
   する外部ビンを有し、前記外部ピンに同期して、前記内
   部クロック信号の動作開始点を定めることが可能である
   ことを特徴とするマイクロプロセッサおよびマイクロコ
   ントローラ。
2. （２）前記内部クロックを制御する外部ピンの機能をシ
   ステムの初期化に使用するリセット端子に付加したこと
   を特徴とする特許請求の範囲第１項記載のマイクロプロ
   セッサおよびマイクロコントローラ。